CN111105841A - 固态硬盘检测设备、检测方法及转接装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种固态硬盘检测设备、检测方法及转接装置,该转接装置用于连接示波器和固态硬盘,该转接装置包括PCB板和设置在所述PCB板上的第一信号接口、第二信号接口、差分电路及负载电阻,所述第一信号接口、第二信号接口、差分电路及负载电阻依次相互并联,所述第一信号接口用于与所述示波器电连接,所述第二信号接口用于与所述固态硬盘的SMA接口电连接。本发明有利于提高检测固态硬盘数据传输性能的准确性。
Description
技术领域
本发明涉及硬盘检测技术领域,具体涉及一种固态硬盘检测设备、检测方法及转接装置。
背景技术
众所周知,硬盘为电脑上常用的数据存储部件,现有的硬盘一般包括机械硬盘和固态硬盘,其中固态硬盘由于其优良的性能在电脑中应用得也越来广泛。
现有的固态硬盘在出厂之前一般会对固态硬盘的数据传输性能进行测试,而检测方式是将固态硬盘安装在电脑主机上,然后通过示波器与电脑主机进行连接,从而利用示波器测试固态硬盘的数据传输性能。但是,这种检测方法没有直接对固态硬盘进行检测,从而导致示波器检测出的数据并不能完整的体现出被测固态硬盘的数据传输性能。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种固态硬盘检测设备、检测方法及转接装置,旨在解决现有的检测方式不能完整的体现出固态硬盘的数据传输性能的问题。
为解决上述技术问题,本发明提出一种转接装置,该转接装置包括所述转接装置包括PCB板和设置在所述PCB板上的第一信号接口、第二信号接口、差分电路及负载电阻,所述第一信号接口、第二信号接口、差分电路及负载电阻依次相互并联,所述第一信号接口用于与所述示波器电连接,所述第二信号接口用于与所述固态硬盘的SMA接口电连接。
优选地,所述转接装置还包括设置在所述PCB板上且相互电连的第一电源接口和第二电源接口,所述第一电源接口用于与外部电源电连接,所述第二电源接口用于与所述固态硬盘的电源接口电连接。
优选地,所述负载电阻的阻值为100Ω。
本发明进一步提出一种固态硬盘检测设备,该固态硬盘检测设备包括示波器和转接装置,所述转接装置包括PCB板和设置在所述PCB板上的第一信号接口、第二信号接口、差分电路及负载电阻,所述第一信号接口、第二信号接口、差分电路及负载电阻依次相互并联,所述第一信号接口用于与所述示波器电连接,所述第二信号接口用于与所述固态硬盘的SMA接口电连接。
优选地,所述示波器包括壳体、电子枪、偏转系统、荧光屏和内部电源,所述电子枪与所述第一信号接口电连接。
优选地,所述壳体的表面具有向内凹陷的容纳腔和用于封堵所述容纳腔的盖板,所述转接装置可收纳在所述容纳腔内。
优选地,所述盖板与所述壳体滑动连接。
优选地,所述盖板上设置有第一磁吸部,所述壳体上对应设置有可与所述第一磁吸部相配合的第二磁吸部。
优选地,一种固态硬盘检测方法,包括:
固态硬盘在检测到上电操作时,所述固态硬盘的主控芯片向闪存模块发送随机码;
所述闪存模块根据所述随机码生成反馈信号,将所述反馈信号发送给转接装置;
所述转接装置将所述反馈信号转换成显示信号,将所述显示信号发送给示波器;
所述示波器根据所述显示信号显示相应的眼图。
优选地,所述随机码为伪随机码;
所述主控芯片通过SATA port端口向所述闪存模块发送所述伪随机码。
本发明实施例提供的转接装置,通过利用差分电路和负载电阻模拟负载,并利用第一信号接口连接示波器和第二信号接口连接固态硬盘,从而无需将固态硬盘安装在电脑主板上即可利用示波器对固态硬盘进行检测。相对现有技术而言,本发明有利于提高检测固态硬盘数据传输性能的准确性。
附图说明
图1为本发明中转接装置一实施例的结构示意图;
图2为本发明中转接装置另一实施例的结构示意图;
图3为本发明中固态硬盘检测设备一实施例的结构示意图;
图4为本发明中转接装置、电子枪、偏转系统、荧光屏以及内部电源的连接关系图;
图5为本发明中固态硬盘的检测方法一实施例的流程图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制,基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提出一种转接装置,该转接装置60包括PCB板61以及设置在所述PCB板61上的第一信号接口62、第二信号接口63、差分电路66和负载电阻67,第一信号接口62可与示波器连接,第二信号接口63可与待测固态硬盘的SATA接口连接,差分电路66的两端均与第二信号接口63连接,负载电阻67的两端分别与差分电路66的两端连接,且负载电路66的两端还均与第一信号接口62连接。
本实施例中,如图1所示,PCB板61采用现有的形式即可,当然,为了对PCB板61进行保护,转接装置60还可包括一外壳,而PCB板61则位于该外壳内,且该外壳上分别设有供第一信号接口62和第二信号接63口穿出的通孔。第一信号接口62可根据实际情况进行设置,如第一信号接口62直接与电子枪连接或与示波器上的接口连接,第二信号接口63则采用与固态硬盘上的SMA接口相适配即可。差分电路66采用现有的形式即可,差分电路66的两端均与第二信号接口63连接,而负载电阻67的两端分别与差分电路66并联即可,即负载电阻67的两端分别与差分电路66的两端连接,且负载电阻67的两端还均与第一信号接口62连接,从而方便示波器采集负载电阻67电压值的变化,至于怎样根据负载电阻67的电压值转换得到待测固态硬盘的数据传输性能则根据现有示波器的分析方法即可,在此不作详细说明。其中,固态硬盘上的SMA接口即为生活中常用叫法的大SATA接口,固态硬盘上的电源接口即为生活中常用叫法的小SATA接口。本实施例中,通过利用差分电路66和负载电阻67模拟负载,并利用第一信号接口62连接示波器和第二信号接口63连接固态硬盘,无需将固态硬盘安装在电脑主板上即可利用示波器对固态硬盘进行检测,以此直接获取固态硬盘的数据传输性能,从而提高了检测固态硬盘数据传输性能的精度和方便了对固态硬盘的检测工序。
在一较佳实施例中,如图2所示,优选PCB板61上还具有相互连通的第一电源接口64和第二电源接口65,第一电源接口64可与外部电源连接,第二电源接口65可与固态硬盘连接,且第二电源接口65与第二信号接口63位于PCB板61的同一侧,从而便于第二信号接口63和第二电源接口65同时与固态硬盘上的SMA接口和电源接口连接。其中,可以是PCB板61上设置有变压装置68,且第一电源接口64和第二电源接口65分别与该变压装置68的两端连接,以此利用变压装置68将第一电源接口64输出的电压变压至预设数值后输出给第二电源接口65,从而方便对固态硬盘进行供电。此时,第一电源接口64可以室内电源直接连接,也可以是与示波器的供电电源连接。
在一较佳实施例中,优选负载电阻67的阻值为100Ω。因现有固态硬盘一般均遵循SATA协议规定,所以负载电阻67的阻值选取100Ω即可。
在一较佳实施例中,还可在固态硬盘的主控芯片内写入自启程序,写入自启程序的方式为利用电脑进行烧录。而具体的自启程序则根据实际情况进行设置,在本发明实施例中,当固态硬盘接收到上电操作时,固态硬盘中的主控芯片向固态硬盘内部的闪存模块发送随机码,该闪存模块根据该随机码生成反馈信号,将该反馈信号发送给该转接装置,该转接装置将该反馈信号转换成该示波器能够识别并进行眼图显示的显示信号并发送给该示波器,示波器根据该显示信号显示该固态硬盘的闪存模块反馈得到的相应眼图。更具体地,自启程序的功能为在固态硬盘上电后,自启程序则向示波器发送启动信号,从而方便控制示波器的自动运行,在本发明实施例中,该闪存模块的反馈信号可作为该示波器的启动信号,在该转接装置将该反馈信号转换成显示信号发送给该示波器后,示波器接收到该显示信号,将启动自身的自启操作,并根据该显示信号显示相应的眼图。在本实施例中,该随机码为伪随机码,当固态硬盘检测到上电操作时,主控芯片将生成伪随机码,并通过SATAport端口向闪存模块发送该伪随机码,该闪存模块根据该伪随机码生成反馈信号。
在一较佳实施例中,如图2所示,为了方便控制对固态硬盘的供电,优选PCB板61上还设置有控制开关69,以用于控制第一电源接口64和第二电源接口65之间的电路的通断,具体为第一电源接口64和第二电源接口65分别与控制开关69的两端连接,以此利用控制开关69控制对固态硬盘的上电或断电的状态。
本发明进一步提出一种固态硬盘检测设备,该固态硬盘检测设备包括上述实施例中的转接装置及示波器,该转接装置的具体结构参照上述实施例,由于本固态硬盘检测设备采用了上述所有实施例的全部技术方案,因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果,在此不再一一赘述。
在一较佳实施例中,如图1至图4所示,示波器包括壳体10、电子枪20、偏转系统30、荧光屏40和内部电源50。其中,示波器中的电子枪20、偏转系统30、荧光屏40以及内部电源50参照现有的示波器进行布置即可,在此不作详细说明,当然,示波器还需设置控制各个部件运行的主处理器,在此也不作详细说明。此时,内部电源50则为电子枪20、偏转系统30和荧光屏40供电即可。同时,优选内部电源50还可对固态硬盘进行供电,具体为内部电源50上具有与固态硬盘的电源接口连接的接口,此时接口可位于壳体10上,通过相应的线缆插接的方式即可将内部电源50和固态硬盘导通,从而实现内部电源50对固态硬盘的供电,当然,待测固态硬盘的供电方式还可以是直接利用外部电源进行直接供电。转接装置60可以是固定设置在壳体10的表面,也可以是通过线缆与电子枪20连接。具体的,转接装置60的具体结构参照上述实施例进行布置即可,在此不作详细说明。下面主要详细说明转接装置与示波器的连接方式,可以是第一信号接口62直接与电子枪20固定连接,即第一信号接口62与电子枪20之间不可分离。本实施例中,将示波器与转接装置一体设置,从而便于对固态硬盘进行检测,至于转接装置的效果在此不另做详细说明,参照上述实施例即可。
在一较佳实施例中,为了方便固态硬盘检测设备采集的数据信息更加精准,还可增加温度检测装置和湿度检测装置,温度检测装置设置在壳体10的一周向侧面上,湿度检测装置与温度检测装置安装在同一面,湿度检测装置在温度检测装置的上方,优选温度检测装置和湿度检测装置都是以可拆卸方式安装在壳体10上。此时,测试人员可以通过温度检测装置和湿度检测装置来了解示波器的使用环境。当然,示波器还包括播报提醒装置,若检测到当前示波器工作环境指数不符合预设的数据时,则播报提醒装置会语音提示环境不适合,同时会指出指数是偏高或偏低,相差值为多少,使用者可以直接根据提示语音来判定是否继续使用示波器或示波器需要休息多久,从而起到保护示波器的作用,提高使用的安全性,提高测试精度。其中,优选温度检测装置为温度传感器,湿度检测装置为湿度传感器,而播报提醒装置为喇叭即可,而对数据进行处理的方式可以是单独设置一个处理芯片,也可以是示波器的主处理器进行控制。本实施方式中的示波器结构简单,使用方便,能实时测量示波器的使用温度和湿度并作出相应的提醒,安全性高,测量精度提高。
在一较佳实施例中,如图3所示,优选壳体10上开设有一容纳腔11,容纳腔11的大小可根据实际情况进行设置,如可容纳转接装置60即可。同时,为了方便保护收纳在容纳腔11内的转接装置60,还可在壳体10上设置用于封堵容纳腔11的开口端的盖板12,盖板12与壳体10连接的形式可以是盖板12与壳体10滑动连接,从而方便推动盖板12滑动以此控制容纳腔11开口端的开合,还可以是盖板12的一侧边与壳体10铰接,从而通过转动盖板12以使盖板12可封堵容纳腔11的开口端,当然,还可以是盖板12的部分区域可由容纳腔11的开口端嵌入在容纳腔11内,以此实现盖板12封堵容纳腔11的开口端。
在一较佳实施例中,为了方便转接装置60对固态硬盘进行检测,优选转接装置60位于壳体10的外部,且转接装置60通过线缆与电子枪20连接,而线缆的长度可根据实际情况进行设置,从而方便对不同位置的固态硬盘进行检测。此时,转接转装置60在不使用时则可收纳在容纳腔11内。
在一较佳实施例中,为了方便盖板12封堵容纳腔11的开口端后的稳定性,优选盖板12上设置有第一磁吸部,壳体10上设置有第二磁吸部,通过第一磁吸部与第二磁吸部形成磁性耦合,从而对盖板12进行固定。具体的,当盖板12采用滑动连接的方式设置在壳体10上时,优选第一磁吸部位于盖板12的前端(即朝向容纳腔11开口端的一端),而盖板12采用铰接的方式与壳体10连接时,则优选第一磁吸部位于盖板12上与铰接处相对的一端上。当然,固定盖板12的方式还可以利用螺钉或反扣等装置或结构,以此方便将盖板12固定在壳体10上。
在一较佳实施例中,如图2所示,优选PCB板上还具有相互连通的第一电源接口64和第二电源接口65。此时,第一电源接口64和第二电源接口65的具体布置形式参照上述实施例即可,在此具体对转接装置60的布置状态进行说明。具体的,转接装置60还可以是固定设置在壳体10内,且第二信号接口63和第二电源接口65位于壳体10的外壁上。优选第二信号接口63和第二电源接口65位于容纳腔11的底部,此时容纳腔11可刚好与固态硬盘相适配或略大于固态硬盘,以使固态硬盘可插装容纳腔11内,并可使固态硬盘与位于容纳腔11内的第二信号接口63和第二电源接口65连接。此时,优选容纳腔11的大小与固态硬盘相适配,从而方便固态硬盘的周向侧壁可与容纳腔11的周向侧壁贴合,以此对置于容纳腔11内的固态硬盘的稳定性,从而方便固态硬盘分别同时与第二信号接口63和第二电源接口65连接。优选容纳腔11位于壳体10的顶部,从而有利于防止置于容纳腔11内的固态硬盘的稳定性。本实施例中,通过将第二信号接口63和第二电源接口65固定设置在容纳腔11的底部,从而方便将固态硬盘插装在容纳腔11内,以使固态硬盘分别与第二信号接口63和第二电源接口65连接,以此方便了对固态硬盘的检测。
在一较佳实施例中,如图3所示,为了方便盖板12滑动设置在壳体10上,从而方便通过推动盖板12来封堵或打开容纳腔11的开口端。具体滑动连接的方式可以是盖板12通过滑轨与壳体10的外壁连接,还可以是在容纳腔11的一周向侧壁上设置有与盖板12相适配的腔体,而盖板12则置于该腔体内即可。同时,为了方便盖板12的滑动,优选盖板12上还设置有手柄,从而方便盖板12的滑动,而手柄的样式则根据现有样式进行布置即可,如柱体或球体。
本发明还提出一种固态硬盘的检测方法,如图5所示,该检测方法包括:
S10,固态硬盘在检测到上电操作时,固态硬盘的主控芯片向闪存模块发送随机码。
本步骤中,首先,通过转接装置分别电连接待测固体硬盘和示波器,其中,转接装置采用上述实施例中提及的转接装置即可,在此不作详细说明。当通过转接装置或外部电源对固态硬盘进行供电后,固态硬盘中的主控芯片即可向闪存模块发送随机码,随机码的形式可根据实际情况进行设置,以方便闪存模块进行识别即可。其中,还可在主控芯片中写入自启程序,从而方便自启程序检测到固态硬盘上电后即可控制主控芯片向闪存模块发送随机码。
S20,闪存模块根据随机码生成反馈信号,将反馈信号发送给转接装置。
本步骤中,闪存模块根据在对随机码进行确认后即可生成反馈信号,并将反馈信号发送给转接装置。该反馈信号可由转接装置上的第二信号接口传输至第一信号接口,以此将反馈信号传输给示波器。
S30,转接装置将反馈信号转换成显示信号,将显示信号发送给示波器。
本步骤中,通过转接装置上与待测固态硬盘连接的第二信号接口和与示波电连接的第一接口,从而通过第一信号接口将第二信号接口采集的反馈信号转换成示波器可识别的显示信号并发送给示波器。
S40,示波器根据显示信号显示相应的眼图。
本步骤中,示波器收到第一信号接口传输过来的显示信号后即可对照该显示信号显示相应的眼图,从而测试人员即可根据眼图来判断待测固态硬盘的性能。当然,关于确认待测固态硬盘的好坏的方式还可以是自动进行判断如通过设置一个标准值,如若显示的眼图各处的参数(即以时间为纵坐标时每个时间点的传输速度)均低于标准值,或眼图中各处的参数低于标准值的比例达到一定数值时即判定该待测硬盘为不合格产品,反之则为合格产品。
在一较佳实施例中,为了方便闪存模块对随机码进行识别,优选随机码采用伪随机码的形式。比如CDMA采用42的伪随机码,重复的可能性为4.4万亿分之一,所以可以当成随机码使用。
以上的仅为本发明的部分或优选实施例,无论是文字还是附图都不能因此限制本发明保护的范围,凡是在与本发明一个整体的构思下,利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明保护的范围内。
Claims (10)
1.一种转接装置,用于连接示波器和固态硬盘,其特征在于,所述转接装置包括PCB板和设置在所述PCB板上的第一信号接口、第二信号接口、差分电路及负载电阻,所述第一信号接口、第二信号接口、差分电路及负载电阻依次相互并联,所述第一信号接口用于与所述示波器电连接,所述第二信号接口用于与所述固态硬盘的SMA接口电连接。
2.根据权利要求1所述的转接装置,其特征在于,还包括设置在所述PCB板上且相互电连的第一电源接口和第二电源接口,所述第一电源接口用于与外部电源电连接,所述第二电源接口用于与所述固态硬盘的电源接口电连接。
3.根据权利要求1所述的转接装置,其特征在于,所述负载电阻的阻值为100Ω。
4.一种固态硬盘检测设备,其特征在于,包括示波器和权利要求1至3任一项所述的转接装置和示波器。
5.根据权利要求4所述的固态硬盘检测设备,其特征在于,所述示波器包括壳体、电子枪、偏转系统、荧光屏和内部电源,所述电子枪与所述第一信号接口电连接。
6.根据权利要求5所述的固态硬盘检测设备,其特征在于,所述壳体的表面具有向内凹陷的容纳腔和用于封堵所述容纳腔的盖板,所述转接装置可收纳在所述容纳腔内。
7.根据权利要求6所述的固态硬盘检测设备,其特征在于,所述盖板与所述壳体滑动连接。
8.根据权利要求6所述的固态硬盘检测设备,其特征在于,所述盖板上设置有第一磁吸部,所述壳体上对应设置有可与所述第一磁吸部相配合的第二磁吸部。
9.一种固态硬盘检测方法,其特征在于,包括:
固态硬盘在检测到上电操作时,所述固态硬盘的主控芯片向闪存模块发送随机码;
所述闪存模块根据所述随机码生成反馈信号,将所述反馈信号发送给转接装置;
所述转接装置将所述反馈信号转换成显示信号,将所述显示信号发送给示波器;
所述示波器根据所述显示信号显示相应的眼图。
10.根据权利要求9所述的固态硬盘检测方法,其特征在于,所述随机码为伪随机码;
所述主控芯片通过SATA port端口向所述闪存模块发送所述伪随机码。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
CB02 | Change of applicant information |
Address after: 518000 floors 1-3 and 4 of buildings 4 and 8, zone 2, Zhongguan honghualing Industrial South Zone, No. 1213 Liuxian Avenue, Pingshan community, Taoyuan Street, Nanshan District, Shenzhen, Guangdong Applicant after: BIWIN STORAGE TECHNOLOGY Co.,Ltd. Address before: 518000 1st, 2nd, 4th and 5th floors of No.4 factory building, tongfuyu industrial town, Taoyuan Street, Nanshan District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant before: BIWIN STORAGE TECHNOLOGY Co.,Ltd. |
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CB02 | Change of applicant information |