CN111044817A - 温升测试系统和测试方法 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种温升测试系统和测试方法，温升测试系统包括温度传感器，用于检测被测试元件所在环境的温度值；检测电路，用于在被测试元件通电后，检测被测试元件的电路参数值；处理电路，用于根据电路参数值获取被测试元件的电阻值，并根据电阻值和温度值，确定被测试元件的温升值。本申请无需测试人员对试验过程进行全程监控和操作，实现测试系统自动化，并且由于全程不需拆卸被测试元件，可以提升温升值测量的准确度，提高温升试验效率。

Description

温升测试系统和测试方法

技术领域

本申请属于测试技术领域，具体涉及温升测试系统和测试方法。

背景技术

电磁线圈是四通阀工作时换向的一个重要零件，电磁线圈内部为漆包线缠绕，外部为绝缘材料塑封而成，电磁线圈通电时产生磁性，吸引先导阀内部芯铁移动，四通阀连接管路发生换向，断电时先导阀内部芯铁回到原来位置。因此，在应用电磁线圈的设备如四通阀前，对电磁线圈进行安全试验非常必要，而温升试验是电磁线圈的安全试验中一种不可或缺的试验，电磁线圈的温升情况直接影响着应用电磁线圈的设备的工作强度与工作寿命。

相关技术中，通过万用表来进行温升试验测量电磁线圈温升情况，但这种方法需要在电磁线圈通电后断电，取下电磁线圈后用万用表测量电磁线圈电阻,由于断开回路取下电磁线圈对取下电磁线圈的阻值有影响，因此这种温升测量方法不仅影响电磁线圈的温升测量准确度，还影响试验效果。

发明内容

为至少在一定程度上克服通过万用表来进行温升试验测量电磁线圈温升影响电磁线圈的温升测量准确度，影响试验效果的问题，本申请提供温升测试系统和测试方法。

第一方面，一种温升测试系统，包括：

温度传感器，用于检测被测试元件所在环境的温度值；

检测电路，用于在所述被测试元件通电后，检测所述被测试元件的电路参数值；

处理电路，用于根据所述电路参数值获取所述被测试元件的电阻值，并根据所述电阻值和所述温度值，确定所述被测试元件的温升值。

进一步的，所述系统还包括：

供电回路，为所述被测试元件供电，所述被测试元件串联在所述供电回路上；

继电器，串联在所述供电回路上，用于控制所述供电回路的通断。

进一步的，所述供电回路包括：

电源，为所述被测试元件直接提供目标电压；或者，

电源和调压器，所述调压器用于将所述电源提供的电压调节到目标电压，并将所述目标电压施加到所述被测试元件上。

进一步的，所述检测电路包括：

电流传感器，与所述被测试元件串联，用于检测所述被测试元件上流经的电流值；或者，

电阻传感器，用于检测所述被测试元件的电阻值。

进一步的，若所述检测电路包括电流传感器，所述处理电路具体用于：

根据预设的目标电压值以及所述电流传感器检测得到的所述电流值，计算得到所述被测试元件的电阻值，并根据所述电阻值和所述温度值，确定所述被测试元件的温升值。

进一步的，若所述检测电路包括电阻传感器，所述处理电路具体用于：

将所述电阻传感器检测得到的所述电阻值，直接确定为所述被测试元件的电阻值，并根据所述电阻值和所述温度值，确定所述被测试元件的温升值。

进一步的，所述温度值包括第一温度值，所述电阻值包括第一电阻值，所述第一温度值和所述第一电阻值分别为所述被测试元件在通电前的温度值和电阻值，所述处理电路进一步具体用于：

获取第二温度值和第二电阻值，所述第二温度值和所述第二电阻值分别是所述被测试元件的电阻值满足预设的电阻稳定条件时的温度值和电阻值；

根据所述第二温度值、所述第二电阻值、所述第一温度值和所述第一电阻值，采用预设的温升计算公式，计算得到所述被测试元件的温升值。

进一步的，所述处理电路用于获取第二温度值和第二电阻值具体包括：

从所述被测试元件通电时间达到预设的测试时间阈值开始，按照预设检测周期，定期检测当前温度和电阻值分别作为当前温度值和当前电阻值；

若当前电阻值与上次检测得到的电阻值满足预设的电阻稳定条件，则将所述当前电阻值和所述当前温度值分别作为第二电阻值和第二温度值。

进一步的，所述系统还包括显示屏，与所述处理电路连接，用于显示所述电路参数值、所述电阻值、所述温度值、所述温升值中的一项或多项；和/或，

所述处理电路还用于根据所述温升值判断所述被测试元件是否合格；和/或，所述显示屏还用于显示所述判断结果；和/或，

报警器，与所述处理电路连接，用于在所述处理电路得到所述温升值后提醒用户；和/或，

被测试元件为电磁线圈；和/或，

所述处理电路为：PLC。

第二方面，一种温升测试方法，包括：

获取被测试元件所在环境的温度值；

获取被测试元件的电路参数值，根据所述电路参数值获取所述被测试元件的电阻值；

根据所述电阻值和所述温度值，确定所述被测试元件的温升值。

本申请采用以上技术方案，至少具备以下有益效果：

本发明实施例提供的温升测试系统和测试方法，通过温度传感器检测被测试元件所在环境的温度值，通过检测电路检测被测试元件的电路参数值，之后利用处理电路根据电路参数值获取被测试元件的电阻值，并根据电阻值和温度值，确定被测试元件的温升值，根据温升值判断被测试元件是否合格，无需测试人员对试验过程进行全程监控和操作，实现测试系统自动化，并且由于全程不需拆卸被测试元件，从而提升温升值测量的准确度，提高温升试验效率。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。

图1为本申请一个实施例提供的温升测试系统的功能结构图；

图2为本申请另一个实施例提供的温升测试系统的功能结构图；

图3为本申请再一个实施例提供的温升测试系统的功能结构图；

图4为本申请一个实施例提供的温升测试方法的流程图；

图5为图4所示方法中步骤S43的流程示意图；

图6为本申请另一个实施例提供的温升测试方法的流程图；

图7为本申请一个实施例提供的温升测试装置的功能结构示意图。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本申请的技术方案进行详细的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式，都属于本申请所保护的范围。

图1为本申请一个实施例提供的温升测试系统的功能结构示意图，如图1所示，该温升测试系统包括：

温度传感器11，用于检测被测试元件所在环境的温度值；

检测电路12，用于在被测试元件通电后，检测被测试元件的电路参数值；

处理电路13，用于根据电路参数值获取被测试元件的电阻值，并根据电阻值和温度值，确定被测试元件的温升值。

传统温升试验是通过万用表来进行温升试验测量被测试元件温升情况，但这种方法需要在被测试元件通电后断电，再将被测试元件取下后用万用表测量被测试元件电阻，由于断开回路取下被测试元件对被测试元件的阻值有影响，因此传统温升试验测量方法会影响被测试元件的温升测量准确度，影响试验效果。

本实施例提供的温升测试系统，通过温度传感器检测被测试元件所在环境的温度值，通过检测电路检测被测试元件的电路参数值，之后利用处理电路根据电路参数值获取被测试元件的电阻值，并根据电阻值和温度值，确定被测试元件的温升值，根据温升值判断被测试元件是否合格，无需测试人员对试验过程进行全程监控和操作，实现测试系统自动化，并且由于全程不需拆卸被测试元件，可以提升温升值测量的准确度，提高温升试验效率。

作为上述实施例的一种改进，本发明实施例提供另一种温升测试系统，如图2所示，在前述系统基础上，该温升测试系统还包括：

供电回路14，供电回路14为被测试元件供电，被测试元件串联在供电回路14上；

继电器15，串联在供电回路14上，用于控制供电回路14的通断。

作为本实施例可选的一种实现方式，被测试元件为电磁线圈，电磁线圈在使用过程中会因为温度升高而影响其正常工作，因此在使用具有电磁线圈的设备前需先对电磁线圈进行温升试验。

对电磁线圈进行温升试验例如为：将供电回路14与电磁线圈串联，继电器15串联在供电回路14上，通过温度传感器11实时检测电磁线圈所在环境的温度值，例如温度传感器11通过实时采集电磁线圈所在环境的室温来获取电磁线圈所在环境的温度值，通过检测电路12检测电磁线圈的电路参数值，处理电路13根据电路参数值获取电磁线圈的电阻值，并根据电阻值和温度值，确定电磁线圈的温升值，通过继电器15控制供电回路14的通断可以实时控制电磁线圈的工作时间，以使电磁线圈工作状态达到温升试验要求，从而保证处理电路13根据电路参数值获取电磁线圈的电阻值满足要求。

一些实施例中，在温升试验中，对电磁线圈的温升值要求包括：电磁线圈耐温等级为F级的温升值ΔΤ允许最高温升值为80K，耐温等级为H级的温升值ΔΤ允许最高温升值为120K，其他等级温升值ΔΤ允许最高温升值为该等级极限温度值(℃)减去70℃。因此，通过将根据电阻值和温度值确定的电磁线圈的温升值与在温升试验中要求的电磁线圈最高温升值作比较，若根据电阻值和温度值确定的电磁线圈的温升值不超过在温升试验中要求的电磁线圈最高温升值，则认为电磁线圈合格。

供电回路14包括但不限于以下两种组成方式：

方式一：供电回路14包括电源，为被测试元件直接提供目标电压。

通过电源直接提供目标电压为被测试元件，适用于被测试元件固定的情况下，由于被测试元件保持不变，因此无需改变电源电压，使用电源直接提供被测试元件所需的目标电压即可，试验操作简单。

方式二：供电回路14包括：

电源和调压器，调压器用于将电源提供的电压调节到目标电压，并将目标电压施加到被测试元件上。

一些实施例中，对多种被测试元件进行测试，每种被测试元件所需的目标电压不完全相同，因此使用调压器用于将电源提供的电压调节到每个被测试元件的目标电压，无需频繁更换电源，提高试验效率。

需要说明的是，在被测试元件为电磁线圈时，常温下，目标电压可以设置为电磁线圈的额定电压的1.1倍，若额定电压为一个区间值，取区间值中最高值为额定电压，由于在高电压下电磁线圈的温升速度会提高，因此提供额定电压的1.1倍的目标电压可以加快电磁线圈的温升速度，减少温升试验的时间。

本实施例中，通过设置供电回路与继电器，为被测试元件提供目标电压，并且在供电回路包括电源和调压器时，可以实时将电源提供的电压调节到每个被测试元件的目标电压，无需频繁更换电源，提高试验效率。

图3为本申请再一个实施例提供的温升测试系统的功能结构图，如图3所示，该温升测试系统中检测电路12包括但不限于：

电流传感器，与被测试元件串联，用于检测被测试元件上流经的电流值；处理电路13具体用于：根据预设的目标电压值以及电流传感器检测得到的电流值，计算得到被测试元件的电阻值，并根据电阻值和温度值，确定被测试元件的温升值。

电阻传感器，用于检测被测试元件的电阻值。处理电路13具体用于：将电阻传感器检测得到的电阻值，直接确定为被测试元件的电阻值，并根据电阻值和温度值，确定被测试元件的温升值。

一些实施例中，处理电路13为PLC，PLC通过获取预设的被测试元件目标电压及电流传感器检测得到的电流值，通过欧姆定律计算公式得到被测试元件的电阻值，根据电阻值和温度值确定被测试元件的温升值。

需要说明的是，本发明对获取被测试元件电阻值的检测电路及检测方法不做限定，本领域技术人员可根据测试环境或测试设备选择检测电路所需元件。

作为本发明可选的一种实现方式，温度值包括第一温度值，电阻值包括第一电阻值，第一温度值和第一电阻值分别为被测试元件在通电前的温度值和电阻值，处理电路13进一步具体用于：

获取第二温度值和第二电阻值，第二温度值和第二电阻值分别是被测试元件的电阻值满足预设的电阻稳定条件时的温度值和电阻值。获取第二温度值和第二电阻值具体包括：从被测试元件通电时间达到预设的测试时间阈值开始，预设的测试时间阈值例如为2小时，按照预设检测周期，预设检测周期例如为10分钟，定期检测被测试元件的温度值和电阻值分别作为当前温度值和当前电阻值；在进行电磁线圈温升试验中，电磁线圈通电2小时后电阻明显升高，不满足预设的电阻稳定条件，因此继续按照预设检测周期定期检测电磁线圈的温度和电阻值分别作为当前温度值和当前电阻值，直至当前温度值和当前电阻值满足预设的电阻稳定条件，从而提高获取参数的准确性。

预设的电阻稳定条件：(Ry-Rx)/Rx小于预设阈值，其中，Ry为当前电阻值，Rx为上次检测得到的电阻值，预设阈值例如为1％。若当前电阻值与上次检测得到的电阻值满足则将当前电阻值和当前温度值分别作为第二电阻值和第二温度值，根据第二温度值、第二电阻值、第一温度值和第一电阻值，采用预设的温升计算公式，计算得到被测试元件的温升值。预设的温升值计算公式为：Δt＝〔(RY-R1)/R1〕×(k+t1)-(tY-t1)，RY表示第二电阻值，tY表示第二温度值，k为绕组系数，t1表示第一温度值，R1表示第一电阻值。

需要说明的是，预设的测试时间阈值、预设检测周期、预设的电阻稳定条件和预设阈值根据不同被测试元件和测试要求可按实际需要进行设置。

在达到预设的测试时间阈值2小时后继续试验，按照预设检测周期获取被测试元件的电阻值，将检测到的当前电阻值Ry与上次检测得到的电阻值Rx进行比较，在(Ry-Rx)/Rx小于预设阈值或|(Ry-Rx)/Rx|小于预设阈值时，确认通电后电磁线圈的电阻值已达到稳定,此时的电阻值可用于计算被测试元件的温升值。若检测到的当前电阻值与上次检测得到的电阻值进行比较后比较结果不满足预设的电阻稳定条件，则需要按照预设检测周期继续检测被测试元件的电阻值，直至满足预设的电阻稳定条件。在电阻值满足预设的电阻稳定条件时计算温升值，可以提高温升值的计算准确性，从而到达温升试验效果。

一些实施例中，温升测试系统还包括显示屏16，显示屏16与处理电路13连接，一方面可以用于显示电路参数值、电阻值、温度值、温升值中的一项或多项。另一方面，在处理电路13用于根据温升值判断被测试元件是否合格时，显示屏16还可以用于显示判断结果。

判断被测试元件是否合格包括：在计算得到温升值Δt小于等于温升试验要求的允许最高温升值时，则判定被测试元件合格，否侧，判定被测试元件不合格。

通过显示屏16实时显示电路参数值、电阻值、温度值、温升值，便于测试人员查看测试过程参数，了解测试过程，并且通过显示屏16显示测试结果可以方便测试人员及时查看测试结果，便于测试人员记录测试结果。

一些实施例中，温升测试系统还包括：

报警器17，报警器17与处理电路13连接，用于在处理电路13计算得到温升值后提醒用户。在判断结果为判定被测试元件不合格时，通过报警器17及时提醒测试人员注意，防止不合格产品混入合格产品中，影响出厂产品合格率。

本实施例中，通过获取足预设的电阻稳定条件的第二温度值和第二电阻值，并根据第二温度值和第二电阻值计算温升值，避免将被测试元件不稳定时的电阻值带入温升计算公式，影响温升值计算结果，从而有利于达到温升试验效果和提高温升试验效率。

本发明实施例提供一种温升测试方法，如图4所示，该温升测试方法包括：

S41：获取被测试元件所在环境的温度值；

S42：获取被测试元件的电路参数值，根据电路参数值获取被测试元件的电阻值；

若电路参数值包括预设的目标电压值和电流传感器检测得到的电流值，电流传感器用于检测被测试元件上流经的电流值，则根据目标电压值以及电流值，计算得到被测试元件的电阻值；或者，

若电路参数值为电阻传感器检测得到的电阻值，电阻传感器用于检测所述被测试元件的电阻值，则直接将电阻传感器检测得到的电阻值作为被测试元件的电阻值。

S43：根据电阻值和温度值，确定被测试元件的温升值。

参见图5，一些实施例中，根据电阻值和温度值，确定被测试元件的温升值可以通过但不限于以下过程实现：

S431：获取第一温度值和第一电阻值；第一温度值和第一电阻值分别为被测试元件在通电前的温度值和电阻值。

S432：获取第二温度值和第二电阻值；第二温度值和第二电阻值分别是被测试元件的电阻值满足预设的电阻稳定条件时的温度值和电阻值；

例如，从被测试元件通电时间达到预设的测试时间阈值开始，按照预设检测周期，定期检测当前温度和电阻值分别作为当前温度值和当前电阻值；

若当前电阻值与上次检测得到的电阻值的比较结果满足预设的电阻稳定条件，则将当前电阻值和当前电阻值对应的当前温度值分别作为第二电阻值和第二温度值。

S433：根据第二温度值、第二电阻值、第一温度值和第一电阻值，采用预设的温升计算公式，计算得到被测试元件的温升值。

预设的温升值计算公式为：Δt＝〔(RY-R1)/R1〕×(k+t1)-(tY-t1)，RY表示第二电阻值，tY表示第二温度值，k为绕组系数，t1表示第一温度值，R1表示第一电阻值。

本实施例中，通过获取被测试元件所在环境的温度值，被测试元件的电路参数值，根据电路参数值获取被测试元件的电阻值，根据电阻值和温度值，确定被测试元件的温升值，实现温升值的实时测量，保证测量准确度。

图6为本申请另一个实施例提供的温升测试方法的流程图，如图6所示，该温升测试方法包括：

S61：调节输入电源电压，以使被测试元件的电压为目标电压，预设测试时间阈值为2小时，预设检测周期为10分钟，预设允许的温升最大值80K，预设的电阻稳定条件包括：|(Ry-Rx)/Rx|<1％，其中，Ry为当前电阻值，Rx为上次检测得到的电阻值。

需要说明的是，调节输入电源电压可以由人工进行调节，也可以通过调压器进行调节。

S62：系统上电，供电回路接通，PLC记录电磁线圈电阻R1和室温t1。

供电回路可以通过PLC控制继电器状态控制供电回路通断。

S63：持续通电2小时后，PLC记录电磁线圈电阻R2和室温t2。

S64：继续通电10min后，PLC记录电磁线圈电阻R3和室温t3。

S65：判断|(R3-R2)/R2|是否小于1％，若是，执行步骤进入S66，否则，执行S64，直至相邻两次测试的电阻值|(RY-RX)/RX|＜1％。

S66：计算测试电磁线圈的温升值，温升值Δt＝〔(RY-R1)/R1〕×(k+t1)-(tY-t1)，RY表示最后一次测试记录的电阻值RY，tY为获取电阻值RY时对应的室温。

S67：判断Δt是否小于等于预设允许的最大温升值，若是，则判定电磁线圈合格，否则判定电磁定线圈不合格。

本实施例中，通过多次获取电阻值以使相邻两次测试的电阻值满足稳定条件，保证测量结果的准确性，提升温升试验效率，测试完毕后系统自动判定样件是否合格，推进测试自动化。

本发明实施例提供一种温升测试装置，如图7所示，该温升测试装置包括：

第一获取模块701，用于获取被测试元件所在环境的温度值；

第二获取模块702，用于获取被测试元件的电路参数值，根据电路参数值获取被测试元件的电阻值；

确定模块703，用于根据电阻值和温度值，确定被测试元件的温升值。

供电模块704，用于为被测试元件供电；

电路通断控制模块705，用于控制供电回路的通断。

电阻值计算模块706，用于根据预设的目标电压值以及电流传感器检测得到的电流值，计算得到被测试元件的电阻值。

第三获取模块707，用于获取第二温度值和第二电阻值，第二温度值和第二电阻值分别是被测试元件的电阻值满足预设的电阻稳定条件时的温度值和电阻值。

电阻稳定条件判断模块708，用于判断当前电阻值与上次检测得到的电阻值是否满足预设的电阻稳定条件。

显示模块709，用于显示电路参数值、电阻值、温度值、温升值中的一项或多项；和/或，显示所述判断结果。

报警模块710，用于在得到温升值后提醒用户。

关于上述实施例中的温升测试装置，其涉及的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。

本实施例中，通过第一获取模块获取被测试元件所在环境的温度值，第二获取模块获取被测试元件的电路参数值，根据电路参数值获取被测试元件的电阻值，确定模块根据电阻值和温度值，确定被测试元件的温升值，无需测试人员对温升试验过程进行全程监控和操作，实现测试系统自动化，并且由于全程不需拆卸被测试元件，从而提升温升值测量的准确度，提高温升试验效率，并且，通过第三获取模块获取第二温度值和第二电阻值，第二温度值和第二电阻值分别是被测试元件的电阻值满足预设的电阻稳定条件时的温度值和电阻值，电阻稳定条件判断模块判断当前电阻值与上次检测得到的电阻值是否满足预设的电阻稳定条件，以使参与温升值计算的电阻值为稳定后电阻值，保证获取参数的准确性，进一步提升计算结果准确性。

可以理解的是，上述各实施例中相同或相似部分可以相互参考，在一些实施例中未详细说明的内容可以参见其他实施例中相同或相似的内容。

需要说明的是，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是指至少两个。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本申请的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本申请的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

应当理解，本申请的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。

此外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

需要说明的是，本发明不局限于上述最佳实施方式，本领域技术人员在本发明的启示下都可得出其他各种形式的产品，但不论在其形状或结构上作任何变化，凡是具有与本申请相同或相近似的技术方案，均落在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种温升测试系统，其特征在于，包括：

温度传感器，用于检测被测试元件所在环境的温度值；

检测电路，用于在所述被测试元件通电后，检测所述被测试元件的电路参数值；

处理电路，用于根据所述电路参数值获取所述被测试元件的电阻值，并根据所述电阻值和所述温度值，确定所述被测试元件的温升值。

2.根据权利要求1所述的温升测试系统，其特征在于，还包括：

供电回路，为所述被测试元件供电，所述被测试元件串联在所述供电回路上；

继电器，串联在所述供电回路上，用于控制所述供电回路的通断。

3.根据权利要求2所述的温升测试系统，其特征在于，所述供电回路包括：

电源，为所述被测试元件直接提供目标电压；或者，

电源和调压器，所述调压器用于将所述电源提供的电压调节到目标电压，并将所述目标电压施加到所述被测试元件上。

4.根据权利要求1所述的温升测试系统，其特征在于，所述检测电路包括：

电流传感器，与所述被测试元件串联，用于检测所述被测试元件上流经的电流值；或者，

电阻传感器，用于检测所述被测试元件的电阻值。

5.根据权利要求4所述的温升测试系统，其特征在于，若所述检测电路包括电流传感器，所述处理电路具体用于：

根据预设的目标电压值以及所述电流传感器检测得到的所述电流值，计算得到所述被测试元件的电阻值，并根据所述电阻值和所述温度值，确定所述被测试元件的温升值。

6.根据权利要求4所述的温升测试系统，其特征在于，若所述检测电路包括电阻传感器，所述处理电路具体用于：

将所述电阻传感器检测得到的所述电阻值，直接确定为所述被测试元件的电阻值，并根据所述电阻值和所述温度值，确定所述被测试元件的温升值。

7.根据权利要求1所述的温升测试系统，其特征在于，所述温度值包括第一温度值，所述电阻值包括第一电阻值，所述第一温度值和所述第一电阻值分别为所述被测试元件在通电前的温度值和电阻值，所述处理电路进一步具体用于：

获取第二温度值和第二电阻值，所述第二温度值和所述第二电阻值分别是所述被测试元件的电阻值满足预设的电阻稳定条件时的温度值和电阻值；

根据所述第二温度值、所述第二电阻值、所述第一温度值和所述第一电阻值，采用预设的温升计算公式，计算得到所述被测试元件的温升值。

8.根据权利要求7所述的温升测试系统，其特征在于，所述处理电路用于获取第二温度值和第二电阻值具体包括：

从所述被测试元件通电时间达到预设的测试时间阈值开始，按照预设检测周期，定期检测当前温度和电阻值分别作为当前温度值和当前电阻值；

若当前电阻值与上次检测得到的电阻值满足预设的电阻稳定条件，则将所述当前电阻值和所述当前温度值分别作为第二电阻值和第二温度值。

9.根据权利要求1-7任一项所述的温升测试系统，其特征在于，还包括：

显示屏，与所述处理电路连接，用于显示所述电路参数值、所述电阻值、所述温度值、所述温升值中的一项或多项；和/或，

所述处理电路还用于根据所述温升值判断所述被测试元件是否合格；和/或，所述显示屏还用于显示所述判断结果；和/或，

报警器，与所述处理电路连接，用于在所述处理电路得到所述温升值后提醒用户；和/或，

被测试元件为电磁线圈；和/或，

所述处理电路为：PLC。

10.一种温升测试方法，其特征在于，包括：

获取被测试元件所在环境的温度值；

获取被测试元件的电路参数值，根据所述电路参数值获取所述被测试元件的电阻值；

根据所述电阻值和所述温度值，确定所述被测试元件的温升值。

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