CN111305514B - 一种抹灰方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例提供一种抹灰方法及装置,涉及抹灰技术领域。该装置包括激光投线仪,安装在与抹灰墙面间隔固定距离设置的平行面上,用于发射平行于抹灰墙面的激光线,以构成激光线束面并作为抹灰面板移动的参考基准;抹灰面板,用于根据参考基准对所述抹灰墙面进行移动抹灰;至少两个图像传感器,安装在平行于抹灰面板的平面上,用于对所述激光线进行拍照,并通过所述激光线的图像数据获取所述图像传感器所在的直线与激光线的偏转夹角,以调节所述抹灰面板的水平角度和/或与激光线束面的距离;解决现有的抹灰面板移动方式导致各幅抹灰面之间出现高度差以及抹灰面倾斜、凹凸不平的问题。
Description
技术领域
本申请涉及抹灰技术领域,具体而言,涉及一种抹灰方法及装置。
背景技术
现有的抹灰机在工作过程中,由于抹灰面板尺寸的限制,需要一幅一幅的移动抹灰。而抹灰机需要在导航及舵轮的驱动下进行移动或人工进行推动,该两种移动方式将导致各幅抹灰面之间出现高度差以及抹灰面倾斜、凹凸不平的问题。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种抹灰方法及装置,设置抹灰面板移动的参考基准,确保抹灰面板以与墙面之间的固定距离进行移动,解决现有的抹灰面板移动方式导致各幅抹灰面之间出现高度差以及抹灰面倾斜、凹凸不平的问题。
本申请实施例提供一种抹灰装置,所述装置包括:
激光投线仪,安装在与抹灰墙面间隔固定距离设置的平行面上,用于发射平行于抹灰墙面的激光线,以构成激光线束面并作为抹灰面板移动的参考基准;
抹灰面板,用于根据所述参考基准对所述抹灰墙面进行移动抹灰。
在上述实现过程中,在与抹灰墙面一定距离的平行面上设置有激光投线仪,该激光投线仪可以向抹灰墙面的垂直墙面发射激光线,发射的激光线可以覆盖整个距离墙面一定距离的平行面,因此,发射的激光线可以构成激光线束面;将激光线束面作为抹灰面板移动的参考基准,使得在移动抹灰面板对抹灰墙面进行移动抹灰的过程中,保证了抹灰板与激光线束面的平行和固定距离,也就间接保证了整个墙面抹灰的平整度,确保抹灰面板以与墙面之间的固定距离进行移动,解决现有的抹灰面板移动方式导致各幅抹灰面之间出现高度差以及抹灰面倾斜、凹凸不平的问题。
至少两个图像传感器,安装在平行于抹灰面板的平面上,用于对所述激光线进行拍照,并通过所述激光线的图像数据获取所述图像传感器所在的直线与激光线的偏转夹角,以调节所述抹灰面板的水平角度和/或与激光线束面的距离。
在上述实现过程中,在抹灰面板横向移动过程中,图像传感器对激光线进行拍照,根据激光线在图片中的位置得到图像传感器所在的直线与激光线的偏转夹角,根据该偏转夹角调整抹灰面板的水平角度和距离,从而进一步保证抹灰面板与激光线束面的平行和固定距离以及抹灰面板移动过程中的平直,进一步解决了现有的抹灰面板移动方式导致各幅抹灰面之间出现高度差以及抹灰面倾斜、凹凸不平的问题。
进一步地,所述装置还包括:
线激光位移传感器,用于在抹灰面板进行移动过程中扫描已抹灰面,以确定当前已抹灰面的接缝边缘位置和与下一幅抹灰面的重叠区域的尺寸,并根据重叠区域的尺寸控制抹灰面板移动至对应位置进行抹灰。
在上述实现过程中,线激光位移传感器可以用于检测抹灰墙面的高度差异变化,抹灰的高度差异将会导致线激光位移传感器的反馈信号出现差异,因此可以根据线激光位移传感器的反馈信息确定已抹灰面的接缝边缘位置以及与下一幅抹灰面的重叠区域的尺寸,根据重叠区域的尺寸控制抹灰面板移动至对应位置按要求尺寸进行重叠再开始进行抹灰,以解决可能存在的缺口、鼓边等问题,保证抹灰接缝处的质量。
进一步地,所述图像传感器为CCD图像传感器。
CCD图像传感器具有强大的自扫描功能,且图像清晰度好,可以随时捕捉图像,具有体积小、灵敏度高等优点,可以精确捕捉激光线,以确定偏转夹角。
进一步地,所述装置还包括:
固定轨道,设置于抹灰墙面邻侧,所述抹灰面板与所述固定轨道滑动连接,用于以所述激光线束面为参考基准滑动抹灰面板。
在上述实现过程中,以所述激光线束面为参考基准,在抹灰墙面邻侧设置固定轨道,抹灰面板与固定轨道滑动连接,使得抹灰面板在移动抹灰的过程中与抹灰墙面的距离保持不变,从而确保抹灰面具有较好的平整度。
本申请实施例还提供一种抹灰方法,应用于上述中的抹灰装置,该方法包括:
通过激光投线仪向抹灰墙面的垂直墙面发射激光线并将所述激光线构成激光线束面,所述激光束面与抹灰墙面间隔固定距离设置,以作为抹灰面板移动的参考基准;
抹灰面板根据所述参考基准对所述抹灰墙面进行移动抹灰。
