CN110972366B - 照明点亮设备、照明装置和照明器具 - Google Patents

照明点亮设备、照明装置和照明器具 Download PDF

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Abstract

本发明涉及一种照明点亮设备、照明装置和照明器具。其目的是精确地检测存在发光缺陷的发光元件。照明点亮设备(1)被配置为使彼此串联连接的多个发光元件(5)点亮。照明点亮设备(1)包括一个感光器(31)和检测器(32)。一个感光器(31)被配置为检测从多个发光元件(5)发射的光。检测器(32)被配置为基于一个感光器(31)所检测到的光来对多个发光元件(5)进行发光缺陷的检测。检测器(32)在一个感光器(31)所检测到的光的光量减少的情况下进行检测处理。检测器(32)包括两个或更多个开关以及处理器。两个或更多个开关并联连接至多个发光元件(5)。在处理器逐一地顺次接通两个或更多个开关且一个感光器(31)所检测到的光的光量未改变的情况下，处理器检测出存在发光缺陷的发光元件(5)。

Description

照明点亮设备、照明装置和照明器具
技术领域
本发明通常涉及照明点亮设备、照明装置和照明器具。本发明具体涉及被配置为使彼此串联连接的多个发光元件点亮的照明点亮设备、包括该照明点亮设备的照明装置、和包括该照明装置的照明器具。
背景技术
作为包括要点亮的发光二极管(LED)的照明装置，已知有用于检测LED的故障的LED照明装置(例如，参见日本专利申请2007-305929A，其在下文被称为“文献1”)。
在文献1所述的LED照明装置中，对所有的LED并联地插入场效应晶体管(FET)。文献1所述的LED照明装置检测LED中的故障LED并且接通FET，使得电流在绕过该故障LED的状态下流动。
在如文献1所述的传统照明装置中，在诸如LED等的发光元件发生故障而变为开路时，电流不再流经该发光元件，因此可检测出发光元件的发光缺陷。
然而，传统照明装置存在无法检测发光元件的振荡缺陷的问题。振荡缺陷是尽管电流继续流经发光元件、但该发光元件不发光。“发光元件的发光缺陷”不仅包括电流不流经发光元件、因而发光元件不发射光的缺陷，而且还包括发光元件的振荡缺陷。“发光元件的振荡缺陷”是电流继续流经发光元件、但发光元件由于在发光元件的振荡操作中发生的问题因而不发射光的缺陷。作为发光元件的特性，可能发生振荡缺陷。
为了解决该问题，增加彼此串联连接的发光元件的数量，使得即使在发生发光元件的振荡缺陷时，也可以减轻振荡缺陷对从多个发光元件发射的光的光量的影响。然而，增加发光元件的数量导致新的问题，即成本增加。
发明内容
发明要解决的问题
有鉴于上述，本发明的目的是提供被配置为精确地检测存在发光缺陷的发光元件的照明点亮设备、包括该照明点亮设备的照明装置、和包括该照明装置的照明器具。
用于解决问题的方案
根据本发明的一方面的一种照明点亮设备，其被配置为使彼此串联连接的多个发光元件点亮，所述照明点亮设备包括：一个感光器，其被配置为检测从所述多个发光元件发射的光；以及检测器，其被配置为基于所述一个感光器所检测到的光来进行检测所述多个发光元件中的发光缺陷的检测处理，其中，所述检测器被配置为在所述一个感光器所检测到的光的光量减少的情况下，进行所述检测处理，所述多个发光元件被划分成各自包括至少一个发光元件的两个或更多个组，以及所述检测器包括：与所述多个发光元件并联连接的两个或更多个开关，所述两个或更多个开关一对一地对应于所述两个或更多个组，所述两个或更多个开关中的各开关并联连接至所述两个或更多个组中的对应组，以及处理器，其被配置为在所述检测处理期间所述两个或更多个开关逐一地顺次接通时、所述一个感光器所检测到的光的光量保持不变的情况下，从所述多个发光元件中检测出存在发光缺陷的发光元件。
根据本发明的一方面的一种照明装置，包括：所述照明点亮设备；所述多个发光元件；以及光学部。所述光学部被配置为引导从所述多个发光元件发射的光。
根据本发明的一方面的一种照明器具，包括：所述照明装置；以及光输出部。所述光输出部被配置为输出从所述照明装置的所述光学部引导的光。
发明的效果
根据基于本发明的上述方面的照明点亮设备、照明装置和照明器具，可以精确地检测存在发光缺陷的发光元件。
附图说明
图1是示出实施例的照明器具的示意图；
图2是示出该照明器具的照明点亮设备中的AC/DC转换器的电路图；
图3是示出该照明器具的照明点亮设备中的DC/DC转换器的电路图；
图4是示出该照明器具的照明点亮设备中的感光器和检测器的电路图；
图5是示出该照明器具的功能的示意图；
图6是示出该照明器具的外观图；
图7是示出在该照明点亮设备的电源接通时的功能的示意图；
图8是示出在该照明点亮设备正常点亮时的功能的示意图；
图9是示出该照明点亮设备的操作的流程图；以及
图10是示出本实施例的变形例的照明器具的功能的示意图。
附图标记列表
1 照明点亮设备
2 点亮部
31 感光器
32 检测器
33 开关
34 处理器
4,4a 照明装置
5 发光元件
6 光学部
7,7a 照明器具
8 光纤
9,9a 光输出部
具体实施方式
以下将参考附图来说明实施例的照明点亮设备、照明装置和照明器具。以下实施例等中所述的图是示意图，并且这些图中的组件的大小比和厚度比不一定反映实际的尺寸比。
(实施例)
(1)照明点亮设备的整体结构
将参考附图来说明本实施例的照明点亮设备的整体结构。
如图1所示，照明点亮设备1包括点亮部2、一个感光器31和检测器32。照明点亮设备1是被配置为使彼此串联连接的多个(在该图所示的示例为四个)发光元件5点亮(接通)的设备。照明点亮设备1连同多个发光元件5一起形成照明装置4。
照明点亮设备1例如用在用于在水中发射光的水下照明器具、或者自动车的前照灯中。
(2)照明装置
如图1所示，照明装置4包括照明点亮设备1、多个(在该图所示的示例中为四个)发光元件5和光学部6。如图6所示，照明装置4还包括壳体41。壳体41容纳照明点亮设备1、多个发光元件5和光学部6。
照明装置4连同后面将说明的光输出部9一起使用。照明装置4可以用在如上所述的水下照明器具或自动车的前照灯中。
(2.1)发光元件
图1所示的多个发光元件5例如是激光二极管，并且彼此串联连接。在如图4更详细地示出的示例中，多个发光元件5是第一发光元件51、第二发光元件52、第三发光元件53和第四发光元件54。各发光元件5例如发射蓝色光。
(2.2)光学部
如图5所示，光学部6被配置为引导从多个发光元件5发射的光。光学部6包括诸如光学透镜等的至少一个光学组件，并且被配置为收集从多个发光元件5发射的光。光学部6连接至后面将说明的光纤8。光学部6所收集的光从光学部6进入光纤8，并被输出到照明装置4的外部。
(3)照明器具
如图5所示，照明器具7包括照明装置4、光纤8和光输出部9。
(3.1)光纤
如图5所示，光纤8将照明装置4光学地连接至光输出部9。光纤8传输从照明装置4的光学部6引导的光。
(3.2)光输出部
如图5所示，光输出部9输出从光纤8传输来的光。光输出部9包括光学转换构件91和光强分布光学系统92。如图6所示，光输出部9还包括壳体93。壳体93容纳光学转换构件91和光强分布光学系统92。
光学转换构件91是由混合有荧光体的透光材料制成的构件。荧光体例如是黄色荧光体。黄色荧光体例如是用Ce活化的Y3Al5O1或者用Eu活化的Ba2SiO4。荧光体被从照明装置4输出并穿过光纤8的蓝色光的一部分激发，由此发射黄色光。光学转换部件91输出作为蓝色光的其余部分和黄色光的混色光的白色光。
光强分布光学系统92包括至少一个光学组件，并对从光学转换构件91输出的白色光进行光强分布控制，以将该白色光输出到光输出部9的外部。
(4)照明点亮设备的组件
以下将参考附图来说明照明点亮设备1的组件。
(4.1)点亮部
如图1所示，点亮部2包括AC/DC转换器21、DC/DC转换器22和调光信号接收器23。点亮部2还具有用于将多个发光元件5点亮并调光的调光功能。
(4.1.1)AC/DC转换器
如图1所示，AC/DC转换器21电气连接至电源P1并从电源P1接收电压。电源P1例如是商用AC电源(AC 100V 50/60Hz或AC 200V 50/60Hz等)。AC/DC转换器21被配置为向DC/DC转换器22输出恒定电压。该恒定电压是多个发光元件5所需的直流电压。AC/DC转换器21被配置为将要输出至DC/DC转换器22的输出电压设置为高于或等于发光元件5所需的电压(例如，DC 20V)的电压(诸如DC 60V或DC 30V等)。
如图2所示，AC/DC转换器21包括滤波器24、整流电路25、平滑电容器C1和升压电路26。AC/DC转换器21包括电压检测电路211和AC/DC控制器212。AC/DC转换器21例如是恒压输出的隔离型反激式转换器。
滤波器24电气连接至电源P1的两端，并且被配置为减少电源线上的噪声。
整流电路25例如是二极管桥，并且被配置为对来自电源P1的交流电压进行整流。整流后的脉动电压被施加到平滑电容器C1。
平滑电容器C1电气连接在整流电路25的输出之间，并且被配置为使整流电路25整流后的脉动电压平滑。由平滑电容器C1平滑后的直流电压被输出至升压电路26。
升压电路26是反激式转换器电路，并且被配置为将由平滑电容器C1平滑后的直流电压升压。升压电路26包括变压器T1、开关元件Q1、二极管D1和平滑电容器C2。
变压器T1包括初级绕线n1和次级绕线n2。变压器T1是被配置为使连接至初级绕线n1的输入侧与连接至次级绕线n2的输出侧电气绝缘的隔离型反激式变压器。初级绕线n1电气连接至平滑电容器C1的两端。次级绕线n2电气连接至DC/DC转换器22(参见图1)的输入端。
开关元件Q1例如是n沟道增强型金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)。在平滑电容器C1的两端之间，开关元件Q1与变压器T1的初级绕线n1串联连接。在开关元件Q1是MOSFET的情况下，开关元件Q1的漏极连接至变压器T1的初级绕线n1，并且开关元件Q1的源极电气连接至平滑电容器C1的低电压侧。
二极管D1串联连接至变压器T1的次级绕线n2。具体地，二极管D1的阳极电气连接至变压器T1的次级绕线n2，并且二极管D1的阴极电气连接至平滑电容器C2。
平滑电容器C2并联连接至变压器T1的次级绕线n2与二极管D1的串联电路。平滑电容器C2被配置为使在变压器T1的次级绕线n2的两端感应出的电压平滑。
电压检测电路211包括多个(在该图所示的示例中为两个)电阻器R1和R2、电容器C3、分路调节器SR1和光电耦合器213。
多个电阻器R1和R2并联连接至变压器T1的次级绕线n2与二极管D1的串联电路。具体地，多个电阻器R1和R2连接至平滑电容器C2与变压器T1的次级绕线n2和二极管D1的串联电路的连接点。也就是说，多个电阻器R1和R2并联连接至平滑电容器C2。
电容器C3在变压器T1的次级绕线n2与二极管D1的串联电路的两端串联连接至电阻器R1，并且并联连接至电阻器R2。
分路调节器SR1连接在光电耦合器213与多个电阻器R1和R2的低电压侧之间。分路调节器SR1的控制端子电气连接至电阻器R1与电阻器R2的连接点。也就是说，分路调节器SR1电气连接在电阻器R1和电容器C3之间。
光电耦合器213包括用作发光元件的发光二极管214和用作受光元件的光电晶体管215。发光二极管214的阳极电气连接至电阻器R3，并且发光二极管214的阴极电气连接至分路调节器SR1。发光二极管214经由电阻器R3接收从控制电源施加的电压。
AC/DC控制器212基于变压器T1的次级绕线n2两端的电压，来进行开关元件Q1的接通和断开的控制。具体地，AC/DC控制器212例如是控制集成电路(IC)。光电耦合器213的光电晶体管215电气连接至AC/DC控制器212。AC/DC控制器212被配置为根据光电耦合器213的输出来调整向开关元件Q1的控制信号。
(4.1.2)DC/DC转换器
如图3所示，DC/DC转换器22包括降压电路27。DC/DC转换器22包括电压检测电路221、电流检测电路222和DC/DC控制器223。DC/DC转换器22例如是恒定电流输出的降压斩波转换器。
降压电路27包括开关元件Q2、电感器L1、二极管D2和电容器C4。
开关元件Q2例如是n沟道增强型MOSFET，并且电气连接至AC/DC转换器21(参考图2)的高电压侧输出端。
电感器L1串联连接至开关元件Q2。
在AC/DC转换器21的输出之间，二极管D2串联连接至开关元件Q2。具体地，二极管D2的阳极电气连接至AC/DC转换器21的低电压侧输出端。二极管D2的阴极电气连接至开关元件Q2与电感器L1的连接点。
在AC/DC转换器21的输出端之间，电容器C4并联连接至开关元件Q2和电感器L1的串联电路。电容器C4被配置为使由开关元件Q2、电感器L1和二极管D2降压后的电压平滑。
电压检测电路221包括多个(在该图所示的示例中为两个)电阻器R4和R5。在电容器C4的两端之间，多个电阻器R4和R5彼此串联连接。也就是说，多个电阻器R4和R5并联连接至电容器C4。多个电阻器R4和R5使得能够检测到由电容器C4平滑后的电压的电压值。
电流检测电路222包括电阻器R6。电阻器R6连接在DC/DC转换器22的低电压侧输入端和DC/DC转换器22的低电压侧输出端之间。也就是说，电阻器R6电气连接在DC/DC转换器22的低电压侧输入端和DC/DC转换器22的低电压侧输出端之间。电阻器R6使得能够检测到从DC/DC转换器22输出的电流的电流值。
DC/DC控制器223基于DC/DC转换器22的输出电压和从DC/DC转换器22输出的电流I1(参见图1)来控制开关元件Q2的接通和断开。具体地，DC/DC控制器223例如是控制IC。DC/DC控制器223根据电压检测电路221的输出和来自电流检测电路222的输出来调整向着开关元件Q2的控制信号。
具有如上所述的结构的DC/DC转换器22接收从AC/DC转换器21(参见图2)输出的恒定电压以进行恒定电流输出。从DC/DC转换器22输出的电流I1的电流值由调光信号接收器23(参见图1)的输出电平设置。在调光水平为100％时，DC/DC转换器22输出发光元件5的额定电流。在调光水平为50％时，DC/DC转换器22输出作为发光元件5的额定电流的一半的电流。在脉冲宽度调制(PWM)控制的情况下，从DC/DC转换器22输出的电流I1的电流值是发光元件5的额定电流。在调光水平为100％时，DC/DC转换器22输出占空比为100％的电流I1。在调光水平为50％时，DC/DC转换器22输出占空比为50％的电流I1。
注意，在发光元件5的电压低于AC/DC转换器21的输出电压时，在DC/DC转换器22中设置诸如降压斩波电路等的降压电路。另一方面，在发光元件5的电压高于AC/DC转换器21的输出电压时，在DC/DC转换器22中设置诸如升压斩波电路等的升压电路。可选地，在存在两个可能情况、即发光元件5的电压可能高于AC/DC转换器21的输出电压的情况和发光元件5的电压可能低于AC/DC转换器21的输出电压的情况下，在DC/DC转换器22中设置诸如升压/降压斩波电路等的升压/降压电路。在本发明中，“发光元件5的电压”是指使多个发光元件5点亮所需的电压。
(4.1.3)调光信号接收器
如图1所示，调光信号接收器23从调光器A1接收点亮控制信号。在本发明中，点亮控制信号例如是用于使多个发光元件5点亮的点亮信号、用于使多个发光元件5熄灭的熄灭信号、或者用于将多个发光元件5点亮并调光的调光信号。调光信号包括调光水平，并且是从调光器A1基于例如PWM系统发送的。例如，随着占空比(接通(ON)时间段相对于一个周期的比)减小，调光水平(光量)增大，并且随着占空比增大，调光水平减小。调光信号接收器23将如此接收到的点亮控制信号的控制内容输出至DC/DC转换器22的DC/DC控制器223(参见图3)。更具体地，调光信号接收器23将点亮控制信号的控制内容经由控制线281输出至DC/DC控制器223。
(4.2)感光器
如图4所示，感光器31是单个传感器，并且被配置为检测从多个发光元件5发射的光。感光器31例如是光电二极管。感光器31检测从多个发光元件5发射的光的一部分。具体地，如图5所示，感光器31检测从多个发光元件5发射的光中的从光学部6反射的光。感光器31电气连接至检测器32，并且感光器31的检测结果被输出至检测器32。
(4.3)检测器
如图1所示，检测器32基于感光器31所检测到的光来检测多个发光元件5的发光缺陷。检测器32设置在点亮部2和一组多个发光元件5之间。具体地，检测器32设置在点亮部2的DC/DC转换器22和一组多个发光元件5之间。
在本发明中，“发光元件5的发光缺陷”不仅包括电流未流经发光元件5并且发光元件5不发射光的缺陷，而且还包括电流继续流经发光元件5、但在发光元件5的振荡操作中发生问题因而发光元件5不发射光的振荡缺陷。此外，通过“发光元件5不发射光”所描述的状态不仅包括发光元件5不发射光的状态，而且还包括发光元件5不发射预期光的状态。
如图4所示，检测器32包括两个或更多个(在该图所示的示例中为四个)开关33、处理器34和放大器35。
(4.3.1)开关
两个或更多个开关33并联连接至多个发光元件5。各开关33例如是半导体继电器(固态继电器)，并且包括用作发光元件的发光二极管36和用作受光元件的光电晶体管37。在点亮部2的DC/DC转换器22的输出端之间，两个或更多个开关33的光电晶体管37彼此串联连接。此外，在各开关33中，发光二极管36连接至处理器34，并且光电晶体管37并联连接至发光元件5。发光二极管36的阳极连接至处理器34，并且发光二极管36的阴极电气连接至DC/DC转换器22(参见图3)的低电压侧输出端。各开关33的发光二极管36由处理器34控制以接通和断开光电晶体管37。
在本实施例中，两个或更多个开关33与多个发光元件5一对一地对应，并且各开关33并联连接至发光元件5中的对应发光元件。在图4所示的示例中，两个或更多个开关33是第一开关331、第二开关332、第三开关333和第四开关334。第一开关331对应于第一发光元件51，并且第二开关332对应于第二发光元件52。第三开关333对应于第三发光元件53，并且第四开关334对应于第四发光元件54。
在各开关33中，在光电晶体管37处于断开(OFF)状态时，电流流经发光元件5中的对应发光元件。然而，在光电晶体管37处于接通(ON)状态时，发光元件5中的对应发光元件的两端短路，因此没有电流流经发光元件5中的对应发光元件。例如，在第一开关331的光电晶体管37处于断开状态时，电流流经第一发光元件51。然而，在第一开关331的光电晶体管37处于接通状态时，没有电流流经第一发光元件51。同样，在第二开关332的光电晶体管37处于断开状态时，电流流经第二发光元件52。然而，在第二开关332的光电晶体管37处于接通状态时，没有电流流经第二发光元件52。在第三开关333的光电晶体管37处于断开状态时，电流流到第三发光元件53。然而，在第三开关333的光电晶体管37处于接通状态时，没有电流流经第三发光元件53。在第四开关334的光电晶体管37处于断开状态时，电流流经第四发光元件54。然而，在第四开关334的光电晶体管37处于接通状态时，没有电流流经第四发光元件54。
(4.3.2)放大器
放大器35是被配置为放大感光器31的输出的放大器。放大器35放大感光器31的输出并将该输出输出至处理器34。
(4.3.3)处理器
处理器34例如是微控制器，并被配置为控制两个或更多个开关33。具体地，处理器34单独地控制两个或更多个开关33的接通和断开，以控制向着多个发光元件5各自的电流供给。
如果在处理器34逐一地顺次接通两个或更多个开关33时、感光器31所检测到的光的光量未改变，则处理器34检测出在多个发光元件5中发生的发光缺陷。换句话说，如果在处理器34逐一地顺次接通两个或更多个开关33时、感光器31所检测到的光的光量未改变，则处理器34检测出多个发光元件5中的存在发光缺陷的发光元件5。以下将说明更多详情。
在用于检测发光缺陷的时间段内，处理器34逐一地顺次接通与多个发光元件5一对一地相对应的两个或更多个开关33，并且感光器31检测从多个发光元件5发射的光。处理器34经由放大器35获取感光器31的检测值。处理器34在用于检测发光缺陷的时间段内检测从多个发光元件5发射的光的变化。
假定在多个发光元件5各自中，发光元件5正常。在这种情况下，在开关33中的对应开关接通以使发光元件5的两端短路时，发光元件5不再发射光。这样减少了从多个发光元件5发射的光。也就是说，感光器31的检测值变得小于在发光元件5的两端短路之前的检测值。
另一方面，在发光元件5存在发光缺陷的情况下，存在发光缺陷的发光元件5可能存在尽管电流流经发光元件5但没有发射光的振荡缺陷。也就是说，即使在将与存在振荡缺陷的发光元件5相对应的开关33接通以使存在振荡缺陷的发光元件5的两端短路时，与存在振荡缺陷的发光元件5的两端短路之前的发光元件5相同，存在振荡缺陷的发光元件5也仍不输出光。因而，在与存在振荡缺陷的发光元件5相对应的开关33接通和断开之前和之后，从多个发光元件5发射的光未改变。因而，在与存在振荡缺陷的发光元件5相对应的开关33接通之前和之后，感光器31的检测值未改变。处理器34将在开关33接通之前和之后感光器31的检测值未改变的发光元件5检测为存在发光缺陷的发光元件5。
如上所述，与多个发光元件5相对应的两个或更多个开关33逐一地顺次接通，并且利用感光器31测量从多个发光元件5发射的光的光量，这使得能够从多个发光元件5中检测出存在发光缺陷的发光元件5。
在本实施例中，处理器34参考阈值来检测出存在发光缺陷的发光元件5。处理器34逐一地顺次接通两个或更多个开关33，并且在两个或更多个开关33中的任何开关在断开状态和接通状态之间切换、但感光器31所检测到的光的光量保持大于或等于阈值时，处理器34检测出存在发光缺陷的发光元件5。也就是说，在开关33接通之前和之后光量保持大于或等于阈值时，处理器34检测出存在发光缺陷的发光元件5。
阈值预先存储在处理器34的诸如存储器等的存储部中。这里，阈值是比感光器31最近(例如，在开关33接通之前)检测到的光的光量低的值。注意，阈值的初始值大于或等于在多个发光元件5中的一个发光元件5没有发射光的情况下感光器31所检测到的光的光量，并且该初始值小于在所有的多个发光元件5都发射光的情况下感光器31所检测到的光的光量。例如，感光器31的检测值的90％是阈值，但阈值是根据感光器31的位置而改变的值。此外，阈值是还根据发光元件5的数量而改变的值。
这里，将说明处理器34逐一地顺次接通两个或更多个开关33的切换间隔。切换间隔是在发光缺陷检测处理的时间段内的、从开关33自接通状态切换为断开状态的时间点起直到另一开关33自断开状态切换为接通状态的时间点为止的时间。切换间隔例如是从第一开关331自接通状态切换为断开状态的时间点起直到第二开关332自断开状态切换为接通状态的时间点为止的时间。切换间隔优选短于或等于100ms。更优选地，切换间隔短于或等于10ms。注意，开关33处于接通状态的时间段例如是30ms。
因而，可以缩短用于对多个发光元件5进行发光缺陷的检测的时间段。
当在正常模式中(在两个或更多个开关33全部处于断开状态时)、感光器31所检测到的光量减少时，多个发光元件5至少之一可能存在发光缺陷。因而，在感光器31所检测到的光量减少时，检测器32进行发光缺陷检测处理。具体地，在感光器31的检测值降至阈值以下时，处理器34逐一地顺次接通两个或更多个开关33，以检测存在发光缺陷的发光元件5。
此外，检测器32在多个发光元件5的点亮的初始阶段进行发光缺陷检测处理。在本发明中，“多个发光元件5的点亮的初始阶段”是指在开始向发光元件5供给电流之后光通量稳定的时间点或时间段。例如，“多个发光元件5的点亮的初始阶段”是从接通电源P1或进行调光的时间点起的数分钟或更短的时间段。具体地，“多个发光元件5的点亮的初始阶段”是从接通电源P1或进行调光的时间点起的5～10分钟的时间段。“多个发光元件5的点亮的初始阶段”优选是从接通电源P1或进行调光的时间点起的三秒或更短的时间段。换句话说，“多个发光元件5的点亮的初始阶段”是指从电源P1接通的时间点起直到经过第一时间段为止的时间段。处理器34在从电源P1接通的时间点起直到经过第一时间段为止的时间段内逐一地顺次接通两个或多个开关33，以检测存在发光缺陷的发光元件5。因而，在发光元件5突然停止发射光时，也能相对较早地检测出存在发光缺陷的发光元件5。注意，处理器34可以被配置为在从电源P1接通的时间点起直到经过(比第一时间段短的)第二时间段为止不进行发光缺陷检测处理，因为在该时间段内，来自多个发光元件5的光的光量可能不稳定。
在本实施例的处理器34检测到存在发光缺陷的发光元件5时，处理器34使得与存在发光缺陷的发光元件5相对应的开关33在发光缺陷检测处理之后的操作期间保持接通，以使存在发光缺陷的发光元件5的两端短路。例如，假定多个发光元件5的第二发光元件52存在发光缺陷。在这种情况下，在处理器34检测到第二发光元件52的发光缺陷时，处理器34使得与第二发光元件52相对应的第二开关332在发光缺陷检测处理之后的操作期间保持接通，以使第二发光元件52的两端短路。来自点亮部2的电流流经第一发光元件51、第二开关332的光电晶体管37、第三发光元件53和第四发光元件54。也就是说，没有电流流经第二发光元件52。
因而，在从多个发光元件5中电气地去除了存在发光缺陷的发光元件5的状态下，可以继续使用。此外，电流不再流过存在发光缺陷的发光元件5，因此可以减少在存在发光缺陷的发光元件5处产生的热。
此外，在本实施例的处理器34检测到存在发光缺陷的发光元件5时，处理器34使得与存在发光缺陷的发光元件5相对应的开关33在发光缺陷检测处理之后的操作期间保持接通，以使存在发光缺陷的发光元件5的两端短路，并且增加要供给至多个发光元件5的电流。例如，在多个发光元件5的第二发光元件52存在发光缺陷时，第二发光元件52不发光，因而在多个发光元件5中发射光的发光元件5的数量是三个。因而，与所有的多个发光元件5都发射光的情况相比，来自多个发光元件5的光的光量减少。这里，在处理器34检测到第二发光元件52的发光缺陷时，处理器34控制点亮部2，使得从点亮部2供给至多个发光元件5的电流增加。例如，由于发光缺陷减少了从多个发光元件5发射的光的光量，因此处理器34进行增加向多个发光元件5的驱动电流的处理。处理器34向DC/DC转换器22的DC/DC控制器223输出信号以增加驱动电流。在发光元件5的数量为四个时，处理器34将驱动电流增加了约30％。注意，在发生第二发光缺陷的情况下，在发生第一个发光缺陷时，处理器34不增加驱动电流。也就是说，处理器34在正常情况与一个或多个发光元件5存在发光缺陷的情况这两个情况之间切换驱动电流。
因而，流经第一发光元件51、第三发光元件53和第四发光元件54的电流增加，由此可以增加从第一发光元件51、第三发光元件53和第四发光元件54发射的光的光量。
因而，在从多个发光元件5中去除了存在发光缺陷的发光元件5的状态下，也可以缓解从多个发光元件5发射的光的光量的减少。
在本实施例中，在点亮部2对多个发光元件5进行调光控制时，处理器34停止检测发光缺陷的处理。点亮部2进行调光控制的时间段是从多个发光元件5发射的光的光量改变的时间段，因此难以判断光量的变化是否是由于发光缺陷而引起的。因而，在进行调光控制期间，停止检测发光缺陷的处理。
因而，在从多个发光元件5发射的光的光量由于调光控制而改变时，不进行发光缺陷的检测，因此可以减少发光缺陷的误检测的次数。
另一方面，在检测器32进行检测发光缺陷的处理时，点亮部2不进行调光控制。如上所述，在点亮部2进行调光控制时，从多个发光元件5发射的光的光量改变。因此，如果在检测器32进行检测发光缺陷的处理时、点亮部2对多个发光元件5进行调光控制，则难以判断光量的变化是否是由于发光缺陷而引起的。因而，在检测器32进行检测发光缺陷的处理时，点亮部2不对多个发光元件5进行调光控制。
如上所述，在进行检测发光缺陷的处理时，不进行改变从多个发光元件发射的光的光量的调光控制，因此可以减少发光缺陷的误检测的次数。
(5)操作示例
以下将说明照明点亮设备1的操作示例。具体地，说明多个发光元件5的点亮的初始阶段的操作示例和从多个发光元件5发射的光改变的示例。
(5.1)多个发光元件5的点亮的初始阶段的操作示例
将参考图7来说明在多个发光元件5的点亮的初始阶段照明点亮设备1的操作示例。在图7所示的示例中，第二发光元件52存在发光缺陷，并且第一发光元件51、第三发光元件53和第四发光元件54正常。
在电源P1接通时，点亮部2将具有电流值i11的电流I1输出至多个发光元件5(时刻t1)。由于两个或更多个开关33全部处于断开状态，因此电流流经所有的多个发光元件5，并且所有的多个发光元件5都发射光。感光器31检测来自多个发光元件5的光，并将检测结果输出为检测值E2。
然后，在从电源P1接通起直到经过规定时间段为止的时间段内，检测器32进行发光缺陷检测处理(时刻t2～时刻t6)。
在时刻t2，检测器32将第一开关331从断开状态切换为接通状态。在第一开关331处于接通状态的时间段(时刻t2～时刻t3)内，第一发光元件51的两端短路，因此电流不流经第一发光元件51。在第一发光元件51正常的情况下，在电流不再流经第一发光元件51时，第一发光元件51不发射光。因而，从多个发光元件5发射的光减少。因而，感光器31将检测结果输出为比检测值E2小的检测值E3。另一方面，在第一发光元件51存在发光缺陷时，来自多个发光元件5的光保持恒定。因而，感光器31将检测结果输出为检测值E2。
在时刻t3，检测器32将第一开关331从接通状态切换为断开状态，并将第二开关332从断开状态切换为接通状态。在第二开关332处于接通状态的时间段(时刻t3～时刻t4)内，第二发光元件52的两端短路，因此电流不流经第二发光元件52。然而，由于第二发光元件52存在发光缺陷，因此在第二发光元件52的两端被短路之前，第二发光元件52也不发光。因而，感光器31将检测结果输出为检测值E2。
在时刻t4，检测器32将第二开关332从接通状态切换为断开状态，并将第三开关333从断开状态切换为接通状态。在第三开关333处于接通状态的时间段(时刻t4～时刻t5)内，第三发光元件53的两端被短路，因此电流不流经第三发光元件53。由于第三发光元件53正常，因此在电流不再流经第三发光元件53时，第三发光元件53不发射光。因而，感光器31将检测结果输出为比检测值E2小的检测值E3。
在时刻t5，检测器32将第三开关333从接通状态切换为断开状态，并将第四开关334从断开状态切换为接通状态。在第四开关334处于接通状态的时间段(时刻t5～时刻t6)内，第四发光元件54的两端被短路，因此没有电流流经第四发光元件54。由于第四发光元件54正常，因此在没有电流流经第四发光元件54时，第四发光元件54不发光。因而，感光器31将检测结果输出为比检测值E2小的检测值E3。
在发光缺陷检测处理结束时(时刻t6)，检测器32将与存在发光缺陷的第二发光元件52相对应的第二开关332切换为接通状态，以便使第二发光元件52的两端短路。然后，检测器32控制点亮部2的DC/DC转换器22，使得向着第一发光元件51、第三发光元件53和第四发光元件54的电流I1具有电流值i12。因而，在使存在发光缺陷的发光元件5的两端短路的情况下从多个发光元件5发射的光的光量可以近似于在所有的多个发光元件5都正常的情况下的光的光量。
因而，在电源P1接通时，照明点亮设备1进行发光缺陷检测处理。顺次接通第一开关331～第四开关334。在这种情况下，仅在第二开关332接通时，感光器31的检测值才不改变。因此，可以看出第二发光元件52存在发光缺陷。然后，照明点亮设备1接通第二开关332以将电流I1的电流值从电流值i11改变为电流值i12。
(5.2)在感光器的检测值减小的情况下的操作示例
将参考图8来说明在感光器31的检测值减小的情况下的照明点亮设备1的操作示例。在图8所示的示例中，第二发光元件52存在发光缺陷，第一发光元件51、第三发光元件53和第四发光元件54正常。
在正常模式中，点亮部2将具有电流值i11的电流I1输出至多个发光元件5。由于两个或更多个开关33全部处于断开状态，因此电流流经所有的多个发光元件5，并且所有的多个发光元件5都发射光。感光器31检测来自多个发光元件5的光，并将检测结果输出为检测值E1。
在时刻t1、从多个发光元件5发射的光的光量减少时，感光器31的检测结果从检测值E1减小为检测值E2。在检测到光的变化时，检测器32进行发光缺陷检测处理(时刻t2～时刻t6)。
在时刻t2，检测器32将第一开关331从断开状态切换为接通状态。在第一开关331处于接通状态的时间段(时刻t2～时刻t3)内，第一发光元件51的两端被短路，因此电流不流过第一发光元件51。在第一发光元件51正常的情况下，在电流不再流经第一发光元件51时，第一发光元件51不发射光。因而，从多个发光元件5发射的光减少。因而，感光器31将检测结果输出为比检测值E2小的检测值E3。
在时刻t3，检测器32将第一开关331从接通状态切换为断开状态，并将第二开关332从断开状态切换为接通状态。在第二开关332处于接通状态的时间段(时刻t3～时刻t4)内，第二发光元件52的两端被短路，因此电流不流经第二发光元件52。然而，由于第二发光元件52存在发光缺陷，因而在第二发光元件52的两端短路之前，第二发光元件52也不发射光。因此，感光器31将检测结果输出为检测值E2。
在时刻t4，检测器32将第二开关332从接通状态切换为断开状态，并将第三开关333从断开状态切换为接通状态。在第三开关333处于接通状态的时间段(时刻t4～时刻t5)内，第三发光元件53的两端被短路，因此电流不流经第三发光元件53。由于第三发光元件53正常，因此在电流不再流经第三发光元件53时，第三发光元件53不发射光。因而，感光器31将检测结果输出为比检测值E2小的检测值E3。
在时刻t5，检测器32将第三开关333从接通状态切换为断开状态，并将第四开关334从断开状态切换为接通状态。在第四开关334处于接通状态的时间段(时刻t5～时刻t6)内，第四发光元件54的两端被短路，因此电流不流经第四发光元件54。由于第四发光元件54正常，因此在电流不再流经第四发光元件54时，第四发光元件54不发射光。因而，感光器31将检测结果输出为比检测值E2小的检测值E3。
在发光缺陷检测处理结束时(时刻t6)，检测器32将与存在发光缺陷的第二发光元件52相对应的第二开关332切换为接通状态，以便使第二发光元件52的两端短路。然后，检测器32控制点亮部2的DC/DC转换器22，使得向着第一发光元件51、第三发光元件53和第四发光元件54的电流I1具有电流值i12。因而，使存在发光缺陷的发光元件5的两端短路的情况下从多个发光元件5发射的光的光量可以近似于所有的多个发光元件5都正常的情况下的光的光量。
在电源P1变为断开时(时刻t7)，向着多个发光元件5的电流供给也停止。此外，第二开关332进入断开状态。
因而，第二发光元件52的发光缺陷使感光器31的检测值减小，由此照明点亮设备1进行发光缺陷检测处理。顺次接通第一开关331～第四开关334。在这种情况下，仅在第二开关332接通时，感光器31的检测值才不改变。因此，可以看出第二发光元件52存在发光缺陷。然后，照明点亮设备1接通第二开关332以将电流I1的电流值从电流值i11改变为电流值i12。
(6)照明点亮设备的操作
以下将参考图9来说明照明点亮设备1的操作(使用照明点亮设备1的照明点亮方法)。
接通电源P1以向照明点亮设备1供给电力(步骤S1)。在照明点亮设备1中，检测器32的处理器34对从多个发光元件5的点亮的初始阶段起的时间进行计时。然后，照明点亮设备1开始向多个发光元件5供给电流I1(步骤S2)。照明点亮设备1将具有电流值i11的电流I1供给至多个发光元件5。电流值i11是恒定值。
在照明点亮设备1中，处理器34测量从多个发光元件5发射并由感光器31检测到的光(步骤S3)。感光器31检测从多个发光元件5发射的光，并将检测值输出至处理器34。处理器34设置阈值(步骤S4)。处理器34将例如电流检测值的0.9倍大的值设置为阈值。处理器34根据发光元件5的数量来改变阈值。
处理器34逐一地顺次接通两个或更多个开关33，并确认感光器31的检测值(步骤S5)。如果不存在接通不会导致感光器31的检测值改变的开关33(步骤S6中为“否”)，则处理器34读取从多个发光元件5发射并由感光器31检测到的光(步骤S7)。处理器34新设置阈值(步骤S8)。处理器34将例如当前测量值(最近的值)的0.9倍大的值设置为阈值。基于该最近的值来设置阈值，由此可以减少由于诸如由发光元件5的温度特性引起的变化或者由于发光元件5的老化引起的变化等的缓慢变化而发生的误检测的次数。
然后，在调光信号接收器23未接收到用于使多个发光元件5熄灭的熄灭信号时(步骤S9中为“否”)，处理器34将感光器31的检测值与阈值进行比较(步骤S10)。在感光器31的检测值大于或等于阈值时(步骤S10中为“否”)，处理返回到步骤S7。
如果在感光器31的检测值小于阈值时(步骤S10中为“是”)、对应的发光元件5存在发光缺陷并且处于接通状态的开关33的数量不是三个(步骤S11中为“否”)，则处理器34逐一地顺次接通两个或更多个开关33，并确认感光器31的检测值(步骤S5)。
在步骤S6中，如果存在接通不会导致感光器31的检测值改变的开关33(步骤S6中为“是”)，则处理器34接通开关33(步骤S12)。与开关33相对应的发光元件5的两端被短路。此外，处理器34增加向着多个发光元件5的电流I1(步骤S13)。然后，处理进入步骤S7。
在步骤S9中，如果调光信号接收器23接收到熄灭信号(步骤S9中为“是”)，则停止来自电源P1的电力供给(步骤S14)。同样，在步骤S11中、对应的发光元件5存在发光缺陷并且处于接通状态的开关33的数量为三个时(步骤S11中为“是”)，也停止来自电源P1的电力供给(步骤S14)。
该操作使得照明点亮设备1能够检测到存在发光缺陷的发光元件5。也就是说，照明点亮设备1可以检测到电流流经但不发射光的发光元件5。
(7)效果
照明点亮设备1包括检测器32。检测器32被配置为在两个或更多个开关33被逐一地接通时、从多个发光元件5发射并由一个感光器31检测到的光量不改变的情况下，检测在多个发光元件5中发生的发光缺陷。因而，可以精确地检测到继续有电流流经但不发射光的发光元件5，即存在发光缺陷的发光元件5。与基于供给至多个发光元件5的电流或施加至多个发光元件5的电压来检测存在发光缺陷的发光元件5的情况相比，可以提高存在发光缺陷的发光元件5的检测精度。
在照明点亮设备1中，在感光器31所检测到的光的光量减少时，检测器32进行发光缺陷检测处理。因而，在发生发光缺陷时，能相对较早地检测到发光缺陷。
照明点亮设备1包括与多个发光元件5一对一地相对应的两个或更多个开关33。因而，在开关33接通时从多个发光元件5发射的光的光量未改变的情况下，可以立即检测到存在发光缺陷的发光元件5。
在照明点亮设备1中，在处理器34检测到存在发光缺陷的发光元件5时，处理器34使存在发光缺陷的发光元件5的两端短路。因而，在从多个发光元件5中电气去除了存在发光缺陷的发光元件5的状态下，可以继续使用。此外，电流不再流经存在发光缺陷的发光元件5，因此可以减少在存在发光缺陷的发光元件5处产生的热。
在照明点亮设备1中，在处理器34检测到存在发光缺陷的发光元件5时，处理器34使存在发光缺陷的发光元件5的两端短路，并且使要供给至多个发光元件5的电流增加。因而，在从多个发光元件5中去除了存在发光缺陷的发光元件5的状态下，也可以减轻从多个发光元件5发射的光的光量的减少。
在照明点亮设备1中，检测器32在多个发光元件5的点亮的初始阶段进行发光缺陷检测处理。因而，在发光元件5突然停止发光时，也能相对较早地检测到存在发光缺陷的发光元件5。此外，在多个发光元件5的每次点亮的初始阶段进行发光缺陷检测处理，并且由此，可以减少发光元件5的发光缺陷的误检测的次数，并且可以减少未检测到发光缺陷的次数。
在照明点亮设备1中，基于最近的值来设置阈值，由此可以减少由于诸如由发光元件5的温度特性引起的变化或者由于发光元件5的老化引起的变化等的缓慢变化而发生的误检测的次数。
在照明点亮设备1中，在点亮部2进行调光控制时，检测器32停止发光缺陷检测处理。因而，在从多个发光元件5发射的光的光量由于调光控制而改变时，不进行发光缺陷的检测，因此可以减少发光缺陷的误检测的次数。
在照明点亮设备1中，在检测器32进行发光缺陷检测处理时，点亮部2不进行调光控制。因而，在进行检测发光缺陷的处理时，不进行改变从多个发光元件5发射的光的光量的调光控制，因此可以减少发光缺陷的误检测的次数。注意，检测器32经由控制线282从DC/DC转换器22的DC/DC控制器223接收如下的信号，该信号表示点亮部2是否进行调光控制。
在照明点亮设备1中，用于接通开关33的切换间隔短于或等于100ms。因而，可以缩短用于对多个发光元件5进行发光缺陷的检测的时间段。
照明器具7设置有光纤8。因而，不论照明装置4的布置如何，都可以将光输出部9布置在各种场所。
(8)变形例
以下将说明本实施例的变形例。
在本实施例中，如图5所示，照明装置4和光输出部9是分开设置的。然而，作为本实施例的变形例，如图10所示，照明装置4a和光输出部9a可以彼此一体化。根据本变形例的照明器具7a包括照明装置4a和光输出部9a。照明装置4a的组件和光输出部9a的组件容纳在一个壳体中。由于照明装置4a和光输出部9a彼此一体地设置，因此可以省略光纤8(参见图6)。注意，除设置有壳体41(参见图6)以外，照明装置4a具有与照明装置4相同的功能。除设置有壳体93(参见图6)以外，光输出部9a具有与光输出部9相同的功能。
多个发光元件5各自可以是除激光二极管以外的固态发光元件。多个发光元件5各自例如可以是发光二极管(LED)。
感光器31可以是除光电二极管以外的光检测元件。感光器31例如可以是光电晶体管、光伏电池或CdS电池。
两个或更多个开关33不必一对一地对应于多个发光元件5，并且两个或更多个开关33至少之一可以对应于多个发光元件5。例如，第一开关331～第四开关334各自可以对应于不同的两个或更多个发光元件5。可选地，第一开关331可以对应于两个或更多个发光元件5，并且第二开关332、第三开关333和第四开关334各自可以对应于一个发光元件5。
AC/DC转换器21和DC/DC转换器22可以彼此一体化，并且可以形成被配置为基于来自电源P1的输入电压来输出作为直流的恒定电流的电路。
AC/DC转换器21可以是非隔离型转换器。AC/DC转换器21不限于反激式转换器，而且可以是斩波转换器。
DC/DC转换器22不限于斩波转换器，而且可以是隔离型转换器。DC/DC转换器22根据发光元件5的电压和AC/DC转换器21的输出电压之间的关系，可以是升压斩波器或者升压/降压斩波器。
各个变形例提供了与本实施例所提供的效果类似的效果。
上述的实施例和变形例包括在本发明的各种实施例和变形例中。可以根据设计等对上述的实施例和变形例进行各种修改，只要实现本发明的目的即可。
(方面)
基于上述的实施例和变形例，公开了以下方面。
第一方面的照明点亮设备(1)被配置为使彼此串联连接的多个发光元件(5)点亮。照明点亮设备(1)包括一个感光器(31)和检测器(32)。一个感光器(31)被配置为检测从多个发光元件(5)发射的光。检测器(32)被配置为基于一个感光器(31)所检测到的光来进行检测多个发光元件(5)中的发光缺陷的检测处理(发光缺陷检测处理)。检测器(32)被配置为在一个感光器所检测到的光的光量减少的情况下，进行该检测处理。多个发光元件(5)被划分成各自包括至少一个发光元件(5)的两个或更多个组。检测器(32)包括两个或更多个开关(33)和处理器(34)。两个或更多个开关(33)并联连接至多个发光元件(5)。两个或更多个开关(33)一对一地对应于两个或更多个组。两个或更多个开关(33)中的各开关串联连接至两个或更多组中的对应组。处理器(34)被配置为在检测处理期间两个或更多个开关(33)逐一地顺次接通时、一个感光器(31)所检测到的光的光量保持不变的情况下，从多个发光元件(5)中检测出存在发光缺陷的发光元件(5)。
利用第一方面的照明点亮设备(1)，可以精确地检测出电流继续流经但不发射光的发光元件(5)、即存在发光缺陷的发光元件(5)。与基于供给至多个发光元件(5)的电流或施加至多个发光元件(5)的电压来检测存在发光缺陷的发光元件(5)的情况相比，可以提高存在发光缺陷的发光元件(5)的检测精度。
在参考第一方面的第二方面的照明点亮设备(1)中，两个或更多个开关(33)一对一地对应于多个发光元件(5)，并且各开关并联连接至多个发光元件(5)中的对应发光元件。
利用第二方面的照明点亮设备(1)，在接通开关(33)的情况下光量未改变时，可以立即检测出存在发光缺陷的发光元件(5)。
在参考第一方面或第二方面的第三方面的照明点亮设备(1)中，在处理器(34)检测出存在发光缺陷的发光元件(5)时，处理器(34)使得两个或更多个开关中的与存在发光缺陷的发光元件(5)相对应的开关(33)在检测处理之后的操作期间保持接通，以使存在发光缺陷的发光元件(5)的两端短路。
在第三方面的照明点亮设备(1)中，在从多个发光元件(5)中电气地去除了存在发光缺陷的发光元件(5)的状态下，可以继续使用。此外，电流不再流经存在发光缺陷的发光元件(5)，因此可以减少在存在发光缺陷的发光元件(5)处产生的热。
在参考第三方面的第四方面的照明点亮设备(1)中，在处理器(34)检测出存在发光缺陷的发光元件(5)时，处理器(34)使得与存在发光缺陷的发光元件(5)相对应的开关(33)在检测处理之后的操作期间保持接通以使存在发光缺陷的发光元件(5)的两端短路，并且增加要供给至除存在发光缺陷的发光元件(5)以外的多个发光元件(5)的电流。
利用第四方面的照明点亮设备(1)，在从多个发光元件(5)中电气地去除了存在发光缺陷的发光元件(5)的状态下，也可以减轻从多个发光元件(5)发射的光的光量的减少。
在参考第一方面至第四方面中任一方面的第五方面的照明点亮设备(1)中，检测器(32)在多个发光元件(5)的点亮的初始阶段进行检测处理。
利用第五方面的照明点亮设备(1)，在发光元件(5)突然停止发射光时，也可以相对较早地检测出存在发光缺陷的发光元件(5)。此外，在多个发光元件(5)的每次点亮的初始阶段进行检测处理，由此减少了发光元件(5)的发光缺陷的误检测的次数并且减少了未检测出发光缺陷的次数。
在参考第一方面至第五方面中任一方面的第六方面的照明点亮设备(1)中，处理器(34)逐一地顺次接通两个或更多个开关(33)，并且在两个或更多个开关(33)中的任何开关在断开状态和接通状态之间切换而光量保持大于或等于阈值的情况下，处理器(34)检测出存在发光缺陷的发光元件(5)。阈值是比一个感光器(31)最近检测到的光的光量小的值。
利用第六方面的照明点亮设备(1)，基于最近的值来设置阈值，由此可以减少由于诸如由发光元件(5)的温度特性引起的变化或者由于发光元件(5)的老化引起的变化等的缓慢变化而发生的误检测的次数。
根据第一方面至第六方面中任一方面的第七方面的照明点亮设备(1)还包括点亮部(2)。点亮部(2)具有对多个发光元件(5)进行点亮及调光的调光功能。检测器(32)被配置为在点亮部(2)对多个发光元件(5)进行调光控制期间，停止检测处理。
根据第七方面的照明点亮设备(1)，在从多个发光元件(5)发射的光的光量由于调光控制而改变时，不进行发光缺陷的检测，因此可以减少发光缺陷的误检测的次数。
根据第一方面至第七方面中任一方面的第八方面的照明点亮设备(1)还包括点亮部(2)。点亮部(2)具有对多个发光元件(5)进行点亮及调光的调光功能。点亮部(2)被配置为在检测器(32)进行检测处理时，放弃对多个发光元件(5)的调光控制。
利用第八方面的照明点亮设备(1)，在进行检测发光缺陷的处理时，不进行改变从多个发光元件(5)发射的光的光量的调光控制，因此可以减少发光缺陷的误检测的次数。
在参考第一方面至第八方面中任一方面的第九方面的照明点亮设备(1)中，处理器(34)以短于或等于100ms的切换间隔逐一地顺次接通两个或更多个开关(33)。
利用第九方面的照明点亮设备(1)，可以缩短用于对多个发光元件(5)进行发光缺陷的检测的时间段。
在参考第一方面至第九方面中任一方面的第十方面的照明点亮设备(1)中，多个发光元件(5)中的各发光元件是激光二极管。
在参考第五方面的第十一方面的照明点亮设备(1)中，多个发光元件的点亮的初始阶段是接通电源或进行调光的时间点的十分钟内的时间段。
第十二方面的照明装置(4；4a)包括第一方面至第十一方面中任一方面的照明点亮设备(1)、多个发光元件(5)和光学部(6)。光学部(6)被配置为引导从多个发光元件(5)发射的光。
利用第十二方面的照明装置(4；4a)，可以在照明点亮设备(1)中精确地检测出电流流经但不发射光的发光元件(5)，即存在发光缺陷的发光元件(5)。与基于供给至多个发光元件(5)的电流或施加至多个发光元件(5)的电压来检测存在发光缺陷的发光元件(5)的情况相比，可以提高存在发光缺陷的发光元件(5)的检测精度。
在参考第十二方面的第十三方面的照明装置(4；4a)中，一个感光器(31)被配置为检测从多个发光元件(5)发射的光的一部分。
利用第十三方面的照明装置(4；4a)，可以提高一个感光器(3)的布置的自由度。
在参考第十三方面的第十四方面的照明装置(4；4a)中，一个感光器(31)被配置为检测包括在从多个发光元件(5)发射的光中并且被光学部(6)反射的光。
利用第十四方面的照明装置(4；4a)，可以基于在与实际发射光的状态相似的状态下的光来进行存在发光缺陷的发光元件(5)的检测。
第十五方面的照明器具(7；7a)包括第十二方面至第十四方面中任一方面的照明装置(4；4a)以及光输出部(9；9a)。光输出部(9；9a)被配置为输出从照明装置(4；4a)的光学部(6)引导的光。
利用第十五方面的照明器具(7；7a)，可以在照明点亮设备(1)中精确地检测出电流流经但不发射光的发光元件(5)、即存在发光缺陷的发光元件(5)。与基于供给至多个发光元件(5)的电流或施加至多个发光元件(5)的电压来检测存在发光缺陷的发光元件(5)的情况相比，可以提高存在发光缺陷的发光元件(5)的检测精度。
参考第十五方面的第十六方面的照明器具(7)还包括光纤(8)。光纤(8)被配置为将来自照明装置(4)的光学部(6)的光引导至光输出部(9)。
利用第十六方面的照明器具(7)，不论照明装置(4)的布置如何，都可以将光输出部(9)布置在各种场所。
在参考第一方面至第十一方面中任一方面的第十七方面的照明点亮设备(1)中，两个或更多个开关(33)中的各开关均是半导体继电器。
在参考第十七方面的第十八方面的照明点亮设备(1)中，两个或更多个开关(33)各自包括发光二极管(36)和用作受光元件的光电晶体管(37)。
在参考第一方面至第十一方面中任一方面的第十九方面的照明点亮设备(1)中，处理器(34)对多个发光元件(5)各自进行作为这多个发光元件(5)中的发光缺陷的振荡缺陷的检测。在振荡缺陷中，尽管电流流经发光元件(5)，但发光元件(5)不发射光。

Claims (16)

1.一种照明点亮设备，其被配置为使彼此串联连接的多个发光元件点亮，所述照明点亮设备包括：
一个感光器，其被配置为检测从所述多个发光元件发射的光；以及
检测器，其被配置为基于所述一个感光器所检测到的光来进行检测所述多个发光元件中的发光缺陷的检测处理，
其中，所述发光缺陷包括以下缺陷中的至少一者：
电流不流经所述发光元件、并且所述发光元件不发射光的缺陷，以及
电流流经所述发光元件、但所述发光元件不发射光的缺陷，
所述发光元件不发射光的状态包括以下状态中的至少一者：
所述发光元件完全不发射光的状态，以及
所述发光元件不发射预期光的状态，
所述检测器被配置为在所述一个感光器所检测到的光的光量减少的情况下，进行所述检测处理，
所述多个发光元件被划分成各自包括至少一个发光元件的两个或更多个组，以及
所述检测器包括：
与所述多个发光元件并联连接的两个或更多个开关，所述两个或更多个开关一对一地对应于所述两个或更多个组，所述两个或更多个开关中的各开关并联连接至所述两个或更多个组中的对应组，以及
处理器，其被配置为在所述检测处理期间所述两个或更多个开关逐一地顺次接通时、所述一个感光器所检测到的光的光量保持不变的情况下，从所述多个发光元件中检测出存在发光缺陷的发光元件。
2.根据权利要求1所述的照明点亮设备，其中，
所述两个或更多个开关一对一地对应于所述多个发光元件，并且各开关并联连接至所述多个发光元件中的对应发光元件。
3.根据权利要求1所述的照明点亮设备，其中，
在所述处理器检测出存在发光缺陷的发光元件的情况下，所述处理器使得所述两个或更多个开关中的与存在发光缺陷的发光元件相对应的开关在所述检测处理之后的操作期间保持接通，以使存在发光缺陷的发光元件的两端短路。
4.根据权利要求3所述的照明点亮设备，其中，
在所述处理器检测出存在发光缺陷的发光元件的情况下，所述处理器使得与存在发光缺陷的发光元件相对应的开关在所述检测处理之后的操作期间保持接通以使存在发光缺陷的发光元件的两端短路，并且增加要供给至除存在发光缺陷的发光元件以外的所述多个发光元件的电流。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的照明点亮设备，其中，
所述检测器被配置为在所述多个发光元件的点亮的初始阶段进行所述检测处理。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的照明点亮设备，其中，
所述处理器逐一地顺次接通所述两个或更多个开关，
在所述两个或更多个开关中的任何开关在断开状态和接通状态之间切换而所述光量保持大于或等于阈值的情况下，所述处理器检测出存在发光缺陷的发光元件，以及
所述阈值是比所述一个感光器最近检测到的光的光量小的值。
7.根据权利要求1至4中任一项所述的照明点亮设备，还包括：
点亮部，其具有对所述多个发光元件进行点亮及调光的调光功能，
其中，所述检测器被配置为在所述点亮部对所述多个发光元件进行调光控制期间，停止所述检测处理。
8.根据权利要求1至4中任一项所述的照明点亮设备，还包括：
点亮部，其具有对所述多个发光元件进行点亮及调光的调光功能，
其中，所述点亮部被配置为在所述检测器进行所述检测处理时，放弃对所述多个发光元件的调光控制。
9.根据权利要求1至4中任一项所述的照明点亮设备，其中，
所述处理器以短于或等于100ms的切换间隔逐一地顺次接通所述两个或更多个开关。
10.根据权利要求1至4中任一项所述的照明点亮设备，其中，
所述多个发光元件中的各发光元件均是激光二极管。
11.根据权利要求5所述的照明点亮设备，其中，
所述多个发光元件的点亮的初始阶段是接通电源或进行调光的时间点的十分钟内的时间段。
12.一种照明装置，包括：
根据权利要求1至11中任一项所述的照明点亮设备；
所述多个发光元件；以及
光学部，其被配置为引导从所述多个发光元件发射的光。
13.根据权利要求12所述的照明装置，其中，
所述一个感光器被配置为检测从所述多个发光元件发射的光的一部分。
14.根据权利要求13所述的照明装置，其中，
所述一个感光器被配置为检测包括在从所述多个发光元件发射的光中并且被所述光学部反射的光。
15.一种照明器具，包括：
根据权利要求12至14中任一项所述的照明装置；以及
光输出部，其被配置为输出从所述照明装置的所述光学部引导的光。
16.根据权利要求15所述的照明器具，还包括光纤，所述光纤被配置为将来自所述照明装置的所述光学部的光引导至所述光输出部。
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