CN111025121A - 一种用于智能卡芯片多通道同测的嵌入式软件实现方法 - Google Patents

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崔丽华
戴昭君
蒋艳
林秋
朱建中
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Abstract

本发明公开了一种用于智能卡芯片多通道同测的嵌入式软件实现方法，是采用如下技术特征实现的：主控端测试程序发送启动测试命令，测试设备上的嵌入式软件正确接收后，将集成所有生产测试指令，并分给多个测试子板；每块测试子板完成单通道测试后，记录测试结果；如果测试失败，则关闭该通道；后续测试指令将屏蔽该通道，直到所有通道测试完毕。嵌入式软件对返回的数据进行整理打包后，以报文的方式输出，从而实现多通道同测的目的。本发明能够快速、准确的实现智能卡测试任务，减少测试时间，提高测试效率，同时对智能卡安全性也具有一定保障。

Description

一种用于智能卡芯片多通道同测的嵌入式软件实现方法
技术领域
本发明主要应用于智能卡芯片生产测试领域，涉及一种用于智能卡芯片多通道同测的嵌入式软件实现方法。
背景技术
随着智能卡技术的日益成熟，其测试成本的控制尤为重要。考虑到智能卡安全性及测试完整性，采用传统的测试方法已无法满足智能卡芯片的测试需求。因此如何提升智能卡芯片的测试效率，已成为提升产品竞争力的一个必要条件。目前的一些智能卡测试系统，其自动化方案难以做到尽善尽美，如无法有效的保护芯片测试信息，更不能自动获得详尽的测试结果报告；同时测试项功能单一，测试效率难以提升。本发明所提出的方式，不仅实现多通道同测，同时在测试过程中减少测试设备与主控端测试程序的交互，降低测试成本，提高测试效率；另外本发明所提的方式也避免自动测试设备(ATE)等时性问题；因采用指令集成方式，有效保护智能卡芯片信息，减少技术敏感信息泄漏，对芯片的安全性具有一定保障。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种用于智能卡芯片多通道同测的嵌入式软件实现方法，能够快速、准确地实现智能卡多通道同测，有效降低测试成本。
为解决上述技术问题，本发明嵌入式软件实现方法是采用如下技术方案实现的：
当测试设备上的嵌入式软件正确接收到一条启动生产测试命令后，依次发给测试子板，每块测试子板完成测试指令后，记录数据返回信息，如果测试结果Fail，则屏蔽该通道；反之则继续后续通道测试，直到完成所有通道的测试任务。嵌入式软件对所有通道返回的数据进行整理打包，再将测试结果以报文的形式输出。
本发明的方法有效降低智能卡芯片测试时间。通过一条启动生产测试指令，实现多通道同测的同时，记录不同通道的测试结果，将测试正确或错误信息通过报文方式输出。其详尽的数据信息，可有效进行后续生产信息跟踪分析，从而提高智能卡生产测试效率，便于产品追溯。
附图说明
下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细的说明：
附图1是多通道同测程序运行流程图；
附图2是多通道同测数据处理流程图。
具体实施方式
参见附图所示，为提高生产测试效率，嵌入式软件实现多通道同测，是采用测试设备上的嵌入式软件正确接收到一条启动生产测试任务命令后，将集成所有测试任务，并发给各测试子板，实现对多通道同测的目的，同时对各通道测试结果进行判定，以确定是否屏蔽当前通道测试。当完成所有通道测试任务后，以报文方式输出，便于生产信息跟踪及工程数据分析。
对智能卡芯片多通道同测的嵌入式软件实现方法进行详细说明，参见附图所示，具体步骤如下：
第一步：嵌入式软件正确接收APDU命令，并判断该命令是否为启动生产测试命令，如果不是，则等待新的命令；直到正确接收启动生产测试命令；
第二步：进入到生产测试模式，进行多通道同测，依次发给各测试子板，进行测试项指令测试；
第三步：对测试返回的结果进行数据处理，如果当前通道测试结果Fail，则屏蔽该通道；反之继续后续测试项，直到所有测试项测试完成；
第四步：根据上一步测试结果，及当前通道信息，整理所有测试结果数据，并以报文方式输出。
以上通过具体实施方式对本发明进行了详细的说明，但这些并非构成对本发明的限制。在不脱离本发明原理的情况下，本领域的技术人员还可做出许多变形和改进，这些也应视为本发明的保护范围。

Claims (5)

1.一种用于智能卡芯片多通道同测的嵌入式软件实现方法，其特征在于：主控端测试程序发送启动测试命令，测试设备上的嵌入式软件正确接收后，将集成所有生产测试指令，并分发给测试子板；每块测试子板完成单通道测试，如果测试过程中，某通道测试失败，则关闭该通道；后续测试指令将屏蔽该通道，直到所有通道测试完毕；嵌入式软件对返回的数据进行整理打包后，将测试结果以报文方式输出。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：配置当前通道号，并启动测试；当测试完成后，对其结果进行判断，如果与预期不一致，则设置当前通道的结果为Fail，关闭此通道；反之继续后续的测试任务。
3.如权利要求1或2述的方法，其特征在于：通过一套测试设备即可完成多通道同测，该测试设备由嵌入式软件实现对智能卡芯片生产测试任务的程序和一条启动生产测试任务的应用协议数据单元(APDU)命令组成。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于：生产测试完成后将测试结果以报文方式输出，记录所有测试项的测试结果外，以结果状态字“0x00”正确/“0x01”错误作为测试结果标记，详尽的数据信息，便于后续生产信息跟踪及工程数据分析。
5.如权利要求3或4所述的方法，其特征在于：测试设备上的嵌入式软件集成所有测试指令，并通过一条启动生产测试任务的APDU命令。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111487524A (zh) * 2020-05-15 2020-08-04 上海华力微电子有限公司 一种通用的芯片测试系统、测试方法及存储介质

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20010050575A1 (en) * 2000-03-08 2001-12-13 Chih-Hsien Weng Method and system of testing a chip
CN1834678A (zh) * 2005-03-17 2006-09-20 上海华虹集成电路有限责任公司 非接触式应用芯片的多通道测试仪
CN101202117A (zh) * 2006-12-13 2008-06-18 上海华虹Nec电子有限公司 Nvm芯片测试系统及测试方法
CN101603884A (zh) * 2009-05-06 2009-12-16 和芯微电子(四川)有限公司 一种采用单mcu实现多通道异步化测试的方法
US20170053711A1 (en) * 2015-08-17 2017-02-23 Micron Technology, Inc. Multi-channel testing
CN107290646A (zh) * 2017-06-09 2017-10-24 苏州迅芯微电子有限公司 高速adc芯片的自动测试平台及测试方法
CN209248512U (zh) * 2018-12-17 2019-08-13 浙江永泰隆电子股份有限公司 多通道flash芯片测试装置
CN110297737A (zh) * 2019-07-10 2019-10-01 北京汽车股份有限公司 多路输出芯片的故障诊断测试方法及装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20010050575A1 (en) * 2000-03-08 2001-12-13 Chih-Hsien Weng Method and system of testing a chip
CN1834678A (zh) * 2005-03-17 2006-09-20 上海华虹集成电路有限责任公司 非接触式应用芯片的多通道测试仪
CN101202117A (zh) * 2006-12-13 2008-06-18 上海华虹Nec电子有限公司 Nvm芯片测试系统及测试方法
CN101603884A (zh) * 2009-05-06 2009-12-16 和芯微电子(四川)有限公司 一种采用单mcu实现多通道异步化测试的方法
US20170053711A1 (en) * 2015-08-17 2017-02-23 Micron Technology, Inc. Multi-channel testing
CN107290646A (zh) * 2017-06-09 2017-10-24 苏州迅芯微电子有限公司 高速adc芯片的自动测试平台及测试方法
CN209248512U (zh) * 2018-12-17 2019-08-13 浙江永泰隆电子股份有限公司 多通道flash芯片测试装置
CN110297737A (zh) * 2019-07-10 2019-10-01 北京汽车股份有限公司 多路输出芯片的故障诊断测试方法及装置

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ZHENG LIU等: "The Design of Smart and Multi-channel Sampling Circuits with Pre-correction Function", 《3RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRICAL, AUTOMATION AND MECHANICAL ENGINEERING (EAME 2018)》 *
吕宏峰等: "多通道微流控电泳芯片CCD检测系统", 《仪表技术与传感器》 *
徐玉丹等: "一种基于FPGA的芯片测试多通道串口扩展设计", 《电子测量技术》 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111487524A (zh) * 2020-05-15 2020-08-04 上海华力微电子有限公司 一种通用的芯片测试系统、测试方法及存储介质
CN111487524B (zh) * 2020-05-15 2022-03-11 上海华力微电子有限公司 一种通用的芯片测试系统、测试方法及存储介质

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