CN111414140B - 芯片之间的校验方法、装置、打印机以及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种芯片之间的校验方法、装置、打印机以及存储介质，该方法，应用在带喷头墨盒中，所述带喷头墨盒包括喷头芯片和墨盒芯片，所述方法包括：喷头芯片向墨盒芯片发送校验通信请求；在接收所述墨盒芯片反馈的响应信息时，向所述墨盒芯片发送加密数据；接收所述墨盒芯片反馈的解密数据；当所述解密数据与预先存储的参考数据不匹配时，则进行异常报错。从而可以实现喷头芯片和墨盒芯片之间的校验，确保芯片使用的合理性，避免非原装芯片对打印机和相关设备的损害。
Description
技术领域
本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种芯片之间的校验方法、装置、打印机以及存储介质。
背景技术
打印机是计算机的输出设备之一，用于将计算机处理结果打印在相关介质上。将喷头集成在墨盒上的带喷头墨盒可以实现比较高的打印精度，而且能够保证打印质量，由于喷头随着墨盒更换，因此不会因为喷墨头的磨损而使打印质量下降。
目前，带喷头墨盒通常包括喷头芯片和墨盒芯片两种芯片，因此在二者之间会存在相互通信的情况。现有技术中的墨盒芯片使用两个芯片的工作模式，且两个芯片可以进行拆装。
然而，现有技术中没有针对喷头芯片和墨盒芯片的校验方法，导致喷头芯片或者墨盒芯片被替换为非原装芯片时，打印机不会进行报错，从而损害打印机和相关设备。
发明内容
本发明提供一种芯片之间的校验方法、装置、打印机以及存储介质，以实现喷头芯片和墨盒芯片之间的校验，确保芯片使用的合理性，避免非原装芯片对打印机和相关设备的损害。
第一方面，本发明实施例提供一种芯片之间的校验方法，应用在带喷头墨盒中，所述带喷头墨盒包括喷头芯片和墨盒芯片，所述方法包括：
喷头芯片向墨盒芯片发送校验通信请求；
在接收所述墨盒芯片反馈的响应信息时，向所述墨盒芯片发送加密数据；
接收所述墨盒芯片反馈的解密数据；
当所述解密数据与预先存储的参考数据不匹配时，则进行异常报错。
在一种可能的设计中，在所述喷头芯片向墨盒芯片发送校验通信请求之前，还包括：
将所述喷头芯片和所述墨盒芯片分别连接至打印机触点、墨盒触点上；其中，墨盒位于打印机中，且所述墨盒触点和所述打印机触点电连接。
在一种可能的设计中，所述喷头芯片向墨盒芯片发送校验通信请求，包括：
在检测喷孔阶段，向所述墨盒芯片发送校验通信请求；
若在预设的时间范围内，未接收到所述墨盒芯片反馈的响应信息，则控制计数器的数值自增1；
判断所述计数器的数值是否大于预设阈值；
若所述计数器的数值大于预设阈值，且未接收到所述墨盒芯片反馈的响应信息，则确定校验失败；
若所述计数器的数值不大于预设阈值，且未接收到所述墨盒芯片反馈的响应信息，则重新向所述墨盒芯片发送校验通信请求，直至所述计数器的数值大于预设阈值，或者接收到所述墨盒芯片反馈的响应信息。
在一种可能的设计中，还包括：
当所述解密数据与预先存储的参考数据匹配时，则通过通信寻址方式，将所述喷头芯片和所述墨盒芯片连接至稳压电路，建立所述喷头芯片和所述墨盒芯片之间的通信。
在一种可能的设计中，当所述解密数据与预先存储的参考数据不匹配时，则进行异常报错，包括：
当所述解密数据与预先存储的参考数据不匹配时，则通过上下拉喷孔电路修改喷头上至少一个喷孔信号，以使得打印机因检测到喷孔数不符合要求而进行打印异常报错。
第二方面，本发明实施例提供一种芯片之间的校验装置，应用在带喷头墨盒中，包括：
喷头芯片，用于向墨盒芯片发送校验通信请求；
喷头芯片，用于在接收所述墨盒芯片反馈的响应信息时，向所述墨盒芯片发送加密数据；
喷头芯片，用于接收所述墨盒芯片反馈的解密数据；
错误响应电路，用于当所述解密数据与预先存储的参考数据不匹配时，则进行异常报错。
在一种可能的设计中，所述带喷头墨盒包括喷头芯片和墨盒芯片，所述喷头芯片和所述墨盒芯片分别连接至打印机触点、墨盒触点上；其中，墨盒位于打印机中，且所述墨盒触点和所述打印机触点电连接。
在一种可能的设计中，所述喷头芯片，具体用于：
