CN111220896B - 一种具有防尘功能的集成电路测试仪器 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，包括墙壁、仪器主体、第一弹簧和第二弹簧，所述墙壁的一侧固定有固定架，所述仪器主体位于固定架远离墙壁的一侧，其中，所述仪器主体靠近固定架的一侧四角固定有支脚，所述仪器主体远离支脚的一侧设置有防尘盖，所述仪器主体靠近防尘盖的较短一边两侧开设有挡板槽，所述仪器主体靠近挡板槽的顶部开设有连接杆槽，所述连接杆槽与挡板槽相连通，所述第一弹簧固定在挡板槽的底部。该具有防尘功能的集成电路测试仪器，设置有防尘盖，在测试仪器使用完成后，将防尘盖盖在仪器主体上，通过防尘盖对仪器主体进行防尘，避免灰尘附着在控制面板与检测连接头上，便于对测试仪器进行防尘处理。

Description

一种具有防尘功能的集成电路测试仪器

技术领域

本发明涉及集成电路测试仪技术领域，具体为一种具有防尘功能的集成电路测试仪器。

背景技术

集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备，集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一，集成电路测试技术是发展集成电路产业集成电路产业的三大支撑技术之一。

目前的集成电路测试仪器虽然种类和数量非常多，但现有的集成电路测试仪器仍存在了一定的问题，对集成电路测试仪器的使用带来一定的不便。

现有的集成电路测试仪器在放置时，仪器表面容易附着上大量的灰尘，仪器表面凹凸不平，不便对仪器灰尘进行清理，且测试仪器收纳会占用空间，不便使用，因此迫切需要能改进集成电路测试仪器结构的技术，来完善此装置。

发明内容

本发明的目的在于提供一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，以解决上述背景技术提出的目前的集成电路测试仪器在放置时，仪器表面容易附着上大量的灰尘，仪器表面凹凸不平，不便对仪器灰尘进行清理，且测试仪器收纳会占用空间，不便使用的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，包括墙壁、仪器主体、第一弹簧和第二弹簧，所述墙壁的一侧固定有固定架，所述仪器主体位于固定架远离墙壁的一侧，其中，

所述仪器主体靠近固定架的一侧四角固定有支脚，所述仪器主体远离支脚的一侧设置有防尘盖，所述仪器主体靠近防尘盖的较短一边两侧开设有挡板槽，所述仪器主体靠近挡板槽的顶部开设有连接杆槽，所述连接杆槽与挡板槽相连通；

所述第一弹簧固定在挡板槽的底部，所述第一弹簧的顶部固定有挡板，所述挡板远离第一弹簧的一侧固定有连接杆，所述连接杆远离挡板的一侧转动连接有转动杆，所述转动杆远离连接杆的一端与防尘盖固定连接，所述仪器主体靠近防尘盖的较短另一边两侧开设有弹簧槽；

所述防尘盖靠近弹簧槽的一侧固定有顶杆，所述第二弹簧固定在弹簧槽的内部，所述仪器主体远离挡板槽的一侧中部转动连接有连接架，所述防尘盖远离转动杆的一侧中部固定有固定杆，所述连接架靠近固定杆的一侧开设有固定槽；

所述固定架靠近仪器主体的四角开设有开口槽，所述固定架靠近开口槽的一侧开设有支脚槽，所述固定架靠近仪器主体一侧中部固定有卡块，所述仪器主体靠近卡块的一侧开设有卡槽。

优选的，所述仪器主体远离固定架的一侧设置有控制面板，所述仪器主体靠近控制面板的一侧设置有检测连接头。

优选的，所述支脚通过第一支杆与仪器主体固定连接，所述第一支杆远离仪器主体的一侧连接有第二支杆，所述第一支杆靠近第二支杆的一侧开设有螺杆槽，所述第二支杆靠近螺杆槽的一侧固定有螺杆。

优选的，所述挡板为圆柱体，且挡板通过第一弹簧与仪器主体构成弹性连接，并且挡板的外径大于连接杆槽的内径。

优选的，所述连接杆为圆柱体，且连接杆的外径与连接杆槽的内径相吻合，并且连接杆的长度大于连接杆槽的高度。

优选的，所述连接架转动处到固定槽的垂直距离与连接架转动处到固定杆的垂直距离相等，并且固定杆为圆柱体，而且固定杆的外径与固定槽的内径相吻合。

优选的，所述开口槽与支脚槽相连通，且开口槽的开口尺寸大于支脚的外部尺寸，并且支脚与支脚槽为T形，而且支脚的外部尺寸与支脚槽的内部尺寸相吻合。

优选的，所述卡块的截面为弧形弹片，且卡块的外部尺寸与卡槽的内部尺寸相吻合。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：该具有防尘功能的集成电路测试仪器：

在测试仪器使用完成后，将防尘盖盖在仪器主体上，通过防尘盖对仪器主体进行防尘，避免灰尘附着在控制面板与检测连接头上，便于对测试仪器进行防尘处理；

在对测试仪器进行收纳时，将测试仪器安装在固定架上，固定架固定在墙壁上，使测试仪器能够挂在墙壁上，节省空间，便于对测试仪器进行收纳；

3.设置有转动杆，当连接架与固定杆分离后，第一弹簧推动挡板向上推动，挡板带动连接杆与转动杆向上移动，使转动杆能够完全移出连接杆槽的内部，使防尘盖通过转动杆与连接杆产生转动，便于将防尘盖打开；

4. 当防尘盖闭合后，使连接架转动，连接架向固定杆转动，使固定杆进入固定槽的内部，同时使第二弹簧对防尘盖产生推动，使固定杆抵住固定槽的顶部，避免固定杆轻易移出固定槽的内部，便于对防尘盖进行固定；

5.设置有支脚槽和卡块，移动仪器主体，使仪器主体带动支脚进入开口槽的内部，仪器主体对卡块进行挤压，使卡块压缩，之后向下推动仪器主体，仪器主体带动支脚进入支脚槽的内部，卡块与卡槽刚好对齐，卡块恢复形状抵住卡槽，避免误碰使支脚进入开口槽的内部，支脚与支脚槽为T形，避免支脚直接移出支脚槽的内部；

6.设置有螺杆和第二支杆，需要使用仪器主体时，将仪器主体放置在平面上，旋转第二支杆，第二支杆带动螺杆转动，使螺杆与第一支杆产生相对移动，调节支脚的高度，使仪器主体保持平稳，避免仪器主体产生晃动。

附图说明

图1为本发明仪器主体结构示意图；

图2为本发明仪器主体收纳结构示意图；

图3为本发明固定架俯视结构示意图。

图中：1、墙壁；2、固定架；3、仪器主体；301、控制面板；302、检测连接头；4、支脚；401、第一支杆；402、第二支杆；403、螺杆槽；404、螺杆；5、防尘盖；6、挡板槽；7、连接杆槽；8、第一弹簧；9、挡板；10、连接杆；11、转动杆；12、弹簧槽；13、顶杆；14、第二弹簧；15、连接架；16、固定杆；17、固定槽；18、开口槽；19、支脚槽；20、卡块；21、卡槽。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-3，本发明提供一种技术方案：一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，包括墙壁1、固定架2、仪器主体3、支脚4、防尘盖5、挡板槽6、连接杆槽7、第一弹簧8、挡板9、连接杆10、转动杆11、弹簧槽12、顶杆13、第二弹簧14、连接架15、固定杆16、固定槽17、开口槽18、支脚槽19、卡块20和卡槽21，所述墙壁1的一侧固定有固定架2，所述仪器主体3位于固定架2远离墙壁1的一侧，所述仪器主体3远离固定架2的一侧设置有控制面板301，所述仪器主体3靠近控制面板301的一侧设置有检测连接头302，其中，

所述仪器主体3靠近固定架2的一侧四角固定有支脚4，所述支脚4通过第一支杆401与仪器主体3固定连接，所述第一支杆401远离仪器主体3的一侧连接有第二支杆402，所述第一支杆401靠近第二支杆402的一侧开设有螺杆槽403，所述第二支杆402靠近螺杆槽403的一侧固定有螺杆404，所述仪器主体3远离支脚4的一侧设置有防尘盖5，所述仪器主体3靠近防尘盖5的较短一边两侧开设有挡板槽6，所述仪器主体3靠近挡板槽6的顶部开设有连接杆槽7，所述连接杆槽7与挡板槽6相连通；

所述第一弹簧8固定在挡板槽6的底部，所述第一弹簧8的顶部固定有挡板9，所述挡板9为圆柱体，且挡板9通过第一弹簧8与仪器主体3构成弹性连接，并且挡板9的外径大于连接杆槽7的内径，当连接架15与固定杆16分离后，第一弹簧8推动挡板9向上推动，挡板9带动连接杆10与转动杆11向上移动，使转动杆11能够完全移出连接杆槽7的内部，使防尘盖5通过转动杆11与连接杆10产生转动，便于将防尘盖5打开，所述挡板9远离第一弹簧8的一侧固定有连接杆10，所述连接杆10为圆柱体，且连接杆10的外径与连接杆槽7的内径相吻合，并且连接杆10的长度大于连接杆槽7的高度，当挡板9带动连接杆10与转动杆11向上移动时，使连接杆10的顶部能够完全贯穿连接杆槽7的内部，使转动杆11能够完全移出连接杆槽7的内部，所述连接杆10远离挡板9的一侧转动连接有转动杆11，所述转动杆11远离连接杆10的一端与防尘盖5固定连接，所述仪器主体3靠近防尘盖5的较短另一边两侧开设有弹簧槽12；

所述防尘盖5靠近弹簧槽12的一侧固定有顶杆13，所述第二弹簧14固定在弹簧槽12的内部，所述仪器主体3远离挡板槽6的一侧中部转动连接有连接架15，所述连接架15转动处到固定槽17的垂直距离与连接架15转动处到固定杆16的垂直距离相等，并且固定杆16为圆柱体，而且固定杆16的外径与固定槽17的内径相吻合，当防尘盖5闭合后，使连接架15转动，连接架15向固定杆16转动，使固定杆16进入固定槽17的内部，同时使第二弹簧14对防尘盖5产生推动，使固定杆16抵住固定槽17的顶部，避免固定杆16轻易移出固定槽17的内部，便于对防尘盖5进行固定，所述防尘盖5远离转动杆11的一侧中部固定有固定杆16，所述连接架15靠近固定杆16的一侧开设有固定槽17；

所述固定架2靠近仪器主体3的四角开设有开口槽18，所述开口槽18与支脚槽19相连通，且开口槽18的开口尺寸大于支脚4的外部尺寸，并且支脚4与支脚槽19为T形，而且支脚4的外部尺寸与支脚槽19的内部尺寸相吻合，需要对仪器主体3进行收纳时，移动仪器主体3，使仪器主体3带动支脚4进入开口槽18的内部，之后向下推动仪器主体3，仪器主体3带动支脚4进入支脚槽19的内部，支脚4与支脚槽19为T形，避免支脚4直接移出支脚槽19的内部，便于将仪器主体3挂在固定架2上，便于对仪器主体3进行收纳，所述固定架2靠近开口槽18的一侧开设有支脚槽19，所述固定架2靠近仪器主体3一侧中部固定有卡块20，所述卡块20的截面为弧形弹片，且卡块20的外部尺寸与卡槽21的内部尺寸相吻合，当使仪器主体3带动支脚4进入开口槽18的内部时，仪器主体3对卡块20进行挤压，使卡块20压缩，当仪器主体3带动支脚4进入支脚槽19的内部后，卡块20与卡槽21刚好对齐，卡块20恢复形状抵住卡槽21，避免误碰使支脚4进入开口槽18的内部，所述仪器主体3靠近卡块20的一侧开设有卡槽21。

工作原理：在使用该具有防尘功能的集成电路测试仪器时，首先，需要使用仪器主体3时，（集成电路测试仪器为现有的技术，在该专利申请中并未对集成电路测试仪器的进行改进，直接采用现有的工作原理，因此在说明书中并未对集成电路测试仪器的工作原理做出说明）将仪器主体3放置在平面上，旋转第二支杆402，第二支杆402带动螺杆404转动，使螺杆404与第一支杆401产生相对移动，调节支脚4的高度，使仪器主体3保持平稳，避免仪器主体3产生晃动，之后使连接架15与固定杆16分离，第一弹簧8推动挡板9向上推动，挡板9带动连接杆10与转动杆11向上移动，使转动杆11能够完全移出连接杆槽7的内部，同时第二弹簧14推动顶杆13移出弹簧槽12的内部，使防尘盖5通过转动杆11与连接杆10产生转动，便于将防尘盖5打开，对集成电路进行测试，测试完成后，闭合防尘盖5，之后按压防尘盖5，使顶杆13进入弹簧槽12的内部，使第二弹簧14压缩，同时使转动杆11进入连接杆槽7的内部，避免转动杆11继续转动，使防尘盖5与仪器主体3贴紧，之后使连接架15转动，连接架15向固定杆16转动，使固定杆16进入固定槽17的内部，同时使第二弹簧14对防尘盖5产生推动，使固定杆16抵住固定槽17的顶部，避免固定杆16轻易移出固定槽17的内部，便于对防尘盖5进行固定，然后移动仪器主体3，使仪器主体3带动支脚4进入开口槽18的内部，仪器主体3对卡块20进行挤压，使卡块20压缩，之后向下推动仪器主体3，仪器主体3带动支脚4进入支脚槽19的内部，卡块20与卡槽21刚好对齐，卡块20恢复形状抵住卡槽21，避免误碰使支脚4进入开口槽18的内部，支脚4与支脚槽19为T形，避免支脚4直接移出支脚槽19的内部，便于将仪器主体3挂在固定架2上，通过固定架2使仪器主体3可以直接挂在墙壁1上，便于对仪器主体3进行收纳，本说明中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。

尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，包括墙壁（1）、仪器主体（3）、第一弹簧（8）和第二弹簧（14），所述墙壁（1）的一侧固定有固定架（2），所述仪器主体（3）位于固定架（2）远离墙壁（1）的一侧，其中，

所述仪器主体（3）靠近固定架（2）的一侧四角固定有支脚（4），所述仪器主体（3）远离支脚（4）的一侧设置有防尘盖（5），所述仪器主体（3）靠近防尘盖（5）的较短一边两侧开设有挡板槽（6），所述仪器主体（3）靠近挡板槽（6）的顶部开设有连接杆槽（7），所述连接杆槽（7）与挡板槽（6）相连通；

所述第一弹簧（8）固定在挡板槽（6）的底部，所述第一弹簧（8）的顶部固定有挡板（9），所述挡板（9）远离第一弹簧（8）的一侧固定有连接杆（10），所述连接杆（10）远离挡板（9）的一侧转动连接有转动杆（11），所述转动杆（11）远离连接杆（10）的一端与防尘盖（5）固定连接，所述仪器主体（3）靠近防尘盖（5）的较短另一边两侧开设有弹簧槽（12）；

所述防尘盖（5）靠近弹簧槽（12）的一侧固定有顶杆（13），所述第二弹簧（14）固定在弹簧槽（12）的内部，所述仪器主体（3）远离挡板槽（6）的一侧中部转动连接有连接架（15），所述防尘盖（5）远离转动杆（11）的一侧中部固定有固定杆（16），所述连接架（15）靠近固定杆（16）的一侧开设有固定槽（17）；

所述固定架（2）靠近仪器主体（3）的四角开设有开口槽（18），所述固定架（2）靠近开口槽（18）的一侧开设有支脚槽（19），所述固定架（2）靠近仪器主体（3）一侧中部固定有卡块（20），所述仪器主体（3）靠近卡块（20）的一侧开设有卡槽（21）。

2.根据权利要求1所述的一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述仪器主体（3）包括控制面板（301）和检测连接头(302），所述仪器主体（3）远离固定架（2）的一侧设置有控制面板（301），所述仪器主体（3）靠近控制面板（301）的一侧设置有检测连接头（302）。

3.根据权利要求1所述的一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述支脚（4）包括第一支杆（401）、和第二支杆（402）、螺杆槽（403）和螺杆（404），所述支脚（4）通过第一支杆（401）与仪器主体（3）固定连接，所述第一支杆（401）远离仪器主体（3）的一侧连接有第二支杆（402），所述第一支杆（401）靠近第二支杆（402）的一侧开设有螺杆槽（403），所述第二支杆（402）靠近螺杆槽（403）的一侧固定有螺杆（404）。

4.根据权利要求1所述的一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述挡板（9）为圆柱体，且挡板（9）通过第一弹簧（8）与仪器主体（3）构成弹性连接，并且挡板（9）的外径大于连接杆槽（7）的内径。

5.根据权利要求1所述的一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述连接杆（10）为圆柱体，且连接杆（10）的外径与连接杆槽（7）的内径相吻合，并且连接杆（10）的长度大于连接杆槽（7）的高度。

6.根据权利要求1所述的一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述连接架（15）转动处到固定槽（17）的垂直距离与连接架（15）转动处到固定杆（16）的垂直距离相等，并且固定杆（16）为圆柱体，而且固定杆（16）的外径与固定槽（17）的内径相吻合。

7.根据权利要求1所述的一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述开口槽（18）与支脚槽（19）相连通，且开口槽（18）的开口尺寸大于支脚（4）的外部尺寸，并且支脚（4）与支脚槽（19）为T形，而且支脚（4）的外部尺寸与支脚槽（19）的内部尺寸相吻合。

8.根据权利要求1所述的一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述卡块（20）的截面为弧形弹片，且卡块（20）的外部尺寸与卡槽（21）的内部尺寸相吻合。

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