CN111239750A - 接近传感器的测试方法及接近传感器的测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种接近传感器的测试方法以及接近传感器的测试系统，其中，接近传感器的电源接口与测试平台的供电接口连接，接近传感器的地端接口与测试平台的地端接口连接，接近传感器的时钟接口与测试平台的时钟接口连接，接近传感器的数据接口与测试平台的数据接口连接，接近传感器的中断接口与测试平台的使能接口连接；该接近传感器的测试方法包括以下步骤：控制测试板从第一预设位置滑动至第二预设位置；在滑动过程中检测到所述接近传感器输出的中断信号变化时，输出表征所述接近传感器正常的提示信息。本发明的技术方案，能够降低测试接近传感器的成本。

Description

接近传感器的测试方法及接近传感器的测试系统

技术领域

本发明涉及测试技术领域，特别涉及一种接近传感器的测试方法及接近传感器的测试系统。

背景技术

接近传感器是一种具有感知物体接近能力的器件，它利用位移传感器对接近的物体具有敏感特性来识别物体的接近，并输出相应开关信号，因此，通常又把接近传感器称为接近开关。接近传感器的工作原理，是利用激光灯发射能量，接收器接收被反射的能量，当接收器接收到的能量超过设定的能量阈值，判定为物体与接近传感器的距离位于一定范围内，当接收器接收到的能量小于设定的能量阈值，判定为物体与接近传感器的距离超过了一定范围。

目前，市面上的电子产品如手机、平板电脑等基本都设有接近传感器，通过接近传感器检测用户与电子产品的距离，并控制电子产品执行相应的动作，例如自动锁屏，或者控制背光灯关闭等。为了保证电子产品的可靠性，工厂在生产带有接近传感器的电子产品时，往往需要测试接近传感器是否正常，但是，接近传感器的性能测试往往需要使用特殊的示波器或者专门的测试设备进行测试，设备成本高。

发明内容

本发明提供一种接近传感器的测试方法及接近传感器的测试系统，旨在降低对于接近传感器的测试成本。

为实现上述目的，本发明提供一种接近传感器的测试方法，应用于所述接近传感器的测试平台，所述接近传感器的电源接口与所述测试平台的供电接口连接，所述接近传感器的地端接口与所述测试平台的地端接口连接，所述接近传感器的时钟接口与所述测试平台的时钟接口连接，所述接近传感器的数据接口与所述测试平台的数据接口连接，所述接近传感器的中断接口与所述测试平台的使能接口连接；所述接近传感器的测试方法包括以下步骤：

控制测试板从第一预设位置滑动至第二预设位置；

在滑动过程中检测到所述接近传感器输出的中断信号变化时，输出表征所述接近传感器正常的提示信息。

可选的，所述控制测试板从第一预设位置滑动至第二预设位置的步骤之后，还包括：

在滑动过程中检测到所述接近传感器输出的中断信号未变化时，输出表征所述接近传感器异常的提示信息。

可选的，所述控制测试板从第一预设位置滑动至第二预设位置的步骤之后，还包括：

获取中断信号触发位置所述接近传感器的接收能量；

判断所述接近传感器的接收能量是否满足预设条件；

若是，输出表征所述接近传感器正常的提示信息。

可选的，所述判断所述接近传感器的接收能量是否满足预设条件的步骤之后，还包括：

若否，调整所述接近传感器的发射能量，以使所述接近传感器的接收能量满足所述预设条件。

可选的，所述判断所述接近传感器的接收能量是否满足预设条件的步骤包括：

在中断信号触发位置所述接近传感器的接收能量处于预设接收能量范围时，判断满足所述预设条件。

可选的，所述调整所述接近传感器的发射能量的步骤包括：

确定所述接近传感器的目标接收能量；

根据所述发射能量和接收能量的对应关系查找与所述目标接收能量对应的目标发射能量；

根据所述发射能量与寄存器数值的对应关系查找与所述目标发射能量对应的目标寄存器数值；

将所述接近传感器的寄存器数值调整为所述目标寄存器数值，以调整所述接近传感器的发射能量。

可选的，所述将所述接近传感器的寄存器数值调整为所述目标寄存器数值，以调整所述接近传感器的发射能量的步骤之后，还包括：

判断调整后的所述接近传感器在中断信号触发位置的接收能量是否满足预设条件；

若是，输出表征所述接近传感器正常的提示信息。

为实现上述目的，本发明还提供一种接近传感器的测试系统，所述接近传感器的测试系统包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的接近传感器的测试程序，所述接近传感器的测试程序被所述处理器运行时实现如上所述的接近传感器的测试方法的各个步骤。

可选的，所述接近传感器的测试系统还包括导轨、测试板以及测试平台，所述测试板与所述导轨滑动连接，所述测试平台与待测试的接近传感器连接。

本实施例的技术方案，借助测试平台的几个常用的端口与接近传感器的对应端口进行连接，即可测试接近传感器，而不需要采购专门用于测试接近传感器的测试平台，如此设置，能够降低对于接近传感器的测试成本，降低使用该接近传感器的电子产品的重工率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的电子设备结构示意图；

图2为接近传感器与测试平台的连接示意图；

图3为本发明接近传感器的测试方法一实施例的流程示意图；

图4为本发明接近传感器的测试方法另一实施例的流程示意图。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明实施例的主要解决方案是：控制测试板从第一预设位置滑动至第二预设位置；在滑动过程中检测到所述接近传感器输出的中断信号变化时，输出表征所述接近传感器正常的提示信息。

本发明的技术方案，借助测试平台的几个常用的端口与接近传感器的对应端口进行连接，即可测试接近传感器的部分性能，而不需要采购专门用于测试接近传感器的测试平台，如此设置，能够降低对于接近传感器的测试成本，降低使用该接近传感器的电子产品的重工率。

作为一种实施方案，接近传感器的测试系统可以如图1所示。

本发明实施例方案涉及的是接近传感器的测试系统，接近传感器的测试系统包括：导轨、与导轨滑动连接的测试板以及测试平台。该接近传感器的测试系统还包括处理器1001，例如CPU，通信总线1002，存储器1003。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。

存储器1003可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatilememory)，例如磁盘存储器。如图1所示，存储器1003中可以包括接近传感器的测试程序；而处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的接近传感器的测试程序，并执行以下操作：

