CN111404625A - 一种指控装备通信抗干扰性能测试仪 - Google Patents

一种指控装备通信抗干扰性能测试仪 Download PDF

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CN111404625A CN202010160250.7A CN202010160250A CN111404625A CN 111404625 A CN111404625 A CN 111404625A CN 202010160250 A CN202010160250 A CN 202010160250A CN 111404625 A CN111404625 A CN 111404625A
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Abstract

本发明公开了一种指控装备通信抗干扰性能测试仪,包括用于电台的测试的主机;及给主机供电,将交流220V电源转换为12V直流电源的电源适配器;及用于连接主机与电台天线口之间的射频测试电缆;及用于连接主机与电台音频口之间的音频连接电缆;及用于主机连接外部干扰输入的干扰入连接电缆;所述主机包括机体,及设置于机体内侧的控制板,所述控制板包括主控模块;及与主控模块通信的前面板模块,本发明的指控装备通信抗干扰性能测试仪,对指控通信装备的主要性能指标进行常规测试和抗干扰测试的便携式保障设备,能够完成定频、跳频、误码等常规测试,以及在干扰环境下的抗干扰指标测试。

Description

一种指控装备通信抗干扰性能测试仪
技术领域
本发明涉及一种指控装备通信抗干扰性能测试仪,属于电磁信号测试设备技术领域。
背景技术
在现代作战模式中,战场环境日趋复杂,作为信息化战场上的核心装备之一,通信装备必须具备较强的电磁环境适应能力,否则难以获得通信指挥的“制信息权”,更难以保证战场的主动权;因此,保证通信装备在复杂电磁下保持良好的通信性能是保障部队获取“制信息权”的先决条件,同时也是通信装备维修保障的重要任务;但是目前,部队针对复杂电磁环境下通信装备的通信保障研究缺乏,对通信装备抗干扰性能的测试需要搭建复杂的干扰模拟环境,而产生各种典型干扰需要价格昂贵的专业设备,且操作繁琐,技术水平要求高;各级维修保障机构受各种因素限制,还不能在日常维护、巡检和维修等阶段对通信装备的抗干扰性能进行测试,导致装备的抗干扰性能处于未知状态。
发明内容
为解决上述问题,本发明提出了一种指控装备通信抗干扰性能测试仪,对指控通信装备的主要性能指标进行常规测试和抗干扰测试的便携式保障设备,能够完成定频、跳频、误码等常规测试,以及在干扰环境下的抗干扰指标测试。
本发明的指控装备通信抗干扰性能测试仪,包括用于电台的测试的主机;及给主机供电,将交流220V电源转换为12V直流电源的电源适配器;及用于连接主机与电台天线口之间的射频测试电缆;及用于连接主机与电台音频口之间的音频连接电缆;及用于主机连接外部干扰输入的干扰入连接电缆;所述主机包括机体,及设置于机体内侧的控制板,所述控制板包括主控模块;及与主控模块通信的前面板模块,及通过RS485接口通信,用于多种干扰信号输出的干扰模块,及通过主控中频接口通信的中频模块,及通过RS485接口和主控中频接口通信的射频模块;所述射频模块通信连接有包含衰减器单元,提供20dB/50W衰减量的衰减器模块,所述射频模块上设置有校准信号输入接口和校准信号输出接口;所述衰减器模块设置有双工口;所述主控模块还设置有电源接口、LAN接口、USB接口、RS232接口、音频输入接口和音频输出接口。
进一步地,所述主控模块包括完成数据传输、计算、人机交互、系统控制的主控单元;及与主控单元通信,选择确定进入AA单元的音频源,及选择进入示波器的信号源,及用于音频/基带通信方式切换控制,及与音频输入接口和音频输出接口通信的低频通道单元;及与低频通道单元通信,用于音频信号产生,产生可控频率和电平的单音或双音音频信号,为电台音频口提供输入的音频产生单元;及与低频通道单元和主控单元通信,用于音频频率、电平、SINAD测试的音频分析单元;及与低频通道单元和主控单元通信,用于误码比较测试的基带误码测试单元;及与电源适配器其输出电源接口电连接,用于电源稳压和开机按键检测的电源模块;
所述前面板模块包括与主控单元电连接,由键盘电路和橡胶按键组成,完成键盘矩阵的扫描读取的键盘单元;及与主控单元电连接,由LCD显示屏和显示信号转接电路板组成,完成参数输入和显示的显示单元;及与与主控模块电连接,包括前面板上除N型双工口外的各个接口、电源开关和圆形快连接器转接电路板的接口单元;
所述射频模块包括用于完成输入接口的阻抗匹配、端口保护,完成输入信号的功率控制、变频和滤波,为A/D采样提供输入的波形采集通道单元:及用于D/A输出信号的滤波、变频和功率控制,将回放波形搬移到射频,完成输出接口的阻抗匹配、端口保护和末级信号驱动的波形回放通道单元;及一输入接口与波形回放通道单元通信,用于干扰信号和调制信号的合成,实现干扰信号合成输出的波形合成单元;及与波形合成单元一输入接口通信,接收主控模块的参数设置后,实现干扰信号的输出的干扰单元;及与波形合成单元一输入接口通信,接收外部干扰信号的外部干扰接口;及与波形合成单元输出通信的选择开关;所述选择开关另一输入端通信连接的衰减器模块;所述选择开关输出端接入波形采集通道单元输入端;及与波形回放通道单元通信,用于变频所需的两路本振的射频本振单元;及与主控单元和波形回放通道单元通信,用于与外部控制器的通信连接,即接收来自主控模块的命令和射频模块的控制的射频控制电路单元;及给射频模块各路供电的射频供电电路单元;及与射频控制电路单元通信,用于超短波电台的灵敏度测试的射频信号产生模块;射频信号产生模块采用DDS和DSP技术,实现射频信号发生及其内部调制、外部调制和电平控制,实现射频信号源的小型化低功耗设计;完成频率范围为1.5MHz~88MHz、输出电平范围为-10dBm~0dBm、FM调制(150Hz/1kHz调制频率,3kHz/5.6kHz频偏)、GPSK/GMSK调制(16kbps~64kbps数据率)的射频信号输出;DDS模块采用型号为AD9954的DDS芯片,采样速率为400MHz,能产生0~160MHz的正弦信号;其输出部分的14bit数模转换器;并采用控制器控制AD9954,对AD9954的输出信号进行测量;在DDS输出部分使用了120MHz的低通滤波器,使用频谱仪HP8560查看RF特性,频谱仪设置为100kHz带宽测试中心电平,测量结果表明,在主频频率为1.5MHz~88MHz范围时,杂散和镜频分量电平相对于主频电平低55dB以上,满足电台测试所需的射频信号指标要求;射频产生单元输出电平采用了RMS检波和程控衰减器的方式控制;其中检波器选用AD8361,AD8361在30MHz~88MHz范围3dBm输入时频响达到0.25dB;在0dBm输入时只有约0.1dB的频响误差;射频产生单元的程控衰减器选用了AD8320,AD8320能实现-10dB~26dB的增益控制;当AD8320的增益大于0dB时,其线性特性很好,满足射频信号源的设计要求;当增益小于0dB时,线性特性变差,为此,在射频产生模块中使用AD8361和AD8320联合控制RF输出电平,即利用AD8361监测输出电平,调整AD8320使得输出电平处于0dBm状态;然后以该AD8320的控制字为起点改变衰减值,达到30dB的控制范围;同时,还可以控制AD9954内的数模转换器的位数,实现10dB范围的变化,总共可实现40dB的RF输出动态范围控制;使用AD9954实现调频比较方便,只需要周期刷新片内频率控制字即可;所述中频模块包括连接波形采集通道单元其A/D采样输出端,及波形回放通道单元其D/A输出信号输入端,用于IF模拟信号模数转换、数据拼接、高速缓冲和采集控制的波形采集控制单元;及与主控单元通信,用于数字频率测量的数字频率计单元;及与主控单元通信,用于FM、AM解调和调制参数测量,包括调制频偏、调幅度的模拟解调单元;及与主控单元通信,用于发信机跳频参数测量,包括跳频速率和跳频带宽的发信机跳频测量单元;及与主控单元通信,用于将主板模块上的基带误码测试单元一同实现基带误码测试,完成同步提取和GMSK调制的中频基带误码测试单元;及设置于波形回放通道单元其D/A输出信号输入端,用于FM信号产生、AM信号产生和定频信号产生的模拟调制产生单元。
