CN111091777B - 充电时间调试方法和装置 - Google Patents

Abstract

本申请实施例公开了一种充电时间调试方法和装置；本申请实施例在获取每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据后，基于每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间，接着，获取每一像素区域上的像素单元的初始充电时间，根据平均充电时间对每一像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一像素区域上的像素单元的初始充电时间等于平均充电时间；本申请实施例可以实现对各个像素区域上的像素单元的充电时间进行调试，进而提高显示均匀性，改善显示面板的显示质量。

Description

充电时间调试方法和装置

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体而言，涉及一种充电时间调试方法、装置、存储介质及电子设备。

背景技术

现有的显示面板进行充电时间调试采用的方法是：增大远端像素单元的充电时间，降低近端像素单元的充电时间，中间部分像素单元的充电时间做线性变化。其中，近端指的是靠近数据信号输出的一端，远端指的是远离数据信号输出的一端。然而，采用现有的充电时间调试方法仅仅只能实现近端远端充电率平衡，由于显示面板内部延迟并非线性变化，使得中间部分像素单元的充电时间如果以线性变化，会造成近端像素单元和远端像素单元的充电率较好，中间部分像素单元的的充电率较差，从而使得显示面板的显示质量较差。

比如，请参阅图1，图1为现有的显示面板的充电效果示意图。如图1所示，在高分辨率显示面板由于像素多，导致充电不均，使得显示面板显示效果上下较好，上下区域A、C较好，中间区域C较差，需要对充电时间进行调试。

发明内容

本申请实施例提供一种充电时间调试方法、装置、存储介质及电子设备，可以提高显示均匀性，改善显示面板的显示质量。

第一方面，本申请实施例提供一种充电时间调试方法，用于对显示面板进行充电时间调试，所示显示面板包括多个沿着第一方向排列的像素区域，每一所述像素区域均包括多个沿着第二方向排列的像素单元，所述充电时间调试方法包括：

获取每一所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据；

基于每一所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间；

获取每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间；

根据所述平均充电时间对每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间等于所述平均充电时间。

在本申请实施例所述的充电时间调试方法中，所述获取每一所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据的步骤，包括：

获取每一所述像素区域上的各个像素单元的充电时间以及充电率；

根据每一所述像素区域上的各个像素单元的充电时间以及充电率，生成出对应像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据。

在本申请实施例所述的充电时间调试方法中，所述基于每一所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间的步骤，包括：

获取预设充电率；

根据各个所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，获取各个所述像素区域上的像素单元与所述预设充电率对应的充电时间；

基于各个所述像素区域上的像素单元与所述预设充电率对应的充电时间，计算平均充电时间。

在本申请实施例所述的充电时间调试方法中，所述获取预设充电率的步骤，包括：

获取预设参考充电率；

当各个所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据中均包括所述预设参考充电率时，将所述预设参考充电率设定为预设充电率；

当至少一个所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据中未包括所述预设参考充电率时，调整所述预设参考充电率，并返回至所述获取预设参考充电率的步骤。

在本申请实施例所述的充电时间调试方法中，所述根据所述平均充电时间对每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间等于所述平均充电时间的步骤，包括：

将每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间与所述平均充电时间进行比较；

当所述像素区域上的像素单元的初始充电时间小于所述平均充电时间时，对所述初始充电时间进行增大处理得到补偿充电时间，所述补偿充电时间等于所述平均充电时间；

当所述像素区域上的像素单元的初始充电时间大于所述平均充电时间时，对所述初始充电时间进行减小处理得到补偿充电时间，所述补偿充电时间等于所述平均充电时间。

第二方面，本申请实施例提供一种充电时间调试装置，用于对显示面板进行充电时间调试，所示显示面板包括多个沿着第一方向排列的像素区域，每一所述像素区域均包括多个沿着第二方向排列的像素单元，所述充电时间调试装置包括：

第一获取模块，所述第一获取模块用于获取每一所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据；

计算模块，所述计算模块用于基于每一所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间；

第二获取模块，所述第二获取模块用于获取每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间；

调整模块，所述调整模块用于根据所述平均充电时间对每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间等于所述平均充电时间。

在本申请实施例所述的充电时间调试装置中，所述第一获取模块包括：

第一获取单元，所述第一获取单元用于获取每一所述像素区域上的各个像素单元的充电时间以及充电率；

生成单元，所述生成单元用于根据每一所述像素区域上的各个像素单元的充电时间以及充电率，生成出对应像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据。

