CN110955573A - 一种电脑主板测试治具控制方法 - Google Patents

一种电脑主板测试治具控制方法 Download PDF

Info

Publication number
CN110955573A
CN110955573A CN201911147834.4A CN201911147834A CN110955573A CN 110955573 A CN110955573 A CN 110955573A CN 201911147834 A CN201911147834 A CN 201911147834A CN 110955573 A CN110955573 A CN 110955573A
Authority
CN
China
Prior art keywords
turning
power
entering
setting
judging whether
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201911147834.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110955573B (zh
Inventor
李福松
杜亚松
赵海建
孙海伟
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Armorlink SH Corp
Original Assignee
Armorlink SH Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Armorlink SH Corp filed Critical Armorlink SH Corp
Priority to CN201911147834.4A priority Critical patent/CN110955573B/zh
Publication of CN110955573A publication Critical patent/CN110955573A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110955573B publication Critical patent/CN110955573B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/267Reconfiguring circuits for testing, e.g. LSSD, partitioning

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Sources (AREA)

Abstract

本发明公开了一种电脑主板测试治具控制方法,适用于AT电源与ATX电源,包括以下步骤:A1、上电,治具进入等待状态;A2、判断是否进行参数设定,若是,进入下一步,若否,转A4;A3、选择工作模式,在各模式下进行参数设定,转A5;A4、调用已存储参数;A5、进入工作状态。本申请通过对于不同的主板电源,分别设置各自的测试参数,同时记录开关机次数、及开机成功与失败的次数,实现对电脑主板的开关机次数与寿命的测试,对不同的主机电源选择不同的工作模式,保证的测试治具控制的通用性。

Description

一种电脑主板测试治具控制方法
技术领域
本发明涉及电脑主板测试技术领域,尤其是涉及一种电脑主板测试治具控制方法。
背景技术
目前电脑主板在完成后都要进行测试,以确保主板的运行正常,对于主板的测试包括功能测试治具 2.ict测试治具 3.BGA测试治具,其中,ICT测试治具即 IntegratedCircuit Tester集成电路测试仪器治具的缩写,就是在线检测、测试治具。是对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。功能测试治具是一种用来测试半成品/成品或生产环节中的某一个工序,以此来判断被测对象是否达到了初始设计者目的的机械辅助设备,功能测试治具应用于模拟、数字、存储器、RF和电源电路,针对每一形式需要相对应的功能测试治具。BGA是IC中的一种封装,BGA测试治具是一种IC需要验正是否OK的IC中的一种封装。
以上各种测试测试了主板的各种功能,但是,对于主板的寿命长短,主板反复开关机的次数是否能够达到设计要求,也是需要进行测试的,因此,设计对于主板的开关机的测试方法是目前亟待解决的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种电脑主板测试治具控制方法,通过对于不同的主板电源,分别设置各自的测试参数,同时记录开关机次数、及开机成功与失败的次数,实现对电脑主板的开关机次数与寿命的测试。
本发明的上述发明目的通过以下技术方案得以实现:
一种电脑主板测试治具控制方法,适用于AT电源与ATX电源,包括以下步骤:
A1、上电,治具进入等待状态;
A2、判断是否进行参数设定,若是,进入下一步,若否,转A4;
A3、选择工作模式,在各模式下进行参数设定,转A5;
A4、调用已存储参数;
A5、进入工作状态。
本发明进一步设置为:步骤A3中,包括以下步骤:
B1、判断是否为AT模式,若是,进入下一步,若否,转ATX模式;
B2、判断是否接收字符串,若是,进入下一步,若否,转B4;
B3、设置未确认开机前的暂停参数;
B4、设置关机断电时长;
B5、设置开机上电时长;
B6、设置测试次数设定值;
B7、判断是否进入工作状态,若否,进入下一步,若是,转B9;
B8、判断是否修改设定参数,若是,转B2,若否,进入下一步;
B9、进入AT模式工作状态。
本发明进一步设置为:ATX模式参数设定,包括以下步骤:
C1、判断是否接收字符串,若是,进入下一步,若否,转C3;
C2、设置未确认开机前的暂停参数;
C3、设置电源键开机保持时间;
C4、设置电源键关机保持时间;
C5、设置关机断电时长;
C6、设置开机上电时长;
C7、设置测试次数设定值;
C8、判断是否进入工作状态,若否,进入下一步,若是,转C10;
C9、判断是否修改设定参数,若是,转C1,若否,进入下一步;
C10、进入ATX模式工作状态。
本发明进一步设置为:设置未确认开机前的暂停参数,是在未确认开机前,是否需要暂停,若需要暂停,则暂停参数设置为是,若不需要暂停,则暂停参数设置为否。
本发明进一步设置为:在AT模式工作状态,包括以下步骤:
D1、接通AC电源;
D2、判断是否需要检查开机成功,若是,进入下一步,若否,转D4;
D3、判断是否收到开机成功信号,若是,进入下一步,若否,转D5;
D4、记录启动次数,更新显示信息,转D7;
D5、判断是否需要暂停,若否,进入下一步,若是,转D9;
D6、记录失败次数,更新显示信息;
D7、关闭PC电源;
D8、判断测试次数是否等于测试次数设定值,若否,转D1,若是,进入下一步;
D9、暂停。
本发明进一步设置为:在步骤D1接通AC电源后,保持设定的OS保持时长,再进入到步骤D2;在步骤D7中,关闭PC电源后,保持设定的关机保持时长后,再转D1。
本发明进一步设置为:在ATX模式工作状态,包括以下步骤:
E1、打开电源,电源键开机保持时间等于开机保持时间设定值;
E2、判断是否检查开机成功,若是,进入下一步,若否,转E4;
E3、判断是否收到开机成功信号,若是,进入下一步,若否,转E5;
E4、记录启动次数,更新显示信息,转E7;
E5、判断是否需要暂停,若否,进入下一步,若是,转E9;
E6、记录失败次数,更新显示信息;
E7、关闭电源,关机保持时间等于关机保持时间设定值;
E8、判断测试次数是否等于测试次数设定值,若否,转E1,若是,进入下一步;
E9、暂停。
本发明进一步设置为:在步骤E1打开电源后,保护设定的OS保持时长,再进入到步骤E2。
本发明进一步设置为:收到开机成功信号之后,记录启动时间,即从电源键开机保持时间结束之后到收到开机成功信号之间的时间。
本发明进一步设置为:采用WIFI、 BLUETOOTH远程对治具进行控制,包括在开始工作前进行参数配置;进入工作模式后,获取治具工作状态;控制治具停止、重新进行参数配置、重新开始工作。
与现有技术相比,本发明的有益技术效果为:
1.本申请对不同的主机电源选择不同的工作模式,保证的测试治具控制的通用性;
2.进一步地,本申请在不同模式时设置不同的开关机参数,保证了对不同主机电源采用不同开关机方式,实现了主板的区别对待;
3.进一步地,本申请通过记录开关机成功与失败次数,实现了对主机开关机寿命的测试,保证主板的使用寿命达到要求;
4.进一步地,本申请通过记录开机启动时间,实现了对主板开机时长的统计,保证开机时间满足要求。
附图说明
图1是本发明的一个具体实施例的控制流程示意图;
图2是本发明的一个具体实施例的AT模式参数设定流程示意图;
图3是发明的一个具体实施例的ATX模式参数设定流程示意图;
图4是本发明的一个具体实施例的AT模式工作流程示意图;
图5是本发明的一个具体实施例的ATX模式工作流程示意图;
图6是本发明的一个具体实施例的测试治具电路结构示意图;
图7是本发明的又一个具体实施例的测试治具电路结构示意图;
图8是本发明的一个具体实施例的AT模式电源电路结构示意图;
图9是本发明的一个具体实施例的ATX模式电源电路结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明作进一步详细说明。
具体实施方式一
本发明的一种电脑主板测试治具控制方法,如图1所示,包括以下步骤:
A1、上电,治具进入等待状态;
A2、判断是否进行参数设定,若是,进入下一步,若否,转A4;
A3、选择工作模式,在各模式下进行参数设定,转A5;
A4、调用已存储参数;
A5、进入工作状态。
具体地,在治具进入等待状态时,步骤A2中,通过选择是进行参数设定还是选用已存储参数,当选择参数设定时,进入步骤A3,当选择采用已存储参数时,进入步骤A4。其中,工作模式包括AT模式、ATX模式。
在本申请的一个具体实施例中,步骤A3中,如图2所示,根据工作模式进行参数设定,包括以下步骤:
B1、判断是否为AT模式,若是,进入下一步,若否,转ATX模式;
B2、判断是否接收字符串,若是,进入下一步,若否,转B4;
B3、设置未确认开机前的暂停参数;
B4、设置关机断电时长;
B5、设置开机上电时长;
B6、设置测试次数设定值;
B7、判断是否进入工作状态,若否,进入下一步,若是,转B9;
B8、判断是否修改设定参数,若是,转B2,若否,进入下一步;
B9、进入AT模式工作状态。
在参数设定时,需要设定的参数包括暂停参数、关机断电时长、开机上电时长、测试次数设定值。
其中,设置未确认开机前的暂停参数,是在未确认开机前,是否需要暂停,若需要暂停,则暂停参数设置为是,若不需要暂停,则暂停参数设置为否。
关机断电时长为本次关机到下次开机的时间间隔。
开机上电时长为本次开机接通电源后,到判断是否需要检查开机成功动作之间的时长。
测试次数设定值,用于设定对主板进行开机测试的次数,这个数值与主板的寿命相关。
在本申请的一个具体实施例中,步骤A3中,如图3所示,ATX模式的参数设定,包括以下步骤:
C1、判断是否接收字符串,若是,进入下一步,若否,转C3;
C2、设置未确认开机前的暂停参数;
C3、设置电源键开机保持时间;
C4、设置电源键关机保持时间;
C5、设置关机断电时长;
C6、设置开机上电时长;
C7、设置测试次数设定值;
C8、判断是否进入工作状态,若否,进入下一步,若是,转C10;
C9、判断是否修改设定参数,若是,转C1,若否,进入下一步;
C10、进入ATX模式工作状态。
在ATX模式中,因为电源需要通过电源键来进行控制,所以参数就包括了电源键在开机与关机时的保持时间,电源键在开机、关机时的保持时间达到设定值时,ATX电源接通或断开,否则,则视为无开关机信号。
在本申请的一个具体实施例中,在AT模式工作状态,测试治具的控制方式,如图4所示,包括以下步骤:
D1、接通AC电源;
D2、判断是否需要检查开机成功,若是,进入下一步,若否,转D4;
D3、判断是否收到开机成功信号,若是,进入下一步,若否,转D5;
D4、记录启动次数,更新显示信息,转D7;
D5、判断是否需要暂停,若否,进入下一步,若是,转D9;
D6、记录失败次数,更新显示信息;
D7、关闭PC电源;
D8、判断测试次数是否等于测试次数设定值,若否,转D1,若是,进入下一步;
D9、暂停。
具体地,开机成功信号为字符串。
在步骤D1接通AC电源后,保持设定的OS保持时长,再进入到步骤D2。
在步骤D7中,关闭PC电源后,保持设定的关机保持时长后,再转D1。
在收到开机成功信号之后,记录启动时间,即从电源键开机保持时间结束之后到收到开机成功信号之间的时间。
在本申请的一个具体实施例中,在ATX模式工作状态,测试治具的控制方式,如图5所示,包括以下步骤:
E1、打开电源,电源键开机保持时间等于开机保持时间设定值;
E2、判断是否检查开机成功,若是,进入下一步,若否,转E4;
E3、判断是否收到开机成功信号,若是,进入下一步,若否,转E5;
E4、记录启动次数,更新显示信息,转E7;
E5、判断是否需要暂停,若否,进入下一步,若是,转E9;
E6、记录失败次数,更新显示信息;
E7、关闭电源,关机保持时间等于关机保持时间设定值;
E8、判断测试次数是否等于测试次数设定值,若否,转E1,若是,进入下一步;
E9、暂停。
具体地,在收到开机成功信号之后,记录启动时间,即从电源键开机保持时间结束之后到收到开机成功信号之间的时间。
在步骤E1打开电源后,保护设定的OS保持时长,再进入到步骤E2。
在本申请的一个具体实施例中,在AT、ATX模式工作状态,记录每次的开机时间,进行统计,得到平均开机时间、最小开机时间、最大开机时间,从而对主板的性能进行分析。
在本申请的一个具体实施例中,采用WIFI、 BLUETOOTH远程对治具进行控制,包括在开始工作前进行参数配置;进入工作模式后,获取治具工作状态;控制治具停止、重新进行参数配置、重新开始工作。
具体实施方式二
本申请的一种电脑主板测试治具控制电路,用于实现具体实施方式一中所述的控制方法,如图6、7所示,包括控制单元、参数设置单元、显示单元、电源单元、通讯单元,所述控制单元分别与参数设置单元、显示单元、电源单元、通讯单元连接,对于不同的电源类型,参数设定单元进行各自的参数设定,控制单元根据设定的参数,启动测试治具对电脑主板反复上电、断电,并记录与显示启动次数。
在本申请的一个具体实施例中,电源单元包括AT电源、ATX电源,以适应两种不同电源所对应的主板。
AT电源包括控制开关电路、继电器,控制开关电路的输入端连接控制单元,接收控制单元的第一控制信号从而实现对控制开关电路的控制,在控制开关电路导通时,继电器通电,接通PC电源,在控制开关电路截止时,继电器断电,断开PC电源。
具体地,如图8所示,控制开关电路包括三极管开关电路,继电器K1的线圈连接在三极管Q4的集电极与直流电源之间,控制单元发送控制信号到三极管Q4的基极,当开关三极管Q4导通时,继电器K1线圈通电吸合,继电器K1的触点导通实现AC电源的接通,当开关三极管Q4截止时,继电器K1线圈失电,触点断开,实现AC电源的断开。
ATX电源包括开关电路,开关电源的控制端连接控制单元,接收控制单元的第二控制信号从而实现对开关电路的控制,在开关电路导通时,接通ATX电源的电源键,在开关电路截止时,断开ATX电源的电源键,电源键导通与截止的时间由控制单元控制。
具体地,如图9所示,开关电路包括三极管Q2开关电路,电源键的两个端点分别连接在三极管Q2的集电极、发射极,集电机通过电阻R52接直流电源,发射极通过电路R114接电源地。控制单元发送控制信号到三极管Q2的基极,当三极管Q2导通时,电源键的两个端点连接,电源接通,当三极管Q2截止时,电源键的两个端点断开,电源断开。
在本申请的一个具体实施例中,参数设置单元包括至少一个按键,分别与控制单元连接,用于进行选项设定功能、模式选择功能、增加功能、减少功能、确认功能的设置。
具体地,参数设置单元包括5个按键,其中,按键1用于设定选项,包括以下选项:
F1、是否接收主机开机字符串;
F2、在选择接收主机开机字符串情况下,如未接收到字符串时是否暂停程序并报警;
F3、在ATX模式时,电源键开机时间的设定;
F4、在ATX模式时,电源键关机时间的设定;
F5、主板开机后工作多长时间关机,判定主机是否发送目标字符串;
F6、主板关机后,停止时间多长后再次开机;其中,因为电容放电需要一段时间,因而停止时间不能太短,要大于电容放电时间。
F7、在开始界面,根据屏幕提示进行治具开始工作、重新设置工作参数的选择。
按键2用于模式选择、时间单位切换、是否停止并报警的选择。模式选择为在AT、ATX模式之间进行的选择;时间单位的切换是在时间单位分、秒之间进行切换。
按键3用于数字的增加,在设置时间时,用于渐进式增加时间,每动作一次,增加一个单位的时长。
按键4用于数字的减小,在设置时间时,用于渐进式减小时间,每动作一次,减小一个单位的时长。
按键5用于对设置的确认,包括模式选择、时长设置、参数设置的确认。
在本申请的一个具体实施例中,显示单元包括液晶显示屏与显示控制电路,显示控制电路与控制单元连接,用于将控制单元的输出转化为显示信号进行显示。
在本申请的一个具体实施例中,通讯单元包括串行通讯单元,用于控制单元与主板的串行通讯。
具体地,串行通讯单元包括串行通讯芯片。
通讯单元还包括与USB控制芯片,与控制单元连接,用于连接电池单元、数据通讯单元。
数据通讯单元包括TYPE-C通讯芯片。
控制单元包括MCU芯片、晶振电路、复位电路,晶振电路、复位电路分别与MCU芯片连接,用于给MCU芯片提供时钟信号、复位信号。
本具体实施方式的实施例均为本发明的较佳实施例,并非依此限制本发明的保护范围,故:凡依本发明的结构、形状、原理所做的等效变化,均应涵盖于本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电脑主板测试治具控制方法,适用于AT电源与ATX电源,其特征在于:包括以下步骤:
A1、上电,治具进入等待状态;
A2、判断是否进行参数设定,若是,进入下一步,若否,转A4;
A3、选择工作模式,在各模式下进行参数设定,转A5;
A4、调用已存储参数;
A5、进入工作状态。
2.根据权利要求1所述的电脑主板测试治具控制方法,其特征在于:步骤A3中,包括以下步骤:
B1、判断是否为AT模式,若是,进入下一步,若否,转ATX模式;
B2、判断是否接收字符串,若是,进入下一步,若否,转B4;
B3、设置未确认开机前的暂停参数;
B4、设置关机断电时长;
B5、设置开机上电时长;
B6、设置测试次数设定值;
B7、判断是否进入工作状态,若否,进入下一步,若是,转B9;
B8、判断是否修改设定参数,若是,转B2,若否,进入下一步;
B9、进入AT模式工作状态。
3.根据权利要求2所述的电脑主板测试治具控制方法,其特征在于:ATX模式参数设定,包括以下步骤:
C1、判断是否接收字符串,若是,进入下一步,若否,转C3;
C2、设置未确认开机前的暂停参数;
C3、设置电源键开机保持时间;
C4、设置电源键关机保持时间;
C5、设置关机断电时长;
C6、设置开机上电时长;
C7、设置测试次数设定值;
C8、判断是否进入工作状态,若否,进入下一步,若是,转C10;
C9、判断是否修改设定参数,若是,转C1,若否,进入下一步;
C10、进入ATX模式工作状态。
4.根据权利要求2或3所述的电脑主板测试治具控制方法,其特征在于:设置未确认开机前的暂停参数,是在未确认开机前,是否需要暂停,若需要暂停,则暂停参数设置为是,若不需要暂停,则暂停参数设置为否。
5.根据权利要求1所述的电脑主板测试治具控制方法,其特征在于:在AT模式工作状态,包括以下步骤:
D1、接通AC电源;
D2、判断是否需要检查开机成功,若是,进入下一步,若否,转D4;
D3、判断是否收到开机成功信号,若是,进入下一步,若否,转D5;
D4、记录启动次数,更新显示信息,转D7;
D5、判断是否需要暂停,若否,进入下一步,若是,转D9;
D6、记录失败次数,更新显示信息;
D7、关闭PC电源;
D8、判断测试次数是否等于测试次数设定值,若否,转D1,若是,进入下一步;
D9、暂停。
6.根据权利要求5所述的电脑主板测试治具控制方法,其特征在于:在步骤D1接通AC电源后,保持设定的OS保持时长,再进入到步骤D2;在步骤D7中,关闭PC电源后,保持设定的关机保持时长后,再转D1。
7.根据权利要求1所述的电脑主板测试治具控制方法,其特征在于:在ATX模式工作状态,包括以下步骤:
E1、打开电源,电源键开机保持时间等于开机保持时间设定值;
E2、判断是否检查开机成功,若是,进入下一步,若否,转E4;
E3、判断是否收到开机成功信号,若是,进入下一步,若否,转E5;
E4、记录启动次数,更新显示信息,转E7;
E5、判断是否需要暂停,若否,进入下一步,若是,转E9;
E6、记录失败次数,更新显示信息;
E7、关闭电源,关机保持时间等于关机保持时间设定值;
E8、判断测试次数是否等于测试次数设定值,若否,转E1,若是,进入下一步;
E9、暂停。
8.根据权利要求7所述的电脑主板测试治具控制方法,其特征在于:在步骤E1打开电源后,保护设定的OS保持时长,再进入到步骤E2。
9.根据权利要求5或7所述的电脑主板测试治具控制方法,其特征在于:收到开机成功信号之后,记录启动时间,即从电源键开机保持时间结束之后到收到开机成功信号之间的时间。
10.根据权利要求1所述的电脑主板测试治具控制方法,其特征在于:采用WIFI、BLUETOOTH远程对治具进行控制,包括在开始工作前进行参数配置;进入工作模式后,获取治具工作状态;控制治具停止、重新进行参数配置、重新开始工作。
CN201911147834.4A 2019-11-21 2019-11-21 一种电脑主板测试治具控制方法 Active CN110955573B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911147834.4A CN110955573B (zh) 2019-11-21 2019-11-21 一种电脑主板测试治具控制方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911147834.4A CN110955573B (zh) 2019-11-21 2019-11-21 一种电脑主板测试治具控制方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110955573A true CN110955573A (zh) 2020-04-03
CN110955573B CN110955573B (zh) 2023-06-30

Family

ID=69977937

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201911147834.4A Active CN110955573B (zh) 2019-11-21 2019-11-21 一种电脑主板测试治具控制方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110955573B (zh)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101187891A (zh) * 2006-11-22 2008-05-28 英业达股份有限公司 检测主机板的检测装置及其检测方法
JP2008292159A (ja) * 2007-04-27 2008-12-04 Sysmex Corp 検体測定装置
CN101436154A (zh) * 2007-11-14 2009-05-20 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 计算机主板开关机测试系统及方法
CN101901178A (zh) * 2009-05-31 2010-12-01 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 电脑系统开关机测试装置及方法
CN102200822A (zh) * 2010-03-24 2011-09-28 研祥智能科技股份有限公司 一种同时兼容atx电源和at电源的开机电路及计算机
CN103676919A (zh) * 2012-08-30 2014-03-26 研祥智能科技股份有限公司 一种工业控制设备测试系统
CN106569925A (zh) * 2016-11-15 2017-04-19 惠州大亚湾华北工控实业有限公司 一种开关机稳定性测试模块及其测试方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101187891A (zh) * 2006-11-22 2008-05-28 英业达股份有限公司 检测主机板的检测装置及其检测方法
JP2008292159A (ja) * 2007-04-27 2008-12-04 Sysmex Corp 検体測定装置
CN101436154A (zh) * 2007-11-14 2009-05-20 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 计算机主板开关机测试系统及方法
CN101901178A (zh) * 2009-05-31 2010-12-01 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 电脑系统开关机测试装置及方法
CN102200822A (zh) * 2010-03-24 2011-09-28 研祥智能科技股份有限公司 一种同时兼容atx电源和at电源的开机电路及计算机
CN103676919A (zh) * 2012-08-30 2014-03-26 研祥智能科技股份有限公司 一种工业控制设备测试系统
CN106569925A (zh) * 2016-11-15 2017-04-19 惠州大亚湾华北工控实业有限公司 一种开关机稳定性测试模块及其测试方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN110955573B (zh) 2023-06-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW201339830A (zh) 自動開關機測試裝置及測試系統
CN106909479B (zh) 一种开关机测试治具
US8862916B2 (en) Wireless control of power sockets based on host and signal quality
CN109067416B (zh) 一种实现sim卡热插拔及启动的方法和智能硬件
TW201113697A (en) Test device
CN104519190A (zh) 移动装置低电量开机控制方法及系统
CN106055440A (zh) 一种通过bmc实现服务器异常断电的测试方法及系统
CN103927242A (zh) 显卡测试系统及显卡测试方法
CN103377102A (zh) 电脑重启及开关机测试系统
TW201346536A (zh) 開關機測試系統及方法
US8423804B2 (en) System and method for adjusting system performance based on an output power of a power adapter determined according to an over current recovering time
CN111831498A (zh) 一种断电测试方法、装置及设备
CN210691298U (zh) 一种电脑主板测试治具控制电路
CN110955573B (zh) 一种电脑主板测试治具控制方法
TW201312331A (zh) 電腦開關機控制系統
CN103678060A (zh) 用于电脑主机板的自我修复装置
CN112114901A (zh) 待机控制电路、方法、设备及存储介质
CN107391329B (zh) 一种测试移动终端反复使用的方法、系统及存储装置
CN214750609U (zh) 一种自动开关机测试装置
CN107608834A (zh) 电子设备及信息处理方法
CN111897552B (zh) 一种用于tcon驱动ic的写程方法
CN114138312A (zh) 升级测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
CN109739327B (zh) 一种服务器批量清除cmos装置及方法
TW202238382A (zh) 主機板、主機板的外接裝置以及主機板的開機方法
CN105652114A (zh) 一种测试显示屏时的供电方法、装置及测试治具

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant