CN111337441A - 一致性调节方法及相关设备 - Google Patents

一致性调节方法及相关设备 Download PDF

Info

Publication number
CN111337441A
CN111337441A CN202010174124.7A CN202010174124A CN111337441A CN 111337441 A CN111337441 A CN 111337441A CN 202010174124 A CN202010174124 A CN 202010174124A CN 111337441 A CN111337441 A CN 111337441A
Authority
CN
China
Prior art keywords
detector
light source
adjusted
adjusting
output voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202010174124.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111337441B (zh
Inventor
庞志
卢梓见
杨建洪
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Lightsun Technology Co ltd
Original Assignee
Shenzhen Lightsun Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Lightsun Technology Co ltd filed Critical Shenzhen Lightsun Technology Co ltd
Priority to CN202010174124.7A priority Critical patent/CN111337441B/zh
Publication of CN111337441A publication Critical patent/CN111337441A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111337441B publication Critical patent/CN111337441B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G01J2003/2859—Peak detecting in spectrum

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明实施例公开一种一致性调节方法及相关设备，其中，利用特定光源发射光束至第一检测器上，并通过调节特定光源的光照强度、第一检测器的放大倍数，以使第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一检测器，其中，特定光源的光谱强度主峰波长位于由第一检测器的光谱敏感度主峰波长确定的第一波长阈值内，以使第一检测器对特定光源保持较高的检测敏感度，以提高对第一检测器的调节精度；再基于调节后的第一检测器，调节第一光源的光照强度，直至调节后的第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一光源，以调节后的第一检测器作为参考点对第一光源进行调节，可以确保调节后的第一光源之间具有良好的一致性。

