CN111397560B - 获取方槽理论值的方法、装置、计算机设备及存储介质 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了获取方槽理论值的方法、装置、计算机设备及存储介质，方法包括：选择模型方槽内的原始面A并获取法向量Va和中心点Pa；中心点Pa沿法向量Va方向射出并构成射线lin，求出射线lin与被测工件模型的第一个交点Pc；将原始面A作为起始面并执行创建相邻面的集合的流程，得到面的集合PlaneAs；将集合PlaneAs中的每一个平面作为起始面执行上述流程，获取所有面的集合PlaneBs，并从中找到点Pc所在的平面C，获取平面C的集合PlaneCs并且将其与集合PlaneAs相交，在交集中获取平面B和平面D并计算出点Pb和点Pd。该方法获取方槽特征的理论值并形成实际的测量路线，将方槽特征的理论值与测量机的测量结果进行对比并判定测量结果是否有误差。

Description

获取方槽理论值的方法、装置、计算机设备及存储介质
技术领域
本发明涉及测量方法技术领域，尤其涉及一种测量过程中获取方槽理论值的方法、装置、计算机设备及存储介质。
背景技术
在工件生产或日常的检具标定过程中，通常使用测量机对待测工件进行测量，而工件上常见有方槽等形状，例如方槽的长度、宽度和高度这些特征的测量中，现有技术需要手动进行规划测量路径，无法实现自动规划路径。
发明内容
本发明的目的是提供一种测量过程中获取方槽理论值的方法、装置、计算机设备及存储介质，旨在解决现有技术需要手动进行规划测量路径，无法实现自动规划路径的问题。
第一方面，本发明实施例提供一种测量过程中获取方槽理论值的方法，其包括：
选择被测工件模型中方槽内任意一面作为原始面A，获取原始面A的法向量Va和中心点Pa；
以所述中心点Pa为起点，沿所述法向量Va方向射出并构成射线lin，求出射线lin在所述法向量Va方向上与被测工件模型的第一个交点，并将交点设置为点Pc；
将原始面A作为起始面并执行创建相邻面的集合的流程，得到面的集合PlaneAs；
其中，所述创建相邻面的集合的流程包括：获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合；获取与起始面相邻并共享有同一条边的所有平面，并将所有的平面加入面的集合PlaneAs；
将所述集合PlaneAs中的每一个平面作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取多个面的集合TPS，将所有集合TPS放入面的集合PlaneBs中，并去除重复项；
在集合PlaneBs中找到点Pc的所在的面并将此面设置为平面C，以平面C作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取面的集合PlaneCs；
获取所述集合PlaneAs和所述集合PlaneCs的交集PlaneBDs；
在所述交集PlaneBDs中，获取每个平面的法向量，将法向量反向的一组平面提取出来，作为平面B和平面D；
求取点Pa和Pc中点Mp，分别将Mp向平面B和平面D投影得到点Pb和Pd；
计算中心点Pa到点Pc的距离D1，以及获取点Pb到所述平面D的距离D2，并将所述距离D1设为方槽的长度，以及所述距离D2设为方槽的宽度。
第二方面，本发明实施例提供了一种测量过程中获取方槽理论值的装置，其包括：
获取单元，用于选择被测工件模型中方槽内任意一面作为原始面A，获取原始面A的法向量Va和中心点Pa；
射线构成单元，用于以所述中心点Pa为起点，沿所述法向量Va方向射出并构成射线lin，求出射线lin在所述法向量Va方向上与被测工件模型的第一个交点，并将交点设置为点Pc；
集合PlaneAs获取单元，用于将原始面A作为起始面并执行创建相邻面的集合的流程，得到面的集合PlaneAs；其中，所述创建相邻面的集合的流程包括：获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合；获取与起始面相邻并共享有同一条边的所有平面，并将所有的平面加入面的集合；
集合PlaneBs获取单元，用于将所述集合PlaneAs中的每一个平面作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取多个面的集合TPS，将所有集合TPS放入面的集合PlaneBs中，并去除重复项；
集合PlaneCs获取单元，用于在集合PlaneBs中找到点Pc的所在的面并将此面设置为平面C，以平面C作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取面的集合PlaneCs；
交集PlaneBDs获取单元，用于获取所述集合PlaneAs和所述集合PlaneCs的交集PlaneBDs；
平面创建单元，用于在所述交集PlaneBDs中，获取每个平面的法向量，将法向量反向的一组平面提取出来，作为平面B和平面D；
投影单元，用于求取点Pa和Pc中点Mp，分别将Mp向平面B和平面D投影得到点Pb和Pd；
距离获取单元，用于计算中心点Pa到点Pc的距离D1，以及获取点Pb到所述平面D的距离D2，并将所述距离D1设为方槽的长度，以及所述距离D2设为方槽的宽度。
第三方面，本发明实施例又提供了一种计算机设备，其包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述第一方面所述的测量过程中获取方槽理论值的方法。
第四方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其中所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序当被处理器执行时使所述处理器执行上述第一方面所述的测量过程中获取方槽理论值的方法。
本发明公开了一种测量过程中获取方槽理论值的方法，其中，方法包括：选择被测工件模型中方槽内任意一面作为原始面A，获取原始面A的法向量Va和中心点Pa；以所述中心点Pa为起点，沿所述法向量Va方向射出并构成射线lin，求出射线lin在所述法向量Va方向上与被测工件模型的第一个交点，并将交点设置为点Pc；将原始面A作为起始面并执行创建相邻面的集合的流程，得到面的集合PlaneAs；其中，所述创建相邻面的集合的流程包括：获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合；获取与起始面相邻并共享有同一条边的所有平面，并将所有的平面加入面的集合PlaneAs；将所述集合PlaneAs中的每一个平面作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取多个面的集合TPS，将所有集合TPS放入面的集合PlaneBs中，并去除重复项；在集合PlaneBs中找到点Pc的所在的面并将此面设置为平面C，以平面C作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取面的集合PlaneCs；获取所述集合PlaneAs和所述集合PlaneCs的交集PlaneBDs；在所述交集PlaneBDs中，获取每个平面的法向量，将法向量反向的一组平面提取出来，作为平面B和平面D；计算中心点Pa到点Pc的距离D1，以及获取点Pb到所述平面D的距离D2，并将所述距离D1设为方槽的长度，以及所述距离D2设为方槽的宽度。该方法通过对方槽的数据模型来进行坐标测量，获取方槽特征的理论值并形成实际的测量路线，将方槽特征的理论值与测量机的测量结果进行对比并判定测量结果是否有误差。本发明实施例可以获取工件模型上的理论位置，从而自动规划测量路径，实现快速测量。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的测量过程中获取方槽理论值的方法的流程示意图；
图2为本发明实施例提供的测量过程中获取方槽理论值的装置的示意性框图；
图3为本发明实施例提供的计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
还应当进一步理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
请参阅图1，图1为本发明实施例提供的测量过程中获取方槽理论值的方法的流程示意图；
如图1所示，该方法包括步骤S101～S109。
S101、选择被测工件模型中方槽内任意一面作为原始面A，获取原始面A的法向量Va和中心点Pa。
本实施例中，根据被测工件的模型数据，通过三维模型软件构建出所述被测工件的模型，通过测量所述被测工件模型来模拟测量所述被测工件，以所述被测工件模型中的方槽为测量目标，任意选取方槽中的一面作为原始面A，根据空间解析几何概念和几何中心知识点，获取所述原始面A的法向量Va和中心点Pa。
S102、以所述中心点Pa为起点，沿所述法向量Va方向射出并构成射线lin，求出射线lin在所述法向量Va方向上与被测工件模型的第一个交点，并将交点设置为点Pc。
所述法向量Va的方向与原始面A为垂直关系，沿法向量Va方向射出的射线lin同样垂直于原始面A，构建射线lin的目的是为了获取射线lin与被测工件模型的交点，射线lin射出时与被测工件模型的第一个交点必然为方槽内的另一平面上的点，并且该平面必然为原始面A的相对面，将第一个交点设置为点Pc，则可测量中心点Pa到点Pc的距离并作为方槽内被测特征的理论值。
S103、将原始面A作为起始面并执行创建相邻面的集合的流程，得到面的集合PlaneAs；其中，所述创建相邻面的集合的流程包括：获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合；获取与起始面相邻并共享有同一条边的所有平面，并将所有的平面加入面的集合。
