CN111308299B - 一种换流阀闭环回路测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种换流阀闭环回路测试系统及方法，所述测试系统包括控制信号模拟装置、回检信号模拟装置、晶闸管级测试装置。所述晶闸管级测试装置用于向所述待测晶闸管级施加测试电压、并向回检信号模拟装置输出测试电压的电压同步信号，回检信号模拟装置将电压同步信号传输至控制信号模拟装置，并依据电压同步信号产生模拟回检信号传输至阀基电子设备，所述控制信号模拟装置根据电压同步信号得到FCS信号并传输至阀基电子设备，以触发待测晶闸管级导通，本发明可有效避免因测试系统中各装置间时序配合困难影响测试效率的问题，而且无需对换流阀的各级晶闸管均施加高压就可保证阀基电子设备满足输出触发脉冲的条件，保证了测试过程中的安全性。

Description

一种换流阀闭环回路测试系统及方法

技术领域

本发明涉及直流输电领域，具体涉及换流阀闭环回路测试系统及方法。

背景技术

随着直流输电的迅速发展,晶闸管换流阀得到了广泛的应用。换流阀实现直流输电系统中交、直流之间的变换,是直流输电系统的核心设备。晶闸管级为换流阀的基本结构单元，由于高压直流输电电压等级高，换流阀通常由多级晶闸管串联组成，阀基电子设备VBE(Valve Base Electronics)直接控制晶闸管的触发和状态监测,对晶闸管阀的安全、稳定运行起着重要作用。注：阀基电子设备连接低压侧的极控与高压侧的换流阀,主要完成晶闸管的控制和保护任务:(1)接收极控发出的触发指令信号,将其转换为晶闸管电子板所需要的触发脉冲；(2)接收并处理晶闸管级电子板TCE回报的晶闸管状态信号,并把处理结果上报到后台。因此对换流阀闭环回路的测试就是对晶闸管级、阀基电子设备以及其与换流阀间的光纤进行测试，

目前对换流阀中晶闸管单元的触发和状态检测一般采用在晶闸管两端加上交流电源，同时由换流阀控制装置发出控制信号来检测和触发晶闸管单元，在晶闸管承受正向电压时，晶闸管单元的TCE板在接收到控制信号后，才能发出触发脉冲触发晶闸管，在电压过零时晶闸管自动关断，在此过程中，需要采样晶闸管两端电压，通过判断采样的晶闸管两端的正向导通电压信号或者反向阻断电压信号来判断晶闸管的好坏。采用换流阀技术的换流站在进行换流阀晶闸管触发测试时，现有技术必须逐级进行触发及回检光纤的拔插，这种测试方法工作量大又容易造成光纤的损坏，同时无法对阀基电子设备及阀基电子设备与换流阀间的光纤进行测试。

申请公布号为CN109613425A的中国专利文献公开了一种换流阀测试系统及方法，包括：

触发信号控制设备，与阀基电子设备连接，用于控制所述阀基电子设备输出光触发信号，其中，所述光触发信号用于触发待测晶闸管级导通，所述待测晶闸管级为待测换流阀中的任意一个晶闸管级；换流阀测试设备，采用接触式的方式与所述待测晶闸管级连接，用于向所述待测晶闸管级的两端施加测试电压信号，以及采集所述待测晶闸管级的正向导通电压信号和/或反向阻断电压信号，根据采集到的正向导通电压信号和/或反向阻断电压信号，确定所述待测晶闸管级是否损坏。本发明的优点是：利用触发信号控制设备和换流阀测试设备配合完成换流阀中晶闸管级的测试，可以实现在无需插拔电缆和光纤的情况下，完成换流阀中晶闸管级的各项功能，提高测试效率。另外，本发明实施例中的换流阀测试设备与待测晶闸管级之间采用接触的方式连接，可以实现快速切换待测晶闸管进行测试的目的。但是该测试系统在测试的过程中存在下列问题：各装置间的时序不易配合，测试效率不能保证，且测试过程中需在换流阀各级晶闸管上施压高压以使阀基电子设备正常工作，安全不易保证。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了一种换流阀闭环回路测试系统，系统中各个装置间通过光纤进行通信连接，测试用控制信号以及触发脉冲均是依据晶闸管级测试装置发出的电压同步信号来产生，本发明解决了测试过程中各装置间时序配合难的问题，保证测试效率，且通过回检信号模拟装置产生多路回检信号给阀基电子设备，无需对换流阀的各级晶闸管均施加高压就可保证阀基电子设备正常输出触发脉冲，保证了测试过程中的安全性。

