CN111352630A - 测量程序编译装置与测量程序编译方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种测量程序编译装置与测量程序编译方法。所述方法包括解析第一测量程序，以获得对应所述第一测量程序的多个第一测量参数，并且将所述多个第一测量参数转换为对应多个规划操作的多个第二测量参数；根据所述多个第二测量参数与多个计算机辅助设计图像参数来产生多个标准化测量参数；接收对应所述多个规划操作的多个参数输入操作来更新所述多个第二测量参数；根据所述多个标准化测量参数来产生对应所述计算机辅助设计文件的标准化测量程序；以及根据一目标测量装置的规格数据将所述标准化测量程序转换为执行于所述目标测量装置的目标测量程序。

Description

测量程序编译装置与测量程序编译方法
技术领域
本发明涉及一种程序编译装置，且特别涉及一种测量程序编译装置与测量程序编译方法。
背景技术
一般来说，测量程序都是通过测量人员将工程图信息(如，CAD文件)输入至测量程序来建立，并且必须使用专门的对应测量装置的软件来进行测量程序编译，造成测量程序建立与验证时间过长。此外，为了验证，测量人员也必须使用测量装置来进行编译后的测量程序的验证，进而导致了测量装置被长时间的占用。
另一方面，目前测量程序皆是专机专用，不同测量装置之间无法共用测量程序。如此一来，需要针对不同的测量装置来编译对应的测量程序。此外，测量人员在传统的测量程序编译操作中，需要对应地了解不同测量装置的专用的编译程序或测量程序，造成了工作效率的低落。
发明内容
本发明提供一种测量程序编译装置与测量程序编译方法，可在不需要使用测量装置的情况下，经由测量程序编译装置，根据所输入的CAD文件或/和第一测量程序来编译可执行于所述测量装置的测量程序。
本发明的一实施例提供一种测量程序编译装置，用于根据一计算机辅助设计(Computer Aided Design，CAD)文件产生用以执行测量操作的测量程序，其中所述测量操作用以测量对应所述CAD文件的实体物件，所述测量程序编译装置包括显示单元、输入单元、存储单元、处理器。所述显示单元用以显示图像。输入单元用以接收使用者所施加于所述输入单元的输入操作。所述存储单元用以记录多个程序代码模块与所述CAD文件。所述处理器耦接所述显示单元、所述输入单元以及所述存储单元，并且用以存取并执行所述多个程序代码模块，以实现测量程序编译方法。所述多个程序代码模块包括转换模块、参数设定模块与输出模块。所述转换模块用以解析第一测量程序，以获得对应所述第一测量程序的多个第一测量参数，并且将所述多个第一测量参数转换为对应多个规划操作的多个第二测量参数，其中所述处理器接收所述第一测量程序，其中所述第一测量程序为对应一坐标测量机(Coordinate Measuring Machine，CMM)的专用的CMM测量程序。所述参数设定模块用以解析所述CAD文件获得多个CAD图像参数，并且根据所述多个第二测量参数与所述多个CAD图像参数来产生多个标准化测量参数。此外，所述参数设定模块还用以接收对应所述多个规划操作的多个参数输入操作来更新所述多个第二测量参数。所述多个CAD图像参数用以绘制所述实体物件的CAD图像。所述输出模块用以根据所述多个标准化测量参数来产生对应所述CAD文件的标准化测量程序，其中所述输出模块还用以根据一目标测量装置的规格数据将所述标准化测量程序转换为执行于所述目标测量装置的目标测量程序。
本发明的一实施例提供一种用于根据计算机辅助设计(Computer Aided Design，CAD)文件产生用以执行测量操作的测量程序的测量程序编译方法。所述测量操作用以测量对应所述CAD文件的实体物件。所述方法包括：解析第一测量程序，以获得对应所述第一测量程序的多个第一测量参数，并且将所述多个第一测量参数转换为对应多个规划操作的多个第二测量参数，其中所述第一测量程序为对应一坐标测量机(Coordinate MeasuringMachine，CMM)的专用的CMM测量程序；接收对应所述多个规划操作的多个参数输入操作来更新所述多个第二测量参数；解析所述CAD文件获得多个CAD图像参数，并且根据所述多个第二测量参数与所述多个CAD图像参数来产生多个标准化测量参数，其中所述多个CAD图像参数用以绘制所述实体物件的CAD图像；根据所述多个标准化测量参数来产生对应所述CAD文件的标准化测量程序；以及根据一目标测量装置的规格数据将所述标准化测量程序转换为执行于所述目标测量装置的目标测量程序。
基于上述，本发明的实施例所提供的测量程序编译装置与测量程序编译方法，可根据解析CAD文件所获得的多个CAD图像参数与解析第一测量程序所获得的多个第一测量参数来产生多个标准化测量参数，根据所述多个标准化测量参数来产生对应该CAD文件的一标准化测量程序，以基于需求，将所述标准化测量程序转换为对应不同类型的目标测量装置的目标测量程序，进而增进了所编译的目标测量程序的应用范围，更可在不占用目标测量装置的情况下，有效率地编译执行于目标测量装置的测量程序。
为让本发明的上述特征和特点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。
附图说明
图1是依照本发明的一实施例所绘示的测量程序的应用示意图。
图2A是依照本发明的一实施例所绘示的测量程序编译系统的方块示意图。
图2B是依照本发明的一实施例所绘示的参数设定模块的方块示意图。
图3是依照本发明的一实施例所绘示的测量程序编译方法的流程图。
图4是依照本发明的一实施例所绘示的测量参数规划操作的流程图。
图5是依照本发明的一实施例所绘示的测量器规划操作的流程图。
图6A是依照本发明的一实施例所绘示的针对属于点测量特征的子测量操作的测量特征规划操作的流程图。
图6B是依照本发明的一实施例所绘示的针对属于线测量特征的子测量操作的测量特征规划操作的流程图。
图6C是依照本发明的一实施例所绘示的针对属于面测量特征的子测量操作的测量特征规划操作的流程图。
图6D是依照本发明的一实施例所绘示的针对属于圆测量特征的子测量操作的测量特征规划操作的流程图。
图7A是依照本发明的一实施例所绘示的用户界面的示意图。
图7B是依照本发明的另一实施例所绘示的用户界面的示意图。
图8是依照本发明的一实施例所绘示的路径预览的示意图。
【符号说明】
UI1、UI11、UI12、UI13：用户界面
IMG01：CAD图像
CMM1、CMM2、CNC1：装置
1：测量程序编译系统
10：测量程序编译装置
30：测量装置
A01、A02、A03、A04、A05：箭头
D1、D2、D3：数据
IPT：输入操作
110：存储单元
111：转换模块
112：参数设定模块
113：输出模块
114：显示模块
115：测量程序数据库
116：规格数据库
120：处理器
130：显示单元
140：输入单元
150：通信模块
160：数据传输接口电路
170：主存储器
NL：网络连线
1121：测量参数设定模块
1122：测量器设定模块
1123：测量特征设定模块
1124：几何设定模块
S31、S33、S35、S37、S39：测量程序编译方法的流程步骤
S41、S42、S43、S44、S45、S46：测量参数规划操作的流程步骤
S51、S53：测量器规划操作的流程步骤
S611、S612、S613、S614、S615：针对属于点测量特征的子测量操作的测量特征规划操作的流程步骤
S621、S622、S623、S624、S625：针对属于线测量特征的子测量操作的测量特征规划操作的流程步骤
S631、S632、S633、S634、S635、S636、S637：针对属于面测量特征的子测量操作的测量特征规划操作的流程步骤
S641、S642、S643、S644、S645、S646、S647：针对属于圆测量特征的子测量操作的测量特征规划操作的流程：
P1：测量点
S1：测量面
RT1：移动路径
具体实施方式
图1是依照本发明的一实施例所绘示的测量程序的应用示意图。请参照图1，在本实施例中，测量程序编译装置10可经由网络连线或其他形式的连线来连接至本身具有测量功能的坐标测量机(Coordinate Measuring Machine，CMM)(如图1所示的装置CMM1与CMM2)或可安装测量探头的计算机数值控制(Computer Numerical Control，CNC)工具机(如图1所示的装置CNC1)，并且根据CAD文件来产生对应的测量程序。所产生的测量程序可被传送至装置CMM1、装置CMM2或装置CNC1，以使接收所述测量程序的装置CMM1、装置CMM2或装置CNC1可经由执行所接收的测量程序而成为可执行对应所述CAD文件的测量操作的测量装置。
图2A是依照本发明的一实施例所绘示的测量程序编译系统的方块示意图。请参照图2A，测量程序编译系统包括测量程序编译装置10与测量装置30。所述测量装置30例如是上述的装置CMM1、装置CMM2或装置CNC1。在本实施例中，所述测量程序编译装置10包括存储单元110、处理器120、显示单元130、输入单元140、通信模块150、数据传输接口电路160与主存储器170。所述处理器120耦接至所述存储单元110、所述显示单元130、所述输入单元140、所述通信模块150、所述数据传输接口电路160与所述主存储器170。测量程序编译装置10用于根据一计算机辅助设计(Computer Aided Design，CAD)文件产生用以执行测量操作的测量程序，其中所述测量操作用以测量对应所述CAD文件的实体物件。
处理器120为具备运算能力的硬件，用以管理测量程序编译装置10的整体运作，即，处理器120为用以管理测量程序编译装置10的其他元件的主要硬件元件。在本实施例中，处理器120，例如是一内核或多内核的中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)、微处理器(micro-processor)、或是其他可编程的处理单元(Microprocessor)、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、可编程控制器、特殊应用集成电路(ApplicationSpecific Integrated Circuits，ASIC)、可编程逻辑装置(Programmable Logic Device，PLD)或其他类似装置。
存储单元110可以经由处理器120的指示来记录一些需要长时间存储的数据，例如，用以控制测量程序编译装置10的固件或是软件；多个程序代码模块；多个CAD文件以及多个数据库。存储单元110可以是任何类型的硬盘机(Hard Disk Drive，HDD)或非易失性存储器存储装置(如，固态硬盘)。所述多个程序代码模块包括转换模块111、参数设定模块112、输出模块113、显示模块114。此外，所述多个数据库包括测量程序数据库115以及规格数据库116。所述测量程序数据库115用以存储多个测量程序。所述规格数据库116用以存储分别对应多个装置的多笔规格数据。
上述的转换模块111、参数设定模块112、输出模块113、显示模块114也可整合为测量程序编译模块。所述处理器120可经由存取与执行所述转换模块111、参数设定模块112、输出模块113与显示模块114来执行测量程序编译操作，以实现本发明的实施例所提供的测量程序编译方法。所述显示模块114用以根据目前所执行的规划操作或测量程序编译操作的步骤来显示对应的用户界面于所述显示单元130。所显示的用户界面UI1包括分别对应多个规划操作的多个参数设定界面，其中多个参数设定界面用以接收多个参数输入操作。显示模块114所显示的用户界面UI1更可显示所述实体物件的CAD图像IMG01(如，图1所绘示的三维图像)以及测量信息于所述显示单元130。所述测量信息包括所述CAD图像IMG01的各部分的图像物件的几何尺寸、公差、所述CAD图像IMG01上任一点的坐标值、坐标系、所述CAD图像IMG01的各部分的图像物件的识别码、当前的规划操作的相关信息等可用于测量操作的信息。使用者可输入数值、文字至参数设定界面以设定对应的规划操作的第二测量参数。此外，使用者可在所显示的所述CAD文件的实体物件的CAD图像IMG01上点选欲执行规划操作的目标，并且在点选后，所述用户界面可显示对应所述规划操作与目标的参数设定界面。
显示单元130用于显示图像。所述图像例如是测量程序编译装置10的操作系统的画面或对应所执行的测量程序编译操作的用户界面UI1。例如，显示单元130可以是液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)、发光二极管(Light-Emitting Diode；LED)显示器、场发射显示器(Field Emission Display，FED)，但本发明不限于此。显示单元130也可以是其他形式的图像显示装置(如，投影电路单元)。
输入单元140例如是鼠标、键盘或触控面板等装置。使用者可施加输入操作IPT在输入单元140上以输入数据。
在一实施例中，显示单元130也可与输入单元140整合。例如，显示单元130也可以是其他种类显示器的显示面板与例如是电阻式(resistive)、电容式(capacitive)或光学式(optical)等触控面板所整合而成的触控显示单元，并且可同时提供显示及触控操作功能。
通信模块150耦接至处理器120，用以通过无线通信或有线通信的方式来传输或是接收数据。例如，通信模块150可为支持无线相容认证(Wireless Fidelity，WiFi)系统、红外线(Infrared)传输、蓝牙(bluetooth)等无线通信协议的其中之一或其组合的通信电路单元。又例如，通信模块150可为网络接口卡(network interface card，NIC)。在本实施例中，通信模块150可与测量装置30建立网络连线NL，并且用以经由所建立的网络连线NL在测量装置30与测量程序编译装置10之间传输数据。在一实施例中，测量程序编译装置10可经由通信模块150所建立的网络连线来接收CAD文件D1或测量程序D2(如图2A的箭头A03所示)。
在本实施例中，数据传输接口电路160例如是相容于串行先进附件(SerialAdvanced Technology Attachment，SATA)标准、并行先进附件(Parallel AdvancedTechnology Attachment，PATA)标准、电气和电子工程师协会(Institute of Electricaland Electronic Engineers，IEEE)1394标准、高速周边零件连接接口(PeripheralComponent Interconnect Express，PCI Express)标准、通用串行总线(Universal SerialBus，USB)标准、超高速一代(Ultra High Speed-I，UHS-I)接口标准、超高速二代(UltraHigh Speed-II，UHS-II)接口标准、安全数字(Secure Digital，SD)接口标准、记忆棒(Memory Stick，MS)接口标准、多媒体存储卡(Multi Media Card，MMC)接口标准、小型快闪(Compact Flash，CF)接口标准、整合式驱动电子接口(Integrated Device Electronics，IDE)标准或其他适合的标准的电路单元。在本实施例中，测量程序编译装置10可经由数据传输接口电路160连接至外部的存储装置或电子装置，以从所连接之外部的存储装置/存储介质或电子装置来接收数据。例如，经由数据传输接口电路160从所连接的外部装置来接收CAD文件D1(如图2A的箭头A01所示)，或经由数据传输接口电路160从所连接的外部装置接收测量程序D2(如图2A的箭头A02所示)。
在本实施例中，主存储器170用以暂存数据。主存储器170例如是动态随机存取存储器。所述数据包括用以管理测量程序编译装置10的系统数据、从外部所接收的数据(如，其他电子装置或测量装置30)、用以传送至测量装置30的数据，本发明不限于此。以下经由图3来说明本实施例的测量程序编译装置10所执行的测量程序编译操作及对应实现的测量程序编译方法的细节。
图3是依照本发明的一实施例所绘示的测量程序编译方法的流程图。请参照图3，在步骤S31，转换模块111解析第一测量程序，以获得对应所述第一测量程序的多个第一测量参数，并且将所述多个第一测量参数转换为对应多个规划操作与该测量操作的多个第二测量参数。
举例来说，处理器120可从外部接收所述第一测量程序D2，其中所述第一测量程序可为对应坐标测量机(Coordinate Measuring Machine，CMM)的专用的CMM测量程序，并且所述CMM可经由执行所述CMM测量程序来测量对应所述CAD文件的实体物件。所述专用的CMM测量程序例如是所对应的CMM的厂商所安装于所述CMM上的测量程序，即，专门用于所述CMM的现有的CMM测量程序。应注意的是，所述第一测量程序也可预先存储于存储单元110中，或经由网络连线NL从测量装置30接收。
在本实施例中，所述转换模块111经由对所述专用的CMM测量程序进行解析操作，以辨识出对应多个规划操作与测量操作的多个第一测量参数。接着，转换模块111再经由对应所述CMM测量程序的转换表，将对应所述多个规划操作与所述测量操作的所述多个第一测量参数转换为对应所述多个规划操作与所述测量操作的多个第二测量参数。对应所述CMM测量程序的所述转换表可预先设计。所述多个规划操作包括测量参数规划操作、测量器规划操作、测量特征规划操作以及几何尺寸与公差规划操作。
图2B是依照本发明的一实施例所绘示的参数设定模块的方块示意图。请参照图2B，在本实施例中，参数设定模块112包括测量参数设定模块1121、测量器设定模块1122、测量特征设定模块1123以及几何设定模块1124。
在本实施例中，测量参数设定模块1121用以执行对应所述多个规划操作的测量参数规划操作。在所述测量参数规划操作中，所述测量参数设定模块1121根据对应所述测量参数规划操作的部分的所述多个第二测量参数来设定用于所述测量操作的自动化模式、测量器移动速度、测量速度、坐标系、测量距离与安全距离。
图4是依照本发明的一实施例所绘示的测量参数规划操作的流程图。请参照图4，在步骤S41中，测量参数设定模块1121设定用于测量操作的自动化模式(也可称，CNC模式)。具体来说，所述自动化模式可具有开启与关闭两种状态。自动化模式用以表示是否启动自动化测量。当所述自动化模式为关闭状态时，表示在所对应的测量操作中尚需使用者来执行人工操作以完成所对应的测量操作；当所述自动化模式为开启状态时，表示所对应的测量操作可依照所设定的测量数据进行自动化测量(即，不需要人力介入便可自动地执行且完成对应的测量操作)。接着，在步骤S42中，测量参数设定模块1121设定测量器移动速度。所述测量器移动速度用以指示测量器在每个测量点之间进行非测量性质的移动时，测量器所采用的速度。接着，在步骤S43中，测量参数设定模块1121设定测量速度。所述测量速度用以指示测量器在进行测量性质的移动时，测量器所采用的速度。接着，在步骤S44中，测量参数设定模块1121设定坐标系。在所述设定坐标系的运作中，测量参数设定模块1121可设定整体测量操作所处于的坐标系的信息。请参照图7A，用户界面UI13例如是用以设定坐标系的信息的用户界面。用户界面U13也可让使用者输入多个参数。应注意的是，所述用户界面UI13中的坐标系存取可区分为CMM或CNC两种类型。
接着，在步骤S45中，测量参数设定模块1121设定测量距离。所述测量距离用以指示测量器在执行测量之前，测量器应该与被测量的实体物件所保持的一个距离。当测量器与所述实体物件的距离到达测量距离时，测量器可开始执行测量性质的移动，以向着被测量的实体物件的表面接近直到测量器接触到于所述表面上的所规划的测量位置(如，测量点)。在步骤S46中，测量参数设定模块1121设定安全距离。所述安全距离用以指示测量器在非测量性质的移动中，测量器需要与被测量的实体物件之间所保持的最小距离。换句话说，当测量器进行非测量性质的移动时，依据安全距离的设定，测量器与被测量的实体物件的表面的最近距离会持续保持在大于所述安全距离的长度。
图7A是依照本发明的一实施例所绘示的用户界面的示意图。请参照图7A，用户界面UI12例如是对应测量参数规划操作的用户界面。自动化模式可藉由用户界面UI12中的“CNC On”与“CNC Off”来切换。此外，用户界面U12也可让使用者输入其他参数，如，“逼近距离”、“后退距离”。应注意的是，所述测量距离可藉由“逼近距离”参数与“后退距离”参数来设定。
测量器设定模块1122用以执行对应所述多个规划操作的测量器规划操作。在所述测量器规划操作中，所述测量器设定模块1122根据对应所述测量器规划操作的部分的所述多个第二测量参数来设定用于所述测量操作的测量器的样式。在本实施例中，所述测量器包括测量探针。此外，对应所述测量器规划操作的部分的所述多个第二测量参数可包括测量探针信息。请参照图7A，用户界面UI11例如是对应测量器规划操作的用户界面。用户界面U11也可让使用者输入多个参数，如，“CMM探针直径”、“CMM探针长度”、“CNC探针直径”与“CNC探针长度”。
图5是依照本发明的一实施例所绘示的测量器规划操作的流程图。请参照图5，更具体来说，在步骤S51中，测量器设定模块1122根据对应测量器规划操作的部分的多个第二测量参数来辨识用于测量操作的测量器的测量探针信息。接着，在步骤S53中，测量器设定模块1122可直接根据所述测量探针信息来设定所述测量器的样式(从多个对应不同形状、尺寸或/和材质的探针样式中选择符合测量探针信息的探针样式)。应注意的是，本发明并不限定于所述测量器的种类。例如，在其他实施例中，所述测量器更可为激光尺、光学探针、或利用其他测量方式来执行实体物件的测量的测量器。并且，对应所述测量器规划操作的部分的所述多个第二测量参数更可包括对应所述测量器的信息。
测量特征设定模块1123用以执行对应所述多个规划操作的测量特征规划操作。在所述测量特征规划操作中，所述测量特征设定模块1123根据对应所述测量特征规划操作的部分的所述多个第二测量参数来设定所述测量操作中属于不同的多个测量特征的多个子测量操作。所述多个测量特征包括点测量特征、线测量特征、面测量特征以及圆测量特征。更具体来说，所述测量特征设定模块1123可设定且检验所述多个子测量操作中属于所述点测量特征的多个点测量操作的测量点；设定且检验所述多个子测量操作中属于所述线测量特征的多个线测量操作的测量线；设定且检验所述多个子测量操作中属于该面测量特征的多个面测量操作的测量面；设定且检验所述多个子测量操作中属于该圆测量特征的多个圆测量操作的测量圆。
几何设定模块1124用以执行对应所述多个规划操作的几何尺寸与公差规划操作。在所述几何尺寸与公差规划操作中，所述几何设定模块1124根据对应所述几何尺寸与公差规划操作的部分的所述多个第二测量参数来设定所述多个子测量操作各自的多个几何参数。所述多个几何参数包括下列多个参数的任一个或其组合：参考点坐标；直径；直线度；平面度；真圆度；位置度；距离；角度；平行度；以及垂直度。然而，本发明并不限定于上述多个几何参数。例如，在其他实施例中，几何设定模块1124还可设定其他关于实体物件的参数。
请再回到图2A，在步骤S33中，参数设定模块112接收对应所述多个规划操作的多个参数输入操作IPT来更新所述多个第二测量参数。具体来说，参数设定模块112可开启分别对应所述多个规划操作或所述多个子测量操作的用户界面，以接收使用者施加于所开启的用户界面的参数输入操作IPT(如，图2A的箭头A04所示)，进而获得所输入的文字或数值，并且根据所输入的文字或数值来更新对应所开启的用户界面的第二测量参数。应注意的是，在接续至步骤S35之前，可仅执行步骤S31或步骤S33。也就是说，使用者可选择不使用转换模块111来获得所述多个第二测量参数，即，使用者选择直接利用对应所述多个规划操作或所述多个子测量操作的用户界面来设定所述多个第二测量参数(仅执行步骤S33)；使用者可选择仅使用转换模块111来获得所述多个第二测量参数，即，使用者不利用对应所述多个规划操作或所述多个子测量操作的用户界面来设定所述多个第二测量参数(仅执行步骤S31)。
然而，在另一实施例中，步骤S31与步骤S33可皆被执行。
接着，流程接续至步骤S35，在步骤S35中，所述参数设定模块112解析所述CAD文件获得多个CAD图像参数，并且根据所述多个第二测量参数与所述多个CAD图像参数来产生多个标准化测量参数。所述多个CAD图像参数用以表示对应CAD文件的实体物件的三维图像的图像参数。即，经由所述多个CAD图像参数，所述实体物件的三维图像可被绘制。
更具体来说，在上述根据所述多个第二测量参数与所述多个CAD图像参数来产生所述多个标准化测量参数的运作中，所述测量特征设定模块1123可根据所欲规划的子测量操作所属的测量特征来进行设定与检验。所述子测量操作包括点测量操作、线测量操作、面测量操作与圆测量操作。但，本发明不限于此，所述子测量操作也可包含曲线测量操作，曲面测量操作等其他几何图形的测量操作。
图6A是依照本发明的一实施例所绘示的针对属于点测量特征的子测量操作的测量特征规划操作的流程图。在本实施例中，所述测量特征设定模块1123可根据所述多个CAD图像参数来检验所述多个第二测量参数中对应所述多个点测量操作(属于点测量特征)的所述测量点的多个第三测量参数是否合法，其中所述测量特征设定模块1123根据合法的所述多个第三测量参数来产生对应所述多个点测量操作的多个标准化测量参数。更详细来说，请参照图6A，在步骤S611中，测量特征设定模块1123根据多个第二测量参数中对应点测量操作的多个点测量参数来辨识所述点测量操作的测量点。此外，所述测量点也可经由用以规划点测量操作的用户界面来被输入或直接于CAD图像上点选。所述多个点测量参数例如是所述测量点的坐标、识别码等关于所述测量点的设定信息。
图7B是依照本发明的另一实施例所绘示的用户界面的示意图。请参照图7B，图7B的左方绘示了一个用以规划点测量操作的用户界面；图7B的右方绘示了所显示的CAD图像，并且在所述CAD图像中测量点P1被标记，并且对应测量点P1的目标面S1的整体也被标记(藉由不同于其他CAD图像的颜色来标记)。
接着，在步骤S612中，测量特征设定模块1123根据多个CAD图像参数与所述多个点测量参数来辨识对应所述测量点的目标面。具体来说，测量特征设定模块1123可辨识每个点测量参数所对应的测量点的坐标。此外，测量特征设定模块1123可根据CAD图像参数找出CAD图像中可对应至所述坐标的平面(亦称，目标面)。所述平面可为最接近所述坐标的CAD图像的平面。
接着，在步骤S613中，测量特征设定模块1123判断所述测量点是否位于所述目标面上。
若所述测量点位于所述目标面上，在步骤S614中，测量特征设定模块1123判定所述测量点为合法(即，判定对应所述测量线的所述多个线测量参数为合法，并且完成对此测量点的检验)，并且产生对应所述点测量操作的所述测量点的多个标准化点测量参数。
反之，若所述测量点不位于所述目标面上，在步骤S615中，测量特征设定模块1123判定所述测量点不为合法。测量特征设定模块1123可发出警示。在一实施例中，当判定所述测量点不为合法时，测量特征设定模块1123可另外开启用以规划此点测量操作的用户界面，以让使用者可直接修正对应的点测量参数或在CAD图像上点选所述测量点。
图6B是依照本发明的一实施例所绘示的针对属于线测量特征的子测量操作的测量特征规划操作的流程图。在本实施例中，所述测量特征设定模块1123根据所述多个CAD图像参数来检验所述多个第二测量参数中对应所述多个线测量操作(属于线测量特征)的所述测量线的多个第四测量参数是否合法，其中所述测量特征设定模块1123根据合法的所述多个第四测量参数来产生对应所述多个线测量操作的多个标准化测量参数。
更详细来说，请参照图6B，在步骤S621中，测量特征设定模块1123根据多个第二测量参数中对应线测量操作的多个线测量参数来辨识所述线测量操作的测量线。此外，所述测量线也可经由用以规划线测量操作的用户界面来被输入或直接于CAD图像上点选。所述多个线测量参数例如是所述测量线的起始点的坐标、终点的坐标、对应线测量操作的多个测量点(亦称，目标点)的坐标、识别码等关于所述测量线的设定信息。
接着，在步骤S622中，测量特征设定模块1123根据多个CAD图像参数与所述多个线测量参数来辨识对应所述测量线的目标面。具体来说，测量特征设定模块1123可辨识每个线测量参数所对应的测量线的坐标。此外，测量特征设定模块1123可根据CAD图像参数找出CAD图像中可对应至所述坐标的平面(亦称，目标面)。所述平面可为最接近所述坐标的CAD图像的平面。
接着，在步骤S623中，测量特征设定模块1123判断所述测量线是否位于所述目标面的边缘上。具体来说，在本实施例中，测量特征设定模块1123会进一步判断每个测量线是否位于目标面与相邻目标面的另一平面之间的交界线(如，目标面的边缘)上。
若所述测量线位于所述目标面的边缘上，接续至步骤S624；若所述测量线不位于所述目标面的边缘上，接续至步骤S628。在步骤S624中，测量特征设定模块1123自动产生对应所述测量线的多个测量点。接着，在步骤S625中，测量特征设定模块1123判断所述多个测量点是否位于所述目标面上。其中，若所述多个测量点不位于所述目标面上，再次执行步骤S624；若所述多个测量点位于所述目标面上，执行步骤S626。
在步骤S626中，测量特征设定模块1123判断所述多个测量点的数量是否大于预定数。其中，若判定所述多个测量点的数量不大于预定数，执行步骤S628；若判定所述多个测量点的数量大于预定数，执行步骤S627。所述预定数例如为1。
在步骤S627中，测量特征设定模块1123判定所述测量线为合法(即，判定对应所述测量线的所述多个线测量参数为合法，并且完成对此测量线的检验)，并且根据对应所述线测量操作的所述多个测量点与所述多个线测量参数，产生对应所述线测量操作的所述测量线的多个标准化线测量参数。
在步骤S628中，测量特征设定模块1123判定所述测量线不为合法。测量特征设定模块1123可发出警示。在一实施例中，当判定所述测量线不为合法时，测量特征设定模块1123可另外开启用以规划此线测量操作的用户界面，以让使用者可直接修正对应的线测量参数或在CAD图像上点选所述测量线。
图6C是依照本发明的一实施例所绘示的针对属于面测量特征的子测量操作的测量特征规划操作的流程图。在本实施例中，所述测量特征设定模块1123根据所述多个CAD图像参数来检验所述多个第二测量参数中对应所述多个面测量操作(属于面测量特征)的所述测量面的多个第五测量参数是否合法，其中所述测量特征设定模块1123根据合法的所述多个第五测量参数来产生对应所述多个面测量操作的多个标准化测量参数。
更详细来说，请参照图6C，在步骤S631中，测量特征设定模块1123根据多个第二测量参数中对应面测量操作的多个面测量参数来辨识所述面测量操作的测量面。此外，所述测量面也可经由用以规划面测量操作的用户界面来被输入或直接于CAD图像上点选。所述多个面测量参数例如是所述测量面的多个边线的坐标、面的中心点的坐标、对应面测量操作的一或多个测量点(亦称，目标点)的坐标、识别码等关于所述测量面的设定信息。
接着，在步骤S632中，测量特征设定模块1123判断所述测量面是否具有面特征。举例来说，测量特征设定模块1123可根据所述多个面测量参数来判断所述测量面是否为一个平面(例如，藉由多个目标点的坐标来判断或藉由测量面的多个边线的坐标来判断)，其中若测量特征设定模块1123判定所述测量面为平面，测量特征设定模块1123判定所述测量面具有面特征，并且接续至步骤S633，其中若测量特征设定模块1123判定所述测量面不为平面，测量特征设定模块1123判定所述测量面不具有面特征，并且接续至步骤S637。在步骤S637中，测量特征设定模块1123判定所述测量面不为合法。测量特征设定模块1123可发出警示。在一实施例中，当判定所述测量面不为合法时，测量特征设定模块1123可另外开启用以规划此面测量操作的用户界面，以让使用者可直接修正对应的面测量参数或在CAD图像上点选所述测量面。
在步骤S633中，测量特征设定模块1123根据多个CAD图像参数与所述多个面测量参数来辨识所述测量面上的一或多个目标点。具体来说，测量特征设定模块1123可根据所述多个CAD图像参数与所述多个面测量参数来判断所述一或多个目标点位于CAD图像上的测量面的位置(如，坐标)与数量。接着，在步骤S634中，测量特征设定模块1123判断所述一或多个目标点的数量是否大于预定数(例如，2)。若所述一或多个目标点的数量不大于预定数，接续至步骤S636；反之，若所述一或多个目标点的数量大于预定数，接续至步骤S635。在步骤S636中，测量特征设定模块1123新增一新的目标点于所述测量面上。所述新的目标点可利用自动规划的方式来新增，或是经由使用者点选测量面上的任意点来新增。在步骤S635中，测量特征设定模块1123判定所述测量面为合法(即，判定对应所述测量面的所述多个面测量参数为合法，并且完成对此测量线的检验)，并且产生对应所述面测量操作的所述测量面与所述多个目标点的多个标准化面测量参数。
图6D是依照本发明的一实施例所绘示的针对属于圆测量特征的子测量操作的测量特征规划操作的流程图。在本实施例中，所述测量特征设定模块1123根据所述多个CAD图像参数来检验所述多个第二测量参数中对应所述多个圆测量操作(属于圆测量特征)的所述测量圆的多个第六测量参数是否合法，其中所述测量特征设定模块1123根据合法的所述多个第六测量参数来产生对应所述多个圆测量操作的多个标准化测量参数。
更详细来说，请参照图6D，在步骤S641中，测量特征设定模块1123根据多个第二测量参数中对应圆测量操作的多个圆测量参数来辨识所述圆测量操作的测量圆。此外，所述测量圆也可经由用以规划圆测量操作的用户界面来被输入或直接在CAD图像上点选。所述多个圆测量参数例如是所述测量圆的多个边线的坐标、圆的中心点的坐标、对应圆测量操作的一或多个测量点(亦称，目标点)的坐标、识别码等关于所述测量圆的设定信息。
接着，在步骤S642中，测量特征设定模块1123判断所述测量圆的边缘是否为圆形。若测量特征设定模块1123判定所述测量圆的边缘为圆形，接续至步骤S643；若测量特征设定模块1123判定所述测量圆的边缘不为圆形，接续至步骤S647。在步骤S647中，测量特征设定模块1123判定所述测量圆不为合法。测量特征设定模块1123可发出警示。在一实施例中，当判定所述测量圆不为合法时，测量特征设定模块1123可另外开启用以规划此圆测量操作的用户界面，以让使用者可直接修正对应的圆测量参数或在CAD图像上点选所述测量圆。
在步骤S643中，测量特征设定模块1123根据多个CAD图像参数与所述多个圆测量参数来辨识所述测量圆上的一或多个目标点。具体来说，测量特征设定模块1123可根据所述多个CAD图像参数与所述多个圆测量参数来判断所述一或多个目标点位于CAD图像上的测量圆的位置(如，坐标)与数量。接着，在步骤S644中，测量特征设定模块1123判断所述一或多个目标点的数量是否大于预定数(例如，2)。若所述一或多个目标点的数量不大于预定数，接续至步骤S646；反之，若所述一或多个目标点的数量大于预定数，接续至步骤S645。在步骤S646中，测量特征设定模块1123新增一新的目标点于在所述测量圆上(如，新增至所述测量圆的边缘上)。所述新的目标点可利用自动规划的方式来新增，或是经由使用者点选测量圆上的任意点来新增。在步骤S645中，测量特征设定模块1123判定所述测量圆为合法(即，判定对应所述测量圆的所述多个圆测量参数为合法，并且完成对此测量圆的检验)，并且产生对应所述圆测量操作的所述测量圆与所述多个目标点的多个标准化圆测量参数。
请回到图3，完成步骤S35后，接续至步骤S37，输出模块113根据所述多个标准化测量参数来产生对应所述CAD文件的标准化测量程序。也就是说，在获得对应所述CAD文件的实体物件的测量操作的所述多个标准化测量参数后，输出模块113可将所述多个标准化测量参数整合为对应所述CAD文件的标准化测量程序。对应所述CAD文件的所述标准化测量程序可被存储于测量程序数据库150中。
接着，在步骤S39中，输出模块113根据一目标测量装置的规格数据将该标准化测量程序转换为执行于该目标测量装置的目标测量程序。使用者可经由相应的用户界面来选择要使用所输出的测量程序(即，目标测量程序)的测量装置(即，目标测量装置)。
具体来说，所述输出模块113还用以读取所述目标测量装置的所述规格数据(例如，经由读取规格数据库116、从外部装置接收、从互联网接收)，并且根据所述规格数据与所述目标测量装置的类型，将所述标准化测量程序转换为执行于所述目标测量装置的所述目标测量程序。所述目标测量装置的类型包括CMM与CNC工具机。对应所述CAD文件的所述目标测量程序可被存储于测量程序数据库150中。
当所述目标测量装置的所述类型属于CMM，所述输出模块根据所述目标测量装置的所述规格数据将所述标准化测量程序转换为一CMM测量程序。所述CMM测量程序被执行于所述目标测量装置，以使属于所述CMM的所述目标测量装置可执行所述测量操作。值得一提的是，本申请的一进步点在于，可利用标准化测量程序来产生对应不同厂牌、型号的CMM测量程序，进而节省了更新CMM的成本。举例来说，本实施例的测量程序编译装置10可将用于A型号的CMM的A测量程序转换为可用于B型号的CMM的B测量程序。也就是说，在使用者只能使用B型号的CMM但具有A测量程序的情况下，经由本实施例的测量程序编译装置10，使用者可获得用于B型号的B测量程序，进而可让使用者不须购买A型号的CMM来执行对应的测量操作，而降低了成本。
当所述目标测量装置的所述类型属于计算机数值控制(Computer NumericalControl，CNC)工具机，所述输出模块根据所述目标测量装置的所述规格数据将所述标准化测量程序转换为一CNC测量程序。所述CNC测量程序被执行于所述目标测量装置，以使属于所述CNC工具机的所述目标测量装置可执行所述测量操作。值得一提的是，本申请的一进步点在于，可将原本不具备测量功能的CNC工具机，经由执行所产生的CNC测量程序于此CNC工具机上，而让所述CNC工具机可执行对应所述CAD文件的实体物件的测量操作，进而扩展了CNC工具机的功用，也节省了添购CMM的成本。
图8是依照本发明的一实施例所绘示的路径预览的示意图。请参照图8，在本实施例中，所述输出模块113还用以将所述标准化测量程序转换为一路径预览程序。所述路径预览程序用以输出用于所述测量操作的测量器的移动路径信息。
所述移动路径信息用以指示在所执行的所述测量操作中所述测量器相对于所述实体物件的移动路径RT1，并且所述移动路径RT1可被显示于所述显示单元所显示的所述实体物件的所述CAD图像上。
所产生的对应目标测量装置(如，测量装置30)的目标测量程序D3可经由网络连线NL被传送至目标测量装置30(如图2A的箭头A05所示)，以使目标测量装置30可藉由执行所述目标测量程序来执行对应所述CAD文件的测量操作。
值得一提的是，在本范例实施例中，测量程序编译模块是以软件的方式来实施，但本发明不限于此。例如，在一实施例中，测量程序编译模块的各个程序代码模块也可以硬件电路的方式来实施：转换模块111可被实作为具有转换模块111的功能的转换电路单元；参数设定模块112可被实作为具有参数设定模块112的功能的参数设定电路单元；输出模块113可被实作为具有输出模块113的功能的输出电路单元；显示模块114可被实作为具有显示模块114的功能的显示电路单元。
综上所述，本发明的实施例所提供的测量程序编译装置与测量程序编译方法，可根据解析CAD文件所获得的多个CAD图像参数与解析第一测量程序所获得的多个第一测量参数来产生多个标准化测量参数，根据所述多个标准化测量参数来产生对应该CAD文件的一标准化测量程序，以基于需求，将所述标准化测量程序转换为对应不同类型的目标测量装置的目标测量程序，进而增进了所编译的目标测量程序的应用范围，更可在不占用目标测量装置的情况下，有效率地编译执行于目标测量装置的测量程序。
虽然本发明已以实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，本领域技术人员在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，故本发明的保护范围当视所附权利要求书界定范围为准。

Claims (19)

1.一种测量程序编译装置，用于根据计算机辅助设计(Computer Aided Design，CAD)文件产生用以执行测量操作的测量程序，其中该测量操作用以测量对应该CAD文件的实体物件，所述测量程序编译装置包括：
显示单元，用以显示图像；
输入单元，用以接收使用者所施加于该输入单元的输入操作；
存储单元，用以记录多个程序代码模块与该CAD文件；以及
处理器，耦接该显示单元、该输入单元以及该存储单元，以存取并执行所述多个程序代码模块，以实现测量程序编译方法，所述多个程序代码模块包括：
转换模块，用以解析第一测量程序，以获得对应该第一测量程序的多个第一测量参数，并且将所述多个第一测量参数转换为对应多个规划操作与该测量操作的多个第二测量参数，其中该处理器接收该第一测量程序，其中该第一测量程序为对应坐标测量机(Coordinate Measuring Machine，CMM)的专用的CMM测量程序；
参数设定模块，用以解析该CAD文件获得多个CAD图像参数，并且根据所述多个第二测量参数与所述多个CAD图像参数来产生多个标准化测量参数，其中该参数设定模块还用以接收对应所述多个规划操作的多个参数输入操作来更新所述多个第二测量参数，其中所述多个CAD图像参数用以绘制该实体物件的CAD图像；以及
输出模块，用以根据所述多个标准化测量参数来产生对应该CAD文件的标准化测量程序，其中该输出模块还用以根据目标测量装置的规格数据将该标准化测量程序转换为执行于该目标测量装置的目标测量程序。
2.如权利要求1所述的测量程序编译装置，其中所述多个程序代码模块还包括：
显示模块，用以显示用户界面于该显示单元，其中该用户界面包括多个参数设定界面，其中多个参数设定界面用以接收所述多个参数输入操作，
其中该显示模块还用以显示该实体物件的该CAD图像以及测量信息于该显示单元。
3.如权利要求1所述的测量程序编译装置，其中在根据该目标测量装置的该规格数据将该标准化测量程序转换为执行于该目标测量装置的该目标测量程序的运作中，
该输出模块还用以读取该目标测量装置的该规格数据，并且根据该规格数据与该目标测量装置的类型，将该标准化测量程序转换为执行于该目标测量装置的该目标测量程序，
其中当该目标测量装置的该类型属于CMM，该输出模块根据该目标测量装置的该规格数据将该标准化测量程序转换为CMM测量程序，其中该CMM测量程序被执行于该目标测量装置，以使属于该CMM的该目标测量装置可执行该测量操作，
其中当该目标测量装置的该类型属于计算机数值控制(Computer NumericalControl，CNC)工具机，该输出模块根据该目标测量装置的该规格数据将该标准化测量程序转换为CNC测量程序，其中该CNC测量程序被执行于该目标测量装置，以使属于该CNC工具机的该目标测量装置可执行该测量操作。
4.如权利要求1所述的测量程序编译装置，其中
该输出模块还用以将该标准化测量程序转换为路径预览程序，其中该路径预览程序用以输出用于该测量操作的测量器的移动路径信息，其中该移动路径信息用以指示在所执行的该测量操作中该测量器相对于该实体物件的移动路径，并且该移动路径可被显示于该显示单元所显示的该实体物件的该CAD图像上。
5.如权利要求1所述的测量程序编译装置，其中该参数设定模块包括：
测量参数设定模块，用以执行对应所述多个规划操作的测量参数规划操作，其中在所述测量参数规划操作中，该测量参数设定模块根据对应该测量参数规划操作的部分的所述多个第二测量参数来设定用于该测量操作的自动化模式、测量器移动速度、测量速度、坐标系、测量距离与安全距离。
6.如权利要求5所述的测量程序编译装置，其中该参数设定模块还包括：
测量器设定模块，用以执行对应所述多个规划操作的测量器规划操作，其中在所述测量器规划操作中，该测量器设定模块根据对应该测量器规划操作的部分的所述多个第二测量参数来设定用于该测量操作的测量器的样式，
其中该测量器包括测量探针，其中对应该测量器规划操作的部分的所述多个第二测量参数包括测量探针信息，其中该测量器设定模块更根据该测量探针信息直接决定该测量器的该样式。
7.如权利要求6所述的测量程序编译装置，其中该参数设定模块还包括：
测量特征设定模块，用以执行对应所述多个规划操作的测量特征规划操作，其中在所述测量特征规划操作中，该测量特征设定模块根据对应该测量特征规划操作的部分的所述多个第二测量参数来设定该测量操作中属于不同的多个测量特征的多个子测量操作，所述多个测量特征包括
点测量特征，其中该测量特征设定模块设定且检验所述多个子测量操作中属于该点测量特征的多个点测量操作的测量点；
线测量特征，其中该测量特征设定模块设定且检验所述多个子测量操作中属于该线测量特征的多个线测量操作的测量线；
面测量特征，其中该测量特征设定模块设定且检验所述多个子测量操作中属于该面测量特征的多个面测量操作的测量面；以及
圆测量特征，其中该测量特征设定模块设定且检验所述多个子测量操作中属于该圆测量特征的多个圆测量操作的测量圆。
8.如权利要求7所述的测量程序编译装置，其中在根据所述多个第二测量参数与所述多个CAD图像参数来产生所述多个标准化测量参数的运作中，
该测量特征设定模块根据所述多个CAD图像参数来检验所述多个第二测量参数中对应所述多个点测量操作的该测量点的多个第三测量参数是否合法，其中该测量特征设定模块根据合法的所述多个第三测量参数来产生对应所述多个点测量操作的多个标准化测量参数，
该测量特征设定模块根据所述多个CAD图像参数来检验所述多个第二测量参数中对应所述多个线测量操作的该测量线的多个第四测量参数是否合法，其中该测量特征设定模块根据合法的所述多个第四测量参数来产生对应所述多个线测量操作的多个标准化测量参数，
该测量特征设定模块根据所述多个CAD图像参数来检验所述多个第二测量参数中对应所述多个面测量操作的该测量面的多个第五测量参数是否合法，其中该测量特征设定模块根据合法的所述多个第五测量参数来产生对应所述多个面测量操作的多个标准化测量参数，
该测量特征设定模块根据所述多个CAD图像参数来检验所述多个第二测量参数中对应所述多个圆测量操作的该测量圆的多个第六测量参数是否合法，其中该测量特征设定模块根据合法的所述多个第六测量参数来产生对应所述多个圆测量操作的多个标准化测量参数。
9.如权利要求7所述的测量程序编译装置，其中该参数设定模块还包括：
几何设定模块，用以执行对应所述多个规划操作的几何尺寸与公差规划操作，其中在所述几何尺寸与公差规划操作中，该几何设定模块根据对应该几何尺寸与公差规划操作的部分的所述多个第二测量参数来设定所述多个子测量操作各自的多个几何参数，其中所述多个几何参数包括下列多个参数的一或多个：
参考点坐标；
直径；
直线度；
平面度；
真圆度；
位置度；
距离；
角度；
平行度；
垂直度。
10.一种测量程序编译方法，用于根据计算机辅助设计(Computer Aided Design，CAD)文件产生用以执行测量操作的测量程序，其中该测量操作用以测量对应该CAD文件的实体物件，所述方法包括：
解析第一测量程序，以获得对应该第一测量程序的多个第一测量参数，并且将所述多个第一测量参数转换为对应多个规划操作与该测量操作的多个第二测量参数，其中该第一测量程序为对应坐标测量机(Coordinate Measuring Machine，CMM)的专用的CMM测量程序；
接收对应所述多个规划操作的多个参数输入操作来更新所述多个第二测量参数；
解析该CAD文件获得多个CAD图像参数，并且根据所述多个第二测量参数与所述多个CAD图像参数来产生多个标准化测量参数，其中所述多个CAD图像参数用以绘制该实体物件的CAD图像；
根据所述多个标准化测量参数来产生对应该CAD文件的标准化测量程序；
根据目标测量装置的规格数据将该标准化测量程序转换为执行于该目标测量装置的目标测量程序。
11.如权利要求10所述的测量程序编译方法，还包括：
显示用户界面，其中该用户界面包括多个参数设定界面，其中多个参数设定界面用以接收所述多个参数输入操作；以及
显示该实体物件的该CAD图像以及测量信息于该显示单元。
12.如权利要求10所述的测量程序编译方法，所述根据该目标测量装置的该规格数据将该标准化测量程序转换为执行于该目标测量装置的该目标测量程序的步骤包括：
读取该目标测量装置的该规格数据，并且根据该规格数据与该目标测量装置的类型，将该标准化测量程序转换为执行于该目标测量装置的该目标测量程序，
其中当该目标测量装置的该类型属于CMM，根据该目标测量装置的该规格数据将该标准化测量程序转换为CMM测量程序，其中该CMM测量程序被执行于该目标测量装置，以使属于该CMM的该目标测量装置可执行该测量操作，
其中当该目标测量装置的该类型属于计算机数值控制(Computer NumericalControl，CNC)工具机，根据该目标测量装置的该规格数据将该标准化测量程序转换为CNC测量程序，其中该CNC测量程序被执行于该目标测量装置，以使属于该CNC工具机的该目标测量装置可执行该测量操作。
13.如权利要求10所述的测量程序编译方法，还包括：
将该标准化测量程序转换为路径预览程序，其中该路径预览程序用以输出用于该测量操作的测量器的移动路径信息，其中该移动路径信息用以指示在所执行的该测量操作中该测量器相对于该实体物件的移动路径，并且该移动路径可被显示于该显示单元所显示的该实体物件的该CAD图像上。
14.如权利要求10所述的测量程序编译方法，还包括：
执行对应所述多个规划操作的测量参数规划操作，其中在所述测量参数规划操作中，用于该测量操作的自动化模式、测量器移动速度、测量速度、坐标系、测量距离与安全距离根据对应该测量参数规划操作的部分的所述多个第二测量参数被设定。
15.如权利要求14所述的测量程序编译方法，还包括：
执行对应所述多个规划操作的测量器规划操作，其中在所述测量器规划操作中，用于该测量操作的测量器的样式根据对应该测量器规划操作的部分的所述多个第二测量参数被设定，
其中该测量器包括测量探针，其中对应该测量器规划操作的部分的所述多个第二测量参数包括测量探针信息，其中该测量器的该样式经由该测量探针信息被直接决定。
16.如权利要求15所述的测量程序编译方法，还包括：
执行对应所述多个规划操作的测量特征规划操作，其中在所述测量特征规划操作中，该测量操作中属于不同的多个测量特征的多个子测量操作根据对应该测量特征规划操作的部分的所述多个第二测量参数被设定，所述多个测量特征包括
点测量特征，其中所述多个子测量操作中属于该点测量特征的多个点测量操作的测量点根据所述多个CAD图像参数与部分的所述多个第二测量参数被设定且检验；
线测量特征，其中所述多个子测量操作中属于该线测量特征的多个线测量操作的测量线根据所述多个CAD图像参数与部分的所述多个第二测量参数被设定且检验；
面测量特征，其中所述多个子测量操作中属于该面测量特征的多个面测量操作的测量面根据所述多个CAD图像参数与部分的所述多个第二测量参数被设定且检验；以及
圆测量特征，其中所述多个子测量操作中属于该圆测量特征的多个圆测量操作的测量圆根据所述多个CAD图像参数与部分的所述多个第二测量参数被设定且检验。
17.如权利要求16所述的测量程序编译方法，其中根据所述多个第二测量参数与所述多个CAD图像参数来产生所述多个标准化测量参数的步骤包括：
根据所述多个CAD图像参数来检验所述多个第二测量参数中对应所述多个点测量操作的该测量点的多个第三测量参数是否合法，其中对应所述多个点测量操作的多个标准化测量参数根据合法的所述多个第三测量参数被产生；
根据所述多个CAD图像参数来检验所述多个第二测量参数中对应所述多个线测量操作的该测量线的多个第四测量参数是否合法，其中对应所述多个线测量操作的多个标准化测量参数根据合法的所述多个第四测量参数被产生；
根据所述多个CAD图像参数来检验所述多个第二测量参数中对应所述多个面测量操作的该测量面的多个第五测量参数是否合法，其中对应所述多个面测量操作的多个标准化测量参数根据合法的所述多个第五测量参数被产生；以及
根据所述多个CAD图像参数来检验所述多个第二测量参数中对应所述多个圆测量操作的该测量圆的多个第六测量参数是否合法，其中对应所述多个圆测量操作的多个标准化测量参数根据合法的所述多个第六测量参数被产生。
18.如权利要求16所述的测量程序编译方法，还包括：
执行对应所述多个规划操作的几何尺寸与公差规划操作，其中在所述几何尺寸与公差规划操作中，所述多个子测量操作各自的多个几何参数根据对应该几何尺寸与公差规划操作的部分的所述多个第二测量参数被设定，其中所述多个几何参数包括下列多个参数的一或多个：
参考点坐标；
直径；
直线度；
平面度；
真圆度；
位置度；
距离；
角度；
平行度；以及
垂直度。
19.一种计算机可读记录介质，当被载入于测量程序编译装置时，该测量程序编译装置可执行如权利要求10-18项其中的任一项所述的测量程序编译方法。
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