在检测喷孔阶段，向所述墨盒芯片发送校验通信请求；
若在预设的时间范围内，未接收到所述墨盒芯片反馈的响应信息，则控制计数器的数值自增1；
判断所述计数器的数值是否大于预设阈值；
若所述计数器的数值大于预设阈值，且未接收到所述墨盒芯片反馈的响应信息，则确定校验失败；
若所述计数器的数值不大于预设阈值，且未接收到所述墨盒芯片反馈的响应信息，则重新向所述墨盒芯片发送校验通信请求，直至所述计数器的数值大于预设阈值，或者接收到所述墨盒芯片反馈的响应信息。
在一种可能的设计中，还包括：稳压电路，用于：
当所述解密数据与预先存储的参考数据匹配时，则通过通信寻址方式，将所述喷头芯片和所述墨盒芯片连接至稳压电路，建立所述喷头芯片和所述墨盒芯片之间的通信。
在一种可能的设计中，所述稳压电路包括：二极管、电容、稳压管，所述二极管的正极连接至所述喷头芯片的S端，所述二极管的负极分别与电容的一端、稳压管的负极以及电源VCC端电连接，所述电容的另一端、所述稳压管的正极连接至接地端。
在一种可能的设计中，所述错误响应电路，具体用于：
当所述解密数据与预先存储的参考数据不匹配时，则通过上下拉喷孔电路修改喷头上至少一个喷孔信号，以使得打印机因检测到喷孔数不符合要求而进行打印异常报错。
在一种可能的设计中，所述上下拉喷孔电路包括：PMOS晶体管G1、NMOS晶体管G2、NMOS晶体管G3、NMOS晶体管G4、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电阻R10，所述电阻R6的一端连接至使能信号端和NMOS晶体管G2的栅极，所述电阻R6的另一端接地；所述NMOS晶体管G2的源极连接至电阻R3的一端，所述NMOS晶体管G2的漏极接地；所述电阻R3的另一端分别连接电阻R2的一端、PMOS晶体管G1的栅极；所述电阻R2的另一端分别连接电阻R9的一端和所述喷头芯片的S端；所述电阻R9的另一端分别连接电阻R10的一端和NMOS晶体管G4的栅极，所述电阻R10的另一端接地；所述NMOS晶体管G4的漏极接地，所述NMOS晶体管G4的源极分别连接电阻R8的一端和NMOS晶体管G3的栅极；所述电阻R8的另一端分别连接电阻R1的一端、电阻R7的一端、喷孔信号端；所述电阻R7的另一端连接至所述NMOS晶体管G3的源极，所述NMOS晶体管G3的漏极接地；所述电阻R1的另一端连接至所述PMOS晶体管G1的漏极，所述PMOS晶体管G1的源极连接至所述喷头芯片的S端。
第三方面，本发明实施例提供一种打印机，包括：带喷头墨盒，所述带喷头墨盒包括喷头芯片和墨盒芯片，所述喷头芯片和所述墨盒芯片的存储器中存储有处理器的可执行指令；其中，所述处理器调取所述可执行指令，以执行第一方面中任一项所述的芯片之间的校验方法。
第四方面，本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现第一方面中任一项所述的芯片之间的校验方法。
本发明提供一种芯片之间的校验方法、装置、打印机以及存储介质，应用在带喷头墨盒中，所述带喷头墨盒包括喷头芯片和墨盒芯片，通过由喷头芯片向墨盒芯片发送校验通信请求；在接收所述墨盒芯片反馈的响应信息时，向所述墨盒芯片发送加密数据；接收所述墨盒芯片反馈的解密数据；当所述解密数据与预先存储的参考数据不匹配时，则进行异常报错。从而可以实现喷头芯片和墨盒芯片之间的校验，确保芯片使用的合理性，避免非原装芯片对打印机和相关设备的损害。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明一应用场景的原理示意图；
图2为本发明实施例一提供的芯片之间的校验方法的流程图；
图3为本发明实施例一提供的芯片之间的连接示意图；
图4为本发明实施例一提供的芯片之间的校验方法的控制流示意图；
图5为本发明实施例一提供的芯片触点的示意图；
图6为本发明实施例一提供的S端寻址波形的示意图；
图7为本发明实施例一提供的S端稳压电路的电路原理图；
图8为本发明实施例一提供的上下拉喷孔的原理示意图；
图9为本发明实施例一提供的上下拉喷孔的电路原理图；
图10为本发明实施例二提供的芯片之间的校验装置的结构示意图；
图11为本发明实施例三提供的打印机的结构示意图。
通过上述附图，已示出本公开明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本公开构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本公开的概念。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
下面以具体地实施例对本发明的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。
打印机是计算机的输出设备之一，用于将计算机处理结果打印在相关介质上。将喷头集成在墨盒上的带喷头墨盒可以实现比较高的打印精度，而且能够保证打印质量，由于喷头随着墨盒更换，因此不会因为喷墨头的磨损而使打印质量下降。
目前，带喷头墨盒通常包括喷头芯片和墨盒芯片两种芯片，因此在二者之间会存在相互通信的情况。现有技术中的墨盒芯片使用两个芯片的工作模式，且两个芯片可以进行拆装。
然而，现有技术中没有针对喷头芯片和墨盒芯片的校验方法，导致喷头芯片或者墨盒芯片被替换为非原装芯片时，打印机不会进行报错，从而损害打印机和相关设备。
针对上述技术问题，本发明提供一种芯片之间的校验方法、装置、打印机以及存储介质，以实现喷头芯片和墨盒芯片之间的校验，确保芯片使用的合理性，避免非原装芯片对打印机和相关设备的损害。图1为本发明一应用场景的原理示意图，如图1所示，在检测喷孔阶段，喷头芯片发起校验通信请求给墨盒芯片，墨盒芯片响应并准备好校验动作。若喷头芯片未接收到正常响应信息，则重传校验请求，喷头芯片带有相应的计数器，三次后则判为校验失效。若墨盒芯片成功响应校验通信指令，则喷头芯片发送加密校验信息至墨盒芯片，加密方式依据实际功能设计。墨盒芯片解密校验数据后将解密后数据返回喷头芯片。喷头芯片校验该解密数据是否正确。根据校验结果，喷头芯片执行校验判断后动作，如成功，则芯片之间保持正常的模式进行通信；如失败或失效，则切换至上下拉电路，该上下拉电路用于芯片上机过程中检喷孔或打印过程中出现打印异常而报错提示。
应用上述方法可以实现喷头芯片和墨盒芯片之间的校验，确保芯片使用的合理性，避免非原装芯片对打印机和相关设备的损害。
下面以具体地实施例对本发明的技术方案以及本申请的技术方案如何解决上述技术问题进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。下面将结合附图，对本发明的实施例进行描述。
图2为本发明实施例一提供的芯片之间的校验方法的流程图，如图2所示，本实施例中的方法可以应用在带喷头墨盒中，带喷头墨盒包括喷头芯片和墨盒芯片，该方法包括：
S101、喷头芯片向墨盒芯片发送校验通信请求。
本实施例中，在检测喷孔阶段，向墨盒芯片发送校验通信请求；若在预设的时间范围内，未接收到墨盒芯片反馈的响应信息，则控制计数器的数值自增1；判断计数器的数值是否大于预设阈值；若计数器的数值大于预设阈值，且未接收到墨盒芯片反馈的响应信息，则确定校验失败；若计数器的数值不大于预设阈值，且未接收到墨盒芯片反馈的响应信息，则重新向墨盒芯片发送校验通信请求，直至计数器的数值大于预设阈值，或者接收到墨盒芯片反馈的响应信息。
可选地，在喷头芯片向墨盒芯片发送校验通信请求之前，还包括：将喷头芯片和墨盒芯片分别连接至打印机触点、墨盒触点上；其中，墨盒位于打印机中，且墨盒触点和打印机触点电连接。
具体地，图3为本发明实施例一提供的芯片之间的连接示意图，如图3所示，喷头芯片与墨盒芯片同接于打印机触点与墨盒触点的连接上，具体为喷头芯片的触点连接打印机触点，墨盒芯片的触点连接墨盒触点。与此同时，墨盒位于打印机中，墨盒触点与打印机触点相连接。
S102、在接收墨盒芯片反馈的响应信息时，向墨盒芯片发送加密数据。
S103、接收墨盒芯片反馈的解密数据。
S104、当解密数据与预先存储的参考数据不匹配时，则进行异常报错。
本实施例中，当解密数据与预先存储的参考数据不匹配时，则通过上下拉喷孔电路修改喷头上至少一个喷孔信号，以使得打印机因检测到喷孔数不符合要求而进行打印异常报错。