进一步地,所述衰减器模块其接口包括N型射频插座的N型接口;其安装在主机前面板外部,通过射频电缆与电台天线口连接;及SMA型射频插座的SMA接口,其通过半钢性屏蔽电缆在主机内部与射频模块RF接口连接;所述所述衰减器模块其频率范围:1.5MHz~100MHz;N端电平范围:-120dBm~+47dBm;SMA端电平范围:-100dBm~+27dBm。
进一步地,所述射频模块其接口包括采用RS485串行信号作为电源和控制信号的主控射频接口;及采用SMA插座,通过半钢性屏蔽电缆与衰减器模块的SMA接口连接的双工口:及采用SMA插座,通过半钢性屏蔽电缆与主机后面板上RFi的SMA插座连接的校准输入接口;及采用SMA插座,通过半钢性屏蔽电缆与主机后面板上RFo的SMA插座连接的校准输出接口;及从数字中频模块输入IF信号的IF输出接口;及输出到数字中频模块的IF信号的IF输入接口;及将标准时钟输出到数字中频模块的标准时钟源接口为其提供标准时钟标准时钟接口;及将中频信号整形为方波脉冲输出的频率计接口;及对射频控制MCU编程的JTAG-RF接口;所述射频模块其技术指标如下:
1)射频产生频率:1.5MHz~100MHz,误差≤±2×10-7(0.2ppm);2)射频输出电平:双工端口-120dBm~-50dBm,校准端口-60dBm~0dBm,误差≤±1.5dB(23℃±10℃,±0.01dB/℃温度补偿);3)单边带相位噪声:≤-90dBc/Hz(100MHz偏移20kHz);4)射频频率测量:1.5MHz~100MHz,误差≤±2×10-7标称值±4Hz;5)射频功率测量:双工输入0.05W~50W(17dBm~47dBm),误差≤±0.8dB(射频电压测量精度±10%);6)增益线性最大误差:±1dB;7)频率响应最大误差:±1dB(宽带模式下);8)射频输入/输出阻抗:50Ω;9)供电电压:6V±5%。
进一步地,所述干扰模块其接口包括采用SMA插座,用于将干扰信号输出进入射频模块单元的干扰信号输出接口;及采用PTK4插座,用于提供5V/2A工作电源的5V供电接口,及用于对干扰模块其单片机进行编程和下载的JTAG-MCU接口;及用于主控单元对干扰模块参数的设置及信号输出控制的RS485通信控制接口,其技术指标如下:1)频率范围:1.5MHz~100MHz;2)频率分辨率:1Hz;3)内部时基:1×10-6;4)干扰输出电平范围(峰值功率):-100dBm~0dBm;5)干扰源输出电平误差:±1.5dB。
进一步地,所述中频模块其接口包括与主控单元连接的SPI、ISA总线,以及与BERT单元相连的RCLK、RDATA、TCLK、TDATA信号的主控中频接口;及采用SMA插座,用于从射频模块输入的IF信号的IF输入接口;及采用SMA插座,用于输出到射频模块的IF信号的IF输出接口;及采用2个SSMB插座,从射频模块输入到中频模块的标准时钟源接口,为其提供标准时钟(由射频模块上温补晶振产生)的标准时钟接口;及采用SMA插座,由射频模块输入的中频整形脉冲的接口的频率计接口:及采用SMA插座,示波器信号从此进入IFOSC单元的示波器接口;及采用PTK4插座,提供5V/2A工作电源的5V供电接口;及对FPGA编程和下载的JTAG-FPGA接口;中频模块其技术指标如下:1)IF输入频率范围:1.5MHz~100MHz;2)IF输出频率范围:1.5MHz~100MHz;3)IF输入电平范围:0dBm~6dBm;4)IF输出电平范围:-7dBm~-1dBm;5)A/D转换器采样率:最大250MSPS(10-bit);6)D/A转换器采样率:最大250MSPS(10-bit);7)存储器容量:大于2GB;8)供电电压:+5V±5%;9)控制信号:LVTTL 3.3V电平;中频模块其调制信号产生和测量如下:10)FM信号产生:调制频率范围150Hz~10kHz,频偏范围500Hz~30kHz,频偏误差≤±5%标称值±200Hz;11)AM信号产生:调制频率范围150Hz~10kHz,调幅度范围0~99%,调幅度误差≤±5%标称值±1%;12)FM测量:频偏范围500Hz~30kHz,误差≤±5%标称值±200Hz;13)AM测量:调幅度范围0~100%(调制频率1kHz),误差≤±5%标称值±1%;14)IF输入/输出阻抗:50Ω;中频模块其发射机跳频测试指标如下:15)跳频速率测量:范围0~5000hop/s(验收测试为203hop/s),误差≤2%标称值±1hop/s;16)跳频带宽测量:>57MHz(验收测试为30.025MHz~87.975MHz全频段跳频),误差≤±100kHz。
进一步地,所述主控模块其接口包括与接口单元(INTF)连接,将XPA7接口和XPAD14接口汇合成一个接口进入主板模块的圆形快连接器转接口;及采用SMB插座,用于从前面板模块输入的音频输入接口;及采用SMB插座,从前面板模块输出的音频出接口;及对辅控MCU编程用的JTAG-MCU编程接口;及采用RS485串行信号作为电源和控制信号的主控射频接口;及包括与ARM模块连接的SPI、ISA总线,以及与BERT单元相连的RCLK、RDATA、TCLK、TDATA信号的主控中频接口;及采用PTK4插座和USB信号,连接键盘单元的KB接口;及采用柔性扁平线连至显示模块,采用FPC0.5-40底接触插座显示接口;及采用RJ45插座,电路板上连接至MC接口的LAN接口;及采用迷你USB插座,电路板上连接至MC接口的USB_OTG接口;及采用USB HUB输出的第一路USB接口的USB1接口;及采用USB HUB输出的第二路USB接口的USB2接口;及将电路板上连接至RS485总线再转换为RS232,用于主机和外部通信的RS232接口;及采用Φ2.1插座,1脚为+12,2脚为GND的电源接口;及采用PTK4-2.54插座,连接于电源接口和主控模块之间的电源开关接口;及对DSP编程用的JTAG-DSP接口;所述主控模块其音频信号产生技术指标如下:1)音频产生频率:50Hz~10kHz单音或双音,误差≤±1Hz;2)音频产生电平:1mV~1V,误差≤±5%标称值±1mV;3)音频输出接口:音频I、音频II、音频出BNC;4)音频输出阻抗:0Ω;所述主控模块其音频信号分析技术指标如下:5)音频分析频率:50Hz~10kHz,误差≤±1Hz;6)音频电压测量:10mV~6V(音频I和音频II接口输入),1V~200V(音频入BNC接口输入),±5%标称值±1mV;7)音频信纳德测量:范围0dB~40dB,3dB~20dB准确度±0.5dB,20~40dB准确度±1dB,1kHz音频信号,3dB以下不考核;8)音频失真度测量:读数范围0~100%,误差≤±5%(失真度为1%~30%时);9)输入阻抗:音频I和音频II接口为600Ω,音频入BNC接口>1MΩ;10)音频信号检测:在10mV~1V之间设定门限(典型100mV),AFm输入信号超出门限电压时AF_detect为TTL高电平(AF_detect接口:由AA单元连接至主控单元);所述主控模块其基带误码率测试技术指标如下:11)基带误码率范围:5×10-2~1×10-6;12)基带数字速率:16kbit/s;13)基带接口电平:发送2Vpp,在2kΩ阻抗上,接收1Vpp,在1kΩ阻抗上,发送电平:误差<10%,接收电平:标称值±20%,不作为检验指标。
进一步地,所述前面板模块包括与前面板音频/数据接口相连的音频/数据接口;及将XPA7接口和XPAD14接口汇合成一个接口与主板模块相连的圆形快连接器转接口;及采用PTK4-2.54(Z)接口,用于与主控单元连接的键盘接口;及采用FPC0.5-40底接触插座,并采用柔性扁平电缆连至显示模块的显示接口;及采用PTK4-2.54(Z)接口,连接到电源单元可控制主机的开关的开关接口;所述前面板模块其技术指标如下:1)显示点阵:800×480;2)显示尺寸:7英寸宽屏,模块尺寸165mm×104mm,视屏尺寸152.4mm×91.44mm;3)显示模式:TFT正显/LED背光;4)供电与功耗:+5V,150mA;LED背光电流最大300mA(可调)。
