CN111191404A - 电力专用处理器设计中的波形缓释测量方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种在电力专用处理器设计中,通过波形缓释采样值数据验证电力专用算法IP的方法。本方法通过在特定时间内取一段连续数据点,丢弃其余数据,再将采样数据缓慢释放给CPU处理,在不改变外部测试仪器输出的条件下,不仅保证了电力波形数据的连续性,同时成倍的节约了CPU效率,确保电力专用IP的验证,并保证其他IP逻辑功能得到系统完备地验证。
Description
技术领域
本发明公开了一种在电力专用处理器设计中,通过波形缓释延时数据处理方式验证电力专用算法IP的方法。属于电力专用处理器设计验证领域。
背景技术
芯片设计通常包括芯片的验证,芯片的验证就是验证所设计的逻辑是否符合预期的要求,是否符合原来定义好的规范。电力专用处理器采用可编程门阵列(FPGA)进行原型验证,其性能只有实际处理器的5%~10%。电力专用算法IP每秒至少插值处理每通道1200个(包括数字化采样的Sampled Value或传统采样的A/D数据)数据采样点,处理器从电力专用IP搬运数据到内存,导致其他功能无法正常验证,影响芯片验证流程完备性。
发明内容
本发明的目的在于解决电力专用芯片设计环节中可编程门阵列(FPGA)原型验证效率限制的问题,可节约CPU效率,确保芯片IP功能验证完备性。
本发明提供了一种电力专用处理器设计中的波形缓释测量方法,包括以下步骤:
步骤1:在第一时段Tg内连续地获取采样数据存储至循环队列;
步骤 2:在接着的第二时段Td 不再获取采样数据, 而丢弃该时段的采样数据;
步骤 3:从循环队列中取出采样数据在Tg+Td时间段内等间隔地发出释放至CPU中。
进一步地,还包括步骤 4:在判断循环队列为空后,重新进入步骤1循环处理数据。
进一步地,步骤1中,在第一时段Tg内连续地通过电力专用IP解码SV采样报文获取采样数据。
进一步地,步骤2中,判别循环队列满后丢弃所有采样数据。
进一步地,步骤2中,判断循环队列满后直接通过写清0寄存器丢弃所有采样数据。
进一步地,第一时段采样数据为Cg个数据点,第二时段丢弃的数据为Cd个数据点,则发出采样数据Cg的等间隔为(Cg + Cd )÷Cg个采样点。
进一步地,第一时段采样数据为Cg个数据点,第二时段丢弃的数据为Cd个数据点,若所要释放倍数为N,则Cd=(N-1)Cg。
进一步地,若所要释放倍数为N,则Td =(N-1)Tg。
在电力芯片设计中,针对电力专用算法处理大量AD/SV采样数据,本发明所达到的有益效果是:
本方法通过在特定时间内取一段连续数据点,丢弃其余数据,再将采样数据缓慢释放给CPU处理,不仅保证了电力波形数据的连续性,同时成倍的节约了CPU效率,确保电力专用IP的验证,并保证其他IP逻辑功能得到系统完备地验证。
本发明方法具有通用性、实时性、连续性的特点,具体表现如下:
(1)通用性,尽管采样数据源大小类型不同,但本方法适用于所有数据类型的处理;
(2)实时性,本方法采用分段循环处理的方式,不会出现最新数据堵塞未被处理器处理的问题;
(3)连续性,本方法采用循环队列存储读取数据,避免数据溢出覆盖,保证数据连续准确。
附图说明
图1是 采样数据处理示意图;
图2是 数据处理判断流程。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案,而不能以此来限制本发明的保护范围。
如图2所示,本发明提供了一种波形缓释处理方法:第一步,在一定的时间段内连续地获取采样数据,此阶段称为G阶段(Get),此阶段的采样数据为Cg个,时间为Tg;第二步,在接着的D阶段(Discard)不获取采样数据,此阶段丢弃的采样数据为Cd个,时间为Td,获取到的Cg个点;第三步,在Tg+Td时间段内等间隔地发出;第四步,发送完毕后重新进入第一步。具体包括以下过程:
步骤1:在一定的时间段内连续地通过电力专用IP解码SV采样报文获取采样数据, 此阶段称为G阶段(Get), 此阶段的采样数据为Cg个,时间为Tg,采用循环队列存储;以图1为例说明:
将1周期数据延时到4个周期发送,设置Cg = 12,按照方案设计, 第0~11点进行采样,数据为D0, D1, D2……D11,存入循环队列。
步骤 2:在接着的D阶段(Discard)不获取采样数据, 此阶段丢弃的采样数据为Cd个,时间为Td。
若所要缓释倍数为N,则Cd=(N-1)Cg,Td =(N-1)Tg。
循环队列中获取到的仍然保持Cg个点,判断循环队列满后数据直接通过写清0寄存器丢弃;以图1为例说明:
设置Cd = 36,按照方案设计,12~47点的数据被丢弃。
步骤 3:从循环队列中取出数据在Tg+Td时间段内等间隔地释放至CPU处理;以图1为例说明:
采样到的Cg个数据点, 每(Cg + Cd ) ÷ Cg即4个采样点发送一次采样数据,即12个数据D0~D11分别在0, 4, 8, 12, 16, 20, 24, 28, 32, 36, 40, 44这几个采样中断时刻被发出。
步骤 4:在判断循环队列为空,Tg+Td内数据发送完毕后,重新进入步骤1。
本发明最终实现的目标是在模拟量输入值的频率不变的情况下, 将采样点的处理变慢了(Cg + Cd ) ÷ Cg倍,成倍的节约了CPU效率,确保电力专用IP的验证,并保证其他IP逻辑功能得到系统完备地验证。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变形,这些改进和变形也应视为本发明的保护范围。
Claims (8)
1.电力专用处理器设计中的波形缓释测量方法,其特征是,包括以下步骤:
步骤1:在第一时段Tg内连续地获取采样数据存储至循环队列;
步骤 2:在接着的第二时段Td 不再获取采样数据, 而丢弃该时段的采样数据;
步骤 3:从循环队列中取出采样数据在Tg+Td时间段内等间隔地发出释放至CPU中。
2. 根据权利要求1所述的电力专用处理器设计中的波形缓释测量方法,其特征是,还包括步骤 4:在判断循环队列为空后,重新进入步骤1循环处理数据。
3.根据权利要求1所述的电力专用处理器设计中的波形缓释测量方法,其特征是,步骤1中,在第一时段Tg内连续地通过电力专用IP解码SV采样报文获取采样数据。
4.根据权利要求1所述的电力专用芯片设计中的波形缓释测量方法,其特征是,步骤2中,判别循环队列满后丢弃所有采样数据。
5.根据权利要求1或4所述的电力专用芯片设计中的波形缓释测量方法,其特征是,步骤2中,判断循环队列满后直接通过写清0寄存器丢弃所有采样数据。
6. 根据权利要求1所述的电力专用芯片设计中的波形缓释测量方法,其特征是,第一时段采样数据为Cg个数据点,第二时段丢弃的数据为Cd个数据点,则发出采样数据Cg的等间隔为(Cg + Cd )÷Cg个采样点。
7.根据权利要求1所述的电力专用芯片设计中的波形缓释测量方法,其特征是,第一时段采样数据为Cg个数据点,第二时段丢弃的数据为Cd个数据点,若所要释放倍数为N,则Cd=(N-1)Cg。
8. 根据权利要求1所述的电力专用芯片设计中的波形缓释测量方法,其特征是,若所要释放倍数为N,则Td =(N-1)Tg。
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