可选地，当解密数据与预先存储的参考数据匹配时，则通过通信寻址方式，将喷头芯片和墨盒芯片连接至稳压电路，建立喷头芯片和墨盒芯片之间的通信。
具体地，图4为本发明实施例一提供的芯片之间的校验方法的控制流示意图，如图4所示，在检测喷孔阶段，喷头芯片进行校验初始化，此时，喷头芯片的计数器计数值Count为0。然后，喷头芯片向墨盒芯片发送校验通信请求。墨盒芯片响应该校验通信请求，则喷头芯片向墨盒芯片发送加密信息，墨盒芯片接收后对该加密信息进行解密，再将解密信息发送给喷头芯片。若在预设的时间范围内，喷头芯片未接收到墨盒芯片反馈的响应信息，则控制计数器的数值自增1。并且判断计数器的数值是否大于预设阈值(本实施例中预设阈值为3)。若计数器的数值大于预设阈值，例如count大于3，且未接收到墨盒芯片反馈的响应信息，则确定校验失败；若计数器的数值不大于预设阈值，且未接收到墨盒芯片反馈的响应信息，则重新向墨盒芯片发送校验通信请求，直至计数器的数值大于预设阈值，或者接收到墨盒芯片反馈的响应信息。
喷头芯片接收该解密信息后对其进行校验判断该解密数据是否正确，若正确，则喷头芯片与墨盒芯片之间保持正常的模式进行通信。墨盒芯片响应该校验通信指令，若响应失败或失效，则喷头芯片重新向墨盒芯片发起校验通信指令，若连续三次响应不成功，此时喷头芯片的计数器计数值为3，则喷头芯片与墨盒芯片之间的校验失败，此时，喷头芯片与墨盒芯片之间的通信被切换至上下拉喷孔电路。
喷头芯片执行校验判断后动作，如成功，则芯片之间保持正常的模式进行通信。带喷头打印机通信过程中无相对稳定的供电提供给芯片之间的通信，现利用其寻址方式的特点来实现芯片通信中供电的稳定性。其中，芯片之间的正常模式通信包括通过S端通信寻址的规律利用S端信号寻址的方式将喷头芯片和墨盒芯片接入相应的稳压电路。
图5为本发明实施例一提供的芯片触点的示意图，如图5所示，S1-S5是打印通信过程中持续发送的轮询信号，表示移位脉冲信号，读写数据与检查喷孔均采用类似波形，同时结合地址数据信号D1、D2、D3来选择相应的区域块中的第几行第几列数据；如D1表示区域块中的第几行，D2表示区域块中的第几列，D3表示所选中的区域块，选择的D信号主要配合S2信号来进行；ID表示数据，主要针对数据读写功能；F3、F5主要为喷孔电气信号，主要用于喷孔检测过程以及打印机打印过程；GND表示连接信号的地，DCLK表示选址时钟信号；CSYNC、TSR均表示喷头选址信号。
S1、S2、S3、S4、S5、DCLK于通信过程中其电压为15V，D1、D2、D3为9V，通过S1-S5通信寻址的规律利用S信号端寻址的方式将喷头芯片和墨盒芯片接入相应的稳压电路，以便获取相对稳定的供电电压。
图6为本发明实施例一提供的S端寻址波形的示意图，如图6所示，S端信号寻址方式为每一个S寻址信号电平恢复的同时下一个S寻址信号变为高电平。具体的，S端信号由S1至S5依次从高电平下降到低电平时下一个S信号变为高电平，即S1至S5的每一个S信号相比上一个S信号延迟了S1信号的高电平持续时间，且各S信号的高低电平信号持续时间均相同，周期相同。
图7为本发明实施例一提供的S端稳压电路的电路原理图，如图7所示，该稳压电路包括：二极管Diode、电容C、稳压管Zerer。每一个二极管Diode的正极连接至喷头芯片的每一个S端，每一个二极管Diode的负极分别与电容C的一端、稳压管Zerer的负极以及电源VCC端电连接，电容C的另一端、稳压管Zerer的正极连接至接地端GND。该电路利用二极管Diode将S端各个信号分离隔开，避免信号相互之间的串扰导致信号异常，利用电容C的充放电作用，避免了两个信号之间无脉冲时候电平的下降，实现VCC电压的稳定输出避免了取电模块的电压稳定性不高等问题，抑制电压的浮动与跳变。在本电路中示例性的采用了一个稳压二级管Zerer，也可以采用其他的稳压芯片控制来实现稳压功能，即只要有信号的输入就可以实现正常的输出。如图7所示，稳压二极管Zerer并联于电路中，假设需要的电压为5V，而输入S端信号的电压为15V，此时可以通过稳压二极管Zerer或者其他的稳压电路将其输出电压控制为5V，实现实际应用电路的需求。