进一步地,所述主控单元包括主控制器和辅控制器;所述主控制器由ARM构成,其完成主机中各单元模块的控制、状态显示、参数设置、测试结果运算和显示;所述ARM其系统包括提供所有界面元素,并根据用户操作创建相应线程,在线程中调用测试应用层提供的接口函数的界面层;界面层其显示界面右侧是控制按键,用于切换测试功能区域,功能区域的上方中间显示当前的测试功能标题;中间部分为测试界面页的内容,可以为数值输入项、测试结果项,界面层的选择使用屏幕右侧的按键(6个),当前界面对象突出显示;数值输入项选中后,采用数字键输入数值,禁止非法输入,并按确认键,超出数值范围(显示范围边界值);测试结果项无法选择,仅显示测试结果;界面层其干扰参数设置功能区域的设置界面集成了多种干扰模式输出的功能,完成指控装备的干扰合成信号的输出功能,其设置分为:窄带干扰、宽带干扰、扫频干扰、碰撞干扰、阻塞干扰、瞄准干扰、跟踪干扰、梳状干扰和训练干扰;干扰参数设置分别对不同的干扰模式进行不同的参数设置;及完成测量算法和自动控制任务的测试应用层;及提供ARM外设的各种控制,为测试应用层提供标准操作接口的操作系统层和驱动层;其包括网卡驱动、键盘驱动、显示屏驱动、GPIO驱动、UART驱动、SPI驱动和ISA驱动;所述辅控制器其系统为完成低频通道单元和基带误码测试IC的控制;辅控制器接收主控制器的控制命令和查询命令,并回复响应;辅控制器采用ATMEL公司的增强型内置Flash的精简指令集CPU高速8位单片机ATmega128;开发环境为ICC AVR编译环境和ATMELAVR Studio集成开发环境(IDE);所述ARM微处理器使用嵌入式Windows CE 6.0(WinCE)操作系统,在该操作系统上建立包括UI和测试应用系统;各个处理器的运行是异步的,主控ARM对其他处理器采用串行通信协议进行控制;即所述主控制器通过RS485总线分别与辅控制器、射频模块其MCU和干扰模块其MCU通信;所述主控制器还通信连接有用于音频信号产生和音频信号分析的DSP处理器,且主控制器内置有由音频分析算法和驱动组成DSP控制模块;DSP处理器其包括音频产生单元的控制,产生指定频率和幅度的音频信号;音频分析单元中音频输入信号的频率、电平、SINAD分析;DSP处理器接收主控制器的控制命令和查询命令,并回复响应;接收的控制命令和查询命令包括发送给音频单元的命令,执行相应的命令时,将保存的音频分析结果回复给主控制器;DSP处理器采用了TI公司浮点DSPTMS320F28335;该款DSP采用LQFP封装处理速度为150MIPS,内置256K独立flash;及内置有由射频MCU控制和驱动组成的射频控制模块;射频控制模块包括完成射频信号频率、电平的控制;实现对一本振、二本振、射频输出增益的控制功能;射频模块其MCU接收主控制器的控制命令和查询命令,并回复响应;接收的控制命令和查询命令包括发送给射频产生控制单元的命令,其采用ATMEL公司的增强型内置Flash的精简指令集CPU高速8位单片机ATmega128;所述主控制器通信连接有FPGA;所述FPGA内置有包含中频模块其内部的各个测试单元的数字逻辑实现的FPGA模块;FPGA模块完成波形采集控制,模拟调制信号产生(FM/AM/定频),模拟调制信号解调和测量(FM/AM),数字频率计,发信机跳频测量(跳频速率、跳频带宽),中频示波器和中频基带误码测试;FPGA采用Altera公司的EP3SL50F780C4N;干扰模块其MCU完成跟踪干扰、阻塞干扰和瞄准干扰的信号产生;采用Altera公司的CPLD芯片EPM3064ATI44-10;MCU采用ATMEL公司的增强型内置Flash的精简指令集CPU高速8位单片机ATmega128。
进一步地,所述机体采用铝合金材料,重量轻、壳体坚固,同时具有防锈性能;所述机体其前面板从上到下,从左到右依次为:测试仪名称区、液晶显示区和键盘输入区;所述液晶显示区其显示屏采用7英寸的800╳480彩色TFT-LCD宽温显示模块;所述键盘输入区其键盘采用硅橡胶按键,所述键盘输入区包括功能区域、数字区域、控制区域和接口区,所述功能区域包括多个功能选择按键;所述数字区域包括10个数字键、小数点/负号键和退格键;所述控制区域包括三个单位键、四个方向键、一个确认键、三个功能键;所述接口区其包括用于测试仪的开关按键的电源按键,用于调节内置扬声器音量的音量调节键;用于计算机与测试仪连接的USB mini接口;用于连接USB从设备,如鼠标、键盘等USB接口;用于对外的网络通信的网口;用于外部干扰信号的输入端口的干扰入接口;采用14芯音频接口用于连接电台的音频口;通过射频电缆连接电台天线口的双工口;所述机体其后面板包含由YGD20B0802J型插座的电源接头;所述机体其顶部和右侧设计有拉手,便于搬运和携带;顶部拉手目的是方便在操作台上搬动,也利于从存放抽屉中取出;右侧的拉手用于拉手提行检测仪,所述机体底部设计有4个塑料材质的支撑脚,前2个支撑脚可以向下打开或收起,上有防滑橡胶,打开靠近前面板的两个支撑脚可将仪器以小仰角放置在平面上操作。
与现有技术相比较,本发明的指控装备通信抗干扰性能测试仪,具有常规测试和抗干扰测试两种工作方式,菜单操作,测试过程具有交互提示功能;能够提供无干扰信号环境下,常规通信装备性能指标的测试,及提供干扰环境下(包括内部干扰和外部干扰),通信装备的性能指标的测试;其在传统的测量仪器和无线综合测试仪的基础上增加了干扰信号环境模拟,以及干扰环境下性能指标的测试功能,增强了测试仪的通用性、全面性和便捷性,可在室内条件下衡量复杂电磁环境下,各种定频、跳频电台的功能检查和性能指标测试需要;与传统的测量仪器和无线综合测试仪相比,该测试仪具有下列特点:
a)通用性强:在无线综合测试仪的基础上增加了跳频参数、误码等多项指标的测试,以及干扰信号的模拟输出功能;目前,国内的无线综合测试仪均缺乏干扰环境下测试和跳频测试功能,已有单位研制的跳频电台测试仪体积大、成本高、且只能适应特定的装备,因此也未能形成批量装备。该测试仪通用性强、性能优越,在此领域取得了突破。
b)综合集成:综合集成了多种台式仪器的功能,功能与性能指标优越。
c)智能便捷:人性化的彩色图形化界面配合出色的人体工学键盘,线缆连接简单,提供常规测试和抗干扰测试两种工作方式,方便技术人员测试维修和普通战士快速检测两种需求。
d)安全可靠:选择测试项目后,测试过程全自动,电台的收发状态由测试仪控制,避免因人为操作失误而造成设备损坏。
附图说明
图1是本发明的主机硬件模块组成框图。
图2是本发明的主机功能单元组成框图。
图3是本发明的主机功能单元组成框图。
图4是本发明的机体正面结构示意图。
图5是本发明的机体背面结构示意图。
图6是本发明的机体正面键盘区结构示意图。
图7是本发明的机体正面接口区结构示意图。
图8是本发明的机体顶面结构示意图。
图9是本发明的测试功能列表示意图。
图10是本发明实施例2的测试仪连接关系示意图。
图11是本发明实施例2窄带干扰设置界面示意图。
图12是本发明实施例2宽带干扰设置界面示意图。
图13是本发明实施例2扫频干扰设置界面示意图
图14是本发明实施例2碰撞干扰设置界面示意图。
图15是本发明实施例2阻塞干扰设置界面示意图。
图16是本发明实施例2瞄准干扰设置界面示意图。
图17是本发明实施例2梳状干扰设置界面示意图。
图18是本发明实施例3连接关系示意图。
图19是本发明实施例3训练干扰界面示意图。
图20是本发明实施例3抗干扰测试-跳频测试界面示意图。
图21是本发明实施例3是实施例3抗干扰测试-误码测试界面示意图。图22是本发明实施例3抗干扰测试-误码测试界面示意图。
图23是本发明系统设置界面示意图。
图24是本发明发信机测试示意图。
图25是本发明模拟接收机测试示意图。
图26是本发明数字接收机测试示意图。
图27是本发明模拟灵敏度测试流程图。
图28是本发明数字灵敏度测试流程图。
图29是本发明最大能量搜索示意图。
图30是本发明音频分析模块示意图。
图31是本发明波形采集原理框图示意图。
图32是本发明波形回放控制单元示意图。
图33是本发明等精度频率测量得到的SignalTap II实时信号波形示意图。
具体实施方式
实施例1:
