CN110895228A - 一种光纤带残余扭转测试装置及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及残余扭转测试技术领域，公开了一种光纤带残余扭转测试装置。包括：支撑结构的顶端具有光纤带固定夹用于夹持被测光纤带，支撑结构的顶端和支撑结构的基座之间设置与支撑结构固定的处于水平面上的托盘；光源转盘和刻度盘依次设置在托盘上，光源转盘、刻度盘、托盘具有相同中心的通孔，通孔用于竖直通过被测光纤带，光源转盘、刻度盘可以相互独立水平旋转，光源转盘上设置随着光源转盘旋转的光源，光源照射被测光纤的阴影在所述刻度盘上。该方案有效的减小了读数误差，避免了外力对光纤带的影响，从而保持了光纤带的自然状态，提高了角度读数的准确性。同时本发明还公开了上述光纤带残余扭转测试装置的测试方法。

Description

一种光纤带残余扭转测试装置及其测试方法

技术领域

本发明涉及残余扭转测试技术领域，特别是一种光纤带残余扭转测试装置 及其测试方法。

背景技术

光通信技术具有大容量、低损耗等优势，是现代通信的重要基础。

近年来，我国光通信产业发展迅速，光纤、光缆的应用范围也越来越大。

光缆中的光纤结构主要分为：光纤带和分立式光纤。

光纤带是多根(2～24)光纤平行排列经固化成的薄平带，缆内光纤采用光纤 带结构的光缆称作光纤带光缆，光纤带光缆常用于对纤芯容量需求较大的本地 网中继段。信息大爆炸的新时代，在新一代网络建设需求的推动下对纤芯容量 的需求越来越大，故而在城域网的核心层和接入层的主干段对光纤带光缆的需 求也越来越大。

光纤带光缆采用带状光纤熔接机接续时，一个光纤带的光纤可一次熔接完 成，从而大大提升接续的效率。

由于光纤带结构的本身原因，在大多数使用条件下光纤带会产生自然扭转。 光纤带产生的扭转会影响接续或影响接续保护套管的使用，光纤带残余扭转实 验的目的就是测试光纤带是否会产生这样的影响，从而保障光纤带光缆的正常 使用。

目前已有的光纤带残余扭转测试装置是根据试验要求和相关标准示意图 自制。其组成由：防尘罩，平开门，基座，立柱，上横臂，下横臂，光纤带固 定夹，指针，刻度盘，负荷块几部分组成。使用时将50cm的光纤带上端固定， 在光纤带下端夹持一个指针，并悬挂1N负荷,使光纤带无扭，根据指针所指刻 度并记录刻度数；再去掉负荷，光纤带发生扭转，待指针稳定后记录刻度，从 而计算扭转角度；扭转角度除以光纤带长度计算出残余扭转。采用上述方案具 有以下缺点：

a、指针夹持在光纤带下端上难以调节平衡，从而对光纤带施加一个外力， 影响光纤带的扭转角度；并且容易出现前后不同心的情况，从而影响测试结果 的准确性。

b、指针的自重难以避免，造成试验条件不能满足标准要求。

c、根据指针指向读数会受限于防尘罩、固定夹、上横臂等客观因素，导 致难以从垂直于刻度盘的方向读数，从而造成读数误差偏大，影响测试结果的 准确性。

d、扭转角度需要两次根据指针读数计算，所以误差会被两次引入，从而 影响最终的测试结果。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：针对上述存在的问题，提供了一种光纤带 残余扭转测试装置及其测试方法。

本发明采用的技术方案如下：一种光纤带残余扭转测试装置，包括：支撑 结构、光源转盘、刻度盘、托盘，所述支撑结构的顶端具有光纤带固定夹2用 于夹持被测光纤带，所述支撑结构的顶端和支撑结构的基座之间设置与支撑结 构固定的处于水平面上的托盘；所述光源转盘和刻度盘依次设置在托盘上，所 述光源转盘、刻度盘、托盘具有相同中心的通孔，所述通孔用于竖直通过被测 光纤带，所述光源转盘、刻度盘可以相互独立水平旋转，所述光源转盘上设置 随着光源转盘旋转的光源，所述光源照射被测光纤的阴影在所述刻度盘上。

进一步的，所述支撑结构包括立柱、上横臂和下横臂，所述上横臂位于立 柱顶端并与立柱垂直固定，所述上横臂上设置光纤带固定夹，所述下横臂位于 上横臂与支撑结构的基座之间，所述下横臂和上横臂之间的间距可调，所述下 横臂用于支撑托盘，所述托盘可以相对于下横臂水平移动。

进一步的，所述光源转盘和光源之间通过L型支柱固定。

进一步的，所述托盘包括托盘承台、托盘圆柱，所述托盘圆柱位于托盘承 台上表面，所述盘承台、托盘圆柱的中心设置托盘的通孔。

进一步的，所述光源转盘和刻度盘为圆柱形，所述光源转盘和刻度盘通过 各自中心的通孔套在托盘圆柱上，所述光源转盘和刻度盘均可以单独的绕托盘 圆柱转动。

进一步的，所述光源转盘侧面设置螺丝孔，用于固定L型支柱。

进一步的，所述托盘承台侧面设置螺丝孔，用于与下横臂固定。

进一步的，所述光纤带残余扭转测试装置还包括将测试装置盖住的遮光防 尘罩。

进一步的，所述遮光防尘罩正面设置平开门。

本发明还公开了上述光纤带残余扭转测试装置的测试方法，包括：

将待测光纤带上端固定在光纤带固定夹，光纤带下端穿过刻度盘、光源转 盘、托盘预留的通孔后加上负荷；旋转光源转盘来调节侧光源照射光纤带投在 刻度盘的阴影，直到形成相对最细的光纤带阴影则停止旋转，然后旋转刻度盘 使0刻度对齐此时的光纤带阴影；

去除负荷后待光纤带静止，再次旋转光源转盘找到光源照射光纤带投在刻 度盘的最细阴影，直接读出刻度，计算光纤带的残余扭转。

与现有技术相比，采用上述技术方案的有益效果为：

本发明的技术方案在刻度盘中心预留小孔，使得待测光纤带可以穿过刻度 盘，在刻度盘下方设置负荷，能够保持光纤带在卸下负荷后呈自然状态，满足 测试标准需要；其次利用光源照射光纤带形成影像投在刻度盘上的阴影来确定 光纤带的扭转位置，这样可以减小角度的读数误差，进而准确地确定光纤带的 旋转角度，提高测试准确性；其次通过本发明技术方案可以一次性直接读出扭 转角度，避免了多次测量角度的误差。

附图说明

图1本发明光纤带残余扭转测试装置结构的其中一种实施例示意图。

图2本发明托盘、光源转盘、刻度盘的结构示意图。

图3本发明光纤带残余扭转测试装置结构的其中一种实施例示意图。

附图标记：上横臂-1，光纤带固定夹-2，刻度盘-3，光源-4，“L”型支柱 -5，光源转盘-6，负荷-7，立柱-8，下横臂-9，托盘-10，基座-11，遮光-防尘罩 -12；

刻度盘预留孔-21，刻度盘-22，刻度盘底面凹面-23，光源转盘内孔-24， 螺丝孔-25，托盘内孔-26，托盘圆柱-27，托盘承台-28，螺丝孔-29。

具体实施方式

下面结合附图对本发明做进一步描述。

如图1所示，一种光纤带残余扭转测试装置，包括：支撑结构、光源转盘 6、刻度盘3、托盘10，所述支撑结构的顶端具有光纤带固定夹2用于夹持被 测光纤带，所述支撑结构的顶端和支撑结构的基座11之间设置与支撑结构固 定的处于水平面上的托盘10；所述光源转盘6和刻度盘3依次设置在托盘10 上，所述光源转盘6、刻度盘3、托盘10具有相同中心的通孔，所述通孔用于 竖直通过被测光纤带，所述光源转盘6、刻度盘3可以相互独立水平旋转，所 述光源转盘6上设置随着光源转盘6旋转的光源4，所述光源4照射被测光纤 的阴影在所述刻度盘3上。

上述装置在刻度盘3中心预留通孔，使得待测光纤带可以穿过刻度盘3， 利用光源4照射光纤带形成影像投在刻度盘3上，由于光纤带是扁平状，通过 旋转光源4位置找到光纤带阴影最细位置，则可确定光纤带扭转位置。其次刻 度盘3可水平旋转，通过光源找到光纤带悬挂1N负荷时的初始位置，旋转刻 度盘使0刻度与光纤带阴影重合，然后卸载1N负荷后光纤带发生扭转，再次 旋转光源4找到光纤带阴影最细位置，通过投在刻度盘3上的光纤带阴影直接 读取光纤带扭转的角度数，计算出光纤带残余扭转。

使用上述装置有效的减小了读数误差，避免了外力对光纤带的影响，从而 保持了光纤带的自然状态，提高了角度读数的准确性，使测试结果更为准确。

其中一种支撑结构的实施例：所述支撑结构包括立柱8、上横臂1和下横 臂9，所述上横臂1位于立柱8顶端并与立柱8垂直固定，所述上横臂8上设 置光纤带固定夹2，所述下横臂9位于上横臂1与支撑结构的基座之间，所述 下横臂9和上横臂1之间的间距可调，可以通过调节下横臂9实现，所述下横 臂9用于支撑托盘10，所述托盘可以相对于下横臂水平移动，这样可以调节光 纤带和通孔的相对位置，以解决光纤带始终在刻度盘3圆心的问题。该支撑结 构简单，实现了顶部对光纤带的支撑，中间对托盘10的支撑。

优选地，所述光源转盘6和光源4之间通过L型支柱5固定，另外本发明 不限制于L型支柱，使光源4位于光源转盘6侧面，照射光纤带时可以在刻度 盘3上留下阴影。

优选地，如图2所示，所述托盘10包括托盘承台28、托盘圆柱27，所述 托盘圆柱27位于托盘承台28上表面，托盘圆柱27用于与光源转盘6、刻度盘 3套接，所述盘承台28、托盘圆柱27的中心设置托盘10的通孔26，通孔26 用于通过被测光纤带。

优选地，所述光源转盘6和刻度盘3为圆柱形，所述光源转盘6和刻度盘 3通过各自中心的通孔套在托盘圆柱27上，所述光源转盘6和刻度盘3均可以 单独的绕托盘圆柱27转动，光源转盘6和刻度盘3可以绕托盘圆柱27旋转， 为了使刻度盘3表面足够大，刻度盘3的通孔包括第一通孔部分(刻度盘预留 孔1)和第二通孔部分(刻度盘底面凹面3)，所述第二通孔部分套在托盘圆柱 27侧面，第一通孔部分小于托盘圆柱27，位于托盘圆柱27上面，用于通过被 测光纤带。

优选地，所述光源转盘6侧面设置螺丝孔25，用于固定L型支柱，光源转 盘6的通孔为光源转盘内孔24。这里需要说明，光源转盘不仅仅限制于整个盘 体旋转，还可以采用侧面一周带“T”型槽的托盘，通过设置与“T”型槽配合 的结构来固定光源，同时也能实现光源的旋转；或者采用双槽托盘代替。

优选地，所述托盘承台28侧面设置螺丝孔29，用于与下横臂9固定，托 盘的通孔为托盘内孔26。

在上述的任一实施例中，如图3所示，所述光纤带残余扭转测试装置还包 括将测试装置盖住的遮光防尘罩12。所述遮光防尘罩12正面设置平开门，便 于试验操作、利于观察光纤带影像。

上述实施例中的光纤带残余扭转测试装置的测试方法，包括：

将待测光纤带上端固定在光纤带固定夹2，光纤带下端穿过刻度盘3、光 源转盘6、托盘10预留的通孔后加上1N负荷；刻度盘3和光源4可以360° 相互独立的选择，这里先旋转光源转盘6来调节侧光源4照射光纤带投在刻度 盘3的阴影，直到形成相对最细的光纤带阴影则停止旋转，然后旋转刻度盘3 使0刻度对齐此时的光纤带阴影；

去除1N负荷后待光纤带静止，再次旋转光源转盘6找到光源4照射光纤 带投在刻度盘3的最细阴影，直接读出刻度，计算光纤带的残余扭转。

本发明并不局限于前述的具体实施方式。本发明扩展到任何在本说明书中 披露的新特征或任何新的组合，以及披露的任一新的方法或过程的步骤或任何 新的组合。如果本领域技术人员，在不脱离本发明的精神所做的非实质性改变 或改进，都应该属于本发明权利要求保护的范围。

Claims (10)

1.一种光纤带残余扭转测试装置，其特征在于，包括：支撑结构、光源转盘、刻度盘、托盘，所述支撑结构的顶端具有光纤带固定夹2用于夹持被测光纤带，所述支撑结构的顶端和支撑结构的基座之间设置与支撑结构固定的处于水平面上的托盘；所述光源转盘和刻度盘依次设置在托盘上，所述光源转盘、刻度盘、托盘具有相同中心的通孔，所述通孔用于竖直通过被测光纤带，所述光源转盘、刻度盘可以相互独立水平旋转，所述光源转盘上设置随着光源转盘旋转的光源，所述光源照射被测光纤的阴影在所述刻度盘上。

2.如权利要求1所述的光纤带残余扭转测试装置，其特征在于，所述支撑结构包括立柱、上横臂和下横臂，所述上横臂位于立柱顶端并与立柱垂直固定，所述上横臂上设置光纤带固定夹，所述下横臂位于上横臂与支撑结构的基座之间，所述下横臂和上横臂之间的间距可调，所述下横臂用于支撑托盘，所述托盘可以相对于下横臂水平移动。

3.如权利要求1所述的光纤带残余扭转测试装置，其特征在于，所述光源转盘和光源之间通过L型支柱固定。

4.如权利要求1所述的光纤带残余扭转测试装置，其特征在于，所述托盘包括托盘承台、托盘圆柱，所述托盘圆柱位于托盘承台上表面，所述盘承台、托盘圆柱的中心设置托盘的通孔。

5.如权利要求4所述的光纤带残余扭转测试装置，所述光源转盘和刻度盘为圆柱形，所述光源转盘和刻度盘通过各自中心的通孔套在托盘圆柱上，所述光源转盘和刻度盘均可以单独的绕托盘圆柱转动。

6.如权利要求5所述的光纤带残余扭转测试装置，所述光源转盘侧面设置螺丝孔，用于固定L型支柱。

7.如权利要求6所述的光纤带残余扭转测试装置，所述托盘承台侧面设置螺丝孔，用于与下横臂固定。

8.如权利要求1-7任一项所述的光纤带残余扭转测试装置，所述光纤带残余扭转测试装置还包括将测试装置盖住的遮光防尘罩。

9.如权利要求8所述的光纤带残余扭转测试装置，所述遮光防尘罩正面设置平开门。

10.如权利要求1所述的光纤带残余扭转测试装置的测试方法，其特征在于，包括：

将待测光纤带上端固定在光纤带固定夹，光纤带下端穿过刻度盘、光源转盘、托盘预留的通孔后加上负荷；旋转光源转盘来调节侧光源照射光纤带投在刻度盘的阴影，直到形成相对最细的光纤带阴影则停止旋转，然后旋转刻度盘使0刻度对齐此时的光纤带阴影；

去除负荷后待光纤带静止，再次旋转光源转盘找到光源照射光纤带投在刻度盘的最细阴影，直接读出刻度，计算光纤带的残余扭转。

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