CN111337439A - 一种多模式光谱测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种多模式光谱测试装置，可置于光谱仪样品仓内完成联用，并可通用于多种形态样品的吸收和发射光谱测试。本发明还可通过光纤转接组件耦合光纤实现远程激发和测量。所述装置包括：样品箱，所述样品箱上设置有装配孔，用于耦合光源或输出光路器件；连接座，所述连接座设置在所述样品箱内。
Description
技术领域
本发明公开了一种多模式光谱测试装置，属于光学检测技术领域。
背景技术
在变温光学检测中，多采用松散组合的样品箱和光学激发或检测装置进行联用，实现材料的光学特性测试。这类联用装置不便放置在光谱仪样品仓或暗室内与光谱探测系统联用，且不能通用于多种形态样品发射光谱和吸收光谱测试。因此需要设计出一种光谱测试装置以解决上述问题。
发明内容
本发明提供了一种多模式光谱测试装置，可置于光谱仪样品仓或暗室内与光谱探测系统联用，并可通用于多种形态样品的吸收和发射光谱测试。本发明还可通过光纤转接组件耦合光纤实现远程激发和测量。
根据本发明第一种技术方案，所述装置包括：样品箱，所述样品箱由六个壁装配而成，包括顶壁、底壁和四个侧壁，所述样品箱的除所述底壁之外的其余壁至少有两个上设有装配孔，用于耦合光源或输出光路器件；连接座，所述连接座设置在所述样品箱内。
根据本发明第一种技术方案的改进方案，所述连接座设置在所述样品箱底壁上。
根据本发明的第一种技术方案的进一步改进方案的第一个优选方案，所述装置还包括避光塞和光纤转接组件，所述光纤转接组件装配在至少两个装配孔上，且所述样品箱上设置至少一个除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的其余装配孔，所述避光塞装配在除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的其余装配孔上。
根据本发明的第一种技术方案的进一步改进方案的第二个优选方案，所述装置还包括光纤转接组件，所述光纤转接组件装配在至少一个所述装配孔上。
根据本发明的第一种技术方案的进一步改进方案的第三个优选方案，所述装置还包括光源，所述光源装配在任意一个所述装配孔上。
根据本发明的第一种技术方案的进一步改进方案的第一个优选方案的改进方案，所述装置还包括光源，所述光源替代所述避光塞或所述光纤转接组件装配在任意一个所述装配孔上，当所述样品箱上设置有装配所述光纤转接组件或所述避光塞的装配孔时，所述光源替代一个所述光纤转接组件装配在装配所述光纤转接组件的装配孔上，或替代一个所述避光塞装配在装配所述避光塞的装配孔上。
根据本发明的第一种技术方案进一步改进方案的第二个优选方案的改进方案，所述装置还包括光源，所述光源装配在一个所述装配孔上，当所述样品箱上设置除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的至少两个其余装配孔时，所述光源装配在除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的任意一个其余装配孔上。
根据本发明第一种技术方案的更进一步改进方案，所述装置还包括升降支架，所述升降支架位于所述样品箱的底部，用于调节所述样品箱在竖直方向上的位置。
根据本发明第二种技术方案，所述装置包括：样品箱，所述样品箱由六个壁装配而成，包括顶壁、底壁和四个侧壁，所述样品箱的除所述底壁之外的其余壁至少有两个上设有装配孔，用于耦合光源或输出光路器件；连接座，所述连接座设置在所述样品箱内；变温台，所述变温台与所述样品箱的底壁连接，用于对所述待测样品的温度进行调节；所述连接座设置在所述样品箱内和所述变温台上；透光窗片，所述透光窗片用于透光和防止空气对流，所述透光窗片装配在至少一个所述装配孔上，或替代除所述底壁之外的至少一个其余壁装配在所述样品箱上，当所述样品箱上设置除装配所述透光窗片的装配孔之外的其余装配孔时，在除装配所述透光窗片的装配孔之外的其余装配孔上还装配所述避光塞，所述避光塞用于遮光和防止空气对流。
根据本发明第三种技术方案，所述装置包括：样品箱，所述样品箱由六个壁装配而成，包括顶壁、底壁和四个侧壁，所述样品箱的除所述底壁之外的其余壁至少有两个上设有装配孔，用于耦合光源或输出光路器件；连接座，所述连接座设置在所述样品箱内；变温台，所述变温台与所述样品箱的底壁连接，用于对所述待测样品的温度进行调节；所述连接座设置在所述样品箱内和所述变温台上；光纤转接组件，所述光纤转接组件装配在至少一个所述装配孔上，可正入射或斜入射装配；透光窗片，所述透光窗片用于透光和防止空气对流，装配在至少一个所述装配孔上，且所述透光窗片与所述光纤转接组件装配在不同的装配孔上，或替代除所述底壁之外的至少一个其余壁装配在所述样品箱上；当所述样品箱上设置除装配所述光纤转接组件和所述透光窗片的装配孔之外的其余装配孔时，在除装配所述光纤转接组件和所述透光窗片的装配孔之外的其余装配孔上还装配所述避光塞，所述避光塞用于遮光和防止空气对流。
根据本发明第四种技术方案，所述装置包括：样品箱，所述样品箱由六个壁装配而成，包括顶壁、底壁和四个侧壁，所述样品箱的除所述底壁之外的其余壁至少有两个上设有装配孔，用于耦合光源或输出光路器件；连接座，所述连接座设置在所述样品箱内；变温台，所述变温台与所述样品箱的底壁连接，用于对所述待测样品的温度进行调节。所述连接座设置在所述样品箱内和所述变温台上；光纤转接组件，所述光纤转接组件装配至少一个所述装配孔上，可正入射或斜入射装配；当所述样品箱上设置除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的其余装配孔时，在除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的其余装配孔上还装配所述避光塞，所述避光塞用于遮光和防止空气对流。
根据本发明第二种技术方案、第三种技术方案和第四种技术方案，所述装置还包括所述光源，所述光源替代所述光纤转接组件、所述透光窗片或所述避光塞装配在任意一个装配孔上。当所述样品箱上设置装配所述光纤转接组件、所述透光窗片或所述避光塞的装配孔时，所述光源替代一个所述光纤转接组件装配在装配所述光纤转接组件的装配孔上，或替代一个所述透光窗片装配在装配所述透光窗片的装配孔上，或替代一个所述避光塞装配在装配所述避光塞的装配孔上。
根据本发明第二种技术方案、第三种技术方案和第四种技术方案，所述装置还包括石英罩，所述石英罩用于将待测样品密封在所述石英罩内部，隔绝外部水汽进入待测样品中。
根据本发明第二种技术方案、第三种技术方案和第四种技术方案，所述装置还包括升降支架，所述升降支架位于所述样品箱和变温台之间，用于调节所述样品箱和变温台在竖直方向上的位置。
根据上述技术方案，所述装置还包括样品架，所述样品架位于所述样品箱内的内部，用于放置待测样品，实现光学检测，所述样品架设置在所述连接座上，且与所述连接座可拆卸连接。
根据上述技术方案，所述装置可放入光谱仪样品仓或暗室内与光谱探测系统联用，所述光谱探测系统用于接收从所述透光窗片出射的光谱信号，也可连接光纤进行远程测量。
有益效果
本发明提供的多模式光谱测试装置，设计轻巧，可放置在普通光谱仪样品仓或暗室内与光谱探测系统联用，且可耦合变温装置。可连接光纤进行激发和测量。采用宽波段透过大口径防辐射窗口通光，光通量较大，适用波段宽。可耦合各类光源，优选半导体激光器或LED,汞灯光源。
附图说明
图1为多模式光谱测试装置第一种装配方式外观图
图2为多模式光谱测试装置第一种装配内部结构图
图3为多模式光谱测试装置第一种装配工作状态图
图4为多模式光谱测试装置第二种装配方式外观图
图5为多模式光谱测试装置第二种装配方式内部结构图
图6为多模式光谱测试装置第二种装配方式工作状态图
图7为多模式光谱测试装置第三种装配方式外观图
图8为多模式光谱测试装置第三种装配方式内部结构图
图9为多模式光谱测试装置第三种装配方式工作状态图
图10为光纤转接装置外观及示意图
图11为透光窗片替代样品箱侧壁装配示意图
图12为光源装配示意图
具体实施方式
下文将结合具体实施例对本发明的技术方案做更进一步的详细说明。应当理解，下列实施例仅为示例性地说明和解释本发明，而不应被解释为对本发明保护范围的限制。凡基于本发明上述内容所实现的技术均涵盖在本发明旨在保护的范围内。
根据本发明第一种技术方案，所述装置包括：样品箱，所述样品箱由六个壁装配而成，包括顶壁、底壁和四个侧壁，所述样品箱的除所述底壁之外的其余壁至少有两个上设有装配孔，用于耦合光源或输出光路器件；连接座，所述连接座设置在所述样品箱内。所述样品箱采用不透光材料制作，示例的，可采用金属材料制作，具体的，可采用铜材料制作。
根据本发明第一种技术方案的改进方案，所述连接座设置在所述样品箱底壁上，所述连接座可采用导热材料制作，示例的，可采用铜材料制作。
根据本发明的第一种技术方案的进一步改进方案的第一个优选方案，所述装置还包括避光塞和光纤转接组件，所述光纤转接组件装配在至少两个装配孔上，且所述样品箱上设置至少一个除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的其余装配孔，所述避光塞装配在除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的其余装配孔上。具体的，所述光纤转接组件包括光纤接头、镜筒和透镜，所述透镜通过压圈固定在镜筒内。所述镜筒装配所述透镜的一端直接或通过转接法兰连接在装配孔上，所述镜筒不装配透镜的一端装配光纤接头，所述光纤转接组件用于转接光纤，使样品的热释光信号可通过光纤远程导入光纤光谱仪；所述避光塞采用不透光材料制作，示例的，可采用金属材料制作，具体的，可采用铜材料制作。
根据本发明的第一种技术方案的进一步改进方案的第二个优选方案，所述装置还包括光纤转接组件，所述光纤转接组件装配在至少一个所述装配孔上。具体的，所述光纤转接组件包括光纤接头、镜筒和透镜，所述透镜通过压圈固定在镜筒内，所述镜筒装配所述透镜的一端直接或通过转接法兰连接在装配孔上，所述镜筒不装配透镜的一端装配光纤接头，所述光纤转接组件用于转接光纤，使样品的热释光信号可通过光纤远程导入光纤光谱仪。
根据本发明的第一种技术方案的进一步改进方案的第三个优选方案，所述装置还包括光源，所述光源装配在任意一个所述装配孔上，本发明实施例中对所述光源的种类不做限制，示例的，所述光源可为半导体激光器、卤素灯、氘灯、氙灯、LED、汞灯。
根据本发明的第一种技术方案的进一步改进方案的第一个优选方案的改进方案，所述装置还包括光源，所述光源替代所述避光塞或所述光纤转接组件装配在任意一个所述装配孔上，本发明实施例中对所述光源的种类不做限制，示例的，所述光源可为半导体激光器、卤素灯、氘灯、氙灯、LED、汞灯；当所述样品箱上设置有装配所述光纤转接组件或所述避光塞的装配孔时，所述光源替代一个所述光纤转接组件装配在装配所述光纤转接组件的装配孔上，或替代一个所述避光塞装配在装配所述避光塞的装配孔上。
根据本发明的第一种技术方案进一步改进方案的第二个优选方案的改进方案，所述装置还包括光源，所述光源装配在一个所述装配孔上，当所述样品箱上设置除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的至少两个其余装配孔时，所述光源装配在除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的任意一个其余装配孔上，本发明实施例中对所述光源的种类不做限制，示例的，所述光源可为半导体激光器、卤素灯、氘灯、氙灯、LED、汞灯。
根据本发明第一种技术方案的更进一步改进方案，所述装置还包括升降支架，所述升降支架位于所述样品箱的底部，用于调节所述样品箱在竖直方向上的位置。
根据本发明第二种技术方案，所述装置包括：样品箱，所述样品箱由六个壁装配而成，包括顶壁、底壁和四个侧壁，所述样品箱的除所述底壁之外的其余壁至少有两个上设有装配孔，用于耦合光源或输出光路器件，所述样品箱采用不透光材料制作，示例的，可采用金属材料制作，具体的，可采用铜材料制作；连接座，所述连接座设置在所述样品箱内，采用导热材料制作，示例的，可采用铜材料制作；变温台，所述变温台与所述样品箱的底壁连接，用于对所述待测样品的温度进行调节，本发明实施例中的变温台可在77K～800K之间进行检测，在实际应用中，变温台可以是冷热台；所述连接座设置在所述样品箱内和所述变温台上，并通过所述底壁上的通孔从所述变温台伸入所述样品箱；透光窗片，所述透光窗片用于透光和防止空气对流，所述透光窗片装配在至少一个所述装配孔上，或替代除所述底壁之外的至少一个其余壁装配在所述样品箱上；当所述样品箱上设置除装配所述透光窗片的装配孔之外的其余装配孔时，在除装配所述透光窗片的装配孔之外的其余装配孔上还装配所述避光塞，所述避光塞用于遮光和防止空气对流。所述透光窗片采用透光材料制作，示例的，可采用石英材料制作。所述避光塞采用不透光材料制作，示例的，可采用金属材料制作，具体的，可采用铜材料制作。
根据本发明第三种技术方案，所述装置包括：样品箱，所述样品箱由六个壁装配而成，包括顶壁、底壁和四个侧壁，所述样品箱的除所述底壁之外的其余壁至少有两个上设有装配孔，用于耦合光源或输出光路器件所述样品箱采用不透光材料制作，示例的，可采用金属材料制作，具体的，可采用铜材料制作；连接座，所述连接座设置在所述样品箱内，采用导热材料制作，示例的，可采用铜材料制作，并通过所述底壁上的通孔设置在所述变温台上；变温台，所述变温台与所述样品箱的底壁连接，用于对所述待测样品的温度进行调节，本发明实施例中的变温台可在77K～800K之间进行检测，在实际应用中，变温台可以是冷热台；所述连接座设置在所述样品箱内和所述变温台上，并通过所述底壁上的通孔从所述变温台伸入所述样品箱；光纤转接组件，所述光纤转接组件装配在至少一个所述装配孔上，可正入射或斜入射装配；具体的，所述光纤转接组件包括光纤接头、镜筒和透镜，所述透镜通过压圈固定在镜筒内，所述镜筒装配所述透镜的一端直接或通过转接法兰连接在装配孔上，所述镜筒不装配透镜的一端装配光纤接头，所述光纤转接组件用于转接光纤，使样品的热释光信号可通过光纤远程导入光纤光谱仪；透光窗片，所述透光窗片用于防止空气对流和透光，装配在至少一个所述装配孔上，且所述透光窗片与所述光纤转接组件装配在不同的装配孔上，或替代除所述底壁之外的至少一个其余壁装配在所述样品箱上；当所述样品箱上设置除装配所述光纤转接组件和所述透光窗片的装配孔之外的其余装配孔时，在除装配所述光纤转接组件和所述透光窗片的装配孔之外的其余装配孔上还装配所述避光塞。具体的，所述光纤转接组件包括光纤接头、镜筒和透镜，所述透镜通过压圈固定在镜筒内。所述镜筒装配所述透镜的一端直接或通过转接法兰连接在装配孔上，所述镜筒不装配透镜的一端装配光纤接头，所述光纤转接组件用于转接光纤，使样品的热释光信号可通过光纤远程导入光纤光谱仪。所述透光窗片采用透光材料制作，示例的，可采用石英材料制作。所述避光塞采用不透光材料制作，示例的，可采用金属材料制作，具体的，可采用铜材料制作。
根据本发明第四种技术方案，所述装置包括：样品箱，所述样品箱由六个壁装配而成，包括顶壁、底壁和四个侧壁，所述样品箱的除所述底壁之外的其余壁至少有两个上设有装配孔，用于耦合光源或输出光路器件，所述样品箱采用不透光材料制作，示例的，可采用金属材料制作，具体的，可采用铜材料制作；连接座，所述连接座设置在所述样品箱内，采用导热材料制作，示例的，可采用铜材料制作，并通过所述底壁上的通孔设置在所述变温台上；变温台，所述变温台与所述样品箱的底壁连接，用于对所述待测样品的温度进行调节，本发明实施例中的变温台可在77K～800K之间进行检测，在实际应用中，变温台可以是冷热台；所述连接座设置在所述样品箱内和所述变温台上，并通过所述底壁上的通孔从所述变温台伸入所述样品箱；光纤转接组件，所述光纤转接组件装配在至少一个所述装配孔上，可正入射或斜入射装配，具体的，所述光纤转接组件包括光纤接头、镜筒和透镜，所述透镜通过压圈固定在镜筒内。所述镜筒装配所述透镜的一端直接或通过转接法兰连接在装配孔上，所述镜筒不装配透镜的一端装配光纤接头，所述光纤转接组件用于转接光纤，使样品的热释光信号可通过光纤远程导入光纤光谱仪。当所述样品箱上设置除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的其余装配孔时，在除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的其余装配孔上还装配所述避光塞。所述避光塞采用不透光材料制作，示例的，可采用金属材料制作，具体的，可采用铜材料制作。
根据本发明第二种技术方案、第三种技术方案和第四种技术方案，所述装置还包括光源，所述光源替代所述光纤转接组件、所述透光窗片或所述避光塞装配在任意一个装配孔上。当所述样品箱上设置装配所述光纤转接组件、所述透光窗片或所述避光塞的装配孔时，所述光源替代一个所述光纤转接组件装配在装配所述光纤转接组件的装配孔上，或替代一个所述透光窗片装配在装配所述透光窗片的装配孔上，或替代一个所述避光塞装配在装配所述避光塞的装配孔上，本发明实施例中对所述光源的种类不做限制，示例的，所述光源可为半导体激光器、卤素灯、氘灯、氙灯、LED、汞灯。
根据本发明第二种技术方案、第三种技术方案和第四种技术方案，所述装置还包括石英罩，所述石英罩用于将待测样品密封在所述石英罩内部，隔绝外部水汽进入待测样品中。
根据本发明第二种技术方案、第三种技术方案和第四种技术方案，所述装置还包括升降支架，所述升降支架位于所述样品箱和变温台之间，用于调节所述样品箱和变温台在竖直方向上的位置。
根据上述技术方案，所述装置还包括样品架，所述样品架位于所述样品箱内的内部，用于放置待测样品，实现光学检测，所述样品架设置在所述连接座上，且与所述连接座可拆卸连接。
根据上述技术方案，为了便于放置待测样品的样品架从样品箱中取出或放入样品箱，样品箱的顶部设有开口，开口处设置有顶盖，顶盖可以封闭该开口。当顶盖上设置有装配孔时，光源也可从顶盖上的装配孔上伸入样品箱，实现激发。
根据上述技术方案，所述装置可放入光谱仪样品仓或暗室内与光谱探测系统联用，所述光谱探测系统用于接收从所述透光窗片出射的光谱信号，也可连接光纤进行远程测量。本发明提供的多模式光谱测试装置，设计轻巧，可放置在普通光谱仪样品仓或暗室内与光谱探测系统联用，且可耦合变温装置。可连接光纤进行激发和测量。采用宽波段透过大口径防辐射窗口通光，光通量较大，适用波段宽。可耦合各类光源，优选半导体激光器或LED。
实施例1
图1至图3示出了所述装置的第一种实施方式及在此实施方式下的工作状态。所述装置包括样品箱2，样品箱2上设有顶盖1，样品架4位于样品箱2内部的连接座5上，样品箱2底部连接升降支架3。本实施例中的所述装置可在光谱仪样品仓内使用，具体工作状态如图3所示。光谱仪由光谱仪样品仓24，激发装置23，光谱探测系统22和光学平台组成。所述装置位于光谱仪样品仓24中，所述装置和光谱探测系统之间设置光学组件21a和光学组件21b，所述光学组件21a和光学组件21b用于对从装配孔中出射的光线进行会聚整形。其中，光学组件21a和光学组件21b可以为透镜或透镜组。所述装置与激发装置23和光谱探测系统22组成L型光路。激发装置23中发出的光经光学组件21b照射在样品架4的样品上，样品光信号经光学组件21a入射光谱探测系统22，获得样品的光谱特性。
实施例2
图4至图6示出了所述装置的第二种实施方式及在此实施方式下的工作状态。与实施例1不同的是，所述装置的样品箱2上的装配孔内分别装配透光窗片8和避光塞6，并装配变温台7，透光窗片8也可采用如图11所示装配方式替代样品箱2的侧壁装配在样品箱上；样品架4由样品架10替代，连接座5由连接座9替代，连接座9装配在变温台7上，样品架4和连接座9之间采用连接件连接，方便热量传导；在样品架10外部罩有石英罩11。本实施例中的所述装置可独立使用，具体工作状态如图6所示。暗室中的光源25发出的光经透光窗片8b和石英罩11照射在样品架10上的样品上，样品光信号透过石英罩11和透光窗片8a进入光谱探测系统22，获得样品的光谱特性。或本实施例中的所述装置也可如实施例1中所示装置放在光谱仪样品仓中使用。此时激发装置23发出的光经光学组件21b、透光窗片8b和石英罩11照射在样品架9的样品上，样品光信号经石英罩11、透光窗片8a和光学组件21a入射光谱探测系统22，获得样品的光谱特性。本实施例中的所述装置也可如实施例1中所示装置放在光谱仪样品仓中进行热释光测量，此时采用变温台7对样品架10上的样品升温，样品的热释光信号经石英罩11、透光窗片8a和光学组件21a入射光谱探测系统22，获得样品的热释光特性。
实施例3
图7至图9示出了所述装置的第三种实施方式及在此实施方式下的工作状态。与实施例2不同的是，装配透光窗片8和部分装配避光塞6的侧壁上改为装配光纤转接装置12。本实施例中的所述装置可独立使用并可实现样品发射光谱和吸收光谱的同时检测。如图9所示，单色光源发出的单色光经光纤从光纤转接组件12b中入射后经石英罩11照射在样品架9上的样品上，样品的发射光信号经石英罩11从光纤转接组件12a中出射后经光纤进入光谱探测系统；复色光源发出的复色光经光纤从光纤转接组件12c中入射后经石英罩11照射在样品架9上的样品上，样品的透射光信号经石英罩11从光纤转接组件12a中出射后经光纤进入光谱探测系统。如图10所示，光纤转接组件12a，光纤转接组件12b和光纤转接组件12c由光纤接头1201，镜筒1202和透镜1203组成。本实施例中的装置可实现一次安装样品，同时测得发射光谱和吸收光谱，可以大幅降低仪器配置成本，又可以简化变温吸收和发射谱测试装置间倒换装样的繁琐和可能引发的样品损失、对光不准、厚度不均等麻烦，还避免了不同变温装置温差以及过往变温历程引起材料变性等因素而引入不必要的数据误差，最终也大幅降低在吸收光谱和发射光谱测试所采用的不同系统中重复装样、变温及保温的时间成本。
实施例4
如图12所示，光源13可装配在样品箱2装配孔内。
以上，对本发明的实施方式进行了说明。但是，本发明不限定于上述实施方式。凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种多模式光谱测试装置，所述装置包括：样品箱，所述样品箱由六个壁装配而成，包括顶壁、底壁和四个侧壁，所述样品箱的除所述底壁之外的其余壁至少有两个上设有装配孔，用于耦合光源或输出光路器件；连接座，所述连接座设置在所述样品箱内；升降支架，所述升降支架位于所述样品箱的底部，用于调节所述样品箱在竖直方向上的位置。
2.根据权利要求1中任一项所述的多模式光谱测试装置，其特征在于，所述装置还包括光源，所述光源装配在任意一个所述装配孔上。
3.根据权利要求1至2中任一项所述的多模式光谱测试装置，其特征在于，所述装置还包括光纤转接组件，所述光纤转接组件装配在至少一个所述装配孔上。
4.根据权利要求1中任一项所述的多模式光谱测试装置，其特征在于：所述装置还包括避光塞和光纤转接组件，所述光纤转接组件装配在至少两个装配孔上，且所述样品箱上设置至少一个除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的其余装配孔，所述避光塞装配在除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的其余装配孔上。
5.根据权利要求1所述的多模式光谱测试装置，其特征在于，所述装置还包括变温台，所述变温台与所述样品箱的底壁连接，用于对所述待测样品的温度进行调节，所述样品箱和变温台之间还包括升降支架，所述升降支架用于调节所述样品箱和变温台在竖直方向上的位置。
6.根据权利要求5所述的多模式光谱测试装置，其特征在于，所述装置还包括透光窗片，所述透光窗片用于透光和防止空气对流，所述透光窗片装配在至少一个所述装配孔上，或替代除所述底壁之外的至少一个其余壁装配在所述样品箱上，当所述样品箱上设置除装配所述透光窗片的装配孔之外的其余装配孔时，在除装配所述透光窗片的装配孔之外的其余装配孔上还装配所述避光塞，所述避光塞用于遮光和防止空气对流。
7.根据权利要求5所述的多模式光谱测试装置，其特征在于，所述装置还包括光纤转接组件，所述光纤转接组件装配在至少一个所述装配孔上，可正入射或斜入射装配；透光窗片，所述透光窗片用于防止空气对流和透光，装配在至少一个所述装配孔上，且所述透光窗片与所述光纤转接组件装配在不同的装配孔上，或替代除所述底壁之外的至少一个其余壁装配在所述样品箱上；当所述样品箱上设置除装配所述光纤转接组件和所述透光窗片的装配孔之外的其余装配孔时，在除装配所述光纤转接组件和所述透光窗片的装配孔之外的其余装配孔上还装配所述避光塞。
8.根据权利要求5所述的多模式光谱测试装置，其特征在于，所述装置还包括光纤转接组件，所述光纤转接组件装配在至少一个所述装配孔上，可正入射或斜入射装配；当所述样品箱上设置除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的其余装配孔时，在除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的其余装配孔上还装配所述避光塞。
9.根据权利要求4至8中任一项所述的多模式光谱测试装置，其特征在于：所述装置还包括光源，所述光源替代所述光纤转接组件、所述透光窗片或所述避光塞装配在任意一个装配孔上。
10.根据权利要求4至9中任一项所述的多模式光谱测试装置，其特征在于，所述装置还包括石英罩，所述石英罩用于将待测样品密封在所述石英罩内部，隔绝外部水汽进入待测样品中。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202010310715.2A CN111337439A (zh) | 2020-04-20 | 2020-04-20 | 一种多模式光谱测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202010310715.2A CN111337439A (zh) | 2020-04-20 | 2020-04-20 | 一种多模式光谱测试装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN111337439A true CN111337439A (zh) | 2020-06-26 |
Family
ID=71180963
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202010310715.2A Pending CN111337439A (zh) | 2020-04-20 | 2020-04-20 | 一种多模式光谱测试装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN111337439A (zh) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112881305A (zh) * | 2021-01-14 | 2021-06-01 | 王泽平 | 一种用于铝型材的快速检测设备 |
| CN113567419A (zh) * | 2021-08-11 | 2021-10-29 | 吉林大学 | 一种高温目标光谱发射率实验观测方法及测量装置 |
| WO2022022115A1 (zh) * | 2020-07-27 | 2022-02-03 | 上海交通大学 | 一种金属凝固过程多物理场测量装置及其外壳、测量方法 |
-
2020
- 2020-04-20 CN CN202010310715.2A patent/CN111337439A/zh active Pending
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