本发明采用的技术方案为：

一种换流阀闭环回路测试系统，包括控制信号模拟装置、回检信号模拟装置以及晶闸管级测试装置；

所述控制信号模拟装置与回检信号模拟装置通信连接，且所述控制信号模拟装置、回检信号模拟装置均与阀基电子设备通信连接，所述晶闸管级测试装置分别与待测晶闸管级、回检信号模拟装置通信连接；

所述晶闸管级测试装置用于向所述待测晶闸管级施加测试电压、并向回检信号模拟装置输出测试电压的电压同步信号，所述电压同步信号为晶闸管级测试装置施加在晶闸管级两端的电压满足晶闸管正向导通电压后发出的预设脉宽光信号，回检信号模拟装置接收到电压同步信号后传输至控制信号模拟装置，同时依据电压同步信号产生模拟回检信号传输至阀基电子设备，所述控制信号模拟装置根据电压同步信号得到FCS信号并传输至阀基电子设备，以触发待测晶闸管级导通，所述晶闸管级测试装置同步采集所述待测晶闸管级两端的电压信号，以确定所述待测晶闸管级是否正常。

具体地，所述控制信号模拟装置包括接口单元、电信号转接单元、第一处理器单元、光电转换单元，所述第一处理器单元与光电转换单元连接，所述光电转换单元将回检信号模拟装置传入的电压同步信号进行光电转换得到电信号并传入第一处理器单元，所述第一处理器单元对传入的电信号进行分析处理得到FCS信号，所述电信号转接单元与第一处理器单元连接，所述接口单元与电信号转接单元连接，所述FCS信号经电信号转接单元进行信号转换后经接口单元输出至阀基电子设备。

具体地，所述晶闸管级测试装置包括第一电源模块、第二电源模块、信号采集单元、信号调理单元、第二处理器单元和指示单元；

所述第一电源模块用于提供晶闸管触发测试时的测试电压，所述第二电源模块用于提供晶闸管级阻抗测试时的直流电压。

所述信号采集单元分别与待测晶闸管级、信号调理单元连接，所述信号采集单元用于采集待测晶闸管级两端的电压信号并传输至信号调理单元进行调理；

所述第二处理器单元与信号调理单元连接，所述第二处理器单元依据调理后的电压信号产生电压同步信号并传输至回检信号模拟装置，同时对采集的电压信号进行分析处理得到测试结果；

所述指示单元与第二处理器单元连接，用于指示测试结果。

在测试时为了方便操作，所述晶闸管级测试装置还包括模式设定模块，所述模式设定模块与第二处理器单元连接，所述模式设定模块用于控制选择第一电源模块输出或者第二电源模块输出。

优选地，为了测试方便，所述晶闸管级测试装置还设置有手柄，所述第一电源模块、第二电源模块、信号采集单元均通过手柄与待测晶闸管级连接。

具体地，所述回检信号模拟装置包括第二接口单元和控制单元，所述接口单元分别与晶闸管级测试装置、阀基电子设备以及控制信号模拟装置连接，所述接口单元用于接收晶闸管级测试装置传入的电压同步信号并将该电压同步信号传送至控制信号模拟装置和控制单元，所述控制单元对电压同步信号进行处理转换并拓展得到多路模拟回检信号，所述模拟回检信号通过接口单元传输至阀基电子设备。进一步地，在测试时，为了避免现场高空铺设额外传输线路所增加的工作量及存在的安全隐患，所述晶闸管级测试装置与回检信号模拟装置通过晶闸管级与阀基电子设备之间的备用回检光纤进行连接。

本发明还提供了一种换流阀闭环回路测试方法，包括如下步骤：

a:利用晶闸管级测试装置向待测晶闸管级施加交流测试电压，同时采集晶闸管级两端的电压，在施加的测试电压为正向电压时输出电压同步信号到回检信号模拟装置；

b:回检信号模拟装置依据电压同步信号产生模拟回检信号至阀基电子设备，并将电压同步信号传输至控制信号模拟装置；

c:控制信号模拟装置依据电压同步信号发出FCS信号到阀基电子设备，阀基电子设备满足触发脉冲输出条件后输出触发脉冲至晶闸管级；

d:采集晶闸管级两端电压波形信号，并以此判断晶闸管是否正常。

优选地，所述测试方法还包括：在晶闸管不导通时，通过晶闸管级测试装置在晶闸管级两端施加直流电压来测试晶闸管级阻尼回路的阻尼参数。

进一步地，所述测试方法还包括：在进行晶闸管级触发测试时，通过阀基电子设备后台监视到相应位置晶闸管的报文，通过判断报文位置与施加测试电压的晶闸管级位置是否一致来判断晶闸管级回检光纤及阀基电子设备接收功能是否正常。

本发明的有益效果为：

利用本发明所述测试系统进行晶闸管级触发测试时，晶闸管级测试装置在晶闸管级两端施加测试电压后通过同步采集晶闸管级两端的电压，在采集的晶闸管级两端的电压满足正向导通电压后输出电压同步信号至回检信号模拟装置，所述电压同步信号用于回检信号模拟装置产生模拟回检信号并输出到阀基电子设备，同时回检信号模拟装置将电压同步信号传输至控制信号模拟装置，控制信号模拟装置依据传入的电压同步信号产生FCS信号并输出到阀基电子设备以使阀基电子设备发出触发脉冲到晶闸管级，本发明可有效避免因测试系统中各装置间时序配合困难影响测试效率的问题，进一步地，通过回检信号模拟装置依据电压同步信号产生模拟回检信号并输出至阀基电子设备，无需对换流阀的各级晶闸管均施加高压就可保证阀基电子设备满足输出触发脉冲的条件，保证了测试过程中的安全性。

附图说明

图1为本发明所述测试系统的原理框图；

图2为本发明所述晶闸管级测试装置的结构框图；

图3为本发明所述晶闸管级测试装置结构示意图；

图4为本发明所述控制信号模拟装置原理框图；

图5为晶闸管级阻抗测试连接示意图；

图6为本发明所述测试方法流程图；

图7为晶闸管级测试时各装置输出信号时序图。

具体实施方式

为了更好的理解本发明所述技术方案，下面结合附图和具体实施例对本发明做详细说明：

一种换流阀闭环回路测试系统，包括控制信号模拟装置、回检信号模拟装置以及晶闸管级测试装置；

如图1所示，所述控制信号模拟装置与回检信号模拟装置通信连接，且所述控制信号模拟装置、回检信号模拟装置均与阀基电子设备通信连接，所述晶闸管级测试装置分别与待测晶闸管级、回检信号模拟装置通信连接。

所述晶闸管级测试装置用于向所述待测晶闸管级施加测试电压、并向回检信号模拟装置输出测试电压的电压同步信号，所述电压同步信号为晶闸管级测试装置在晶闸管级两端的电压满足晶闸管正向导通电压后发出的预设脉宽光信号，回检信号模拟装置接收到电压同步信号后传输至控制信号模拟装置，同时依据电压同步信号产生模拟回检信号传输至阀基电子设备，所述控制信号模拟装置根据电压同步信号得到FCS信号并传输至阀基电子设备，以触发待测晶闸管级导通，所述晶闸管级测试装置同步采集所述待测晶闸管级两端的电压信号，以确定所述待测晶闸管级是否正常。

在利用本发明所述测试系统进行晶闸管级触发测试时，所述电压同步信号一方面用于控制信号模拟装置产生FCS信号并输出到阀基电子设备，另一方面用于回检信号模拟装置产生模拟回检信号并输出到阀基电子设备以使阀基电子设备发出触发脉冲到晶闸管级，可有效避免因测试系统中各装置间时序配合困难影响测试效率的问题，进一步地，通过回检信号模拟装置依据电压同步信号产生模拟回检信号并输出至阀基电子设备，无需对换流阀的各级晶闸管均施加高压就可保证阀基电子设备满足输出触发脉冲的条件，保证了测试过程中的安全性。

作为具体实施例，一种换流阀闭环回路测试系统，包括控制信号模拟装置、回检信号模拟装置以及晶闸管级测试装置，所述晶闸管级测试装置在换流阀侧使用，所述控制信号模拟装置以及回检信号模拟装置均在阀基电子设备侧使用；

所述控制信号模拟装置与回检信号模拟装置通信连接，且所述控制信号模拟装置、回检信号模拟装置均与阀基电子设备通信连接，所述晶闸管级测试装置分别与待测晶闸管级、回检信号模拟装置通信连接。

具体地，所述晶闸管级测试装置与回检信号模拟装置通过备用回检光纤进行连接，所述备用回检光纤为晶闸管级与阀基电子设备之间预先铺设的备用回检光纤，该连接方式可以避免现场高空铺设传输线路所增加的工作量及存在的安全隐患；如图2所示，所述晶闸管级测试装置包括第一电源模块、第二电源模块、信号采集单元、信号调理单元、第二处理器单元和指示单元；

所述第一电源模块用于提供晶闸管触发测试时的测试电压，所述第二电源模块用于提供晶闸管级阻抗测试时的直流电压。

具体地，如图3所示，所述第一电源模块包括隔离变压器、第一电源输出控制开关K4以及分压电阻R3，所述隔离变压器采用220V/380V的隔离变压器，所述分压电阻R3的第一端与隔离变压器的输出端连接，所述分压电阻R3的第二端与晶闸管级连接。

所述第二电源模块包括AC/DC电源模块、第二电源输出控制开关K6、第一继电器开关K1、充电电阻R1、第二继电器开关K2、放电电阻R2，所述充电电阻R1与第一继电器开关K1串接后作为整体与晶闸管级串联连接，所述放电电阻R2与第二继电器开关K2串接后作为整体与所述晶闸管级并联连接，所述充电电阻R1、放电电阻R2的阻值均大于10倍阻尼电阻R的阻值。

所述信号采集单元分别与待测晶闸管级、信号调理单元连接，所述信号采集单元用于采集待测晶闸管级两端的电压信号并传输至信号调理单元进行调理。

所述第二处理器单元与信号调理单元连接，所述第二处理器单元包括MCU和FPGA，FPGA依据传入的电压信号输出电压同步信号并传输至回检信号模拟装置，同时对采集的电压信号进行分析处理得到测试结果传至MCU；

所述指示单元与MCU连接，用于指示测试结果。

所述晶闸管级测试装置还包括光信号发生模块，所述光信号发生模块与FPGA连接，在进行晶闸管级触发测试时，所述晶闸管级测试装置还可直接实现不带阀控设备的触发测试，具体为：所述晶闸管级测试装置的光信号发生模块通过触发光纤与晶闸管级连接，在晶闸管级测试装置采集的测试电压满足正向导通电压后通过FPGA控制光信号发生模块向晶闸管发出触发光脉冲以触发晶闸管导通，测试过程中信号采集单元采集晶闸管级两端的电压波形信号，并以此判断晶闸管是否能正常触发导通。

进一步地，在测试时为了方便操作，所述晶闸管级测试装置还包括模式设定模块，所述模式设定模块与MCU连接，所述模式设定模块用于控制选择第一电源模块输出或者第二电源模块输出。

为了测试方便，所述晶闸管级测试装置还设置有手柄，所述手柄为方便晶闸管级测试装置与晶闸管级连接的连接件，所述第一电源模块、第二电源模块均通过手柄与待测晶闸管级连接。

在进行触发功能测试时，第一电源输出控制开关K4以及手柄输出控制开关K5闭合，第一电源模块施加测试电压到晶闸管级两端，信号采集单元采集测试过程中的电压波形信号并传输至第二处理器单元进行处理分析得出测试结果。

在进行阻抗测试时，第二电源输出控制开关K6以及手柄输出控制开关K5闭合，第二电源模块施加直流电压到晶闸管级两端，信号采集单元采集测试过程中晶闸管级两端的电压并传输至第二处理器单元进行处理分析得出测试结果。

如图4所示，所述控制信号模拟装置包括接口单元、电信号转接单元、第一处理器单元、光电转换单元，所述回检信号模拟装置与光电转换单元连接，所述第一处理器单元与光电转换单元连接，所述光电转换单元将回检信号模拟装置传入的电压同步信号进行光电转换得到电信号并传入第一处理器单元，所述第一处理器单元对传入的电信号进行分析处理得到FCS信号，所述电信号转接单元与第一处理器单元连接，所述接口单元与电信号转接单元连接，所述FCS信号经电信号转接单元进行信号转换后经接口单元输出至阀基电子设备。

所述回检信号模拟装置包括第二接口单元和控制单元，所述接口单元分别与晶闸管级测试装置、阀基电子设备以及控制信号模拟装置连接，所述接口单元用于接收晶闸管级测试装置传入的电压同步信号并将该电压同步信号传送至控制信号模拟装置和控制单元，所述控制单元对电压同步信号进行处理转换并拓展为多路得到模拟回检信号，所述模拟回检信号通过接口单元传输至阀基电子设备。

本发明还提供了一种换流阀闭环回路测试方法:

如图6所示，包括如下步骤：

a:利用晶闸管级测试装置向待测晶闸管级施加交流测试电压，同时采集晶闸管级两端的电压，在施加的测试电压为正向电压时输出电压同步信号到回检信号模拟装置；

b:回检信号模拟装置依据电压同步信号产生模拟回检信号至阀基电子设备，并将电压同步信号传输至控制信号模拟装置；

c:控制信号模拟装置依据电压同步信号发出FCS信号到阀基电子设备，阀基电子设备满足触发脉冲输出条件后输出触发脉冲至晶闸管级；

d:采集晶闸管级两端电压波形信号，并以此判断晶闸管是否正常。

具体地，如图7所示为晶闸管触发测试时各装置输出信号时序图，如果采集的晶闸管级两端的电压波形连续多个周期出现正向导通现象，说明晶闸管正常且阀基电子设备触发功能以及触发回路正常。

所述测试方法还包括：在晶闸管不导通时，通过晶闸管级测试装置在晶闸管级两端施加直流电压来测试晶闸管级阻尼回路的阻尼参数，具体通过所述第二电源转换模块为晶闸管级供电。

图5所示为阻抗测试时电路连接示意图，在进行阻抗测试时晶闸管不导通，可视为断路的晶闸管级阻尼回路等效图(图中虚线部分所示)。

阻尼回路测试的具体测试过程如下：

先闭合第一继电器开关K1，通过充电电阻R1和阻尼电阻R给阻尼电容C充电(R和C的值使用工程设定值)，计算阻尼电容充电过程中的时间常数τ1，充电时间常数τ1＝(R+R1)*C，

充电开始后分别采样0.5τ1、1τ1、1.5τ1、2.0τ1、2.5τ1、3.0τ1时刻的阻尼回路两端的电压，充电至8τ1时刻断开第一继电器开关K1，采样此时阻尼电容的电压作为最终充满时刻电压值U0(同时也为阻尼电容放电时刻的采样电压值)；

之后断开第一继电器开关K1,闭合第二继电器开关K2，通过阻尼电阻R与放电电阻R2对阻尼电容C进行放电，放电总电阻为阻尼电阻R和放电电阻R2的串联，放电时间常数τ2＝(R+R2)*C。

放电开始后分别采样0.3τ2、0.6τ2、0.9τ2、1.2τ2、1.5τ2时刻阻尼回路两端的电压，因为放电电阻R2远大于阻尼电阻R，忽略阻尼电阻R两端的电压，阻尼电容C两端的电压可以认为是阻尼回路两端的采样电压。

根据电容放电公式可得：

其中u为第一采样时刻阻尼电容两端的电压值，U为第二采样时刻阻尼电容两端的电压值，t为第一采样时刻与第二采样时刻的时间差；

利用6次采样电压(开始放电时刻的采样电压以及0.3τ2、0.6τ2、0.9τ2、1.2τ2、1.5τ2时刻的采样电压)分别计算出5个阻尼电阻值，然后求5个阻尼电阻值的平均值作为最终的阻尼电阻R的值。

计算出阻尼电阻R后依据电容充电公式：可得

其中，U_t为充电过程中采样时刻电容两端的电压值，T为开始充电至采样时刻的时间差；

利用6个充电时刻的采样电压分别计算出6个阻尼电容值，然后求6个阻尼电容值的平均值作为最终阻尼电容值。

为了检测晶闸管级回检光纤以及阀基电子设备的接收功能是否正常，在进行晶闸管级触发测试时，阀基电子设备后台会监视到相应位置晶闸管的报文，如果报文位置与施加测试电压的晶闸管级位置一致则说明晶闸管级回检光纤及阀基电子设备接收功能正常。

本发明可有效避免因测试系统中各装置间时序配合困难影响测试效率的问题，进一步地，通过回检信号模拟装置依据电压同步信号产生模拟回检信号并输出至阀基电子设备，无需对换流阀的各级晶闸管均施加高压就可保证阀基电子设备满足输出触发脉冲的条件，保证了测试过程中的安全性。

以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入本发明要求保护的范围内。

Claims (10)

1.一种换流阀闭环回路测试系统，其特征在于：包括控制信号模拟装置、回检信号模拟装置以及晶闸管级测试装置；

所述控制信号模拟装置与回检信号模拟装置通信连接，且所述控制信号模拟装置、回检信号模拟装置均与阀基电子设备通信连接，所述晶闸管级测试装置分别与待测晶闸管级、回检信号模拟装置通信连接；

所述晶闸管级测试装置用于向所述待测晶闸管级施加测试电压、并向回检信号模拟装置输出测试电压的电压同步信号，所述电压同步信号为晶闸管级测试装置施加在晶闸管级两端的电压满足晶闸管正向导通电压后发出的预设脉宽光信号，回检信号模拟装置接收到电压同步信号后传输至控制信号模拟装置，同时依据电压同步信号产生模拟回检信号传输至阀基电子设备，所述控制信号模拟装置根据电压同步信号得到FCS信号并传输至阀基电子设备，以触发待测晶闸管级导通，所述晶闸管级测试装置同步采集所述待测晶闸管级两端的电压信号，以确定所述待测晶闸管级是否正常。

2.如权利要求1所述的换流阀闭环回路测试系统，其特征在于：所述控制信号模拟装置包括接口单元、电信号转接单元、第一处理器单元、光电转换单元，所述第一处理器单元与光电转换单元连接，所述光电转换单元将回检信号模拟装置传入的电压同步信号进行光电转换得到电信号并传入第一处理器单元，所述第一处理器单元对传入的电信号进行分析处理得到FCS信号，所述电信号转接单元与第一处理器单元连接，所述接口单元与电信号转接单元连接，所述FCS信号经电信号转接单元进行信号转换后经接口单元输出至阀基电子设备。

3.如权利要求1所述的换流阀闭环回路测试系统，其特征在于：所述晶闸管级测试装置包括第一电源模块、第二电源模块、信号采集单元、信号调理单元、第二处理器单元和指示单元；

所述第一电源模块用于提供晶闸管触发测试时的测试电压，所述第二电源模块用于提供晶闸管级阻抗测试时的直流电压；

所述信号采集单元分别与待测晶闸管级、信号调理单元连接，所述信号采集单元用于采集待测晶闸管级两端的电压信号并传输至信号调理单元进行调理；

所述第二处理器单元与信号调理单元连接，所述第二处理器单元依据调理后的电压信号产生电压同步信号并传输至回检信号模拟装置，同时对采集的电压信号进行分析处理得到测试结果；

所述指示单元与第二处理器单元连接，用于指示测试结果。

4.如权利要求3所述的换流阀闭环回路测试系统，其特征在于：所述晶闸管级测试装置还包括模式设定模块，所述模式设定模块与第二处理器单元连接，所述模式设定模块用于控制选择第一电源模块输出或者第二电源模块输出。

5.如权利要求3所述的换流阀闭环回路测试系统，其特征在于：所述晶闸管级测试装置还设置有手柄，所述第一电源模块、第二电源模块、信号采集单元均通过手柄与待测晶闸管级连接。

6.如权利要求1所述的换流阀闭环回路测试系统，其特征在于：所述回检信号模拟装置包括第二接口单元和控制单元，所述接口单元分别与晶闸管级测试装置、阀基电子设备以及控制信号模拟装置连接，所述接口单元用于接收晶闸管级测试装置传入的电压同步信号并将该电压同步信号传送至控制信号模拟装置和控制单元，所述控制单元对电压同步信号进行处理转换并拓展得到多路模拟回检信号，所述模拟回检信号通过接口单元传输至阀基电子设备。

7.如权利要求1所述的换流阀闭环回路测试系统，其特征在于：所述晶闸管级测试装置与回检信号模拟装置通过晶闸管级与阀基电子设备之间的备用回检光纤进行连接。

8.一种应用于权利要求1至7任一所述的换流阀闭环回路测试系统的测试方法，其特征在于：包括如下步骤：

a: 利用晶闸管级测试装置向待测晶闸管级施加交流测试电压，同时采集晶闸管级两端的电压，在施加的测试电压为正向电压时输出电压同步信号到回检信号模拟装置；

b:回检信号模拟装置依据电压同步信号产生模拟回检信号至阀基电子设备，并将电压同步信号传输至控制信号模拟装置；

c:控制信号模拟装置依据电压同步信号发出FCS信号到阀基电子设备，阀基电子设备满足触发脉冲输出条件后输出触发脉冲至晶闸管级；

d:采集晶闸管级两端电压波形信号，并以此判断晶闸管是否正常。

9.如权利要求8所述的换流阀闭环回路测试方法，其特征在于：所述测试方法还包括：在晶闸管不导通时，通过晶闸管级测试装置在晶闸管级两端施加直流电压来测试晶闸管级阻尼回路参数。

10.如权利要求8所述的换流阀闭环回路测试方法，其特征在于：所述测试方法还包括：在进行晶闸管级触发测试时，阀基电子设备后台会监视到相应位置晶闸管的报文，通过判断报文位置与施加测试电压的晶闸管级位置是否一致来判断晶闸管级回检光纤及阀基电子设备接收功能是否正常。

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