在实际电路取电中，可以根据使用的电压范围将15V左右电压通过稳压管或电压转换电路来获取实际应用中所需的电压范围值。逻辑通道中的S1、S2、S3、S4、S5按照一定寻址规律依次发送，VCC电压波形相对稳定部分时序达到811.5ms左右，则满足芯片了之间的校验运算。
喷头芯片执行校验判断后动作，如失败或失效，则喷头芯片与墨盒芯片之间的通信被切换至上下拉喷孔电路，以用于芯片上机过程中检喷孔或打印机过程中出现打印异常而报错提示。报错及反馈机制及包括以下几个步骤：
第一步：当校验成功时，则芯片之间保持正常的模式进行通信，如校验失效或失败则切换错误响应电路；
第二步：打印机在芯片装机或打印过程中进行检喷孔等操作，当喷孔相应有效数不符合要求时，则出现上机或打印异常等报错现象，此时可以将不符合要求的墨盒芯片剔除；
第三步：检验失效时，通过切换电路实现对喷孔电气信号的上下拉，则导致机器检测喷孔数出现异常，从而芯片与机器通信失效，进而机器报错。
打印机检测喷孔过程中存在有效喷孔与无效喷孔的区别，例如，正常情况下打印机选择喷孔A，那么相对应的喷孔将根据其特性反馈电气特性(电压的高低)，而在检验失效的情况下，此时将A信号的电压进行控制(例如相对于正常信号的拉高，此时可以做拉低切换)，或者选中A喷孔时，此时通过切换信号变成了选择B喷孔做上下拉动作，导致打印机的时序判断错误。
图8为本发明实施例一提供的上下拉喷孔的原理示意图，如图8所示，可以实现喷孔时序切换，使机器检测喷孔数出现异常，从而芯片与机器通信失效，进而机器报错。其中可以使用喷孔相关电气信号S3/S5作为上拉激励源；可使用上下拉方案中的SW1/SW2信号在检喷孔时非选中喷孔时序做Switch使能，可选择导通电阻较小的模拟开关或数字开关，实现F信号的传输控制，记载校验失效或错误的情况下将喷孔F信号进行传输或阻塞通信，实现模块的异常机制反馈。
图9为本发明实施例一提供的上下拉喷孔的电路原理图，如图9所示，上下拉电路由PMOS晶体管2301、NMOS晶体管2302、电阻等分立器件组成，还包括使能信号EN端，控制信号S端，喷孔信号F端。具体的，上下拉喷孔电路包括：PMOS晶体管G1、NMOS晶体管G2、NMOS晶体管G3、NMOS晶体管G4、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电阻R10，电阻R6的一端连接至使能信号端和NMOS晶体管G2的栅极，电阻R6的另一端接地；NMOS晶体管G2的源极连接至电阻R3的一端，NMOS晶体管G2的漏极接地；电阻R3的另一端分别连接电阻R2的一端、PMOS晶体管G1的栅极；电阻R2的另一端分别连接电阻R9的一端和喷头芯片的S端；电阻R9的另一端分别连接电阻R10的一端和NMOS晶体管G4的栅极，电阻R10的另一端接地；NMOS晶体管G4的漏极接地，NMOS晶体管G4的源极分别连接电阻R8的一端和NMOS晶体管G3的栅极；电阻R8的另一端分别连接电阻R1的一端、电阻R7的一端、喷孔信号端；电阻R7的另一端连接至NMOS晶体管G3的源极，NMOS晶体管G3的漏极接地；电阻R1的另一端连接至PMOS晶体管G1的漏极，PMOS晶体管G1的源极连接至喷头芯片的S端。
当S端信号接入该上下拉喷孔电路后，具体的工作原理为：
当EN端为高，S3/S5为高时；此时G2管子导通，从而G1管子正常导通，因S3/S5为高，G4管子导通，从而G3管子的G极为0，故G3管子截止，此时的F3电压为R1与R8的分压电压，接入于喷孔F信号，故实现喷孔F信号的上拉；
当EN端为高，S3/S5为低时；此时G2管子导通，G1管子截止；G4管子截止，由于F信号高于0V，故G3管子导通；G3、G4组成泄放电路，把F的电平弱接地，维持低电平，故实现喷孔F信号的下拉；
当EN端为低，S3/S5为高时；G1、G2管子截止，G4管子导通，G3截止，F信号接入R8导通，其电平弱接地，维持低电平，故实现喷孔F信号的下拉；
当EN端为低，S3/S5为低时；G1、G2、G4截止，G3管子接F端信号存在弱电平信号导致G3管子导通，从而经过R7电阻接地，维持低电平，故实现喷孔F信号的下拉。
本实施例，可以应用在带喷头墨盒中，带喷头墨盒包括喷头芯片和墨盒芯片，通过由喷头芯片向墨盒芯片发送校验通信请求；在接收墨盒芯片反馈的响应信息时，向墨盒芯片发送加密数据；接收墨盒芯片反馈的解密数据；当解密数据与预先存储的参考数据不匹配时，则进行异常报错。从而可以实现喷头芯片和墨盒芯片之间的校验，确保芯片使用的合理性，避免非原装芯片对打印机和相关设备的损害。
图10为本发明实施例二提供的芯片之间的校验装置的结构示意图，如图10所示，本实施例的芯片之间的校验装置可以应用在带喷头墨盒中，该装置包括：
喷头芯片31，用于向墨盒芯片32发送校验通信请求；
喷头芯片31，用于在接收墨盒芯片32反馈的响应信息时，向墨盒芯片32发送加密数据；
喷头芯片31，用于接收墨盒芯片32反馈的解密数据；
错误响应电路33，用于当解密数据与预先存储的参考数据不匹配时，则进行异常报错。
在一种可能的设计中，带喷头墨盒包括喷头芯片31和墨盒芯片32，喷头芯片31和墨盒芯片32分别连接至打印机触点、墨盒触点上；其中，墨盒位于打印机中，且墨盒触点和打印机触点电连接。
在一种可能的设计中，喷头芯片31，具体用于：
在检测喷孔阶段，向墨盒芯片发送校验通信请求；
若在预设的时间范围内，未接收到墨盒芯片反馈的响应信息，则控制计数器的数值自增1；
判断计数器的数值是否大于预设阈值；
若计数器的数值大于预设阈值，且未接收到墨盒芯片反馈的响应信息，则确定校验失败；
若计数器的数值不大于预设阈值，且未接收到墨盒芯片反馈的响应信息，则重新向墨盒芯片发送校验通信请求，直至计数器的数值大于预设阈值，或者接收到墨盒芯片反馈的响应信息。
在一种可能的设计中，还包括：稳压电路34，用于：
当解密数据与预先存储的参考数据匹配时，则通过通信寻址方式，将喷头芯片和墨盒芯片连接至稳压电路，建立喷头芯片和墨盒芯片之间的通信。
在一种可能的设计中，稳压电路34的设计与实施一相同，具体可参见实施例一图7的描述，在此不再赘述。
稳压电路34具体用于：
当解密数据与预先存储的参考数据不匹配时，则通过上下拉喷孔电路修改喷头上至少一个喷孔信号，以使得打印机因检测到喷孔数不符合要求而进行打印异常报错。
在一种可能的设计中，上下拉喷孔电路的设计与实施一相同，具体可参见实施例一图9的描述，在此不再赘述。
本实施例的芯片之间的校验装置，可以执行实施例一中图2所示方法中的技术方案，其具体实现过程和技术原理参见图2所示方法中的相关描述，此处不再赘述。
本实施例，可以应用在带喷头墨盒中，带喷头墨盒包括喷头芯片和墨盒芯片，通过由喷头芯片向墨盒芯片发送校验通信请求；在接收墨盒芯片反馈的响应信息时，向墨盒芯片发送加密数据；接收墨盒芯片反馈的解密数据；当解密数据与预先存储的参考数据不匹配时，则进行异常报错。从而可以实现喷头芯片和墨盒芯片之间的校验，确保芯片使用的合理性，避免非原装芯片对打印机和相关设备的损害。
图11为本发明实施例三提供的打印机的结构示意图，如图11所示，本实施例的打印机40可以包括：带喷头墨盒，带喷头墨盒包括喷头芯片和墨盒芯片，喷头芯片和墨盒芯片包括：处理器41、存储器42。
存储器42，用于存储程序；存储器42，可以包括易失性存储器(英文：volatilememory)，例如随机存取存储器(英文：random-access memory，缩写：RAM)，如静态随机存取存储器(英文：static random-access memory，缩写：SRAM)，双倍数据率同步动态随机存取存储器(英文：Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory，缩写：DDR SDRAM)等；存储器也可以包括非易失性存储器(英文：non-volatile memory)，例如快闪存储器(英文：flash memory)。存储器42用于存储计算机程序(如实现上述方法的应用程序、功能模块等)、计算机指令等，上述的计算机程序、计算机指令等可以分区存储在一个或多个存储器42中。并且上述的计算机程序、计算机指令、数据等可以被处理器41调用。