如图1和图2所示,本发明的指控装备通信抗干扰性能测试仪,包括用于电台的测试的主机;及给主机供电,将交流220V电源转换为12V直流电源的电源适配器;及用于连接主机与电台天线口之间的射频测试电缆;及用于连接主机与电台音频口之间的音频连接电缆;及用于主机连接外部干扰输入的干扰入连接电缆;所述主机包括机体,及设置于机体内侧的控制板,所述控制板包括主控模块;及与主控模块通信的前面板模块,及通过RS485接口通信,用于多种干扰信号输出的干扰模块,及通过主控中频接口通信的中频模块,及通过RS485接口和主控中频接口通信的射频模块;所述射频模块通信连接有包含衰减器单元,提供20dB/50W衰减量的衰减器模块,所述射频模块上设置有校准信号输入接口和校准信号输出接口;所述衰减器模块设置有双工口;所述主控模块还设置有电源接口、LAN接口、USB接口、RS232接口、音频输入接口和音频输出接口。
其中,所述主控模块包括完成数据传输、计算、人机交互、系统控制的主控单元;及与主控单元通信,选择确定进入AA单元的音频源,及选择进入示波器的信号源,及用于音频/基带通信方式切换控制,及与音频输入接口和音频输出接口通信的低频通道单元;及与低频通道单元通信,用于音频信号产生,产生可控频率和电平的单音或双音音频信号,为电台音频口提供输入的音频产生单元;及与低频通道单元和主控单元通信,用于音频频率、电平、SINAD测试的音频分析单元;超短波电台接收机测试时,需要对音频信号进行音频电压、信噪比、信纳德等进行分析;通用超短波电台音频输出频率范围为300Hz~3400Hz,输出电平范围为100mV~10V;采用A/D采样和DSP技术,利用算法实现音频信号的音频电压、信噪比、信纳德等指标的测量;针对信噪比和信纳德的测量进行算法研究和仿真;使用基于DFT方式的信噪比测量算法具有较好的性能;信号频率和幅度估计精度能满足测量要求;其具体如下:将输入信号截短,得到的行向量X=x(n)与一个相同长度的正弦信号列向量W=w(n)相乘,近似得到输入信号中含有的正弦信号W的分量;参与计算的序列长度越长,分量计算就越准确;如果向量W的频率等于失真度测量的各个频率分量和它们的正交分量,则可以计算出输入信号中包含各次谐波的能量;设被测信号基频为fd,采样速率为fs,第m次谐波所代表的W向量为:
Figure BDA0002405516970000141
所以,很容易计算得到第m次谐波的能量Em和信号的失真度D0:
Em=|X×Wm|2………………………………(2)
Figure BDA0002405516970000151
上式的失真度的计算是在被测信号基频fd是准确已知的前提下进行的;在工程测量中,被测信号的频率往往不能保证绝对准确,或者允许一定的频率偏差;如果被测系统的频率和测量系统的频率偏差较大时,就会导致较大的测量误差;为此,仅仅基于一个频点的测量是不够的;为了保证一定的实用性对上式进行改进:其在计算某次谐波分量的能量时,不用一个固定频率的序列计算,而是该频点附近一定范围内的所有序列中的最大能量,则代表了该频率点实际的信号强度;采用二分法搜索极大值,找到最大能量点;如图29所示,图中虚线代表第m次谐波的能量分布,fm表示第m次谐波实际所在的频率点,fstart、fend分别表示第m次谐波极大值搜索的频率起始点和终止点;在计算该次谐波能量时,首先计算fstart和fend,以及它们的中间频率点fmiddle的信号能量E0、E2和E1,然后比较这三个频率点的能量,如果E0大于E2,则在fstart到fmiddle之间进行搜索,直到满足最值条件;在基频能量最大值搜索时,最终得到的频率点就是被测信号的基频;如果最值条件足够严格,得到的基频频率也是足够准确的;此时,可以直接使用这个基频得到各次谐波的准确频率,用以估计各高次谐波的能量;通过上述计算,不但能完成信号的失真度测量,同时也实现了信号频率和电平的测量;并在此基础上完成信噪比和信纳德的计算;通过Matlab仿真验证算法的性能,通过随机测试,上述算法的失真度测量误差能控制在1%以下,频率误差在1Hz以下,满足音频测试需求;对于100MIPS速度的DSP来说,完成一次失真度估计耗时约2.2ms;为了完成频率范围为50Hz~20kHz、输入电平范围为5mV~5V音频信号的测量(分压降压后),以及300Hz~3400Hz、输入电平范围为5mV~5V的信噪比、信纳德分析,需增加3级增益控制,每级20dB,在进行信噪比和信纳德测试时,如图30所示,为了充分利用AD转换器的精度,需要对输入音频信号进行自动电平控制,使得信号的最大电平达到AD转换器80%的不失真幅度范围;DSP选用高性价比浮点DSP TMS320VC33,其数据总线宽度为32位,运算精度高,能比较方便地实现音频测量算法;A/D转换器采用16位高速ADC,其最高采样速率为85kS/s,满足音频分析的精度和带宽的需求;及与低频通道单元和主控单元通信,用于误码比较测试的基带误码测试单元;及与电源适配器其输出电源接口电连接,用于电源稳压和开机按键检测的电源模块;所述前面板模块包括与主控单元电连接,由键盘电路和橡胶按键组成,完成键盘矩阵的扫描读取的键盘单元;及与主控单元电连接,由LCD显示屏和显示信号转接电路板组成,完成参数输入和显示的显示单元;及与与主控模块电连接,包括前面板上除N型双工口外的各个接口、电源开关和圆形快连接器转接电路板的接口单元;所述射频模块包括用于完成输入接口的阻抗匹配、端口保护,完成输入信号的功率控制、变频和滤波,为A/D采样提供输入的波形采集通道单元:及用于D/A输出信号的滤波、变频和功率控制,将回放波形搬移到射频,完成输出接口的阻抗匹配、端口保护和末级信号驱动的波形回放通道单元;及一输入接口与波形回放通道单元通信,用于干扰信号和调制信号的合成,实现干扰信号合成输出的波形合成单元;及与波形合成单元一输入接口通信,接收主控模块的参数设置后,实现干扰信号的输出的干扰单元;及与波形合成单元一输入接口通信,接收外部干扰信号的外部干扰接口;及与波形合成单元输出通信的选择开关;所述选择开关另一输入端通信连接的衰减器模块;所述选择开关输出端接入波形采集通道单元输入端;及与波形回放通道单元通信,用于变频所需的两路本振的射频本振单元;及与主控单元和波形回放通道单元通信,用于与外部控制器的通信连接,即接收来自主控模块的命令和射频模块的控制的射频控制电路单元;及给射频模块各路供电的射频供电电路单元;及与射频控制电路单元通信,用于超短波电台的灵敏度测试的射频信号产生模块;所述中频模块包括连接波形采集通道单元其A/D采样输出端,及波形回放通道单元其D/A输出信号输入端,用于IF模拟信号模数转换、数据拼接、高速缓冲和采集控制的波形采集控制单元;波形采集控制单元作为通信波形高速采样存储,是对战术电台通信波形的直接采样数字化,所要求的采样速率要覆盖战术电台的1.5MHz~88MHz频段范围,根据奈奎斯特采样定律,最大采样速率应该大于176MHz;基于上述要求设计采用最高250MSPS的采样率的ADC(选用AD9211BCPZ-300,此款芯片最高支持300MSPS的采样速率,10-bit),高速采样必然带来高速和海量的存储,如图31所示,存储阵列单元采用DDR2 SDRAM器件,SDRAM一般用在需要大量非易失性存储器且对成本敏感的应用中,但需要进行行刷新、行打开管理、延时及其他操作,采用FPGA逻辑实现采集控制器,可以达到最高的存储速率,已达到对中频信号的实时完整采集;波形采集单元的原理如下:启动波形采集后,中频输入信号(IF_in)被A/D转换器转换为10-bit数字信号,将25个10-bit采样点共250位合成一组,另外补上6-bit无效位,拼接为256位位宽的数据,即
10(bit)×25(sample)+6(bit)=256(bit) (1)
此256位拼接数据进入名为“ADFIFO”的高速缓冲,采集控制器监控ADFIFO的状态,当缓冲区数据达到指定门限时,接管共享的DDR2 SDRAM存储器,开始将缓冲区内的数据写入DDR2 SDRAM中。采集控制器的数据位宽是256位,地址宽度为26位,2GB的存储量对应的地址为
Figure BDA0002405516970000181
即26位地址范围为(0x0000000~0x3FFFFFF),每一位地址可存储25个采样点,那么按照250MSPS的采样率换算,最长的采集时间为
Figure BDA0002405516970000182