Description

一致性调节方法及相关设备
技术领域
本发明涉及仪器调整技术领域，具体涉及一致性调整技术领域，尤其涉及一种一致性调节方法、一种一致性调节装置、一种化学分析仪器、一种一致性调节设备及一种计算机存储介质。
背景技术
分光光度法是通过测定被测物质在特定波长处或一定波长范围内光的吸收度，对该物质进行定性和定量分析的方法。以分光光度法为理论基础的化学分析仪器被大规模地应用在各类化学实验中。
化学分析仪器的核心检测部分为单波长光源或多个单波长分时发光的复合型光源，以及在特定波长有峰值灵敏度的光检测器。为了便于化学分析仪器的生产，以及满足同种型号的化学分析仪器之间的数据结果的可比较性，需要对应用在同种型号的化学分析仪器上的光源做一致性调节。
发明内容
本发明实施例提供了一种一致性调节方法及相关设备，可以对光源的一致性进行调整。
一方面，本发明实施例提供了一种一致性调节方法，包括：
调节特定光源的光照强度、第一检测器的放大倍数，直至所述第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一检测器，所述特定光源的光谱强度主峰波长位于由所述第一检测器的光谱敏感度主峰波长确定的第一波长阈值内；
调节第一光源的光照强度，直至所述调节后的第一检测器的输出电压位于所述第一电压阈值内，得到调节后的第一光源。
可选地，所述的方法还包括：
基于所述调节后的第一光源，调节所述第二检测器的放大倍数，直至所述第二检测器的输出电压位于所述第一电压阈值内，得到调节后的第二检测器。
可选地，所述的方法还包括：
调节第二光源的光照强度，直至所述调节后的第二检测器的输出电压位于所述第一电压阈值内，得到调节后的第二光源。
可选地，所述调节特定光源的光照强度、第一检测器的放大倍数，直至所述第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一检测器，包括：
调节所述特定光源的光照强度以使所述第一检测器的输出电压下降，直至所述第一检测器的输出电压无明显下降；
调节所述第一检测器的放大倍数以使所述第一检测器的输出电压下降，直至所述第一检测器的输出电压无明显下降；
调节所述特定光源的光照强度，直至所述第一检测器的输出电压位于第二电压阈值内，所述第一电压阈值大于所述第二电压阈值；
调节所述第一检测器的放大倍数，直至所述第一检测器的输出电压位于所述第一电压阈值内，得到调节后的第一检测器。
另一方面，本发明实施例提供了一种一致性调节装置，包括：
第一调节模块，用于调节特定光源的光照强度、第一检测器的放大倍数，直至所述第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一检测器，所述特定光源的光谱强度主峰波长位于由所述第一检测器的光谱敏感度主峰波长确定的第一波长阈值内；
第二调节模块，用于调节第一光源的光照强度，直至所述调节后的第一检测器的输出电压位于所述第一电压阈值内，得到调节后的第一光源。
可选地，所述的装置还包括：
第三调节模块，用于基于所述调节后的第一光源，调节所述第二检测器的放大倍数，直至所述第二检测器的输出电压位于所述第一电压阈值内，得到调节后的第二检测器。
可选地，所述的装置还包括：
第四调节模块，用于调节第二光源的光照强度，直至所述调节后的第二检测器的输出电压位于所述第一电压阈值内，得到调节后的第二光源。
另一方面，本发明实施例提供了一种化学分析仪器，包括利用所述的一致性调节方法得到的调节后的第一光源。
另一方面，本发明实施例提供了一种一致性调节设备，包括：处理器和存储器；
所述处理器和存储器相连，其中，所述存储器用于存储程序代码，所述处理器用于调用所述程序代码，以执行所述的一致性调节方法。
另一方面，本发明实施例提供了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时，执行所述的一致性调节方法。
本发明实施例中，利用特定光源发射光束至第一检测器上，并通过调节特定光源的光照强度、第一检测器的放大倍数，以使第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一检测器，其中，特定光源的光谱强度主峰波长位于由第一检测器的光谱敏感度主峰波长确定的第一波长阈值内，以使第一检测器对特定光源保持较高的检测敏感度，以提高对第一检测器的调节精度；再基于调节后的第一检测器，调节第一光源的光照强度，直至调节后的第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一光源，以调节后的第一检测器作为参考点对第一光源进行调节，可以确保调节后的第一光源之间具有良好的一致性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种一致性调节方法的流程示意图；
图2是本发明实施例提供的步骤101的流程示意图；
图3是本发明实施例提供的光源和检测器的派生层级示意图；
图4是本发明实施例提供的一种一致性调节装置的结构示意图；
图5是本发明实施例提供的一种一致性调节装置的结构示意图；
图6是本发明实施例提供的一种一致性调节设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
应当理解，本申请的说明书和权利要求书及附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
在本发明中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本发明的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本发明所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
已知现有技术中，为了保证化学分析仪器的测量结果的可比较性，需要确保同一型号的化学分析仪器中的光源和检测器之间具有一致性，因此，需要对光源和检测器进行一致性调整，本申请即提供一种对光源的一致性调节方法，以及对检测器的一致性调节方法。具体地，在以分光光度法为基本原理的化学分析仪器中，光源发出的光线经过溶液后达到检测器。其中溶液吸收了一部分的光线，削弱了光强。仪器根据获取的电压计算溶液的浓度。电压由光源、溶液浓度和检测器放大倍数三个主要因素决定。光源强度增加，其余两者不变，电压上升。溶液浓度增加，其余两者不变，电压下降。放大倍数增加，其余两者不变，电压上升。在化学分析仪器中，溶液浓度是自变量，所以调节好光源和检测器后，这两者就基本保持不变了。本申请的方法除了可以应用于上述化学分析仪器之外，对于包括光源和检测器的其他检测系统也适用。
请参见图1，是本发明实施例提供的一种一致性调节方法的流程示意图；一致性调节方法包括：
101、调节特定光源的光照强度、第一检测器的放大倍数，直至第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一检测器，特定光源的光谱强度主峰波长位于由第一检测器的光谱敏感度主峰波长确定的第一波长阈值内；
具体地，利用特定光源发射光束至第一检测器上，并获取第一检测器的输出电压，本申请中出现的输出电压均为经过检测器中的运算放大器放大后的电压。其中，特定光源的光谱强度主峰波长位于第一波长阈值Y1内，第一波长阈值由第一检测器的光谱敏感度主峰波长Z确定，以使第一检测器对特定光源保持较高的检测敏感度，以提高对第一检测器的调节精度；并且特定光源的光照强度稳定，在其生命周期内不会产生较大的变化，以确保在调节第一检测器的期间，光源的光照强度稳定，降低对第一检测器的调节误差。优选地，第一波长阈值Y1为Z与第一预设误差所确定的范围，假设第一预设误差为±10nm，则Y1为Z±10nm。第一预设误差也可以是±20nm，具体大小可以根据需要进行调节，在此不做特别限定。
再以特定光源作为参考点，通过调节特定光源的光照强度、第一检测器的放大倍数，以使第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一检测器。
102、调节第一光源的光照强度，直至调节后的第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一光源。
具体地，根据步骤101得到的调节后的第一检测器，对第一光源进行一致性调节，第一光源发射出光束至调节后的第一检测器。再调节第一光源的光照强度，直至调节后的第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一光源，以调节后的第一检测器作为参考点对第一光源进行调节，可以确保调节后的第一光源之间具有良好的一致性，即利用步骤101、步骤102可以对光源进行一致性调节。
值得注意的是，本实施例中的特定光源，其光照强度可以是未知的、任意的，步骤101中使用一定范围内任意光照强度的特定光源作为参考点进行调节，无需使用光强定量的光源，只需发光光谱固定、发光强度相对恒定的特定光源即可，这种特定光源的来源多样，较易获取，节省了调节成本。
进一步地，参考图1，一致性调节方法还包括：
103、基于调节后的第一光源，调节第二检测器的放大倍数，直至第二检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第二检测器。
具体地，以步骤102得到的调节后的第一光源作为参考点，对第二检测器进行一致性调节，可以得到调节后的第二检测器。调节后的第二检测器与调节后的第一检测器之间具有良好的一致性，利用步骤103可以对检测器进行一致性调节。其中，调节后的第一光源发射出光束至第二检测器上，再通过调节第二检测器的放大倍数(本申请中放大倍数均指检测器中运算放大器的放大倍数)，直至第二检测器的输出电压位于第一电压阈值内，即可得到调节后的第二检测器。
进一步地，一致性调节方法还包括：
调节第二光源的光照强度，直至调节后的第二检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第二光源。
具体地，第二光源发射出光束至调节后的第二检测器上，基于调节后的第二检测器，可以对第二光源进行调节，得到调节后的第二光源。由于是以调节后的第二检测器为参考点，因此，调节后的第二光源与调节后的第一光源之间具有一致性。
实际上，本实施例中，可以利用相同的一致性调节装置对光源、检测器进行一致性调节，则由于调节后的第一检测器、调节后的第二检测器、调节后的第一光源、调节后的第二光源是参考了同一个最初参考点(特定光源)且在同一个一致性调节装置中调节得到的，所以将它们应用于化学分析仪器等检测系统上时，不同的检测系统之间具有良好的一致性。
特别地，在优选实施方式中使用了可见光到近红外范围的硅光电池(硅光电池是一种直接把光能转换成电能的半导体器件)作为检测元件，优选光谱敏感度主峰波长在650nm的硅光电池。针对它进行外部电路设计后得到一种电路板，将这种电路板作为检测器(本文中所有的检测器，如第一检测器、第二检测器等)使用。另外，在优选实施方式中使用了发光二极管(优选光谱强度主峰波长为630nm的发光二极管)作为发光元件，针对它进行外部电路设计后得到一种电路板，将这种电路板作为特定光源使用。在进行一致性调节之前，特定光源已经在化学分析仪器的实际光路系统中调节到了合适的亮度。
而对于本申请中的第一光源、第二光源等光源，可以使用单波长的发光二极管(例如光谱强度主峰波长为880nm的发光二极管)作为发光元件，针对其进行外部电路设计得到电路板，将该电路板作为第一光源等光源。还可以使用多波长复合的发光二极管(例如880nm、630nm和550nm三种光谱强度主峰波长复合的发光二极管)作为发光元件，针对它进行外部电路设计后得到一种电路板，电路中还可以包括独立控制每个波长的开关。将这种电路板作为第一光源等光源使用。值得指出的是，本申请的一致性调节方法，对光源和检测器所处环境的要求是避光环境、环境温湿度恒定即可，避免光线、温湿度等环境因素增大调节误差。
更进一步地，参考图2，图2是本发明实施例提供的步骤101的流程示意图；步骤101包括：
201、调节特定光源的光照强度以使第一检测器的输出电压下降，直至第一检测器的输出电压无明显下降；
具体地，特定光源发射出光束照射在第一检测器上，第一检测器检测到光线则输出电压。向第一检测器的输出电压减小的方向调节特定光源的光照强度，直至第一检测器的输出电压无明显下降；此时表明，特定光源的光照强度减少已经不足以引起第一检测器的输出电压的变化，即第一检测器已经达到了当前放大倍数下的检测量程下限。其中，调节特定光源的光照强度是通过调节特定光源对应的电路板上的发光二极管的限流电阻的阻值大小来实现的。
202、调节第一检测器的放大倍数以使第一检测器的输出电压下降，直至第一检测器的输出电压无明显下降；
具体地，向第一检测器的输出电压减小的方向调节第一检测器的放大倍数，直至第一检测器的输出电压无明显下降；此时表明，第一检测器的放大倍数减少已经不足以引起第一检测器的输出电压的变化，即第一检测器已经达到了当前光源光照强度下的检测量程下限。其中，调节第一检测器的放大倍数是通过调节第一检测器对应电路板上的运算放大器的反馈电阻的大小来实现的。
203、调节特定光源的光照强度，直至第一检测器的输出电压位于第二电压阈值内，第一电压阈值大于第二电压阈值；
