CN110892278A - 电子设备的故障验证方法及系统 - Google Patents

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Abstract

一种电子设备(30)的故障验证方法及系统，所述电子设备(30)包括待验证器件；所述方法还包括：提供第一电源电压至所述电子设备(30)以使所述待验证器件满足材料失效条件(S210)；提供第二电源电压至所述电子设备(30)以判断所述电子设备(30)是否存在安全风险(S220)；其中，所述第一电源电压大于所述第二电源电压；所述安全风险是由所述待验证器件内的材料失效引起的。该方法及系统能够验证电子设备(30)由于内部器件的材料失效导致的安全风险。

Description

电子设备的故障验证方法及系统
技术领域
本公开涉及电子技术领域，具体而言，涉及一种电子设备的故障验证方法及系统。
背景技术
电源类的故障模拟作为失效模拟方法，用来验证产品是否有安全风险是目前行业内的普遍做法。
相关技术中，在故障模拟时，多是针对产品内的器件的开路和短路测试，但是，现实生产中，产品的器件失效很多情况下并不是完全开路或者完全短路的情况，这样会导致经过开短路测试的产品仍然存在安全隐患。
因此，需要一种新的电子设备的故障验证方法及系统。
在所述背景技术部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
发明内容
有鉴于此，本公开提供一种电子设备的故障验证方法及系统，能够验证电子设备由于内部器件的材料失效导致的安全风险。
本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。
根据本公开的第一方面，提出一种电子设备的故障验证方法，所述电子设备包括待验证器件；其中，所述方法包括：提供第一电源电压至所述电子设备以使所述待验证器件满足材料失效条件；提供第二电源电压至所述电子设备以判断所述电子设备是否存在安全风险；其中，所述第一电源电压大于所述第二电源电压；所述安全风险是由所述待验证器件内的材料失效引起的。
根据本公开的第二方面，提出一种电子设备的故障验证系统，其中，所述系统包括：电源，用于提供第一电源电压至所述电子设备，以使所述电子设备内的待验证器件满足材料失效条件；以及还用于提供第二电源电压至所述电子设备以判断所述电子设备是否存在安全风险；电子设备，与所述电源电连接；其中，所述第一电源电压大于所述第二电源电压；所述安全风险是由所述待验证器件内的材料失效引起的。
根据本公开的电子设备的故障验证方法及系统，首先提供一相对较高的第一电源电压至被测试的电子设备，以使其内部的待验证器件发生材料失效；在所述待验证器件发生材料失效后，再提供一相对较低的第二电源电压至所述电子设备，之后可以判断所述电子设备是否存在安全风险，因此，一方面，本公开实施例提供的技术方案可以模拟验证所述电子设备内的器件处于非完全开路状态或者短路状态下的中间状态存在的安全风险；另一方面，还可以模拟验证由于器件的材料失效导致的所述电子设备内部的其他器件失效的连锁失效安全风险，保证产品的安全风险可以被提前发现。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本公开。
附图说明
图1是根据一示例性实施例示出的一种电子设备的故障验证系统的系统架构图。
图2是根据一示例性实施例示出的一种电子设备的故障验证方法的流程图。
图3是根据另一示例性实施例示出的一种电子设备的故障验证方法的流程图。
图4示出图3的步骤S340的一示例性实施例的流程图。
图5示出图4的步骤S344的一示例性实施例的流程图。
图6是根据又一示例性实施例示出的一种电子设备的故障验证方法的流程图。
图7是根据再一示例性实施例示出的一种电子设备的故障验证方法的流程图。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施例；相反，提供这些实施例使得本公开将全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。
此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本公开的实施例的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本公开的技术方案而没有特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知方法、装置、实现或者操作以避免模糊本公开的各方面。
附图中所示的方框图仅仅是功能实体，不一定必须与物理上独立的实体相对应。即，可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体，或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。
附图中所示的流程图仅是示例性说明，不是必须包括所有的内容和操作/步骤，也不是必须按所描述的顺序执行。例如，有的操作/步骤还可以分解，而有的操作/步骤可以合并或部分合并，因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。
在本公开的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本公开和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本公开的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本公开的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
在本公开中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接或可以互相通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本公开中的具体含义。
在本公开中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
本领域技术人员可以理解，附图只是示例实施例的示意图，附图中的模块或流程并不一定是实施本公开所必须的，因此不能用于限制本公开的保护范围。
本公开实施例首先提供了一种电子设备的故障验证系统，其中，所述系统可以包括：电源，所述电源可以用于提供第一电源电压至所述电子设备，以使所述电子设备内的待验证器件满足材料失效条件；以及所述电源还可以用于提供第二电源电压至所述电子设备以判断所述电子设备是否存在安全风险；电子设备，与所述电源电连接；其中，所述第一电源电压大于所述第二电源电压；所述安全风险是由所述待验证器件内的材料失效引起的。
在示例性实施例中，所述系统还可以包括：负载，用于当所述电源提供所述第二电源电压至所述电子设备时，与所述电子设备电连接。
下面结合图1所示的实例对本公开实施例提供的电子设备的故障验证系统进行示例说明。
图1是根据一示例性实施例示出的一种电子设备的故障验证系统的系统架构图。
如图1所示，支撑物10放置于水平地面上，支撑物的水平上表面11(即平行于水平地面的上表面)上可以放置有电源20、电子设备30以及负载40。
需要说明的是，本公开其他实施例中，电子设备30并不限定放置于与水平地面平行的支撑物10的水平上表面11，其他任意可以用于支撑电子设备30的物体均是可以的，这里仅是用于举例说明。同时，电源20、电子设备30和负载40并不要求同时放置在同一个支撑物10上，三者可以放置于不同的支撑物上，设置直接放置于地面，本公开对此均不作限定。
在下面的实施例中，均以电子设备30为电源适配器为例进行举例说明，但本公开并不限定于此。
其中，电源适配器是用于给电池充电的电路，电源20是为负载40供电的部件。负载40通过电源适配器接通供电电源20。
本公开实施例中，以所述电源适配器为移动终端充电器为例，用于将220V交流电转换所需电压值的直流电，例如若所述移动终端为手机，则将220V的交流电转换为5V的直流电输入至手机的电池中。
本公开实施例中，电源适配器中可以进一步包括保护壳、电容、电感、变压器(包括初级线圈和次级线圈)控制集成电路(integrated circuit，IC)、印刷电路板(PrintedCircuit Board，PCB)等器件。
本公开实施例提供的负载40可以包括手机、对讲机、电子书阅读器、MP3(MovingPicture Experts Group Audio Layer III，动态影像专家压缩标准音频层面3)播放器、MP4(Moving Picture Experts Group Audio Layer IV，动态影像专家压缩标准音频层面4)播放器、笔记本电脑、平板电脑等中的任意一种。
具体地，负载40可以包括包括：充电电路、电池、存储器以及显示屏等。
继续参考图1，电源20和电子设备30之间可以通过第一数据线70实现电连接，电子设备30和负载40之间可以通过第二数据线60实现电连接。
具体地，第一数据线70可以包括第一连接端和第二连接端，其中，所述第一连接端用以连接电源20，所述第二连接端用以连接电子设备30，电子设备30可以包括连接接口，所述连接接口与所述第二连接端相适配。例如，所述连接接口可以为USB A型母头，所述第二连接端为USB A型公头。进一步地，第二数据线60可以包括第三连接端和第四连接端，其中，所述第三连接端用以连接电子设备30，所述第四连接端用以连接负载40。其中，负载40可以包括充电接口，所述充电接口与所述第四连接端相适配，例如，所述第四连接端为MicroUSB B型公头，所述充电接口为Micro USB B型母头。
需要说明的是，电源适配器的连接接口一般为母头，可以为USB A型和USB B型，常用的为USB A型。充电接口可以为Micro USB接口、USB Type C接口和Lightning接口。
在图1所示实施例中，电子设备30可以包括六个面，例如图示中的第一面31(上表面)、第二面32(右侧面)、第三面33(正面)、第四面34(底侧面)、第五面35(左侧面)、第六面36(背面)。
在示例性实施例中，电子设备30可以具有多种摆放方式。以上述具有六个面的电源适配器为例，可以分别将第一面31、第二面32、第三面33、第四面34、第五面35、第六面36与支撑物10的水平上表面11接触，即分别确定电源适配器的第一至第六摆放方式。
需要说明的是，电源适配器的摆放方式并不限于上述例举的六种，例如，还可以将电源适配器的任意一条侧边与支撑物10的水平上表面11接触，此时主要能够使用其他辅助工具将电源适配器能够固定在支撑物上即可。
在图1所示实施例中，假设第四面34与支撑物10的水平上表面11接触，即此时确定电子设备30处于第四摆放方式。
图2是根据一示例性实施例示出的一种电子设备的故障验证方法的流程图。所述电子设备可以包括待验证器件。具体的，所述待验证器件例如可以包括电容、保险丝等中的任意一种或者多种。在下面的实施例中，以所述待验证器件为电容为例进行举例说明，所述待验证器件为其他器件的故障验证方法于此类似。
如图2所示，本公开实施例提供的电子设备的故障验证方法可以包括以下步骤。
在步骤S210中，提供第一电源电压至所述电子设备以使所述待验证器件满足材料失效条件。
本公开实施例中，可以通过三相市电或者功率万瓦以上的电源，使用高压(如正常工作是220V，取380V或者更高电压)的第一电源电压输入至电源适配器，模拟让电源适配器内的电容发生材料失效，即让电容发生高压爆顶，使得电容内部的电解液喷出。
需要说明的是，这里施加于电容上的高压第一电源电压是正向电压，而非反向电压，因为反向电压加在电容上，虽然会使电容发生鼓包现象，但是不会喷出电解液。
其中，三相交流电是电能的一种输送形式，简称为三相市电。三相交流电源，是由三个频率相同、振幅相等、相位依次互差120°的交流电势组成的电源。
在步骤S220中，提供第二电源电压至所述电子设备以判断所述电子设备是否存在安全风险。
其中，所述第一电源电压大于所述第二电源电压；所述安全风险是由所述待验证器件内的材料失效引起的。
在示例性实施例中，所述第一电源电压可以大于等于380V。
在示例性实施例中，所述第二电源电压可为220V。
在示例性实施例中，所述第一电源电压和所述第二电源电压可以均由三相市电或者功率万瓦特以上的电源提供。但本公开并不限定于此，所述第一电源电压和所述第二电源电压也可以由不同的电源提供。
本公开实施例中，当电源适配器内的器件发生材料失效时，会产生一些金属、液体或者气体溢出在所述电源适配器内部的空间，或者流到其他未发生材料失效的器件上，或者流到电源适配器的保护壳上，若喷出的液体流到电源适配器的保护壳上，会导致保护壳的该局部位置温度过高，有可能超过保护壳的熔点，从而导致保护壳发生溶壳安全风险；若喷出的液体流到其他未失效的器件上，一方面可能导致其他器件也出现失效，即出现连锁失效情况，另一方面，可能导致电子设备内的正常情况下的非通路变为通路，从而引发能量安全风险，即之前的非通路变为通路，导致多次打火(或者称之为闪火)，能量过大将电源适配器的外壳冲掉。这些例举的安全风险并不完全是开路状态或者短路状态，还呈现一定的阻抗，是一种中间状态，但是相比于正常工作状态存在安全风险或者瑕疵。而通过本公开实施例提供的方案，可以使得这类器件材料失效引起的中间状态的安全风险被提前发现。
下面结合图3-7进行具体说明。
与上述实施例相比，本公开实施例提供的方法还可以包括以下步骤：在提供所述第一电源电压至所述电子设备之前，预先确定所述电子设备在支撑物上的摆放方式。
本公开实施例中，可以模拟验证电源适配器的多种摆放方式，这是因为不同的摆放方式带来的故障模拟验证结果可能会有差异。
例如，可以改变电源适配器的六个面相对于地面的摆放方向，这里的摆放方向是相对于地面而言的，在故障模拟验证时，分别让电源适配器的六个面朝向地面，因为重力的作用，会导致电容失效喷出的电解液流向不同的位置，从而影响最终的验证结果。
在示例性实施例中，所述电子设备可以包括第一至第六面；所述摆放方式可以包括第一至第六摆放方式；所述第一至第六摆放方式为使所述电子设备的所述第一至第六面分别与所述支撑物的水平上表面接触。
图3是根据另一示例性实施例示出的一种电子设备的故障验证方法的流程图。
如图3所示，本公开实施例提供的电子设备的故障验证方法可以包括以下步骤。
在步骤S310中，初始化i＝1。
其中，i表示电子设备的第i摆放方式，i为大于等于1的正整数。
在步骤S320中，使电子设备以第i摆放方式放置于支撑物上。
在步骤S330中，提供第一电源电压至所述电子设备以使所述待验证器件满足材料失效条件。
在步骤S340中，提供第二电源电压至所述电子设备以判断所述电子设备是否存在安全风险。
其中，本公开实施例中的步骤S330和S340可以参照上述实施例中的步骤210和S220，在此不再赘述。
在步骤S350中，i++，即使i递增1。
在步骤S360中，判断递增1之后的i是否大于N；若大于N，则进入步骤S370；反之，跳回到步骤S320循环执行上述步骤S320至S360。
其中，N为预设的所述电子设备的摆放方式，这里假设N等于6。
在步骤S370中，结束。
在示例性实施例中，所述电子设备还可以包括保护壳，所述安全风险可以包括溶壳安全风险。
本公开实施例中，所述提供第二电源电压至所述电子设备以判断所述电子设备是否存在安全风险，可以包括：将所述电子设备与负载电连接；在所述待验证器件满足所述材料失效条件后的第一预定时长内，提供所述第二电源电压至所述电子设备以使所述电子设备正常工作第二预定时长，其中所述第一预定时长小于所述第二预定时长；获取所述电子设备的温度分布信息；根据所述温度分布信息判断所述电子设备是否存在所述溶壳安全风险。
在示例性实施例中，所述根据所述温度分布信息判断所述电子设备是否存在所述溶壳安全风险，可以包括：根据所述温度分布信息判断所述电子设备内是否存在至少一个局部过热点；若所述电子设备内存在至少一个局部过热点，则判定所述至少一个局部过热点存在所述溶壳安全风险。
在示例性实施例中，所述局部过热点是指所述电子设备内温度持续第三预定时长(例如，1分钟，但本公开并不限定于此，可以根据具体情况确定)超过温度阈值(例如，120℃，但本公开并不限定于此)的局部位置或者温度在第四预定时长(例如，1秒钟，但本公开并不限定于此，可以根据具体情况确定)内升高至超过所述温度阈值的局部位置。
在示例性实施例中，所述第二预定时长大于所述第三预定时长；所述第三预定时长大于所述第四预定时长。
在示例性实施例中，所述温度阈值的设定相关于所述保护壳的熔点。
下面结合图4和5对其进行说明。
图4示出图3的步骤S340的一示例性实施例的流程图。
如图4所示，本公开实施例提供的上述步骤S340可以进一步包括以下步骤。
在步骤S341中，将所述电子设备与负载电连接。
本公开实施例中，若所述电子设备为电源适配器，所述负载为移动终端例如手机。
在步骤S342中，在所述待验证器件满足所述材料失效条件后的第一预定时长内，提供所述第二电源电压至所述电子设备以使所述电子设备正常工作第二预定时长。
本公开实施例中，可以首先提供380V的第一电源电压至电源适配器，待电源适配器内的电容发生材料失效，电解液喷出后，再立即(即可以将所述第一预定时长设定为一个较小的值，例如1s之内)将所述电源适配器恢复至正常220V第二电源电压，使其长期(第二预定时长可以根据具体应用场景确定)正常工作。
需要说明的是，在上述实施例中，将高压第一电源电压输入至电子设备时，负载可以连接至电子设备，也可以不连接至电子设备。
在步骤S343中，获取所述电子设备的温度分布信息。
本公开实施例中，可以采用热像仪采集所述电子设备的温度分布信息，但本公开并不限定于此。
在步骤S345中，根据所述温度分布信息判断所述电子设备是否存在所述溶壳安全风险。
本公开实施例中，电源适配器内的电容失效，会导致电解液喷出；电源适配器内的保险丝失效，会导致保险丝内的黑色导电物质喷出，这两类材料失效均可能导致电源适配器在长期正常工作后，电源适配器的保护壳局部过热，即电解液或者导电物质所在的局部位置可能温度过高，从而导致电源适配器的外壳熔解，即存在发生溶壳的安全风险。
图5示出图4的步骤S344的一示例性实施例的流程图。
如图5所示，本公开实施例提供的上述步骤S344可以进一步包括以下步骤。
在步骤S3441中，判断电子设备内是否存在温度持续1分钟超过120℃的局部位置；若存在，则跳转到步骤S3443；若不存在，则进入步骤S3442。
需要说明的是，这里的“1分钟”和“120℃”均是用于举例说明的，并不用于限定本公开的保护范围。
在步骤S3442中，判断所述电子设备内是否存在温度急剧升高超过120℃的局部位置；若存在，则跳转到步骤S3443；若不存在，则进入步骤S3444。
本公开实施例中，电源适配器的保护壳可由塑料或木材制成。可以理解的是，保护壳还可为由其他绝缘材料制成的保护壳，例如，可由塑胶制成。通常电源适配器保护壳的熔点为125℃，因此，这里设置120℃为所述温度阈值，但当电子设备的保护壳的材料改变时，可以相应的调整所述温度阈值。
在步骤S3443中，判定所述局部位置为局部过热点，且所述局部过热点存在溶壳安全风险。
在步骤S3444中，判定所述电子设备内不存在局部过热点，所述电子设备不存在所述溶壳安全风险。
在示例性实施例中，所述待验证器件可以包括电容，所述材料失效条件可以为所述电容内的电解液喷出。下面结合图6的实施例进行举例说明。
在示例性实施例中，所述待验证器件可以包括保险丝，所述材料失效条件可以为所述保险丝内的导电物质喷出。需要说明的是，虽然图6的实施例仅以电容为例，但实际上，在同一次故障模拟验证时，可以同时验证电容失效和保险丝失效。
图6是根据又一示例性实施例示出的一种电子设备的故障验证方法的流程图。
本公开实施例中，所述电子设备包括变压器，所述变压器包括初级线圈和次级线圈。
变压器是利用电磁感应的原理来改变交流电压的装置，主要构件是初级线圈、次级线圈和铁芯，线圈有两个或两个以上的绕组，其中接电源的绕组叫初级线圈，其余的绕组叫次级线圈。
如图6所示，本公开实施例提供的电子设备的故障验证方法，与上述实施例相比，其不同之处在于，还可以包括以下步骤。
在步骤S610中，判断所述电子设备的初级线圈和次级线圈之间是否存在至少一个电解液积累点；若存在所述至少一个电解液积累点，则进入步骤S620；若不存在所述至少一个电解液积累点，则跳转到步骤S650。
本公开实施例中，当电容失效，电解液喷出后，电解液可能会流动到变压器的初级线圈和次级线圈之间，从而导致初级线圈和次级线圈之间发生漏电。
在一些实施例中，可以直接打开经过高压(例如，380V)故障模拟的产品(例如，电源适配器)的外壳，直接观察初级线圈(高压区)和次级线圈(低压区)之间是否有电解液积累，则认为存在至少一个电解液积累点，若只是覆盖了一层很薄的电解液在初级线圈和次级线圈之间，则可以认为不存在电解液积累点。
在另一些实施例中，可以通过图像识别的方式来判断所述电子设备的初级线圈和次级线圈之间是否存在至少一个电解液积累点。
例如，首先通过图像传感器采集经过高压故障模拟之前的电源适配器内部的图像，然后采集经过高压故障模拟之后的电源适配器内部的图像，将前后两次采集的图像进行比对，可以判断所述初级线圈和所述次级线圈之间是否存在至少一个电解液积累点。或者，直接采集经过高压故障模拟之后的电源适配器内部的图像，经过图像识别，可以判断所述初级线圈和所述次级线圈之间是否存在至少一个电解液积累点。
在步骤S620中，检测所述初级线圈和所述次级线圈之间的接触电流。
在步骤S630中，判断所述接触电流是否超过电流阈值；若所述接触电流超过电流阈值，则进入步骤S640；若所述接触电流未超过所述电流阈值，则跳转到步骤S650。
在步骤S640中，判定所述电子设备存在漏电安全风险。
在步骤S650中，判定所述电子设备不存在所述漏电安全风险。
本公开实施例中，正常情况下，按照电源适配器的标准，电源适配器的初级线圈和次级线圈之间的接触电流要低于0.25m A(250u A)，当检测到的接触电流大于0.25m A，则可以判定所述电子设备存在漏电安全风险。
需要说明的是，当所述电子设备为其他电子设备时，可以根据具体应用场景设定所述电流阈值，本公开对此不作限定。
需要说明的是，若所述电源适配器为手机充电器，正常情况下，手机充电器会将220V的交流电通过初级线圈和次级线圈转换为5V或者10V的低压直流电充入手机的电池中，但是，当发生漏电安全风险时，手机充电器就可能直接将220V的交流电充入手机电池中，从而引起手机损坏、爆炸、起火等一系列的安全风险。
图7是根据再一示例性实施例示出的一种电子设备的故障验证方法的流程图。
本公开实施例中，所述安全风险还可以包括能量安全风险。
需要说明的是，这里的能量安全风险是指电子设备内发生多次打火情况，导致打火位置能量过大，甚至可能将电子设备的保护壳冲掉的安全风险。
正常情况下，电源适配器除了设置有正常的电流通路，还会设置保护电路，但该保护电路一般只能经受一次打火情况，当发生多次打火例如第二次打火时，保护电路已经无法发生作用，从而会导致能量安全风险，使得多次打火位置例如出现冒烟、出现白点、烧黑等现象。
如图7所示，本公开实施例提供的电子设备的故障验证方法，与上述实施例相比，其不同之处在于，还可以包括以下步骤。
在步骤S710中，判断所述电子设备内是否存在至少一个闪火位置；若存在所述至少一个闪火位置，则进入步骤S720；若不存在所述至少一个闪火位置，则跳转到步骤S730。
本公开实施例中，可以将经过高压故障模拟之后的电源适配器的外壳打开，确认PCBA(Printed Circuit Board+Assembly的简称，即安装了元件器的PCB板)上是否有出现因为器件的材料失效引起的二次打火情况，如出现二次打火，即可以判定二次打火位置(二次打火位置会冒白烟，或者有白点，可以直观地看出来)有能量安全风险。
在另一些实施例中，可以通过图像识别的方式来判断所述电子设备内是否存在至少一个闪火位置。
例如，首先通过图像传感器采集经过高压故障模拟之前的电源适配器内部的图像，然后采集经过高压故障模拟之后的电源适配器内部的图像，将前后两次采集的图像进行比对，可以判断判断所述电子设备内是否存在至少一个闪火位置。或者，直接采集经过高压故障模拟之后的电源适配器内部的图像，经过图像识别，可以判断所述电子设备内是否存在至少一个闪火位置。
在步骤S720中，判定所述至少一个闪火位置存在能量安全风险。
在步骤S730中，判定所述电子设备不存在所述能量安全风险。
本公开实施例提供的电子设备的故障验证方法，通过增加高压(380V或者更高电压)验证导致器件材料失效的模拟方式，实现了器件材料失效后是否会带来安全风险的判定，能够对电子设备中普遍存在的器件的中间状态或者因为器件失效导致的连锁失效进行验证，保证产品的安全风险被提前发现。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员易于理解，这里描述的示例实施方式可以通过软件实现，也可以通过软件结合必要的硬件的方式来实现。因此，根据本公开实施方式的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM，U盘，移动硬盘等)中或网络上，包括若干指令以使得一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等)执行根据本公开实施方式的上述方法。
此外，本说明书说明书附图所示出的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所公开的内容，以供本领域技术人员了解与阅读，并非用以限定本公开可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本公开所能产生的技术效果及所能实现的目的下，均应仍落在本公开所公开的技术内容得能涵盖的范围内。

Claims (17)

1.一种电子设备的故障验证方法，所述电子设备包括待验证器件；其中，所述方法包括：
提供第一电源电压至所述电子设备以使所述待验证器件满足材料失效条件；
提供第二电源电压至所述电子设备以判断所述电子设备是否存在安全风险；
其中，所述第一电源电压大于所述第二电源电压；所述安全风险是由所述待验证器件内的材料失效引起的。
2.如权利要求1所述的电子设备的故障验证方法，其中，所述方法还包括：
在提供所述第一电源电压至所述电子设备之前，预先确定所述电子设备在支撑物上的摆放方式。
3.如权利要求2所述的电子设备的故障验证方法，其中，所述电子设备包括第一至第六面；所述摆放方式包括第一至第六摆放方式；
所述第一至第六摆放方式为使所述电子设备的所述第一至第六面分别与所述支撑物的水平上表面接触。
4.如权利要求1所述的电子设备的故障验证方法，其中，所述电子设备还包括保护壳，所述安全风险包括溶壳安全风险；提供第二电源电压至所述电子设备以判断所述电子设备是否存在安全风险，包括：
将所述电子设备与负载电连接；
在所述待验证器件满足所述材料失效条件后的第一预定时长内，提供所述第二电源电压至所述电子设备以使所述电子设备正常工作第二预定时长，其中所述第一预定时长小于所述第二预定时长；
获取所述电子设备的温度分布信息；
根据所述温度分布信息判断所述电子设备是否存在所述溶壳安全风险。
5.如权利要求4所述的电子设备的故障验证方法，根据所述温度分布信息判断所述电子设备是否存在所述溶壳安全风险，包括：
根据所述温度分布信息判断所述电子设备内是否存在至少一个局部过热点；
若所述电子设备内存在至少一个局部过热点，则判定所述至少一个局部过热点存在所述溶壳安全风险。
6.如权利要求5所述的电子设备的故障验证方法，其中，所述局部过热点是指所述电子设备内温度持续第三预定时长超过温度阈值的局部位置或者温度在第四预定时长内升高至超过所述温度阈值的局部位置；
其中，所述第二预定时长大于所述第三预定时长；所述第三预定时长大于所述第四预定时长。
7.如权利要求6所述的电子设备的故障验证方法，其中，所述温度阈值的设定相关于所述保护壳的熔点。
8.如权利要求1所述的电子设备的故障验证方法，所述待验证器件包括电容，所述材料失效条件为所述电容内的电解液喷出。
9.如权利要求8所述的电子设备的故障验证方法，其中，所述电子设备还包括变压器，所述变压器包括初级线圈和次级线圈，所述安全风险包括漏电安全风险；其中，所述方法还包括：
确定所述初级线圈和所述次级线圈之间是否存在至少一个电解液积累点；
若存在所述至少一个电解液积累点，则检测所述初级线圈和所述次级线圈之间的接触电流；
若所述接触电流超过电流阈值，则判定所述电子设备存在所述漏电安全风险。
10.如权利要求1所述的电子设备的故障验证方法，其中，所述安全风险包括能量安全风险；所述方法还包括：
确定所述电子设备内是否存在至少一个闪火位置；
若存在至少一个闪火位置，则判定所述至少一个闪火位置存在所述能量安全风险。
11.如权利要求1所述的电子设备的故障验证方法，其中，所述待验证器件包括保险丝，所述材料失效条件为所述保险丝内的导电物质喷出。
12.如权利要求1所述的电子设备的故障验证方法，其中，所述电子设备为电源适配器。
13.如权利要求1所述的电子设备的故障验证方法，其中，所述第一电源电压大于等于380V。
14.如权利要求1所述的电子设备的故障验证方法，其中，所述第二电源电压为220V。
15.如权利要求1所述的电子设备的故障验证方法，其中，所述第一电源电压和所述第二电源电压均由三相市电或者功率万瓦特以上的电源提供。
16.一种电子设备的故障验证系统，其中，所述系统包括：
电源，用于提供第一电源电压至所述电子设备，以使所述电子设备内的待验证器件满足材料失效条件；以及还用于提供第二电源电压至所述电子设备以判断所述电子设备是否存在安全风险；
电子设备，与所述电源电连接；
其中，所述第一电源电压大于所述第二电源电压；所述安全风险是由所述待验证器件内的材料失效引起的。
17.如权利要求16所述的电子设备的故障验证系统，其中，所述系统还包括：
负载，用于当所述电源提供所述第二电源电压至所述电子设备时，与所述电子设备电连接。
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