控制测试板从第一预设位置滑动至第二预设位置；

在滑动过程中检测到所述接近传感器输出的中断信号变化时，输出表征所述接近传感器正常的提示信息。

可选的，处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的接近传感器的测试程序，并执行以下操作：

在滑动过程中检测到所述接近传感器输出的中断信号未变化时，输出表征所述接近传感器异常的提示信息。

可选的，处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的接近传感器的测试程序，并执行以下操作：

获取中断信号触发位置所述接近传感器的接收能量；

判断所述接近传感器的接收能量是否满足预设条件；

若是，输出表征所述接近传感器正常的提示信息。

可选的，处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的接近传感器的测试程序，并执行以下操作：

若否，调整所述接近传感器的发射能量，以使所述接近传感器的接收能量满足所述预设条件。

可选的，处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的接近传感器的测试程序，并执行以下操作：

在中断信号触发位置所述接近传感器的接收能量处于预设接收能量范围时，判断满足所述预设条件。

可选的，处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的接近传感器的测试程序，并执行以下操作：

确定所述接近传感器的目标接收能量；

根据所述发射能量和接收能量的对应关系查找与所述目标接收能量对应的目标发射能量；

根据所述发射能量与寄存器数值的对应关系查找与所述目标发射能量对应的目标寄存器数值；

将所述接近传感器的寄存器数值调整为所述目标寄存器数值，以调整所述接近传感器的发射能量。

可选的，处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的接近传感器的测试程序，并执行以下操作：

判断调整后的所述接近传感器在中断信号触发位置的接收能量是否满足预设条件；

若是，输出表征所述接近传感器正常的提示信息。

目前，市面上的电子产品如手机、平板电脑等基本都设有接近传感器，通过接近传感器输出的中断信号来控制电子产品执行相应的操作，例如自动锁屏，或者控制背光灯关闭等。但是，由于生产电子产品的厂家往往不需要测试接近传感器的全部性能，其仅仅需要测试接近传感器部分性能是否正常即可。这种情况下，若为了测试接近传感器的部分性能而专门采购特殊的示波器或者专门的测试设备，成本过高。为了解决上述问题，本发明的技术方案，通过常用的测试平台测试接近传感器的性能，该测试平台可以是HVS-270A V5U测试平台，但不限于此。本实施例以测试平台为HVS-270A V5U为例说明。测试平台HVS-270AV5U与待测试的接近传感器Psenosr的连接关系如图2所示，接近传感器Psenosr的电源接口VDD与测试平台HVS-270A V5U的供电接口S_PWR1连接(其中，接近传感器Psenosr的电源接口VDD也可以与S_PWR0、S_PWR2或者S_PWR1连接)，接近传感器Psenosr的地端接口GND与所述测试平台HVS-270A V5U的地端接口GND连接，接近传感器Psenosr的时钟接口SCL与测试平台HVS-270A V5U的时钟接口S_SCL连接，接近传感器Psenosr的数据接口SDA与测试平台HVS-270A V5U的数据接口S_SDA连接，接近传感器Psenosr的中断接口INT与测试平台HVS-270A V5U的使能接口S_ENB连接。其中，测试平台HVS-270A V5U的S_PWR1用于为接近传感器Psenosr提供电信号，测试平台HVS-270A V5U的时钟接口S_SCL和数据接口S_SDA用于与接近传感器Psenosr进行数据交互，测试平台HVS-270A V5U的使能接口S_ENB用于接收接近传感器Psenosr输出的中断信号。

图3为本发明接近传感器的测试方法一实施例的流程示意图。

该接近传感器的测试方法包括以下步骤：

步骤S1，控制测试板从第一预设位置滑动至第二预设位置；

该测试板，用于将接近传感器的激光灯发射的能量进行反射，以供接近传感器的接收器接收被反射的能量，根据接近传感器的接收器接收到的能量确定接近传感器的感知距离。本发明可以通过测试板滑动的方式测试接近传感器是否正常，预先设置一导轨，并在导轨上标记第一预设位置，记为LLD和第二预设位置，记为ULD。第一预设位置LLD与接近传感器的距离为第一距离，第二预设位置ULD与接近传感器的距离为第二距离，可以定义第一距离大于第二距离，即第一预设位置LLD与接近传感器的距离大于第二预设位置ULD与接近传感器的距离。在测试时，先给测试平台上电，在测试平台上电运行后，控制测试板沿着导轨上的第一预设位置LLD逐渐滑动至第二预设位置ULD，或者，控制测试板沿着导轨上的第二预设位置ULD逐渐滑动至第一预设位置LLD。

步骤S2，在滑动过程中检测到所述接近传感器输出的中断信号变化时，输出表征所述接近传感器正常的提示信息。

预先在测试平台内设置第一预设位置LLD处的接收能量、第二预设位置ULD处的接收能量。同时，预先在测试平台内设置中断信号触发位置，即触发接近传感器的中断信号变化的位置，该中断信号触发位置记为DD，该中断信号触发位置的接收能量。即预先在测试平台内设置第一预设位置LLD、第二预设位置ULD以及中断信号触发位置DD的接收能量。通过预先在测试平台内设置各个位置的接收能量，以使得该测试平台能够用于测试接收能量满足预先设置的接收能量精度的接近传感器。例如，测试平台的第一预设位置LLD的接收能量设置为10±1，第二预设位置ULD的接收能量设置为40±1，而接近传感器A的接收能量范围为15～25；接近传感器B的接收能量范围为50～65，则测试平台能够用于测试接近传感器A是否正常，而不能用于测试接近传感器B是否正常。

可选的，可以预先选择一个标准件接近传感器和n个样本件接近传感器，并测量标准件接近传感器在第一预设位置LLD的接收能量，记为valule fir 0，n个样本件接近传感器在第一预设位置LLD的接收能量，记为valule1～valule n，将valule1、valule 2……valule n进行累加，获得总的接收能量，记为valule total，再将valule total与n进行比值计算，获得n个样本件接近传感器在第一预设位置LLD处的平均接收能量，记为valule A，将标准件接近传感器在第一预设位置LLD处的接收能量valule fir 0与valule A作差，获得接收能量差值x，并以valule fir 0±x作为接近传感器在第一预设位置LLD处的接收能量。同理，将标准件接近传感器在中断信号触发位置DD处的接收能量，记为valule mid 0，将n个样本件接近传感器在中断信号触发位置DD处的接收能量，记为valule mid1～valulemid n，将valule mid1、valule mid2……valule mid n进行累加，获得总的接收能量，记为valule mid total，再将valule mid total与n进行比值计算，获得n个样本件接近传感器在中断信号触发位置处的平均接收能量值，记为valule mid B，将标准件接近传感器在中断信号触发位置处的接收能量valule mid 0与valule B作差，获得接收能量差值y，再以valule mid 0±y作为中断信号触发位置处的接收能量。同理，以valule end 0±z作为第二预设位置ULD处的接收能量。并将所确定的第一预设位置LLD的接收能量valule fir 0±x、第二预设位置ULD的接收能量valule end 0±z以及中断信号触发位置DD处的接收能量valule mid 0±y预先设置在测试平台内。

由于测试板由第一预设位置LLD滑动至第二预设位置ULD的过程中，或者由第二预设位置ULD滑动至第一预设位置LLD的过程中，接近传感器与测试板的距离也随之变化，接近传感器的接收器接收到的接收能量也在变化。设定测试板是由第一预设位置LLD滑动至第二预设位置ULD，在测试板由第一预设位置LLD滑动至第二预设位置ULD的过程中，当接近传感器的接收能量达到预先设置在接近传感器内的接收能量阈值时，会触发接近传感器的中断信号发生变化，例如，测试板由第一预设位置LLD滑动至第二预设位置ULD过程，测试板由第一预设位置LLD滑动到中断信号触发位置DD之前，接近传感器输出的中断信号均为0；当测试板到达中断信号触发位置DD时，接近传感器输出的中断信号由0切换为1；在测试板由中断信号触发位置DD滑动至第二预设位置ULD的过程，接近传感器输出的中断信号均为1。因此，测试平台通过判断测试板由第一预设位置LLD滑动至第二预设位置ULD的过程中，接近传感器输出的中断信号是否变化，以此确认被测试的接近传感器是否正常。测试板由第一预设位置LLD滑动至第二预设位置ULD的过程，若接近传感器输出的中断信号发生了变化，测试平台判定被测试的接近传感器为正常的接近传感器，此时，测试平台输出表征被测试的接近传感器正常的提示信息，例如在测试平台的显示屏以字幕显示“测试OK”，或者，通过语音模块输出“测试正常”的语音提示。

可选的，步骤S1之后，还包括：

步骤S3，在滑动过程中检测到所述接近传感器输出的中断信号未变化时，输出表征所述接近传感器异常的提示信息。

若测试板由第一预设位置LLD滑动至第二预设位置ULD的过程中，测试平台接收到接近传感器输出的中断信号没有发生变化，例如，测试板由第一预设位置LLD滑动至第二预设位置ULD的过程中，测试平台接收到的中断信号均为0，说明被测试的接近传感器异常，即被测试的接近传感器的性能不满足需求，此时，测试平台输出表征接近传感器异常的提示信息，例如在测试平台的显示屏以字幕显示“测试NG”，或者，通过语音模块输出“测试异常”的语音提示。

本实施例的技术方案，借助测试平台的几个常用的端口与接近传感器的对应端口进行连接，即可测试接近传感器，而不需要采购专门用于测试接近传感器的测试平台，如此设置，能够降低对于接近传感器的测试成本，降低使用该接近传感器的电子产品的重工率。

图4为本发明接近传感器的测试方法另一实施例的流程示意图。

基于上述实施例，步骤S1之后，还包括：

步骤S4，获取中断信号触发位置所述接近传感器的接收能量；

在实际应用中，由于测试板的反射系数、环境亮度的影响，导致部分被测试的接近传感器的中断信号并不是在测试板滑动到预先设置的中断信号触发位置DD处发生变化，而是在测试板偏离中断信号触发位置DD处发生变化。例如，当测试板滑动到预先设置的中断信号触发位置DD时，用户需要被测试的接近传感器的中断信号发生变化；或者当测试板滑动到预先设置的中断信号触发位置DD±L时，被测试的接近传感器的中断信号发生变化。但是，在实际测试时，会存在测试板还没有滑动到中断信号触发位置DD处，接近传感器的中断信号即发生了变化，例如，测试板在距离中断信号触发位置DD处10cm的位置时，接近传感器的中断信号就发生了变化，说明该被测试的接近传感器的感知距离不满足实际需求。此时，可以通过调整接近传感器的发射能量，使得测试板由第一预设位置LLD滑动至靠近或者位于中断信号触发位置DD时，被测试的接近传感器的中断信号发生变化。该中断信号触发位置，为触发接近传感器的中断信号发生变化的分界位置，即测试板位于该位置处，或者靠近该位置处，接近传感器的接收能量达到预先设置在接近传感器内的接收能量阈值，使得接近传感器输出的中断信号的状态发生变化，例如由0变为1，或者由1变为0。测试平台可通过数据接口和时钟接口接收接近传感器的接收能量，该接收能量为接近传感器的接收器接收到的能量，即经测试板反射回来的能量，并获取在中断信号触发位置处接近传感器的接收能量。

步骤S5，判断所述接近传感器的接收能量是否满足预设条件；

判断接近传感器的接收能量是否满足预设条件，若满足预设条件，说明接近传感器的感知距离满足实际应用，反之，则说明接近传感器的感知距离不满足应用要求。具体的，可通过判断测试板滑动至中断信号触发位置DD处接近传感器的接收能量是否处于预设接收能量范围，该预设接收能量范围可以是预先设置在测试平台内的中断信号触发位置DD处的接收能量valule mid 0±y，若处于该范围，说明满足预设条件，若不处于该范围，说明不满足预设条件。当然，也可以通过判断测试板滑动至中断信号触发位置DD时，接近传感器的接收能量是否达到预先设置在接近传感器内的接收能量阈值，若达到，判断满足预设条件，若不达到，判断不满足预设条件。

步骤S6，若是，输出表征所述接近传感器正常的提示信息。

若满足预设条件，测试平台输出表征被测试的接近传感器正常的提示信息，例如在测试平台的显示屏以字幕显示“测试OK”，或者，通过语音模块输出“测试正常”的语音提示。

进一步的，步骤S5之后，还包括：

步骤S7，若否，调整所述接近传感器的发射能量，以使所述接近传感器的接收能量满足所述预设条件。

若经测试发现当测试板位于中断信号触发位置DD时，接近传感器的接收能量不满足预设条件，可调整被测试的接近传感器的发射能量，通过调整接近传感器的激光灯发射的能量，来使得测试板由第一预设位置LLD滑动至中断信号触发位置DD时，接近传感器的接收能量满足预设条件。

具体的，步骤S71包括：

步骤S71，确定所述接近传感器的目标接收能量；

该目标接收能量，为测试板滑动至中断信号触发位置DD时，被测试的接近传感器的接收能量需要达到的数值。也就是说，通过调整被测试的接近传感器的发射能量，使得测试板位于中断信号触发位置DD时，接近传感器的接收能量达到其预先设置的接收能量阈值，被测试的接近传感器的中断信号发生变化。可选的，可以以预先设置在接近传感器内的接收能量阈值作为目标接收能量。

步骤S72，根据所述发射能量和接收能量的对应关系查找与所述目标接收能量对应的目标发射能量；

预先设置好发射能量和接收能量的对应关系，在确定接近传感器的目标接收能量后，根据接收能量和发射能量的对应关系查找与目标接收能量对应的目标发射能量。

步骤S73，根据所述发射能量与寄存器数值的对应关系查找与所述目标发射能量对应的目标寄存器数值；

在实际应用中，部分接近传感器的接收能量是可以微调的，且可以通过调整接近传感器的寄存器数值，来改变接近传感器的激光灯发射的能量。因此，可以根据预先设置激光灯的发射能量与寄存器数值的对应关系确定与目标发射能量对应的目标寄存器数值。

步骤S74，将所述接近传感器的寄存器数值调整为所述目标寄存器数值，以调整所述接近传感器的发射能量。

将接近传感器当前的寄存器数值修改为目标寄存器数值，以达到调整接近传感器的接收能量的目的。

进一步的，步骤S74之后，还包括：

步骤S75，判断调整后的所述接近传感器在中断信号触发位置的接收能量是否满足预设条件；

步骤S76，若是，输出表征所述接近传感器正常的提示信息。

具体的，在调整被测试的接近传感器的寄存器数值后，将该接近传感器继续放置在原来的测试位置，并控制测试板由第一预设位置LLD滑动至第二预设位置ULD。在滑动过程中，测试平台判断当测试板位于中断信号触发位置DD时接近传感器的接收能量是否满足预设条件。若是，说明经过修改，该接近传感器的性能能够满足实际需要。若否，说明接近传感器经过修改寄存器数值，仍不能满足实际需要，此时，可发出接近传感器异常的提示信息。

本实施例的技术方案，通过获取测试板位于中断信号触发位置时接近传感器的接收能量，并判断接近传感器的接收能量是否满足预设条件，在不满足预设条件时，对接近传感器的发射能量进行调整，以使得接近传感器的接收能量达到预设条件，从而使得接近传感器的感知距离满足实际需求，避免接近传感器的浪费。

本发明还提供一种接近传感器的测试系统，所述接近传感器的测试系统包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的接近传感器的测试程序，所述接近传感器的测试程序被所述处理器运行时实现如上所述的接近传感器的测试方法的各个步骤。

其中，该接近传感器的测试系统还包括导轨、测试板以及测试平台，所述测试板与所述导轨滑动连接，所述测试平台与待测试的接近传感器连接。

以上所述仅为本发明的可选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种接近传感器的测试方法，应用于所述接近传感器的测试平台，其特征在于，所述接近传感器的电源接口与所述测试平台的供电接口连接，所述接近传感器的地端接口与所述测试平台的地端接口连接，所述接近传感器的时钟接口与所述测试平台的时钟接口连接，所述接近传感器的数据接口与所述测试平台的数据接口连接，所述接近传感器的中断接口与所述测试平台的使能接口连接；所述接近传感器的测试方法包括以下步骤：

控制测试板从第一预设位置滑动至第二预设位置；

在滑动过程中检测到所述接近传感器输出的中断信号变化时，输出表征所述接近传感器正常的提示信息。

2.如权利要求1所述的接近传感器的测试方法，其特征在于，所述控制测试板从第一预设位置滑动至第二预设位置的步骤之后，还包括：

在滑动过程中检测到所述接近传感器输出的中断信号未变化时，输出表征所述接近传感器异常的提示信息。

3.如权利要求1所述的接近传感器的测试方法，其特征在于，所述控制测试板从第一预设位置滑动至第二预设位置的步骤之后，还包括：

获取中断信号触发位置所述接近传感器的接收能量；

判断所述接近传感器的接收能量是否满足预设条件；

若是，输出表征所述接近传感器正常的提示信息。

4.如权利要求3所述的接近传感器的测试方法，其特征在于，所述判断所述接近传感器的接收能量是否满足预设条件的步骤之后，还包括：

若否，调整所述接近传感器的发射能量，以使所述接近传感器的接收能量满足所述预设条件。

5.如权利要求4所述的接近传感器的测试方法，其特征在于，所述判断所述接近传感器的接收能量是否满足预设条件的步骤包括：

在中断信号触发位置所述接近传感器的接收能量处于预设接收能量范围时，判断满足所述预设条件。

6.如权利要求5所述的接近传感器的测试方法，其特征在于，所述调整所述接近传感器的发射能量的步骤包括：

确定所述接近传感器的目标接收能量；

根据所述发射能量和接收能量的对应关系查找与所述目标接收能量对应的目标发射能量；

根据所述发射能量与寄存器数值的对应关系查找与所述目标发射能量对应的目标寄存器数值；

将所述接近传感器的寄存器数值调整为所述目标寄存器数值，以调整所述接近传感器的发射能量。

7.如权利要求6所述的接近传感器的测试方法，其特征在于，所述将所述接近传感器的寄存器数值调整为所述目标寄存器数值，以调整所述接近传感器的发射能量的步骤之后，还包括：

判断调整后的所述接近传感器在中断信号触发位置的接收能量是否满足预设条件；

若是，输出表征所述接近传感器正常的提示信息。

8.一种接近传感器的测试系统，其特征在于，所述接近传感器的测试系统包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的接近传感器的测试程序，所述接近传感器的测试程序被所述处理器运行时实现如权利要求1至7任一项所述的接近传感器的测试方法的各个步骤。

9.如权利要求8所述的接近传感器的测试系统，其特征在于，所述接近传感器的测试系统还包括导轨、测试板以及测试平台，所述测试板与所述导轨滑动连接，所述测试平台与待测试的接近传感器连接。

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