具体地，若把检测器作为独立的系统看待，其输入量是光照强度，输出量是电压，则其输入-输出特性是指输入一定量的光照强度会输出一定量的电压。而测量仪器的特性往往是靠近两头极端值的地方输入-输出线性度不好，或者误差较大，而接近量程中间的地方线性度较好。因此，为了使得调节后得到的第一检测器获得较大的动态范围和较好的线性度，同时还留有应对电子元件随时间而发生电气参数漂移的调节空间，本实施例中，第一电压阈值为根据第一检测器的输入-输出线性度较好的第一输出电压值和第二预设误差得到的范围，优选地，第一输出电压值为第一检测器的最大放大电压的70％-80％中的任一个数值，第一检测器的最大放大电压的大小由第一检测器的运算放大器决定，而第二预设误差可以为±1％，也可以根据需要设置成其他数值。优选地，第一电压阈值可以为第一检测器的最大放大电压的75％±1％。
而实际上，是结合光源的光照强度和检测器的放大倍数将第一检测器调节到第一电压阈值范围内，因此，本实施例中分两步进行调节，首先通过调节光源的光照强度使第一检测器的输出电压达到第二电压阈值，再通过调节检测器的放大倍数，使得第一检测器的输出电压达到第一电压阈值，第一电压阈值大于第二电压阈值。本实施例中，第二电压阈值为第一检测器的输入-输出线性度较好的第二输出电压值和第二预设误差得到的范围，第二输出电压值为第一检测器的最大放大电压的40％-60％中的任一个数值。优选地，第二电压阈值为第一检测器的最大放大电压的50％±1％。
以第二电压阈值为第一检测器的最大放大电压的50％±1％为例。实际调节时，在等待经过步骤201、步骤202调整后的输出电压示数稳定后，调节特定光源的光照强度，直至第一检测器的输出电压接近第一检测器的最大放大电压的50％，等待输出电压示数稳定后，重复上述调节步骤进行逐步调节，直到输出电压处于第一检测器的最大放大电压的50％±1％范围之内。
204、调节第一检测器的放大倍数，直至第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一检测器。
具体地，以第一电压阈值为第一检测器的最大放大电压的75％±1％为例。实际调节时，调节第一检测器的放大倍数，直至第一检测器的输出电压接近第一检测器的最大放大电压的75％，等待输出电压示数稳定，重复上述调节步骤进行逐步调节，直到输出电压处于第一检测器的最大放大电压的75％±1％范围之内。
通过图2的方法，可以对第一检测器进行调节，调节后的第一检测器有较大的动态范围和较好的线性度，同时还留有应对电子元件随时间而发生电气参数漂移的调节空间。
参考上述步骤203，以第一电压阈值为第一检测器的最大放大电压的75％±1％为例，步骤102的调节过程为：
1.在调节后的第一检测器的基础上进行，第一光源发射出光束至调节后的第一检测器上。
2.调节第一光源的光照强度，直至调节后的第一检测器的输出电压接近上述调节后的第一检测器的最大放大电压的75％。
3.等待输出电压示数稳定。
4.重复2到3步，直到调节后的第一检测器的输出电压处于上述调节后的第一检测器的最大放大电压的75％±1％。
通过1到4步，可以对第一光源进行调节，调节后的第一光源之间具有一致性。
参考上述步骤204，以第一电压阈值为第一检测器的最大放大电压的75％±1％为例，步骤103的调节过程为：
1.在调节后的第一光源的基础上进行，调节后的第一光源发射光束至第二检测器上。
2.调节第二检测器的放大倍数，直至第二检测器的输出电压接近上述调节后的第一检测器的最大放大电压的75％。
3.等待输出电压示数稳定。
4.重复2到3步，直到第二检测器的输出电压处于上述调节后的第一检测器的最大放大电压的75％±1％。
通过1到4步，可以对第二检测器进行调节，调节后的第二检测器与调节后的第一检测器之间具有一致性。
一般认为，电子器件会有自然老化的过程，使用次数越多，老化的速度也越快。再者，在实际生产的过程中，可能会因为各种各样的人为因素或意外情况导致标准器件被损坏。如果在生产中直接使用标准器件，一旦其发生损坏，后面参照其调节出来的化学仪器使用的器件就难以与前面参照其调节出来的器件保持一致性。因此，利用标准器件得到次级标准器件，次级标准器件存在的意义是避免直接使用标准器件去实际生产，如果在生产中使用次级标准器件，而将标准器件妥善保存起来，一旦次级标准器件发生损坏，还能取出完好的标准器件重新调节出新的次级标准器件，由此保证由次级标准器件调节得到的器件的一致性。
因此，在实际生产中，参考图3，图3是本发明实施例提供的光源和检测器的派生层级示意图；将调节后的第一检测器作为标准检测器，而将利用标准检测器调节后得到的一个第一光源保存作为标准光源，其余利用标准检测器调节后得到的第一光源作为次级标准光源，次级标准光源用于实际生产中调节检测器的一致性，即利用次级标准光源和步骤103的方法调节得到后续用在化学分析仪器等检测系统中的检测器。标准检测器在调节得到标准光源和次级标准光源后，便会被存放起来。值得注意的是，每一次派生都会引入误差，包括系统误差和人为误差，高派生层级会使得后面派生出来的器件与原版相去甚远，造成失真。因此，为了减少派生级数，还是以标准检测器为参照，调节出次级标准光源。
同样地，为了调节后续用于化学分析仪器等检测系统的光源，需要次级标准检测器，具体地，将调节后的第二检测器作为次级标准检测器，利用标准光源调节得到次级标准检测器后，标准光源便会被存放起来。在次级标准检测器被调节出来后，会先与标准检测器做比较，再相同的照射环境下，两者的电压读数不超过±1％才能认为次级标准检测器合格。次级标准检测器在使用了一定时间或调节了一定数量的光源板后会再次与标准检测器比较，若不合格就会被抛弃重新再制。即实际生产中，利用次级标准检测器和步骤102的方法调节得到用于化学分析仪器等检测系统的光源。
由次级标准光源和次级标准检测器调节得到的光源和检测器，由于它们是参考同一最初的参考点(特定光源)，所以，光源之间具有一致性，检测器之间也具有一致性，由它们组成的检测系统具有良好的一致性。
基于上述一致性调节方法实施例的描述，本发明实施例还公开了一种一致性调节装置，参考图4，图4是本发明实施例提供的一种一致性调节装置的结构示意图，一致性调节装置包括：
第一调节模块401，用于调节特定光源的光照强度、第一检测器的放大倍数，直至第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一检测器，特定光源的光谱强度主峰波长位于由第一检测器的光谱敏感度主峰波长确定的第一波长阈值内；
第二调节模块402，用于调节第一光源的光照强度，直至调节后的第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一光源。
