CN110932936B - 一种测试方法、装置以及存储介质和测试设备 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例公开了一种测试方法、装置以及存储介质和测试设备，该方法包括：基于预设参数的第一值，确定第一频率范围；其中，所述第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值；对所述预设参数进行参数值调整，得到所述预设参数的第二值；基于所述第二值，测试所述第一频率范围内每一频率各自对应的第一测试距离；当所测得的第一测试距离均符合预设距离阈值时，确定所述第二值和所述第一频率范围为目标测试结果。
Description
技术领域
本申请涉及近场通信(Near Field Communication，NFC)技术领域，尤其涉及一种测试方法、装置以及存储介质和测试设备。
背景技术
Felica是由日本Sony公司开发的一种非接触智能卡技术，无需插入终端的读写槽，便可以实现快捷可靠的数据传送。目前，Felica技术广泛应用于公交、轨道交通、便利店、门禁等场景。但是针对Felica技术的应用，首先需要通过Felica测试认证，该测试认证包含了多种NFC读卡器(Reader)的兼容性测试。
在测试认证的过程中，其中一项测试用例是在中心位置点，测试最高距离(MaxDistance，Dmax)，Dmax的标准要求达到85mm以上。然而，当Dmax达不到标准要求时，目前的解决方案是通过调整谐振频率，以改善NFC读卡器(比如EG2)和终端之间的射频耦合，从而能够提高Dmax；但是该解决方案将会导致最终测试通过的频率带宽较小，使得终端在生产测试环节，由于较小的频率带宽而出现较多的不良机，降低了产品良率。
发明内容
本申请实施例提出一种测试方法、装置以及存储介质和测试设备，可以扩大能够通过测试认证的频率带宽，还可以提高产品良率。
本申请实施例的技术方案是这样实现的：
第一方面，本申请实施例提供了一种测试方法，该方法包括：
基于预设参数的第一值，确定第一频率范围；其中，所述第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值；
对所述预设参数进行参数值调整，得到所述预设参数的第二值；
基于所述第二值，测试所述第一频率范围内每一频率各自对应的第一测试距离；
当所测得的第一测试距离均符合预设距离阈值时，确定所述第二值和所述第一频率范围为目标测试结果。
第二方面，本申请实施例提供了一种测试装置，该测试装置包括确定单元、调整单元、测试单元和判断单元，其中，
确定单元，配置为基于预设参数的第一值，确定第一频率范围；其中，所述第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值；
调整单元，配置为对所述预设参数进行参数值调整，得到所述预设参数的第二值；
测试单元，配置为基于所述第二值，测试所述第一频率范围内每一频率各自对应的第一测试距离；
判断单元，配置为当所测得的第一测试距离均符合预设距离阈值时，确定所述第二值和所述第一频率范围为目标测试结果。
第三方面，本申请实施例提供了一种测试装置，该测试装置包括存储器和处理器；其中，
存储器，用于存储能够在所述处理器上运行的计算机程序；
处理器，用于在运行所述计算机程序时，执行如第一方面所述的方法。
第四方面，本申请实施例提供了一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质存储有测试程序，所述测试程序被至少一个处理器执行时实现如第一方面所述的方法。
第五方面，本申请实施例提供了一种测试设备，该测试设备至少包括如第二方面或第三方面所述的测试装置。
本申请实施例所提供的一种测试方法、装置以及存储介质和测试设备，其中，基于预设参数的第一值，确定第一频率范围，第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值；对预设参数进行参数值调整，得到预设参数的第二值；基于所述第二值，测试第一频率范围内每一频率各自对应的第一测试距离；当所测得的第一测试距离均符合预设距离阈值时，确定所述第二值和所述第一频率范围为目标测试结果；这样，针对谐振频率调整后更宽的第一频率范围，虽然该第一频率范围内存在至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值的测试失败现象，这时候通过调整预设参数的参数值(比如由第一值调整为第二值)，可以使得更宽的第一频率范围内每一频率对应的测试距离均符合预设距离阈值，从而扩大了能够通过测试认证的频率带宽，进而提高了产品良率。
附图说明
图1为本申请实施例提供的一种测试方法的流程示意图；
图2为本申请实施例提供的另一种测试方法的流程示意图；
图3为本申请实施例提供的一种测试方法的详细流程示意图；
图4为本申请实施例提供的一种频率与测试距离的测试结果示意图；
图5为本申请实施例提供的另一种频率与测试距离的测试结果示意图；
图6为本申请实施例提供的一种测试装置的组成结构示意图；
图7为本申请实施例提供的一种测试装置的具体硬件结构示意图；
图8为本申请实施例提供的一种测试设备的组成结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关申请，而非对该申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与有关申请相关的部分。
近场通信(Near Field Communication，简称NFC)，是一种新兴的技术，使用了NFC技术的终端(例如移动电话、智能手机、刷卡机等)可以在彼此靠近的情况下进行数据交换，是由非接触式射频识别(Radio Frequency Identification，RFID)及互连互通技术整合演变而来的，通过在单一芯片上集成感应式读卡器、感应式卡片和点对点通信的功能，利用移动终端实现移动支付、电子票务、门禁、移动身份识别、防伪等应用。
NFC Felica技术标准是由日本Sony公司提出的，遵循日本的JIS:X6319-4标准，与ISO14443-A和ISO14443-B形成国际主流的NFC技术标准，其中心频率为13.56MHz。其中，Felica技术目前在日本和中国香港等地区普遍使用，主要应用于公交、轨道交通、便利店、门禁等场景。
在日本上市的终端产品，如果要使用Felica技术，那么需要通过Felica测试认证，该测试认证包含了多种NFC Reader的兼容性测试。其中，EG2是其中一款NFC Reader，广泛应用于日本轨道交通，由于针对EG2的测试用例比较多，其中一项测试用例是在中心位置点，测试Dmax，其标准要求达到85mm以上。通常来说，按照测试规则，在0mm～Dmax的范围内，以1mm为步进，每个位置点测试100次交易，每个位置点的交易成功率至少是99％。这时候，如果Dmax达不到标准要求时，目前的解决方案是调整谐振频率(fo)；具体地，通过调整谐振频率，可以改善EG2和手机之间的射频耦合，从而达到提高Max Distance的目的。
然而，目前的解决方案通过调整谐振频率，可以达到提高Dmax的目的，但是该解决方案将会导致最终能够通过测试的频率带宽较小，后续会降低生产线的产品良率。比如，假定最终通过测试的频率带宽为13.46MHz～13.76MHz，也就是说，只有在该300kHz的带宽范围内，终端才能够测试通过(PASS)，超出该带宽范围就会导致测试失败(Fail)；意味着在生产测试环节，生产线所加工的终端，其谐振频率必须落在该300kHz的带宽范围内，否则该终端为不良机。对于NFC终端来说，300kHz属于一个比较小的带宽范围，从而会在生产线将会出现较多的不良机，降低了产品良率。
本申请实施例提供了一种测试方法，首先基于预设参数的第一值，确定第一频率范围，第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值；然后对预设参数进行参数值调整，得到预设参数的第二值；再基于所述第二值，测试第一频率范围内每一频率各自对应的第一测试距离；当所测得的第一测试距离均符合预设距离阈值时，确定所述第二值和所述第一频率范围为目标测试结果；这样，为了提高EG2的测试距离，针对谐振频率调整后更宽的第一频率范围，虽然该第一频率范围内存在有至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值的测试失败现象，这时候通过调整预设参数的参数值(比如由第一值调整为第二值)，可以使得更宽的第一频率范围内每一频率对应的测试距离均符合预设距离阈值，从而扩大了能够通过测试认证的频率带宽，进而提高了产品良率。
下面将结合附图对本申请各实施例进行详细说明。
本申请的一实施例中，参见图1，其示出了本申请实施例提供的一种测试方法的流程示意图。如图1所示，该方法可以包括：
S101：基于预设参数的第一值，确定第一频率范围；其中，所述第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值；
需要说明的是，预设参数可以是基于高值的卡模拟(Card emulation Of High，COH)参数，也可以是基于中值的卡模拟(Card emulation Of Middle，COM)参数，甚至还可以是基于低值的卡模拟(Card emulation Of Low，COL)参数，本申请实施例不作具体限定。
还需要说明的是，预设距离阈值是预先设定的符合标准要求的测试距离值，可以用Dmax表示。本申请实施例中，预设距离阈值可以设置为85mm，但是并不作具体限定。
这样，针对预设参数来说，可以先固定预设参数的取值为第一值，然后测试不同频率对应的测试距离，这时候可以得到第一频率范围；在该第一频率范围内，部分频率对应的测试距离能够符合预设距离阈值，表明了这部分频率能够通过测试认证；而部分频率对应的测试距离则不符合预设距离阈值，表明了这部分频率不能够通过测试认证；也就是说，基于预设参数的第一值，能够通过测试认证的频率范围小于第一频率范围。
S102：对所述预设参数进行参数值调整，得到所述预设参数的第二值；
需要说明的是，可以通过调整预设参数的参数值，比如将预设参数由第一值调整到第二值；这里，第一值和第二值不同，且第一值小于第二值。这样，基于预设参数的第二值，重新测试第一频率范围内每一频率各自对应的第一测试距离。
S103：基于所述第二值，测试所述第一频率范围内每一频率各自对应的第一测试距离；
S104：当所测得的第一测试距离均符合预设距离阈值时，确定所述第二值和所述第一频率范围为目标测试结果。
需要说明的是，根据预设参数的第二值，重新测试不同频率对应的测试距离，这时候可以看到，某些频率对应的测试距离原本不符合预设距离阈值，而通过调整预设参数的参数值后，这部分频率对应的测试距离可以符合预设距离阈值，从而能够使得第一频率范围内的每一频率均可以测试通过。
如此，基于该目标测试结果，也就使得通过测试认证的频率范围变宽了。这样，意味着在生产测试环节，生产线所加工的终端，其谐振频率能够落在一个更宽的频率带宽范围内，减小了不良机的出现概率，从而提高了产品良率。
进一步地，如果根据预设参数的第二值，并不能够保证所测得的第一测试距离均符合预设距离阈值，这时候还可以继续对预设参数进行参数值调整，致使在最终调整后的参数值(比如第三值)的情况下，可以使得所测得的第一测试距离均符合预设距离阈值。
在一些实施例中，对于S103来说，在所述基于所述第二值，测试所述第一频率范围内每一频率各自对应的第一测试距离之后，该方法还可以包括：
若所测得的第一测试距离中至少一个不符合预设距离阈值，则继续对所述预设参数进行参数值调整，得到所述预设参数的第三值；
基于所述第三值，测试所述第一频率范围内每一频率各自对应的第三测试距离；
当所测得的第三测试距离均符合预设距离阈值时，确定所述第三值和所述第一频率范围为目标测试结果。
需要说明的是，在对预设参数进行参数值调整之后，基于预设参数的第二值，如果所测得的第一测试距离中，仍然存在有至少一个测试距离不符合预设距离阈值，比如仍然存在部分的测试距离小于85mm，则表明了所测得的第一测试距离中至少一个不符合预设距离阈值，这时候可以继续对预设参数进行参数值调整，调整后能够得到预设参数的第三值，然后基于预设参数的第三值，测试第一频率范围内每一频率各自对应的第三测试距离；当所测得的第三测试距离均符合预设距离阈值时，这时候可以确定出预设参数的第三值和第一频率范围为目标测试结果；如此，基于该目标测试结果，可以扩大能够通过测试认证的频率带宽。
也就是说，本申请实施例中，通过对预设参数进行参数值调整，直至使得第一频率范围内每一频率各自对应的测试距离均符合预设距离阈值，从而再停止对预设参数的参数值调整。
本实施例提供了一种测试方法，基于预设参数的第一值，确定第一频率范围，第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值；对预设参数进行参数值调整，得到预设参数的第二值；基于所述第二值，测试第一频率范围内每一频率各自对应的第一测试距离；当所测得的第一测试距离均符合预设距离阈值时，确定所述第二值和所述第一频率范围为目标测试结果；这样，为了提高EG2的测试距离，针对谐振频率调整后更宽的第一频率范围，虽然该第一频率范围内存在有至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值的测试失败现象，这时候通过调整预设参数的参数值(比如由第一值调整为第二值)，可以使得更宽的第一频率范围内每一频率对应的测试距离均符合预设距离阈值，从而扩大了能够通过测试认证的频率带宽，进而提高了产品良率。
本申请的另一实施例中，参见图2，其示出了本申请实施例提供的另一种测试方法的流程示意图。如图2所示，该方法可以包括：
S201：获取预设的频率测试范围；
S202：基于预设参数的第一值，测试所述频率测试范围内每一频率各自对应的第二测试距离；
需要说明的是，可以预先获取一个频率测试范围，然后预设参数的参数值固定在第一值；这样，在该频率测试范围内，测试每一频率各自对应的第二测试距离；其中，部分频率对应的第二测试距离可能符合预设距离阈值，部分频率对应的第二测试距离可能不符合预设距离阈值，能够形成一个频率与测试距离的对应关系表。
S203：若所测得的第二测试距离均符合预设距离阈值，则确定所述频率测试范围为所述第二频率范围；
需要说明的是，在得到频率与测试距离的对应关系表之后，还可以确定出第二频率范围；其中，第二频率范围内每一频率对应的测试距离均符合预设距离阈值。
这里，如果预设的频率测试范围内每一频率对应的测试距离均符合预设距离阈值，那么第二频率范围可以是预设的频率范围；如果预设的频率测试范围内每一频率对应的测试距离中至少一个不符合预设距离阈值，那么第二频率范围可以是预设的频率范围的一部分；也就是说，第二频率范围可以是预设的频率范围，也可以是预设的频率范围的一部分，本申请实施例不作具体限定。
S204：对所述第二频率范围进行范围调整，得到所述第一频率范围；其中，所述第一频率范围大于所述第二频率范围，且所述第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值。
需要说明的是，在得到第二频率范围之后，可以对第二频率范围进行范围调整，即扩大第二频率范围，从而能够得到第一频率范围；虽然第一频率范围大于第二频率范围，但是基于预设参数的第一值，第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值。
还需要说明的是，基于预设参数的第一值，如果预设的频率测试范围内每一频率对应的测试距离中至少一个不符合预设距离阈值，表明了第二频率范围可以是预设的频率范围的一部分，这时候可以确定该频率测试范围为第一频率范围，即第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值。因此，在一些实施例中，在S202之后，该方法还可以包括：若所测得的第二测试距离中至少一个不符合预设距离阈值，则确定所述频率测试范围为所述第一频率范围。
这样，在确定出第一频率范围之后，可以继续执行步骤S102-S104。具体地，对预设参数进行参数值调整，得到预设参数的第二值；然后基于所述第二值，测试第一频率范围内每一频率各自对应的第一测试距离；当所测得的第一测试距离均符合预设距离阈值时，确定所述第二值和所述第一频率范围为目标测试结果。
也就是说，通过对预设参数进行参数值调整，即由第一值调整到第二值；然后根据预设参数的第二值，重新测试不同频率对应的测试距离，这时候可以看到，某些频率对应的测试距离原本不符合预设距离阈值，而通过调整预设参数的参数值后，这部分频率对应的测试距离可以符合预设距离阈值，从而能够使得第一频率范围内的每一频率均可以测试通过；如此，基于该目标测试结果，也就使得通过测试认证的频率范围变宽了。
进一步地，预设参数包括下述至少一项：COM参数、COH参数和COL参数。
也就是说，预设参数可以是COH参数，也可以是COM参数，甚至还可以是COL参数。另外，预设参数的取值范围为0000～FFFF，即预设参数的参数值可以是0000～FFFF中的任意值，比如，第一值可以为0x40，第二值可以为0x80，本申请实施例均不作具体限定。
还需要说明的是，预设参数可以是Sony NFC芯片的寄存器称谓，对于其他NFC芯片的名称可能不一样，但是只要是这类功能的寄存器，无论其他NFC芯片的寄存器名称如何，均能够适用于本申请实施例的测试方法。
本实施例提供了一种测试方法，对前述实施例的具体实现进行了详细阐述，从中可以看出，通过前述实施例的技术方案，在进行NFC Felica测试时，为了提高EG2的测试距离，针对谐振频率调整后更宽的第一频率范围，虽然该第一频率范围内存在有至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值的测试失败现象，这时候通过调整预设参数的参数值(比如由第一值调整为第二值)，可以使得更宽的第一频率范围内每一频率对应的测试距离均符合预设距离阈值，也就是说，采用调整谐振频率和预设参数的参数值相结合的方式，在保证测试认证通过的同时，还可以扩大能够通过测试认证的频率带宽，进而提高了产品良率。
本申请的又一实施例中，参见图3，其示出了本申请实施例提供的一种测试方法的详细流程示意图。如图3所示，该详细可以包括：
S301：获取预设的频率测试范围；
S302：基于预设参数的第一值，测试所述频率测试范围内每一频率各自对应的第二测试距离；
需要说明的是，可以预先获取一个频率测试范围，比如13.56MHz±300kHz，即13.26MHz～13.86MHz；然后预设参数的参数值固定在第一值，假定第一值为0x40；在该频率测试范围内，测试每一频率各自对应的第二测试距离；其中，所测得的第二测试距离中，部分频率对应的第二测试距离能够符合预设距离阈值，比如这部分频率对应的第二测试距离能够达到85mm的要求，这时候该部分频率对应的第二测试距离为PASS；而另外部分频率对应的第二测试距离不符合预设距离阈值，比如这部分频率对应的第二测试距离达不到85mm的要求，即另外部分频率对应的第二测试距离为Fail；从而可以形成频率与测试距离(fovs.Dmax)的对应关系表。
S303：判断所测得的第二测试距离是否均PASS；
S304：若判断结果为是，则扩大所述频率测试范围，以得到第一频率范围；
S305：若判断结果为否，则确定第一频率范围；其中，第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值；
需要说明的是，在得到第二测试距离之后，可以判断第二测试距离是否均PASS。如果所测得的第二测试距离均符合预设距离阈值，即所测得的第二测试距离均PASS，这时候可以扩大该频率测试范围，以得到第一频率范围；如果所测得的第二测试距离并不能够保证均符合预设距离阈值，即所测得的第二测试距离中至少一个不符合预设距离阈值，也即所测得的第二测试距离中存在fail，这时候也可以确定出第一频率范围；其中，第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值。
S306：对预设参数进行参数值调整，得到预设参数的第二值；
S307：基于所述第二值，测试第一频率范围内每一频率各自对应的第一测试距离；
需要说明的是，可以提高预设参数的参数值，即对预设参数进行参数值调整，将预设参数由第一值调整到第二值，比如第二值为0x80；然后重新测试第一频率范围内不同频率各自对应的第一测试距离，此时可以形成新的频率与测试距离(fo vs.Dmax)的对应关系表。
在该新的对应关系表中，可以看出某些原本测试fail的频率能够通过测试，即某些频率对应的测试距离原本不符合预设距离阈值，而通过调整预设参数的参数值后，这部分频率对应的测试距离可以符合预设距离阈值，从而使得通过测试认证的频率范围变宽了。
S308：判断所测得的第一测试距离是否均PASS；
S309：若判断结果为是，则确定预设参数的第二值和第一频率范围为目标测试结果；
S310：若判断结果为否，则继续对预设参数进行参数值调整，得到预设参数的第三值；
S311：基于所述第三值，测试第一频率范围内每一频率各自对应的第三测试距离；且当所测得的第三测试距离均PASS时，确定预设参数的第三值和第一频率范围为目标测试结果；
S312：基于目标测试结果，以保证测试通过。
需要说明的是，在对预设参数进行参数值调整之后，基于预设参数的第二值，如果所测得的第一测试距离中，仍然存在至少一个测试距离不符合预设距离阈值，比如仍然存在部分的测试距离小于85mm，则表明了所测得的第一测试距离中仍然存在fail，这时候可以继续对预设参数进行参数值调整，调整后能够得到预设参数的第三值，然后基于预设参数的第三值，测试第一频率范围内每一频率各自对应的第三测试距离；当所测得的第三测试距离均符合预设距离阈值时，此时可以确定出预设参数的第三值和第一频率范围为目标测试结果；如此，基于该目标测试结果，可以扩大能够通过测试认证的频率带宽。也就是说，通过对预设参数进行参数值调整，直至使得第一频率范围内每一频率各自对应的测试距离均符合预设距离阈值，从而再停止对预设参数的参数值调整。
示例性地，假定预设的频率测试范围为13.26MHz～13.86MHz，预设参数以COM参数为例，COM＝0x40，然后在13.26MHz～13.86MHz进行测试，所得到的测试结果如图4所示。在图4中，加粗虚线为预设距离阈值(比如85mm)的标准要求(Criteria)；这样，在加粗虚线上方的频率点表示通过测试的频率点，这些频率点组成第二频率范围；也就是说，第二频率范围为13.46MHz～13.76MHz，而且在第二频率范围内每一频率对应的测试距离均符合预设距离阈值，即有300kHz的频率带宽可以通过测试。
进一步地，扩大第二频率范围，比如将频率点fo分别设定在临近通过测试的边界频率13.41MHz和13.81MHz处，这时候可以得到第一频率范围，即13.41MHz～13.81MHz，且第一频率范围大于第二频率范围；此时调整COM值，即将COM值由0x40提高到0x80，即调整后的COM＝0x80，然后在13.41MHz～13.81MHz进行测试，所得到的测试结果如图5所示。在图5中，加粗虚线为预设距离阈值(比如85mm)的标准要求(Criteria)；这样，在加粗虚线上方的频率点表示通过测试的频率点，这些频率点组成第一频率范围；也就是说，第一频率范围为13.41MHz～13.81MHz，而且在第一频率范围内每一频率对应的测试距离均符合预设距离阈值；可以看出，能够通过测试的频率带宽变成了13.41MHz～13.81MHz，这时候共有400kHz的频率带宽可以通过测试。
本实施例提供了一种测试方法，对前述实施例的具体实现进行了详细阐述，从中可以看出，通过前述实施例的技术方案，在进行NFC Felica测试时，为了提高EG2的测试距离，针对谐振频率调整后更宽的第一频率范围，虽然该第一频率范围内存在有至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值的测试失败现象，这时候通过调整预设参数的参数值(比如由第一值调整为第二值)，可以使得更宽的第一频率范围内每一频率对应的测试距离均符合预设距离阈值，也就是说，采用调整谐振频率和预设参数的参数值相结合的方式，在保证测试认证通过的同时，还可以扩大能够通过测试认证的频率带宽，进而提高了产品良率。
基于前述实施例相同的发明构思，参见图6，其示出了本申请实施例提供的一种测试装置60的组成结构示意图。如图6所示，测试装置60可以包括确定单元601、调整单元602、测试单元603和判断单元604，其中，
所述确定单元601，配置为基于预设参数的第一值，确定第一频率范围；其中，所述第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值；
所述调整单元602，配置为对所述预设参数进行参数值调整，得到所述预设参数的第二值；
所述测试单元603，配置为基于所述第二值，测试所述第一频率范围内每一频率各自对应的第一测试距离；
所述判断单元604，配置为当所测得的第一测试距离均符合预设距离阈值时，确定所述第二值和所述第一频率范围为目标测试结果。
在上述方案中，参见图6，测试装置60还可以包括获取单元605，配置为基于预设参数的第一值，获取测试距离符合预设距离阈值的第二频率范围；
所述调整单元602，还配置为对所述第二频率范围进行范围调整，得到所述第一频率范围；其中，所述第一频率范围大于所述第二频率范围，且所述第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值。
在上述方案中，所述获取单元605，还配置为获取预设的频率测试范围；
所述测试单元603，还配置为基于所述第一值，测试所述频率测试范围内每一频率各自对应的第二测试距离；
所述判断单元604，还配置为若所测得的第二测试距离均符合预设距离阈值，则确定所述频率测试范围为所述第二频率范围。
在上述方案中，所述判断单元604，还配置为若所测得的第二测试距离中至少一个不符合预设距离阈值，则确定所述频率测试范围为所述第一频率范围。
在上述方案中，所述调整单元602，还配置为若所测得的第一测试距离中至少一个不符合预设距离阈值，则继续对所述预设参数进行参数值调整，得到所述预设参数的第三值；
所述测试单元603，还配置为基于所述第三值，测试所述第一频率范围内每一频率各自对应的第三测试距离；
所述判断单元604，还配置为当所测得的第三测试距离均符合预设距离阈值时，确定所述第三值和所述第一频率范围为目标测试结果。
在上述方案中，所述预设参数可以包括下述至少一项：COM参数、COH参数和COL参数。
可以理解地，在本实施例中，“单元”可以是部分电路、部分处理器、部分程序或软件等等，当然也可以是模块，还可以是非模块化的。而且在本实施例中的各组成部分可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。
所述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并非作为独立的产品进行销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中，基于这样的理解，本实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或processor(处理器)执行本实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read Only Memory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
因此，本实施例提供了一种计算机存储介质，该计算机存储介质存储有测试程序，所述测试程序被至少一个处理器执行时实现前述实施例中任一项所述的方法的步骤。
基于上述测试装置60的组成以及计算机存储介质，参见图7，其示出了本申请实施例提供的测试装置60的具体硬件结构，可以包括：通信接口701、存储器702和处理器703；各个组件通过总线系统704耦合在一起。可理解，总线系统704用于实现这些组件之间的连接通信。总线系统704除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。但是为了清楚说明起见，在图7中将各种总线都标为总线系统704。其中，
通信接口701，用于在与其他外部网元之间进行收发信息过程中，信号的接收和发送；
存储器702，用于存储能够在处理器703上运行的计算机程序；
处理器703，用于在运行所述计算机程序时，执行：
基于预设参数的第一值，确定第一频率范围；其中，所述第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值；
对所述预设参数进行参数值调整，得到所述预设参数的第二值；
基于所述第二值，测试所述第一频率范围内每一频率各自对应的第一测试距离；
当所测得的第一测试距离均符合预设距离阈值时，确定所述第二值和所述第一频率范围为目标测试结果。
可以理解，本申请实施例中的存储器702可以是易失性存储器或非易失性存储器，或可包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、可编程只读存储器(Programmable ROM，PROM)、可擦除可编程只读存储器(Erasable PROM，EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(Electrically EPROM，EEPROM)或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的RAM可用，例如静态随机存取存储器(Static RAM，SRAM)、动态随机存取存储器(Dynamic RAM，DRAM)、同步动态随机存取存储器(Synchronous DRAM，SDRAM)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(Double Data RateSDRAM，DDRSDRAM)、增强型同步动态随机存取存储器(Enhanced SDRAM，ESDRAM)、同步链动态随机存取存储器(Synchronous link DRAM，SLDRAM)和直接内存总线随机存取存储器(Direct Rambus RAM，DRRAM)。本申请描述的系统和方法的存储器702旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
而处理器703可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过处理器703中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器703可以是通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本申请实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本申请实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器702，处理器703读取存储器702中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。
可以理解的是，本申请描述的这些实施例可以用硬件、软件、固件、中间件、微码或其组合来实现。对于硬件实现，处理单元可以实现在一个或多个专用集成电路(Application Specific Integrated Circuits，ASIC)、数字信号处理器(Digital SignalProcessing，DSP)、数字信号处理设备(DSP Device，DSPD)、可编程逻辑设备(ProgrammableLogic Device，PLD)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)、通用处理器、控制器、微控制器、微处理器、用于执行本申请所述功能的其它电子单元或其组合中。
对于软件实现，可通过执行本申请所述功能的模块(例如过程、函数等)来实现本申请所述的技术。软件代码可存储在存储器中并通过处理器执行。存储器可以在处理器中或在处理器外部实现。
可选地，作为另一个实施例，处理器703还配置为在运行所述计算机程序时，执行前述实施例中任一项所述的方法的步骤。
参见图8，其示出了本申请实施例提供的一种测试设备80的组成结构示意图。如图8所示，测试设备80至少可以包括前述实施例中任一项所述的测试装置60。这样，在进行NFCFelica测试时，为了提高EG2的测试距离，测试设备80采用调整谐振频率和预设参数的参数值相结合的方式，在保证测试认证通过的同时，还可以扩大能够通过测试认证的频率带宽，进而提高了产品良率。
需要说明的是，在本申请中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
上述本申请实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
本申请所提供的几个方法实施例中所揭露的方法，在不冲突的情况下可以任意组合，得到新的方法实施例。
本申请所提供的几个产品实施例中所揭露的特征，在不冲突的情况下可以任意组合，得到新的产品实施例。
本申请所提供的几个方法或设备实施例中所揭露的特征，在不冲突的情况下可以任意组合，得到新的方法实施例或设备实施例。
以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (15)
1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：
基于预设参数的第一值，确定第一频率范围；其中，所述第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值；
对所述预设参数进行参数值调整，得到所述预设参数的第二值；
基于所述第二值，测试所述第一频率范围内每一频率各自对应的第一测试距离；
当所测得的第一测试距离均符合预设距离阈值时，确定所述第二值和所述第一频率范围为目标测试结果；
其中，所述方法应用于非接触智能卡Felica，所述测试距离表示在中心位置点测试得到的最高距离Max Distance，所述频率表示谐振频率。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于预设参数的第一值，确定第一频率范围，包括：
基于预设参数的第一值，获取测试距离符合预设距离阈值的第二频率范围；
对所述第二频率范围进行范围调整，得到所述第一频率范围；其中，所述第一频率范围大于所述第二频率范围，且所述第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于预设参数的第一值，确定测试距离符合预设距离阈值的第二频率范围，包括：
获取预设的频率测试范围；
基于所述第一值，测试所述频率测试范围内每一频率各自对应的第二测试距离；
若所测得的第二测试距离均符合预设距离阈值，则确定所述频率测试范围为所述第二频率范围。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述基于所述第一值，测试所述频率测试范围内每一频率各自对应的第二测试距离之后，所述方法还包括：
若所测得的第二测试距离中至少一个不符合预设距离阈值，则确定所述频率测试范围为所述第一频率范围。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述基于所述第二值，测试所述第一频率范围内每一频率各自对应的第一测试距离之后，所述方法还包括：
若所测得的第一测试距离中至少一个不符合预设距离阈值，则继续对所述预设参数进行参数值调整，得到所述预设参数的第三值；
基于所述第三值，测试所述第一频率范围内每一频率各自对应的第三测试距离；
当所测得的第三测试距离均符合预设距离阈值时，确定所述第三值和所述第一频率范围为目标测试结果。
6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述预设参数包括下述至少一项：COM参数、COH参数和COL参数；
其中，所述COM参数是指基于中值的卡模拟参数，所述COH参数是指基于高值的卡模拟参数，所述COL参数是指基于低值的卡模拟参数。
7.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括确定单元、调整单元、测试单元和判断单元，其中，
所述确定单元，配置为基于预设参数的第一值，确定第一频率范围；其中，所述第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值；
所述调整单元，配置为对所述预设参数进行参数值调整，得到所述预设参数的第二值；
所述测试单元，配置为基于所述第二值，测试所述第一频率范围内每一频率各自对应的第一测试距离；
所述判断单元，配置为当所测得的第一测试距离均符合预设距离阈值时，确定所述第二值和所述第一频率范围为目标测试结果；
其中，所述测试装置应用于非接触智能卡Felica，所述测试距离表示在中心位置点测试得到的最高距离Max Distance，所述频率表示谐振频率。
8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括获取单元，配置为基于预设参数的第一值，获取测试距离符合预设距离阈值的第二频率范围；
所述调整单元，还配置为对所述第二频率范围进行范围调整，得到所述第一频率范围；其中，所述第一频率范围大于所述第二频率范围，且所述第一频率范围内至少一个频率对应的测试距离不符合预设距离阈值。
9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述获取单元，还配置为获取预设的频率测试范围；
所述测试单元，还配置为基于所述第一值，测试所述频率测试范围内每一频率各自对应的第二测试距离；
所述判断单元，还配置为若所测得的第二测试距离均符合预设距离阈值，则确定所述频率测试范围为所述第二频率范围。
10.根据权利要求9所述的测试装置，其特征在于，所述判断单元，还配置为若所测得的第二测试距离中至少一个不符合预设距离阈值，则确定所述频率测试范围为所述第一频率范围。
11.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述调整单元，还配置为若所测得的第一测试距离中至少一个不符合预设距离阈值，则继续对所述预设参数进行参数值调整，得到所述预设参数的第三值；
所述测试单元，还配置为基于所述第三值，测试所述第一频率范围内每一频率各自对应的第三测试距离；
所述判断单元，还配置为当所测得的第三测试距离均符合预设距离阈值时，确定所述第三值和所述第一频率范围为目标测试结果。
12.根据权利要求7至11任一项所述的测试装置，其特征在于，所述预设参数包括下述至少一项：COM参数、COH参数和COL参数；
其中，所述COM参数是指基于中值的卡模拟参数，所述COH参数是指基于高值的卡模拟参数，所述COL参数是指基于低值的卡模拟参数。
13.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括存储器和处理器；其中，
所述存储器，用于存储能够在所述处理器上运行的计算机程序；
所述处理器，用于在运行所述计算机程序时，执行如权利要求1至6任一项所述的方法。
14.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质存储有测试程序，所述测试程序被至少一个处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述的方法。
15.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备至少包括如权利要求7至13任一项所述的测试装置。
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