在上述实现过程中,通过激光投线仪发射的激光线构成激光线束面,由于激光线束面与抹灰墙面平行且距离固定,因此,可以将激光线束面作为抹灰面板移动过程中的参考基准,从而保证了抹灰面板与抹灰墙面之间的距离在要求范围内,从而保证了抹灰墙面的平整度,解决现有的抹灰面板移动方式导致各幅抹灰面之间出现高度差以及抹灰面倾斜、凹凸不平的问题。
进一步地,所述方法还包括:
通过图像传感器对激光线进行拍照,根据所述激光线的图像数据获取图像传感器所在的直线与激光线的偏转夹角,以根据所述偏转夹角调节所述抹灰面板的水平角度和/或与所述激光线束面的距离。
在上述实现过程中,通过图像传感器对激光线进行拍照,从而获取激光线在图像中的位置;基于两点一线原理得到两个图像传感器中心连线与激光线的偏转夹角,从而根据偏转夹角调节抹灰面板的水平角度以及与激光线束面的距离,从而保证抹灰面板与激光线束面的平行和固定距离,确保整个抹灰墙面的平整度。
进一步地,所述方法还包括:
在抹灰面板以激光线束面为参考基准进行移动过程中,通过线激光位移传感器扫面已抹灰面,以确定当前已抹灰面的接缝边缘位置和与下一幅抹灰面的重叠区域的尺寸,以控制抹灰面板移动至对应位置进行抹灰。
在上述实现过程中,通过线激光位移传感器对已抹灰面进行扫描,从而确定当前已抹灰面的接缝边缘位置以及与下一幅抹灰面的重叠区域的尺寸,根据该重叠区域的尺寸将抹灰面板移动至该尺寸对应的位置,从该对应的位置处开始下一幅抹灰面的抹灰工作,通过确定两幅抹灰面之间的重叠区域的尺寸,可以提高接缝边缘位置处的抹灰质量,避免可能存在的缺口、鼓边等问题。
进一步地,所述图像传感器为CCD图像传感器,通过CCD图像传感器对激光线进行拍照。
CCD图像传感器如CCD照相机可以精确捕捉到激光线,并准确确定偏转夹角,进一步定位抹灰面板,保证抹灰平面的平整度。
进一步地,所述方法还包括:
通过固定轨道固定抹灰面板,以使抹灰面板以所述激光线束面为参考基准在所述固定轨道上滑动。
在上述实现过程中,以激光线束面为参考基准设置固定轨道,使得抹灰面板可以在固定轨道上滑动抹灰且抹灰面板与抹灰墙面的距离固定不变,从而保证抹灰面的平整度。
本申请实施例还提供一种电子设备,所述电子设备包括存储器以及处理器,所述存储器用于存储计算机程序,所述处理器运行所述计算机程序以使所述计算机设备执行上述中任一项所述的抹灰方法。
本申请实施例还提供一种可读存储介质,所述可读存储介质中存储有计算机程序指令,所述计算机程序指令被一处理器读取并运行时,执行上述中任一项所述的抹灰方法。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案,下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本申请的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本申请实施例提供的一种抹灰装置的结构示意图;
图2为本申请实施例提供的两个CCD图像传感器的中心连线与激光投线仪投射的激光线的夹角(偏转夹角)示意图;
图3为本申请实施例提供的线激光位移传感器扫描抹灰面边缘的结构示意图;
图4为本申请实施例提供的一种抹灰方法的流程图。
图标:
100-已抹灰面;200-抹灰面板;300-CCD图像传感器;400-抹灰机本体;500-激光线;600-激光投线仪;700-CCD图像传感器中心连线;800-重叠区域;900-线激光位移传感器。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行描述。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时,在本申请的描述中,术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
实施例1
请参看图1,图1为本申请实施例提供的一种抹灰装置的结构示意图,如图1所示,该装置具体可以包括:
激光投线仪600,安装在与抹灰墙面间隔固定距离设置的平行面上,用于向抹灰墙面的垂直墙面发射激光线500且该垂直墙面处于抹灰面板移动方向的反向一侧,如图1中的抹灰面板向右平移进行抹灰,垂直墙面处于该抹灰墙面的左侧,即激光投线仪600发射平行于抹灰墙面的激光线,以构成平行于抹灰墙面的激光线束面并作为抹灰面板200移动的参考基准;
激光投线仪600在使用时向抹灰墙面的垂直墙面发射激光线500,并且该激光线500可以覆盖整个距离墙面一定距离的平行面,因此,发射的激光线500可以构成激光线束面;
抹灰面板200,用于根据参考基准对所述抹灰墙面进行移动抹灰。