上述的计算机程序、计算机指令等可以分区存储在一个或多个存储器42中。并且上述的计算机程序、计算机指令、数据等可以被处理器41调用。
处理器41，用于执行存储器42存储的计算机程序，以实现上述实施例涉及的方法中的各个步骤。
具体可以参见前面方法实施例中的相关描述。
处理器41和存储器42可以是独立结构，也可以是集成在一起的集成结构。当处理器41和存储器42是独立结构时，存储器42、处理器41可以通过总线43耦合连接。
此外，本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，当用户设备的至少一个处理器执行该计算机执行指令时，用户设备执行上述各种可能的方法。
其中，计算机可读介质包括计算机存储介质和通信介质，其中通信介质包括便于从一个地方向另一个地方传送计算机程序的任何介质。存储介质可以是通用或专用计算机能够存取的任何可用介质。一种示例性的存储介质耦合至处理器，从而使处理器能够从该存储介质读取信息，且可向该存储介质写入信息。当然，存储介质也可以是处理器的组成部分。处理器和存储介质可以位于ASIC中。另外，该ASIC可以位于用户设备中。当然，处理器和存储介质也可以作为分立组件存在于通信设备中。
本申请还提供一种程序产品，程序产品包括计算机程序，计算机程序存储在可读存储介质中，服务器的至少一个处理器可以从可读存储介质读取计算机程序，至少一个处理器执行计算机程序使得服务器实施上述本发明实施例任一的方法。
本领域普通技术人员可以理解：实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成。前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中。该程序在执行时，执行包括上述各方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。
Claims (14)
1.一种芯片之间的校验方法，应用在带喷头墨盒中，所述带喷头墨盒包括喷头芯片和墨盒芯片，其特征在于，所述方法包括：
喷头芯片向墨盒芯片发送校验通信请求；
在接收所述墨盒芯片反馈的响应信息时，向所述墨盒芯片发送加密数据；
接收所述墨盒芯片反馈的解密数据；
当所述解密数据与预先存储的参考数据不匹配时，则进行异常报错。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述喷头芯片向墨盒芯片发送校验通信请求之前，还包括：
将所述喷头芯片和所述墨盒芯片分别连接至打印机触点、墨盒触点上；其中，墨盒位于打印机中，且所述墨盒触点和所述打印机触点电连接。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述喷头芯片向墨盒芯片发送校验通信请求，包括：
在检测喷孔阶段，向所述墨盒芯片发送校验通信请求；
若在预设的时间范围内，未接收到所述墨盒芯片反馈的响应信息，则控制计数器的数值自增1；
判断所述计数器的数值是否大于预设阈值；
若所述计数器的数值大于预设阈值，且未接收到所述墨盒芯片反馈的响应信息，则确定校验失败；
若所述计数器的数值不大于预设阈值，且未接收到所述墨盒芯片反馈的响应信息，则重新向所述墨盒芯片发送校验通信请求，直至所述计数器的数值大于预设阈值，或者接收到所述墨盒芯片反馈的响应信息。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
当所述解密数据与预先存储的参考数据匹配时，则通过通信寻址方式，将所述喷头芯片和所述墨盒芯片连接至稳压电路，建立所述喷头芯片和所述墨盒芯片之间的通信。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其特征在于，当所述解密数据与预先存储的参考数据不匹配时，则进行异常报错，包括：
当所述解密数据与预先存储的参考数据不匹配时，则通过上下拉喷孔电路修改喷头上至少一个喷孔信号，以使得打印机因检测到喷孔数不符合要求而进行打印异常报错。
6.一种芯片之间的校验装置，应用在带喷头墨盒中，其特征在于，所述装置包括：
喷头芯片，用于向墨盒芯片发送校验通信请求；
喷头芯片，用于在接收所述墨盒芯片反馈的响应信息时，向所述墨盒芯片发送加密数据；
喷头芯片，用于接收所述墨盒芯片反馈的解密数据；
错误响应电路，用于当所述解密数据与预先存储的参考数据不匹配时，则进行异常报错。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述带喷头墨盒包括喷头芯片和墨盒芯片，所述喷头芯片和所述墨盒芯片分别连接至打印机触点、墨盒触点上；其中，墨盒位于打印机中，且所述墨盒触点和所述打印机触点电连接。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述喷头芯片，具体用于：
在检测喷孔阶段，向所述墨盒芯片发送校验通信请求；
若在预设的时间范围内，未接收到所述墨盒芯片反馈的响应信息，则控制计数器的数值自增1；
判断所述计数器的数值是否大于预设阈值；
若所述计数器的数值大于预设阈值，且未接收到所述墨盒芯片反馈的响应信息，则确定校验失败；
若所述计数器的数值不大于预设阈值，且未接收到所述墨盒芯片反馈的响应信息，则重新向所述墨盒芯片发送校验通信请求，直至所述计数器的数值大于预设阈值，或者接收到所述墨盒芯片反馈的响应信息。
9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括：稳压电路，用于：
当所述解密数据与预先存储的参考数据匹配时，则通过通信寻址方式，将所述喷头芯片和所述墨盒芯片连接至稳压电路，建立所述喷头芯片和所述墨盒芯片之间的通信。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述稳压电路包括：二极管、电容、稳压管，所述二极管的正极连接至所述喷头芯片的S端，所述二极管的负极分别与电容的一端、稳压管的负极以及电源VCC端电连接，所述电容的另一端、所述稳压管的正极连接至接地端。
11.根据权利要求6-10中任一项所述的装置，其特征在于，所述错误响应电路，具体用于：
当所述解密数据与预先存储的参考数据不匹配时，则通过上下拉喷孔电路修改喷头上至少一个喷孔信号，以使得打印机因检测到喷孔数不符合要求而进行打印异常报错。
12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述上下拉喷孔电路包括：PMOS晶体管G1、NMOS晶体管G2、NMOS晶体管G3、NMOS晶体管G4、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电阻R10，所述电阻R6的一端连接至使能信号端和NMOS晶体管G2的栅极，所述电阻R6的另一端接地；所述NMOS晶体管G2的源极连接至电阻R3的一端，所述NMOS晶体管G2的漏极接地；所述电阻R3的另一端分别连接电阻R2的一端、PMOS晶体管G1的栅极；所述电阻R2的另一端分别连接电阻R9的一端和所述喷头芯片的S端；所述电阻R9的另一端分别连接电阻R10的一端和NMOS晶体管G4的栅极，所述电阻R10的另一端接地；所述NMOS晶体管G4的漏极接地，所述NMOS晶体管G4的源极分别连接电阻R8的一端和NMOS晶体管G3的栅极；所述电阻R8的另一端分别连接电阻R1的一端、电阻R7的一端、喷孔信号端；所述电阻R7的另一端连接至所述NMOS晶体管G3的源极，所述NMOS晶体管G3的漏极接地；所述电阻R1的另一端连接至所述PMOS晶体管G1的漏极，所述PMOS晶体管G1的源极连接至所述喷头芯片的S端。
13.一种打印机，其特征在于，包括：带喷头墨盒，所述带喷头墨盒包括喷头芯片和墨盒芯片，所述喷头芯片和所述墨盒芯片的存储器中存储有处理器的可执行指令；其中，所述处理器调取所述可执行指令，以执行权利要求1-5中任一项所述的芯片之间的校验方法。
14.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时，实现权利要求1-5中任一项所述的芯片之间的校验方法。
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