进一步地，参考图4，一致性调节装置还包括：
第三调节模块403，用于基于调节后的第一光源，调节第二检测器的放大倍数，直至第二检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第二检测器。
进一步地，一致性调节装置还包括：
第四调节模块，用于调节第二光源的光照强度，直至调节后的第二检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第二光源。
进一步地，参考图5，图5是本发明实施例提供的一种一致性调节装置的结构示意图；第一调节模块包括：
第一子模块501，用于调节特定光源的光照强度以使第一检测器的输出电压下降，直至第一检测器的输出电压无明显下降；
第二子模块502，用于调节第一检测器的放大倍数以使第一检测器的输出电压下降，直至第一检测器的输出电压无明显下降；
第三子模块503，用于调节特定光源的光照强度，直至第一检测器的输出电压位于第二电压阈值内，第一电压阈值大于第二电压阈值；
第四子模块504，用于调节第一检测器的放大倍数，直至第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一检测器。
值得指出的是，其中，一致性调节装置的具体功能实现方式可以参见上述一致性调节方法的描述，这里不再进行赘述。所述的一致性调节装置中的各个单元或模块可以分别或全部合并为一个或若干个另外的单元或模块来构成，或者其中的某个(些)单元或模块还可以再拆分为功能上更小的多个单元或模块来构成，这可以实现同样的操作，而不影响本发明的实施例的技术效果的实现。上述单元或模块是基于逻辑功能划分的，在实际应用中，一个单元(或模块)的功能也可以由多个单元(或模块)来实现，或者多个单元(或模块)的功能由一个单元(或模块)实现。
本发明实施例还提供了一种化学分析仪器，包括利用上述的一致性调节方法得到的调节后的第一检测器、调节后的第二检测器、调节后的第一光源、调节后的第二光源、根据调节后的第二检测器进一步调节得到的光源(如图3中的仪器用的光源)、根据调节后的第二光源进一步调节得到的检测器(如图3中的仪器用的检测器)中的一个以上。
基于上述方法实施例以及装置实施例的描述，本发明实施例还提供一种一致性调节设备。
请参见图6，是本发明实施例提供的一种一致性调节设备的结构示意图。如图6所示，上述的一致性调节装置可以应用于所述一致性调节设备600，所述一致性调节设备600可以包括：处理器601，网络接口604和存储器605，此外，所述一致性调节设备600还可以包括：用户接口603，和至少一个通信总线602。其中，通信总线602用于实现这些组件之间的连接通信。其中，用户接口603可以包括显示屏(Display)、键盘(Keyboard)，可选用户接口603还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口604可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。存储器605可以是高速RAM存储器，也可以是非不稳定的存储器(non-volatile memory)，例如至少一个磁盘存储器。存储器605可选的还可以是至少一个位于远离前述处理器601的存储装置。如图6所示，作为一种计算机存储介质的存储器605中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及设备控制应用程序。
在图6所示的一致性调节设备600中，网络接口604可提供网络通讯功能；而用户接口603主要用于为用户提供输入的接口；而处理器601可以用于调用存储器605中存储的设备控制应用程序，以实现：
调节特定光源的光照强度、第一检测器的放大倍数，直至第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一检测器，特定光源的光谱强度主峰波长位于由第一检测器的光谱敏感度主峰波长确定的第一波长阈值内；
调节第一光源的光照强度，直至调节后的第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一光源。
在一个实施例中，所述处理器601还执行以下步骤：
基于调节后的第一光源，调节第二检测器的放大倍数，直至第二检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第二检测器。
在一个实施例中，所述处理器601还执行以下步骤：
调节第二光源的光照强度，直至调节后的第二检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第二光源。
在一个实施例中，所述处理器601在执行调节特定光源的光照强度、第一检测器的放大倍数，直至第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一检测器时，具体执行以下步骤：
调节特定光源的光照强度以使第一检测器的输出电压下降，直至第一检测器的输出电压无明显下降；
调节第一检测器的放大倍数以使第一检测器的输出电压下降，直至第一检测器的输出电压无明显下降；
调节特定光源的光照强度，直至第一检测器的输出电压位于第二电压阈值内，第一电压阈值大于第二电压阈值；
调节第一检测器的放大倍数，直至第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一检测器。
应当理解，本发明实施例中所描述的一致性调节设备600可执行前文所述一致性调节方法，也可执行前文所述一致性调节装置的描述，在此不再赘述。另外，对采用相同方法的有益效果描述，也不再进行赘述。
此外，这里需要指出的是：本发明实施例还提供了一种计算机存储介质，且所述计算机存储介质中存储有前文提及的一致性调节装置所执行的计算机程序，且所述计算机程序包括程序指令，当所述处理器执行所述程序指令时，能够执行前文所述一致性调节方法的描述，因此，这里将不再进行赘述。另外，对采用相同方法的有益效果描述，也不再进行赘述。对于本发明所涉及的计算机存储介质实施例中未披露的技术细节，请参照本发明方法实施例的描述。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(Random AccessMemory，RAM)等。
以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明权利要求所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。

Claims (10)

1.一种一致性调节方法，其特征在于，包括：
调节特定光源的光照强度、第一检测器的放大倍数，直至所述第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一检测器，所述特定光源的光谱强度主峰波长位于由所述第一检测器的光谱敏感度主峰波长确定的第一波长阈值内；
调节第一光源的光照强度，直至所述调节后的第一检测器的输出电压位于所述第一电压阈值内，得到调节后的第一光源。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
基于所述调节后的第一光源，调节所述第二检测器的放大倍数，直至所述第二检测器的输出电压位于所述第一电压阈值内，得到调节后的第二检测器。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：
调节第二光源的光照强度，直至所述调节后的第二检测器的输出电压位于所述第一电压阈值内，得到调节后的第二光源。
4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述调节特定光源的光照强度、第一检测器的放大倍数，直至所述第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一检测器，包括：
调节所述特定光源的光照强度以使所述第一检测器的输出电压下降，直至所述第一检测器的输出电压无明显下降；
调节所述第一检测器的放大倍数以使所述第一检测器的输出电压下降，直至所述第一检测器的输出电压无明显下降；
调节所述特定光源的光照强度，直至所述第一检测器的输出电压位于第二电压阈值内，所述第一电压阈值大于所述第二电压阈值；
调节所述第一检测器的放大倍数，直至所述第一检测器的输出电压位于所述第一电压阈值内，得到调节后的第一检测器。
5.一种一致性调节装置，其特征在于，包括：
第一调节模块，用于调节特定光源的光照强度、第一检测器的放大倍数，直至所述第一检测器的输出电压位于第一电压阈值内，得到调节后的第一检测器，所述特定光源的光谱强度主峰波长位于由所述第一检测器的光谱敏感度主峰波长确定的第一波长阈值内；
第二调节模块，用于调节第一光源的光照强度，直至所述调节后的第一检测器的输出电压位于所述第一电压阈值内，得到调节后的第一光源。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括：
第三调节模块，用于基于所述调节后的第一光源，调节所述第二检测器的放大倍数，直至所述第二检测器的输出电压位于所述第一电压阈值内，得到调节后的第二检测器。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括：
第四调节模块，用于调节第二光源的光照强度，直至所述调节后的第二检测器的输出电压位于所述第一电压阈值内，得到调节后的第二光源。
8.一种化学分析仪器，其特征在于，包括利用权利要求1至4任一项所述的一致性调节方法得到的调节后的第一光源。
9.一种一致性调节设备，其特征在于，包括：处理器和存储器；
所述处理器和存储器相连，其中，所述存储器用于存储程序代码，所述处理器用于调用所述程序代码，以执行如权利要求1至4任一项所述的一致性调节方法。
10.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时，执行如权利要求1至4任一项所述的一致性调节方法。
CN202010174124.7A 2020-03-12 2020-03-12 一致性调节方法及相关设备 Active CN111337441B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010174124.7A CN111337441B (zh) 2020-03-12 2020-03-12 一致性调节方法及相关设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010174124.7A CN111337441B (zh) 2020-03-12 2020-03-12 一致性调节方法及相关设备