将激光线束面作为抹灰面板200移动的参考基准,使得在移动抹灰面板200对抹灰墙面进行移动抹灰的过程中,保证了抹灰板与激光线束面的平行和固定距离,也就间接保证了整个墙面抹灰的平整度,确保抹灰面板200以与墙面之间的固定距离进行移动,该激光投线仪600能够辅助抹灰面板200进行定位,解决现有的抹灰面板200移动方式导致各幅抹灰面之间出现高度差以及抹灰面倾斜、凹凸不平的问题。
进一步地,该抹灰装置还可以包括:
至少两个图像传感器,示例的,该图像传感器可以采用CCD(Charged CoupledDevice,电荷耦合元件)图像传感器,如CCD照相机,本申请实施例中设置有2个CCD图像传感器300,安装在平行于抹灰面板200的平面上,用于对激光线500进行拍照,并通过激光线500的图像数据获取所述图像传感器所在的直线与激光线500的偏转夹角,以调节所述抹灰面板200的水平角度和/或与激光线束面的距离。
在抹灰面板200在导航指令下横向移动时,控制CCD图像传感器300启动并对激光线500进行拍照,通过两个CCD图像传感器300获取图像数据,通过该图像数据可以计算出激光线500在图像中的具体位置,以确定激光线500与两个CCD图像传感器300的中心线所在直线的夹角。具体的,如图2所示,为两个CCD图像传感器中心连线700与激光投线仪600投射的激光线500的夹角(偏转夹角)示意图。基于两点一线的原理,通过CCD图像传感器中心连线700与激光线500的偏转夹角θ可以确定抹灰面板200的水平角度。抹灰装置可以根据特定的运动算法驱动抹灰面板200调整水平角度和抹灰墙面的距离,从而保证抹灰面板200与激光线束面处于平行状态并保持固定的距离,并且保持偏转夹角θ固定不变,例如θ的度数始终为0,可以使得抹灰面板200在移动过程中始终保持水平向右移动,如此可进一步提升整面抹灰墙面的平整度。
作为另外一种实施例,为了较好保证抹灰墙面的平整度,可以基于激光投线仪600的参考基准,设置固定轨道。
具体地,固定轨道,设置于抹灰墙面邻侧,抹灰面板200与固定轨道滑动连接,抹灰面板200以激光线束面为参考基准沿固定轨道对墙面进行抹灰,确保抹灰面板200在移动抹灰的过程中,始终与抹灰墙面保持固定距离,从而保证了抹灰墙面的平整度。
进一步地,该抹灰装置还可以包括:
线激光位移传感器900,用于在抹灰面板200进行移动过程中扫描已抹灰面100,以确定当前已抹灰面100的接缝边缘位置和与下一幅抹灰面的重叠区域800的尺寸,并根据重叠区域800的尺寸控制抹灰面板200移动至对应位置进行抹灰。
线激光位移传感器900可以用于检测抹灰墙面如有无抹灰的高度差异变化,抹灰的高度差异将会导致线激光位移传感器900的反馈信号出现差异;如果线激光位移传感器900反馈的信号存在一个较大范围的差异变化,则抹灰装置可以根据反馈信息确定已抹灰面100的接缝边缘位置。
如图3所示,为线激光位移传感器900扫描抹灰面边缘的结构示意图。抹灰装置在接缝边缘位置处可以用线激光位移传感器900基于抹灰墙面的垂直方向进行扫描,可以确定已抹灰面100整个接缝边缘的位置以及接缝边缘的质量情况,从而进一步确定下一幅抹灰面需要与当前已抹灰面100的重叠区域800尺寸。如图3所示,墙面的左侧为已抹灰面100,墙面的右侧为未抹墙面,抹灰面板200需要从左侧的重叠区域800的左端向右移动,对未抹墙面进行移动抹灰,线激光位移传感器900设置于抹灰机本体400的左端,用于检测当前已抹灰面100的边缘接缝位置,通过线激光位移传感器900确定当前已抹灰面100的右侧与下一幅抹灰面的重叠区域800的尺寸,调整抹灰面板200平行移动至该重叠区域800的左端,保证下一幅抹灰面的左侧区域覆盖该重叠区域800并按照要求的尺寸进行重叠,再移动抹灰面板200向右移动对下一幅抹灰面进行抹灰操作,通过该操作可以提高抹灰接缝边缘处的质量,解决接缝边缘处可能存在的缺口、鼓边等问题。
实施例2
本申请实施例还提供一种抹灰方法,如图4所示,为该抹灰方法的流程图。应用于实施例1所述的抹灰装置,该方法具体可以包括以下步骤:
S100:通过激光投线仪600向抹灰墙面的垂直墙面发射激光线500并将所述激光线500构成激光线束面,所述激光束面与抹灰墙面间隔固定距离设置,以作为抹灰面板200移动的参考基准;
S200:利用抹灰面板200根据参考基准对抹灰墙面进行移动抹灰。
在上述实现过程中,通过激光投线仪600发射的激光线500构成激光线束面,由于激光线束面与抹灰墙面平行且距离固定,因此,可以将激光线束面作为抹灰面板200移动过程中的参考基准,从而保证了抹灰面板200与抹灰墙面之间的距离在要求范围内,从而保证了抹灰墙面的平整度,解决现有的抹灰面板200移动方式导致各幅抹灰面之间出现高度差以及抹灰面倾斜、凹凸不平的问题。
示例的,该方法还可以包括:
通过图像传感器对激光线500进行拍照,根据所述激光线500的图像数据获取图像传感器所在的直线与激光线500的偏转夹角,以根据所述偏转夹角调节所述抹灰面板200的水平角度和/或与激光线束面的距离。
在上述实现过程中,通过图像传感器对激光线500进行拍照,从而获取激光线500在图像中的位置;基于两点一线原理得到两个图像传感器中心连线与激光线500的偏转夹角,从而根据偏转夹角调节抹灰面板200的水平角度以及与激光线束面的距离,从而保证抹灰面板200与激光线束面的平行和固定距离,确保整个抹灰墙面的平整度。
示例的,该方法还可以包括:
在抹灰面板200以激光线束面为参考基准进行移动过程中,通过线激光位移传感器900扫描已抹灰面100,以确定当前已抹灰面100的接缝边缘位置和与下一幅抹灰面的重叠区域800的尺寸,以控制抹灰面板200移动至对应位置进行抹灰。
在上述实现过程中,通过线激光位移传感器900对已抹灰面100进行扫描,从而确定当前已抹灰面100的接缝边缘位置以及与下一幅抹灰面的重叠区域800的尺寸,根据该重叠区域800的尺寸将抹灰面板200移动至该尺寸对应的位置,从该对应的位置处开始下一幅抹灰面的抹灰工作,通过确定两幅抹灰面之间的重叠区域800的尺寸,可以提高接缝边缘位置处的抹灰质量,避免可能存在的缺口、鼓边等问题。
示例的,该方法还可以包括:
通过固定轨道固定抹灰面板200,以使抹灰面板200以所述激光线束面为参考基准在所述固定轨道上滑动。
在上述实现过程中,以激光线束面为参考基准设置固定轨道,使得抹灰面板200可以在固定轨道上滑动抹灰且抹灰面板200与抹灰墙面的距离固定不变,从而保证抹灰面的平整度。
实施例3
本申请实施例还提供一种电子设备,所述电子设备包括存储器以及处理器,所述存储器用于存储计算机程序,所述处理器运行所述计算机程序以使所述计算机设备执行实施例1中任一项所述的抹灰方法。
本申请实施例还提供一种可读存储介质,所述可读存储介质中存储有计算机程序指令,所述计算机程序指令被一处理器读取并运行时,执行实施例1中任一项所述的抹灰方法。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的装置和方法,也可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,附图中的流程图和框图显示了根据本申请的多个实施例的装置、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上,流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分,所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意,在有些作为替换的实现方式中,方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如,两个连续的方框实际上可以基本并行地执行,它们有时也可以按相反的顺序执行,这依所涉及的功能而定。也要注意的是,框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合,可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现,或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
另外,在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分,也可以是各个模块单独存在,也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。
所述功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述仅为本申请的实施例而已,并不用于限制本申请的保护范围,对于本领域的技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
以上所述,仅为本申请的具体实施方式,但本申请的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此,本申请的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
Claims (8)
1.一种抹灰装置,其特征在于,所述装置包括:
激光投线仪,安装在与抹灰墙面间隔固定距离设置的平行面上,用于发射平行于抹灰墙面的激光线,以构成激光线束面并作为抹灰面板移动的参考基准;
抹灰面板,用于根据所述参考基准对所述抹灰墙面进行移动抹灰;
至少两个图像传感器,安装在平行于抹灰面板的平面上,用于对所述激光线进行拍照,并通过所述激光线的图像数据获取所述图像传感器所在的直线与激光线的偏转夹角,以调节所述抹灰面板的水平角度和/或与激光线束面的距离;
线激光位移传感器,设置于抹灰机本体上,且设置于所述抹灰机本体的与抹灰方向相反的端部,用于检测已抹灰面与未抹墙面对应的边缘接缝位置,以确定下一幅抹灰面的重叠区域的尺寸,并根据重叠区域的尺寸控制抹灰面板移动至所述边缘接缝位置进行抹灰。
2.根据权利要求1所述的抹灰装置,其特征在于:
所述图像传感器为CCD图像传感器。
3.根据权利要求1所述的抹灰装置,其特征在于,所述装置还包括:
固定轨道,设置于抹灰墙面邻侧,所述抹灰面板与所述固定轨道滑动连接,用于以所述激光线束面为参考基准滑动抹灰面板。
4.一种抹灰方法,其特征在于,应用于权利要求1-3任一项所述的抹灰装置,所述方法包括:
通过激光投线仪发射平行于抹灰墙面的激光线且所述激光线构成激光线束面,所述激光束面与抹灰墙面间隔固定距离设置,以作为抹灰面板移动的参考基准;
利用抹灰面板根据所述参考基准对所述抹灰墙面进行移动抹灰;
通过图像传感器对激光线进行拍照,根据所述激光线的图像数据获取图像传感器所在的直线与激光线的偏转夹角,以根据所述偏转夹角调节所述抹灰面板的水平角度和/或与所述激光线束面的距离;
在抹灰面板以激光线束面为参考基准并按照抹灰方向进行移动过程中,通过线激光位移传感器检测已抹灰面与未抹墙面对应的边缘接缝位置,以确定下一幅抹灰面的重叠区域的尺寸,并根据重叠区域的尺寸控制抹灰面板移动至所述边缘接缝位置进行抹灰。
5.根据权利要求4所述的抹灰方法,其特征在于:
所述图像传感器为CCD图像传感器,通过CCD图像传感器对激光线进行拍照。
6.根据权利要求4所述的抹灰方法,其特征在于,所述方法还包括:
通过固定轨道固定抹灰面板,以使抹灰面板以所述激光线束面为参考基准在所述固定轨道上滑动。
7.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括存储器以及处理器,所述存储器用于存储计算机程序,所述处理器运行所述计算机程序以使所述计算机设备执行根据权利要求4-6任一项所述的抹灰方法。
8.一种可读存储介质,其特征在于,所述可读存储介质中存储有计算机程序指令,所述计算机程序指令被一处理器读取并运行时,执行权力要求4-6任一项所述的抹灰方法。
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101782403A (zh) * | 2010-03-09 | 2010-07-21 | 武汉方寸科技有限公司 | 基于线阵ccd的激光投线仪数字化检测装置 |
CN203320912U (zh) * | 2013-06-28 | 2013-12-04 | 蒋贞荣 | 墙面自动抹灰、抹平处理机器人 |
ES2442415B8 (es) * | 2012-08-02 | 2015-10-23 | Universidad Complutense De Madrid | Analizador de la estructura y coherencia espacial de haces luminosos |
CN109577614A (zh) * | 2019-01-17 | 2019-04-05 | 深圳市森博机器人有限公司 | 一种自动调整抹灰厚度的方法及抹灰机器人 |
-
2020
- 2020-02-26 CN CN202010122133.1A patent/CN111305514B/zh active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101782403A (zh) * | 2010-03-09 | 2010-07-21 | 武汉方寸科技有限公司 | 基于线阵ccd的激光投线仪数字化检测装置 |
ES2442415B8 (es) * | 2012-08-02 | 2015-10-23 | Universidad Complutense De Madrid | Analizador de la estructura y coherencia espacial de haces luminosos |
CN203320912U (zh) * | 2013-06-28 | 2013-12-04 | 蒋贞荣 | 墙面自动抹灰、抹平处理机器人 |
CN109577614A (zh) * | 2019-01-17 | 2019-04-05 | 深圳市森博机器人有限公司 | 一种自动调整抹灰厚度的方法及抹灰机器人 |
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