CN110940635A - 一种紫外二阶非线性光学测试装置及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种紫外二阶非线性光学测试装置及其测试方法，属于光谱仪器技术领域，能够解决现有的光学测试装置不能对样品在紫外波段的非线性光学性能进行测试的问题。所述装置通过激光单元向待测样品发射第一激光，利用待测样品采集单元接收第一激光透过待测样品后产生的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号，其中第一激光的倍频光为紫外激光；检测单元接收待测样品的倍频电信号，并对其进行检测，得到待测样品的光学定性信息。本发明装置通过测试激光透过待测样品后是否产生倍频激光，进而判断待测样品在紫外波段是否具有非线性光学性能。本发明的装置简单，测量成本低，测量效率高，方便快捷。

Description

一种紫外二阶非线性光学测试装置及测试方法

技术领域

本发明涉及光谱仪器技术领域，尤其是涉及一种紫外二阶非线性光学测试装置及测试方法。

背景技术

非线性光学效应，是一种重要的非线性光学效应，具有非线性光学效应的材料能够对不同波长的激光进行变频得到新波长激光。由于非线性光学技术能够获得特殊用途的新波长激光，从而扩展激光器的可调谐范围，因此，该技术在光通讯、激光雷达、卫星测距、激光化学、激光医学等领域有着广泛的应用。

研究及寻找新的非线性光学材料已成为目前非线性光学领域的研究热点。通过测试待测材料的倍频性能可以判断其非线性光学性能，但是，现有测量非线性光学效应的装置都是在红外波段和可见光波段进行测量，而不能对样品在紫外波段的非线性光学性能进行测试。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种紫外二阶非线性光学测试装置及测量方法，能够解决现有的光学测试装置不能对样品在紫外波段的非线性光学性能进行测试的问题。

为实现上述目的，本发明提供了如下技术方案：

一种紫外二阶非线性光学测试装置，所述光学测试装置包括：

激光单元，用于向待测样品发射第一激光；

待测样品采集单元，用于接收所述第一激光透过待测样品后产生的第一激光的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号，所述第一激光的倍频光为紫外激光；

检测单元，用于接收所述待测样品的倍频电信号，并对其进行检测，得到待测样品的光学定性信息。

作为本发明再进一步的方案：所述光学测试装置还包括分光镜和已知样品采集单元；

所述分光镜设置在所述激光单元的激光出射口，所述分光镜将所述激光单元出射的第一激光分为两路激光，记为第一路激光和第二路激光；

所述第一路激光透过所述待测样品后产生待测样品的第一激光的倍频光，所述待测样品采集单元采集所述待测样品倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号传输给所述检测单元；

所述第二路激光透过所述已知样品后产生已知样品的第一激光的倍频光，所述已知样品采集单元采集所述已知样品倍频光，并将其转化为已知样品的倍频电信号传输给所述检测单元；

相应的，所述检测单元用于对所述待测样品倍频电信号和所述已知样品的倍频电信号进行检测，得到待测样品的光学定量数据。

作为本发明再进一步的方案：所述光学测试装置还包括：

第一滤光片，设置在所述第一激光与待测样品、和/或第一激光与已知样品之间的光路上，所述第一滤光片镀有对所述第一激光波段高透，而对其他波段高反的介质膜。

作为本发明再进一步的方案：所述光学测试装置还包括：

第二滤光片，设置在所述待测样品与所述待测样品采集单元、和/或已知样品与所述已知样品采集单元之间的光路上，所述第二滤光片镀有对所述第一激光的倍频光波段高透，而对其他波段高反的介质膜。

作为本发明再进一步的方案：所述光学测试装置还包括：

衰减片，设置在所述待测样品与所述待测样品采集单元、和/或已知样品与所述已知样品采集单元之间的光路上，用于对所述第一激光的倍频光进行衰减。

本发明还提供一种应用于上述任一种所述的紫外二阶非线性光学测试装置的测试方法，所述方法包括：

将第一激光通过待测样品；

采集第一激光透过待测样品后产生的第一激光的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号，所述第一激光的倍频光为紫外激光；

对待测样品的倍频电信号进行检测，得到待测样品的光学定性信息。

作为本发明再进一步的方案：所述第一激光通过待测样品之前，所述方法还包括：

将所述第一激光分为两路激光，记为第一路激光第二路激光；

将所述第一路激光透过待测样品后产生待测样品的第一激光的倍频光，采集待测样品的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号；

将所述第二路激光透过已知样品后产生已知样品的第一激光的倍频光，采集已知样品的倍频光，并将其转化为已知样品的倍频电信号；

对所述待测样品的倍频电信号和所述已知样品的倍频电信号进行检测，得到待测样品的光学定量数据。

作为本发明再进一步的方案：所述第一激光通过待测样品和/或已知样品之前，所述方法还包括：

对所述第一激光进行过滤，除去波长为第一激光外的其他光波。

作为本发明再进一步的方案：对所述待测样品和/或已知样品产生的倍频光进行采集之前，所述方法还包括：

对所述倍频光进行过滤，除去波长为第一激光的倍频光外的其他光波。

作为本发明再进一步的方案：对所述待测样品和/或已知样品的倍频光进行采集之前，所述方法还包括：

对所述待测样品和/或已知样品产生的倍频光进行衰减。

本发明的有益效果包括但不限于：

(1)本发明提供的紫外二阶非线性光学测试装置，通过激光单元向待测样品发射第一激光，利用待测样品采集单元接收第一激光透过待测样品后产生的第一激光的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号，其中第一激光的倍频光为紫外激光；检测单元接收待测样品的倍频电信号，并对其进行检测，得到待测样品的光学定性信息。本发明装置通过测试激光透过待测样品后是否产生倍频激光，进而判断待测样品在紫外波段是否具有非线性光学性能。本发明的装置简单，测量成本低，测量效率高，方便快捷。

(2)进一步地，本发明通过设置分光镜将激光单元出射的第一激光分为两路激光，一路激光通过待测样品，采集待测样品产生的第一激光的倍频光，另一路激光通过已知样品，采集已知样品产生的第一激光的倍频光，通过对这两种倍频光进行测量和比较，得到待测样品的光学定量数据；进一步地，本发明通过设置的第一滤光片对激光单元发射的第一激光进行过滤，除去除第一激光外的其他光波，使过滤后的第一激光通过待测样品和/或已知样品，避免了因为其他光波的影响带来的测量误差，使测量结果更准确；进一步地，本发明通过设置的第二滤光片对待测样品和/或已知样品产生的倍频光进行过滤，除去除波长为第一激光的倍频光外的其他光波，同样避免了因为其他光波的影响带来的测量误差，进一步提高了测量的准确性。

(3)进一步地，本发明通过设置衰减片，对待测样品和/或已知样品产生的倍频光进行衰减，调节待测样品采集单元和/或已知样品采集单元采集的激光光量，使采集到的激光光量在采集单元的有效范围内，进一步提高了测量的准确性。本发明方法简单，测量操作步骤少，测量成本低，节省了人力和物力。

附图说明

图1是本发明实施例1提供的一种紫外二阶非线性光学测试装置的结构示意图；

图2是本发明实施例2提供的一种紫外二阶非线性光学测试装置的结构示意图；

图3是本发明实施例5提供的一种紫外二阶非线性光学测试方法的流程图；

图4是本发明实施例6提供的一种紫外二阶非线性光学测试方法的流程图。

具体实施方式

下面结合实施例详述本发明，但本发明并不局限于这些实施例。

实施例1：

本发明实施例提供了一种紫外二阶非线性光学测试装置，如图1所示，包括激光单元101、待测样品采集单元102、检测单元103；

激光单元101，用于向待测样品发射第一激光；

待测样品采集单元102，用于接收第一激光透过待测样品后产生的第一激光的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号，第一激光的倍频光为紫外激光；

检测单元103，用于接收待测样品的倍频电信号，并对其进行检测，得到待测样品的光学定性信息。

本发明实施例中，待测样品可以是粉末或者晶体，待测样品放置在样品架上，样品架可以精确地在水平和垂直方向转动，样品架通光面上全部选用对第一激光的倍频光的波段高透的玻璃片。

本发明通过测试激光透过待测样品后转变为倍频激光的光信号，进而判断待测样品在紫外波段的具有非线性光学性能。

进一步的，上述激光单元101输出特定波长的激光。

其中，激光单元101可以是脉冲纳秒、皮秒或者飞秒的激光器，本发明实施例对此不做限定。

进一步的，本实施例光学测试装置还包括：

第一滤光片，设置在激光单元101和待测样品之间的光路上，第一滤光片镀有对第一激光波段高透，而对其他波段高反的介质膜。本发明通过设置第一滤光片，使过滤后的第一激光通过待测样品，通过去除其他光波，避免了因为其他光波的影响带来的测量误差，使测量结果更准确。

进一步的，本实施例光学测试装置还包括：

第二滤光片，设置在待测样品和待测样品采集单元102之间的光路上，第二滤光片镀有对第一激光的倍频光波段高透，而对其他波段高反的介质膜。本发明通过设置第二滤光片，对待测样品产生的倍频光进行过滤，除去除倍频光之外的其他光波，避免了因为其他光波的影响带来的测量误差，进一步提高了测量的准确性。

进一步的，本实施例光学测试装置还包括：

衰减片，设置在待测样品和待测样品采集单元102之间的光路上，用于对第一激光的倍频光进行衰减。本发明通过设置的衰减片，其透过率可以由10％-90％之间连续调节，调节待测样品产生的倍频光的激光能量，使进入待测样品采集单元102的激光能量在其测定的有效范围内，进一步提高了测量结果的准确性。其中待测样品采集单元102为光电探测器，光电探测器接收待测样品产生的倍频光，并将其转化为电信号后传输给检测单元103。

检测单元103为数据采集器，数据采集器接收光电探测器传输的倍频光的电信号，并将其转化为数字信号，然后与服务器通信，得到待测样品在紫外波段的倍频性能，从而判断待测样品在紫外波段是否具有非线性光学性能。

进一步的，本发明实施例中第一滤光片、待测样品、第二滤光片、衰减片、待测样品采集单元102均设置在暗室中。

本发明提供的紫外二阶非线性光学测试装置，通过激光单元101向待测样品发射第一激光，利用待测样品采集单元102接收第一激光透过待测样品后产生的第一激光的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号，第一激光的倍频光为紫外激光；检测单元103接收待测样品的倍频电信号，并对其进行检测，得到待测样品的光学定性信息。本发明装置通过测试激光透过待测样品后是否产生倍频激光，进而判断待测样品在紫外波段是否具有非线性光学性能。本发明的装置简单，测量成本低，测量效率高，方便快捷。

实施例2：

本发明另一实施例提供了一种紫外二阶非线性光学测试装置，如图2所示，包括激光单元101、待测样品采集单元102、检测单元103、分光镜104和已知样品采集单元105；

激光单元101，用于发射第一激光；

分光镜104，设置在激光单元101的激光出射口，分光镜104将激光单元101产生的第一激光分为两路激光，记为第一路激光和第二路激光，其中第一路激光透过待测样品，第二路激光透过已知样品。

待测样品采集单元102，用于接收第一路激光透过待测样品后产生的第一激光的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号，第一激光的倍频光为紫外激光；

已知样品采集单元105，用于接收第二路激光透过已知样品后产生的第一激光的倍频光，并将其转化为已知样品的倍频电信号；

检测单元103，用于对待测样品倍频电信号和已知样品的倍频电信号进行检测，得到待测样品的光学定量数据。

本发明实施例中，待测样品可以是粉末或者晶体，已知样品可以是石英、磷酸二氢钾(KDP)、偏硼酸钡(BBO)、氟硼酸铍钾(KBBF)等已知倍频系数的材料。待测样品和已知样品各自放置在单独的样品架上，样品架可以精确地在水平和垂直方向转动，样品架通光面上全部选用对第一激光的倍频光的波段高透的玻璃片。

本发明通过对比激光通过待测样品和已知样品后转变为倍频激光的光信号，进而得到待测样品在紫外波段的倍频系数，以及待测样品在紫外波段的非线性光学系数。

进一步的，本实施例光学测试装置还包括：

两组第一滤光片，分别设置在激光单元101与待测样品、激光单元101与已知样品之间的光路上，第一滤光片镀有对第一激光波段高透，而对其他波段高反的介质膜。本发明通过设置第一滤光片，使过滤后的第一激光通过待测样品和已知样品，通过去除其他光波，避免了因为其他光波的影响带来的测量误差，使测量结果更准确。

进一步的，本实施例光学测试装置还包括：

两组第二滤光片，分别设置在待测样品和待测样品采集单元102、已知样品和已知样品采集单元105之间的光路上，第二滤光片镀有对第一激光的倍频光波段高透，而对其他波段高反的介质膜。本发明通过设置第二滤光片，对第一激光的倍频光进行过滤，除去除倍频光之外的其他光波，避免了因为其他光波的影响带来的测量误差，进一步提高了测量的准确性。

进一步的，本实施例光学测试装置还包括：

两组衰减片，分别设置在待测样品和待测样品采集单元102、已知样品和已知样品采集单元105之间的光路上，用于对第一激光的倍频光进行衰减。本发明通过设置的衰减片，其透过率可以由10％-90％之间连续调节，调节待测样品和已知样品产生的倍频光的激光能量，使进入待测样品采集单元102和已知样品采集单元105的激光能量在其测定的有效范围内，进一步提高了测量结果的准确性。其中待测样品采集单元102和已知样品采集单元105均为光电探测器，两个光电探测器分别接收待测样品和已知样品产生的倍频光，并将其转化为电信号后传输给检测单元103。

检测单元103为数据采集器，数据采集器接收光电探测器传输的电信号，并将其转化为数字信号，然后与服务器通信，得到待测样品在紫外波段的倍频系数，从而进一步得到待测样品在紫外波段的非线性光学系数。

进一步的，本发明实施例中第一滤光片、待测样品、已知样品、第二滤光片、衰减片、待测样品采集单元102、已知样品采集单元105均设置在暗室中。

本发明提供的紫外二阶非线性光学测试装置，通过设置分光镜104将激光单元101出射的激光分为两路激光，一路激光通过待测样品，采集待测样品产生的倍频光，另一路激光通过已知样品，采集已知样品产生的倍频光，通过对这两种倍频光进行测量和比较，得到待测样品的光学定量数据。本发明光学测试装置通过测试激光通过待测样品后转变为倍频激光的光信号强度，进而得到待测样品在紫外波段的倍频系数及非线性光学系数。本发明的装置简单，测量成本低，测量效率高，方便快捷。

实施例3：

本实施例提供了一种紫外二阶非线性光学测试装置。

待测样品为磷酸二氢钾(KDP)粉末，购自福建福晶科技股份有限公司。

激光单元101在连续、长脉冲或Q脉冲(包括主动和被动调Q所产生的Q脉冲)工作方式下运转，输出532nm的第一激光。

第一滤光片为镀有对532nm波段高透，而对其他波段高反的介质膜的滤光片，用于滤去干扰的光波成分，确保仅有532nm的第一激光通过。

若待测样品具有紫外波段非线性光学效应，则波长为532nm的激光通过待测样品变为波长为266nm的倍频光；若待测样品不具有紫外波段非线性光学效应，则波长为532nm的激光通过待测样品后的激光波长不变。

第二滤光片为镀有对266nm波段高透，而对其他波段高反的介质膜的滤光片，用于滤去干扰的光波成分，确保仅有266nm的倍频光通过。

衰减片，根据待测样品出射的倍频光的强度，镀制266nm不同透过率的介质膜。

光电探测器选择美国THORLABS提供的PDA25K2磷化镓光电探测器，测定波长范围为150-550nm。光电探测器测定经过第二滤光片后的266nm光的强度，光电探测器将光信号转变为电信号，实时传输给数据采集器。

数据采集器，同步激光单元101的输出激光信号，判断并采集光电探测器的信号，并将电信号数据转化为数字信号同步传送给服务器，服务器判断出待测样品在紫外波段的非线性光学性能。

结果分析，磷酸二氢钾(KDP)粉末有266nm信号，表明该样品具有紫外波段非线性光学效应。

本发明提供的紫外二阶非线性光学测试装置，通过激光单元101向待测样品发射第一激光，利用待测样品采集单元102接收第一激光透过待测样品后产生的第一激光的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号，第一激光的倍频光为紫外激光；检测单元103接收待测样品的倍频电信号，并对其进行检测，得到待测样品的光学定性信息。本发明光学测试装置通过测试激光通过待测样品后转变为倍频激光的光信号，进而得到待测样品在紫外波段的非线性光学性能。本发明的装置简单，测量成本低，测量效率高，方便快捷。

实施例4：

本实施例提供了另一种紫外二阶非线性光学测试装置。与实施例2不同的是：

光电探测器选择北京滨松光子技术股份有限公司生产的CR131型光电倍增管，测试波长范围185-900nm。光电探测器测定经过第二滤光片后的266nm光的强度，光电探测器将光信号转变为电信号，实时传输给数据采集器。

其他同实施例2。

结果分析，磷酸二氢钾(KDP)粉末有266nm信号，表明该样品具有紫外波段非线性光学效应。

本发明提供的紫外二阶非线性光学测试装置，通过激光单元101向待测样品发射第一激光，利用待测样品采集单元102接收第一激光透过待测样品后产生的第一激光的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号，第一激光的倍频光为紫外激光；检测单元103接收待测样品的倍频电信号，并对其进行检测，得到待测样品的光学定性信息。本发明光学测试装置通过测试激光通过待测样品后转变为倍频激光的光信号，进而得到待测样品在紫外波段的非线性光学性能。本发明的装置简单，测量成本低，测量效率高，方便快捷。

实施例5：

本发明另一实施例提供一种应用于上述任一种所述的紫外二阶非线性光学测试装置的测试方法，如图3所示，本实施例方法包括：

步骤201、将第一激光通过待测样品。

具体地，上述输出的第一激光可以是脉冲纳秒、皮秒或者飞秒的激光。

进一步的，第一激光通过待测样品之前，本实施例方法还包括：

对第一激光进行过滤，除去波长为第一激光外的其他光波。

本发明通过对第一激光进行过滤，使过滤后的第一激光通过待测样品，通过去除其他光波，避免了因为其他光波的影响带来的测量误差，使测量结果更准确。

步骤202、采集第一激光透过待测样品后产生的第一激光的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号，第一激光的倍频光为紫外激光。

进一步的，对待测样品产生的倍频光进行采集之前，本实施例方法还包括：

对待测样品产生的倍频光进行过滤，除去波长为第一激光的倍频光外的其他光波。

本发明通过对待测样品产生的倍频光进行过滤，除去除波长为倍频光外的其他光波，避免了因为其他光波的影响带来的测量误差，进一步提高了测量的准确性。

进一步的，对待测样品产生的倍频光进行采集之前，本实施例方法还包括：

对所述待测样品产生的倍频光进行衰减。调节采集的光量。

本发明通过对待测样品产生的倍频光进行衰减，调节采集的光量使其在测定的有效范围内，进一步提高了测量结果的准确性。

步骤203、对待测样品的倍频电信号进行检测，得到待测样品的光学定性信息。

具体的，步骤203为：对待测样品的倍频电信号检测，得到数字信号，然后与服务器通信，得到待测样品在紫外波段的倍频性能，从而进一步判断待测样品在紫外波段是否具有非线性光学性能。

本发明提供的紫外二阶非线性光学测试方法，首先将第一激光通过待测样品，然后采集第一激光透过待测样品后产生的第一激光的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号，其中第一激光的倍频光为紫外激光；最后对待测样品的倍频电信号进行检测，得到待测样品的光学定性信息。本发明光学测试方法通过测试激光通过待测样品后转变为倍频激光的光信号，进而判断待测样品在紫外波段是否具有非线性光学性能。本发明的方法简单，测量成本低，测量效率高，方便快捷。

实施例6：

本发明另一实施例提供一种应用于上述任一种所述的紫外二阶非线性光学测试装置的测试方法，如图4所示，本实施例方法包括：

步骤301、将第一激光分为两路激光，记为第一路激光和第二路激光。

步骤302、将第一路激光透过待测样品后产生待测样品的第一激光给的倍频光，采集待测样品的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号。

步骤303、将第二路激光透过已知样品后产生已知样品的第一激光给的倍频光，采集已知样品的倍频光，并将其转化为已知样品的倍频电信号。

步骤304、对待测样品的倍频电信号和已知样品的倍频电信号进行检测，得到待测样品的光学定量数据。

具体地，上述输出的第一激光可以是脉冲纳秒、皮秒或者飞秒的激光。

其中，已知样品可以是石英、磷酸二氢钾(KDP)、偏硼酸钡(BBO)、氟硼酸铍钾(KBBF)等已知倍频系数的材料。

进一步的，第一激光通过待测样品和已知样品之前，本实施例方法还包括：

对第一激光进行过滤，除去波长为第一激光外的其他光波。

本发明通过对第一激光进行过滤，使过滤后的第一激光通过待测样品和已知样品，通过去除其他光波，避免了因为其他光波的影响带来的测量误差，使测量结果更准确。

进一步的，对待测样品和已知样品产生的倍频光进行采集之前，本实施例方法还包括：

对待测样品和已知样品产生的倍频光进行过滤，除去波长为第一激光的倍频光外的其他光波。

本发明通过对待测样品和已知样品产生的倍频光进行过滤，除去除波长为倍频光外的其他光波，避免了因为其他光波的影响带来的测量误差，进一步提高了测量的准确性。

进一步的，对待测样品和已知样品产生的倍频光进行采集之前，本实施例方法还包括：

对所述待测样品和已知样品产生的倍频光进行衰减。调节采集的光量。

本发明通过对待测样品和已知样品产生的倍频光进行衰减，调节采集的光量，保证了采集的激光能量在其测定的有效范围内，进一步提高了测量结果的准确性。

步骤203、对待测样品和已知样品的倍频电信号进行检测，得到待测样品的光学定量信息。

具体的，步骤203为：对待测样品和已知样品的倍频电信号检测，得到数字信号，然后与服务器通信，得到待测样品在紫外波段的倍频性能，从而进一步得到待测样品在紫外波段的非线性光学性能。

本发明提供的紫外二阶非线性光学测试方法，首先将第一激光分为两路激光，两路激光分别通过待测样品和已知样品，然后分别采集第一激光透过待测样品和已知样品后产生的第一激光的倍频光，并将其转化为待测样品和已知样品的倍频电信号，其中第一激光的倍频光为紫外激光；最后对待测样品和已知样品的倍频电信号进行检测，得到待测样品的光学定量信息。本发明光学测试方法通过测试待测样品倍频光的强度，与标准物在相同条件下的倍频光强度进行比较，即可获得所测待测样品的倍频系数和非线性光学系数。本发明的方法简单，测量成本低，测量效率高，结果准确，方便快捷。

以上所述，仅是本发明的几个实施例，并非对本发明做任何形式的限制，虽然本发明以较佳实施例揭示如上，然而并非用以限制本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案的范围内，利用上述揭示的技术内容做出些许的变动或修饰均等同于等效实施案例，均属于技术方案范围内。

Claims (10)

1.一种紫外二阶非线性光学测试装置，其特征在于，所述光学测试装置包括：

激光单元，用于向待测样品发射第一激光；

待测样品采集单元，用于接收所述第一激光透过待测样品后产生的第一激光的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号，所述第一激光的倍频光为紫外激光；

检测单元，用于接收所述待测样品的倍频电信号，并对其进行检测，得到待测样品的光学定性信息。

2.根据权利要求1所述的紫外二阶非线性光学测试装置，其特征在于，所述光学测试装置还包括分光镜和已知样品采集单元；

所述分光镜设置在所述激光单元的激光出射口，所述分光镜将所述激光单元出射的第一激光分为两路激光，记为第一路激光和第二路激光；

所述第一路激光透过所述待测样品后产生待测样品的第一激光的倍频光，所述待测样品采集单元采集所述待测样品倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号传输给所述检测单元；

所述第二路激光透过所述已知样品后产生已知样品的第一激光的倍频光，所述已知样品采集单元采集所述已知样品倍频光，并将其转化为已知样品的倍频电信号传输给所述检测单元；

相应的，所述检测单元用于对所述待测样品倍频电信号和所述已知样品的倍频电信号进行检测，得到待测样品的光学定量数据。

3.根据权利要求1或2所述的紫外二阶非线性光学测试装置，其特征在于，所述光学测试装置还包括：

第一滤光片，设置在所述第一激光与待测样品、和/或第一激光与已知样品之间的光路上，所述第一滤光片镀有对所述第一激光波段高透，而对其他波段高反的介质膜。

4.根据权利要求1或2所述的紫外二阶非线性光学测试装置，其特征在于，所述光学测试装置还包括：

第二滤光片，设置在所述待测样品与所述待测样品采集单元、和/或已知样品与所述已知样品采集单元之间的光路上，所述第二滤光片镀有对所述第一激光的倍频光波段高透，而对其他波段高反的介质膜。

5.根据权利要求1或2所述的紫外二阶非线性光学测试装置，其特征在于，所述光学测试装置还包括：

衰减片，设置在所述待测样品与所述待测样品采集单元、和/或已知样品与所述已知样品采集单元之间的光路上，用于对所述第一激光的倍频光进行衰减。

6.一种紫外二阶非线性光学测试方法，其特征在于，所述方法包括：

将第一激光通过待测样品；

采集第一激光透过待测样品后产生的第一激光的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号，所述第一激光的倍频光为紫外激光；

对待测样品的倍频电信号进行检测，得到待测样品的光学定性信息。

7.根据权利要求6所述的紫外二阶非线性光学测试方法，其特征在于，所述第一激光通过待测样品之前，所述方法还包括：

将所述第一激光分为两路激光，记为第一路激光第二路激光；

将所述第一路激光透过待测样品后产生待测样品的第一激光的倍频光，采集待测样品的倍频光，并将其转化为待测样品的倍频电信号；

将所述第二路激光透过已知样品后产生已知样品的第一激光的倍频光，采集已知样品的倍频光，并将其转化为已知样品的倍频电信号；

对所述待测样品的倍频电信号和所述已知样品的倍频电信号进行检测，得到待测样品的光学定量数据。

8.根据权利要求6或7所述的紫外二阶非线性光学测试方法，其特征在于，所述第一激光通过待测样品和/或已知样品之前，所述方法还包括：

对所述第一激光进行过滤，除去波长为第一激光外的其他光波。

9.根据权利要求6或7所述的紫外二阶非线性光学测试方法，其特征在于，对所述待测样品和/或已知样品产生的倍频光进行采集之前，所述方法还包括：

对所述倍频光进行过滤，除去波长为第一激光的倍频光外的其他光波。

10.根据权利要求6或7所述的紫外二阶非线性光学测试方法，其特征在于，对所述待测样品和/或已知样品的倍频光进行采集之前，所述方法还包括：

对所述待测样品和/或已知样品产生的倍频光进行衰减。

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