CN111323532A - 一种电子元件质量检测治具 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电子元件质量检测治具,包括检测台,检测台的顶部开设有支架槽,支架槽的左右两侧壁均设置有滑轨,两组滑轨相互贴近一侧滑动设置有安装支架,安装支架的顶部均匀开设有多组置放槽,检测台顶部左右两侧对称设置有固定座,两组固定座之间设置有固定杆,检测台顶部左右两侧开设有活动槽,左侧活动槽的内腔设置有转动棍,转动棍的顶部转动连接有电机,转动棍的外侧壁开设有螺旋滑槽,右侧活动槽的内腔设置有固定辊,固定辊的顶部开设有滑槽,滑槽和螺旋滑槽的内腔均滑动设置有滑杆,滑杆的顶部设置有活动板,活动板活动套接于固定杆的外侧壁,本发明提供了一种检测效率高,提高了检测质量的检测治具。
Description
技术领域
本发明涉及电子检测领域,具体为一种电子元件质量检测治具。
背景技术
治具是一个木工、铁工、钳工、机械、电控以及其他一些手工艺品的大类工具,主要是作为协助控制位置或动作的一种工具。治具可以分为工艺装配类治具、项目测试类治具和线路板测试类治具三类。
其中,项目测试类治具则包括寿命测试类治具、包装测试类治具、环境测试类治具、光学测试类治具、屏蔽测试类治具、隔音测试类治具等等,现有的电子元件检测通常由人工手动检测,不仅检测效率低,长时间的检测工作下,加剧了工作人员的疲劳程度,最终会影响电子元件检测的效果。
为此,相关技术领域的技术人员对此进行了改进,例如中国专利申请号为CN201620410907.X提出的“检测电子元件表面缺陷的装置,属于表面质量检查设备领域。目的是提供一种能准确反应电子元件表面缺陷的尺寸的检测电子元件表面缺陷的装置。包括支座,安装于支座的光源、放大镜和摄像镜头,光源、放大镜和摄像镜头由下至上依次布置;在光源下方设有电子元件检测台,电子元件检测台包括与支座可拆卸连接的反射本体,在反射本体上设有垂直贯穿反射本体的方形通孔,方形通孔的四个内壁上均安装有平面镜,平面镜的镜面由下至上向外延伸;在通孔正下方设有安装于支座的检测平台,检测平台的四周标有刻度,刻度在平面镜的反射范围内”,虽然该发明拍摄经过放大镜放大后电子元件的表面缺陷和放置电子元件的检测平台四周的刻度,可明确表面缺陷的尺寸大小,根据尺寸大小确定修复方案,避免了修复的盲目性,但是该装置对于电子元件只能一次进行检测,一次拍摄一张照片,检测效率低,使工作进度滞缓。
基于此,本发明设计了一种电子元件质量检测治具,以解决上述问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种电子元件质量检测治具,以解决上述装置对于电子元件只能一次进行检测,一次拍摄一张照片,检测效率低,使工作进度滞缓的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种电子元件质量检测治具,包括检测台,所述检测台的顶部开设有支架槽,所述支架槽的左右两侧壁均设置有滑轨,两组所述滑轨相互贴近一侧滑动设置有安装支架,所述安装支架的顶部均匀开设有多组置放槽,所述检测台顶部左右两侧对称设置有固定座,两组固定座之间固定设置有固定杆;
所述检测台顶部左右两侧开设有活动槽,左侧所述活动槽的内腔设置有转动棍,所述转动棍的顶部和底部均通过轴承与检测台转动连接,所述转动棍的顶部转动连接有电机,所述电机固定于检测台的外侧壁,所述转动棍的外侧壁开设有螺旋滑槽,右侧所述活动槽的内腔设置有固定辊,所述固定辊的顶部和底部分别与活动槽的顶部和底部相固接,所述固定辊的顶部开设有滑槽,所述滑槽和螺旋滑槽的内腔均滑动设置有滑杆,所述滑杆的顶部固定设置有活动板,所述活动板活动套接于固定杆的外侧壁。
优选的,两组所述活动槽的顶部均设置有密封盖,所述密封盖通过锁紧螺钉与检测台的顶部相连接。
优选的,所述密封盖的顶部开设有供滑杆滑动的滑动槽。
优选的,所述活动板的底部左右两侧对称设置有扫描检测探头。
优选的,所述扫描检测探头与计算机电性连接。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:本发明结构简单,设计合理,本发明中置物槽设置有有多组,可以同时检测多组电子元件,提高了检测的效率;通过扫描检测探头与计算机电性连接,将扫描的结果反映至计算机上,根据计算机显示的图像可知电子元件的表面是否存在质量问题,节省了大量人工检测的时间,提高电子产品检测质量;将需要检测的电子元件放置于安装支架顶部开设的置物槽中,通过滑轨将安装支架安装于支架槽内腔,操作过程简单且方便快捷;即本发明提供了一种检测效率高,提高了检测质量的检测治具。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明结构示意图;
图2为本发明结构俯视图;
图3为本发明结构剖视图;
图4为本发明结构正向视图。
附图中,各标号所代表的部件列表如下:
1-检测台,2-支架槽,3-滑轨,4-安装支架,5-置放槽,6-固定座,7-固定杆,8-活动板,9-活动槽,10-转动棍,11-电机,12-螺旋滑槽,13-固定辊,14-滑槽,15-滑杆,16-密封盖,17-锁紧螺钉,18-滑动槽,19-扫描检测探头。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-4,本发明提供一种技术方案:一种电子元件质量检测治具,包括检测台1,检测台1的顶部开设有支架槽2,支架槽2的左右两侧壁均设置有滑轨3,两组滑轨3相互贴近一侧滑动设置有安装支架4,安装支架4的顶部均匀开设有多组置放槽5,检测台1顶部左右两侧对称设置有固定座6,两组固定座6之间固定设置有固定杆7;
