CN111044003A - 一种提高网版平整度的方法 - Google Patents

一种提高网版平整度的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN111044003A
CN111044003A CN201911227700.3A CN201911227700A CN111044003A CN 111044003 A CN111044003 A CN 111044003A CN 201911227700 A CN201911227700 A CN 201911227700A CN 111044003 A CN111044003 A CN 111044003A
Authority
CN
China
Prior art keywords
data
flatness
hot
screen
module
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201911227700.3A
Other languages
English (en)
Inventor
莫红霞
汪明敏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CHANGZHOU SANLI JINGTU PHOTOELECTRIC CO LTD
Original Assignee
CHANGZHOU SANLI JINGTU PHOTOELECTRIC CO LTD
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CHANGZHOU SANLI JINGTU PHOTOELECTRIC CO LTD filed Critical CHANGZHOU SANLI JINGTU PHOTOELECTRIC CO LTD
Priority to CN201911227700.3A priority Critical patent/CN111044003A/zh
Publication of CN111044003A publication Critical patent/CN111044003A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/30—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/28—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces

Abstract

本发明公开了一种提高网版平整度的方法，将特氟龙涂层软垫放置在网版热熔片上，压力监测模块监测到特氟龙涂层软垫的重量，将数据发送给数据收集模块；数据收集模块对网版热熔片进行热熔；热熔完成后，将结束的数据发送给数据接收模块，收集接收模块开启平整度测量模块，平整度测量模块对网版热熔片进行测量平整度；将测量的平整度，与设定阈值一进行对比，将对比数据发送个数据收集模块进行分析；当测量的平整度大于等于设定阈值一，数据收集模块打开激光发生器，激光发生器能够对热熔后的网版热熔片二次测量，将测量数据发送给数据收集模块；数据收集模块对激光发生器测量的数据进行分析，确定网版热熔片的平整度。

Description

一种提高网版平整度的方法
技术领域
本发明涉及太阳能电池领域，具体是一种提高网版平整度的方法。
背景技术
太阳能，是指太阳的热辐射能(参见热能传播的三种方式:辐射)，主要表现就是常说的太阳光线。在现代一般用作发电或者为热水器提供能源。自地球上生命诞生以来，就主要以太阳提供的热辐射能生存，而自古人类也懂得以阳光晒干物件，并作为制作食物的方法，如制盐和晒咸鱼等。在化石燃料日趋减少的情况下，太阳能已成为人类使用能源的重要组成部分，并不断得到发展。太阳能的利用有光热转换和光电转换两种方式，太阳能发电是一种新兴的可再生能源。
太阳能电池片分为晶硅类和非晶硅类，其中晶硅类电池片又可以分为单晶电池片和多晶电池片；单晶硅的效率较多晶硅也有区别。
近年来，太阳能电池片印刷效率逐步提升，印刷速度越来越快，对于太阳能网版来说也是需要不断改善工艺来配合电池片印刷。印刷速度快且印刷效率稳定不仅要求网版的各项参数达到设计值的同时，也需要网版的结构不断优化。
网版结构上金属丝网与尼龙丝网连接使用热熔工艺目前是行业内通用的方法，而网版热熔片的选择以及热熔时的方式方法直接影响热熔的效果。
发明内容
本发明的目的在于提供一种提高网版平整度的方法，以解决现有技术中的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种提高网版平整度的方法，所述网版上设有网版热熔片、平整度测量模块、压力监测模块、激光发生器、特氟龙涂层软垫和数据收集模块；具体方法如下：
S1：将特氟龙涂层软垫放置在网版热熔片上，压力监测模块监测到特氟龙涂层软垫的重量，将数据发送给数据收集模块；
S2：数据收集模块接受压力监测模块的数据，并对网版热熔片进行热熔；
S3：热熔完成后，将结束的数据发送给数据接收模块，收集接收模块开启平整度测量模块，平整度测量模块对网版热熔片进行测量平整度；
S4：将测量的平整度，与设定阈值一进行对比，将对比数据发送个数据收集模块进行分析；
S5：当测量的平整度大于等于设定阈值一，数据收集模块打开激光发生器，激光发生器能够对热熔后的网版热熔片二次测量，将测量数据发送给数据收集模块；
S6：数据收集模块对激光发生器测量的数据进行分析，确定网版热熔片的平整度。
根据采用上述技术方案：所述步骤S3中，热熔完成后，将结束的数据发送给数据接收模块，收集接收模块开启平整度测量模块，平整度测量模块对网版热熔片进行测量平整度，还包括以下步骤：
A1：平整度测量模块内部设有平整度测量仪对热熔后网版热熔片前半部分、后半部分、左半部分和右半部分进行多次测量，将测量结果发送给平整测量模块内部的平整度数据审核子模块；
A2：平整度审核子模块对热熔后网版热熔片前半部分、后半部分、左半部分和右半部分的平整度测量数据进行分析；
A3：将分析的数据通过平整度测量模块发送给数据收集模块。
根据采用上述技术方案：所述步骤S5中，当测量的平整度大于等于设定阈值一，数据收集模块打开激光发生器，激光发生器能够对热熔后的网版热熔片二次测量，将测量数据发送给数据收集模块，还包含以下步骤：
B1：激光发生器在热熔后的网版热熔片发射激光，激光形成激光平面，激光平面以与平面成一定角度照射在平面上，在平整部位、凹陷部位及凸出部位上形成识别；
B2：使用塞尺对网版热熔片上的凹陷部位及凸出部位进行测量，将测量数据与设定测量数据进行比对，小于设定测量数据不作处理；
B3：将超出设定测量数据的凹陷部位及凸出部位的数量进行记录；将记录数据发送给数据收集模块；
根据采用上述技术方案：所述步骤A2中平整度审核子模块对热熔后网版热熔片前半部分、后半部分、左半部分和右半部分的平整度测量数据进行分析；
所述对热熔后网版热熔片测量时间为T1、T2、T3，其中，在测量时间T1时，前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{P1、Q1、M1、N1}，在测量时间T2时，前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{P2、Q2、M2、N2}，在测量时间T3时，前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{P3、Q3、M3、N3}，设定同一时间段能够前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据平均数为L1、L2、L3，根据公式：
Figure BDA0002302703510000041
其中，在不同时间段L1、L2、L3中，设定多次测量的平均数为W，根据公式：
Figure BDA0002302703510000042
从而计算出热熔后网版热熔片综合的平整度，从而将平整度的数据与设定阈值一相比对，大于设定阈值一，且热熔后网版热熔片较为平整，数据收集模块不作处理，小于等于设定阈值一，数据收集模块打开激光发生器，激光发生器能够对热熔后的网版热熔片二次测量。
根据采用上述技术方案：所述步骤B1使用塞尺对网版热熔片上的凹陷部位及凸出部位进行测量，将测量数据与设定测量数据进行比对，小于设定测量数据不作处理；
所述确定热熔后网版热熔片上的凹陷部位及凸出部位的数量，使用量尺对凹陷部位及凸出部位进行测量，其中，测量凹陷部位及凸出部位的宽度为K1、K2、K3、…、K(n-1)、Kn,测量凹陷部位及凸出部位的高度为H1、H2、H3、…、H(n-1)、Hn,设定凹陷部位及凸出部位的宽与高之乘为C，根据公式：
C＝Kn*Hn
将测量数值与设定测量数据进行比对，测量数据小于该设定数据，数据收集模块不作处理，测量数据大于等于该设定数据，统计凹陷部位及凸出部位的数量，统计数量在设定数量之内，对该网版热熔片进行标记，统计数量大于设定数量，对该网版热熔片进行报废处理，当测量数据远大于该设定数据，直接对该网版热熔片进行报废处理。
根据采用上述技术方案：所述激光发生器测量精确至0.5mm。
根据采用上述技术方案：根据权利要求1所述的一种提高网版平整度的方法，其特征在于：所述特氟龙涂层软垫的厚度为0.08mm。
根据采用上述技术方案：所述压力监测模块内部设有压力传感器，压力传感器采用为PT124-35Mpa压力传感器。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
1.利用特氟龙涂层软垫放置在网版热熔片上，特氟龙涂层材料具有良好的耐高温、不粘性以及滑动性和耐腐蚀性，压力监测模块能够监测到特氟龙涂层软垫的重量，将数据发送给数据收集模块进行对所有模块的开启；
2.利用数据收集模块接受压力监测模块的数据，并开启热熔机对网版热熔片进行热熔；热熔完成后，将结束的数据发送给数据接收模块，收集接收模块开能够启平整度测量模块，平整度测量模块对网版热熔片进行测量平整度；将测量的平整度，与设定阈值一进行对比，将对比数据发送个数据收集模块进行分析；当测量的平整度大于等于设定阈值一，数据收集模块打开激光发生器，激光发生器能够对热熔后的网版热熔片二次测量，将测量数据发送给数据收集模块；
3.利用数据收集模块对激光发生器测量的数据进行分析，确定网版热熔片的平整度。
附图说明
为了使本发明的内容更容易被清楚地理解，下面根据具体实施例并结合附图，对本发明作进一步详细的说明。
图1为本发明一种提高网版平整度的方法的步骤示意图；
图2为本发明一种提高网版平整度的方法的步骤S3的具体步骤示意图；
图3为本发明一种提高网版平整度的方法的步骤S5的具体步骤示意图；
图4为本发明一种提高网版平整度的方法的实施过程的示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例中，一种提高网版平整度的方法，所述网版上设有网版热熔片、平整度测量模块、压力监测模块、激光发生器、特氟龙涂层软垫和数据收集模块；具体方法如下：
S1：将特氟龙涂层软垫放置在网版热熔片上，压力监测模块监测到特氟龙涂层软垫的重量，将数据发送给数据收集模块；
S2：数据收集模块接受压力监测模块的数据，并对网版热熔片进行热熔；
S3：热熔完成后，将结束的数据发送给数据接收模块，收集接收模块开启平整度测量模块，平整度测量模块对网版热熔片进行测量平整度；
S4：将测量的平整度，与设定阈值一进行对比，将对比数据发送个数据收集模块进行分析；
S5：当测量的平整度大于等于设定阈值一，数据收集模块打开激光发生器，激光发生器能够对热熔后的网版热熔片二次测量，将测量数据发送给数据收集模块；
S6：数据收集模块对激光发生器测量的数据进行分析，确定网版热熔片的平整度。
根据采用上述技术方案：所述步骤S3中，热熔完成后，将结束的数据发送给数据接收模块，收集接收模块开启平整度测量模块，平整度测量模块对网版热熔片进行测量平整度，还包括以下步骤：
A1：平整度测量模块内部设有平整度测量仪对热熔后网版热熔片前半部分、后半部分、左半部分和右半部分进行多次测量，将测量结果发送给平整测量模块内部的平整度数据审核子模块；
A2：平整度审核子模块对热熔后网版热熔片前半部分、后半部分、左半部分和右半部分的平整度测量数据进行分析；
A3：将分析的数据通过平整度测量模块发送给数据收集模块。
根据采用上述技术方案：所述步骤S5中，当测量的平整度大于等于设定阈值一，数据收集模块打开激光发生器，激光发生器能够对热熔后的网版热熔片二次测量，将测量数据发送给数据收集模块，还包含以下步骤：
B1：激光发生器在热熔后的网版热熔片发射激光，激光形成激光平面，激光平面以与平面成一定角度照射在平面上，在平整部位、凹陷部位及凸出部位上形成识别；
B2：使用塞尺对网版热熔片上的凹陷部位及凸出部位进行测量，将测量数据与设定测量数据进行比对，小于设定测量数据不作处理；
B3：将超出设定测量数据的凹陷部位及凸出部位的数量进行记录；将记录数据发送给数据收集模块；
根据采用上述技术方案：所述步骤A2中平整度审核子模块对热熔后网版热熔片前半部分、后半部分、左半部分和右半部分的平整度测量数据进行分析；
所述对热熔后网版热熔片测量时间为T1、T2、T3，其中，在测量时间T1时，前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{P1、Q1、M1、N1}，在测量时间T2时，前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{P2、Q2、M2、N2}，在测量时间T3时，前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{P3、Q3、M3、N3}，设定同一时间段能够前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据平均数为L1、L2、L3，根据公式：
Figure BDA0002302703510000101
其中，在不同时间段L1、L2、L3中，设定多次测量的平均数为W，根据公式：
Figure BDA0002302703510000102
从而计算出热熔后网版热熔片综合的平整度，从而将平整度的数据与设定阈值一相比对，大于设定阈值一，且热熔后网版热熔片较为平整，数据收集模块不作处理，小于等于设定阈值一，数据收集模块打开激光发生器，激光发生器能够对热熔后的网版热熔片二次测量。
根据采用上述技术方案：所述步骤B1使用塞尺对网版热熔片上的凹陷部位及凸出部位进行测量，将测量数据与设定测量数据进行比对，小于设定测量数据不作处理；
所述确定热熔后网版热熔片上的凹陷部位及凸出部位的数量，使用量尺对凹陷部位及凸出部位进行测量，其中，测量凹陷部位及凸出部位的宽度为K1、K2、K3、…、K(n-1)、Kn,测量凹陷部位及凸出部位的高度为H1、H2、H3、…、H(n-1)、Hn,设定凹陷部位及凸出部位的宽与高之乘为C，根据公式：
C＝Kn*Hn
将测量数值与设定测量数据进行比对，测量数据小于该设定数据，数据收集模块不作处理，测量数据大于等于该设定数据，统计凹陷部位及凸出部位的数量，统计数量在设定数量之内，对该网版热熔片进行标记，统计数量大于设定数量，对该网版热熔片进行报废处理，当测量数据远大于该设定数据，直接对该网版热熔片进行报废处理。
根据采用上述技术方案：所述激光发生器测量精确至0.5mm。
根据采用上述技术方案：根据权利要求1所述的一种提高网版平整度的方法，其特征在于：所述特氟龙涂层软垫的厚度为0.08mm。
根据采用上述技术方案：所述压力监测模块内部设有压力传感器，压力传感器采用为PT124-35Mpa压力传感器。
实施例1：限定条件，对热熔后网版热熔片测量时间为6:15、6:16、6:17，当测量的时间点6:15时前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{83％、87％、91％、89％}，当测量的时间点6:16时前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{81％、97％、93％、87％}，当测量的时间点6:17时前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{92％、85％、91％、89％}，设定同一时间段能够前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据平均数为L1、L2、L3，根据公式：
Figure BDA0002302703510000121
计算得出：
Figure BDA0002302703510000122
在上述时间6:15、6:16、6:17，测量多次测量的平均数为W，根据公式：
Figure BDA0002302703510000123
计算得出：
Figure BDA0002302703510000124
从而计算出热熔后网版热熔片综合的平整度为88.8％，其中设定阈值一为90％，平整度的数据小于设定阈值一，数据收集模块打开激光发生器，激光发生器能够对热熔后的网版热熔片二次测量，激光发生器确定热熔后网版热熔片上的凹陷部位及凸出部位的数量为5个，使用量尺对凹陷部位及凸出部位进行测量，其中，测量凹陷部位及凸出部位的宽度为3mm、2mm、5mm、1mm、2mm,测量凹陷部位及凸出部位的高度为1mm、1mm、2mm、3mm、2mm,设定凹陷部位及凸出部位的宽与高之乘为C，根据公式:
C＝Kn*Hn
计算得出：C1＝3mm*1mm＝3mm；C2＝2mm*1mm＝2mm；C3＝5mm*2mm＝10mm；C4＝1mm*3mm＝3mm；C5＝2mm*2mm＝4mm；其中设定测量数据为4mm，C3大于4mm，凹陷部位及凸出部位的数量为1个，其中设定数量为2个，凹陷部位及凸出部位的数量小于设定数量，对该网版热熔片进行标记。
实施例2：限定条件：对热熔后网版热熔片测量时间为6:15、6:16、6:17，当测量的时间点6:15时前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{87％、81％、93％、86％}，当测量的时间点6:16时前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{83％、88％、89％、96％}，当测量的时间点6:17时前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{92％、89％、90％、86％}，设定同一时间段能够前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据平均数为L1、L2、L3，根据公式：
Figure BDA0002302703510000131
计算得出：
Figure BDA0002302703510000132
在上述时间6:15、6:16、6:17，测量多次测量的平均数为W，根据公式：
Figure BDA0002302703510000133
计算得出：
Figure BDA0002302703510000134
从而计算出热熔后网版热熔片综合的平整度为88％，其中设定阈值一为90％，平整度的数据小于设定阈值一，数据收集模块打开激光发生器，激光发生器能够对热熔后的网版热熔片二次测量，激光发生器确定热熔后网版热熔片上的凹陷部位及凸出部位的数量为5个，使用量尺对凹陷部位及凸出部位进行测量，其中，测量凹陷部位及凸出部位的宽度为3mm、4mm、5mm、3mm、2mm,测量凹陷部位及凸出部位的高度为1mm、2mm、1mm、2mm、2mm,设定凹陷部位及凸出部位的宽与高之乘为C，根据公式:
C＝Kn*Hn
计算得出：C1＝3mm*1mm＝3mm；C2＝4mm*2mm＝8mm；C3＝5mm*1mm＝5mm；C4＝3mm*2mm＝6mm；C5＝2mm*2mm＝4mm；其中设定测量数据为4mm，C2、C3、C4大于4mm，凹陷部位及凸出部位的数量为3个，其中设定数量为2个，凹陷部位及凸出部位的数量统计数量大于设定数量，对该网版热熔片进行报废处理。
实施例3：限定条件，对热熔后网版热熔片测量时间为6:15、6:16、6:17，当测量的时间点6:15时前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{91％、93％、92％、89％}，当测量的时间点6:16时前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{96％、88％、97％、96％}，当测量的时间点6:17时前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{92％、89％、90％、93％}，设定同一时间段能够前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据平均数为L1、L2、L3，根据公式：
Figure BDA0002302703510000151
计算得出：
Figure BDA0002302703510000152
在上述时间6:15、6:16、6:17，测量多次测量的平均数为W，根据公式：
Figure BDA0002302703510000153
计算得出：
Figure BDA0002302703510000154
从而计算出热熔后网版热熔片综合的平整度为92.2％，其中设定阈值一为90％，平整度的数据大于设定阈值一，数据收集模块不作处理。
实施例4：限定条件，对热熔后网版热熔片测量时间为6:15、6:16、6:17，当测量的时间点6:15时前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{87％、93％、84％、88％}，当测量的时间点6:16时前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{87％、88％、85％、91％}，当测量的时间点6:17时前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{92％、89％、86％、87％}，设定同一时间段能够前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据平均数为L1、L2、L3，根据公式：
Figure BDA0002302703510000161
计算得出：
Figure BDA0002302703510000162
在上述时间6:15、6:16、6:17，测量多次测量的平均数为W，根据公式：
Figure BDA0002302703510000163
计算得出：
Figure BDA0002302703510000164
从而计算出热熔后网版热熔片综合的平整度为88％，其中设定阈值一为90％，平整度的数据小于设定阈值一，数据收集模块打开激光发生器，激光发生器能够对热熔后的网版热熔片二次测量，激光发生器确定热熔后网版热熔片上的凹陷部位及凸出部位的数量为5个，使用量尺对凹陷部位及凸出部位进行测量，其中，测量凹陷部位及凸出部位的宽度为1mm、4mm、2mm、3mm、2mm,测量凹陷部位及凸出部位的高度为1mm、4mm、1mm、1mm、1mm,设定凹陷部位及凸出部位的宽与高之乘为C，根据公式:
C＝Kn*Hn
计算得出：C1＝1mm*1mm＝1mm；C2＝4mm*4mm＝16mm；C3＝2mm*1mm＝2mm；C4＝3mm*1mm＝3mm；C5＝2mm*1mm＝2mm；其中设定测量数据为4mm，其中，C2远大于设定测量数据4mm，直接对该网版热熔片进行报废处理。
对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (8)

1.一种提高网版平整度的方法，其特征在于：所述网版上设有网版热熔片、平整度测量模块、压力监测模块、激光发生器、特氟龙涂层软垫和数据收集模块；具体方法如下：
S1：将特氟龙涂层软垫放置在网版热熔片上，压力监测模块监测到特氟龙涂层软垫的重量，将数据发送给数据收集模块；
S2：数据收集模块接受压力监测模块的数据，并对网版热熔片进行热熔；
S3：热熔完成后，将结束的数据发送给数据接收模块，收集接收模块开启平整度测量模块，平整度测量模块对网版热熔片进行测量平整度；
S4：将测量的平整度，与设定阈值一进行对比，将对比数据发送个数据收集模块进行分析；
S5：当测量的平整度大于等于设定阈值一，数据收集模块打开激光发生器，激光发生器能够对热熔后的网版热熔片二次测量，将测量数据发送给数据收集模块；
S6：数据收集模块对激光发生器测量的数据进行分析，确定网版热熔片的平整度。
2.根据权利要求1所述的一种提高网版平整度的方法，其特征在于：所述步骤S3中，热熔完成后，将结束的数据发送给数据接收模块，收集接收模块开启平整度测量模块，平整度测量模块对网版热熔片进行测量平整度，还包括以下步骤：
A1：平整度测量模块内部设有平整度测量仪对热熔后网版热熔片前半部分、后半部分、左半部分和右半部分进行多次测量，将测量结果发送给平整测量模块内部的平整度数据审核子模块；
A2：平整度审核子模块对热熔后网版热熔片前半部分、后半部分、左半部分和右半部分的平整度测量数据进行分析；
A3：将分析的数据通过平整度测量模块发送给数据收集模块。
3.根据权利要求1所述的一种提高网版平整度的方法，其特征在于：所述步骤S5中，当测量的平整度大于等于设定阈值一，数据收集模块打开激光发生器，激光发生器能够对热熔后的网版热熔片二次测量，将测量数据发送给数据收集模块，还包含以下步骤：
B1：激光发生器在热熔后的网版热熔片发射激光，激光形成激光平面，激光平面以与平面成一定角度照射在平面上，在平整部位、凹陷部位及凸出部位上形成识别；
B2：使用塞尺对网版热熔片上的凹陷部位及凸出部位进行测量，将测量数据与设定测量数据进行比对，小于设定测量数据不作处理；
B3：将超出设定测量数据的凹陷部位及凸出部位的数量进行记录；将记录数据发送给数据收集模块；
4.根据权利要求2所述的一种提高网版平整度的方法，其特征在于：所述步骤A2中平整度审核子模块对热熔后网版热熔片前半部分、后半部分、左半部分和右半部分的平整度测量数据进行分析；
所述对热熔后网版热熔片测量时间为T1、T2、T3，其中，在测量时间T1时，前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{P1、Q1、M1、N1}，在测量时间T2时，前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{P2、Q2、M2、N2}，在测量时间T3时，前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据分别为{P3、Q3、M3、N3}，设定同一时间段能够前半部分、后半部分、左半部分和右半部分平整度测量的数据平均数为L1、L2、L3，根据公式：
Figure FDA0002302703500000031
其中，在不同时间段L1、L2、L3中，设定多次测量的平均数为W，根据公式：
Figure FDA0002302703500000032
从而计算出热熔后网版热熔片综合的平整度，从而将平整度的数据与设定阈值一相比对，大于设定阈值一，且热熔后网版热熔片较为平整，数据收集模块不作处理，小于等于设定阈值一，数据收集模块打开激光发生器，激光发生器能够对热熔后的网版热熔片二次测量。
5.根据权利要求3所述的一种提高网版平整度的方法，其特征在于：所述步骤B1使用塞尺对网版热熔片上的凹陷部位及凸出部位进行测量，将测量数据与设定测量数据进行比对，小于设定测量数据不作处理；
所述确定热熔后网版热熔片上的凹陷部位及凸出部位的数量，使用量尺对凹陷部位及凸出部位进行测量，其中，测量凹陷部位及凸出部位的宽度为K1、K2、K3、…、K(n-1)、Kn,测量凹陷部位及凸出部位的高度为H1、H2、H3、…、H(n-1)、Hn,设定凹陷部位及凸出部位的宽与高之乘为C，根据公式：
C＝Kn*Hn
将测量数值与设定测量数据进行比对，测量数据小于该设定数据，数据收集模块不作处理，测量数据大于等于该设定数据，统计凹陷部位及凸出部位的数量，统计数量在设定数量之内，对该网版热熔片进行标记，统计数量大于设定数量，对该网版热熔片进行报废处理，当测量数据远大于该设定数据，直接对该网版热熔片进行报废处理。
6.根据权利要求1所述的一种提高网版平整度的方法，其特征在于：所述激光发生器测量精确至0.5mm。
7.根据权利要求1所述的一种提高网版平整度的方法，其特征在于：所述特氟龙涂层软垫的厚度为0.08mm。
8.根据权利要求1所述的一种提高网版平整度的方法，其特征在于：所述压力监测模块内部设有压力传感器，压力传感器采用为PT124-35Mpa压力传感器。
CN201911227700.3A 2019-12-04 2019-12-04 一种提高网版平整度的方法 Pending CN111044003A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911227700.3A CN111044003A (zh) 2019-12-04 2019-12-04 一种提高网版平整度的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911227700.3A CN111044003A (zh) 2019-12-04 2019-12-04 一种提高网版平整度的方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN111044003A true CN111044003A (zh) 2020-04-21

Family

ID=70233594

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201911227700.3A Pending CN111044003A (zh) 2019-12-04 2019-12-04 一种提高网版平整度的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111044003A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115084778A (zh) * 2022-08-23 2022-09-20 四川中科兴业高新材料有限公司 一种使用聚苯硫醚生产的电池隔膜及方法

Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2561019B2 (ja) * 1993-12-24 1996-12-04 住友金属鉱山株式会社 電解用極板の平坦度測定装置
CN2791598Y (zh) * 2005-04-30 2006-06-28 西安工业学院 微小异型件自动检测装置
US20100111515A1 (en) * 2008-11-05 2010-05-06 Canon Kabushiki Kaisha Illumination apparatus and appearance inspection apparatus including the same
JP2010210568A (ja) * 2009-03-12 2010-09-24 Hitachi High-Technologies Corp 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
CN103499276A (zh) * 2013-10-12 2014-01-08 四川虹欧显示器件有限公司 一种印刷刮刀刃口均匀性检测系统、检测方法及调整方法
CN104111260A (zh) * 2014-07-09 2014-10-22 广州中国科学院沈阳自动化研究所分所 陶瓷砖无损检测设备及检测方法
CN104534968A (zh) * 2014-12-08 2015-04-22 国家烟草质量监督检验中心 卷状膜料平整度检测装置及检测方法
US20160084643A1 (en) * 2014-04-01 2016-03-24 Dmetrix, Inc. Interferometric apparatus with computer-generated hologram for measuring non-spherical surfaces
CN105784716A (zh) * 2016-04-25 2016-07-20 苏州玖典智能科技有限公司 摩擦片质量检验系统
CN106679566A (zh) * 2017-01-19 2017-05-17 佛山职业技术学院 一种大幅面瓷砖快速检测仪
CN107063167A (zh) * 2017-03-14 2017-08-18 苏州襄行智能科技有限公司 精切块状产品检测装置
CN207197465U (zh) * 2017-09-06 2018-04-06 苏州润裕新能源科技有限公司 一种丝网印刷用网版检测装置
CN108375354A (zh) * 2018-01-12 2018-08-07 嵊州市东浩电子科技有限公司 一种导光板翘曲缺陷检测的方法及设备
CN109203638A (zh) * 2018-08-06 2019-01-15 田菱精密制版（深圳）有限公司 一种显著提高丝印网版膜面平整性的涂布工艺方法
CN110261389A (zh) * 2019-06-13 2019-09-20 苏州铭优泽精密机械有限公司 一种产品生产质量检测工艺流程
CN110360962A (zh) * 2019-07-19 2019-10-22 北京中建建筑科学研究院有限公司 一种快速识别平面平整度的方法

Patent Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2561019B2 (ja) * 1993-12-24 1996-12-04 住友金属鉱山株式会社 電解用極板の平坦度測定装置
CN2791598Y (zh) * 2005-04-30 2006-06-28 西安工业学院 微小异型件自动检测装置
US20100111515A1 (en) * 2008-11-05 2010-05-06 Canon Kabushiki Kaisha Illumination apparatus and appearance inspection apparatus including the same
JP2010210568A (ja) * 2009-03-12 2010-09-24 Hitachi High-Technologies Corp 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
CN103499276A (zh) * 2013-10-12 2014-01-08 四川虹欧显示器件有限公司 一种印刷刮刀刃口均匀性检测系统、检测方法及调整方法
US20160084643A1 (en) * 2014-04-01 2016-03-24 Dmetrix, Inc. Interferometric apparatus with computer-generated hologram for measuring non-spherical surfaces
CN104111260A (zh) * 2014-07-09 2014-10-22 广州中国科学院沈阳自动化研究所分所 陶瓷砖无损检测设备及检测方法
CN104534968A (zh) * 2014-12-08 2015-04-22 国家烟草质量监督检验中心 卷状膜料平整度检测装置及检测方法
CN105784716A (zh) * 2016-04-25 2016-07-20 苏州玖典智能科技有限公司 摩擦片质量检验系统
CN106679566A (zh) * 2017-01-19 2017-05-17 佛山职业技术学院 一种大幅面瓷砖快速检测仪
CN107063167A (zh) * 2017-03-14 2017-08-18 苏州襄行智能科技有限公司 精切块状产品检测装置
CN207197465U (zh) * 2017-09-06 2018-04-06 苏州润裕新能源科技有限公司 一种丝网印刷用网版检测装置
CN108375354A (zh) * 2018-01-12 2018-08-07 嵊州市东浩电子科技有限公司 一种导光板翘曲缺陷检测的方法及设备
CN109203638A (zh) * 2018-08-06 2019-01-15 田菱精密制版（深圳）有限公司 一种显著提高丝印网版膜面平整性的涂布工艺方法
CN110261389A (zh) * 2019-06-13 2019-09-20 苏州铭优泽精密机械有限公司 一种产品生产质量检测工艺流程
CN110360962A (zh) * 2019-07-19 2019-10-22 北京中建建筑科学研究院有限公司 一种快速识别平面平整度的方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
HUNGER, D.等: "Laser micro-fabrication of concave, low-roughness features in silica", 《AIP ADVANCES》 *
陈静漪: "新型网版印刷直接制版CTS工艺流程与印刷适性", 《丝网印刷》 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115084778A (zh) * 2022-08-23 2022-09-20 四川中科兴业高新材料有限公司 一种使用聚苯硫醚生产的电池隔膜及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Coskun et al. Estimation of monthly solar radiation distribution for solar energy system analysis
CN100451480C (zh) 储水式热水器加热面污垢实时监测系统
Kumar et al. An exergy based test protocol for truncated pyramid type solar box cooker
CN111044003A (zh) 一种提高网版平整度的方法
CN108052023A (zh) 一种光伏板表面灰尘清洗控制方法和装置
Yoon et al. Numerical simulation of bowing phenomenon in ultra-thin crystalline silicon solar cells
CN203337560U (zh) 太阳能电池晶硅硅片隐裂检测分选装置
Steinhauser et al. Firing-stable PassDop passivation for screen printed n-type PERL solar cells based on a-SiNx: P
Sunday et al. Multiple linear regression photovoltaic cell temperature model for PVSyst simulation software
CN101718880B (zh) 一种峰值日照时数的测定方法
CN112332416A (zh) 基于光伏电采暖负荷相关性的配电网负荷预测方法及系统
CN110457832A (zh) 一种稳态条件下双玻双面光伏组件各层温度的计算方法
Sunanda et al. Impact of shading net on photovoltaic cells performance
Mahim et al. Experimental Evaluation of the Performance: A Novel Bi-Facial PV Panel
Wei et al. A real-time modeling of photovoltaic array
CN108226629B (zh) 一种采用多辐照传感器计算双面电池组件发电性能的方法
CN107947208B (zh) 一种弃风与大规模电池储能协调运行方法
Ransome Validating Energy Yield Modelling with the NREL Outdoor Dataset
Abbott et al. Annual energy yield analysis of solar cell technology
Bin Aziz et al. Energy performance evaluation of a photovoltaic thermal phase change material (PVT-PCM) using a spiral flow configuration.
Peng et al. Characteristic analysis of patterned photovoltaic modules for building integration
Rada et al. Comparison of PV module performance before and after 11, 20, and 25.5 years of field exposure
CN111769802A (zh) 一种获取光伏电池输出特性曲线的方法和系统
Nahar et al. Computational modeling for photovoltaic thermal system
Acevedo-Gómez et al. Influence of epoxy resin as encapsulation material of silicon photovoltaic cells on maximum current

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
AD01 Patent right deemed abandoned

Effective date of abandoning: 20211221

AD01 Patent right deemed abandoned