CN110895645B - 目标修正码确定方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本公开是关于一种目标修正码确定方法、装置、电子设备和存储介质,涉及集成电路技术领域,该方法包括:将修正码阵列以及所述修正码阵列关联的修正值进行单调化处理,以得到单调化排序的修正码阵列;在所述修正值的修正成功范围内设置一目标值,所述目标值包括参考值以及预设误差范围;通过二分法对单调化排序的修正码阵列中每个修正码关联的修正值进行测试得到测量值,并根据满足所述目标值或满足所述修正成功范围的测量值对应的修正码确定所述目标修正码。本公开能够避免芯片良率损失,提高芯片质量。
Description
技术领域
本公开涉及集成电路技术领域,具体而言,涉及一种目标修正码确定方法、目标修正码确定装置、电子设备及计算机可读存储介质。
背景技术
随着集成电路设计与工艺技术的发展,电路性能要求越来越高。但是,电路性能总可能受到半导体制造工艺的非理想因素的影响,使芯片之间存在着不同程度的偏差。因此,在集成电路测试期间通常需要通过熔丝修调来使芯片趋向于同一标准。
一般而言,通常利用探针将大电流加至熔丝上,从而烧断集成电路中的熔丝,以达到修调基准电压或者是基准电流、频率的目的。相关技术中,一般通过拟合公式计算法确定要烧调或修正的熔丝的修正码Trim Code,如图1所示。这种方法中由于芯片差异,使得部分芯片不能修正到底,此时有可能会造成可修正的芯片没有修正成功,造成良率损失;而修正成功的芯片的修正码也不一定是最佳的,从而降低了芯片质量。
需要说明的是,在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解,因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
发明内容
本公开的目的在于提供一种目标修正码确定方法、目标修正码确定装置、电子设备及计算机可读存储介质,进而至少在一定程度上克服由于相关技术的限制和缺陷而导致的芯片良率损失以及芯片质量差的问题。
本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然,或部分地通过本公开的实践而习得。
根据本公开的一个方面,提供一种目标修正码确定方法,包括:将修正码阵列以及所述修正码阵列关联的修正值进行单调化处理,以得到单调化排序的修正码阵列;在所述修正值的修正成功范围内设置一目标值,所述目标值包括参考值以及预设误差范围;通过二分法对单调化排序的修正码阵列中每个修正码关联的修正值进行测试得到测量值,并根据满足所述目标值或满足所述修正成功范围的测量值对应的修正码确定所述目标修正码。
在本公开的一种示例性实施例中,将修正码阵列以及所述修正码阵列关联的修正值进行单调化处理,以得到单调化排序的修正码阵列包括:将所述修正码阵列中的所有修正码转化为修正码补码;根据按照预设顺序排列的所述修正码补码,对所有修正码重新进行排序,以得到单调化排序的修正码阵列;其中,所述修正值与所述修正码补码正相关或负相关。
在本公开的一种示例性实施例中,所述修正码阵列中的每个修正码分别对应一个修正码标志,且所述修正码标志与所述修正值正相关或负相关。
在本公开的一种示例性实施例中,通过二分法对单调化排序的修正码阵列中每个修正码关联的修正值进行测试得到测量值包括:获取所述单调化排序的修正码阵列;根据单调化排序的修正码阵列中所述修正码标志的起始值和结束值确定待测试标志;采用二分法对所述待测试标志表示的修正码关联的修正值进行测试,以得到所述测量值。
在本公开的一种示例性实施例中,根据满足所述目标值或满足所述修正成功范围的测量值对应的修正码确定所述目标修正码包括:若所述测量值满足所述目标值,则将所述测量值对应的修正码确定为所述目标修正码。
在本公开的一种示例性实施例中,所述方法还包括:若所述测量值不满足所述目标值,则判断单调化排列的修正码阵列包含的修正码标志的起始值是否大于等于结束值;根据所述起始值是否大于等于所述结束值,确定所述目标修正码。
在本公开的一种示例性实施例中,根据所述起始值是否大于等于所述结束值,确定所述目标修正码包括:若所述起始值大于等于所述结束值,则获取起始值与结束值之间用于所述二分法的所有修正码标志对应的测量值,并计算所有测量值与所述参考值之差的绝对值;确定所述绝对值最小的测量值,并判断所述绝对值最小的测量值是否在所述修正成功范围内;若所述绝对值最小的测量值处于所述修正成功范围内,则将所述绝对值最小的测量值对应的修正码确定为所述目标修正码。
在本公开的一种示例性实施例中,所述方法还包括:若所述起始值小于所述结束值,则判断所述测量值是否大于所述参考值;若所述测量值大于所述参考值,则将所述测量值对应的修正码标志确定为结束值,并根据结束值更新待测试标志,以得到更新后的待测试标志;根据所述更新后的待测试标志表示的修正码关联的修正值得到所述目标修正码。
在本公开的一种示例性实施例中,所述方法还包括:若所述测量值小于所述参考值,则将所述测量值对应的修正码标志确定为起始值,并根据起始值更新待测试标志,以得到更新后的待测试标志;根据所述更新后的待测试标志表示的修正码关联的修正值得到所述目标修正码。
在本公开的一种示例性实施例中,根据所述更新后的待测试标志表示的修正码关联的修正值得到所述目标修正码包括:对所述更新后的待测试标志表示的修正码关联的修正值进行测试,得到更新后的测试值;根据满足所述目标值或满足所述修正成功范围的所述更新后的测量值对应的修正码确定所述目标修正码。
根据本公开的一个方面,提供一种目标修正码确定装置,包括:单调化排序模块,用于将修正码阵列以及所述修正码阵列关联的修正值进行单调化处理,以得到单调化排序的修正码阵列;目标值设置模块,用于在所述修正值的修正成功范围内设置一目标值,所述目标值包括参考值以及预设误差范围;目标确定模块,用于通过二分法对单调化排序的修正码阵列中每个修正码关联的修正值进行测试得到测量值,并根据满足所述目标值或满足所述修正成功范围的测量值对应的修正码确定所述目标修正码。
根据本公开的一个方面,提供一种电子设备,包括:处理器;以及存储器,用于存储所述处理器的可执行指令;其中,所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行上述任意一项所述的目标修正码确定方法。
根据本公开的一个方面,提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项所述的目标修正码确定方法。
本公开示例性实施例中提供的一种目标修正码确定方法及装置中,一方面,通过对修正码阵列以及修正值进行单调化处理,通过在修正值的修正成功范围内增加包括参考值和预设误差范围的目标值,并结合二分法得到测量值以根据满足所述目标值或满足修正成功范围的测量值确定目标修正码,能够避免修正不到底而导致的芯片良率损失的问题,提高芯片良率;另一方面,通过测量值与目标值进行对比,根据满足目标值的测量值对应的修正码确定目标修正码,可以得到更准确的目标修正码,从而提高芯片质量。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示意性示出相关技术第一种确定目标修正码的示意图;
图2示意性示出相关技术第二种确定目标修正码的示意图;
图3示意性示出本公开示例性实施例中目标修正码确定方法的流程图;
图4示意性示出本公开示例性实施例中一单调化处理的示意图;
图5示意性示出本公开示例性实施例中另一单调化处理的示意图;
图6示意性示出本公开示例性实施例中在修正成功范围内设置目标值的示意图;
图7示意性示出本公开示例性实施例中确定目标修正码的具体流程图;
图8示意性示出本公开示例性实施例中修正值的分布图;
图9示意性示出本公开示例性实施例中修正码标志的分布图;
图10示意性示出本公开示例性实施例中目标修正码确定装置的框图;
图11示意性示出本公开示例性实施例中一种电子设备的计算机系统的结构图。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而,示例实施方式能够以多种形式实施,且不应被理解为限于在此阐述的范例;相反,提供这些实施方式使得本公开将更加全面和完整,并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下面的描述中,提供许多具体细节从而给出对本公开的实施方式的充分理解。然而,本领域技术人员将意识到,可以实践本公开的技术方案而省略所述特定细节中的一个或更多,或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下,不详细示出或描述公知技术方案以避免喧宾夺主而使得本公开的各方面变得模糊。
此外,附图仅为本公开的示意性图解,并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分,因而将省略对它们的重复描述。附图中所示的一些方框图是功能实体,不一定必须与物理或逻辑上独立的实体相对应。可以采用软件形式来实现这些功能实体,或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体,或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。
相关技术中,参考图2所示,在确定要烧调熔丝的修正码Trim Code的过程中,二分法到测量值处于一定范围内即停止,获取的Trim Code不一定是最佳的,从而降低芯片质量。
基于此,本示例实施方式中首先提供了一种目标修正码确定方法。参考图3所示,该目标修正码确定方法可以包括以下步骤:
在步骤S310中,将修正码阵列以及所述修正码阵列关联的修正值进行单调化处理,以得到单调化排序的修正码阵列;
在步骤S320中,在所述修正值的修正成功范围内设置一目标值,所述目标值包括参考值以及预设误差范围;
在步骤S330中,通过二分法对单调化排序的修正码阵列中每个修正码关联的修正值进行测试得到测量值,并根据满足所述目标值或满足所述修正成功范围的测量值对应的修正码确定所述目标修正码。
本公开示例性实施例中提供的目标修正码确定方法中,一方面,通过对修正码阵列以及修正值进行单调化处理,并通过在修正值的修正成功范围内增加包括参考值以及预设误差范围的目标值,并结合二分法得到测量值,以根据满足目标值或满足修正成功范围的测量值确定目标修正码,能够避免修正不到底而导致的良率损失的问题,提高芯片良率;另一方面,通过测量值与目标值进行对比,根据满足目标值的测量值对应的修正码确定目标修正码,可以得到更准确的目标修正码,从而提高芯片质量。
接下来,结合附图对本示例性实施例中的目标修正码确定方法进行详细说明。
在步骤S310中,将修正码阵列以及所述修正码阵列关联的修正值进行单调化处理,以得到单调化排序的修正码阵列。
本示例性实施例中,需要在测试中将芯片中对应的电压、电流等参数调整为设置好的固定值。例如,将电压调整为固定电压,将电流调整为固定电流等等。修正值指的是修正对象Trim的数值,修正对象可以包括但不限于芯片的电压、电流以及频率中的任意一种,本示例性实施例中以修正对象为电压,修正值为电压值为例进行说明。修正码阵列可用于存储修正码,其大小具体可以根据修正对象的位数而确定。修正对象的位数可以用于表示寄存器的位数,修正对象的位数可根据实际情况得到,并且可以用比特数来表示,例如修正对象可为5比特,则表示寄存器的位数为5位。修正对象的每一位分别表示为bit4,bit3,bit2,bit1,bit0。其中,最高位bit4为符号位,最高位为0时表示正数,最高位为1时表示负数。
可基于修正对象的位数来生成多个修正码,从而得到包括多个修正码的修正码阵列。具体而言,可根据预设关系得到修正码,预设关系可以为:修正对象为N位,则对应2N种修正码,且所有修正码可用0~2N-1来表示。例如,对于一个5bit的Trim而言,有25种修正码,这32种修正码的原码即可以表示为0~31,且可以将修正码通过数组的方式存储至修正码阵列中。
除此之外,为了便于操作,可为修正码阵列中的每个修正码分别设置一个修正码标志Index,以唯一表示一个修正码。基于此,修正码标志可用于辅助识别哪一个修正码。举例而言,一个5bit的Trim有25种修正码,其修正码对应的修正码标志的起始值为0,结束值为25-1。其中,修正码标志与修正码之间的对应关系参考表1所示,基于此,Trim Code[24]=8可以理解为修正码8对应的修正码标志Index为24。
原码 | 16 | 17 | 18 | 19 | 20 | 21 | 22 | 23 | 24 | 25 | 26 | 27 | 28 | 29 | 30 | 31 |
补码 | -16 | -15 | -14 | -13 | -12 | -11 | -10 | -9 | -8 | -7 | -6 | -5 | -4 | -3 | -2 | -1 |
标志 | 0 | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | 11 | 12 | 13 | 14 | 15 |
原码 | 0 | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | 11 | 12 | 13 | 14 | 15 |
补码 | 0 | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | 11 | 12 | 13 | 14 | 15 |
标志 | 16 | 17 | 18 | 19 | 20 | 21 | 22 | 23 | 24 | 25 | 26 | 27 | 28 | 29 | 30 | 31 |
表1
本示例性实施例中,为了保证操作准确性,可对修正码阵列以及该修正码阵列关联的修正值进行单调化处理。修正码阵列中的修正码原码与修正值之间的关系如图4中的图A所示。由图4中的图A可以看出,以修正码Trim Code原码作为横轴,以修正值Trim value作为纵轴,修正值随修正码原码的增加而升高,但是并不是连续变化,而是中间会出现突变过程。为了便于操作,需要对图4中的图A进行单调化处理,以得到图4中图B所示的修正值随修正码补码的增加而单调升高的结果。由于修正码补码与修正值正相关,则重新排列后的修正码原码也与修正值正相关。
同理,图5中图A所示,修正值随修正码原码的增加而降低,但是并不是连续变化,而是中间会出现突变过程,因此为了提高操作的准确性,需要对修正码阵列中的修正码原码与修正值进行单调化处理,以得到图5中图B所示的修正值随修正码补码的增加而单调降低的结果。
具体而言,将所述修正码阵列以及修正码阵列关联的修正值进行单调化处理的过程包括:将修正码阵列中的所有修正码转化为修正码补码;根据按照预设顺序排列的所述修正码补码对所述修正码重新进行排序,以得到单调化排序的修正码阵列;其中,所述修正值与单调化排序的修正码阵列正相关或负相关。
参考表1所示,首先将修正码阵列中每个修正码表示为补码的形式,得到修正码补码;接下来,可将修正码补码按照预设顺序进行排列,预设顺序例如可以为从小到大的顺序。基于按照预设顺序排列的修正码补码,可对修正码阵列中的修正码原码重新进行排列,得到表1中所示的单调化排序的修正码阵列,以使修正值随单调化排序的修正码阵列中修正码的增加而增加。
需要说明的是,每一个修正码对应的修正码标志也与修正值成单调递增或单调递减关系。
在步骤S320中,在所述修正值的修正成功范围内设置一目标值,所述目标值包括参考值以及预设误差范围。
本示例性实施例中,在将修正码阵列进行单调化排序之后,可以设置一个目标值,以更准确地得到最佳修正码。由于在现有技术中,得到的目标修正码通常大于或者小于使得修正对象达到固定值的最佳修正码,为了解决这个问题,本示例性实施例中设置的目标值可以处于修正值的修正成功范围内,例如图6中所示。修正成功范围指的是第一数值Lowlimit和第二数值High limit之间的用于表示修正成功的修正值的范围,当测量值处于该范围之内可以认为修正成功,同时测量值处于该范围之外则认为修正失败。
目标值包括一个参考值,参考值指的是一个实际数值,参考值一般可以设为修正成功范围的中间值。例如在修正值为电压时,修正成功范围可以设为1.15V~1.25V之间,则参考值可以设置为1.2V。除此之外,参考值也可以设为其他数值,本示例性实施例中对此不作特殊限定。除此之外,由于测量可能存在一定误差,为了避免测量误差对精准度的影响,可以为目标值设置一个较小的预设误差范围,例如图6所示,该预设误差范围具体可根据测试设备的测量误差而确定,例如可以为0.005V或者是0.1V等等。如此一来,当测量值处于预设误差范围内时或者是测量值等于参考值时,均可以认为测量值满足目标值。
在步骤S330中,通过二分法对单调化排序的修正码阵列中每个修正码关联的修正值进行测试得到测量值,并根据满足所述目标值或满足所述修正成功范围的测量值对应的修正码确定所述目标修正码。
本示例性实施例中,目标修正码指的是最终要烧调的使得修正对象的修正值达到固定值的修正码。可以对单调化处理后的修正码阵列中每个修正码对应的修正值进行测试,得到修正值的实际值作为测量值。进一步地,可判断测量值是否满足步骤S320中设置的目标值或者是判断测量值是否满足步骤S320中提供的修正成功范围,从而确定目标修正码。
具体而言,确定目标修正码的整个过程可参考图7所示。首先可通过步骤S701至步骤S705得到测量值。在步骤S701中,获取修正码位数,具体可用N表示。在步骤S702中,获取修正码位数对应的修正码阵列,例如N为5,修正码阵列为TrimArray(2N-1)。本示例性实施例中获取的是单调化处理后的修正码阵列,修正码阵列中的修正码原码例如表1所示。接下来,在步骤S703中,修正码阵列对应的修正码标志的起始值为0,结束值为2N-1。在步骤S704中,可以确定第一次使用二分法确定测量值时的待测试标志,具体可根据待测试标志=(起始值+结束值)/2计算。步骤S705,写入修正码,测量并记录。在确定待测试标志之后,可根据如表1所示的待测试标志与修正码原码之间的对应关系得到修正码,进而将修正码写入程序,以对待测试标志表示的修正码对应的修正值进行测试,得到测量值。举例而言,若待测试标志为15,结合表1所示,可对修正码31对应的修正值进行测试,得到测量值。
在得到测量值之后,继续参考图7所示,在步骤S706中,判断测量值是否满足步骤S320中设置的目标值。由于目标值可包括一个参考值以及一个预设误差范围,因此测量值满足目标值可以理解为测量值与参考值一致或者是测量值处于预设误差范围内。在步骤S707中,如果测量值满足目标值,则可以将满足目标值的测量值对应的修正码作为最终的目标修正码。在步骤S708中,对该目标修正码对应的熔丝进行烧调,以使芯片的修正值达到设置的固定值。
在步骤S709中,如果测量值不满足目标值,则可以判断单调化处理后的修正码阵列包含的修正码标志的起始值是否大于等于结束值,从而确定修正码标志是单调递增还是单调递减。如果修正码标志的起始值大于等于结束值,则可以认为修正码与修正值呈单调递减。在步骤S710中,若修正码与修正值呈单调递减,可获取起始值与结束值之间用于二分法过程的所有修正码标志对应的测量值,并计算所有修正码标志对应的测量值与设置的目标值中包括的参考值之差的绝对值。进一步地,在步骤S711中,将所有绝对值进行对比,选择出绝对值最小的一个测量值。在步骤S712中,判断绝对值最小的测量值是否在修正成功范围内。如果绝对值最小的测量值在修正成功范围内,则可以转至步骤S713。在步骤S713中,将绝对值最小的测量值对应的修正码作为目标修正码,以根据该目标修正码对熔丝进行烧调,以使芯片的修正值达到设置的固定值。如果绝对值最小的测量值在修正成功范围之外,则转至步骤S714。在步骤S714中,认为修正失败。
如果测量值不满足目标值,且单调化排序的修正码阵列包含的修正码标志的起始值小于结束值,则可以转至步骤S715。在步骤S715中,判断待测试标志对应的测量值是否大于参考值。若测量值大于参考值,则可以执行步骤S716。在步骤S716中,将大于参考值的测量值对应的待测试标志作为整个修正码阵列的结束值。进一步地,可转至步骤S704根据该结束值以及初始的起始值重新确定待测试标志,以得到更新后的待测试标志;进而可以确定更新后的待测试标志对应的修正码,并对该修正码对应的修正值进行测试得到测量值,以继续判断测量值是否满足设置的目标值或者是否满足修正成功范围,从而来确定目标修正码。
若测量值小于参考值,则可以转至步骤S717。在步骤S717中,将小于参考值的测量值对应的待测试标志作为整个修正码阵列的起始值。进一步地,可根据该起始值以及初始的结束值重新确定待测试标志,以得到更新后的待测试标志;进而可以确定更新后的待测试标志对应的修正码,并对该修正码对应的修正值进行测试得到测量值,以继续判断测量值是否满足设置的目标值或者是否满足修正成功范围来确定目标修正码。确定目标修正码的整个过程具体可以通过编写程序而实现,此处不作详细说明。
参考图8所示的修正值的分布图可知,相对于图8中图A表示的相关技术中的修正值的分布图而言,图B中修正值的数量增加,修正值的密度也增加。本示例性实施例中通过目标值和测量值的对比,提高了修正值的精密度,从而能够得到更精准的目标修正码,提升芯片质量。
参考图9中修正码标志的分布图可知,图A中示出了相关技术中的修正码标志的分布图,从图A中可看出相关技术未修正到修正码1至修正码7,也未修正到修正码21至修正码30,可认为未修正到底。若这些修正码的测量值处于修正成功范围之外,且修正码没有在单调化处理后的两端,则可认为由于未修正到底造成了芯片良率损失。图B为本示例性实施例中的修正码标志分布图,由图B可知修正到了修正码0和修正码31,可认为真正修正到底。本示例性实施例可避免由于未修正到底而造成的芯片良率损失,提高芯片质量。举例而言,以5Bit的Trim为例,修正成功的范围是1.15~1.25V,目标值为1.2V。单调化处理后,修正值例如电压与修正码标志呈单调递增关系。当修正码为15,其对应的修正码标志是31,此时测量到的电压值应该是最大的。若修正码为15时,此时测量到的电压值小于如图6中所示的修正成功范围的第一数值Low Limit,则可以认为是修正失败但是修正到了最后一个修正码标志,因此可认为修正到底。相比于图1中的方法,用拟合公式计算时,由于只通过一次性修正即停止,例如当修正码为13时修正停止,修正码标志是29,并不是最后一个修正码标志,因此可认为修正未到底。此时有可能导致修正失败,从而造成良率损失;也有可能导致修正值不是最佳的,从而影响芯片质量。如果修正码为15时测得的测量值为1.21V,则可以认为修正码为15时修正成功。如此一来,可避免由于未修正到底而造成的良率损失,提高芯片良率和芯片质量。
本示例性实施例中,通过在修正成功范围内为修正值设置包括参考值和预设误差范围的目标值,并将修正码阵列中的测量值与目标值中的参考值和预设误差范围进行对比,可以获得更准确的目标修正码,提高芯片质量;除此之外,可以通过对修正码阵列与修正值进行单调化处理,直至测试完二分法过程中的所有修正码标志,避免由于未修正到底而造成的良率损失。
应当注意,尽管在附图中以特定顺序描述了本公开中方法的各个步骤,但是,这并非要求或者暗示必须按照该特定顺序来执行这些步骤,或是必须执行全部所示的步骤才能实现期望的结果。附加的或备选的,可以省略某些步骤,将多个步骤合并为一个步骤执行,以及/或者将一个步骤分解为多个步骤执行等。
接下来,本示例性实施例中提供了一种目标修正码确定装置,参考图10所示,该装置1000包括:单调化排序模块1001,用于将修正码阵列以及所述修正码阵列关联的修正值进行单调化处理,以得到单调化排序的修正码阵列;目标值设置模块1002,用于在所述修正值的修正成功范围内设置一目标值,所述目标值包括参考值以及预设误差范围;目标确定模块1003,用于通过二分法对单调化排序的修正码阵列中每个修正码关联的修正值进行测试得到测量值,并根据满足所述目标值或满足所述修正成功范围的测量值对应的修正码确定所述目标修正码。
需要说明的是,目标修正码确定装置中各个模块的具体细节已在对应的目标修正码确定方法中进行了详细描述,此处不再赘述。
图11示出的电子设备的计算机系统1100仅是一个示例,不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。
如图11所示,计算机系统1100包括中央处理单元(CPU)1101,其可以根据存储在只读存储器(ROM)1102中的程序或者从存储部分208加载到随机访问存储器(RAM)1103中的程序而执行各种适当的动作和处理。在RAM 1103中,还存储有系统操作所需的各种程序和数据。CPU 1101、ROM 1102以及RAM 1103通过总线1104彼此相连。输入/输出(I/O)接口1105也连接至总线1104。
以下部件连接至I/O接口1105:包括键盘、鼠标等的输入部分1106;包括诸如阴极射线管(CRT)、液晶显示器(LCD)等以及扬声器等的输出部分1107;包括硬盘等的存储部分1108;以及包括诸如LAN卡、调制解调器等的网络接口卡的通信部分1109。通信部分1109经由诸如因特网的网络执行通信处理。驱动器1110也根据需要连接至I/O接口1105。可拆卸介质1111,诸如磁盘、光盘、磁光盘、半导体存储器等等,根据需要安装在驱动器1110上,以便于从其上读出的计算机程序根据需要被安装入存储部分1108。
特别地,根据本发明的实施例,下文参考流程图描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如,本发明的实施例包括一种计算机程序产品,其包括承载在计算机可读存储介质上的计算机程序,该计算机程序包含用于执行流程图所示的方法的程序代码。在这样的实施例中,该计算机程序可以通过通信部分1109从网络上被下载和安装,和/或从可拆卸介质1111被安装。在该计算机程序被中央处理单元(CPU)1101执行时,执行本申请的系统中限定的各种功能。
需要说明的是,本发明所示的计算机可读存储介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质或者是上述两者的任意组合。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件,或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于:具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本发明中,计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。而在本发明中,计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读存储介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于:无线、电线、光缆、RF等等,或者上述的任意合适的组合。
附图中的流程图和框图,图示了按照本发明各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上,流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分,上述模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意,在有些作为替换的实现中,方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如,两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行,它们有时也可以按相反的顺序执行,这依所涉及的功能而定。也要注意的是,框图或流程图中的每个方框、以及框图或流程图中的方框的组合,可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现,或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
描述于本发明实施例中所涉及到的单元可以通过软件的方式实现,也可以通过硬件的方式来实现,所描述的单元也可以设置在处理器中。其中,这些单元的名称在某种情况下并不构成对该单元本身的限定。
作为另一方面,本申请还提供了一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质可以是上述实施例中描述的电子设备中所包含的;也可以是单独存在,而未装配入该电子设备中。上述计算机可读存储介质承载有一个或者多个程序,当上述一个或者多个程序被一个该电子设备执行时,使得该电子设备实现如下述实施例中所述的方法。例如,所述的电子设备可以实现如图3所示的各个步骤。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后,将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的,本公开的真正范围和精神由所附的权利要求指出。
Claims (13)
1.一种目标修正码确定方法,其特征在于,包括:
将修正码阵列以及所述修正码阵列关联的修正值进行单调化处理,以得到单调化排序的修正码阵列;
在所述修正值的修正成功范围内设置一目标值,所述目标值包括参考值以及预设误差范围;
通过二分法对单调化排序的修正码阵列中每个修正码关联的修正值进行测试得到测量值,并根据满足所述目标值或满足所述修正成功范围的测量值对应的修正码确定所述目标修正码;所述修正码是确定要烧调熔丝的修正码,所述目标修正码指的是最终要烧调的使得修正对象的修正值达到固定值的修正码。
2.根据权利要求1所述的目标修正码确定方法,其特征在于,将修正码阵列以及所述修正码阵列关联的修正值进行单调化处理,以得到单调化排序的修正码阵列包括:
将所述修正码阵列中的所有修正码转化为修正码补码;
根据按照预设顺序排列的所述修正码补码,对所有修正码重新进行排序,以得到单调化排序的修正码阵列;
其中,所述修正值与所述修正码补码正相关或负相关。
3.根据权利要求2所述的目标修正码确定方法,其特征在于,所述修正码阵列中的每个修正码分别对应一个修正码标志,且所述修正码标志与所述修正值正相关或负相关。
4.根据权利要求3所述的目标修正码确定方法,其特征在于,通过二分法对单调化排序的修正码阵列中每个修正码关联的修正值进行测试得到测量值包括:
获取所述单调化排序的修正码阵列;
根据单调化排序的修正码阵列中所述修正码标志的起始值和结束值确定待测试标志;
采用二分法对所述待测试标志表示的修正码关联的修正值进行测试,以得到所述测量值。
5.根据权利要求4所述的目标修正码确定方法,其特征在于,根据满足所述目标值或满足所述修正成功范围的测量值对应的修正码确定所述目标修正码包括:
若所述测量值满足所述目标值,则将所述测量值对应的修正码确定为所述目标修正码。
6.根据权利要求4所述的目标修正码确定方法,其特征在于,所述方法还包括:
若所述测量值不满足所述目标值,则判断单调化排列的修正码阵列包含的修正码标志的起始值是否大于等于结束值;
根据所述起始值是否大于等于所述结束值,确定所述目标修正码。
7.根据权利要求6所述的目标修正码确定方法,其特征在于,根据所述起始值是否大于等于所述结束值,确定所述目标修正码包括:
若所述起始值大于等于所述结束值,则获取起始值与结束值之间用于所述二分法的所有修正码标志对应的测量值,并计算所有测量值与所述参考值之差的绝对值;
确定所述绝对值最小的测量值,并判断所述绝对值最小的测量值是否在所述修正成功范围内;
若所述绝对值最小的测量值处于所述修正成功范围内,则将所述绝对值最小的测量值对应的修正码确定为所述目标修正码。
8.根据权利要求6所述的目标修正码确定方法,其特征在于,所述方法还包括:
若所述起始值小于所述结束值,则判断所述测量值是否大于所述参考值;
若所述测量值大于所述参考值,则将所述测量值对应的修正码标志确定为结束值,并根据结束值更新待测试标志,以得到更新后的待测试标志;
根据所述更新后的待测试标志表示的修正码关联的修正值得到所述目标修正码。
9.根据权利要求8所述的目标修正码确定方法,其特征在于,所述方法还包括:
若所述测量值小于所述参考值,则将所述测量值对应的修正码标志确定为起始值,并根据起始值更新待测试标志,以得到更新后的待测试标志;
根据所述更新后的待测试标志表示的修正码关联的修正值得到所述目标修正码。
10.根据权利要求8或9所述的目标修正码确定方法,其特征在于,根据所述更新后的待测试标志表示的修正码关联的修正值得到所述目标修正码包括:
对所述更新后的待测试标志表示的修正码关联的修正值进行测试,得到更新后的测试值;
根据满足所述目标值或满足所述修正成功范围的所述更新后的测量值对应的修正码确定所述目标修正码。
11.一种目标修正码确定装置,其特征在于,包括:
单调化排序模块,用于将修正码阵列以及所述修正码阵列关联的修正值进行单调化处理,以得到单调化排序的修正码阵列;
目标值设置模块,用于在所述修正值的修正成功范围内设置一目标值,所述目标值包括参考值以及预设误差范围;
目标确定模块,用于通过二分法对单调化排序的修正码阵列中每个修正码关联的修正值进行测试得到测量值,并根据满足所述目标值或满足所述修正成功范围的测量值对应的修正码确定所述目标修正码;所述修正码是确定要烧调熔丝的修正码,所述目标修正码指的是最终要烧调的使得修正对象的修正值达到固定值的修正码。
12.一种电子设备,其特征在于,包括:
处理器;以及
存储器,用于存储所述处理器的可执行指令;
其中,所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行权利要求1-10任意一项所述的目标修正码确定方法。
13.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-10任意一项所述的目标修正码确定方法。
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