检测台1顶部左右两侧开设有活动槽9,左侧活动槽9的内腔设置有转动棍10,转动棍10的顶部和底部均通过轴承与检测台1转动连接,转动棍10的顶部转动连接有电机11,电机11固定于检测台1的外侧壁,转动棍10的外侧壁开设有螺旋滑槽12,右侧活动槽9的内腔设置有固定辊13,固定辊13的顶部和底部分别与活动槽9的顶部和底部相固接,固定辊13的顶部开设有滑槽14,滑槽14和螺旋滑槽12的内腔均滑动设置有滑杆15,滑杆15的顶部固定设置有活动板8,活动板8活动套接于固定杆7的外侧壁。
其中,两组活动槽9的顶部均设置有密封盖16,密封盖16通过锁紧螺钉17与检测台1的顶部相连接。
其中,密封盖16的顶部开设有供滑杆15滑动的滑动槽18,便于电子元件在检测过程中滑杆的运动。
其中,活动板8的底部左右两侧对称设置有扫描检测探头19,用于检测电子元件表面是否存在缺陷。
其中,扫描检测探头19与计算机电性连接,将扫描的图像通过计算机反馈。
本实施例的一个具体应用为:本装置为一种电子元件质量检测治具,主要应用于电子元件检测技术领域,用于检测电子元件表面质量问题的治具,使用时,将需要检测的电子元件放置于安装支架4顶部开设的置物槽5中,将安装支架4通过滑轨3安装于支架槽2中,启动电机11,多组置物槽5用于放置多组电子元件,可同时检测多组电子元件,提高了检测效率,使电机11带动转动辊10转动,继而使滑动设置于螺旋滑槽12内腔的滑杆15沿着螺旋滑槽12的轨迹运动,同时右侧滑杆15沿着滑槽14向下运动,使得滑杆15带动活动板8向下运动,继而使设置于活动板8底部左右两侧的扫描检测探头19对电子元件进行扫描检测,同时将扫描检测的图像反映至计算机上,通过计算机显示的图像确定电子元件表面质量是否存在问题,操作简单且方便快捷。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上公开的本发明优选实施例只是用于帮助阐述本发明。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节,也不限制该发明仅为所述的具体实施方式。显然,根据本说明书的内容,可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例,是为了更好地解释本发明的原理和实际应用,从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本发明。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。
Claims (5)
1.一种电子元件质量检测治具,包括检测台(1),其特征在于:所述检测台(1)的顶部开设有支架槽(2),所述支架槽(2)的左右两侧壁均设置有滑轨(3),两组所述滑轨(3)相互贴近一侧滑动设置有安装支架(4),所述安装支架(4)的顶部均匀开设有多组置放槽(5),所述检测台(1)顶部左右两侧对称设置有固定座(6),两组固定座(6)之间固定设置有固定杆(7);
所述检测台(1)顶部左右两侧开设有活动槽(9),左侧所述活动槽(9)的内腔设置有转动棍(10),所述转动棍(10)的顶部和底部均通过轴承与检测台(1)转动连接,所述转动棍(10)的顶部转动连接有电机(11),所述电机(11)固定于检测台(1)的外侧壁,所述转动棍(10)的外侧壁开设有螺旋滑槽(12),右侧所述活动槽(9)的内腔设置有固定辊(13),所述固定辊(13)的顶部和底部分别与活动槽(9)的顶部和底部相固接,所述固定辊(13)的顶部开设有滑槽(14),所述滑槽(14)和螺旋滑槽(12)的内腔均滑动设置有滑杆(15),所述滑杆(15)的顶部固定设置有活动板(8),所述活动板(8)活动套接于固定杆(7)的外侧壁。
2.根据权利要求1所述的一种电子元件质量检测治具,其特征在于:两组所述活动槽(9)的顶部均设置有密封盖(16),所述密封盖(16)通过锁紧螺钉(17)与检测台(1)的顶部相连接。
3.根据权利要求2所述的一种电子元件质量检测治具,其特征在于:所述密封盖(16)的顶部开设有供滑杆(15)滑动的滑动槽(18)。
4.根据权利要求1所述的一种电子元件质量检测治具,其特征在于:所述活动板(8)的底部左右两侧对称设置有扫描检测探头(19)。
5.根据权利要求4所述的一种电子元件质量检测治具,其特征在于:所述扫描检测探头(19)与计算机电性连接。
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CN201811522709.2A CN111323532A (zh) | 2018-12-13 | 2018-12-13 | 一种电子元件质量检测治具 |
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CN201811522709.2A Pending CN111323532A (zh) | 2018-12-13 | 2018-12-13 | 一种电子元件质量检测治具 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114414356A (zh) * | 2021-12-24 | 2022-04-29 | 中国建筑第八工程局有限公司 | 一种土木工程施工道路的强度检测装置及使用方法 |
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2018
- 2018-12-13 CN CN201811522709.2A patent/CN111323532A/zh active Pending
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