CN111024009B - 一种测量云母片厚度的系统及方法 - Google Patents

一种测量云母片厚度的系统及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN111024009B
CN111024009B CN201911408695.6A CN201911408695A CN111024009B CN 111024009 B CN111024009 B CN 111024009B CN 201911408695 A CN201911408695 A CN 201911408695A CN 111024009 B CN111024009 B CN 111024009B
Authority
CN
China
Prior art keywords
counting tube
radioactive source
mica sheet
scaler
thickness
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201911408695.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111024009A (zh
Inventor
陈洪涛
胡利民
曹亮
西敏
马岩
王辉
王龙
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing Junrong Innovation Technology Co ltd
Original Assignee
Beijing Junrong Innovation Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing Junrong Innovation Technology Co ltd filed Critical Beijing Junrong Innovation Technology Co ltd
Priority to CN201911408695.6A priority Critical patent/CN111024009B/zh
Publication of CN111024009A publication Critical patent/CN111024009A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111024009B publication Critical patent/CN111024009B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness

Abstract

本发明实施例公开了一种测量云母片厚度的系统及方法，将包括的定标器、测试盒、放射源和计数管依次连接好，将定标器打开进行预热，将标准件云母片样品在测试盒中进行预检，判断定标器是否正常，定标器在工作电压430V，运行10s后，定标器计数在13000‑15000之间，则被测云母片为合格云母片。本发明实施例提供了一种测量云母片厚度的系统及方法，以解决现有技术中由于环境因素影响或仪器调整复杂而导致的测量数据不准确或测量效率低的问题。

Description

一种测量云母片厚度的系统及方法
技术领域
本发明实施例涉及云母测量技术领域，具体涉及一种测量云母片厚度的方法。
背景技术
目前市场上有很多测量厚度的仪器设备，这些设备当遇到数据精准度要求高时，受环境影响到不能给出准确的测量数据，大多需要反复调整仪器的精度。这就大大的降低了工作效率，对一些高精产品零件的数据需求不能满足，另外也不能满足特定工件的尺寸要求。针对以上情形，为了避免环境影响测量精度，提高工作效率，需要一种云母片测量系统来解决以上问题。
发明内容
为此，本发明实施例提供了一种测量云母片厚度的系统及方法，以解决现有技术中由于环境因素影响或仪器调整复杂而导致的测量数据不准确或测量效率低的问题。
为了实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：
根据本发明实施例公开了一种测量云母片厚度的系统，包括定标器、测试盒、放射源和计数管，所述测试盒内设置有凹槽，所述放射源放置于所述凹槽中，所述放射源的活性面朝向远离所述凹槽的一端，所述放射源的活性面与所述凹槽的上沿平面平行且高度低于上沿，所述计数管安装于所述测试盒中且与所述放射源相对应，所述云母片放置于所述放射源和所述计数管之间，所述计数管与所述定标器电连接；
所述测试盒为有机玻璃粘接而成的立方体，所述测试盒上开设有更换云母片的侧门；所述计数管放置于由有机玻璃板粘接而成的放置盒中，在与所述计数管的窗口相接触的有机玻璃板的中心开设一个通孔，所述通孔的直径小于所述计数管窗口的直径，所述测试盒上开设有一个与放置盒相适配的安置孔，所述放置盒通过安置孔进入所述测试盒中，使所述计数管的窗口对准放射源且与放射源的平面平行，所述计数管的窗口与放射源之间有间距；
所述计数管的窗口与放射源之间的间距为1mm；
所述定标器与所述计数管通过电子线路相连；所述计数管采用GJ6401型盖革计数管；所述定标器选用FH463B型定标器；
所述放射源的发射率为1.55*104Bq，半衰期为5760a,最大能量为0.156MeV。
根据本发明实施例公开了一种测量云母片厚度的方法，包括以下步骤：
步骤一，安装：将放射源与计数管安装在测试盒中，所述计数管通过测试电路与定标器相连，所述放射源与所述计数管之间保持有间隙；
步骤二，预热：将定标器打开进行预热；
步骤三，预检：将标准件云母片样品放置在测试盒中，标准件云母片厚度为2.3mg/cm2，将定标器的电压调节为430V，定标器计数在13000-15000之间，则定标器运行正常，反之，定标器存在故障、不能使用；
步骤四，测量：经步骤一、步骤二和步骤三系统正常后，将需要测试的云母片沿测试盒的下平面进入，放置在计数管和放射源之间进行测量；
步骤五，判断：定标器在工作电压430V，运行10s后，定标器计数在13000-15000之间，则被测云母片为合格云母片。进一步地，
进一步地，在步骤一中，所述放射源与所述计数管之间的间隙为1mm。
进一步地，在步骤二中，定标器预热时间为10分钟。
进一步地，在步骤五中，合格云母片的厚度为2.3mg/cm2-2.7mg/cm2 。
本发明实施例具有如下优点：
本发明具体实施例公开的一种测量云母片厚度的系统及方法通过定标器、计数管和放射源，可以对云母片的厚度进行准确、快速的检测，避免了环境因素对检测设备的影响，提高了工作效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是示例性的，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图引伸获得其它的实施附图。
本说明书所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容能涵盖的范围内。
图1为本发明实施例提供了一种测量云母片厚度的系统的结构示意图；
图2为图1中A部的放大图；
图3为电子线路图；
图中：1、定标器；2、测试盒；3、放射源；4、计数管；5、放置盒；6、云母片。
具体实施方式
以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
结合图1-3所示，本发明具体实施例公开了一种测量云母片厚度的系统，该系统包括定标器1、测试盒2、放射源3和计数管4。测试盒2内设置有凹槽，所述放射源3放置于所述凹槽中，所述放射源3的活性面朝向远离所述凹槽的一端，所述放射源3的活性面与所述凹槽的上沿平面平行且高度低于上沿，所述计数管4安装于所述测试盒2中且与所述放射源3相对应，将待测云母片6放置于所述放射源3和所述计数管4之间，所述计数管4与所述定标器1电连接。
测试盒2为透明有机玻璃粘接而成的立方体，尺寸为400mm×宽400mm×高6mm，所述测试盒2上开设有更换云母片6的侧门，被测云母片6的最大尺寸长宽不大于300mm，测试盒2的设计很好的避免了环境因素对云母片6的造成的影响，确保了测量数据的准确性。放射源3C14Ø10mm*厚度为2mm的面源，该放射源3为β源表面发射率为1.55*104Bq,半衰期为5760a,最大能量：β：0.156MeV；将放射源3镶嵌在测试盒2的凹槽中，凹槽直径Ø12mm*深度3mm，凹槽开设在测试盒2下平面有机玻璃板正中位置，该放射源3的活性面朝上，放射源3的活性面与凹槽上沿平面平行，略低于槽沿，避免了待测云母片6与放射源3接触被污染。
计数管4选用GJ6401计数管4一支，计数管4尺寸为Ø25*26mm，放置于由2mm厚的有机玻璃板粘接而成的放置盒中，放置盒5的尺寸为长29mm*宽29mm*高25mm，在与所述计数管4的窗口相接触的有机玻璃板的正中位置开设一个Ø20mm的通孔，所述通孔的直径小于所述计数管4窗口的直径，所述测试盒2上开设有一个与放置盒5相适配的安置孔，安置孔的尺寸为长29mm*宽29mm，将所述放置盒5通过安置孔进入所述测试盒中，使所述计数管4的窗口对准放射源3且与放射源3的平面平行，所述计数管4的窗口与放射源3之间有间距，计数管4的窗口与放射源3之间的间距为1mm，间距越小空气层对C14的吸收越少，测量到的数据越精确。
定标器1与计数管4通过电子线路相连，该线路能最大效率精准记录计数管4的脉冲计数，规避死时间对计数率等的影响。计数管4采用GJ6401型盖革计数管4；定标器1选用FH463B型定标器1。
死时间，计数管4在盖革区，由于盖革区的气体放大作用很大，每次电后的一个短期内，阳极周围布满正离子，形成正离子鞘，中和随后到达的电子，使之不能形成第二个脉冲。此时即使有射线进入计数管4，也不会有信号输出。这段时间成为死时间。
本发明具体实施例公开了一种测量云母片厚度的方法，包括以下步骤：
步骤一，安装：将放射源3与计数管4安装在测试盒2中，所述计数管4通过测试电路与定标器1相连，所述放射源3与所述计数管4之间保持有间隙；
步骤二，预热：将定标器1打开预热一段时间；
步骤三，预检：将标准件云母片6样品放置在测试盒2中，标准件云母片6厚度为2.3mg/cm2，将定标器1的电压调节为430V，定标器1计数在13000-15000之间，则定标器1运行正常，反之，定标器1存在故障、不能使用；
步骤四，测量：经步骤一、步骤二和步骤三系统正常后，将需要测试的云母片6沿测试盒2的下平面进入，放置在计数管4和放射源3之间进行测量；
步骤五，判断：定标器1在工作电压430V，运行10s后，定标器1计数在13000-15000之间，则被测云母片6为合格云母片6。
在步骤一中，所述放射源3与所述计数管4之间的间隙为1mm。在步骤二中，定标器1预热时间为10分钟。在步骤五中，合格云母片6的厚度为2.3mg/cm2-2.7mg/cm2 。
本发实施例具体实施例通过测量云母片厚度的系统与方法配合检测，可以避免环境因素对测量数据的影响，提高了云母片6测量的效率。
虽然，上文中已经用一般性说明及具体实施例对本发明作了详尽的描述，但在本发明基础上，可以对之作一些修改或改进，这对本领域技术人员而言是显而易见的。因此，在不偏离本发明精神的基础上所做的这些修改或改进，均属于本发明要求保护的范围。

Claims (5)

1.一种测量云母片厚度的系统，其特征在于：包括定标器、测试盒、放射源和计数管，所述测试盒内设置有凹槽，所述放射源放置于所述凹槽中，所述放射源的活性面朝向远离所述凹槽的一端，所述放射源的活性面与所述凹槽的上沿平面平行且高度低于上沿，所述计数管安装于所述测试盒中且与所述放射源相对应，将待测云母片放置于所述放射源和所述计数管之间，所述计数管与所述定标器电连接；
所述测试盒为有机玻璃粘接而成的立方体，所述测试盒上开设有更换云母片的侧门；所述计数管放置于由有机玻璃板粘接而成的放置盒中，在与所述计数管的窗口相接触的有机玻璃板的中心开设一个通孔，所述通孔的直径小于所述计数管窗口的直径，所述测试盒上开设有一个与放置盒相适配的安置孔，所述放置盒通过安置孔进入所述测试盒中，使所述计数管的窗口对准放射源且与放射源的平面平行，所述计数管的窗口与放射源之间有间距；
所述计数管的窗口与放射源之间的间距为1mm；
所述定标器与所述计数管通过电子线路相连；所述计数管采用GJ6401型盖革计数管；所述定标器选用FH463B型定标器；
所述放射源的发射率为1.55*104Bq，半衰期为5760a,最大能量为0.156MeV。
2.一种测量云母片厚度的方法，其特征在于，采用权利要求1所述系统：包括以下步骤：
步骤一，安装：将放射源与计数管安装在测试盒中，所述计数管通过测试电路与定标器相连，所述放射源与所述计数管之间保持有间隙；
步骤二，预热：将定标器打开预热一段时间；
步骤三，预检：将标准件云母片样品放置在测试盒中，标准件云母片厚度为2.3mg/cm2，将定标器的电压调节为430V，定标器计数在13000-15000之间，则定标器运行正常，反之，定标器存在故障、不能使用；
步骤四，测量：经步骤一、步骤二和步骤三系统正常后，将需要测试的云母片沿测试盒的下平面进入，放置在计数管和放射源之间进行测量；
步骤五，判断：定标器在工作电压430V，运行10s后，定标器计数在13000-15000之间，则被测云母片为合格云母片。
3.根据权利要求2所述的一种测量云母片厚度的方法，其特征在于：在步骤一中，所述放射源与所述计数管之间的间隙为1mm。
4.根据权利要求2所述的一种测量云母片厚度的方法，其特征在于：在步骤二中，定标器预热时间为10分钟。
5.根据权利要求2所述的一种测量云母片厚度的方法，其特征在于：在步骤五中，合格云母片的厚度为2.3mg/cm2-2.7mg/cm2。
CN201911408695.6A 2019-12-31 2019-12-31 一种测量云母片厚度的系统及方法 Active CN111024009B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911408695.6A CN111024009B (zh) 2019-12-31 2019-12-31 一种测量云母片厚度的系统及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911408695.6A CN111024009B (zh) 2019-12-31 2019-12-31 一种测量云母片厚度的系统及方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111024009A CN111024009A (zh) 2020-04-17
CN111024009B true CN111024009B (zh) 2022-06-07

Family

ID=70197446

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201911408695.6A Active CN111024009B (zh) 2019-12-31 2019-12-31 一种测量云母片厚度的系统及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111024009B (zh)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB762515A (en) * 1953-02-28 1956-11-28 Bayer Ag Method and device for measuring or calibrating an arrangement for measuring the titre of a running thread
CN86207436U (zh) * 1986-10-15 1987-09-09 东北农学院同位素教研室 β射线测定蛋壳厚度的装置
CN87214943U (zh) * 1987-11-04 1988-06-08 核工业部大连应用技术研究所 可换靶式同位素测厚仪
CN1128346A (zh) * 1994-11-16 1996-08-07 大宇电子株式会社 测量涂层厚度的装置
CN101587052A (zh) * 2009-06-15 2009-11-25 浙江大学 基于x射线的密度、浓度和厚度测试装置及方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1104197B (de) * 1959-11-26 1961-04-06 Philips Patentverwaltung Dickenmessgeraet zur diskontinuierlichen Messung vorzugsweise kleiner Werkstuecke mittels ª‰-Strahlung
GB1023274A (en) * 1963-12-12 1966-03-23 Saunders Roe & Nuclear Entpr Improvements in or relating to measuring instruments
CN2064500U (zh) * 1989-04-24 1990-10-24 湖南省技术物理研究所 同位素x荧光镀层测厚仪
EP1076222A1 (en) * 1999-08-10 2001-02-14 Corus Aluminium Walzprodukte GmbH X-ray fluorescence measurement of aluminium sheet thickness

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB762515A (en) * 1953-02-28 1956-11-28 Bayer Ag Method and device for measuring or calibrating an arrangement for measuring the titre of a running thread
CN86207436U (zh) * 1986-10-15 1987-09-09 东北农学院同位素教研室 β射线测定蛋壳厚度的装置
CN87214943U (zh) * 1987-11-04 1988-06-08 核工业部大连应用技术研究所 可换靶式同位素测厚仪
CN1128346A (zh) * 1994-11-16 1996-08-07 大宇电子株式会社 测量涂层厚度的装置
CN101587052A (zh) * 2009-06-15 2009-11-25 浙江大学 基于x射线的密度、浓度和厚度测试装置及方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN111024009A (zh) 2020-04-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Altunbas et al. Construction, test and commissioning of the triple-GEM tracking detector for COMPASS
Abashian et al. The belle detector
CN102213683B (zh) X射线透射检查装置及x射线透射检查方法
US8989344B2 (en) System and method for measuring ash content and calorified value of coal
Wall et al. Gamma Dose Distributicns at and near the Interface of Different Materials
Brandenburg et al. An electromagnetic calorimeter for the small angle regions of the Collider Detector at Fermilab
CN111024009B (zh) 一种测量云母片厚度的系统及方法
Yount A high precision Faraday cup and quantameter For SLAC
Watanabe et al. Neutral beam line to study KL0→ π0νν¯ decay at the KEK 12-GeV proton synchrotron
KR20220056408A (ko) 알파 입자의 펄스 검출을 통한 라돈 측정기
Luszik-Bhadra et al. A CR-39 track dosemeter for routine individual neutron monitoring
CN110398075A (zh) 槽式太阳能集热管真空性能测量装置
CN114185078A (zh) 一种1MeV以上单能中子注量率的测量方法
Cavallari et al. Solid state detectors used for the CERN Neutrino Flux Monitoring (NFM)
CN109916507B (zh) 基于离子成像的真空紫外光横向分布在线测量装置及方法
US8481957B2 (en) Ionizing radiation detector
Olsen et al. A simple beam-energy measurer for heavy ions
Fischer et al. A beam monitor system for high-intensity photon beam in the multi-GeV range
CN209356063U (zh) 一种用于光谱仪中的防静电外垫块
Gao et al. Characterisation of Timepix3 with 3D sensor
CN113504563B (zh) 一种基于小型x射线机的稳定性期间核查源
CN210322070U (zh) 一种电离室和医用射线治疗设备
CN110764164B (zh) 用于检测装置的校准方法以及校准装置
Abazov et al. Comparative analysis of the performance characteristics of mini-drift tubes with different design
Ziegler Development of a triple GEM detector for the LHCb experiment

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant