CN110954757A - 一种晶体振荡器测试装置及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种晶体振荡器测试装置及测试方法，该装置包括振动测试台，还包括夹具和至少一个印刷电路板，所述夹具固定在所述振动测试台上，所述印刷电路板固定在所述夹具上，所述印刷电路板用于刚性电连接至少一个被测晶体振荡器。本发明通过设计可同时固定至少一个的被测晶体振荡器的夹具，以实现至少一个的被测晶体振荡器的同时测试；本发明还通过对被测晶体振荡器的四周进行固定的技术方案，以实现无需拆卸该测试装置而达到实时多次调测的目的。本发明可有效提高测试效率，降低了在振动测试时的外界噪声干扰，提高晶体振荡器测试的准确性，确保振动下被测晶体振荡器相位噪声指标的真实性。

Description

一种晶体振荡器测试装置及测试方法

技术领域

本发明涉及晶体振荡器测试领域，具体涉及一种晶体振荡器测试装置及测试方法。

背景技术

晶体振荡器因其良好的频率特性，常被用作时间频率基准，广泛应用于通信、雷达、导航和制导等系统中。在卫星发射升空、航天器在轨运行、飞机空中飞行等过程中，经常存在剧烈的振动，在振动环境下，晶体振荡器的稳定度大幅度降低相位噪声严重恶化，极大地影响了系统的性能。而地面模拟试验中，由于环境因素，其他干扰等多方面影响，往往无法得到晶体振荡器真实的振动相位噪声性能指标，因此如何在地面模拟试验过程中更准确便捷地测量的晶体谐振器的振动性能变得尤为重要。

并且，由于晶体振荡器的相位噪声极其敏感，测试中很容易受到晶体振荡器安装方式、电源线缆和测试线缆等的变化而产生较大波动，从而使动态相位噪声测试结果存在较大误差。传统的测试方法主要通过测试压条对被测晶体振荡器进行固定，通过晶体振荡器上的测试连线连接相位噪声测试仪进行指标测试。但该方法存在很大的局限性，首先测试时无法排除晶体振荡器本身附带产物的影响，如测试连线、电源线等。其次，由于被测试晶体振荡器可能需要多次调试，每次都需要将被测产品进行测试压条的拆卸安装，极大地影响了工作效率。

因此，需要提出一种晶体振荡器测试装置及测试方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种晶体振荡器测试装置及测试方法，以解决现有技术中存在的问题中的至少一个；

为达到上述目的，本发明采用下述技术方案：

本发明第一方面提供一种晶体振荡器测试装置，包括振动测试台，还包括夹具和至少一个印刷电路板，所述夹具固定在所述振动测试台上，所述印刷电路板固定在所述夹具上，所述印刷电路板用于刚性电连接至少一个被测晶体振荡器。

可选地，所述印刷电路板用于通过管簧固定所述至少一个被测晶体振荡器。

可选地，所述印刷电路板还设置有与至少一个被测晶体振荡器一一对应电连接的至少一个电源连接孔，用于引出电源线实现电源为至少一个被测晶体振荡器供电。

可选地，所述印刷电路板上还设置有与至少一个被测晶体振荡器一一对应电连接的至少一个信号转接头，用于引出测试线至相位噪声测试仪实现相位噪声测试。

可选地，所述夹具通过螺栓固定在所述振动测试台上。

可选地，所述印刷电路板通过螺栓固定在所述夹具上。

本发明第二方面提供一种晶体振荡器的测试方法，包括：

将至少一个被测晶体振荡器安装在如本发明第一方面中的测试装置中；

利用电源为所述被测晶体振荡器供电，使其处于工作状态；

控制振动测试台进行振动，并利用相位噪声测试仪，通过印刷电路板的信号转接头进行对被测晶体振荡器的相位噪声测试。

可选地，该方法还包括：

在所述相位噪声测试的过程中，打开被测晶体振荡器的外盖以调试所述被测晶体振荡器。

本发明的有益效果如下：

本发明所述技术方案通过设计可同时固定至少一个的被测晶体振荡器的夹具，以实现至少一个的被测晶体振荡器的同时测试；本发明所述技术方案还通过对被测晶体振荡器的四周进行固定的技术方案，以实现无需拆卸该测试装置而达到实时多次调测的目的。本发明可有效提高测试效率，降低了在振动测试时的外界噪声干扰，提高晶体振荡器测试的准确性，确保振动下被测晶体振荡器相位噪声指标的真实性。

附图说明

下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的说明。

图1示出本发明实施例提供的晶体振荡器测试装置示意图；

图2示出本发明实施例提供的夹具示意图：

图3示出本发明实施例提供的印刷电路板示意图；

附图标记：1被测试晶体振荡器；2印刷电路板；3夹具；4振动测试台；21管簧；22电源连接孔；23信号转接头；31夹具螺柱；32夹具螺母；33夹具与振动测试台螺孔；34夹具与电路板螺孔。

具体实施方式

为了更清楚地说明本发明，下面结合优选实施例和附图对本发明做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本发明的保护范围。

如图1所示，本发明的一个实施例公开了一种晶体振荡器测试装置，包括振动测试台4；还包括夹具3和至少一个印刷电路板2，所述夹具3固定在所述振动测试台4上，所述印刷电路板2固定在所述夹具3上，所述印刷电路板2用于刚性电连接至少一个被测晶体振荡器1。

本实施例提供的晶体振荡器测试装置，可同时固定至少一个被测晶体振荡器1，以实现至少一个的被测晶体振荡器的同时实时测试；通过振动印刷电路板2将电源与被测晶体振荡器1刚性电连接，减少了由于线缆软连接引入的噪声干扰，进一步保证连接的可靠性，确保振动下被测晶体振荡器相位噪声指标的真实性，同时提高了晶体振荡器的测试效率。

需要说明的是，其中，刚性连接的名称在某种情况下并不构成对该连接本身的限定。例如，刚性连接还可以被描述为“硬性连接”。

在本实施例的一些可选地实现方式中，印刷电路板2用于通过管簧21固定所述至少一个被测晶体振荡器1。

在一个具体示例中，印刷电路板2可同时完成多个晶体振荡器的固定工作。在另一个具体示例中，由于印刷电路板2被固定在夹具3上，而被测晶体振荡器1通过印刷电路板2的管簧21固定在印刷电路板2上，基于上述设置，被测晶体振荡器1的顶端外盖并没有受到限制。因此，如需对被测试晶体振荡器进行实时相位噪声指标调试，无需拆卸夹具3和印刷电路板2即可直接打开被测晶体振荡器1的顶端外盖进行被测晶体振荡器1实时调测，即使进行相位噪声的多次测试过程，也完全不用对夹具3和印刷电路板2进行任何调整，也无需从印刷电路板2中拆卸被测晶体振荡器1，进而实现了无需拆卸该测试装置而达到实时多次调测的目的，极大地提高了测试效率。

在本实施例的一些可选地实现方式中，印刷电路板2还设置有与至少一个被测晶体振荡器1一一对应电连接的至少一个电源连接孔22，用于引出电源线实现电源为至少一个被测晶体振荡器1供电。在一个具体示例中，电源的电源线与印刷电路板2的电源连接孔22焊接以形成电连接通路，而非传统方式的电源线直接与晶体振荡器相连，本实施例通过印刷电路板2上的电源连接孔22，实现电源线直接与晶体振荡器的硬连接，可有效减小传统振动过程中测试线与被测试晶体振荡器软连接带来的干扰。电源为被测晶体振荡器1提供稳定电压，保证晶体振荡器正常工作。

在本实施例的一些可选地实现方式中，如图3所示，印刷电路板上2还设置有与至少一个被测晶体振荡器1一一对应电连接的至少一个信号转接头23，用于引出测试线至相位噪声测试仪实现相位噪声测试。在另一个具体示例中，如图3所示，印刷电路板2上还设置有用于安装固定被测晶体振荡器1的凹槽。

在一个具体示例中，被测晶体振荡器1和相位噪声测试仪器通过测试线连接，测试线一端为SMA接头，另一端为BNC接头。将测试线的SMA接头与印刷电路板2上的信号转接头23相连，另一端BNC接头与相位噪声测试仪相连，利用相位噪声测试仪来观测振动条件下晶体振荡器的相位噪声性能。

在一个具体示例中，电源线与测试线通过印刷电路板上的走线分别实现与测试晶体振荡器1的电连接。

在本实施例的一些可选地实现方式中，如图1所示，所述夹具3通过螺栓固定在所述振动测试台4上。如图2所示，夹具上开设有用于实现夹具3与振动测试台4固定的螺孔33，以及还开设有实现夹具3与印刷电路板2固定的螺孔34。

在本实施例的一些可选地实现方式中，如图3所示，所述印刷电路板2通过螺栓固定在所述夹具3上。印刷电路板2上同样开设有用于实现夹具3与印刷电路板2固定的螺孔34。

当然夹具3与振动测试台4的连接，以及印刷电路板2与夹具3的连接包括但不限于螺栓连接，还可以通过焊接，胶接和铆接等其他固定方式以实现夹具3与振动测试台4之间以及印刷电路板2与夹具3之间的固定。

本发明的另一个实施例公开了一种晶体振荡器测试的测试方法，该方法包括：

将至少一个被测晶体振荡器1安装在如本发明第一个实施例所述的测试装置中；

利用电源为所述被测晶体振荡器1供电，使其处于工作状态；

控制振动测试台4进行振动，并利用相位噪声测试仪，通过印刷电路板2的信号转接头23进行对被测晶体振荡器1的相位噪声测试。

在一个具体示例中，由于夹具被固定在振动测试台上，因此当振动测试台处于振动状态下时，振动测试台会带动固定在夹具内的被测晶体振荡器，以实现模拟被测晶体振荡器在振动状态下的相位噪声测试。

在一个具体示例中，操作人员可将至少一个被测晶体振荡器安装在如本发明第一个实施例所述的测试装置中同时进行至少一个被测晶体振荡器的相位噪声指标的检测。确认被测晶体振荡器已经安装无误后，即，被测晶体振荡器与印刷电路板2已经通过管簧21实现了紧密连接；确认测试装置已经连接完成，即信号转接头23已经通过测试线与相位噪声测试仪电连接，电源连接孔22已经通过电源线与电源连接。打开电源为被测晶体振荡器提供稳定电压，以保证被测晶体振荡器正常工作，进一步利用相位噪声测试仪进行被测晶体振荡器的测试。

在本实施例的一些可选地实现方式中，该方法还包括：

在所述相位噪声测试的过程中，打开被测晶体振荡器1的外盖以调试所述被测晶体振荡器1。在一个具体示例中，由于印刷电路板2被固定在夹具3上，而被测晶体振荡器1通过印刷电路板2的管簧21固定在印刷电路板2上，基于上述设置，被测晶体振荡器1的顶端外盖并没有受到限制，因此，如需对被测试晶体振荡器进行实时相位噪声指标调试，无需拆卸夹具即可直接打开被测晶体振荡器的顶端外盖进行被测晶体振荡器实时调测，进而利用相位噪声测试仪实时测试调节后的被测晶体振荡器。

综上，本发明所述技术方案通过设计可同时固定至少一个的被测晶体振荡器的夹具，以实现至少一个的被测晶体振荡器的同时实时测试；通过对被测晶体振荡器的四周进行固定的技术方案，以实现无需拆卸该测试装置而达到实时多次调测的目的；通过采用印刷电路板的电源连接孔实现电源与被测晶体振荡器的刚性连接以及通过印刷电路板的转接头实现相位噪声测试仪器与被测晶体振荡器的刚性连接，进一步保证连接的可靠性，可有效提高测试效率，降低了在振动测试时的外界噪声干扰，提高晶体振荡器测试的准确性，确保振动下被测晶体振荡器相位噪声指标的真实性。

显然，本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非是对本发明的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本发明的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之列。

Claims (8)

1.一种晶体振荡器测试装置，包括振动测试台，其特征在于，还包括夹具和至少一个印刷电路板，所述夹具固定在所述振动测试台上，所述印刷电路板固定在所述夹具上，所述印刷电路板用于刚性电连接至少一个被测晶体振荡器。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述印刷电路板用于通过管簧固定所述至少一个被测晶体振荡器。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述印刷电路板还设置有与至少一个被测晶体振荡器一一对应电连接的至少一个电源连接孔，用于引出电源线实现电源为至少一个被测晶体振荡器供电。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述印刷电路板上还设置有与至少一个被测晶体振荡器一一对应电连接的至少一个信号转接头，用于引出测试线至相位噪声测试仪实现相位噪声测试。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述夹具通过螺栓固定在所述振动测试台上。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述印刷电路板通过螺栓固定在所述夹具上。

7.一种晶体振荡器的测试方法，其特征在于，包括：

将至少一个被测晶体振荡器安装在如权利要求1-6中任一项所述的测试装置中；

利用电源为所述被测晶体振荡器供电，使其处于工作状态；

控制振动测试台进行振动，并利用相位噪声测试仪，通过印刷电路板的信号转接头进行对被测晶体振荡器的相位噪声测试。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，该方法还包括：

在所述相位噪声测试的过程中，打开被测晶体振荡器的外盖以调试所述被测晶体振荡器。

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