CN111173505B - 确定储集层下限的方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种确定储集层下限的方法和装置，属于石油测井储层预测技术领域。方法包括：获取目标储集层中多个采样点的目标参数值，该目标参参数值为声波时差值或密度值；根据每个采样点的目标参数值，将多个采样点划分为多个采样点集合；确定每个采样点集合包括的采样点的数量；根据每个采样点集合包括的采样点的数量，确定每个采样点集合的累积概率；根据每个采样点集合对应的预设目标参数段和每个采样点集合的累积概率，绘制多个采样点的累积概率曲线；根据每个线段的斜率，确定多个线段中相邻线段之间的斜率差，得到多个斜率差；根据多个斜率差，将目标线段组的交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为目标储集层的下限。提高了处理效率。
Description
技术领域
本发明涉及石油测井储层预测技术领域，特别涉及一种确定储集层下限的方法和装置。
背景技术
储集层中的孔隙、裂缝和孔洞之间相互连通形成油气流动的通道，是形成油气层的基本要素之一。储集层的优劣主要与储集层的岩性、结构特征相关，储集层的孔渗性越好，储集油气的能力越强。储集层下限的研究是评价储集层是否具有储集能力的重要依据，本领域中，一般用储集层的孔隙度来描述储集层的下限。
相关技术中，一般通过经验统计法确定储集层下限，该过程一般为：工作人员通过钻井取心工具，对待确定的储集层进行连续多次的钻井取心作业，从井中取出多个岩心，该岩心即为井内部在不同深度的岩块；并对该多个岩心进行大量的岩石物性分析化验，得到该多个岩心的孔隙度。然后，对该多个岩心的孔隙度进行数据分析，以累计能力丢失时占总累积的5%左右为界限，将该界限的孔隙度值作为该储集层的下限。
上述方法需要进行大量的取心作业和岩石物性分析化验，取心作业和物性分析化验过程中，作业时间较长，且需要大量的人力、物力。因此，通过上述方法确定储集层下限时，耗费较长时间，导致上述处理过程的效率较低。
发明内容
本发明实施例提供了一种确定储集层下限的方法和装置，能够解决相关技术中确定储集层下限过程效率低的问题。所述技术方案如下：
一方面，提供了一种确定储集层下限的方法，所述方法包括：
获取目标储集层中多个采样点的目标参数值，所述目标参数值为声波时差值或者密度值；
根据每个采样点的目标参数值，将所述多个采样点划分为多个采样点集合，每个采样点集合对应一个预设目标参数段；
确定所述每个采样点集合包括的采样点的数量；
根据所述每个采样点集合包括的采样点的数量，确定所述每个采样点集合的累积概率；
根据所述每个采样点集合对应的预设目标参数段和所述每个采样点集合的累积概率，绘制所述多个采样点的累积概率曲线，所述累积概率曲线包括多个斜率不同的线段；
根据每个线段的斜率，确定所述多个线段中相邻线段之间的斜率差，得到多个斜率差；
根据所述多个斜率差，将目标线段组的交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为所述目标储集层的下限，所述目标线段组为斜率差超过预设阈值的相邻两个线段。
在一种可能的设计中，所述获取待确定的目标储集层中多个采样点的目标参数值包括：
获取待确定的目标储集层所在的井的测井资料，从所述测井资料中获取所述目标储集层中多个采样点的目标参数值。
在一种可能的设计中，所述根据每个采样点的目标参数值，将所述多个采样点划分为多个采样点集合包括：
根据所述每个采样点的目标参数值，将所述多个采样点升序排列；
根据所述多个采样点的目标参数值所在的数值范围，确定多个预设目标参数段；
根据所述多个预设目标参数段，将升序排列的多个采样点划分为多个采样点集合。
在一种可能的设计中，所述根据所述多个斜率差，将目标线段组的交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为所述目标储集层的下限包括：
获取所述目标储集层下限的预估范围和所述交点的目标参数值；
当所述交点的目标参数值对应的孔隙度位于所述预估范围内时，将所述交点的目标参数值对应的孔隙度确定为所述目标储集层的下限。
在一种可能的设计中，所述根据所述多个斜率差，将目标线段组的交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为所述目标储集层的下限包括：
根据所述多个采样点集合的目标参数频数直方图，确定所述目标储集层的有效储集层和无效储集层，所述目标参数直方图用于指示每个采样点集合所包括的采样点的数量；
当所述交点的目标参数值与所述有效储集层对应的目标参数值相匹配时，将所述交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为所述目标储集层的下限。
另一方面，提供了一种确定储集层下限的装置，所述装置包括：
获取模块，用于获取目标储集层中多个采样点的目标参数值，所述目标参数值为声波时差值或者密度值；
划分模块，用于根据每个采样点的目标参数值，将所述多个采样点划分为多个采样点集合，每个采样点集合对应一个预设目标参数段；
确定模块，用于确定所述每个采样点集合包括的采样点的数量；
所述确定模块，还用于根据所述每个采样点集合包括的采样点的数量，确定所述每个采样点集合的累积概率；
绘制模块，用于根据所述每个采样点集合对应的预设目标参数段和所述每个采样点集合的累积概率，绘制所述多个采样点的累积概率曲线，所述累积概率曲线包括多个斜率不同的线段；
所述确定模块，还用于根据每个线段的斜率，确定所述多个线段中相邻线段之间的斜率差，得到多个斜率差；
所述确定模块，还用于根据所述多个斜率差，将目标线段组的交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为所述目标储集层的下限，所述目标线段组为斜率差超过预设阈值的相邻两个线段。
在一种可能的设计中，所述获取模块，还用于获取待确定的目标储集层所在的井的测井资料，从所述测井资料中获取所述目标储集层中多个采样点的目标参数值。
在一种可能的设计中，所述划分模块，还用于根据所述每个采样点的目标参数值，将所述多个采样点升序排列；根据所述多个采样点的目标参数值所在的数值范围，确定多个预设目标参数段；根据所述多个预设目标参数段，将升序排列的多个采样点划分为多个采样点集合。
在一种可能的设计中，所述确定模块，还用于获取所述目标储集层下限的预估范围和所述交点的目标参数值；当所述交点的目标参数值对应的孔隙度位于所述预估范围内时，将所述交点的目标参数值对应的孔隙度确定为所述目标储集层的下限。
在一种可能的设计中，所述确定模块，还用于根据所述多个采样点集合的目标参数频数直方图，确定所述目标储集层的有效储集层和无效储集层，所述目标参数直方图用于指示每个采样点集合所包括的采样点的数量；当所述交点的目标参数值与所述有效储集层对应的目标参数值相匹配时，将所述交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为所述目标储集层的下限。
本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是：
本发明实施例中，根据目标储集层中多个采样点的目标参数值，将所述多个采样点划分为多个采样点集合，并根据该多个采样点集合的累积概率和预设目标参数段，绘制所述多个采样点的累积概率曲线，基于该累积概率曲线所包括的多个线段中相邻线段之间的斜率差，确定该多个线段中斜率差超过预设阈值的相邻两个线段，作为目标线段组，从而将目标线段组的交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为所述目标储集层的下限。由于该过程中省略了大量的取心作业和化验作业，节省了大量的人力、物力等资源，缩减了整个作业时间，大大提高了确定储集层下限的效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种确定储集层下限的方法的流程图；
图2是本发明实施例提供的一种确定储集层下限的方法的流程图；
图3是本发明实施例提供的一种累积概率曲线和声波时差直方图的示意图；
图4是本发明实施例提供的一种确定储集层下限的装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
图1是本发明实施例提供的一种确定储集层下限的方法的流程图。该发明实施例的执行主体为终端，参见图1，该方法包括：
101、获取目标储集层中多个采样点的目标参数值，该目标参数值为声波时差值或者密度值；
102、根据每个采样点的目标参数值，将该多个采样点划分为多个采样点集合，每个采样点集合对应一个预设目标参数段；
103、确定该每个采样点集合包括的采样点的数量；
104、根据该每个采样点集合包括的采样点的数量，确定该每个采样点集合的累积概率；
105、根据该每个采样点集合对应的预设目标参数段和该每个采样点集合的累积概率，绘制该多个采样点的累积概率曲线，该累积概率曲线包括多个斜率不同的线段；
106、根据每个线段的斜率，确定该多个线段中相邻线段之间的斜率差，得到多个斜率差；
107、根据该多个斜率差，将目标线段组的交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为该目标储集层的下限，该目标线段组为斜率差超过预设阈值的相邻两个线段。
在一种可能的设计中，该获取待确定的目标储集层中多个采样点的目标参数值包括：
获取待确定的目标储集层所在的井的测井资料，从该测井资料中获取该目标储集层中多个采样点的目标参数值。
在一种可能的设计中，该根据每个采样点的目标参数值，将该多个采样点划分为多个采样点集合包括：
根据该每个采样点的目标参数值，将该多个采样点升序排列；
根据该多个采样点的目标参数值所在的数值范围，确定多个预设目标参数段；
根据该多个预设目标参数段，将升序排列的多个采样点划分为多个采样点集合。
在一种可能的设计中，该根据该多个斜率差，将目标线段组的交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为该目标储集层的下限包括：
获取该目标储集层下限的预估范围和该交点的目标参数值；
当该交点的目标参数值对应的孔隙度位于该预估范围内时，将该交点的目标参数值对应的孔隙度确定为该目标储集层的下限。
在一种可能的设计中，该根据该多个斜率差，将目标线段组的交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为该目标储集层的下限包括：
根据该多个采样点集合的目标参数频数直方图，确定该目标储集层的有效储集层和无效储集层，该目标参数直方图用于指示每个采样点集合所包括的采样点的数量；
当该交点的目标参数值与该有效储集层对应的目标参数值相匹配时，将该交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为该目标储集层的下限。
本发明实施例中，该终端可以根据目标储集层中多个采样点的目标参数值，将该多个采样点划分为多个采样点集合，并根据该多个采样点集合的累积概率和预设目标参数段，绘制该多个采样点的累积概率曲线，基于该累积概率曲线所包括的多个线段中相邻线段之间的斜率差，确定该多个线段中斜率差超过预设阈值的相邻两个线段，作为目标线段组，从而将目标线段组的交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为该目标储集层的下限。由于该过程中省略了大量的取心作业和化验作业，节省了大量的人力、物力等资源，缩减了整个作业时间，大大提高了确定储集层下限的效率。
图2是本发明实施例提供的一种确定储集层下限的方法的流程图。该发明实施例的执行主体为终端，参见图2，该方法包括：
201、终端获取目标储集层中多个采样点的目标参数值。
该目标参数值为声波时差值或者密度值。本发明实施例中，该目标储集层为待测试下限的储集层，该目标储集层内有多个采样点，其中，该目标储集层所在区域包括至少一个井，该多个采样点可以位于该目标储集层的井中，该终端在该井中对该多个采样点进行目标参数测试，得到该目标储集层中多个采样点的目标参数值。其中，该终端可以从该目标储集层的测井资料中直接获取该目标参数值。其中，该密度值为该多个采样点的体积密度值，该声波时差是滑行波在地层中传播预设距离所用的时间，其中，该预设距离可以基于需要进行设置，本发明实施例对此不做具体限定，例如，该预设距离可以为1米或1英尺。
其中，该终端从测井资料中获取目标参数值，则本步骤可以为：终端获取待确定的目标储集层所在的井的测井资料，从该测井资料中获取该目标储集层中多个采样点的目标参数值。
本发明实施例中，对于目标储集层中已存在的井，一般来说，在钻井时，一般会通过测试仪器获取该井的测井资料，该测井资料至少包括该井中多个采样点的目标参数值，当然，该测井资料还可以包括反应该井岩性、电性的曲线资料等。该终端可以事先将该测井资料存储至数据库中，在需要测试目标储集层下限时，该终端可以从该数据库中获取目标储集层所在区域内的井的测井资料。然后，该终端从该测井资料种筛选出该井中多个采样点的目标参数值。
其中，以该目标参数值为声波时差值为例进行说明，该测井资料为标准化处理之后的测井资料，该标准化处理的过程可以为：该终端通过多个测试工具分别获取多个井内采样点的声波时差值时，该多个井为同一储集层所在区域的井，由于测试工具刻度的不同，对于同一深度处的采样点，不同的测试工具所测得的声波时差值可能不同，此时，该终端可以结合该多个井中在该储集层内较为稳定的标志层进行标准化处理。
需要说明的是，在井中，该多个采样点一般为该目标储集层对应深度处的连续多个纵向均匀分布的采样点，例如，对于深度为地下100米到200米的储集层，该终端可以从地下100米处开始，在垂直方向上每隔0.5米纵向分布一个采样点。
202、终端根据每个采样点的目标参数值，将该多个采样点划分为多个采样点集合。
其中，每个采样点集合对应一个预设目标参数段；该采样点集合所包括的采样点的目标参数值均在该预设目标参数段内。本发明实施例中，该终端可以根据该多个采样点的目标参数值所在的数值范围，预先设置多个预设目标参数段，并根据多个采样点的目标参数值所在的预设目标参数段，将多个采样点划分为多个采样点集合，从而每个采样点集合对应一个预设目标参数段。
其中，该终端可以通过排序的方式，对该多个采样点进行分组划分。具体的，该过程可以为：该终端根据该每个采样点的目标参数值，将该多个采样点升序排列，该终端根据该多个采样点的目标参数值所在的数值范围，确定多个预设目标参数段。然后，该终端根据该多个预设目标参数段，将升序排列的多个采样点划分为多个采样点集合。
其中，该多个预设目标参数段对应的数值范围为等间距的数值范围，该终端可以根据全部采样点的目标参数值所在的数值范围，等间距划分为多个预设目标参数段，将每个预设目标参数段内的目标参数值对应的采样点确定为一个采样点集合，从而将该多个采样点等间距分组。
另外，该多个预设目标参数段所包括的数值范围各不重叠。
进一步的，该终端还可以按照各个采样点集合对应的预设目标参数段的起始值或者终止值的大小，将该多个采样点集合进行升序排列。
203、终端确定该每个采样点集合包括的采样点的数量。
对于每个采样点集合，该终端统计每个采样点集合所包括的采样点的数量，也即是，统计该目标储集层在每个预设目标参数段内的采样点的频数。
204、终端根据该每个采样点集合包括的采样点的数量，确定该每个采样点集合的累积概率。
对于每个采样点集合，该终端可以根据每个采样点集合对应的预设目标参数段，统计该预设目标参数段的累积概率，并将该预设目标参数段的累积概率，确定为该采样点集合的累积概率。其中，每个采样点集合的累积概率是指截止到该采样点集合对应的预设目标参数段时，所累积的采样点的数量占全部采样点数量的比率，描述了该采样点集合所在的储集层占目标储集层整体的份额。其中，每个采样点集合对应一个预设目标参数段，终端可以按照该预设目标参数段，将目标储集层划分为多个类型的子储集层，每个采样点集合对应位于一个子储集层中，因此，每个采样点集合的累积概率也说明了该采样点集合所在的子储集层在全部目标储集层中所占的比例。
205、终端根据该每个采样点集合对应的预设目标参数段和该每个采样点集合的累积概率，绘制累积概率曲线。
其中，该累积概率曲线包括多个斜率不同的线段。每个线段用于连接该累积概率曲线中代表相邻两个采样点集合的点。
本发明实施例中，该终端可以采用目标参数作为X轴，累积概率作为Y轴，建立二维坐标系，并根据每个采样点集合的累积概率和预设目标参数段，在该二维坐标系中绘制累积概率曲线。累积概率曲线表示目标储集层总的贡献值，任意点表示小于该目标参数值的累积贡献值。
其中，以声波时差值为例，该终端可以绘制该多个采样点集合的声波时差频数直方图，具体的，该终端可以采用声波时差作为X轴，采样点的数量作为Y轴，建立二维坐标系，并根据该多个采样点集合包括的采样点的数量，在该二维坐标系中绘制声波时差频数直方图。该声波时差频数直方图用于指示该多个采样点集合中每个采样点集合所包括的采样点的数量。
以测试某个地区的井中采样点的声波时差值为例。该终端可以选取目标储集层所对应的目标层段的已测声波时差曲线的多个采样点的声波时差值，如图3所示，该终端可以10为间距划分出多个采样点集合，得到累积概率曲线和声波时差直方图。其中，该采样点集合的累积概率也即是该采样点集合的累积贡献值，在该图3中，终端以右侧的累积贡献值坐标轴作为该累积概率曲线的Y轴，以左侧的采样点频数，也即是采样点的数量作为声波时差频数直方图的Y轴，以声波时差作为累积概率曲线和声波时差频数直方图X轴，将累积概率曲线和声波时差频数直方图绘制在同一个图中，从而能够更好的描述各个采样点集合的累积概率和采样点的数量随着声波时差值的变化情况，以及累积概率和采样点的数量二者之间的变化情况。
206、终端根据每个线段的斜率，确定该多个线段中相邻线段之间的斜率差，得到多个斜率差。
其中，该相邻线段是指该多个线段中相邻接的两个线段。本发明实施例中，该终端根据该累积概率曲线中所包括的各个线段，确定每个线段的斜率，根据多个线段的斜率，确定相邻两个线段之间的斜率差，从而得到多个斜率差。
207、终端根据该多个斜率差，将目标线段组的交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为该目标储集层的下限。
其中，该目标线段组为斜率差超过预设阈值的相邻两个线段。
本发明实施例中，该终端可以根据该多个斜率差，从该多个斜率差中筛选出超过预设阈值的斜率差，并获取该斜率差对应的两个相邻线段，将该两个相邻线段的交点的目标参数值对应的孔隙度，作为该目标储集层的下限。其中，该目标参数和孔隙度之间存在对应关系；该终端可以根据该交点的目标参数值，从目标参数和孔隙度之间的对应关系中，获取该交点的目标参数值对应的孔隙度。
其中，该终端还可以基于预估范围，或者结合每个采样点集合所包括的采样点的数量，进一步准确的确定该目标储集层的下限。相应的，本步骤还可以通过以下两种方式实现。
第一种方式、该终端获取该目标储集层下限的预估范围和该交点的目标参数值，当该交点的目标参数值对应的孔隙度位于该预估范围内时，将该交点的目标参数值对应的孔隙度确定为该目标储集层的下限。
其中，该终端可以事先获取该目标储集层的预估范围，该预估范围用于指示该目标储集层的下限所在的数值范围。当超过预设阈值的斜率差有多个时，该终端分别获取该多个斜率差对应的多个交点，并获取该多个交点的目标参数值对应的孔隙度，该终端可以根据该预估范围，进一步筛选出符合该目标储集层自身实际情况的孔隙度。
其中，该预估范围可以为基于该目标储集层历史测试过程中测得的下限确定；也可以基于该目标储集层的测井资料所估计的数值范围。本发明实施例对此不作具体限定。
第二种方式、该终端根据该多个采样点集合的目标参数频数直方图，确定该目标储集层的有效储集层和无效储集层。当该交点的目标参数值与该有效储集层对应的目标参数值相匹配时，将该交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为该目标储集层的下限。
其中，该目标参数直方图用于指示每个采样点集合所包括的采样点的数量；该终端还可以结合该目标参数直方图，确定该多个采样点集合所包括的采样点的数量的变化程度，该终端根据该多个采样点集合中变化程度，将变化程度符合目标条件，且目标参数值不小于目标数值的多个采样点集合对应的储集层部分，作为有效储集层的部分，将有效储集层以外的部分作为无效储集层部分。进一步的，该终端可以确定该有效储集层和无效储集层之间的目标参数的界限值，根据该界限值，判断该交点的目标参数值是否属于该有效储集层对应的目标参数值的范围，当该交点的目标参数值属于该有效储集层的目标参数值的范围时，确定该交点的目标参数值与该有效储集层对应的目标参数值相匹配。
其中，该目标条件可以为连续多个采样点集合中，相邻采样点集合所包括的采样点的数量之差均小于预设数值，该预设数值可以基于需要进行设置，本发明实施例对此不作具体限定。例如，该预设数值可以为20、10等。
另外，该目标数值是指该具备储集能力的储集层的最小孔隙度对应的目标参数值。从而该目标参数值不小于该目标数值，也即是，筛选出的该多个采样点集合为目标储集层中具备储集能力的储集层上的采样点。
在一种可能的实施方式中，该交点的目标参数可能与该无效储集层和有效储集层之间的目标参数的界限值相同。该终端还可以直接确定有效储集层下限，将有效储集层中所包括的最低目标参数值对应的孔隙度，作为该目标储集层的下限。
为了更清晰的介绍上述实施步骤，仅以某个储集层的确定下限过程为例进行说明，如图3所示，以声波时差值为例，根据该储集层的多个采样点集合的声波时差值和累积概率，绘制得到累积概率曲线和声波时差直方图。在该图3中，累积概率曲线，也即是累积贡献值曲线，分别划分为a、b、c、d、e五条斜率各不相同的线段，其中，该b段线段包括了从（190，200）对应的采样点集合，到（230，240）对应的采样点集合的多个采样点集合的连线。图中a、b两条线段斜率明显不同，斜率差超过其他相邻线段之间的斜率差。 a、b两条线段的交点所对应的声波时差值为200μs/m，其中b段内对应的每组声波时差值采样点的数量也大致相同，是有效储集层的主体部分，而c、d、f段声波时差值采样点频数明显降低，为有效储集层的次总体。a段对应的声波时差值与b、c、d、e段相差较大，对应的孔隙度值较低，储集能力也较低，可以将a段作为该目标储集层的无效储集层。因此，可以将a段和b段的交点处的声波时差值200μs/m作为划分有效储集层和无效储集层的界限，将该交点的声波时差值对应的孔隙度4.6%作为有效储集层的物性下限。
本发明实施例提供的方法，该终端可以根据目标储集层中多个采样点的目标参数值，将该多个采样点划分为多个采样点集合，并根据该多个采样点集合的累积概率和预设目标参数段，绘制该多个采样点的累积概率曲线，基于该累积概率曲线所包括的多个线段中相邻线段之间的斜率差，确定该多个线段中斜率差超过预设阈值的相邻两个线段，作为目标线段组，从而将目标线段组的交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为该目标储集层的下限。由于该过程中省略了大量的取心作业和化验作业，节省了大量的人力、物力等资源，缩减了整个作业时间，大大提高了确定储集层下限的效率。
图4是本发明实施例提供的一种确定储集层下限的装置的结构示意图。参见图4，该装置包括：获取模块401、划分模块402、确定模块403和绘制模块404。
获取模块401，用于获取目标储集层中多个采样点的目标参数值，该目标参数值为声波时差值或者密度值；
划分模块402，用于根据每个采样点的目标参数值，将该多个采样点划分为多个采样点集合，每个采样点集合对应一个预设目标参数段；
确定模块403，用于确定该每个采样点集合包括的采样点的数量；
该确定模块403，还用于根据该每个采样点集合包括的采样点的数量，确定该每个采样点集合的累积概率；
绘制模块404，用于根据该每个采样点集合对应的预设目标参数段和该每个采样点集合的累积概率，绘制该多个采样点的累积概率曲线，该累积概率曲线包括多个斜率不同的线段；
该确定模块403，还用于根据每个线段的斜率，确定该多个线段中相邻线段之间的斜率差，得到多个斜率差；
该确定模块403，还用于根据该多个斜率差，将目标线段组的交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为该目标储集层的下限，该目标线段组为斜率差超过预设阈值的相邻两个线段。
在一种可能的设计中，该获取模块401，还用于获取待确定的目标储集层所在的井的测井资料，从该测井资料中获取该目标储集层中多个采样点的目标参数值。
在一种可能的设计中，该划分模块402，还用于根据该每个采样点的目标参数值，将该多个采样点升序排列；根据该多个采样点的目标参数值所在的数值范围，确定多个预设目标参数段；根据该多个预设目标参数段，将升序排列的多个采样点划分为多个采样点集合。
在一种可能的设计中，该确定模块403，还用于获取该目标储集层下限的预估范围和该交点的目标参数值；当该交点的目标参数值对应的孔隙度位于该预估范围内时，将该交点的目标参数值对应的孔隙度确定为该目标储集层的下限。
在一种可能的设计中，该确定模块403，还用于根据该多个采样点集合的目标参数频数直方图，确定该目标储集层的有效储集层和无效储集层，该目标参数直方图用于指示每个采样点集合所包括的采样点的数量；当该交点的目标参数值与该有效储集层对应的目标参数值相匹配时，将该交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为该目标储集层的下限。
本发明实施例中，该终端可以根据目标储集层中多个采样点的目标参数值，将该多个采样点划分为多个采样点集合，并根据该多个采样点集合的累积概率和预设目标参数段，绘制该多个采样点的累积概率曲线，基于该累积概率曲线所包括的多个线段中相邻线段之间的斜率差，确定该多个线段中斜率差超过预设阈值的相邻两个线段，作为目标线段组，从而将目标线段组的交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为该目标储集层的下限。由于该过程中省略了大量的取心作业和化验作业，节省了大量的人力、物力等资源，缩减了整个作业时间，大大提高了确定储集层下限的效率。
上述所有可选技术方案，可以采用任意结合形成本公开的可选实施例，在此不再一一赘述。
需要说明的是：上述实施例提供的确定储集层下限的装置在确定储集层下限时，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将设备的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。另外，上述实施例提供的确定储集层下限的装置与确定储集层下限的方法实施例属于同一构思，其具体实现过程详见方法实施例，这里不再赘述。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种确定储集层下限的方法，其特征在于，所述方法包括：
获取目标储集层中多个采样点的目标参数值，所述目标参数值为声波时差值或者密度值；其中所述声波时差值是滑行波在地层中传播预设距离所用的时间；所述多个采样点为所述目标储集层对应深度处的连续多个纵向均匀分布的采样点；所述目标参数值为标准化处理之后的测井资料，所述标准化处理包括：通过多个测试工具分别获取多个井内采样点的声波时差值；结合所述多个井中在所述储集层内稳定的标志层进行标准化处理；
根据每个采样点的目标参数值，将所述多个采样点划分为多个采样点集合，每个采样点集合对应一个预设目标参数段；
确定所述每个采样点集合包括的采样点的数量；
根据所述每个采样点集合包括的采样点的数量，确定所述每个采样点集合的累积概率；
根据所述每个采样点集合对应的预设目标参数段和所述每个采样点集合的累积概率，绘制所述多个采样点的累积概率曲线，所述累积概率曲线包括多个斜率不同的线段；
根据每个线段的斜率，确定多个线段中相邻线段之间的斜率差，得到多个斜率差；
根据所述多个斜率差，将目标线段组的交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为所述目标储集层的下限，所述目标线段组为斜率差超过预设阈值的相邻两个线段；
其中，所述根据每个采样点的目标参数值，将所述多个采样点划分为多个采样点集合包括：
根据所述每个采样点的目标参数值，将所述多个采样点升序排列；
根据所述多个采样点的目标参数值所在的数值范围，确定多个预设目标参数段；
根据所述多个预设目标参数段，将升序排列的所述多个采样点划分为所述多个采样点集合，并按照各个采样点集合对应的预设目标参数段的起始值或者终止值的大小，将所述多个采样点集合进行升序排列；
其中，所述根据所述多个斜率差，将目标线段组的交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为所述目标储集层的下限包括：
获取所述目标储集层下限的预估范围和所述交点的目标参数值；
当所述交点的目标参数值对应的孔隙度位于所述预估范围内时，将所述交点的目标参数值对应的孔隙度确定为所述目标储集层的下限；其中当所述目标线段组的数量为多个时，分别获取多个所述目标线段组的多个交点的目标参数值对应的多个孔隙度，根据所述预估范围对所述多个孔隙度进行筛选，以确定所述目标储集层的下限；其中所述预估范围基于所述目标储集层历史测试过程中测得的下限确定，用于指示所述目标储集层的下限所在的数值范围。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取待确定的目标储集层中多个采样点的目标参数值包括：
获取待确定的目标储集层所在的井的测井资料，从所述测井资料中获取所述目标储集层中多个采样点的目标参数值。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个斜率差，将目标线段组的交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为所述目标储集层的下限包括：
根据所述多个采样点集合的目标参数频数直方图，确定所述目标储集层的有效储集层和无效储集层，所述目标参数频数直方图用于指示每个采样点集合所包括的采样点的数量；
当所述交点的目标参数值与所述有效储集层对应的目标参数值相匹配时，将所述交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为所述目标储集层的下限。
4.一种确定储集层下限的装置，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，用于获取目标储集层中多个采样点的目标参数值，所述目标参数值为声波时差值或者密度值；其中所述声波时差值是滑行波在地层中传播预设距离所用的时间，所述多个采样点为所述目标储集层对应深度处的连续多个纵向均匀分布的采样点；所述目标参数值为标准化处理之后的测井资料，所述标准化处理包括：通过多个测试工具分别获取多个井内采样点的声波时差值；结合所述多个井中在所述储集层内稳定的标志层进行标准化处理；
划分模块，用于根据每个采样点的目标参数值，将所述多个采样点划分为多个采样点集合，每个采样点集合对应一个预设目标参数段；
确定模块，用于确定所述每个采样点集合包括的采样点的数量；
所述确定模块，还用于根据所述每个采样点集合包括的采样点的数量，确定所述每个采样点集合的累积概率；
绘制模块，用于根据所述每个采样点集合对应的预设目标参数段和所述每个采样点集合的累积概率，绘制所述多个采样点的累积概率曲线，所述累积概率曲线包括多个斜率不同的线段；
所述确定模块，还用于根据每个线段的斜率，确定多个线段中相邻线段之间的斜率差，得到多个斜率差；
所述确定模块，还用于根据所述多个斜率差，将目标线段组的交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为所述目标储集层的下限，所述目标线段组为斜率差超过预设阈值的相邻两个线段；
所述划分模块，还用于根据所述每个采样点的目标参数值，将所述多个采样点升序排列；根据所述多个采样点的目标参数值所在的数值范围，确定多个预设目标参数段；根据所述多个预设目标参数段，将升序排列的多个采样点划分为多个采样点集合，并按照各个采样点集合对应的预设目标参数段的起始值或者终止值的大小，将所述多个采样点集合进行升序排列；
所述确定模块，还用于获取所述目标储集层下限的预估范围和所述交点的目标参数值；当所述交点的目标参数值对应的孔隙度位于所述预估范围内时，将所述交点的目标参数值对应的孔隙度确定为所述目标储集层的下限；其中当所述目标线段组的数量为多个时，分别获取多个所述目标线段组的多个交点的目标参数值对应的多个孔隙度，根据所述预估范围对所述多个孔隙度进行筛选，以确定所述目标储集层的下限；其中，所述预估范围基于所述目标储集层历史测试过程中测得的下限确定，用于指示所述目标储集层的下限所在的数值范围。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，
所述获取模块，还用于获取待确定的目标储集层所在的井的测井资料，从所述测井资料中获取所述目标储集层中多个采样点的目标参数值。
6.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，
所述确定模块，还用于根据所述多个采样点集合的目标参数频数直方图，确定所述目标储集层的有效储集层和无效储集层，所述目标参数频数直方图用于指示每个采样点集合所包括的采样点的数量；当所述交点的目标参数值与所述有效储集层对应的目标参数值相匹配时，将所述交点的目标参数值对应的孔隙度，确定为所述目标储集层的下限。
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