CN111328452B - 用于d类放大器的负载电流感测系统及方法 - Google Patents

Abstract

提供了根据一个或多个实施例的用于感测在开关放大器的输出处的电流的系统和方法。在一个示例中，系统包括耦合到负载的第一晶体管开关和耦合到负载的第二晶体管开关，所述第一晶体管开关被配置成响应于第一脉宽调制控制信号传导负载中的电流，而所述第二晶体管开关被配置成响应于第二脉宽调制控制信号传导负载中的电流。系统还包括在负载和电流感测电路之间耦合的取样与保持电路，所述取样与保持电路被配置成响应于第二脉宽调制控制信号时间段的中点在预定的取样时间段内对在第二晶体管开关处的电压进行取样，并且被配置成向电流感测电路提供取样电压。

Description

用于D类放大器的负载电流感测系统及方法

相关申请的交叉引用

本延续专利申请要求于2017年11月17日提交并题为“LOAD CURRENT SENSINGCIRCUIT FOR CLASS-D AMPLIFIER”的美国专利申请No.15/817，091的优先权和权益，所述申请于2018年9月25日作为美国专利No.10，085，089发布，所述专利通过引用以其整体并入于此。

技术领域

本发明总体上涉及信号处理，并且更特定地，涉及感测在开关放大器输出级的电流。

背景技术

诸如膝上型笔记本、笔记本平板、MP3播放器和智能手机的许多现代设备都使用微型扬声器。在许多应用中，这些设备利用开关放大器来有效地提供音频信号的放大。在一个示例中，开关放大器可以提供二十瓦的功率来放大音频信号并驱动扬声器。由于在这种设备中使用的微型扬声器的限制，可以测量到扬声器的电流以帮助防止对扬声器的物理损坏和其他不希望的影响。因此，存在持续的需求来改进由开关放大器提供给扬声器的电流的测量，以便于保护扬声器免受损坏。

发明内容

本公开提供了解决本领域中对由开关放大器提供给负载的电流的改进感测的需求的系统和方法。本公开的范围由权利要求所限定，所述权利要求通过引用并入到本节中。通过考虑对一个或多个实施例的以下详细描述，本领域技术人员将被给予对本公开的实施例的更全面理解，并且实现其附加优点。将对首先被简要描述的附图的附加页做出参考。

附图说明

图1示出了根据本公开的实施例的示例性音频编解码器。

图2示出了根据本公开的实施例的示例性音频放大器输出驱动器。

图3示出了根据本公开的实施例的音频放大器输出驱动器的放大器输出级电压和输出电流的示例性曲线图。

图4示出了根据本公开的实施例的示例性取样与保持输出电路的示意图。

图5示出了根据本公开的实施例的音频放大器输出驱动器扬声器保护系统的示例性过程流程。

所包括的附图是出于说明性的目的，并且仅用作提供用于感测音频系统中的电流的可能系统和方法的示例。在不脱离本公开的精神和范围的情况下，这些附图绝不限制由本领域技术人员可以对本公开的形式和细节进行的任何改变。

具体实施方式

本公开描述了解决对由诸如在许多现代音频放大器应用中使用的D类开关放大器之类的开关放大器提供的电流的精确感测的需求的系统和方法。在一个实施例中，本公开的音频系统包括开关放大器H桥输出级和一个或多个输出电流感测电路。每个输出电流感测电路包括电流镜电路以及取样与保持电路，所述取样与保持电路被配置成在放大器开关的所有阶段期间提供对流经负载的平均电流进行感测。

本公开的实施例可以与用于感测D类开关放大器的输出的电流的现有解决方案形成对比。例如，常规音频系统可以使用电流镜电路来感测负载电流。然而，电流镜电路的性能可能会受共模限制所影响。例如，用于开关放大器应用的常规电流镜电路在连接到电流镜电路的输入的输出晶体管开关处受到大的电压摆动（voltage swing）的影响。在输入的大电压摆动要求电流镜具有相对较高的共模衰减率。此外，当开关晶体管处于“开”和“关”状态之间的转变中时，在没有支持电路的情况下使用的电流镜电路不能提供精确的电流感测。本公开的各种实施例解决了这些和其他问题，以准确且有效地感测由开关放大器提供给负载的电流，以便于保护诸如扬声器的负载免受损坏。

图1示出了根据本公开的实施例的示例性音频编解码器电路100的框图。音频编解码器电路100为音频输入的信号处理提供模拟和数字电路。音频编解码器电路100包括处理数字信号并将放大的模拟输出信号提供给例如扬声器（例如扬声器121）的电路。在一些实施例中，音频编解码器电路100在输入端口105A-B接收数字信号。数字信号可以与例如电子设备相关联，所述电子设备诸如膝上型计算机、计算机平板、智能手机或传感器（诸如麦克风）。

数模转换器（DAC）107可以被配置成接收数字信号，并将数字信号转换成模拟信号以供进一步处理。控制电路109从DAC 107接收模拟音频信号，并处理模拟音频信号。在一些实施例中，控制电路109向音频放大器108提供脉宽调制信号。在一些实施例中，音频放大器108被实现为D类开关放大器，并且脉宽调制信号控制了音频放大器108的开关占空度。音频放大器108放大接收的模拟音频信号，并提供放大的音频信号131A-B，以在输出插孔119A-B处驱动输出设备121。输出设备121可以是扬声器、耳机或用于接收放大的音频信号131A-B的另外的电子设备。

音频放大器108电耦合到电流感测电路110。电流感测电路110被配置成感测从音频放大器108传到输出设备121的电流信号。在一些实施例中，电流感测电路110测量与流经输出设备121的电流信号相关联的近似等效感测电流，并将感测电流转换成模拟电压信号120。

电流感测电路110可以向模数转换器（ADC）113提供模拟电压信号120。ADC 113将模拟电压信号转换成数字电压信号122，并将数字电压信号122提供给扬声器保护电路111。在一些实施例中，扬声器保护电路111处理数字电压信号122以确定是否需要对脉宽调制信号进行调整。在一些实施例中，扬声器保护电路111向DAC 107提供信号114，以基于与流经输出设备121的电流信号相关联的感测电流来调整DAC 107信号处理。

图2示出了根据本公开的实施例的音频放大器输出驱动器200的示意图。在一些实施例中，音频放大器输出驱动器200形成了在图1的音频编解码器电路100中实现的音频放大器108的部分。音频放大器输出驱动器200向在移动手机、膝上型计算机、平板、音频/视频系统或需要音频放大器输出驱动器200的其他类似便携式设备中使用的扬声器负载235提供音频输出驱动。在各种实施例中，音频放大器输出驱动器200被实现为D类放大器H桥输出级201。音频放大器输出驱动器200还包括一个或多个电流感测电路210。

在图2的所示的实施例中，H桥输出级201包括四个n沟道横向扩散金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）M1、M2、M3和M4。前两个高侧晶体管M3、M4的相应漏极连接到电源电压Pvdd。在一些实施例中，电源电压Pvdd向晶体管M3、M4提供十二伏DC功率。然而，在其他实施例中可以提供其他功率的电源电压。相应源极连接到两个低侧晶体管M1、M2的漏极，所述低侧晶体管M1、M2的源极连接到接地221。扬声器负载235连接在晶体管开关对M3、M1与M4、M2之间。图1的控制电路109向晶体管M1、M2、M3和M4的栅极提供脉宽调制（PWM）控制信号202。在一些实施例中，第一脉宽调制（PMW）控制信号202连接到晶体管M3的栅极端子，第二PMW控制信号202连接到晶体管M1的栅极端子，第三PMW控制信号202连接到晶体管M4的栅极端子，而第四PMW控制信号202连接到晶体管M2的栅极端子。

在一些实施例中，第一电流感测电路210包括电流镜放大器211（例如，电流感测设备）、n沟道MOS晶体管S1和S2以及取样与保持电路224。流经扬声器负载235的电流Ispk被等效电流Isensep所镜像。

电流镜放大器211包括两个输入端子、非反相输入端子212和反相输入端子214。非反相输入端子212连接到取样与保持电路224的输出225。电流镜放大器211的反相输入端子214连接到晶体管S1的源极端子和晶体管S2的漏极端子。电流镜放大器211输出信号216连接到晶体管S1的栅极端子，以驱动晶体管S1。晶体管S2的源极端子连接到接地信号221。晶体管S1的漏极端子连接到Isensep电流信号。

取样与保持电路224被配置成接收晶体管M1漏极-源极电压（例如，小信号漏极电压），并且在预定的取样时间段内将小信号电压提供给电流镜放大器211。在一些实施例中，在取样时间段期间，晶体管M1的漏极电压大约为五十至一百毫伏。在其他实施例中，其他小信号电压也是可能的。在一些实施例中，取样与保持电路224被实现为电容器和场效应晶体管开关。电容器被充电到大约晶体管M1的小信号漏极电压的电压电平。充电电压被开关到取样与保持电路224的输出225，并在预定的取样时间段内被提供给电流镜放大器211的非反相输入端子212。在这点上，取样与保持电路224有效地保持了电流镜放大器211的输入处的小信号电压，以能够实现在预定的取样时间段内对电流Isensep（例如，或针对互补电路的Isensen）的测量，如本文中所讨论的。

取样与保持电路224包括连接到晶体管M3的源极端子和晶体管M1的漏极端子的输入端口218。取样与保持电路224包括触发端口220，以接收控制取样与保持电路224的取样动作和保持动作的M1栅极电压信号。在这点上，取样动作由在M1的栅极脉冲的边沿转变所触发，并且取样动作在栅极脉冲的中点处停止（例如，超时）。在取样动作完成后，保持动作开始，并且在下一个取样动作的开始前，保持动作停止（例如，超时）。在一些实施例中，在低侧晶体管M1被打开的时间段期间，在输入端口218处提供大约五十到一百毫伏的小信号DC电压。在一些实施例中，预定的取样与保持时间段可以大约为三微秒，然而，在其他实施例中，其他取样与保持时间段也是可能的。在一些实施例中，取样与保持电路224可以包括控制逻辑，以执行对预定取样时间段的调整。

电流镜放大器211输出信号216控制S1的栅极电压，以调整跨S2两端的漏极-源极电压。在这点上，跨晶体管M1两端的电压以及在取样与保持电路224的输出225处的等效电压，跨晶体管S2两端被镜像，以提供流过开关S1和S2的Isensep电流信号，其大约等于负载电流Ispk。在一些实施例中，电流镜放大器211（例如，以及类似的电流镜放大器211B）被实现为横向扩散金属氧化物半导体设备。

在一些实施例中，互补第二电流感测电路210B包括电流镜放大器211B、n沟道MOS晶体管S3和S4以及取样与保持电路224B。在H桥互补晶体管对（例如，M4和M2）处流经扬声器负载235的电流Ispk由等效测量电流Isensen所表示。

电流镜放大器211B包括两个输入端子、非反相输入端子215和反相输入端子217。非反相输入端子215连接到取样与保持电路224B的输出225B。电流镜放大器211B的反相输入端子217连接到晶体管S3的源极端子和晶体管S4的漏极端子。电流镜放大器211B输出信号219连接到晶体管S3的栅极端子，以驱动晶体管S3。晶体管S4的源极端子连接到接地信号221。晶体管S1的漏极端子连接到Isensen电流信号。

取样与保持电路224B包括连接到晶体管M4的源极端子和晶体管M2的漏极端子的输入端口218B。取样与保持触发端口220B连接到低侧晶体管M2的栅极端子。在这点上，当第四PWM控制信号202打开晶体管M2时，取样与保持电路224B内的触发电路224C被配置成触发取样与保持电路224B以在第四PWM控制信号202时间段的中点处取样M2漏极电压，如本文所讨论的。在一些实施例中，在低侧晶体管M2被打开的时间段期间，在输入端口218B处提供大约五十至一百毫伏的小信号DC电压。电流镜放大器211B输出信号219控制S3的栅极电压，以调整跨S4两端的漏极-源极电压。在这点上，跨晶体管M2两端的电压以及在取样与保持电路224B的输出225B处的等效电压，跨晶体管S4两端被镜像，以提供流经开关S3和S4的Isensep电流信号，其大约等于负载电流Ispk。

如图2中所示，晶体管S2和S4再产生在扬声器负载235中流动的电流。扬声器负载235在第一端上连接在M3的源极和M1的漏极之间，而在第二端上连接在M4的源极和M2的漏极之间。当M1处于传导时，晶体管S2在PWM周期期间再产生流经晶体管M1（例如，第二晶体管开关）的电流。当M1处于传导时，电流Ispk从M1的漏极流向M1的源极。电流镜放大器211输出信号216驱动晶体管S1的栅极，以打开晶体管S1，从而允许电流Isensep流经晶体管S1。当音频放大器输出驱动器200被供电时，电源Avdd连接到晶体管S2和S4的栅极，以打开晶体管S2和S4。

以类似的方式，当M2处于传导时，晶体管S4在PWM周期期间再产生流经晶体管M2的电流。当M2处于传导时，电流Ispk从M2的漏极流向M2的源极。电流镜放大器211B输出信号219驱动晶体管S3的栅极，以打开晶体管S3，从而允许电流Isensen流经S3。在这点上，当Ispk流经组合的晶体管M1和M2时，对于Ispk电流的整个范围感测扬声器负载235电流。

图3示出了根据本公开的实施例的音频放大器输出驱动器的放大器输出级电压pwmp和pwmn以及输出电流Ispk的示例性曲线图。曲线305示出了当第二脉宽调制控制信号被打开而且关闭晶体管M1时，在周期时间段期间图2的节点pwmp处的电压。曲线310示出了当第四脉宽调制控制信号被打开而且关闭晶体管M2时，在周期时间段期间图2的节点pwmn处的电压。

如图3中所示，脉宽调制控制信号的占空度可以变化，以调整曲线图315中所示的负载电流Ispk。曲线320示出了在M1打开和关闭的时间段期间流经晶体管M1的电流。如所示的，流经M1的电流可以基于由曲线310所示的晶体管M2的占空度以及晶体管M3和M4的占空度（未示出）而变化。取样与保持电路224被配置成当晶体管M1和M2被打“开”时感测在第二脉宽调制控制信号时间段的中点（例如，如由pwmp的中点所示）处的电流Ispk。取样与保持电路224被配置成响应于第二脉宽调制控制信号的中点在预定的取样时间段内取样M1的漏极电压，其如曲线305中在pwmp“开”电平的中点处的虚线所示。

如曲线325中所示的取样与保持电路的输出是代表当M1开时流经Ispk的电流的稳定电压。取样与保持电路224在取样时间段期间将在节点pwmp处的电压（例如，晶体管M1的漏极电压）提供给电流镜放大器211的非反相输入端子212。取样与保持电路224被配置成以连续脉冲取样漏极电压（例如，在晶体管M1的漏极端子），如由曲线315上的取样333所示。曲线330示出了在取样时间段期间在反相输入端子214处的对应电压vm。

图4示出了根据本公开的实施例的取样与保持输出电路的示意图。在一些实施例中，在对应的取样时间段期间，电容器C1和C2被充电到在晶体管M1处的漏极电压的电平。第一电容器C1在对应于第一取样时间段的开关phy1闭合的时间期间被充电。第二电容器C2在对应于第二取样时间段的开关phy2闭合的时间期间被充电。在这点上，可以对连续的取样时间段进行平均，并且来生成平均的取样电压，并在电流镜放大器211的非反相输入端子212处提供平均的取样电压。在一些实施例中，取样与保持电路可以包括控制逻辑（未示出），以执行以下等式的传递函数，其示出了用于平均取样与保持电路的输出传递函数：

图5示出了根据本公开的实施例的音频放大器输出驱动器扬声器保护的处理流程。在框510中，流程图从在音频放大器输出驱动器200的输出处接收放大的音频信号开始。音频放大器输出驱动器200包括H桥输出级201，其包括两个高侧/低侧输出晶体管开关对，每个对连接到扬声器负载235的相应端，以将电流传导通过扬声器负载235。在一些实施例中，每个高侧晶体管开关连接到十二伏DC电源，而每个低侧晶体管开关连接到接地信号221以驱动扬声器负载235。

在框520，流程图继续以向扬声器负载235提供放大的音频信号。例如，第一脉宽调制控制信号耦合到第一晶体管开关（例如，高侧开关M3）的栅极端子，以控制第一晶体管开关的“开”和“关”状态。第二脉宽调制控制信号耦合到第二晶体管开关（例如，低侧开关M1）的栅极端子，以控制第二晶体管开关的“开”和“关”状态。H桥输出级201包括连接到扬声器负载235的第二端的互补高侧/低侧晶体管开关对（例如，M4/M2），并由互补脉宽调制控制信号202所控制。

在框530中，流程图继续以取样与保持电路224响应于第二脉宽调制控制信号的中点在第二晶体管开关处接收小信号漏极电压。在一些实施例中，取样与保持电路224可以平均两个或更多个连续的取样电压以生成平均的取样电压。取样与保持电路224可以在预定的取样时间段内向电流镜放大器211提供平均的取样电压。

在框540中，流程图继续以电流感测电路210感测流经扬声器负载235的电流。电流镜放大器211提供对代表性电流信号Isensep的精确电流测量，Isensep大约等于流经扬声器负载235的电流。电流感测电路210提供在取样与保持电路224的取样时间段期间准确且稳定的所测量电流值。H桥输出级201包括互补的第二电流感测电路210B，其被配置成感测在互补的高侧/低侧开关对处的等效扬声器电流Isesnsen。在这点上，对于包括Isensep和Isensen的扬声器电流的完整范围来感测扬声器负载235电流。

在框550中，电流感测电路210可以将所测量电流Isensep和Isensen的模拟电压信号提供给ADC 113，所述ADC 113用于将其转换成传到扬声器保护电路111的数字感测信号（例如，数字化信号）。扬声器保护电路111可以处理数字感测信号，并向DAC 107提供增益调整，以调整在音频放大器输出驱动器200的输出处的扬声器负载235电流。在一些实施例中，当扬声器负载电流Ispk超过上限电流阈值时，DAC 107可以调整第一和第二脉宽调制控制信号的频率，以减少流经扬声器负载235的电流。

在适用的情况下，由本公开提供的各种实施例可以使用硬件、软件或硬件和软件的组合来执行。此外，在适用的情况下，在不脱离本公开的精神的情况下，本文阐述的各种硬件组件和/或软件组件可以被组合成包括软件、硬件和/或两者的复合组件。在适用的情况下，在不脱离本公开的范围的情况下，本文阐述的各种硬件组件和/或软件组件可以被分成包括软件、硬件或两者的子组件。此外，在适用的情况下，预期的是，软件组件可以被实现为硬件组件，并且反之亦然。

根据本公开的软件（诸如程序代码和/或数据）可以存储在一个或多个计算机可读介质上。还可以设想的是，本文标识的软件可以使用一个或多个通用或专用计算机和/或计算机系统、联网和/或以其他方式来实现。在适用的情况下，本文描述的各个步骤的顺序可以被改变、组合成复合步骤、和/或分成子步骤，以提供本文描述的特征。

上述实施例说明但不限制本发明。还应该理解，根据本发明的原理，许多修改和变化是可能的。因此，本发明的范围仅由以下权利要求来限定。

Claims (20)

1.一种负载电流感测系统，包括：

在源极端子处耦合到负载的第一晶体管开关，其可操作以响应于耦合到所述第一晶体管开关的栅极端子的第一脉宽调制控制信号来传导所述负载中的电流；

在漏极端子处耦合到所述负载的第二晶体管开关，其可操作以响应于耦合到所述第二晶体管开关的栅极端子的第二脉宽调制控制信号来传导所述负载中的电流，其中所述第二晶体管开关的所述漏极端子耦合到所述第一晶体管开关的所述源极端子；以及

在所述负载和电流感测电路之间耦合的取样与保持电路，其可操作以响应于第二脉宽调制控制信号时间段的中点在预定的取样时间段内对在所述第二晶体管开关的所述漏极端子处的电压进行取样，并且可操作以向所述电流感测电路提供所述取样电压。

2.根据权利要求1所述的系统，其中所述取样与保持电路可操作以在多个连续的第二脉宽调制控制信号时间段中的每个的所述中点处取样所述漏极电压，以提供多个连续的取样电压。

3.根据权利要求2所述的系统，其中所述取样与保持电路还包括触发电路，所述触发电路可操作以触发所述取样与保持电路在所述多个连续的第二脉宽调制控制信号时间段中的每个的所述中点处取样所述漏极电压。

4.根据权利要求2所述的系统，其中所述取样与保持电路可操作以对所述多个连续的取样电压中的两个或更多个进行平均，以生成平均的取样电压，并且其中所述取样与保持电路还可操作以在所述预定取样时间段内将所述平均的取样电压提供给所述电流感测电路。

5.根据权利要求4所述的系统，其中所述电流感测电路是电流镜电路，其中所述取样与保持电路还可操作以向所述电流镜电路提供在所述预定取样时间段内的所述平均的取样电压，并且其中所述电流镜电路可操作以响应于所述平均的取样电压感测流经所述负载的电流。

6.根据权利要求5所述的系统，其中所述电流感测电路耦合到扬声器保护电路，所述电流感测电路可操作以向所述扬声器保护电路提供对应于所述感测的电流的数字化信号，其中所述扬声器保护电路可操作以调整所述第一和第二脉宽调制控制信号的频率，以在所述负载中的所述电流超过上限电流阈值时减少流经所述负载的电流。

7.根据权利要求1所述的系统，其中所述负载包括扬声器。

8.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一和第二晶体管开关包括D类放大器H桥输出级。

9.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一晶体管开关和所述第二晶体管开关包括n沟道横向扩散金属氧化物半导体场效应晶体管。

10.根据权利要求1所述的系统，所述系统还包括：

在源极端子处耦合到所述负载的第三晶体管开关，其可操作以响应于耦合到所述第三晶体管开关的栅极端子的第三脉宽调制控制信号来传导所述负载中的所述电流；

在漏极端子处耦合到所述负载的第四晶体管开关，其可操作以响应于耦合到所述第四晶体管开关的栅极端子的第四脉宽调制控制信号来传导所述负载中的所述电流，其中所述第四晶体管开关的所述漏极端子连接到所述第三晶体管开关的所述源极端子；以及

在所述负载和第二电流感测电路之间耦合的第二取样与保持电路，其可操作以响应于第四脉宽调制控制信号时间段的中点在预定的取样时间段内对在所述第四晶体管开关的所述漏极端子处的第二电压进行取样，并且可操作以向所述第二电流感测电路提供取样的所述第二电压。

11.一种负载电流感测方法，包括：

响应于耦合到第一晶体管开关的栅极端子的第一脉宽调制控制信号来传导负载中的电流；

响应于耦合到第二晶体管开关的栅极端子的第二脉宽调制控制信号来传导所述负载中的所述电流；以及

响应于第二脉宽调制控制信号时间段的中点在预定的取样时间段内对在所述第二晶体管开关的漏极端子处的电压进行取样，以向电流感测电路提供所述取样电压。

12.根据权利要求11所述的方法，其中所述取样还包括在多个连续的第二脉宽调制控制信号时间段中的每个的所述中点处取样所述漏极电压，以提供多个连续的取样电压。

13.根据权利要求12所述的方法，还包括触发电路，所述方法还包括响应于所述触发电路，在多个连续的第二脉宽调制控制信号时间段中的每个的所述中点处取样所述漏极电压。

14.根据权利要求12所述的方法，还包括：

对所述多个连续的取样电压中的两个或更多个进行平均以生成平均的取样电压；以及

在所述电流感测电路的输入处接收在所述预定取样时间段内的所述平均的取样电压。

15.根据权利要求14所述的方法，其中所述电流感测电路是电流镜电路，所述方法还包括：

在所述电流镜电路的输入处接收在所述预定取样时间段内的所述平均的取样电压；以及

响应于所述平均的取样电压感测流经所述负载的所述电流。

16.根据权利要求15所述的方法，其中所述电流感测电路耦合到扬声器保护电路，所述方法还包括：

在所述扬声器保护电路处接收对应于所述感测的电流的数字化信号；以及

当所述负载中的所述电流超过上限电流阈值时，调整所述第一和第二脉宽调制控制信号的频率，以减少流经所述负载的所述电流。

17.根据权利要求11所述的方法，其中所述负载包括扬声器。

18.根据权利要求11所述的方法，其中所述第一和第二晶体管开关包括D类放大器H桥输出级。

19.根据权利要求11所述的方法，其中所述第一晶体管开关和所述第二晶体管开关包括n沟道横向扩散金属氧化物半导体场效应晶体管。

20.根据权利要求11所述的方法，还包括：

响应于耦合到第三晶体管开关的栅极端子的第三脉宽调制控制信号来传导所述负载中的所述电流；

响应于耦合到第四晶体管开关的栅极端子的第四脉宽调制控制信号来传导所述负载中的所述电流；以及

响应于第四脉宽调制控制信号时间段的中点在预定的取样时间段内对在所述第四晶体管开关的漏极端子处的第二电压进行取样，以向第二电流感测电路提供取样的所述第二电压。

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