在本申请实施例所述的充电时间调试装置中，所述计算模块包括：

第二获取单元，所述第二获取单元用于获取预设充电率；

第三获取单元，所述第三获取单元用于根据各个所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，获取各个所述像素区域上的像素单元与所述预设充电率对应的充电时间；

计算单元，所述计算单元基于各个所述像素区域上的像素单元与所述预设充电率对应的充电时间，计算平均充电时间。

在本申请实施例所述的充电时间调试装置中，所述第二获取单元包括：

获取子单元，所述获取子单元用于获取预设参考充电率；

设定子单元，所述设定子单元用于当各个所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据中均包括所述预设参考充电率时，将所述预设参考充电率设定为预设充电率；

返回子单元，所述返回子单元用于当至少一个所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据中未包括所述预设参考充电率时，调整所述预设参考充电率，并返回至所述获取子单元。

在本申请实施例所述的充电时间调试装置中，所述所述调整模块包括：

比较单元，所述比较单元用于将每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间与所述平均充电时间进行比较；

第一调整单元，所述第一调整单元用于当所述像素区域上的像素单元的初始充电时间小于所述平均充电时间时，对所述初始充电时间进行增大处理得到补偿充电时间，所述补偿充电时间等于所述平均充电时间；

第二调整单元，所述第二调整单元用于当所述像素区域上的像素单元的初始充电时间大于所述平均充电时间时，对所述初始充电时间进行减小处理得到补偿充电时间，所述补偿充电时间等于所述平均充电时间。

第三方面，本申请实施例提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的充电时间调试方法。

第四方面，本申请实施例提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的充电时间调试方法。

本申请实施例在获取每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据后，然后，基于每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间，接着，获取每一像素区域上的像素单元的初始充电时间，最后，根据平均充电时间对每一像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一像素区域上的像素单元的初始充电时间等于平均充电时间；由于本申请实施例是基于每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据对每一像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，从而可以实现对各个像素区域上的像素单元的充电时间进行调试，进而提高显示均匀性，改善显示面板的显示质量。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有的显示面板的充电效果示意图；

图2为本申请实施例提供的充电时间调试方法中显示面板的结构示意图；

图3为本申请实施例提供的充电时间调试方法的流程示意图；

图4为本申请实施例提供的充电时间调试方法中显示面板的另一结构示意图

图5为本申请实施例提供的充电时间调试方法中各个像素区域上的像素单元的充电时间与充电率的关系数据示意图；

图6为本申请实施例提供的充电时间调试方法中调试前与调试后的对比图；

图7为本申请实施例提供的充电时间调试装置的结构示意图；

图8为本申请实施例提供的充电时间调试装置的第一种具体结构示意图；

图9为本申请实施例提供的充电时间调试装置的第二种具体结构示意图；

图10为本申请实施例提供的充电时间调试装置的第三种具体结构示意图；

图11为本申请实施例提供的充电时间调试装置的第四种具体结构示意图；

图12为本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请实施例提供一种充电时间调试方法、装置、存储介质及电子设备。

其中，该充电时间调试方法用于对显示面板进行充电时间调试。请参阅图2，图2为本申请实施例提供的充电时间调试方法中显示面板的结构示意图。如图2所示，该显示面板包括多条扫描线100、多条数据线200以及多条扫描线100与多条数据线200交叉限定的像素单元300。可以理解的，该显示面板包括多个沿着第一方向排列的像素区域400，每一像素区域400均包括多个沿着第二方向排列的像素单元300。

需要说明的是，如图2所示，多个像素区域400沿着扫描线100排列的方向设置；也即，本申请实施例所描述的第一方向为多条扫描线100排列的方向。每一像素区域400内的多个像素单元300沿着数据线200排列的方向设置；也即，本申请实施例所描述的第二方向为多条数据线200排列的方向。

本申请实施例在获取每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据后，然后，基于每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间，接着，获取每一像素区域上的像素单元的初始充电时间，最后，根据平均充电时间对每一像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一像素区域上的像素单元的初始充电时间等于平均充电时间；由于本申请实施例是基于每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据对每一像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，从而可以实现对各个像素区域上的像素单元的充电时间进行调试，进而提高显示均匀性，改善显示面板的显示质量。

具体的，请参阅图3，图3为本申请实施例提供的充电时间调试方法的流程示意图。如图3所示，该充电时间调试方法的具体流程可以如下：

101、获取每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据。

其中，在一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据中，横坐标表示充电时间，纵坐标表示充电率。

在一些实施例中，获取每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据的步骤，包括：

1011、获取每一像素区域上的各个像素单元的充电时间以及充电率。

1012、根据每一像素区域上的各个像素单元的充电时间以及充电率，生成出对应像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据。

需要说明的是，一像素单元的充电时间指的是，该像素单元进行充电的时间。一像素单元的充电率指的是该像素单元实际充入电压与理想充入电压之间的比值。比如，在一些实施例中，一像素单元包括一晶体管，晶体管的栅极与对应一扫描线连接，晶体管的源极与对应一数据线连接，晶体管的漏极与该像素单元的像素电极连接。其中，扫描线用于接入扫描信号，数据线用于接入数据信号，若该晶体管为N型晶体管时，则该像素单元的充电时间具体指的是扫描信号处于高电位时的时间间隔；若该晶体管为P型晶体管时，则该像素单元的充电时间具体指的是扫描信号处于高电位时的时间间隔。另外，若数据信号的电压为10伏，充电完成后，像素单元的电压为8伏，则该像素单元的理想充入电压为10伏，该像素单元的实际充入电压为8伏，该像素单元的充电率则为0.8。

其中，本申请实施例可以通过检测或者模拟出在各个像素区域上的各个像素单元在不同充电时间下的充电率，从而生成出每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据。在具体生成时，对于同一像素区域，可以先将检测或者模拟得到的各个充电时间下的充电率在对应的数据图中标记出，然后采用最小二乘法将该标记出的多个点生成成对应的关系数据。当然，可以理解地，在一些实施例中，可以通过软件模拟的方式，取尽可能多的点的充电时间以及对应的充电率，从而生成出尽可能精确的关系数据。

例如，以将显示面板划分为三个像素区域为例进行说明。请参阅图4、图5，图4为本申请实施例提供的充电时间调试方法中显示面板的另一结构示意图。图5为本申请实施例提供的充电时间调试方法中各个像素区域上的像素单元的充电时间与充电率的关系数据示意图。其中，图4中所示的显示面板与图2所示的显示面板的区别在于，图4中的显示面板仅分为三个像素区域400。结合图4、图5所示，图5中三个数据图中，每一数据图中的关系数据分别描述图4所示显示面板上的三个不同像素区域400上的像素单元的充电时间与充电率之间的关系。每一数据图中的关系数据具体可参照步骤101中的描述，在此不做描述。

102、基于每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间。

可以理解的是，与预设充电率对应的平均充电时间，指的是，各个像素区域上与预设充电率对应的充电时间之和取平均数。例如，还是以将显示面板划分为3个像素区域为例进行说明。可以通过第一个像素区域对应的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，得到第一个像素区域上与预设充电率对应的充电时间；可以通过第二个像素区域对应的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，得到第二个像素区域上与预设充电率对应的充电时间；可以通过第三个像素区域对应的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，得到第三个像素区域上与预设充电率对应的充电时间。将这三个充电时间求和后取平均数即为平均充电时间。

在一些实施例中，基于每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间的步骤，包括：

1021、获取预设充电率。

1022、根据各个像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，获取各个像素区域上的像素单元与预设充电率对应的充电时间。

1023、基于各个像素区域上的像素单元与预设充电率对应的充电时间，计算平均充电时间。

比如，请继续参阅图5，可以将预设充电率设置为12.5。可以先通过在每一像素区域对应的像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据图中作一条充电率等于预设参考充电率的参考直线；然后获取参考直线与每一像素区域对应的像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据图中的的交点，并以该交点对应的充电时间交点作为各个像素区域上的像素单元与预设充电率对应的充电时间；最后将这三个充电时间求和后取平均数即为平均充电时间。

进一步的，在一些实施例中，获取预设充电率的步骤，包括：

10211、获取预设参考充电率。

10212、当各个像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据中均包括预设参考充电率时，将预设参考充电率设定为预设充电率。

10213、当至少一个像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据中未包括预设参考充电率时，调整预设参考充电率，并返回步骤10211。

需要说明的是，该预设充电率可以根据实际需要进行设定，但为了进一步提高显示均匀性，需保证该预设充电率与每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据存在交点。即，各个像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据中均包括预设参考充电率。

103、获取每一像素区域上的像素单元的初始充电时间。

其中，获取每一像素区域上的像素单元的初始充电时间，应以预先存储在存储单元中的理论值为依据。当然，对于不同的像素区域，设置的初始充电时间是可以不相同的。

104、根据平均充电时间对每一像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一像素区域上的像素单元的初始充电时间等于平均充电时间。

需要说明的是，本申请实施例旨在对各个像素区域上的像素单元的充电时间进行调整，从而可以提高显示均匀性，改善显示面板的显示质量。

在一些实施例中，根据平均充电时间对每一像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一像素区域上的像素单元的初始充电时间等于平均充电时间的步骤，包括：

1041、将每一像素区域上的像素单元的初始充电时间与平均充电时间进行比较。

1042、当像素区域上的像素单元的初始充电时间小于平均充电时间时，对初始充电时间进行增大处理得到补偿充电时间，补偿充电时间等于平均充电时间。

1043、当像素区域上的像素单元的初始充电时间大于平均充电时间时，对初始充电时间进行减小处理得到补偿充电时间，补偿充电时间等于平均充电时间。

其中，基于平均充电时间对每一像素区域上的像素单元的初始充电时间进行优化补偿。对于大于平均充电时间的像素单元，逐步减小其充电时间，直至该调整后的初始充电时间等于平均充电时间。对于小于平均充电时间的像素单元，逐步增加其充电时间，直至该调整后的初始充电时间等于平均充电时间。如图3所示，该直线A2表示经调整后各个像素区域对应的充电率。

请参阅图6，图6为本申请实施例提供的充电时间调试方法中调试前与调试后的对比图。如图6所示，经过步骤104的优化补偿后，可以得到各个像素区域上的像素单元对应的充电时间。其中，该数据A3为补偿后的充电时间的数据图。该数据A4为补偿后的充电率的数据图，该数据A5为补偿前的充电率的数据图。可以看出，补偿后的数据A4大致呈一直线，其垂直方向均匀性好，说明各个像素单元的充电时间大致相同，从而使得显示更均匀，显示质量更好。

本申请实施例在获取每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据后，然后，基于每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间，接着，获取每一像素区域上的像素单元的初始充电时间，最后，根据平均充电时间对每一像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一像素区域上的像素单元的初始充电时间等于平均充电时间；由于本申请实施例是基于每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据对每一像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，从而可以实现对各个像素区域上的像素单元的充电时间进行调试，进而提高显示均匀性，改善显示面板的显示质量。

请参阅图7，图7为本申请实施例提供的充电时间调试装置的结构示意图。其中，该充电时间调试装置于对显示面板进行充电时间调试，显示面板包括多个沿着第一方向排列的像素区域，每一像素区域均包括多个沿着第二方向排列的像素单元。该充电时间调试装置可以包括第一获取模块501、计算模块502、第二获取模块503以及调整模块504，具体可以如下：

第一获取模块501用于获取获取每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据。

其中，在一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据中，横坐标表示充电时间，纵坐标表示充电率。

在一些实施例中，请参阅图8，图8为本申请实施例提供的充电时间调试装置的第一种具体结构示意图。如图8所示，第一获取模块501包括第一获取单元5011以及生成单元5012，具体可以如下：

第一获取单元5011用于获取每一像素区域上的各个像素单元的充电时间以及充电率。

生成单元5012用于根据每一像素区域上的各个像素单元的充电时间以及充电率，生成出对应像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据。

需要说明的是，一像素单元的充电时间指的是，该像素单元进行充电的时间。一像素单元的充电率指的是该像素单元实际充入电压与理想充入电压之间的比值。比如，在一些实施例中，一像素单元包括一晶体管，晶体管的栅极与对应一扫描线连接，晶体管的源极与对应一数据线连接，晶体管的漏极与该像素单元的像素电极连接。其中，扫描线用于接入扫描信号，数据线用于接入数据信号，若该晶体管为N型晶体管时，则该像素单元的充电时间具体指的是扫描信号处于高电位时的时间间隔；若该晶体管为P型晶体管时，则该像素单元的充电时间具体指的是扫描信号处于高电位时的时间间隔。另外，若数据信号的电压为10伏，充电完成后，像素单元的电压为8伏，则该像素单元的理想充入电压为10伏，该像素单元的实际充入电压为8伏，该像素单元的充电率则为0.8。

其中，本申请实施例可以通过检测或者模拟出在各个像素区域上的各个像素单元在不同充电时间下的充电率，从而生成出每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据。在具体生成时，对于同一像素区域，可以先将检测或者模拟得到的各个充电时间下的充电率在对应的数据图中标记出，然后采用最小二乘法将该标记出的多个点生成成对应的关系数据。当然，可以理解地，在一些实施例中，可以通过软件模拟的方式，取尽可能多的点的充电时间以及对应的充电率，从而生成出尽可能精确的关系数据。

计算模块502用于基于每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间。

可以理解的是，与预设充电率对应的平均充电时间，指的是，各个像素区域上与预设充电率对应的充电时间之和取平均数。

在一些实施例中，请参阅图9，图9为本申请实施例提供的充电时间调试装置的第二种具体结构示意图。如图7所示，计算模块502包括第二获取单元5021、第三获取单元5022以及计算单元5023，具体可以如下：

第二获取单元5021用于获取预设充电率。

第三获取单元5022用于根据各个像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，获取各个像素区域上的像素单元与预设充电率对应的充电时间。

计算单元5023用于基于各个像素区域上的像素单元与预设充电率对应的充电时间，计算平均充电时间。

进一步的，在一些实施例中，请参阅图10，图10为本申请实施例提供的充电时间调试装置的第三种具体结构示意图。如图8所示，第二获取单元5021包括获取子单元50211、设定子单元50212以及返回子单元50213，具体可以如下：

获取子单元50211用于获取预设参考充电率。

设定子单元50212用于当各个像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据中均包括预设参考充电率时，将预设参考充电率设定为预设充电率。

返回子单元50213用于当至少一个像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据中未包括预设参考充电率时，调整预设参考充电率，并返回至获取子单元50211。

需要说明的是，该预设充电率可以根据实际需要进行设定，但为了进一步提高显示均匀性，需保证该预设充电率与每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据存在交点。即，各个像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据中均包括预设参考充电率。

第二获取模块503用于获取每一像素区域上的像素单元的初始充电时间。

其中，获取每一像素区域上的像素单元的初始充电时间，应以预先存储在存储单元中的理论值为依据。当然，对于不同的像素区域，设置的初始充电时间是可以不相同的。

调整模块504用于根据平均充电时间对每一像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一像素区域上的像素单元的初始充电时间等于平均充电时间。

需要说明的是，本申请实施例旨在对各个像素区域上的像素单元的充电时间进行调整，从而可以提高显示均匀性，改善显示面板的显示质量。

在一些实施例中，请参阅图11，图11为本申请实施例提供的充电时间调试装置的第四种具体结构示意图。如图11所示，调整模块504包括比较单元5041、第一调整单元5042以及第二调整单元5043，具体可以如下：

比较单元5041用于将每一像素区域上的像素单元的初始充电时间与平均充电时间进行比较。

第一调整单元5042用于当像素区域上的像素单元的初始充电时间小于平均充电时间时，对初始充电时间进行增大处理得到补偿充电时间，补偿充电时间等于平均充电时间。

第二调整单元5043用于当像素区域上的像素单元的初始充电时间大于平均充电时间时，对初始充电时间进行减小处理得到补偿充电时间，补偿充电时间等于平均充电时间。

其中，基于平均充电时间对每一像素区域上的像素单元的初始充电时间进行优化补偿。对于大于平均充电时间的像素单元，逐步减小其充电时间，直至该调整后的初始充电时间等于平均充电时间。对于小于平均充电时间的像素单元，逐步增加其充电时间，直至该调整后的初始充电时间等于平均充电时间。

本申请实施例在获取每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据后，然后，基于每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间，接着，获取每一像素区域上的像素单元的初始充电时间，最后，根据平均充电时间对每一像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一像素区域上的像素单元的初始充电时间等于平均充电时间；由于本申请实施例是基于每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据对每一像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，从而可以实现对各个像素区域上的像素单元的充电时间进行调试，进而提高显示均匀性，改善显示面板的显示质量。

相应的，本申请实施例还提供一种电子设备，如图12所示，该电子设备可以包括射频（RF，Radio Frequency）电路601、包括有一个或一个以上计算机可读存储介质的存储器602、输入单元603、显示单元604、传感器605、音频电路606、无线保真（WiFi，WirelessFidelity)模块607、包括有一个或者一个以上处理核心的处理器608、以及电源609等部件。本领域技术人员可以理解，图12中示出的终端结构并不构成对终端的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。其中：

RF电路601可用于收发信息或通话过程中，信号的接收和发送，特别地，将基站的下行信息接收后，交由一个或者一个以上处理器608处理；另外，将涉及上行的数据发送给基站。通常，RF电路601包括但不限于天线、至少一个放大器、调谐器、一个或多个振荡器、用户身份模块（SIM，Subscriber Identity Module）卡、收发信机、耦合器、低噪声放大器（LNA，Low Noise Amplifier）、双工器等。此外，RF电路601还可以通过无线通信与网络和其他设备通信。所述无线通信可以使用任一通信标准或协议，包括但不限于全球移动通讯系统 （GSM，Global System of Mobile communication）、通用分组无线服务（GPRS，GeneralPacket Radio Service）、码分多址（CDMA，Code Division Multiple Access）、宽带码分多址（WCDMA，Wideband Code Division Multiple Access）、长期演进（LTE，Long TermEvolution)、电子邮件、短消息服务（SMS，Short Messaging Service)等。

存储器602可用于存储软件程序以及模块，处理器608通过运行存储在存储器602的软件程序以及模块，从而执行各种功能应用以及数据处理。存储器602可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序（比如声音播放功能、图像播放功能等）等；存储数据区可存储根据终端的使用所创建的数据（比如音频数据、电话本等）等。此外，存储器602可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。相应地，存储器602还可以包括存储器控制器，以提供处理器608和输入单元603对存储器602的访问。

输入单元603可用于接收输入的数字或字符信息，以及产生与用户设置以及功能控制有关的键盘、鼠标、操作杆、光学或者轨迹球信号输入。具体地，在一个具体的实施例中，输入单元603可包括触敏表面以及其他输入设备。触敏表面，也称为触摸显示屏或者触控板，可收集用户在其上或附近的触摸操作（比如用户使用手指、触笔等任何适合的物体或附件在触敏表面上或在触敏表面附近的操作），并根据预先设定的程式驱动相应的连接装置。可选的，触敏表面可包括触摸检测装置和触摸控制器两个部分。其中，触摸检测装置检测用户的触摸方位，并检测触摸操作带来的信号，将信号传送给触摸控制器；触摸控制器从触摸检测装置上接收触摸信息，并将它转换成触点坐标，再送给处理器608，并能接收处理器608发来的命令并加以执行。此外，可以采用电阻式、电容式、红外线以及表面声波等多种类型实现触敏表面。除了触敏表面，输入单元603还可以包括其他输入设备。具体地，其他输入设备可以包括但不限于物理键盘、功能键（比如音量控制按键、开关按键等）、轨迹球、鼠标、操作杆等中的一种或多种。

显示单元604可用于显示由用户输入的信息或提供给用户的信息以及终端的各种图形用户接口，这些图形用户接口可以由图形、文本、图标、视频和其任意组合来构成。显示单元604可包括显示面板，可选的，可以采用液晶显示器（LCD，Liquid Crystal Display）、有机发光二极管（OLED，Organic Light-Emitting Diode）等形式来配置显示面板。进一步的，触敏表面可覆盖显示面板，当触敏表面检测到在其上或附近的触摸操作后，传送给处理器608以确定触摸事件的类型，随后处理器608根据触摸事件的类型在显示面板上提供相应的视觉输出。虽然在图12中，触敏表面与显示面板是作为两个独立的部件来实现输入和输入功能，但是在某些实施例中，可以将触敏表面与显示面板集成而实现输入和输出功能。

电子设备还可包括至少一种传感器605，比如光传感器、运动传感器以及其他传感器。具体地，光传感器可包括环境光传感器及接近传感器，其中，环境光传感器可根据环境光线的明暗来调节显示面板的亮度，接近传感器可在终端移动到耳边时，关闭显示面板和/或背光。作为运动传感器的一种，重力加速度传感器可检测各个方向上（一般为三轴）加速度的大小，静止时可检测出重力的大小及方向，可用于识别手机姿态的应用（比如横竖屏切换、相关游戏、磁力计姿态校准）、振动识别相关功能（比如计步器、敲击）等; 至于终端还可配置的陀螺仪、气压计、湿度计、温度计、红外线传感器等其他传感器，在此不再赘述。

音频电路606、扬声器，传声器可提供用户与终端之间的音频接口。音频电路606可将接收到的音频数据转换后的电信号，传输到扬声器，由扬声器转换为声音信号输出；另一方面，传声器将收集的声音信号转换为电信号，由音频电路606接收后转换为音频数据，再将音频数据输出处理器608处理后，经RF电路601以发送给比如另一终端，或者将音频数据输出至存储器602以便进一步处理。音频电路606还可能包括耳塞插孔，以提供外设耳机与终端的通信。

WiFi属于短距离无线传输技术，终端通过WiFi模块607可以帮助用户收发电子邮件、浏览网页和访问流式媒体等，它为用户提供了无线的宽带互联网访问。虽然图12示出了WiFi模块607，但是可以理解的是，其并不属于终端的必须构成，完全可以根据需要在不改变申请的本质的范围内而省略。

处理器608是终端的控制中心，利用各种接口和线路连接整个手机的各个部分，通过运行或执行存储在存储器602内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储器602内的数据，执行终端的各种功能和处理数据，从而对手机进行整体监控。可选的，处理器608可包括一个或多个处理核心；优选的，处理器608可集成应用处理器和调制解调处理器，其中，应用处理器主要处理操作系统、用户界面和应用程序等，调制解调处理器主要处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调处理器也可以不集成到处理器608中。

电子设备还包括给各个部件供电的电源609（比如电池），优选的，电源可以通过电源管理系统与处理器608逻辑相连，从而通过电源管理系统实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。电源609还可以包括一个或一个以上的直流或交流电源、再充电系统、电源故障检测电路、电源转换器或者逆变器、电源状态指示器等任意组件。

尽管未示出，电子设备还可以包括摄像头、蓝牙模块等，在此不再赘述。具体在本实施例中，电子设备中的处理器608会按照如下的指令，将一个或一个以上的应用程序的进程对应的可执行文件加载到存储器602中，并由处理器608来运行存储在存储器602中的应用程序，从而实现各种功能：

获取每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据后，基于每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间，获取每一像素区域上的像素单元的初始充电时间，根据平均充电时间对每一像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一像素区域上的像素单元的初始充电时间等于平均充电时间。

本申请实施例在获取每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据后，然后，基于每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间，接着，获取每一像素区域上的像素单元的初始充电时间，最后，根据平均充电时间对每一像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一像素区域上的像素单元的初始充电时间等于平均充电时间；由于本申请实施例是基于每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据对每一像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，从而可以实现对各个像素区域上的像素单元的充电时间进行调试，进而提高显示均匀性，改善显示面板的显示质量。

本领域普通技术人员可以理解，上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤可以通过指令来完成，或通过指令控制相关的硬件来完成，该指令可以存储于一计算机可读存储介质中，并由处理器进行加载和执行。

为此，本申请实施例提供一种存储介质，其中存储有多条指令，该指令能够被处理器进行加载，以执行本申请实施例所提供的任一种充电时间调试方法中的步骤。例如，该指令可以执行如下步骤：

获取每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据后，基于每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间，获取每一像素区域上的像素单元的初始充电时间，根据平均充电时间对每一像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一像素区域上的像素单元的初始充电时间等于平均充电时间。

以上各个操作的具体实施可参见前面的实施例，在此不再赘述。

其中，该存储介质可以包括：只读存储器（ROM，Read Only Memory）、随机存取记忆体（RAM，Random Access Memory）、磁盘或光盘等。

由于该存储介质中所存储的指令，可以执行本申请实施例所提供的任一种充电时间调试方法中的步骤，因此，可以实现本申请实施例所提供的任一种充电时间调试方法所能实现的有益效果，详见前面的实施例，在此不再赘述。

以上对本申请实施例所提供的一种充电时间调试方法、装置、存储介质以及电子设备进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (8)

1.一种充电时间调试方法，用于对显示面板进行充电时间调试，所述显示面板包括多个沿着第一方向排列的像素区域，每一所述像素区域均包括多个沿着第二方向排列的像素单元，其特征在于，所述充电时间调试方法包括：

获取每一所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据；

基于每一所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间；

获取每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间；

根据所述平均充电时间对每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间等于所述平均充电时间;

所述获取每一所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据的步骤，包括：

获取每一所述像素区域上的各个像素单元的充电时间以及充电率；

根据每一所述像素区域上的各个像素单元的充电时间以及充电率，生成出对应像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据；

所述根据每一所述像素区域上的各个像素单元的充电时间以及充电率，生成出对应像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据的步骤，包括：

检测或者模拟出在各个像素区域上的各个像素单元在不同充电时间下的充电率；

将检测或者模拟得到的各个充电时间下的充电率在对应的数据图中标记出；

采用最小二乘法将该标记出的多个点生成每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据。

2.根据权利要求1所述的充电时间调试方法，其特征在于，所述基于每一所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间的步骤，包括：

获取预设充电率；

根据各个所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，获取各个所述像素区域上的像素单元与所述预设充电率对应的充电时间；

基于各个所述像素区域上的像素单元与所述预设充电率对应的充电时间，计算平均充电时间。

3.根据权利要求2所述的充电时间调试方法，其特征在于，所述获取预设充电率的步骤，包括：

获取预设参考充电率；

当各个所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据中均包括所述预设参考充电率时，将所述预设参考充电率设定为预设充电率；

当至少一个所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据中未包括所述预设参考充电率时，调整所述预设参考充电率，并返回至所述获取预设参考充电率的步骤。

4.根据权利要求1所述的充电时间调试方法，其特征在于，所述根据所述平均充电时间对每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间等于所述平均充电时间的步骤，包括：

将每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间与所述平均充电时间进行比较；

当所述像素区域上的像素单元的初始充电时间小于所述平均充电时间时，对所述初始充电时间进行增大处理得到补偿充电时间，所述补偿充电时间等于所述平均充电时间；

当所述像素区域上的像素单元的初始充电时间大于所述平均充电时间时，对所述初始充电时间进行减小处理得到补偿充电时间，所述补偿充电时间等于所述平均充电时间。

5.一种充电时间调试装置，用于对显示面板进行充电时间调试，所述显示面板包括多个沿着第一方向排列的像素区域，每一所述像素区域均包括多个沿着第二方向排列的像素单元，其特征在于，所述充电时间调试装置包括：

第一获取模块，所述第一获取模块用于获取每一所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据；

计算模块，所述计算模块用于基于每一所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间；

第二获取模块，所述第二获取模块用于获取每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间；

调整模块，所述调整模块用于根据所述平均充电时间对每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间等于所述平均充电时间;

所述第一获取模块包括：

第一获取单元，所述第一获取单元用于获取每一所述像素区域上的各个像素单元的充电时间以及充电率；

生成单元，所述生成单元用于根据每一所述像素区域上的各个像素单元的充电时间以及充电率，生成出对应像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据；

所述第一获取模块还用于检测或者模拟出在各个像素区域上的各个像素单元在不同充电时间下的充电率，并用于将检测或者模拟得到的各个充电时间下的充电率在对应的数据图中标记出，以及用于采用最小二乘法将该标记出的多个点生成每一像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据。

6.根据权利要求5所述的充电时间调试装置，其特征在于，所述计算模块包括：

第二获取单元，所述第二获取单元用于获取预设充电率；

第三获取单元，所述第三获取单元用于根据各个所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，获取各个所述像素区域上的像素单元与所述预设充电率对应的充电时间；

计算单元，所述计算单元基于各个所述像素区域上的像素单元与所述预设充电率对应的充电时间，计算平均充电时间。

7.根据权利要求6所述的充电时间调试装置，其特征在于，所述第二获取单元包括：

获取子单元，所述获取子单元用于获取预设参考充电率；

设定子单元，所述设定子单元用于当各个所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据中均包括所述预设参考充电率时，将所述预设参考充电率设定为预设充电率；

返回子单元，所述返回子单元用于当至少一个所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据中未包括所述预设参考充电率时，调整所述预设参考充电率，并返回至所述获取子单元。

8.根据权利要求5所述的充电时间调试装置，其特征在于，所述调整模块包括：

比较单元，所述比较单元用于将每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间与所述平均充电时间进行比较；

第一调整单元，所述第一调整单元用于当所述像素区域上的像素单元的初始充电时间小于所述平均充电时间时，对所述初始充电时间进行增大处理得到补偿充电时间，所述补偿充电时间等于所述平均充电时间；

第二调整单元，所述第二调整单元用于当所述像素区域上的像素单元的初始充电时间大于所述平均充电时间时，对所述初始充电时间进行减小处理得到补偿充电时间，所述补偿充电时间等于所述平均充电时间。

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