具体的，创建相邻面的集合的流程为：
先获取原始面A最外环的所有直边的边的集合EdgesA。边的集合EdgesA的获取过程中，选取原始面A最外环的边，可以过滤掉起始面内部孔或者其他干扰线，再去除最外环的边中非直线段的边以及无法在容差Tol范围用最小二乘法拟合成直线段的边，将剩余的直边构成边的集合EdgesA；
再获取与原始面A相邻并共享有同一条边的所有平面，并将所有的平面加入面的集合PlaneAs。在面的集合PlaneAs中，必然包含方槽内与原始面A相邻的其他的平面，所以获取面的集合PlaneAs的目的也是为了获取被测工件模型上所有与原始面A相邻的平面，以便后续从中筛选出方槽内的其他平面。本发明实施例中，创建相邻面的集合的流程中，获取与起始面相邻并共享有同一条边的所有平面，其中的共享有同一条边是指共享有同一条属于边的集合中的边。例如，对原始面A执行创建相邻面的集合的流程中，共享有同一条边是指共享有同一条属于边的集合EdgesA中的边。
S104、将所述集合PlaneAs中的每一个平面作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取多个面的集合TPS，将所有集合TPS放入面的集合PlaneBs中，并去除重复项。
方槽内的平面为两两对应的四个平面，将任意一平面作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程后，可获取到与起始面相邻的其他两个平面，所以再继续以方槽内其他平面再作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，直至集合PlaneAs中的所有平面均执行该流程后，获取到多个面的集合TPS，再将所有集合TPS放入面的集合PlaneBs中，并去除重复项。
S105、在集合PlaneBs中找到点Pc的所在的面并将此面设置为平面C，以平面C作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取面的集合PlaneCs。
点Pc所在的平面为原始面A的相对面，则平面C与原始面A相对，以平面C作为起始面，获取面的集合PlaneCs的流程与上述获取面的集合PlaneAs的步骤相同。
具体的，得到面的集合PlaneCs的流程为：
先获取平面C最外环的所有直边的边的集合EdgesC。边的集合EdgesC的获取过程中，选取平面C最外环的边，可以过滤掉平面C内部孔或者其他干扰线，再去除最外环的边中非直线段的边以及无法在容差Tol范围用最小二乘法拟合成直线段的边，将剩余的直边构成边的集合EdgesC；
再获取与平面C相邻并共享有同一条边的所有平面，并将所有的平面加入面的集合PlaneCs。在面的集合PlaneCs中，必然包含方槽内与平面C相邻的其他的平面，所以获取面的集合PlaneCs的目的也是为了获取被测工件模型上所有与平面C相邻的平面，以便后续从中筛选出方槽内的其他平面。
S106、获取所述集合PlaneAs和所述集合PlaneCs的交集PlaneBDs。
所述交集PlaneAs中必然包含与原始面A相邻的两个方槽内的平面，面的集合PlaneCs中必然包含与平面C相邻的两个方槽内的平面，则交集PlaneBDs中的平面必然包含了方槽内的另外两个平面。
S107、在所述交集PlaneBDs中，获取每个平面的法向量，将法向量反向的一组平面提取出来，作为平面B和平面D。
在所述交集PlaneBDs中，法向量反向的一组平面必然为两两相对的平面，由此可获取到方槽内的另外两个平面，将这两个平面作为平面B和平面D，则可获取到了方槽内构成方形的四个平面。
S108、求取点Pa和Pc中点Mp，分别将Mp向平面B和平面D投影得到点Pb和Pd；
S109、计算中心点Pa到点Pc的距离D1，以及获取点Pb到所述平面D的距离D2，并将所述距离D1设为方槽的长度，以及将所述距离D2设为方槽的宽度。
点Pb沿着平面D的法向量方向可对应到平面D上的一个对应点，该对应点即点Pd。
通过坐标测量获取到中心点Pa和点Pc的坐标以及点Pb和点Pd的坐标，即可测出距离D1和距离D2的结果，并作为方槽的长度和宽度。
以所述点Pb为起点，沿所述平面B的法向量方向射出并构成射线，射线与平面D相交的点设置为点Pd，所述点Pb到点Pd的距离即为距离D2。当然，也可以选取平面D上的点Pd(如中心点)为起点，结果一样保持不变。
在一实施例中，所述选择被测工件模型中方槽内任意一面作为原始面A，获取原始面A的法向量Va和中心点Pa，包括，
获取所述原始面A的类型；
若原始面A为平面，则直接获取平面的法向量Va和中心点Pa；
若原始面A为样条曲面，则将原始面A按照等面积方法离散成点的集合Pas，在容差Tol范围内用最小二乘法拟合集合Pas成平面，并获取平面的法向量Va和中心点Pa。
本实施例中，在选取原始面A后需要获取原始面A的法向量Va和中心点Pa，而能够获取法向量Va和中心点Pa的面只能是平面，本实施例中选取的原始面A的类型若为平面，则可直接获取，若不是，则无法满足测量条件，无法获取理论值。
当原始面A不是平面时，可进一步判断原始面A是否为样条曲面，若为样条曲面，则按照等面积方法离散成点的集合Pas，在容差Tol范围内用最小二乘法拟合集合Pas成平面，若成功将样条曲面拟合成平面，则可获取法向量Va和中心点Pa，若样条曲面拟合失败，则无法获取。
在一实施例中，所述以所述中心点Pa为起点，沿所述法向量Va方向构成射线lin，包括：
先将中心点Pa沿法向量Va方向平移并获得点Pa1，再由所述点Pa1沿所述法向量Va方向构成射线lin。
本实施例中，所述中心点Pa为原始面A上的点，通过平移所述中心点Pa后获取到所述点Pa1，所述点Pa1则不处在平面上，可减少射线lin与被测工件的交点，提高运算速度。
在一实施例中，在所述交集PlaneBDs中，获取每个平面的法向量，将法向量反向的一组平面提取出来，作为平面B和平面D，包括，
获取法向量反向的平面的组数；
若所述组数大于1或者小于1，则流程结束；
若所述组数等于1，则将法向量反向的一组平面提取出来，作为平面B和平面D。
本实施例中，所述交集PlaneBDs内包含了方槽内除了原始面A和平面C的另外两个平面，也就是平面B和平面D，作为方槽内的两两相对的平面，平面B和平面D必然是平行的，则平面B和平面D的法向量必然平行并且相对的。
所以在所述交集PlaneBDs的所有平面中，只有法向量反向的平面的组数为一组时，才能将平面提取出来作为平面B和平面D，若所述组数不等于1，则流程结束，无法获取理论值。
在一实施例中，所述获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合，包括：
删除非直线段的边以及无法在容差Tol范围用最小二乘法拟合成直线段的边，将剩余的边组成边的集合。
本实施例中，获取起始面最外环的所有直边的目的是为了获取与起始面相邻并共享有同一条边的所有平面，所有需要去除掉最外环所有直边以外的其他非直线段，避免干扰，影响运算速度。
在一实施例中，所述获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合，还包括：
过滤起始面的内部孔或者干扰线。
本实施例中，将起始面的表面上的孔以及干扰线进一步的进行过滤，可以更精确的获取到起始面最外环的所有直边。
进一步的，在获取到的边的集合中，可进行验证，将所有获取到的最外环的直边进行闭合验证，若所有最外环的直边形成闭合并且与平面的边线重合，则可判定边的集合获取成功。
在一实施例中，根据所述中心点Pa和所述法向量Va记录空间几何平面，并将该空间几何平面作为方槽的一个面，并记录点Pb、点Pc以及点Pd所在的面，并分别作为方槽的另外三个面。
本实施例中，根据所述中心点Pa和所述法向量Va的方向，即可获取到所述中心点Pa所在的平面，将该平面作为方槽的一个面，同样的方式，根据点Pb、点Pc、点Pd以及对应的法向量来获取方槽的另外三个面，完成方槽内平面的获取，即可实现测量并获取测量结果的理论值。
如图2所示，测量过程中获取方槽理论值的装置200，包括：获取单元201、射线构成单元202、集合PlaneAs获取单元203、集合PlaneBs获取单元204、集合PlaneCs获取单元205、交集PlaneBDs获取单元206、平面创建单元207、投影单元208以及距离获取单元209。
获取单元201，用于选择被测工件模型中方槽内任意一面作为原始面A，获取原始面A的法向量Va和中心点Pa；
射线构成单元202，用于以所述中心点Pa为起点，沿所述法向量Va方向射出并构成射线lin，求出射线lin在所述法向量Va方向上与被测工件模型的第一个交点，并将交点设置为点Pc；
集合PlaneAs获取单元203，用于将原始面A作为起始面并执行创建相邻面的集合的流程，得到面的集合PlaneAs；其中，所述创建相邻面的集合的流程包括：获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合；获取与起始面相邻并共享有同一条边的所有平面，并将所有的平面加入面的集合；
集合PlaneBs获取单元204，用于将所述集合PlaneAs中的每一个平面作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取多个面的集合TPS，将所有集合TPS放入面的集合PlaneBs中，并去除重复项；
集合PlaneCs获取单元205，用于在集合PlaneBs中找到点Pc的所在的面并将此面设置为平面C，以平面C作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取面的集合PlaneCs；
交集PlaneBDs获取单元206，用于获取所述集合PlaneAs和所述集合PlaneCs的交集PlaneBDs；
平面创建单元207，用于在所述交集PlaneBDs中，获取每个平面的法向量，将法向量反向的一组平面提取出来，作为平面B和平面D；
投影单元208，用于求取点Pa和Pc中点Mp，分别将Mp向平面B和平面D投影得到点Pb和Pd；
距离获取单元209，用于计算中心点Pa到点Pc的距离D1，以及获取点Pb到所述平面D的距离D2，并将所述距离D1设为方槽的长度，以及所述距离D2设为方槽的宽度。
该装置通过对方槽的数据模型来进行坐标测量，获取方槽特征的理论值并形成实际的测量路线，获取的理论值也是指导测量机实际测量的重要参数，同时也是测量结果进行误差判定的重要数据。
在一实施例中，测量过程中获取方槽理论值的装置200还包括：
平面获取单元，根据所述中心点Pa和所述法向量Va记录空间几何平面，并将该空间几何平面作为方槽的一个面，并记录点Pb、点Pc以及点Pd所在的面，并分别作为方槽的另外三个面。
由于装置部分的实施例与方法部分的实施例相互对应，因此装置部分的实施例请参见方法部分的实施例的描述，这里暂不赘述。
上述测量过程中获取方槽理论值的装置可以实现为计算机程序的形式，该计算机程序可以在如图3所示的计算机设备上运行。
请参阅图3，图3是本发明实施例提供的计算机设备的示意性框图。该计算机设备300包括通过系统总线301连接的处理器302、存储器和网络接口305，其中，存储器可以包括非易失性存储介质303和内存储器304。
该非易失性存储介质303可存储操作系统3031和计算机程序3032。该计算机程序3032被执行时，可使得处理器302执行测量过程中获取方槽理论值的方法。
该处理器302用于提供计算和控制能力，支撑整个计算机设备300的运行。
该内存储器304为非易失性存储介质303中的计算机程序3032的运行提供环境，该计算机程序3032被处理器302执行时，可使得处理器302执行测量过程中获取方槽理论值的方法。
该网络接口305用于进行网络通信，如提供数据信息的传输等。本领域技术人员可以理解，图3中示出的结构，仅仅是与本发明方案相关的部分结构的框图，并不构成对本发明方案所应用于其上的计算机设备300的限定，具体的计算机设备300可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
本领域技术人员可以理解，图3中示出的计算机设备的实施例并不构成对计算机设备具体构成的限定，在其他实施例中，计算机设备可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。例如，在一些实施例中，计算机设备可以仅包括存储器及处理器，在这样的实施例中，存储器及处理器的结构及功能与图3所示实施例一致，在此不再赘述。
应当理解，在本发明实施例中，处理器302可以是中央处理单元(CentralProcessing Unit，CPU)，该处理器302还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(DigitalSignal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中，通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
在本发明的另一实施例中提供计算机可读存储介质。该计算机可读存储介质可以为非易失性的计算机可读存储介质。该计算机可读存储介质存储有计算机程序，其中计算机程序被处理器执行时实现本发明实施例的测量过程中获取方槽理论值的方法。
所述存储介质为实体的、非瞬时性的存储介质，例如可以是U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的实体存储介质。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，上述描述的设备、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种测量过程中获取方槽理论值的方法，其特征在于，包括：
选择被测工件模型中方槽内任意一面作为原始面A，获取原始面A的法向量Va和中心点Pa；
以所述中心点Pa为起点，沿所述法向量Va方向射出并构成射线lin，求出射线lin在所述法向量Va方向上与被测工件模型的第一个交点，并将交点设置为点Pc；
将原始面A作为起始面并执行创建相邻面的集合的流程，得到面的集合PlaneAs；
其中，所述创建相邻面的集合的流程包括：获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合；获取与起始面相邻并共享有同一条边的所有平面，并将所有的平面加入面的集合；
将所述集合PlaneAs中的每一个平面作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取多个面的集合TPS，将所有集合TPS放入面的集合PlaneBs中，并去除重复项；
在集合PlaneBs中找到点Pc的所在的面并将此面设置为平面C，以平面C作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取面的集合PlaneCs；
获取所述集合PlaneAs和所述集合PlaneCs的交集PlaneBDs；
在所述交集PlaneBDs中，获取每个平面的法向量，将法向量反向的一组平面提取出来，作为平面B和平面D；
求取点Pa和Pc中点Mp，分别将Mp向平面B和平面D投影得到点Pb和Pd；
计算中心点Pa到点Pc的距离D1，以及获取点Pb到所述平面D的距离D2，并将所述距离D1设为方槽的长度，以及将所述距离D2设为方槽的宽度。
2.根据权利要求1所述的测量过程中获取方槽理论值的方法，其特征在于，所述选择被测工件模型中方槽内任意一面作为原始面A，获取原始面A的法向量Va和中心点Pa，包括，
获取所述原始面A的类型；
若原始面A为平面，则直接获取平面的法向量Va和中心点Pa；
若原始面A为样条曲面，则将原始面A按照等面积方法离散成点的集合Pas，在容差Tol范围内用最小二乘法拟合集合Pas成平面，并获取平面的法向量Va和中心点Pa。
3.根据权利要求1所述的测量过程中获取方槽理论值的方法，其特征在于，所述以所述中心点Pa为起点，沿所述法向量Va方向构成射线lin，包括：
先将中心点Pa沿法向量Va方向平移并获得点Pa1，再由所述点Pa1沿所述法向量Va方向构成射线lin。
4.根据权利要求1所述的测量过程中获取方槽理论值的方法，其特征在于，在所述交集PlaneBDs中，获取每个平面的法向量，将法向量反向的一组平面提取出来，作为平面B和平面D，包括，
获取法向量反向的平面的组数；
若所述组数大于1或者小于1，则流程结束；
若所述组数等于1，则将法向量反向的一组平面提取出来，作为平面B和平面D。
5.根据权利要求1所述的测量过程中获取方槽理论值的方法，其特征在于，所述获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合，包括：
删除非直线段的边以及无法在容差Tol范围用最小二乘法拟合成直线段的边，将剩余的边组成边的集合。
6.根据权利要求1所述的测量过程中获取方槽理论值的方法，其特征在于，所述获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合，还包括：
过滤起始面的内部孔或者干扰线。
7.根据权利要求1所述的测量过程中获取方槽理论值的方法，其特征在于，还包括：
根据所述中心点Pa和所述法向量Va记录空间几何平面，并将该空间几何平面作为方槽的一个面，并记录点Pb、点Pc以及点Pd所在的面，并分别作为方槽的另外三个面。
8.一种测量过程中获取方槽理论值的装置，其特征在于，包括：
获取单元，用于选择被测工件模型中方槽内任意一面作为原始面A，获取原始面A的法向量Va和中心点Pa；
射线构成单元，用于以所述中心点Pa为起点，沿所述法向量Va方向射出并构成射线lin，求出射线lin在所述法向量Va方向上与被测工件模型的第一个交点，并将交点设置为点Pc；
集合PlaneAs获取单元，用于将原始面A作为起始面并执行创建相邻面的集合的流程，得到面的集合PlaneAs；其中，所述创建相邻面的集合的流程包括：获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合；获取与起始面相邻并共享有同一条边的所有平面，并将所有的平面加入面的集合；
集合PlaneBs获取单元，用于将所述集合PlaneAs中的每一个平面作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取多个面的集合TPS，将所有集合TPS放入面的集合PlaneBs中，并去除重复项；
集合PlaneCs获取单元，用于在集合PlaneBs中找到点Pc的所在的面并将此面设置为平面C，以平面C作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取面的集合PlaneCs；
交集PlaneBDs获取单元，用于获取所述集合PlaneAs和所述集合PlaneCs的交集PlaneBDs；
平面创建单元，用于在所述交集PlaneBDs中，获取每个平面的法向量，将法向量反向的一组平面提取出来，作为平面B和平面D；
投影单元，用于求取点Pa和Pc中点Mp，分别将Mp向平面B和平面D投影得到点Pb和Pd；
距离获取单元，用于计算中心点Pa到点Pc的距离D1，以及获取点Pb到所述平面D的距离D2，并将所述距离D1设为方槽的长度，以及所述距离D2设为方槽的宽度。
9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7中任一项所述的测量过程中获取方槽理论值的方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序当被处理器执行时使所述处理器执行如权利要求1至7任一项所述的测量过程中获取方槽理论值的方法。
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Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101424520A (zh) * 2007-10-31 2009-05-06 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 物件曲面的局部轮廓检测方法
CN102436217A (zh) * 2011-10-19 2012-05-02 南京航空航天大学 飞机结构件槽特征腹板加工驱动几何重构方法
JP2014115179A (ja) * 2012-12-10 2014-06-26 Seiko Epson Corp 測長装置、書画カメラおよび測長方法
CN105698724A (zh) * 2016-01-11 2016-06-22 摩多数据（深圳）有限公司 一种3d模型取点测周长的方法
CN108648230A (zh) * 2018-05-14 2018-10-12 南京阿凡达机器人科技有限公司 一种包裹尺寸测量方法、系统、储存介质及移动终端
CN109029253A (zh) * 2018-06-29 2018-12-18 南京阿凡达机器人科技有限公司 一种包裹体积测量方法、系统、储存介质及移动终端
CN109029322A (zh) * 2018-07-16 2018-12-18 北京芯合科技有限公司 一种全新数控机器人多坐标测量系统及测量方法
CN109737874A (zh) * 2019-01-17 2019-05-10 广东省智能制造研究所 基于三维视觉技术的物体尺寸测量方法及装置
CN110288654A (zh) * 2019-04-28 2019-09-27 浙江省自然资源监测中心 一种单幅图像的几何量测的方法
CN110763169A (zh) * 2019-10-25 2020-02-07 中国石油大学(华东) 一种基于重构模型中轴线、中轴面的结构尺寸测量方法
CN110793441A (zh) * 2019-11-05 2020-02-14 北京华捷艾米科技有限公司 一种高精度物体几何尺寸测量方法及装置

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101424520A (zh) * 2007-10-31 2009-05-06 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 物件曲面的局部轮廓检测方法
CN102436217A (zh) * 2011-10-19 2012-05-02 南京航空航天大学 飞机结构件槽特征腹板加工驱动几何重构方法
JP2014115179A (ja) * 2012-12-10 2014-06-26 Seiko Epson Corp 測長装置、書画カメラおよび測長方法
CN105698724A (zh) * 2016-01-11 2016-06-22 摩多数据（深圳）有限公司 一种3d模型取点测周长的方法
CN108648230A (zh) * 2018-05-14 2018-10-12 南京阿凡达机器人科技有限公司 一种包裹尺寸测量方法、系统、储存介质及移动终端
CN109029253A (zh) * 2018-06-29 2018-12-18 南京阿凡达机器人科技有限公司 一种包裹体积测量方法、系统、储存介质及移动终端
CN109029322A (zh) * 2018-07-16 2018-12-18 北京芯合科技有限公司 一种全新数控机器人多坐标测量系统及测量方法
CN109737874A (zh) * 2019-01-17 2019-05-10 广东省智能制造研究所 基于三维视觉技术的物体尺寸测量方法及装置
CN110288654A (zh) * 2019-04-28 2019-09-27 浙江省自然资源监测中心 一种单幅图像的几何量测的方法
CN110763169A (zh) * 2019-10-25 2020-02-07 中国石油大学(华东) 一种基于重构模型中轴线、中轴面的结构尺寸测量方法
CN110793441A (zh) * 2019-11-05 2020-02-14 北京华捷艾米科技有限公司 一种高精度物体几何尺寸测量方法及装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
基于遗传算法的三维表面距离测量方法;林增刚等;《中国体视学与图像分析》;20100630;第15卷(第2期);全文 *

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