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111337441A true CN111337441A (zh) 2020-06-26
CN111337441B CN111337441B (zh) 2023-03-14

Family

ID=71186603

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010174124.7A Active CN111337441B (zh) 2020-03-12 2020-03-12 一致性调节方法及相关设备

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111337441B (zh)

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2511693A1 (en) * 2011-04-13 2012-10-17 F. Hoffmann-La Roche AG Analysis System with a spectrally controlled light source
CN103069259A (zh) * 2010-08-18 2013-04-24 株式会社岛津制作所 分光光度计
US20140353504A1 (en) * 2013-05-31 2014-12-04 Canon Kabushiki Kaisha Light source adjustment unit, optical measurement device, subject information obtaining system, and wavelength adjustment program
US20150146751A1 (en) * 2013-11-19 2015-05-28 Usl Technologies, Llc High-stability light source system and method
CN105928911A (zh) * 2016-04-11 2016-09-07 深圳市华科瑞科技有限公司 一种荧光检测仪器的校准方法
CN107209059A (zh) * 2014-12-01 2017-09-26 仪器系统光学测量技术有限责任公司 用于校准光谱辐射仪的方法
US20180224334A1 (en) * 2017-02-09 2018-08-09 Savannah River Nuclear Solutions, Llc High accuracy absorbance spectrophotometers
CN109059987A (zh) * 2018-07-02 2018-12-21 Oppo（重庆）智能科技有限公司 一种校准光传感器的方法、装置及移动终端
CN109211406A (zh) * 2017-07-07 2019-01-15 株式会社岛津制作所 傅立叶变换红外分光光度计
CN109330547A (zh) * 2018-09-06 2019-02-15 苏州新光维医疗科技有限公司 光源的调节方法、装置、设备及内窥镜
CN110207820A (zh) * 2018-02-28 2019-09-06 罗伯特·博世有限公司 用于运行光谱仪的方法和设备以及光谱仪

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103069259A (zh) * 2010-08-18 2013-04-24 株式会社岛津制作所 分光光度计
EP2511693A1 (en) * 2011-04-13 2012-10-17 F. Hoffmann-La Roche AG Analysis System with a spectrally controlled light source
US20140353504A1 (en) * 2013-05-31 2014-12-04 Canon Kabushiki Kaisha Light source adjustment unit, optical measurement device, subject information obtaining system, and wavelength adjustment program
US20150146751A1 (en) * 2013-11-19 2015-05-28 Usl Technologies, Llc High-stability light source system and method
CN107209059A (zh) * 2014-12-01 2017-09-26 仪器系统光学测量技术有限责任公司 用于校准光谱辐射仪的方法
CN105928911A (zh) * 2016-04-11 2016-09-07 深圳市华科瑞科技有限公司 一种荧光检测仪器的校准方法
US20180224334A1 (en) * 2017-02-09 2018-08-09 Savannah River Nuclear Solutions, Llc High accuracy absorbance spectrophotometers
CN109211406A (zh) * 2017-07-07 2019-01-15 株式会社岛津制作所 傅立叶变换红外分光光度计
CN110207820A (zh) * 2018-02-28 2019-09-06 罗伯特·博世有限公司 用于运行光谱仪的方法和设备以及光谱仪
CN109059987A (zh) * 2018-07-02 2018-12-21 Oppo（重庆）智能科技有限公司 一种校准光传感器的方法、装置及移动终端
CN109330547A (zh) * 2018-09-06 2019-02-15 苏州新光维医疗科技有限公司 光源的调节方法、装置、设备及内窥镜

Also Published As

Publication number Publication date
CN111337441B (zh) 2023-03-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108368473B (zh) 生物粒子计数器的校正方法及生物粒子计数器的校正装置
JP4928938B2 (ja) 蛍光ｘ線分析方法および蛍光ｘ線分析装置
CN111337441B (zh) 一致性调节方法及相关设备
Granek et al. Advanced system for calibration and characterization of solar cells
CN108344688A (zh) 光谱仪及其光谱测量方法
US11519782B2 (en) Offset nulling for optical power meters
JP6167920B2 (ja) 分光光度計
US6218666B1 (en) Method of determining the concentration of a gas in a gas mixture and analyzer for implementing such a method
JP2007078502A (ja) 発光体の測光装置
Krüger et al. A flexible measurement system for absorption spectrometry using LED light sources and a high accuracy two-channel ADC for simultaneous sampling
JPS58124931A (ja) 原子吸光分光光度計およびそれを用いる分析方法
CN114112314B (zh) 一种多功能光电探测系统探测性能测试方法
Gentilin et al. Development and testing of a hardware platform for measuring instruments based on near-infrared diffuse reflection
Tatrai et al. Embedded system based data acquisition and control system for photoacoustic spectroscopic applications
EP3624567B1 (en) System and method of dynamic color adjustment
US7499821B2 (en) Sensor drift characteristic testing
EP2960640A1 (en) Particle detecting device and particle detecting method
CN111157499A (zh) 一种荧光检测仪器的校准方法
KR102422021B1 (ko) 광 검출기 선택 장치 및 방법과, 산란계수 측정 장치 및 방법
CN216820171U (zh) 红外气体检测设备恒功率光源控制电路
JPS5821144A (ja) 高精度全自動ｉｃｐ分析法
CN117387763B (zh) 光谱仪测试标定方法、装置及设备
Zahiri-Rad et al. A combined optical-electronic simulation approach for a comprehensive discussion of the performance of visible light positioning under tunable lighting conditions
Masi et al. A compact system for measurement of absorbance of light
CN115078312A (zh) 一种样本检测光路盒、光强调节方法和存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant