CN110958057B - 用于待测装置dut的时间信号测量的系统和方法以及形成系统的方法 - Google Patents

用于待测装置dut的时间信号测量的系统和方法以及形成系统的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN110958057B
CN110958057B CN201910885125.XA CN201910885125A CN110958057B CN 110958057 B CN110958057 B CN 110958057B CN 201910885125 A CN201910885125 A CN 201910885125A CN 110958057 B CN110958057 B CN 110958057B
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal
reference clock
optical
device under
under test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201910885125.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN110958057A (zh
Inventor
哈什昂·尼勒斯库马尔·潘迪亚
祝幸
阿尔温柏·帕特尔
崔明雷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yongke Singapore Ltd
Original Assignee
Yongke Singapore Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yongke Singapore Ltd filed Critical Yongke Singapore Ltd
Publication of CN110958057A publication Critical patent/CN110958057A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110958057B publication Critical patent/CN110958057B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • G01R31/31908—Tester set-up, e.g. configuring the tester to the device under test [DUT], down loading test patterns
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/31712—Input or output aspects
    • G01R31/31716—Testing of input or output with loop-back
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/0082—Monitoring; Testing using service channels; using auxiliary channels
    • H04B17/0085—Monitoring; Testing using service channels; using auxiliary channels using test signal generators
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • G01R31/31907—Modular tester, e.g. controlling and coordinating instruments in a bus based architecture
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/08—Locating faults in cables, transmission lines, or networks
    • G01R31/081—Locating faults in cables, transmission lines, or networks according to type of conductors
    • G01R31/083—Locating faults in cables, transmission lines, or networks according to type of conductors in cables, e.g. underground
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/08—Locating faults in cables, transmission lines, or networks
    • G01R31/088—Aspects of digital computing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/58—Testing of lines, cables or conductors
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/16—Indirect frequency synthesis, i.e. generating a desired one of a number of predetermined frequencies using a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/18—Indirect frequency synthesis, i.e. generating a desired one of a number of predetermined frequencies using a frequency- or phase-locked loop using a frequency divider or counter in the loop
    • H03L7/197—Indirect frequency synthesis, i.e. generating a desired one of a number of predetermined frequencies using a frequency- or phase-locked loop using a frequency divider or counter in the loop a time difference being used for locking the loop, the counter counting between numbers which are variable in time or the frequency divider dividing by a factor variable in time, e.g. for obtaining fractional frequency division

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

用于时间信号测量的测量系统包括：基准时钟合成器，其被配置成生成主基准时钟信号；发射器单元，其连接到基准时钟合成器并且被配置成连接到DUT；测控系统，其连接到发射器单元，被配置成控制发射器单元基于从主基准时钟信号导出的第一基准时钟信号生成测试信号模式，并且控制发射器单元基于测试信号模式生成用于通行穿过DUT的信号；以及接收器单元，其连接到基准时钟合成器并被配置成连接到DUT，并被配置成检测信号并基于信号和从主基准时钟信号导出的第二基准时钟信号生成数字信号；其中，该测控系统被配置成基于该数字信号提供包括了测量结果的输出信号。

Description

用于待测装置DUT的时间信号测量的系统和方法以及形成系 统的方法
相关申请的交叉引用
本申请要求2018年9月21日提交的新加坡专利申请No.10201808233T的优先权权益，出于全部用途而将其内容通过引用整体并入本文。
技术领域
本公开的各个方面涉及一种用于待测装置(DUT)的时间信号测量的测量系统。本公开的各个方面涉及一种形成用于待测装置(DUT)的时间信号测量的测量系统的方法。本公开的各个方面涉及一种测量待测装置(DUT)的时间信号的方法。
背景技术
随着传输速度的不断提高，重要的是表征出诸如电缆的无源通信信道的特性，以确保由于信道传输参数引起的信号失真在可以接受的限度内。通常，误码率(BER)测量或眼图测量被用于该评估。然而，BER测量是耗时的，而眼图测量则直观和快速，因此眼图测量是广泛采用的测量方法。当前可用的用于眼图测量的测试设置采用了多个相连的测量设备来执行眼图测量。
发明内容
各种实施例可以提供用于待测装置(DUT)的时间信号测量的测量系统。测量系统可以包括被配置成生成主基准时钟信号的基准时钟合成器。测量系统可以包括发射器单元，其连接到基准时钟合成器并且被配置成连接到待测装置(DUT)的第一端。测量系统可以包括连接到发射器单元的测控系统，测控系统被配置成控制发射器单元基于从主基准时钟信号导出的第一基准时钟信号来生成测试信号模式，并且控制发射器单元基于测试信号模式生成用于通行穿过待测装置(DUT)的信号。测量系统可以包括接收器单元，其连接到基准时钟合成器并且被配置成连接到待测装置(DUT)的第二端，并且接收器单元被配置成检测通行穿过待测装置(DUT)的信号，并且还被配置成基于检测到的信号和从主基准时钟信号导出的第二基准时钟信号来生成数字信号。在各种实施例中，测控系统可以连接到接收器单元，其中，测控系统还可以被配置成基于数字信号提供包括测量结果的输出信号。
各种实施例可以提供一种形成用于待测装置(DUT)的时间信号测量的测量系统的方法。该方法可以包括将基准时钟合成器连接到发射器单元和接收器单元。该方法可以包括将测控系统连接到发射器单元和接收器单元。在各种实施例中，发射器单元可以被配置成连接到待测装置(DUT)的第一端，并且接收器单元可以被配置成连接到待测装置(DUT)的第二端。在各种实施例中，基准时钟合成器可以被配置成生成主基准时钟信号，并且测控系统可以被配置成控制发射器单元基于从主基准时钟信号导出的第一基准时钟信号来生成测试信号模式，并且控制发射器单元基于测试信号模式生成用于通行穿过待测装置(DUT)的信号。在各种实施例中，接收器单元可以被配置成检测通行穿过待测装置(DUT)的信号，并且可以被配置成基于检测到的信号和从主基准时钟信号导出的第二基准时钟信号来生成数字信号。在各种实施例中，测控系统还可以被配置成基于数字信号提供包括测量结果的输出信号。
各种实施例可以提供一种测量待测装置(DUT)的时间信号的方法。该方法可以包括使用基准时钟合成器生成主基准时钟信号。该方法可以包括使用连接到发射器单元的测控系统来控制发射器单元基于从主基准时钟信号导出的第一基准时钟信号来生成测试信号模式，并且控制发射器单元基于测试信号模式生成用于通行穿过待测装置(DUT)的信号，其中，发射器单元连接到基准时钟合成器并且连接到待测装置(DUT)的第一端。该方法可以包括使用连接到测控系统、基准时钟合成器和待测装置(DUT)的第二端的检测器单元，来检测通行穿过待测装置(DUT)的信号并基于检测到的信号和从主基准时钟信号导出的第二基准时钟信号来生成数字信号。该方法可以包括使用测控系统基于数字信号提供包括测量结果的输出信号。
附图说明
当结合非限制性实例和附图考虑时，参考详细描述将更好地理解本发明，在附图中：
图1是根据各种实施例的用于待测装置(DUT)的时间信号测量的测量系统的图示；
图2示出了根据各种实施例的形成用于待测装置(DUT)的时间信号测量的测量系统的方法的流程图；
图3示出了根据各种实施例的用于测量待测装置(DUT)的时间信号的方法的流程图；
图4是根据各种实施例的用于待测装置(DUT)的时间信号测量的测量系统的图示；以及
图5示出了根据各种实施例的形成用于待测装置(DUT)的时间信号测量的测量系统的方法的流程图。
具体实施方式
下面的详细描述参考附图，这些附图通过图示的方式示出了可以实施本发明的具体细节和实施例。充分详细地描述这些实施例以使所属领域的技术人员能够实施本发明。在不脱离本发明的范围的情况下，可以利用其它实施例并进行结构和逻辑改变。各种实施例不必相互排斥，因为一些实施例可以与一个或多个其它实施例组合以形成新实施例。
下面在系统的上下文中描述的实施例对于各个方法类似地有效，反之亦然。此外，应当理解，下面描述的实施例可以组合，例如，一个实施例的一部分可以与另一个实施例的一部分组合。
应当理解，当在以下描述中使用时，术语“在...上”、“在...之上”、“顶部”、“底部”、“向下”、“侧面”、“背面”、“左”、“右”、“前”、“横向”、“侧面”、“上”、“下”等用于方便和帮助理解相对位置或方向。并且不旨在限制任何系统、装置或结构，以及任何系统、装置或结构的任何部分的定向。
在实施例的上下文中描述的特征可以相应地适用于其它实施例中的相同或类似特征。即使在这些其它实施例中没有明确描述，在实施例的上下文中描述的特征可以相应地适用于其它实施例。此外，在实施例的上下文中针对特征描述的添加和/或组合和/或替代可以相应地应用于其它实施例中的相同或类似特征。
在各种实施例的上下文中，关于特征或元件使用的冠词“一”、“该”和“所述”包括对一个或多个特征或元件的引用。
如本文所使用，术语“和/或”包括一个或多个相关列出项目的任何和所有组合。
各种实施例可以提供用于待测装置(DUT)的时间信号测量的测量系统。
图1是根据各种实施例的用于待测装置(DUT)110的时间信号测量的测量系统100的图示。
在各种实施例中，测量系统100可以包括被配置成生成主基准时钟信号的基准时钟合成器120。测量系统100可以包括发射器单元130，其连接到基准时钟合成器120并且被配置成连接到待测装置(DUT)110的第一端111。测量系统可以包括连接到发射器单元130的测控系统140，测控系统140被配置成控制发射器单元130基于从主基准时钟信号导出的第一基准时钟信号来生成测试信号模式，并且控制发射器单元130基于该测试信号模式生成用于通行穿过待测装置(DUT)110的信号。
在各种实施例中，基准时钟合成器120能够提供多个基准时钟信号。在各种实施例中，可以以指定频率生成主基准时钟信号。在各种实施例中，可以以指定频率生成第一基准时钟信号。
在各种实施例中，测试信号模式可以是预定的。在各种实施例中，测试信号模式可以是伪随机二进制序列(PRBS)。在各种实施例中，测试信号模式可以是方波序列。测试信号模式的类型不限于此，可以使用合适的测试信号模式。
在各种实施例中，发射器单元130可以是光发射器单元。在各种实施例中，用于通行穿过待测装置(DUT)110的信号可以是光信号。
在各种实施例中，第一基准时钟信号可以是主基准时钟信号的整数倍数或分数倍数。在各种实施例中，主时钟信号和第一基准时钟信号可以是同步的。在各种实施例中，第一基准时钟信号和主基准时钟信号可以是锁相的。
在各种实施例中，测量系统可以包括接收器单元150，其连接到基准时钟合成器120并且被配置成连接到待测装置(DUT)110的第二端112，并且接收器单元150被配置成检测通行穿过待测装置(DUT)110的信号，并且还被配置成基于检测到的信号和从主基准时钟信号导出的第二基准时钟信号来生成数字信号。在各种实施例中，测控系统140可以连接到接收器单元150。
在各种实施例中，接收器单元150可以是光接收器单元。在各种实施例中，通行穿过待测装置(DUT)110的信号可以是光信号。
在各种实施例中，第二基准时钟信号可以是主基准时钟信号的整数倍数或分数倍数。在各种实施例中，主时钟信号和第二基准时钟信号可以是同步的。在各种实施例中，第二基准时钟信号和主基准时钟信号可以是锁相的。
在各种实施例中，测控系统140还可以被配置成基于数字信号提供包括测量结果的输出信号。
在各种实施例中，测量结果可以是眼图测量。在各种实施例中，测量结果可以是任何合适的形式。
在各种实施例中，测控系统140可以向外部装置提供测量结果。外部装置可以是显示监视器或计算机或存储装置。装置的类型不限于此，可以使用合适的装置。在各种实施例中，测控系统140可以将测量结果提供给内置显示装置或计算机。
在各种实施例中，测控系统140可以经由诸如以太网电缆的标准通信接口或通过任何其它合适的方法连接到一装置。
在各种实施例中，待测装置(DUT)110可以是电缆。电缆可以是铜电缆或光纤电缆。光纤电缆可以是多光纤电缆。电缆的类型不限于此，可以使用任何合适的电缆。
在各种实施例中，待测装置(DUT)110可以是半导体器件或印刷电路板(PCB)。装置的类型不限于此，可以使用任何合适的装置。
在各种实施例中，用于待测装置(DUT)110的时间信号测量的测量系统100可以是单个测试设备。在各种实施例中，在单个测试设备中，发射器单元130和接收器单元150可以使用公共时钟源。
在各种实施例中，测试信号的周期可以跨越采样频率的1000个样本。
在各种实施例中，基于测试信号模式而通行穿过待测装置(DUT)110的信号可以由发射器单元130以测试频率f_t生成。
在各种实施例中，通行穿过待测装置(DUT)110的信号可以由接收器单元150以f_s的采样频率进行采样。样本可以被数字化以生成数字化的接收测试模式。在各种实施例中，采样频率f_s可以是测试频率f_t的一部分，使得某一特定数目N的连续样本可以跨越测试信号的完整波形。
在各种实施例中，测控系统140可以收集数字化的接收测试模式。测控系统140可以提供包括测量结果的输出信号。测控系统140可以以眼图的形式呈现数字化的接收测试模式。
下表显示了测试频率f_t、采样频率f_s的可能时钟比率以及测试频率f_t和采样频率f_s的分数比率的示例。
测试频率f_t 分数比率 采样频率f_s
12,800MHz f_s＝1000/(20，001)f_t 639.96800159992MHz
图2示出了根据各种实施例的形成用于待测装置(DUT)110的时间信号测量的测量系统100的方法200的流程图。
在各种实施例中，方法200的第一步骤210可以包括将基准时钟合成器120连接到发射器单元130和接收器单元150。
在各种实施例中，方法200的第二步骤220可以包括将测控系统140连接到发射器单元130和接收器单元150。
在各种实施例中，发射器单元130可以被配置成连接到待测装置(DUT)110的第一端111，并且接收器单元150可以被配置成连接到待测装置(DUT)110的第二端112。
在各种实施例中，基准时钟合成器120可以被配置成生成主基准时钟信号，且测控系统140可以被配置成控制发射器单元130基于从主基准时钟信号导出的第一基准时钟信号来生成测试信号模式，并且控制发射器单元130基于测试信号模式生成用于通行穿过待测装置(DUT)110的信号。
在各种实施例中，基准时钟合成器120能够提供多个基准时钟信号。在各种实施例中，可以以指定频率生成主基准时钟信号。在各种实施例中，可以以指定频率生成第一基准时钟信号。
在各种实施例中，测试信号模式可以是预定的。在各种实施例中，测试信号模式可以是伪随机二进制序列(PRBS)。在各种实施例中，测试信号模式可以是方波序列。测试信号模式的类型不限于此，可以使用合适的测试信号模式。
在各种实施例中，发射器单元130可以是光发射器单元。在各种实施例中，用于通行穿过待测装置(DUT)110的信号可以是光信号。
在各种实施例中，第一基准时钟信号可以是主基准时钟信号的整数倍数或分数倍数。在各种实施例中，主时钟信号和第一基准时钟信号可以是同步的。在各种实施例中，第一基准时钟信号和主基准时钟信号可以是锁相的。
在各种实施例中，接收器单元150可以被配置成检测通行穿过待测装置(DUT)110的信号，并且可以被配置成基于检测到的信号和从主基准时钟信号导出的第二基准时钟信号来生成数字信号。在各种实施例中，测控系统140可以连接到接收器单元150。
在各种实施例中，接收器单元150可以是光接收器单元。在各种实施例中，通行穿过待测装置(DUT)110的信号可以是光信号。
在各种实施例中，第二基准时钟信号可以是主基准时钟信号的整数或分数倍数。在各种实施例中，主时钟信号和第二基准时钟信号可以是同步的。在各种实施例中，第二基准时钟信号和主基准时钟信号可以是锁相的。
在各种实施例中，测控系统140还可以被配置成基于数字信号提供包括测量结果的输出信号。
在各种实施例中，测量结果可以是眼图测量。在各种实施例中，测量结果可以是任何合适的形式。
在各种实施例中，测控系统140可以向外部装置提供测量结果。外部装置可以是显示监视器或计算机或存储装置。装置的类型不限于此，可以使用合适的装置。在各种实施例中，测控系统140可以将测量结果提供给内置显示装置或计算机。
在各种实施例中，测控系统140可以经由诸如以太网电缆的标准通信接口或通过任何其它合适的方法连接到一装置。
在各种实施例中，待测装置(DUT)110可以是电缆。电缆可以是铜电缆或光纤电缆。光纤电缆可以是多光纤电缆。电缆的类型不限于此，可以使用任何合适的电缆。
在各种实施例中，待测装置(DUT)110可以是半导体器件或印刷电路板(PCB)。装置的类型不限于此，可以使用任何合适的装置。
在各种实施例中，用于待测装置(DUT)110的时间信号测量的测量系统100可以形成为单个测试设备。在各种实施例中，在单个测试设备中，发射器单元130和接收器单元150可以使用公共时钟源。
在各种实施例中，方法200的步骤顺序不限于此，可以使用任何合适的顺序。各种实施例还可以包括与发射器单元130和/或接收器单元150中包括的任何组件相关的方法。
图3示出了根据各种实施例的测量待测装置(DUT)110的时间信号的方法300的流程图。
在各种实施例中，方法300可以包括第一步骤310：使用基准时钟合成器120生成主基准时钟信号。
在各种实施例中，方法300可以包括第二步骤320：使用由测控系统控制的发射器单元基于从主基准时钟信号导出的第一基准时钟信号来生成测试信号模式，其中，测控系统可以连接到发射器单元。
在各种实施例中，方法300可以包括第三步骤330：使用发射器单元基于测试信号模式生成用于通行穿过待测装置(DUT)的信号，其中，发射器单元可以连接到基准时钟合成器并且可以连接到待测装置(DUT)的第一端。
在各种实施例中，基准时钟合成器120能够提供多个基准时钟信号。在各种实施例中，可以以指定频率生成主基准时钟信号。在各种实施例中，可以以指定频率生成第一基准时钟信号。
在各种实施例中，测试信号模式可以是预定的。在各种实施例中，测试信号模式可以是伪随机二进制序列(PRBS)。在各种实施例中，测试信号模式可以是方波序列。测试信号模式的类型不限于此，可以使用合适的测试信号模式。
在各种实施例中，发射器单元130可以是光发射器单元。在各种实施例中，用于通行穿过待测装置(DUT)110的信号可以是光信号。
在各种实施例中，第一基准时钟信号可以是主基准时钟信号的整数倍数或分数倍数。在各种实施例中，主时钟信号和第一基准时钟信号可以是同步的。在各种实施例中，第一基准时钟信号和主基准时钟信号可以是锁相的。
在各种实施例中，方法300可以包括第四步骤340：使用连接到测控系统140、基准时钟合成器120和待测装置(DUT)110的第二端112的接收器单元150，来检测通行穿过待测装置(DUT)110的信号，并且使用接收器单元150基于检测到的信号和从主基准时钟信号导出的第二基准时钟信号生成数字信号。
在各种实施例中，接收器单元150可以是光接收器单元。在各种实施例中，通行穿过待测装置(DUT)110的信号可以是光信号。
在各种实施例中，第二基准时钟信号可以是主基准时钟信号的整数倍数或分数倍数。在各种实施例中，主时钟信号和第二基准时钟信号可以是同步的。在各种实施例中，第二基准时钟信号和主基准时钟信号可以是锁相的。
在各种实施例中，方法300可以包括第五步骤350：使用测控系统140基于数字信号提供包括测量结果的输出信号。
在各种实施例中，测量结果可以是眼图测量。在各种实施例中，测量结果可以是任何合适的形式。
在各种实施例中，测控系统140可以向外部装置提供测量结果。外部装置可以是显示监视器或计算机或存储装置。装置的类型不限于此，可以使用合适的装置。在各种实施例中，测控系统140可以将测量结果提供给内置显示装置或计算机。
在各种实施例中，测控系统140可以经由诸如以太网电缆的标准通信接口或通过任何其它合适的方法连接到一装置。
在各种实施例中，待测装置(DUT)110可以是电缆。电缆可以是铜电缆或光纤电缆。光纤电缆可以是多光纤电缆。电缆的类型不限于此，可以使用任何合适的电缆。
在各种实施例中，待测装置(DUT)110可以是半导体器件或印刷电路板(PCB)。装置的类型不限于此，可以使用任何合适的装置。
在各种实施例中，用于待测装置(DUT)110的时间信号测量的测量系统100可以形成为单个测试设备。在各种实施例中，在单个测试设备中，发射器单元130和接收器单元150可以使用公共时钟源。
在各种实施例中，方法300中的步骤顺序不限于此，可以使用任何合适的顺序。
图4是根据各种实施例的用于待测装置(DUT)110的时间信号测量的测量系统400的图示。
在各种实施例中，测量系统400可以包括基准时钟合成器120、发射器单元130、测控系统140和接收器单元150。
在各种实施例中，发射器单元130可以包括信号发生器410和/或发射器模块420和/或第一开关430。
在各种实施例中，接收器单元150可以包括检测器模块450和/或跟踪和保持装置460和/或响应信号数字化仪470和/或第二开关440。
在各种实施例中，发射器单元130可连接到基准时钟合成器120并且可以被配置成连接到待测装置(DUT)110的第一端111。在各种实施例中，测控系统140可以连接到发射器单元130。在各种实施例中，接收器单元150可连接到基准时钟合成器120并且可以被配置成连接到待测装置(DUT)110的第二端112。在各种实施例中，基准时钟合成器120可以连接到测控系统140。
在各种实施例中，发射器单元130可以包括连接到基准时钟合成器120的信号发生器410。在各种实施例中，信号发生器410可以被配置成接收第一基准时钟信号。信号发生器410可以被配置成基于从主基准时钟信号导出的第一基准时钟信号来生成测试信号模式。在各种实施例中，信号发生器410可以是射频(RF)信号发生器。在各种实施例中，信号发生器410生成由第一基准时钟信号的倍数来计时的预定测试模式。
在各种实施例中，基准时钟合成器120能够提供多个基准时钟信号。在各种实施例中，可以以指定频率生成主基准时钟信号。在各种实施例中，可以以指定频率生成第一基准时钟信号。
在各种实施例中，测试信号模式可以是预定的。在各种实施例中，测试信号模式可以是伪随机二进制序列(PRBS)。在各种实施例中，测试信号模式可以是方波序列。测试信号模式的类型不限于此，可以使用合适的测试信号模式。
在各种实施例中，信号发生器410可以连接到测控系统140。
在各种实施例中，发射器单元130可以包括连接到信号发生器410的发射器模块420，发射器模块420可以被配置成基于测试信号模式生成用于通行穿过待测装置(DUT)110的信号。
在各种实施例中，发射器模块420可以是光发射器模块。在各种实施例中，用于通行穿过待测装置(DUT)110的信号可以是光信号。
在各种实施例中，发射器模块420可以连接到基准时钟合成器120和测控系统140。在各种实施例中，发射器模块420可以执行信号发生器410的功能。
在各种实施例中，第一基准时钟信号可以是主基准时钟信号的整数倍数或分数倍数。在各种实施例中，主时钟信号和第一基准时钟信号可以是同步的。在各种实施例中，第一基准时钟信号和主基准时钟信号可以是锁相的。
在各种实施例中，接收器单元150可以包括检测器模块450，其可以被配置成用于检测通行穿过待测装置(DUT)110的信号，并且可以被配置成基于检测到的信号生成响应信号。
在各种实施例中，通行穿过待测装置(DUT)110的信号可以是光信号。检测器模块450可以是光学检测器模块。检测器模块450可以从待测装置(DUT)110接收光信号，并且可将其转换为电信号。在各种实施例中，检测器模块450可以被配置成连接到待测装置(DUT)110的第二端112。
在各种实施例中，接收器单元150可以包括连接到检测器模块450和基准时钟合成器120的跟踪和保持装置460，跟踪和保持装置460可以被配置成基于响应信号和从主基准时钟信号导出的第三基准时钟信号来生成经采样的响应信号。在各种实施例中，跟踪和保持装置460能够在接收到时钟边沿时跟踪响应信号并保持响应信号，跟踪和保持装置460的输出是采样的响应信号。跟踪和保持装置460可以在第三基准时钟信号的边沿处对响应信号进行采样。可以使用基于子采样的方案来导出第三基准时钟信号的频率，使得可以通过预定测试模式的多个周期来对完整的预定测试模式的响应进行采样。
在各种实施例中，对响应信号的保持不限于时钟边沿，跟踪和保持装置460可以在任何合适的周期跟踪响应信号并保持响应信号。
在各种实施例中，第三基准时钟信号可以是主基准时钟信号的整数倍数或分数倍数。在各种实施例中，主时钟信号和第三基准时钟信号可以是同步的。在各种实施例中，第三基准时钟信号和主基准时钟信号可以是锁相的。
在各种实施例中，跟踪和保持装置460可以被配置成连接到待测装置(DUT)110的第二端112。在各种实施例中，跟踪和保持装置460可以执行检测器模块450的功能。
在各种实施例中，接收器单元150可以包括连接到跟踪和保持装置460和基准时钟合成器120的响应信号数字化仪470，响应信号数字化仪470可以被配置成基于经采样的响应信号和从主基准时钟信号导出的第二基准时钟信号来生成数字信号。
在各种实施例中，第二基准时钟信号可以是主基准时钟信号的整数倍数或分数倍数。在各种实施例中，主时钟信号和第二基准时钟信号可以是同步的。在各种实施例中，第二基准时钟信号和主基准时钟信号可以是锁相的。
在各种实施例中，测控系统可以连接到基准时钟合成器120和响应信号数字化仪470。在各种实施例中，测控系统可以被配置成基于由响应信号数字化仪470生成的数字信号以及从主基准时钟信号导出的第四基准时钟信号提供包括测量结果的输出信号。
在各种实施例中，第四基准时钟信号可以是主基准时钟信号的整数倍数或分数倍数。在各种实施例中，主时钟信号和第四基准时钟信号可以是同步的。在各种实施例中，第四基准时钟信号和主基准时钟信号可以是锁相的。
在各种实施例中，测量结果可以是眼图测量。在各种实施例中，测量结果可以是任何合适的形式。
在各种实施例中，测控系统140可以向外部装置提供测量结果。外部装置可以是显示监视器或计算机或存储装置。装置的类型不限于此，可以使用合适的装置。在各种实施例中，测控系统140可以将测量结果提供给内置显示装置或计算机。
在各种实施例中，测控系统140可以经由诸如以太网电缆的标准通信接口或通过任何其它合适的装置连接到一装置。
在各种实施例中，待测装置(DUT)110可以是电缆。电缆可以是铜电缆或光纤电缆。光纤电缆可以是多光纤电缆。电缆的类型不限于此，可以使用任何合适的电缆。
在各种实施例中，待测装置(DUT)110可以是半导体器件或印刷电路板(PCB)。装置的类型不限于此，可以使用任何合适的装置。
在各种实施例中，用于待测装置(DUT)110的时间信号测量的测量系统400可以是单个测试设备。在各种实施例中，在单个测试设备中，发射器单元130和接收器单元150可以使用公共时钟源。
在各种实施例中，第一基准时钟信号、第二基准时钟信号、第三基准时钟信号和第四基准时钟信号可以是主基准时钟信号的整数倍数或分数倍数。在各种实施例中，第一基准时钟信号、第二基准时钟信号、第三基准时钟信号和第四基准时钟信号可以是同步的。在各种实施例中，第一基准时钟信号、第二基准时钟信号、第三基准时钟信号和第四基准时钟信号可以是锁相的。
在各种实施例中，发射器单元130可以包括第一开关430，并且由发射器单元130生成的用于通行穿过待测装置(DUT)110的信号可以经由第一开关430传递到待测装置(DUT)110。在各种实施例中，接收器单元150可以包括第二开关440，并且信号可以经由第二开关440通行穿过待测装置(DUT)110传递到接收器单元150。
在各种实施例中，第一开关430可以连接到发射器模块430。在各种实施例中，第二开关440可以连接到检测器模块450。
在各种实施例中，第一开关430可以在发射器单元130之外。在各种实施例中，第二开关440可以在接收器单元150之外。
在各种实施例中，待测装置(DUT)110是多光纤电缆。多光纤电缆可以包括多条光纤线。第一开关430可以被配置成将信号从发射器单元130传递到多条光纤线中的一条，并且第二开关440可以被配置成从多条光纤线中的这条接收信号。
在各种实施例中，测控系统140可以控制多条光纤线中的哪条光纤线用于传递信号。
在各种实施例中，测控系统140可以对多条光纤线中的每条光纤线进行排序，并且可以通过适当地配置第一开关430和第二开关440来执行测量。
在各种实施例中，发射器模块420可以是光发射器模块420，并且可以接受预定测试信号模式并将其转换为光预定测试信号，并且还将光预定测试信号传输到第一发射器光纤线。
在各种实施例中，第一开关430可以将输入端处的多条光纤线中的第一发射器光纤线连接到输出端处的多条光纤电缆中的一条。
在各种实施例中，通过来自测控系统140的控制输入来选择输出光纤。
图5示出了根据各种实施例的形成用于待测装置(DUT)110的时间信号测量的测量系统400的方法500的流程图。
在各种实施例中，该方法可以包括第一步骤502，其将发射器单元130中的信号发生器410连接到基准时钟合成器120。信号发生器410可以被配置成基于从主基准时钟信号导出的第一基准时钟信号来生成测试信号模式。在各种实施例中，信号发生器410可以是射频(RF)信号发生器。在各种实施例中，信号发生器410生成由多个第一基准时钟信号计时的预定测试模式。
在各种实施例中，基准时钟合成器120能够提供多个基准时钟信号。在各种实施例中，可以以指定频率生成主基准时钟信号。在各种实施例中，可以以指定频率生成第一基准时钟信号。
在各种实施例中，测试信号模式可以是预定的。在各种实施例中，测试信号模式可以是伪随机二进制序列(PRBS)。在各种实施例中，测试信号模式可以是方波序列。测试信号模式的类型不限于此，可以使用合适的测试信号模式。
在各种实施例中，该方法可以包括第二步骤504，其将发射器单元130中的发射器模块420连接到信号发生器410。发射器模块420可以被配置成基于测试信号模式来生成用于通行穿过待测装置(DUT)110的信号。
在各种实施例中，发射器模块420可以是光发射器模块。在各种实施例中，用于通行穿过待测装置(DUT)110的信号可以是光信号。
在各种实施例中，发射器模块420可以连接到基准时钟合成器120和测控系统140。在各种实施例中，发射器模块420可以执行信号发生器410的功能。
在各种实施例中，第一基准时钟信号可以是主基准时钟信号的整数倍数或分数倍数。在各种实施例中，主时钟信号和第一基准时钟信号可以是同步的。在各种实施例中，第一基准时钟信号和主基准时钟信号可以是锁相的。
在各种实施例中，接收器单元150可以包括检测器模块450。检测器模块450可以被配置成用于检测通行穿过待测装置(DUT)110的信号，并且可以基于检测到的信号生成响应信号。
在各种实施例中，通行穿过待测装置(DUT)110的信号可以是光信号。检测器模块450可以是光学检测器模块。检测器模块450可以从待测装置(DUT)110接收光信号，并且可将其转换为电信号。在各种实施例中，检测器模块450可以被配置成连接到待测装置(DUT)110的第二端112。
在各种实施例中，该方法可以包括第三步骤506，其将接收器单元150中的跟踪和保持装置460连接到接收器单元150中的检测器模块450和基准时钟合成器120。跟踪和保持装置460可以被配置成从检测器模块450接收响应信号。跟踪和保持装置460可以被配置成基于响应信号和从主基准时钟信号导出的第三基准时钟信号来生成经采样的响应信号。
跟踪和保持装置460可以在第三基准时钟信号的边沿处对响应信号进行采样。可以使用基于子采样的方案来导出第三基准时钟信号的频率，以使得可以通过预定测试模式的多个周期来对完整的预定测试模式的响应进行采样。
在各种实施例中，对响应信号的保持不限于时钟边沿，跟踪和保持装置460可以在任何合适的周期跟踪响应信号并保持响应信号。
在各种实施例中，第三基准时钟信号可以是主基准时钟信号的整数倍数或分数倍数。在各种实施例中，主时钟信号和第三基准时钟信号可以是同步的。在各种实施例中，第三基准时钟信号和主基准时钟信号可以是锁相的。
在各种实施例中，该方法可以包括第四步骤508，其将接收器单元150中的响应信号数字化仪470连接到跟踪和保持装置460和基准时钟合成器120。响应信号数字化仪470可以被配置成基于经采样的响应信号和从主基准时钟信号导出的第二基准时钟信号来生成数字信号。
在各种实施例中，第二基准时钟信号可以是主基准时钟信号的整数倍数或分数倍数。在各种实施例中，主时钟信号和第二基准时钟信号可以是同步的。在各种实施例中，第二基准时钟信号和主基准时钟信号可以是锁相的。
在各种实施例中，该方法可以包括第五步骤510，其将测控系统连接到基准时钟合成器120和响应信号数字化仪470。测控系统可以被配置成基于数字信号和从主基准时钟信号导出的第四基准时钟信号来提供包括测量结果的输出信号。
在各种实施例中，第四基准时钟信号可以是主基准时钟信号的整数倍数或分数倍数。在各种实施例中，主时钟信号和第四基准时钟信号可以是同步的。在各种实施例中，第四基准时钟信号和主基准时钟信号可以是锁相的。
在各种实施例中，测量结果可以是眼图测量。在各种实施例中，测量结果可以是任何合适的形式。
在各种实施例中，测控系统140可以向外部装置提供测量结果。外部装置可以是显示监视器或计算机或存储装置。装置的类型不限于此，可以使用合适的装置。在各种实施例中，测控系统140可以将测量结果提供给内置显示装置或计算机。
在各种实施例中，测控系统140可以经由诸如以太网电缆的标准通信接口或通过任何其它合适的方法连接到一装置。
在各种实施例中，待测装置(DUT)110可以是电缆。电缆可以是铜电缆或光纤电缆。光纤电缆可以是多光纤电缆。电缆的类型不限于此，可以使用任何合适的电缆。
在各种实施例中，待测装置(DUT)110可以是半导体器件或印刷电路板(PCB)。装置的类型不限于此，可以使用任何合适的装置。
在各种实施例中，用于待测装置(DUT)110的时间信号测量的测量系统400可以是单个测试设备。在各种实施例中，在单个测试设备中，发射器单元130和接收器单元150可以使用公共时钟源。
在各种实施例中，第一基准时钟信号、第二基准时钟信号、第三基准时钟信号和第四基准时钟信号可以是主基准时钟信号的整数或分数倍数。在各种实施例中，第一基准时钟信号、第二基准时钟信号、第三基准时钟信号和第四基准时钟信号可以是同步的。在各种实施例中，第一基准时钟信号、第二基准时钟信号、第三基准时钟信号和第四基准时钟信号可以是锁相的。
在各种实施例中，发射器单元130可以包括第一开关430。
在各种实施例中，接收器单元150可以包括第二开关440。
在各种实施例中，第一开关430可以被配置成将用于通行穿过待测装置(DUT)110的信号从发射器单元130传递到待测装置(DUT)110。在各种实施例中，第二开关440可以被配置成将用于通行穿过待测装置(DUT)110的信号从待测装置(DUT)110传递到接收器单元150。
在各种实施例中，第一开关430可以连接到发射器模块430。在各种实施例中，第二开关440可以连接到检测器模块450。
在各种实施例中，第一开关430可以在发射器单元130之外。在各种实施例中，第二开关440可以在接收器单元150之外。
在各种实施例中，待测装置(DUT)110可以是多光纤电缆。多光纤电缆可以包括多条光纤线。在各种实施例中，可以使用第一开关430将信号从发射器单元130传递到多条光纤线中的一条。在各种实施例中，可以使用第二开关440由接收器单元150从多条光纤线中的这条接收信号。
方法500的步骤顺序不限于此，可以使用任何合适的步骤顺序。此外，可以省略方法500的一些步骤。
可以提供一种通过使用具有使用公共时钟源的传输和接收部分的单个测试设备在待测装置(“DUT”)上实现眼图和其它时间信号质量测量的系统和方法。所提供的时间响应测量系统可以适用于高速通信信道。
虽然已经参照特定实施例具体示出和描述了本发明，但是本领域技术人员应当理解，在不脱离由所附权利要求限定的本发明的范围的情况下，可以在其中进行形式和细节上的各种改变。因此，本发明的范围由所附权利要求书指示，且因此旨在涵盖落入权利要求书的等效物的含义和范围内的所有改变。

Claims (18)

1.一种用于待测装置DUT的时间信号测量的测量系统，所述测量系统包括：
基准时钟合成器，所述基准时钟合成器被配置成生成主基准时钟信号；
光发射器单元，所述光发射器单元连接到所述基准时钟合成器并且被配置成连接到所述待测装置DUT的第一端；
测控系统，所述测控系统连接到所述光发射器单元，所述测控系统被配置成控制所述光发射器单元：基于从所述主基准时钟信号导出的第一基准时钟信号来生成测试信号模式，并且基于所述测试信号模式来生成用于通行穿过所述待测装置DUT的光信号；以及
光接收器单元，所述光接收器单元连接到所述基准时钟合成器并且被配置成连接到所述待测装置DUT的第二端，并且所述光接收器单元被配置成检测用于通行穿过所述待测装置DUT的所述光信号，并且还被配置成基于检测到的所述光信号和从所述主基准时钟信号导出的第二基准时钟信号来生成数字信号；
其中，所述测控系统连接到所述光接收器单元；
其中，所述测控系统还被配置成基于所述数字信号提供包括了测量结果的输出信号；
其中，所述光接收器单元包括光检测器模块，所述光检测器模块被配置成接收来自所述待测装置DUT的所述光信号并且被配置成基于接收到的所述光信号生成响应信号，所述响应信号为电信号。
2.根据权利要求1所述的测量系统，其中，所述光发射器单元包括连接到所述基准时钟合成器的信号发生器，所述信号发生器被配置成基于从所述主基准时钟信号导出的所述第一基准时钟信号来生成所述测试信号模式。
3.根据权利要求2所述的测量系统，其中，所述光发射器单元包括连接到所述信号发生器的光发射器模块，所述光发射器模块被配置成基于所述测试信号模式来生成用于通行穿过所述待测装置DUT的所述光信号。
4.根据权利要求1所述的测量系统，其中，所述光接收器单元包括连接到所述光检测器模块和所述基准时钟合成器的跟踪和保持装置，所述跟踪和保持装置被配置成基于所述响应信号和从所述主基准时钟信号导出的第三基准时钟信号来生成经采样的响应信号。
5.根据权利要求4所述的测量系统，其中，所述光接收器单元包括连接到所述跟踪和保持装置和所述基准时钟合成器的响应信号数字化仪，所述响应信号数字化仪被配置成基于所述经采样的响应信号和从所述主基准时钟信号导出的所述第二基准时钟信号来生成所述数字信号。
6.根据权利要求5所述的测量系统，其中，所述测控系统连接到所述基准时钟合成器和所述响应信号数字化仪，所述测控系统被配置成基于由所述响应信号数字化仪生成的所述数字信号以及从所述主基准时钟信号导出的第四基准时钟信号来提供包括了所述测量结果的所述输出信号。
7.根据权利要求6所述的测量系统，其中，所述第一基准时钟信号、所述第二基准时钟信号、所述第三基准时钟信号和所述第四基准时钟信号是同步的。
8.根据权利要求1所述的测量系统，
其中，所述光发射器单元包括第一开关，并且由所述光发射器单元生成的用于通行穿过所述待测装置DUT的所述光信号经由所述第一开关传递到所述待测装置DUT；以及
其中，所述光接收器单元包括第二开关，并且所述光信号经由所述第二开关通行穿过所述待测装置DUT到达所述光接收器单元。
9.根据权利要求8所述的测量系统，
其中，所述待测装置DUT是包括了多条光纤线的多光纤电缆；以及
其中，所述第一开关被配置成将所述信号从所述光发射器单元传递到所述多条光纤线中的一条光纤线，并且所述第二开关被配置成从所述多条光纤线中的所述一条光纤线接收所述信号。
10.一种形成用于待测装置DUT的时间信号测量的测量系统的方法，所述方法包括以下步骤：
将基准时钟合成器连接到光发射器单元和光接收器单元；
将测控系统连接到所述光发射器单元和所述光接收器单元；
其中，所述光发射器单元被配置成连接到所述待测装置DUT的第一端，并且所述光接收器单元被配置成连接到所述待测装置DUT的第二端；
其中，所述基准时钟合成器被配置成生成主基准时钟信号，并且所述测控系统被配置成控制所述光发射器单元：基于从所述主基准时钟信号导出的第一基准时钟信号来生成测试信号模式，并且基于所述测试信号模式来生成用于通行穿过所述待测装置DUT的光信号；
其中，所述光接收器单元被配置成检测用于通行穿过所述待测装置DUT的所述光信号，并且被配置成基于检测到的所述光信号和从所述主基准时钟信号导出的第二基准时钟信号来生成数字信号；
其中，所述测控系统还被配置成基于所述数字信号来提供包括了测量结果的输出信号；
其中，所述光接收器单元包括光检测器模块，所述光检测器模块被配置成接收来自所述待测装置DUT的所述光信号并且被配置成基于接收到的所述光信号生成响应信号，所述响应信号为电信号。
11.根据权利要求10所述的方法，还包括以下步骤：
将所述光发射器单元中的信号发生器连接到所述基准时钟合成器；
其中，所述信号发生器被配置成基于从所述主基准时钟信号导出的所述第一基准时钟信号来生成所述测试信号模式。
12.根据权利要求11所述的方法，还包括以下步骤：
将所述光发射器单元中的光发射器模块连接到所述信号发生器；
其中，所述光发射器模块被配置成基于所述测试信号模式来生成用于通行穿过所述待测装置DUT的所述光信号。
13.根据权利要求10所述的方法，还包括以下步骤：
将所述光接收器单元中的跟踪和保持装置连接到所述光接收器单元中的所述光检测器模块，并连接到所述基准时钟合成器；
其中，所述跟踪和保持装置被配置成基于所述响应信号并且基于从所述主基准时钟信号导出的第三基准时钟信号来生成经采样的响应信号。
14.根据权利要求13所述的方法，还包括以下步骤：
将所述光接收器单元中的响应信号数字化仪连接到所述跟踪和保持装置和所述基准时钟合成器；
其中，所述响应信号数字化仪被配置成基于所述经采样的响应信号和从所述主基准时钟信号导出的所述第二基准时钟信号来生成所述数字信号。
15.根据权利要求14所述的方法，还包括以下步骤：
将所述测控系统连接到所述基准时钟合成器和所述响应信号数字化仪；
其中，所述测控系统被配置成基于所述数字信号以及从所述主基准时钟信号导出的第四基准时钟信号来提供包括了所述测量结果的所述输出信号。
16.根据权利要求10所述的方法，
其中，所述光发射器单元包括第一开关；
其中，所述光接收器单元包括第二开关；
其中，所述第一开关被配置成将用于通行穿过所述待测装置DUT的所述光信号从所述光发射器单元传递到所述待测装置DUT；以及
其中，所述第二开关被配置成将用于通行穿过所述待测装置DUT的所述光信号从所述待测装置DUT传递到所述光接收器单元。
17.根据权利要求16所述的方法，其中，所述待测装置DUT是包括了多条光纤线的多光纤电缆；
其中，使用所述第一开关将所述信号从所述光发射器单元传递到所述多条光纤线中的一条光纤线；以及
其中，所述光接收器单元使用所述第二开关从所述多条光纤线中的所述一条光纤线接收所述信号。
18.一种测量待测装置DUT的时间信号的方法，所述方法包括以下步骤：
使用基准时钟合成器生成主基准时钟信号；
使用由测控系统控制的光发射器单元基于从所述主基准时钟信号导出的第一基准时钟信号来生成测试信号模式，其中，所述测控系统连接到所述光发射器单元；
使用所述光发射器单元基于所述测试信号模式来生成用于通行穿过所述待测装置DUT的光信号，其中，所述光发射器单元连接到所述基准时钟合成器并且连接到所述待测装置DUT的第一端；
使用连接到所述测控系统、所述基准时钟合成器和所述待测装置DUT的第二端的光接收器单元，来检测用于通行穿过所述待测装置DUT的所述光信号并基于检测到的所述光信号和从所述主基准时钟信号导出的第二基准时钟信号生成数字信号；
使用所述测控系统基于所述数字信号提供包括了测量结果的输出信号，
其中，所述光接收器单元包括光检测器模块，所述光检测器模块被配置成接收来自所述待测装置DUT的所述光信号并且被配置成基于接收到的所述光信号生成响应信号，所述响应信号为电信号。
CN201910885125.XA 2018-09-21 2019-09-19 用于待测装置dut的时间信号测量的系统和方法以及形成系统的方法 Active CN110958057B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SG10201808233T 2018-09-21
SG10201808233T 2018-09-21

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110958057A CN110958057A (zh) 2020-04-03
CN110958057B true CN110958057B (zh) 2022-11-08

Family

ID=67998124

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910885125.XA Active CN110958057B (zh) 2018-09-21 2019-09-19 用于待测装置dut的时间信号测量的系统和方法以及形成系统的方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10989758B2 (zh)
EP (1) EP3627163A1 (zh)
CN (1) CN110958057B (zh)
SG (1) SG10201908703VA (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220079195A (ko) * 2020-12-04 2022-06-13 삼성전자주식회사 테스트 장치, 테스트 시스템 및 테스트 시스템의 동작방법

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5289116A (en) * 1990-05-31 1994-02-22 Hewlett Packard Company Apparatus and method for testing electronic devices
US5589763A (en) * 1995-05-16 1996-12-31 Texas Instruments Incorporated Coherent undersampling digitizer for use with automatic field test equipment
EP1610137A1 (en) * 2004-06-24 2005-12-28 Agilent Technologies, Inc. Per-pin clock synthesis
CN106370936A (zh) * 2015-07-20 2017-02-01 特克特朗尼克公司 经时间校正的时域反射计
US10003453B1 (en) * 2015-11-13 2018-06-19 Anritsu Company Phase synchronization of measuring instruments using free space transmission

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA2177525C (en) 1996-05-28 2002-01-29 Maurice Stephen O'sullivan Eye mask for measurement of distortion in optical transmission systems
EP1437855B1 (en) 2002-12-30 2007-05-30 Alcatel Lucent Device and method of determining an eye diagram of a digital signal
US8841923B1 (en) 2007-08-30 2014-09-23 Agilent Technologies, Inc. Device and method for performing remote frequency response measurements
US8261119B2 (en) * 2009-09-10 2012-09-04 Advantest Corporation Test apparatus for testing device has synchronization module which synchronizes analog test module to digital test module based on synchronization signal received from digital test module
KR101918627B1 (ko) * 2012-04-04 2018-11-15 삼성전자 주식회사 데이터 수신장치 및 그 테스트 방법
US10002650B1 (en) 2016-12-21 2018-06-19 Mediatek Inc. Signal quality detection circuit for generating signal quality detection result according to two-dimensional nominal sampling point pattern and associated signal quality detection method

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5289116A (en) * 1990-05-31 1994-02-22 Hewlett Packard Company Apparatus and method for testing electronic devices
US5589763A (en) * 1995-05-16 1996-12-31 Texas Instruments Incorporated Coherent undersampling digitizer for use with automatic field test equipment
EP1610137A1 (en) * 2004-06-24 2005-12-28 Agilent Technologies, Inc. Per-pin clock synthesis
CN106370936A (zh) * 2015-07-20 2017-02-01 特克特朗尼克公司 经时间校正的时域反射计
US10003453B1 (en) * 2015-11-13 2018-06-19 Anritsu Company Phase synchronization of measuring instruments using free space transmission

Also Published As

Publication number Publication date
EP3627163A1 (en) 2020-03-25
US20200096568A1 (en) 2020-03-26
CN110958057A (zh) 2020-04-03
SG10201908703VA (en) 2020-04-29
US10989758B2 (en) 2021-04-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7136773B2 (en) Testing apparatus and testing method
US8040940B2 (en) Transmitter/receiver device that converts serial and parallel signals and method of testing thereof
US20050172181A1 (en) System and method for production testing of high speed communications receivers
US7656181B2 (en) Apparatus and method for testing circuit characteristics by using eye mask
US7208937B2 (en) Hybrid AC/DC-coupled channel for testing
JP4690854B2 (ja) ソース同期サンプリング方法
US10641823B2 (en) Method and apparatus for built-in self-test of CDR and non-CDR components with an on substrate test signal generator
US20040122607A1 (en) System and method of measuring a signal propagation delay
CN104125012A (zh) 一种高速光模块的测试方法及测试系统
CN109239576B (zh) 一种高速光通信芯片测试系统及方法
CN110958057B (zh) 用于待测装置dut的时间信号测量的系统和方法以及形成系统的方法
CN115136015A (zh) 等效实时示波器
US7079612B2 (en) Fast bit-error-rate (BER) test
CN103701523B (zh) 一种测量光通信介质的参数的方法、装置及系统
Tabatabaei et al. Jitter generation and measurement for test of multi-Gbps serial IO
US11942987B2 (en) Methods, systems, apparatuses and media for measuring an optoelectronic device and/or a channel
KR20040009505A (ko) 고속 데이터 출력 소자의 지터 측정 장치 및 토탈 지터측정방법
CN102315889A (zh) 一种高速信号测试方法、装置和系统
US6822498B1 (en) Clock distribution system for automatic test equipment
CN107918070B (zh) 数字t/r组件测试系统及其发射、接收状态测试方法
CN109547101B (zh) 光模块的测试系统
CN111381104A (zh) 一种传输通道阻抗的测量方法和装置
CN112511220B (zh) 一种快速有效的判断多模光纤带宽的测量方法
CN211063617U (zh) 一种误码仪
US7639626B2 (en) Built in self test

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant