CN111366180A - 一种基于光纤传感器的外界参数测量方法 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种基于光纤传感器的外界参数测量方法,包括:控制光纤传感器中的激光器按照光纤试验标准发射激光;按照光纤试验标准对光纤传感器中的扫尾光纤进行DMD测试,获取当前DMD值;根据预先得到的DMD值与被测参数之间的关系及当前DMD值得到被测参数的当前参数值。本申请公开的上述技术方案,由于采用DMD作为测量值进行测量时可以通过增加光纤传感器中作为受试光纤的多模光纤的长度而降低对激光器脉冲宽度的要求,且由于DMD计算有标准成熟可靠的算法,则传输过程中造成的波形失真对计算结果没有太大影响,因此,可以保证被测参数具有较高的测试准确性的同时降低激光器的成本,从而可以降低被测参数的测量成本。
Description
技术领域
本申请涉及光纤传感器技术领域,更具体地说,涉及一种基于光纤传感器的外界参数测量方法。
背景技术
光纤传感器是一种将被测对象的状态转变为可测的光信号的传感器,参见图1,其示出了光纤传感器的结构示意图,其包括光源、光纤、探测器和处理部分等,其中,受试光纤多为多模光纤(可以有许多模式在光纤中进行传输),其结构具体可以参见图2,其示出了受试光纤的结构示意图,包括光纤包层1、光纤纤芯2和传感区域3(具体通过对光纤进行腐蚀和镀金属膜得到,其位于光纤传输方向向上,长度为5-10mm,),通过传感区域3感知外界被测参数(具体为与光信号相关的参数,如温度、湿度、折射率等)的变化,并反映到波形,然后,通过对波形进行处理得到与外界被测参数的测量值。
目前,以多模光纤为传输介质的光纤传感器以色散值和干涉谱作为测量参数,并通过这些测量参数得到被测参数的具体值,但是,由于多模光纤模式传输过程比较复杂,因此,为了保证计算的准确性,使用色散值和干涉谱进行测量时就需要使用短长多模光纤,而这使得作为激光发射单元的激光器需要有极小的脉冲展宽,由于这类激光器的成本比较高,因此,上述方式会导致被测参数测量的成本比较高。
综上所述,如何降低外界参数的测量成本,是目前本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
有鉴于此,本申请的目的是提供一种基于光纤传感器的外界参数测量方法,用于降低外界参数的测量成本。
为了实现上述目的,本申请提供如下技术方案:
一种基于光纤传感器的外界参数测量方法,包括:
控制光纤传感器中的激光器按照光纤试验标准发射激光;
按照所述光纤试验标准对所述光纤传感器中的扫尾光纤进行DMD测试,以获取当前DMD值;
根据预先获取到的DMD值与被测参数之间的关系及所述当前DMD值得到所述被测参数的当前参数值。
优选的,预先获取DMD值与被测参数之间的关系,包括:
预先按照所述光纤试验标准对所述光纤传感器中的扫尾光纤进行DMD测试,以获取DMD值,并获取所述被测参数的参数值;
对所述被测参数的参数值进行调整,以得到多个调整后参数值,分别将每个所述调整后参数值施加于所述光纤传感器中的受试光纤的传感区域,并获取与所述调整后参数值相对的调整后DMD值;
对获取到的DMD相关值及所述被测参数的相关值进行拟合,得到DMD值与所述被测参数之间的关系;其中,所述DMD相关值包括所述DMD值、所述调整后DMD值;所述被测参数的相关值包括所述被测参数的参数值、所述调整后参数值。
优选的,所述受试光纤的长度不超过6km。
优选的,对获取到的DMD相关值及所述被测参数的相关值进行拟合,得到DMD值与所述被测参数之间的关系,包括:
对所述DMD相关值及所述被测参数的相关值进行拟合,得到所述DMD值与所述被测参数之间的关系曲线,并利用所述关系曲线得到关系表达式。
优选的,所述受试光纤中的传感区域为对所述受试光纤的预设区域进行腐蚀,以漏出光纤纤芯,并在漏出的所述光纤纤芯上镀银膜得到的。
优选的,所述受试光纤为A1类阶跃型弯曲不敏感多模光纤。
优选的,还包括:
当所述受试光纤的参数发生变化时,返回执行所述预先按照所述光纤试验标准对所述光纤传感器中的扫尾光纤进行DMD测试,以获取DMD值,并获取所述被测参数的参数值的步骤。
优选的,在控制所述光纤传感器中的激光器按照光纤试验标准发射激光之前,还包括:
按照所述光纤试验标准设置测试环境。
优选的,所述扫尾光纤为单模光纤;
相应地,在按照所述光纤试验标准对所述光纤传感器中的扫尾光纤进行DMD测试,以获取当前DMD值之前,还包括:
在对所述扫尾光纤中形成两个半径为30mm的小圈,以利用所述小圈滤除高阶模。
本申请提供了一种基于光纤传感器的外界参数测量方法,包括:控制光纤传感器中的激光器按照光纤试验标准发射激光;按照光纤试验标准对光纤传感器中的扫尾光纤进行DMD测试,以获取当前DMD值;根据预先获取到的DMD值与被测参数之间的关系及当前DMD值得到被测参数的当前参数值。
本申请公开的上述技术方案,在使得光纤传感器中的激光器按照光纤试验标准发射激光的前提下,采用DMD作为测量值进行测量,以通过当前DMD值及预先获取到的DMD值与被测参数之间的关系得到被测参数的当前参数值,由于采用DMD作为测量值进行测量时可以通过增加光纤传感器中作为受试光纤的多模光纤的长度而降低对激光器脉冲宽度的要求,且由于DMD计算有标准成熟可靠的算法,则传输过程中造成的波形失真对计算结果并没有太大影响,因此,则可以保证被测参数具有较高的测试准确性的同时降低激光器的成本,从而可以降低被测参数的测量成本。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为光纤传感器的结构示意图;
图2为受试光纤的结构示意图;
图3为本申请实施例提供的一种基于光纤传感器的外界参数测量方法的流程图;
图4为本申请实施例提供的微分模时延的测试图;
图5为本申请实施例提供的DMD值与被测参数之间的关系的获取流程图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
参见图3,其示出了本申请实施例提供的一种基于光纤传感器的外界参数测量方法的流程图,本申请实施例提供的一种基于光纤传感器的外界参数测量方法,可以包括:
S11:控制光纤传感器中的激光器按照光纤试验标准发射激光。
在利用光纤传感器对外界参数进行测量时,可以控制光纤传感器中的激光器按照光纤试验标准(具体为GB/T 15972.49-2008标准)发射激光,具体地,是光纤传感器中的激光器需满足其激光脉冲宽度(25%的幅值全宽)不得高于多模光纤的微分模时延的10%,且激光器连续脉冲宽度稳定。
在使得光纤传感器中的激光器按照上述光纤试验标准发射激光的前提下,在采用DMD(微分模时延)对被测参数进行测量时可以通过增加作为受试光纤的多模光纤的长度而降低对激光器脉冲宽度的要求,以便于降低对光纤传感器中激光器的要求,从而降低光纤传感器的成本,并降低对被测参数进行测量的成本。
S12:按照光纤试验标准对光纤传感器中的扫尾光纤进行DMD测试,以获取当前DMD值。
在使得激光器按照光纤试验标准发射激光之后,可以按照光纤试验标准对光纤传感器中的扫尾光纤进行DMD测试,以获取当前DMD值。
其中,DMD是用来表征多模光纤中最快传输模式和最慢传输模式间达到某一点的时间差的参数,具体可以参见图4,其示出了本申请实施例提供的微分模时延的测试图,其中,time表示模式传输的时间,r表示以光纤纤芯为圆心,半径为r的某一点,图则具体表示在r这点注入激光时各种模式的传播时间。
需要说明的是,有关DMD的测试要求和具体规范,在GB/T 15972.49-2008标准中有详细规定,其中,关于DMD值可以由以下公式得到:
DMD=TSLOW-TFAST-ΔTREF
其中,TFAST为RINNER和ROUTER之间所有的输出光脉冲中最短主峰边界时间,TSLOW为RINNER和ROUTER之间所有的输出光脉冲中最常拖尾峰边界时间,ΔTREF为参考波形时延,该数据由测试系统提供,RINNER为扫尾光纤在受试光纤端面上径向扫描时径向偏移位置的内极限,ROUTER为扫尾光纤在受试光纤的端面上径向扫描时径向偏移位置的外极限。
S13:根据预先获取到的DMD值与被测参数之间的关系及当前DMD值得到被测参数的当前参数值。
在获取到当前DMD值之后,可以根据预先获取到的DMD值与被测参数之间的关系得到被测参数的当前参数值,例如对于温度,即可以根据预先获取到的DMD值与温度之间的关系及当前DMD值得到当前温度值;对于湿度,即可以根据预先获取到的DMD值与湿度之间的关系及当前DMD值得到当前湿度值等。
上述过程即是对扫尾光纤进行DMD测试,利用测试得到的DMD值作为测量值进行被测参数的测量,其中,由于DMD计算有标准成熟可靠的算法,在激光传输过程中即使发生波形失真对计算结果也没有太大的影响,且在使激光器按照光纤试验标准发射激光的前提下,可以通过增加作为受试光纤的多模光纤的长度来降低对激光器脉冲宽度的要求,而这并不会对计算结果造成太大的影响,但可以降低在对被测参数进行测量时对光纤传感器中的激光器的要求,因此,则可以降低激光器及光纤传感器的成本,从而可以降低被测参数测量的成本。
本申请公开的上述技术方案,在使得光纤传感器中的激光器按照光纤试验标准发射激光的前提下,采用DMD作为测量值进行测量,以通过当前DMD值及预先获取到的DMD值与被测参数之间的关系得到被测参数的当前参数值,由于采用DMD作为测量值进行测量时可以通过增加光纤传感器中作为受试光纤的多模光纤的长度而降低对激光器脉冲宽度的要求,且由于DMD计算有标准成熟可靠的算法,则传输过程中造成的波形失真对计算结果并没有太大影响,因此,则可以保证被测参数具有较高的测试准确性的同时降低激光器的成本,从而可以降低被测参数的测量成本。
参见图5,其示出了本申请实施例提供的DMD值与被测参数之间的关系的获取流程图,本申请实施例提供的一种基于光纤传感器的外界参数测量方法,预先获取DMD值与被测参数之间的关系,可以包括:
S21:预先按照光纤试验标准对光纤传感器中的扫尾光纤进行DMD测试,以获取DMD值,并获取被测参数的参数值。
在预先获取DMD值与被测参数之间的关系时,可以预先按照光纤试验标准对光纤传感器中的扫尾光纤进行DMD测试,以获取DMD值,同时,可以获取并记录被测参数在此时的参数值。
S22:对被测参数的参数值进行调整,以得到多个调整后参数值,分别将每个调整后参数值施加于光纤传感器中的受试光纤的传感区域,并获取与调整后参数值相对的调整后DMD值。
之后,可以对被测参数的参数值进行调整,具体可以以预设步长对被测参数的参数值进行调整或者也可以根据实际情况而对被测参数的参数值进行调整,以得到多个调整后参数值。
在得到多个调整后参数值之后,可以将得到的每个调整后参数值分别施加在光纤传感器中的受试光纤的传感区域,并分别对应获取与调整后参数值相对的调整后DMD值。
S23:对获取到的DMD相关值及被测参数的相关值进行拟合,得到DMD值与被测参数之间的关系;
其中,DMD相关值可以包括DMD值、调整后DMD值;被测参数的相关值可以包括被测参数的参数值、调整后参数值。
然后,可以对获取到的DMD值、调整后DMD值及被测参数的参数值、调整后参数值进行拟合,以得到DMD值与被测参数之间的关系。
预先获取DMD值与被测参数之间的关系可以便于根据测量得到的当前DMD值获取被测参数的参数值,从而便于提高被测参数测量的效率,而且通过对多组DMD相关值及被测参数的相关值进行拟合而得到DMD值与被测参数之间的关系的方式可以便于提高被测参数的参数值获取的准确性。
本申请实施例提供的一种基于光纤传感器的外界参数测量方法,受试光纤的长度不超过6km。
在本申请所提供的基于光纤传感器的外界参数测量方法中,考虑到激光在受试光纤中传输时会发生衰减,因此,光纤传感器中所包含的受试光纤的长度可以适当增长但其长度可以尽量不超过6km,以避免受试光纤过长而使得激光在传输时发生过多的衰减,从而便于提高被测参数测量的准确性。
本申请实施例提供的一种基于光纤传感器的外界参数测量方法,对获取到的DMD相关值及被测参数的相关值进行拟合,得到DMD值与被测参数之间的关系,可以包括:
对DMD相关值及被测参数的相关值进行拟合,得到DMD值与被测参数之间的关系曲线,并利用关系曲线得到关系表达式。
在对获取到的DMD相关值及被测参数的相关值进行拟合,得到DMD值与被测参数之间的关系时,可以对DMD相关值及被测参数的相关值进行拟合,以得到DMD值与被测参数之间的关系曲线,然后,可以根据关系曲线得到DMD值与被测参数之间的关系表达式,以便于通过关系表达式直接获取与当前DMD值对应的被测参数的当前参数值。
本申请实施例提供的一种基于光纤传感器的外界参数测量方法,受试光纤中的传感区域为对受试光纤的预设区域进行腐蚀,以漏出光纤纤芯,并在漏出的光纤纤芯上镀银膜得到的。
在本申请所提供的基于光纤传感器的外界参数测量中,受试光纤中的传感区域的制备过程具体为:沿激光传输方向在受试光纤的预设区域中选取5-10mm的光纤长度,并利用腐蚀液(具体可以为氢氟酸等)对所选择出的区域进行腐蚀(腐蚀过程中需要保证光纤纤芯不受损坏),以漏出光纤纤芯,腐蚀之后对光纤纤芯的裸露部分进行干燥处理,之后在裸露出的光纤纤芯上镀上一层银膜(膜厚度不超过20μm),其中,利用银膜作为受试光纤的传感器区域具有比较高的灵敏度,因此,可以便于提高被测参数感知和测量的准确性。
当然,也可以在裸露出的光纤纤芯上镀上一层其它的金属膜(如金膜、铜膜等)而作为受试光纤的传感区域。
本申请实施例提供的一种基于光纤传感器的外界参数测量方法,受试光纤为A1类阶跃型弯曲不敏感多模光纤。
在本申请所提供的基于光纤传感器的外界参数测量中,所用光源传感器中的受试光纤具体可以为A1类阶跃型弯曲不敏感多模光纤,以便于提高对被测参数进行测量的准确性。
当然,也可以利用其它类型的多模光纤作为受试光纤,本申请对此不做任何限定。
本申请实施例提供的一种基于光纤传感器的外界参数测量方法,还可以包括:
当受试光纤的参数发生变化时,返回执行预先按照光纤试验标准对光纤传感器中的扫尾光纤进行DMD测试,以获取DMD值,并获取被测参数的参数值的步骤。
在本申请所提供的基于光纤传感器的外界参数测量中,当受试光纤的参数发生变化时,则返回执行预先按照光纤试验标准对光纤传感器中的扫尾光纤进行DMD测试,以获取DMD值,并获取被测参数的参数值的步骤,即重新获取DMD值与被测参数之间的关系,以便于根据新的DMD值与被测参数之间的关系来进行被测参数的测量,从而便于提高被测参数测量的准确性。
其中,上述提及的受试光纤的参数具体可以为受试光纤的长度、受试光纤的类型、传感区域的长度、传感区域中所镀膜的类别、传感区域中所镀膜的厚度中的任意一项,当然,若这些参数中有几项均发生变化,则更要重新获取DMD值与被测参数之间的关系。
本申请实施例提供的一种基于光纤传感器的外界参数测量方法,在控制光纤传感器中的激光器按照光纤试验标准发射激光之前,还可以包括:
按照光纤试验标准设置测试环境。
在控制光纤传感器中的激光器按照光纤试验标准发射激光之前,可以按照光纤试验标准设备测试环境,以便于提高被测参数测量的准确性和可靠性。
本申请实施例提供的一种基于光纤传感器的外界参数测量方法,扫尾光纤为单模光纤;
相应地,在按照光纤试验标准对光纤传感器中的扫尾光纤进行DMD测试,以获取当前DMD值之前,还可以包括:
在扫尾光纤中形成两个半径为30mm的小圈,以利用小圈滤除高阶模。
在本申请所提供的基于光纤传感器的外界参数测量中,所用光源传感器中的扫尾光纤具体可以为单模光纤,此时,在按照光纤试验标准对光纤传感器中的扫尾光纤进行DMD测试,以获取当前DMD值之前,可以对扫尾光纤进行缠绕处理,通过缠绕处理在扫尾光纤中形成两个半径为30mm的小圈,以利用这两个小圈滤除高阶模,从而便于提高被测参数测量的准确性。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。另外,本申请实施例提供的上述技术方案中与现有技术中对应技术方案实现原理一致的部分并未详细说明,以免过多赘述。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (9)
1.一种基于光纤传感器的外界参数测量方法,其特征在于,包括:
控制光纤传感器中的激光器按照光纤试验标准发射激光;
按照所述光纤试验标准对所述光纤传感器中的扫尾光纤进行DMD测试,以获取当前DMD值;
根据预先获取到的DMD值与被测参数之间的关系及所述当前DMD值得到所述被测参数的当前参数值。
2.根据权利要求1所述的基于光纤传感器的外界参数测量方法,其特征在于,预先获取DMD值与被测参数之间的关系,包括:
预先按照所述光纤试验标准对所述光纤传感器中的扫尾光纤进行DMD测试,以获取DMD值,并获取所述被测参数的参数值;
对所述被测参数的参数值进行调整,以得到多个调整后参数值,分别将每个所述调整后参数值施加于所述光纤传感器中的受试光纤的传感区域,并获取与所述调整后参数值相对的调整后DMD值;
对获取到的DMD相关值及所述被测参数的相关值进行拟合,得到DMD值与所述被测参数之间的关系;其中,所述DMD相关值包括所述DMD值、所述调整后DMD值;所述被测参数的相关值包括所述被测参数的参数值、所述调整后参数值。
3.根据权利要求2所述的基于光纤传感器的外界参数测量方法,其特征在于,所述受试光纤的长度不超过6km。
4.根据权利要求2所述的基于光纤传感器的外界参数测量方法,其特征在于,对获取到的DMD相关值及所述被测参数的相关值进行拟合,得到DMD值与所述被测参数之间的关系,包括:
对所述DMD相关值及所述被测参数的相关值进行拟合,得到所述DMD值与所述被测参数之间的关系曲线,并利用所述关系曲线得到关系表达式。
5.根据权利要求2所述的基于光纤传感器的外界参数测量方法,其特征在于,所述受试光纤中的传感区域为对所述受试光纤的预设区域进行腐蚀,以漏出光纤纤芯,并在漏出的所述光纤纤芯上镀银膜得到的。
6.根据权利要求2所述的基于光纤传感器的外界参数测量方法,其特征在于,所述受试光纤为A1类阶跃型弯曲不敏感多模光纤。
7.根据权利要求2至6任一项所述的基于光纤传感器的外界参数测量方法,其特征在于,还包括:
当所述受试光纤的参数发生变化时,返回执行所述预先按照所述光纤试验标准对所述光纤传感器中的扫尾光纤进行DMD测试,以获取DMD值,并获取所述被测参数的参数值的步骤。
8.根据权利要求1所述的基于光纤传感器的外界参数测量方法,其特征在于,在控制所述光纤传感器中的激光器按照光纤试验标准发射激光之前,还包括:
按照所述光纤试验标准设置测试环境。
9.根据权利要求1所述的基于光纤传感器的外界参数测量方法,其特征在于,所述扫尾光纤为单模光纤;
相应地,在按照所述光纤试验标准对所述光纤传感器中的扫尾光纤进行DMD测试,以获取当前DMD值之前,还包括:
在所述扫尾光纤中形成两个半径为30mm的小圈,以利用所述小圈滤除高阶模。
Priority Applications (1)
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