如果降低采样速率为125MSPS则最长可以采集13.4217728秒;波形采集的启动、采集深度、采样率可由主控单元通过总线桥接单元读写波形采集单元相关寄存器实现控制;波形回放通道单元由波形回放控制单元控制,如图32所示,所述波形回放控制单元包括把缓存波形数据和叠加干扰信号数据合为一路,形成时间间隔均匀数据的合路器,及接收合路器输出数据,并将数据转换为模拟电流(或电压)幅度离散信号表示形式的DAC,及将DAC以近似矩形的脉冲为内插函数,转换离散信号为连续的模拟信号,且由AD9743芯片构成的ADC模块并通过模拟信号滤波器滤除输出信号谐波噪声的信号调理模块;及与主控单元通信,用于数字频率测量的数字频率计单元,频率测量通过射频模块提供的频率计整形信号和标准时钟信号,此处采用等精度频率测量算法;等精度频率测量有两个计数器,一个对标准频率时钟计数,另一个对被测频率时钟计数,计数器的enable输入端是使能输入,用于控制计数器是否工作(高电平工作);测量开始之前首先由外部控制器发出频率测量使能信号(enable为高电平),而内部的门控信号ena要到被测脉冲的上升沿才会置为高电平,同时两个计数器开始计数;当enable持续一段时间之后,由外部控制器置为低电平,而此时ena信号仍将保持下一个被测脉冲的上升沿到来时才为0,此时计数器停止工作;此时,计数器的工作时间总是等于被测信号的完整周期,其为等精度频率测量,如图33所示,在一次测量中,被测信号的计数值为Nt,对基准时钟的计数值为Nr,设基准时钟的频率为Fr,则被测信号的频率为Ft=Fr×Nt÷Nr;在模块内部有一个计时器,每隔2秒钟测量一次频率并将两个计数值更新一次,图中为等精度频率测量得到的SignalTap II实时信号波形,其中第四行test_cnt输出端输出的是被测信号的计数值,第五行ref_cnt输出端输出的是基准时钟的计数值。
主控单元读取两个计数值换算得到被测信号的频率;及与主控单元通信,用于FM、AM解调和调制参数测量,包括调制频偏、调幅度的模拟解调单元,模拟解调采用I/Q正交解调方式实现;及与主控单元通信,用于发信机跳频参数测量,包括跳频速率和跳频带宽的发信机跳频测量单元;所述发信机跳频测量单元采用功率检测、同步提取和高速测频完成射频信号中跳频速率、跳频带宽和跳频频率集的分析提取;将被测电台置于跳频发射状态,由功率检测提取换频功率阻塞信号,触发高速测频电路,进行实时频率测量和存储;送到频率计直接测出跳频速率;统计一段时间内频率最高值和最低值,得出跳频带宽;跳频频率集需要长时间统计分析;功率检测采用具有温度补偿的内部肖特基二极管RF检波器,其输入功率范围为-34dBm至14dBm,输入频率范围为100kHz至1000MHz,通过功率检波,将电台跳频信号的包络取出用于在FPGA中实现跳频频率的测试;跳频速率和跳频带宽的测试通过FPGA完成,将检波后的波形进行测频,可以获得跳频速率的测试结果;将检波波形整形放大后用于跳频频率的同步信号,进行高速测频,可以获得一段时间内的所有跳频频率,统计分析得出跳频带宽;及与主控单元通信,用于将主板模块上的基带误码测试单元一同实现基带误码测试,完成同步提取和GMSK调制的中频基带误码测试单元;及设置于波形回放通道单元其D/A输出信号输入端,用于FM信号产生、AM信号产生和定频信号产生的模拟调制产生单元,由FPGA内的NCO实现。
其中,所述衰减器模块其接口包括N型射频插座的N型接口;其安装在主机前面板外部,通过射频电缆与电台天线口连接;及SMA型射频插座的SMA接口,其通过半钢性屏蔽电缆在主机内部与射频模块RF接口连接。所述所述衰减器模块其频率范围:1.5MHz~100MHz;N端电平范围:-120dBm~+47dBm;SMA端电平范围:-100dBm~+27dBm。所述射频模块其接口包括采用RS485串行信号作为电源和控制信号的主控射频接口;及采用SMA插座,通过半钢性屏蔽电缆与衰减器模块的SMA接口连接的双工口:及采用SMA插座,通过半钢性屏蔽电缆与主机后面板上RFi的SMA插座连接的校准输入接口;及采用SMA插座,通过半钢性屏蔽电缆与主机后面板上RFo的SMA插座连接的校准输出接口;及从数字中频模块输入IF信号的IF输出接口;及输出到数字中频模块的IF信号的IF输入接口;及将标准时钟输出到数字中频模块的标准时钟源接口为其提供标准时钟标准时钟接口;及将中频信号整形为方波脉冲输出的频率计接口;及对射频控制MCU编程的JTAG-RF接口;所述射频模块其技术指标如下:
1)射频产生频率:1.5MHz~100MHz,误差≤±2×10-7(0.2ppm);2)射频输出电平:双工端口-120dBm~-50dBm,校准端口-60dBm~0dBm,误差≤±1.5dB(23℃±10℃,±0.01dB/℃温度补偿);3)单边带相位噪声:≤-90dBc/Hz(100MHz偏移20kHz);4)射频频率测量:1.5MHz~100MHz,误差≤±2×10-7标称值±4Hz;5)射频功率测量:双工输入0.05W~50W(17dBm~47dBm),误差≤±0.8dB(射频电压测量精度±10%);6)增益线性最大误差:±1dB;7)频率响应最大误差:±1dB(宽带模式下);8)射频输入/输出阻抗:50Ω;9)供电电压:6V±5%。,所述干扰模块其接口包括采用SMA插座,用于将干扰信号输出进入射频模块单元的干扰信号输出接口;及采用PTK4插座,用于提供5V/2A工作电源的5V供电接口,及用于对干扰模块其单片机进行编程和下载的JTAG-MCU接口;及用于主控单元对干扰模块参数的设置及信号输出控制的RS485通信控制接口,其技术指标如下:1)频率范围:1.5MHz~100MHz;2)频率分辨率:1Hz;3)内部时基:1×10-6;4)干扰输出电平范围(峰值功率):-100dBm~0dBm;5)干扰源输出电平误差:±1.5dB。所述中频模块其接口包括与主控单元连接的SPI、ISA总线,以及与BERT单元相连的RCLK、RDATA、TCLK、TDATA信号的主控中频接口;及采用SMA插座,用于从射频模块输入的IF信号的IF输入接口;及采用SMA插座,用于输出到射频模块的IF信号的IF输出接口;及采用2个SSMB插座,从射频模块输入到中频模块的标准时钟源接口,为其提供标准时钟(由射频模块上温补晶振产生)的标准时钟接口;及采用SMA插座,由射频模块输入的中频整形脉冲的接口的频率计接口:及采用SMA插座,示波器信号从此进入IFOSC单元的示波器接口;及采用PTK4插座,提供5V/2A工作电源的5V供电接口;及对FPGA编程和下载的JTAG-FPGA接口;中频模块其技术指标如下:1)IF输入频率范围:1.5MHz~100MHz;2)IF输出频率范围:1.5MHz~100MHz;3)IF输入电平范围:0dBm~6dBm;4)IF输出电平范围:-7dBm~-1dBm;5)A/D转换器采样率:最大250MSPS(10-bit);6)D/A转换器采样率:最大250MSPS(10-bit);7)存储器容量:大于2GB;8)供电电压:+5V±5%;9)控制信号:LVTTL3.3V电平;中频模块其调制信号产生和测量如下:10)FM信号产生:调制频率范围150Hz~10kHz,频偏范围500Hz~30kHz,频偏误差≤±5%标称值±200Hz;11)AM信号产生:调制频率范围150Hz~10kHz,调幅度范围0~99%,调幅度误差≤±5%标称值±1%;12)FM测量:频偏范围500Hz~30kHz,误差≤±5%标称值±200Hz;13)AM测量:调幅度范围0~100%(调制频率1kHz),误差≤±5%标称值±1%;14)IF输入/输出阻抗:50Ω;中频模块其发射机跳频测试指标如下:15)跳频速率测量:范围0~5000hop/s(验收测试为203hop/s),误差≤2%标称值±1hop/s;16)跳频带宽测量:>57MHz(验收测试为30.025MHz~87.975MHz全频段跳频),误差≤±100kHz。所述主控模块其接口包括与接口单元(INTF)连接,将XPA7接口和XPAD14接口汇合成一个接口进入主板模块的圆形快连接器转接口;及采用SMB插座,用于从前面板模块输入的音频输入接口;及采用SMB插座,从前面板模块输出的音频出接口;及对辅控MCU编程用的JTAG-MCU编程接口;及采用RS485串行信号作为电源和控制信号的主控射频接口;及包括与ARM模块连接的SPI、ISA总线,以及与BERT单元相连的RCLK、RDATA、TCLK、TDATA信号的主控中频接口;及采用PTK4插座和USB信号,连接键盘单元的KB接口;及采用柔性扁平线连至显示模块,采用FPC0.5-40底接触插座显示接口;及采用RJ45插座,电路板上连接至MC接口的LAN接口;及采用迷你USB插座,电路板上连接至MC接口的USB_OTG接口;及采用USB HUB输出的第一路USB接口的USB1接口;及采用USB HUB输出的第二路USB接口的USB2接口;及将电路板上连接至RS485总线再转换为RS232,用于主机和外部通信的RS232接口;及采用Φ2.1插座,1脚为+12,2脚为GND的电源接口;及采用PTK4-2.54插座,连接于电源接口和主控模块之间的电源开关接口;及对DSP编程用的JTAG-DSP接口;所述主控模块其音频信号产生技术指标如下:1)音频产生频率:50Hz~10kHz单音或双音,误差≤±1Hz;2)音频产生电平:1mV~1V,误差≤±5%标称值±1mV;3)音频输出接口:音频I、音频II、音频出BNC;4)音频输出阻抗:0Ω;所述主控模块其音频信号分析技术指标如下:5)音频分析频率:50Hz~10kHz,误差≤±1Hz;6)音频电压测量:10mV~6V(音频I和音频II接口输入),1V~200V(音频入BNC接口输入),±5%标称值±1mV;7)音频信纳德测量:范围0dB~40dB,3dB~20dB准确度±0.5dB,20~40dB准确度±1dB,1kHz音频信号,3dB以下不考核;8)音频失真度测量:读数范围0~100%,误差≤±5%(失真度为1%~30%时);9)输入阻抗:音频I和音频II接口为600Ω,音频入BNC接口>1MΩ;10)音频信号检测:在10mV~1V之间设定门限(典型100mV),AFm输入信号超出门限电压时AF_detect为TTL高电平(AF_detect接口:由AA单元连接至主控单元);所述主控模块其基带误码率测试技术指标如下:11)基带误码率范围:5×10-2~1×10-6;12)基带数字速率:16kbit/s;13)基带接口电平:发送2Vpp,在2kΩ阻抗上,接收1Vpp,在1kΩ阻抗上,发送电平:误差<10%,接收电平:标称值±20%,不作为检验指标。所述前面板模块包括与前面板音频/数据接口相连的音频/数据接口;及将XPA7接口和XPAD14接口汇合成一个接口与主板模块相连的圆形快连接器转接口;及采用PTK4-2.54(Z)接口,用于与主控单元连接的键盘接口;及采用FPC0.5-40底接触插座,并采用柔性扁平电缆连至显示模块的显示接口;及采用PTK4-2.54(Z)接口,连接到电源单元可控制主机的开关的开关接口;所述前面板模块其技术指标如下:1)显示点阵:800×480;2)显示尺寸:7英寸宽屏,模块尺寸165mm×104mm,视屏尺寸152.4mm×91.44mm;3)显示模式:TFT正显/LED背光;4)供电与功耗:+5V,150mA;LED背光电流最大300mA(可调)。
如图3所示,所述主控单元包括主控制器和辅控制器;所述主控制器由ARM构成,其完成主机中各单元模块的控制、状态显示、参数设置、测试结果运算和显示;所述ARM其系统包括提供所有界面元素,并根据用户操作创建相应线程,在线程中调用测试应用层提供的接口函数的界面层;及完成测量算法和自动控制任务的测试应用层;及提供ARM外设的各种控制,为测试应用层提供标准操作接口的操作系统层和驱动层;其包括网卡驱动、键盘驱动、显示屏驱动、GPIO驱动、UART驱动、SPI驱动和ISA驱动;所述辅控制器其系统为完成低频通道单元和基带误码测试IC的控制;辅控制器接收主控制器的控制命令和查询命令,并回复响应;辅控制器采用ATMEL公司的增强型内置Flash的精简指令集CPU高速8位单片机ATmega128;开发环境为ICC AVR编译环境和ATMEL AVR Studio集成开发环境(IDE);所述ARM微处理器使用嵌入式Windows CE 6.0(WinCE)操作系统,在该操作系统上建立包括UI和测试应用系统;各个处理器的运行是异步的,主控ARM对其他处理器采用串行通信协议进行控制;即所述主控制器通过RS485总线分别与辅控制器、射频模块其MCU和干扰模块其MCU通信;所述主控制器还通信连接有用于音频信号产生和音频信号分析的DSP处理器,且主控制器内置有由音频分析算法和驱动组成DSP控制模块;DSP处理器其包括音频产生单元的控制,产生指定频率和幅度的音频信号;音频分析单元中音频输入信号的频率、电平、SINAD分析;DSP处理器接收主控制器的控制命令和查询命令,并回复响应;接收的控制命令和查询命令包括发送给音频单元的命令,执行相应的命令时,将保存的音频分析结果回复给主控制器;DSP处理器采用了TI公司浮点DSP TMS320F28335;该款DSP采用LQFP封装处理速度为150MIPS,内置256K独立flash;及内置有由射频MCU控制和驱动组成的射频控制模块;射频控制模块包括完成射频信号频率、电平的控制;实现对一本振、二本振、射频输出增益的控制功能;射频模块其MCU接收主控制器的控制命令和查询命令,并回复响应;接收的控制命令和查询命令包括发送给射频产生控制单元的命令,其采用ATMEL公司的增强型内置Flash的精简指令集CPU高速8位单片机ATmega128;所述主控制器通信连接有FPGA;所述FPGA内置有包含中频模块其内部的各个测试单元的数字逻辑实现的FPGA模块;FPGA模块完成波形采集控制,模拟调制信号产生(FM/AM/定频),模拟调制信号解调和测量(FM/AM),数字频率计,发信机跳频测量(跳频速率、跳频带宽),中频示波器和中频基带误码测试;FPGA采用Altera公司的EP3SL50F780C4N;干扰模块其MCU完成跟踪干扰、阻塞干扰和瞄准干扰的信号产生;采用Altera公司的CPLD芯片EPM3064ATI44-10;MCU采用ATMEL公司的增强型内置Flash的精简指令集CPU高速8位单片机ATmega128。
如图4至图8所示,所述机体采用铝合金材料,重量轻、壳体坚固,同时具有防锈性能;所述机体其前面板从上到下,从左到右依次为:测试仪名称区、液晶显示区和键盘输入区;所述液晶显示区其显示屏采用7英寸的800╳480彩色TFT-LCD宽温显示模块;所述键盘输入区其键盘采用硅橡胶按键,所述键盘输入区包括功能区域、数字区域、控制区域和接口区,所述功能区域包括多个功能选择按键;所述数字区域包括10个数字键、小数点/负号键和退格键;所述控制区域包括三个单位键、四个方向键、一个确认键、三个功能键;所述接口区其包括用于测试仪的开关按键的电源按键,用于调节内置扬声器音量的音量调节键;用于计算机与测试仪连接的USB mini接口;用于连接USB从设备,如鼠标、键盘等USB接口;用于对外的网络通信的网口;用于外部干扰信号的输入端口的干扰入接口;采用14芯音频接口用于连接电台的音频口;通过射频电缆连接电台天线口的双工口;所述机体其后面板包含由YGD20B0802J型插座的电源接头;所述机体其顶部和右侧设计有拉手,便于搬运和携带;顶部拉手目的是方便在操作台上搬动,也利于从存放抽屉中取出;右侧的拉手用于拉手提行检测仪,所述机体底部设计有4个塑料材质的支撑脚,前2个支撑脚可以向下打开或收起,上有防滑橡胶,打开靠近前面板的两个支撑脚可将仪器以小仰角放置在平面上操作。
本发明的指控装备通信抗干扰性能测试仪,其抗干扰指标测试主要是按照各种信号要求的干信比对采集信号进行加权合成,合成后的信号作为激励源回放到被测电台对其进行测试激励;其测试功能如图9所示。
实施例2:
本发明用于指控装备中的无线通信装备,其具体如下:
如图10所示,前面板通过射频电缆和音频电缆连接被测电台,前面板的“干扰入”接口通过相应的射频电缆连接到“外部干扰环境模拟器”的输出接口,后面板的电源接口连接“电源适配器”接口,接着,测试仪通过电源适配器连接电源后,通过测试仪主机的左下角“电源开关”进行开关及操作;接着进行参数设置,根据不同的干扰内容,进行不同的干扰参数配置,如图11至图17所示,碰撞干扰的设置参数包括:中心频率、峰值功率、干扰带宽、频带带宽、驻留时间和频率步进;阻塞干扰的设置参数包括:中心频率、峰值功率、干扰带宽;瞄准干扰的设置参数包括:中心频率、峰值功率、干扰带宽;梳状干扰的设置参数包括:中心频率1、峰值功率1、干扰带宽1、中心频率2、峰值功率2、干扰带宽2。
实施例3:
本发明用于训练干扰,其具体如下:被测电台的音频电缆和天线口分别连接测试仪主机的音频接口和射频接口,参数配置如下:常规测试只需要选择相应的测试模式,包括“定频”、“跳频”、“误码”,点击界面右侧的“常规测试”按键即可;常规测试主要是衡量电台在无干扰的环境下的技术性能,分为“定频测试”、“跳频测试”和“误码测试”;
常规测试的测试步骤:
如图18和19所示,1)先连接好电台和测试仪;2)选择界面的“音频/电台设置”按键,此时通过键盘的方向键和确认键可以设置音频的输出电压和频率,同时还可以设置当前的测试状态是“定频测试”、“跳频测试”还是“误码测试”;3)音频频率和电压设置完成后,点击“常规测试-开始”按键,此时“状态栏”会正常提示电台的测试进程,并显示测试结果。
2)抗干扰测试,测试仪主机在进行抗干扰测试的时候可以选择干扰模式的任意一种,测试仪还具有外部干扰的输入功能,连接“复杂电磁环境干扰信号产生仪”作为外部干扰的输入,其参数配置如图20-22所示,通指装备抗干扰性能测试的工作模式主要分三个:定频抗干扰测试、跳频抗干扰测试、误码抗干扰测试;定频测试的主要内容包括:载波频率、平均功率、调制频偏、灵敏度、信纳德、音频电压;跳频测试的主要内容包括:跳频速率、起始频率、终止频率、换频时间、平均功率、灵敏度、信纳德、音频电压;误码测试包括发残余和收残余,其主要测试内容包括:发比特数、误比特数、误比特率、测试时间;抗干扰测试需要首先完成常规测试的前提下才能进行,具体测试步骤如下:
1)按照图18和19所示,连接测试仪和电台;2)选中“电台设置”的测试项目,完成常规测试;3)选中“干扰参数设置”按键,进行干扰模式和干扰参数的设置;4)选中“抗干扰测试-开始”按键,此时“干扰输出-关”处于关的状态,在测试结果(定频结果:信纳德和音频电压;跳频结果:信纳德和音频电压;收残余结果:误比特数、总比特殊和误码率;发残余没有抗干扰测试模式)出来以后,选中“干扰输出-开”,让干扰信号处于开的状态,此时抗干扰测量处于循环测试中,实时修改干扰参数,可以观察到测试结果的实时变化,从而反映电台的抗干扰能力;5)在不进行抗干扰测试的情况下,可以直接输出干扰信号,只需要选中“干扰输出-开”即可。
如图23所示,选项设置,其包括对时间日期、IP地址、电源监控参数等进行设置和监控。
实施例4:
如图24所示,本发明用于电台收发信测试,其完成如下指标的测试:
1)载波功率:功率测量采用真有效值检波方式,提取载波功率;
2)频率误差:频率测量在FPGA内实现,采用等精度频率测量方法来实现;
3)跳频速率:采用高速测频的方法得到一段时间跳频频率集,即可实现跳频速率的估计;
4)跳频带宽:采用高速测频的方法得到一段时间跳频频率集,挑选出最大和最小频率,二者相减便可估计出跳频带宽。
所述主机其对电台收发信测试包括发信机测试和收信机测试,其对电台发信机的各项指标进行测试时包括模拟发信机测试和数字发信机测试,其具体如下:
模拟发信机:由主机产生指定频率和电压的单音或双音信号,置PTT信号控制电台处于发射状态,音频信号在电台中进行调制后从电台射频口(天线口)输出,测试仪从射频接口接收该信号,经过数控衰减器进行功率调整,变换为中频信号后滤波,再经模数转换送入数字信号处理,完成各种测量,全部测试过程由主控模块自动控制,最后通过人机交互界面显示测量结果。
数字发信机:由主机产生数字信号送入电台数据口,控制电台对该信号进行调制后从电台射频口(天线口)输出,测试仪通过射频口接收该调制信号,经过数控衰减器进行功率调整,变换为中频信号后滤波,经模数转换,再送入数字信号处理器完成测量,全部测试过程由主控模块自动控制,最后通过人机交互界面显示测量结果。
其对电台发信机的各项指标进行测试时包括模拟接收机机测试和数字接收机机测试,其具体如下:
如图25所示,模拟接收机测试:电台工作在模拟话音通信模式,一般的测试信号流程如下:首先,由主机产生指定频率和电压的单音正弦信号,控制电台对该信号进行调制后从电台射频口以定频或跳频通信波形输出,主机通过射频接口接收该射频信号,经过数控衰减器进行功率调整,变频、滤波后进行模数转换,再送入数字信号处理器件进行功率分析,采样得到的数据流存储到大容量存储器中;存储一段时间的通信波形之后,测试仪取出存储的通信波形,输出至DA转换器,再进过滤波、变频,根据功率分析结果和要求的灵敏度指标进行功率控制(程控衰减)后,作为激励信号通过射频口回放给接收机;接收机把射频信号解调为音频信号输出至测试仪,进行音频指标的评价。
如图26所示,数字接收机测试:电台工作在数据通信模式,一般的测试信号流程如下:首先,由主机产生设定的数字信号,控制电台对该信号进行调制后从电台射频口输出,测试仪通过射频接口接收该射频信号,经过数控衰减器进行功率调整,变频、滤波后进行模数转换,再送入数字信号处理器件,采样得到的数据流存储到大容量存储器中;存储一段时间的通信波形之后,测试仪取出存储的通信波形,输出至DA转换器,再进过滤波、变频、电平控制后,作为激励信号通过射频口回放给接收机;接收机把射频信号解调为数字信号输出至主机;对发送和接收的数字信号进行误码率分析。
模拟接收机和数字接收机主要完成如下指标的测试:
如图27所示,模拟灵敏度:模拟灵敏度测试时,电台工作在模拟话音通信模式,可以是定频或跳频通信方式,首先,由测试仪产生标准音频信号,同时置电台PTT,之后测试仪采集该射频信号,采集得到的数据流存储到大容量存储器中,等存储一段时间的通信波形之后,测试仪取出存储的通信波形,作为激励信号通过射频口回放给接收机;接收机把射频信号解调为音频信号输出至主机,进行音频指标的测试(主要指音频信纳德),如果达标则降低回放的射频信号功率,循环进行功率控制直到不达标,停止降低功率,记录此时功率值,即为模拟灵敏度。
如图28所示,数字灵敏度:数字灵敏度测试时,电台工作在数据通信模式,调制方式不限,可以是定频或跳频通信方式。首先,由主机产生标准数据(测试数据)发送给电台发信机,同时控制电台产生射频信号,测试仪采集该射频信号,采集得到的数据流存储到大容量存储器中,等存储一段时间的通信波形之后,测试仪取出存储的通信波形,作为激励信号通过射频口回放给接收机;接收机把射频信号解调为数据输出至主机,进行误码率分析,如果达标则降低回放的射频信号功率,循环进行功率控制直到不达标,停止降低功率,记录此时功率值,即为数字灵敏度。
音频指标:音频指标测试主要配合模拟灵敏度测试,测试仪接收电台解调的音频信号,通过滤波和模数转换后送入数字信号处理器件实现各种音频测量算法,最后显示测量结果。
上述实施例,仅是本发明的较佳实施方式,故凡依本发明专利申请范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰,均包括于本发明专利申请范围内。

Claims (10)

1.一种指控装备通信抗干扰性能测试仪,其特征在于:包括用于电台的测试的主机;及给主机供电,将交流220V电源转换为12V直流电源的电源适配器;及用于连接主机与电台天线口之间的射频测试电缆;及用于连接主机与电台音频口之间的音频连接电缆;及用于主机连接外部干扰输入的干扰入连接电缆;所述主机包括机体,及设置于机体内侧的控制板,所述控制板包括主控模块;及与主控模块通信的前面板模块,及通过RS485接口通信,用于多种干扰信号输出的干扰模块,及通过主控中频接口通信的中频模块,及通过RS485接口和主控中频接口通信的射频模块;所述射频模块通信连接有包含衰减器单元,提供20dB/50W衰减量的衰减器模块,所述射频模块上设置有校准信号输入接口和校准信号输出接口;所述衰减器模块设置有双工口;所述主控模块还设置有电源接口、LAN接口、USB接口、RS232接口、音频输入接口和音频输出接口。
2.根据权利要求1所述的指控装备通信抗干扰性能测试仪,其特征在于:所述主控模块包括完成数据传输、计算、人机交互、系统控制的主控单元;及与主控单元通信,选择确定进入AA单元的音频源,及选择进入示波器的信号源,及用于音频/基带通信方式切换控制,及与音频输入接口和音频输出接口通信的低频通道单元;及与低频通道单元通信,用于音频信号产生,产生可控频率和电平的单音或双音音频信号,为电台音频口提供输入的音频产生单元;及与低频通道单元和主控单元通信,用于音频频率、电平、SINAD测试的音频分析单元;及与低频通道单元和主控单元通信,用于误码比较测试的基带误码测试单元;及与电源适配器其输出电源接口电连接,用于电源稳压和开机按键检测的电源模块;
所述前面板模块包括与主控单元电连接,由键盘电路和橡胶按键组成,完成键盘矩阵的扫描读取的键盘单元;及与主控单元电连接,由LCD显示屏和显示信号转接电路板组成,完成参数输入和显示的显示单元;及与与主控模块电连接,包括前面板上除N型双工口外的各个接口、电源开关和圆形快连接器转接电路板的接口单元;
所述射频模块包括用于完成输入接口的阻抗匹配、端口保护,完成输入信号的功率控制、变频和滤波,为A/D采样提供输入的波形采集通道单元:及用于D/A输出信号的滤波、变频和功率控制,将回放波形搬移到射频,完成输出接口的阻抗匹配、端口保护和末级信号驱动,且由波形回放控制单元控制的波形回放通道单元;及一输入接口与波形回放通道单元通信,用于干扰信号和调制信号的合成,实现干扰信号合成输出的波形合成单元;及与波形合成单元一输入接口通信,接收主控模块的参数设置后,实现干扰信号的输出的干扰单元;及与波形合成单元一输入接口通信,接收外部干扰信号的外部干扰接口;及与波形合成单元输出通信的选择开关;所述选择开关另一输入端通信连接的衰减器模块;所述选择开关输出端接入波形采集通道单元输入端;及与波形回放通道单元通信,用于变频所需的两路本振的射频本振单元;及与主控单元和波形回放通道单元通信,用于与外部控制器的通信连接,即接收来自主控模块的命令和对射频模块控制的射频控制电路单元;及给射频模块各路供电的射频供电电路单元;及与射频控制电路单元通信,用于超短波电台的灵敏度测试的射频信号产生模块;
所述中频模块包括连接波形采集通道单元其A/D采样输出端,及波形回放通道单元其D/A输出信号输入端,用于IF模拟信号模数转换、数据拼接、高速缓冲和采集控制的波形采集控制单元;及与主控单元通信,用于数字频率测量的数字频率计单元;及与主控单元通信,用于FM、AM解调和调制参数测量,包括调制频偏、调幅度的模拟解调单元;及与主控单元通信,用于发信机跳频参数测量,包括跳频速率和跳频带宽的发信机跳频测量单元;及与主控单元通信,用于将主板模块上的基带误码测试单元一同实现基带误码测试,完成同步提取和GMSK调制的中频基带误码测试单元;及设置于波形回放通道单元其D/A输出信号输入端,用于FM信号产生、AM信号产生和定频信号产生的模拟调制产生单元。
3.根据权利要求1所述的指控装备通信抗干扰性能测试仪,其特征在于:所述衰减器模块其接口包括N型射频插座的N型接口;其安装在主机前面板外部,通过射频电缆与电台天线口连接;及SMA型射频插座的SMA接口,其通过半钢性屏蔽电缆在主机内部与射频模块RF接口连接。
4.根据权利要求1所述的指控装备通信抗干扰性能测试仪,其特征在于:所述射频模块其接口包括采用RS485串行信号作为电源和控制信号的主控射频接口;及采用SMA插座,通过半钢性屏蔽电缆与衰减器模块的SMA接口连接的双工口:及采用SMA插座,通过半钢性屏蔽电缆与主机后面板上RFi的SMA插座连接的校准输入接口;及采用 SMA插座,通过半钢性屏蔽电缆与主机后面板上RFo的SMA插座连接的校准输出接口;及从数字中频模块输入IF信号的IF输出接口;及输出到数字中频模块的IF信号的IF输入接口;及将标准时钟输出到数字中频模块的标准时钟源接口为其提供标准时钟标准时钟接口;及将中频信号整形为方波脉冲输出的频率计接口;及对射频控制MCU编程的JTAG-RF接口。
5.根据权利要求1所述的指控装备通信抗干扰性能测试仪,其特征在于:所述干扰模块其接口包括采用SMA插座,用于将干扰信号输出进入射频模块单元的干扰信号输出接口;及采用PTK4插座,用于提供5V/2A工作电源的5V供电接口,及用于对干扰模块其单片机进行编程和下载的JTAG-MCU接口;及用于主控单元对干扰模块参数的设置及信号输出控制的RS485通信控制接口。
6.根据权利要求1所述的指控装备通信抗干扰性能测试仪,其特征在于:所述中频模块其接口包括与主控单元连接的SPI、ISA总线,以及与BERT单元相连的RCLK、RDATA、TCLK、TDATA信号的主控中频接口;及采用SMA插座,用于从射频模块输入的IF信号的IF输入接口;及采用SMA插座,用于输出到射频模块的IF信号的IF输出接口;及采用2个SSMB插座,从射频模块输入到中频模块的标准时钟源接口,为其提供标准时钟(由射频模块上温补晶振产生)的标准时钟接口;及采用SMA插座,由射频模块输入的中频整形脉冲的接口的频率计接口:及采用 SMA插座,示波器信号从此进入IFOSC单元的示波器接口;
及采用PTK4插座,提供5V/2A工作电源的5V供电接口;及对FPGA编程和下载的JTAG-FPGA接口。
7.根据权利要求1所述的指控装备通信抗干扰性能测试仪,其特征在于:所述主控模块其接口包括与接口单元(INTF)连接,将XPA7接口和XPAD14接口汇合成一个接口进入主板模块的圆形快连接器转接口;及采用SMB插座,用于从前面板模块输入的音频输入接口;及采用SMB插座,从前面板模块输出的音频出接口;及对辅控MCU编程用的JTAG-MCU编程接口;及采用RS485串行信号作为电源和控制信号的主控射频接口;及包括与ARM模块连接的SPI、ISA总线,以及与BERT单元相连的RCLK、RDATA、TCLK、TDATA信号的主控中频接口;及采用PTK4插座和USB信号,连接键盘单元的KB接口;及采用柔性扁平线连至显示模块,采用FPC0.5-40底接触插座显示接口;及采用RJ45插座,电路板上连接至MC接口的LAN接口;及采用迷你USB插座,电路板上连接至MC接口的USB_OTG接口;及采用USB HUB输出的第一路USB接口的USB1接口;及采用USB HUB输出的第二路USB接口的USB2接口;及将电路板上连接至RS485总线再转换为RS232,用于主机和外部通信的RS232接口;及采用Φ2.1插座,1脚为+12,2脚为GND的电源接口;及采用PTK4-2.54插座,连接于电源接口和主控模块之间的电源开关接口;及对DSP编程用的JTAG-DSP接口。
8.根据权利要求1所述的指控装备通信抗干扰性能测试仪,其特征在于:所述前面板模块包括与前面板音频/数据接口相连的音频/数据接口;及将XPA7接口和XPAD14接口汇合成一个接口与主板模块相连的圆形快连接器转接口;
及采用PTK4-2.54(Z)接口,用于与主控单元连接的键盘接口;及采用FPC0.5-40底接触插座,并采用柔性扁平电缆连至显示模块的显示接口;及采用PTK4-2.54(Z)接口,连接到电源单元可控制主机的开关的开关接口。
9.根据权利要求1所述的指控装备通信抗干扰性能测试仪,其特征在于:所述主控单元包括主控制器和辅控制器;所述主控制器由ARM构成,所述ARM其系统包括提供所有界面元素,并根据用户操作创建相应线程,在线程中调用测试应用层提供的接口函数的界面层;及完成测量算法和自动控制任务的测试应用层;及提供ARM外设的各种控制,为测试应用层提供标准操作接口的操作系统层和驱动层;其包括网卡驱动、键盘驱动、显示屏驱动、GPIO驱动、UART驱动、SPI驱动和ISA驱动;所述辅控制器其系统为完成低频通道单元和误码测试IC的控制;所述ARM微处理器使用嵌入式Windows CE 6.0(WinCE)操作系统,在该操作系统上建立包括UI和测试应用系统;所述主控制器通过RS485总线分别与辅控制器、射频模块其MCU和干扰模块其MCU通信;所述主控制器还通信连接有用于音频信号产生和音频信号分析的DSP处理器,且主控制器内置有由音频分析算法和驱动组成DSP控制模块;所述主控制器通信连接有FPGA;所述FPGA内置有包含中频模块其内部的各个测试单元的数字逻辑实现的FPGA模块。
10.根据权利要求1所述的指控装备通信抗干扰性能测试仪,其特征在于:所述机体由铝合金材料制成,所述机体其前面板从上到下,从左到右依次为:测试仪名称区、液晶显示区和键盘输入区;所述液晶显示区其显示屏采用7英寸的800╳480彩色TFT-LCD宽温显示模块;所述键盘输入区其键盘采用硅橡胶按键,所述键盘输入区包括功能区域、数字区域、控制区域和接口区,所述机体其后面板包含由YGD20B0802J型插座的电源接头;所述机体其顶部和右侧设计有拉手,所述机体底部设计有4个塑料材质的支撑脚,前2个支撑脚为收缩结构。
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