CN110865261A - 保护装置出口矩阵校验仪及校验方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了保护装置出口矩阵校验仪和校验方法，端口的数量与采样电路的数量相同，且端口和采样电路一一对应；端口通过与该端口对应的采样电路连接于处理器；采样电路包括三极管Q、电阻R1和电阻R2；电阻R1的一端连接于端口，且电阻R1的另一端连接于三极管Q的基极；电阻R2的一端连接于三极管Q的集电极，电阻R2的另一端连接于供电VCC；三极管Q的集电极连接于处理器，且三极管Q的发射极接地；电阻R1的阻值大于或等于10MΩ。本发明保护装置出口矩阵校验仪及校验方法，实现了对同时对多路通道电压信号的采集，并且在采集过程中，不会触发设备绝缘巡检仪，既提高了使用效率又减少了意外触发带来的检测失效。
Description
技术领域
本发明涉及电气测量技术，具体涉及保护装置出口矩阵校验仪及校验方法。
背景技术
保护装置出口检验是验证保护装置能否正确出口的重要手段。其校验结果直接关系到电网的稳定运行。
1、当下最常规的校验方法为万用表对地测量出口压板电位的方法。该方法存在工作强度大、校验效率低，且人为干扰因素多的缺点，校验结果可靠性难以保证。
2、现在市场上的大多测控装置并不能满足实际工作中的要求，这些问题主要来源于①接口较少、②接拆线复杂、③出口显示不方便、④体积笨重不容易携带这几方面。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是现有的保护装置出口检验采用的手段人为干扰因素读，并且接拆线复杂，不利于显示，目的在于提供保护装置出口矩阵校验仪及校验方法，解决上述问题。
本发明通过下述技术方案实现：
保护装置出口矩阵校验仪，包括：多个端口、多个采样电路和处理器；所述端口的数量与所述采样电路的数量相同，且所述端口和所述采样电路一一对应；所述端口通过与该端口对应的采样电路连接于所述处理器；
所述采样电路包括三极管Q、电阻R1和电阻R2；所述电阻R1的一端连接于所述端口，且所述电阻R1的另一端连接于所述三极管Q的基极；所述电阻R2的一端连接于所述三极管Q的集电极，所述电阻R2的另一端连接于供电VCC；所述三极管Q的集电极连接于所述处理器，且所述三极管Q的发射极接地；所述电阻R1的阻值大于或等于10MΩ。
本发明应用时，由于采用了多个采样电路对应多个端口的方式进行采样，所以有利于同时对多条通道进行同时采样，在采样过程中，通过电阻R1进行采样，在通过R2分压后使得多路采样电路工作时，可以使得接地电阻达到满足的条件，在10路采样电路的前提下，可以达到1MΩ的接地阻值，避免使用中造成设备绝缘巡检仪触发。本发明通过上述设计，实现了对同时对多路通道电压信号的采集，并且在采集过程中，不会触发设备绝缘巡检仪，既提高了使用效率又减少了意外触发带来的检测失效。
进一步的，所述处理器对多个端口进行循环采样；当任意端口电平突变后，如果在预设时长内电平保持不变，则认为该电平为有效电平并记录有效电平。
进一步的，所述处理器建立校验矩阵；所述处理器对端口持续采样预设时间T，且采样间隔为k秒，生成Q个采样值；Q个采样值形成一个采样数组并存入所述校验矩阵的一个元素内；所述处理器对一个采样数组内的采样数值获取平均值，当所述平均值与采样数组内最大的采样数值差值小于阈值时，认为该采样数组为有效采样数组，所述有效采样数组内采样数值的平均值为有效电平。
本发明应用时，通过对电平有效评价的设计可以避免采样到突变数据，提高了数据采样的准确性。
进一步的，所有处理器将一组检测生成的多个有效电平存入所述校验矩阵的同一行，并将已存入有效电平的校验矩阵的行进行标记；当处理器向所述校验矩阵存入有效电平时，将所述有效电平存入所述校验矩阵中未被标记的行。
本发明应用时，通过校验矩阵的方式，可以非常有利于对整组的数据进行显示。
进一步的，还包括计时器；当保护装置试验仪向保护装置输入故障量时，所述保护装置试验仪向所述保护装置出口矩阵校验仪发出触发信号；所述处理器接收到触发信号时启动计时器，且当保护装置动作时所述计时器结束并将计时时间作为保护装置动作时间。
保护装置出口矩阵校验方法，包括以下步骤：
建立多个端口、多个采样电路和处理器；所述端口的数量与所述采样电路的数量相同，且所述端口和所述采样电路一一对应；所述端口通过与该端口对应的采样电路连接于所述处理器；
在所述采样电路设置三极管Q、电阻R1和电阻R2；所述电阻R1的一端连接于所述端口，且所述电阻R1的另一端连接于所述三极管Q的基极；所述电阻R2的一端连接于所述三极管Q的集电极，所述电阻R2的另一端连接于供电VCC；所述三极管Q的集电极连接于所述处理器，且所述三极管Q的发射极接地；所述电阻R1的阻值大于或等于10MΩ；
当进行采样时，所述采样电路采样所述端口中的电信号并发送至所述处理器，所述处理器对信号进行处理。
进一步的，所述处理器对多个端口进行循环采样；当任意端口电平突变后，如果在预设时长内电平保持不变，则认为该电平为有效电平并记录有效电平。
进一步的，所述处理器建立校验矩阵；所述处理器对端口持续采样预设时间T，且采样间隔为k秒，生成Q个采样值；Q个采样值形成一个采样数组并存入所述校验矩阵的一个元素内；所述处理器对一个采样数组内的采样数值获取平均值，当所述平均值与采样数组内最大的采样数值差值小于阈值时，认为该采样数组为有效采样数组，所述有效采样数组内采样数值的平均值为有效电平。
进一步的，所有处理器将一组检测生成的多个有效电平存入所述校验矩阵的同一行，并将已存入有效电平的校验矩阵的行进行标记；当处理器向所述校验矩阵存入有效电平时，将所述有效电平存入所述校验矩阵中未被标记的行。
进一步的，当保护装置试验仪向保护装置输入故障量时，所述保护装置试验仪向所述保护装置出口矩阵校验仪发出触发信号；所述处理器接收到触发信号时启动计时器，且当保护装置动作时所述计时器结束并将计时时间作为保护装置动作时间。
本发明与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：
本发明保护装置出口矩阵校验仪及校验方法，实现了对同时对多路通道电压信号的采集，并且在采集过程中，不会触发设备绝缘巡检仪，既提高了使用效率又减少了意外触发带来的检测失效。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明实施例的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本发明实施例的限定。在附图中：
图1为本发明系统结构示意图；
图2为本发明实施例结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本发明作进一步的详细说明，本发明的示意性实施方式及其说明仅用于解释本发明，并不作为对本发明的限定。
实施例
如图1和图2所示，本发明保护装置出口矩阵校验仪，包括：多个端口、多个采样电路和处理器；所述端口的数量与所述采样电路的数量相同，且所述端口和所述采样电路一一对应；所述端口通过与该端口对应的采样电路连接于所述处理器；
所述采样电路包括三极管Q、电阻R1和电阻R2；所述电阻R1的一端连接于所述端口，且所述电阻R1的另一端连接于所述三极管Q的基极；所述电阻R2的一端连接于所述三极管Q的集电极，所述电阻R2的另一端连接于供电VCC；所述三极管Q的集电极连接于所述处理器，且所述三极管Q的发射极接地；所述电阻R1的阻值大于或等于10MΩ。
本实施例实施时，由于采用了多个采样电路对应多个端口的方式进行采样，所以有利于同时对多条通道进行同时采样，在采样过程中，通过电阻R1进行采样，在通过R2分压后使得多路采样电路工作时，可以使得接地电阻达到满足的条件，在10路采样电路的前提下，可以达到1MΩ的接地阻值，避免使用中造成设备绝缘巡检仪触发。本发明通过上述设计，实现了对同时对多路通道电压信号的采集，并且在采集过程中，不会触发设备绝缘巡检仪，既提高了使用效率又减少了意外触发带来的检测失效。
为了进一步的说明本实施例的工作过程，所述处理器对多个端口进行循环采样；当任意端口电平突变后，如果在预设时长内电平保持不变，则认为该电平为有效电平并记录有效电平。
为了进一步的说明本实施例的工作过程，所述处理器建立校验矩阵；所述处理器对端口持续采样预设时间T，且采样间隔为k秒，生成Q个采样值；Q个采样值形成一个采样数组并存入所述校验矩阵的一个元素内；所述处理器对一个采样数组内的采样数值获取平均值，当所述平均值与采样数组内最大的采样数值差值小于阈值时，认为该采样数组为有效采样数组，所述有效采样数组内采样数值的平均值为有效电平。
本实施例实施时，通过对电平有效评价的设计可以避免采样到突变数据，提高了数据采样的准确性。
为了进一步的说明本实施例的工作过程，所有处理器将一组检测生成的多个有效电平存入所述校验矩阵的同一行，并将已存入有效电平的校验矩阵的行进行标记；当处理器向所述校验矩阵存入有效电平时，将所述有效电平存入所述校验矩阵中未被标记的行。
本实施例实施时，通过校验矩阵的方式，可以非常有利于对整组的数据进行显示。
保护装置出口矩阵校验方法，包括以下步骤：
建立多个端口、多个采样电路和处理器；所述端口的数量与所述采样电路的数量相同，且所述端口和所述采样电路一一对应；所述端口通过与该端口对应的采样电路连接于所述处理器；
在所述采样电路设置三极管Q、电阻R1和电阻R2；所述电阻R1的一端连接于所述端口，且所述电阻R1的另一端连接于所述三极管Q的基极；所述电阻R2的一端连接于所述三极管Q的集电极，所述电阻R2的另一端连接于供电VCC；所述三极管Q的集电极连接于所述处理器，且所述三极管Q的发射极接地；所述电阻R1的阻值大于或等于10MΩ；
当进行采样时，所述采样电路采样所述端口中的电信号并发送至所述处理器，所述处理器对信号进行处理。
为了进一步的说明本实施例的工作过程，所述处理器对多个端口进行循环采样；当任意端口电平突变后，如果在预设时长内电平保持不变，则认为该电平为有效电平并记录有效电平。
为了进一步的说明本实施例的工作过程，所述处理器建立校验矩阵；所述处理器对端口持续采样预设时间T，且采样间隔为k秒，生成Q个采样值；Q个采样值形成一个采样数组并存入所述校验矩阵的一个元素内；所述处理器对一个采样数组内的采样数值获取平均值，当所述平均值与采样数组内最大的采样数值差值小于阈值时，认为该采样数组为有效采样数组，所述有效采样数组内采样数值的平均值为有效电平。
为了进一步的说明本实施例的工作过程，所有处理器将一组检测生成的多个有效电平存入所述校验矩阵的同一行，并将已存入有效电平的校验矩阵的行进行标记；当处理器向所述校验矩阵存入有效电平时，将所述有效电平存入所述校验矩阵中未被标记的行。
以上所述的具体实施方式，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施方式而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.保护装置出口矩阵校验仪，其特征在于，包括：多个端口、多个采样电路和处理器；所述端口的数量与所述采样电路的数量相同，且所述端口和所述采样电路一一对应；所述端口通过与该端口对应的采样电路连接于所述处理器；
所述采样电路包括三极管Q、电阻R1和电阻R2；所述电阻R1的一端连接于所述端口，且所述电阻R1的另一端连接于所述三极管Q的基极；所述电阻R2的一端连接于所述三极管Q的集电极，所述电阻R2的另一端连接于供电VCC；所述三极管Q的集电极连接于所述处理器，且所述三极管Q的发射极接地；所述电阻R1的阻值大于或等于10MΩ。
2.根据权利要求1所述的保护装置出口矩阵校验仪，其特征在于，所述处理器对多个端口进行循环采样；当任意端口电平突变后，如果在预设时长内电平保持不变，则认为该电平为有效电平并记录有效电平。
3.根据权利要求2所述的保护装置出口矩阵校验仪，其特征在于，所述处理器建立校验矩阵；所述处理器对端口持续采样预设时间T，且采样间隔为k秒，生成Q个采样值；Q个采样值形成一个采样数组并存入所述校验矩阵的一个元素内；所述处理器对一个采样数组内的采样数值获取平均值，当所述平均值与采样数组内最大的采样数值差值小于阈值时，认为该采样数组为有效采样数组，所述有效采样数组内采样数值的平均值为有效电平。
4.根据权利要求3所述的保护装置出口矩阵校验仪，其特征在于，所有处理器将一组检测生成的多个有效电平存入所述校验矩阵的同一行，并将已存入有效电平的校验矩阵的行进行标记；当处理器向所述校验矩阵存入有效电平时，将所述有效电平存入所述校验矩阵中未被标记的行。
5.根据权利要求1所述的保护装置出口矩阵校验仪，其特征在于，还包括计时器；当保护装置试验仪向保护装置输入故障量时，所述保护装置试验仪向所述保护装置出口矩阵校验仪发出触发信号；所述处理器接收到触发信号时启动计时器，且当保护装置动作时所述计时器结束并将计时时间作为保护装置动作时间。
6.保护装置出口矩阵校验方法，其特征在于，包括以下步骤：
建立多个端口、多个采样电路和处理器；所述端口的数量与所述采样电路的数量相同，且所述端口和所述采样电路一一对应；所述端口通过与该端口对应的采样电路连接于所述处理器；
在所述采样电路设置三极管Q、电阻R1和电阻R2；所述电阻R1的一端连接于所述端口，且所述电阻R1的另一端连接于所述三极管Q的基极；所述电阻R2的一端连接于所述三极管Q的集电极，所述电阻R2的另一端连接于供电VCC；所述三极管Q的集电极连接于所述处理器，且所述三极管Q的发射极接地；所述电阻R1的阻值大于或等于10MΩ；
当进行采样时，所述采样电路采样所述端口中的电信号并发送至所述处理器，所述处理器对信号进行处理。
7.根据权利要求6所述的保护装置出口矩阵校验方法，其特征在于，所述处理器对多个端口进行循环采样；当任意端口电平突变后，如果在预设时长内电平保持不变，则认为该电平为有效电平并记录有效电平。
8.根据权利要求7所述的保护装置出口矩阵校验方法，其特征在于，所述处理器建立校验矩阵；所述处理器对端口持续采样预设时间T，且采样间隔为k秒，生成Q个采样值；Q个采样值形成一个采样数组并存入所述校验矩阵的一个元素内；所述处理器对一个采样数组内的采样数值获取平均值，当所述平均值与采样数组内最大的采样数值差值小于阈值时，认为该采样数组为有效采样数组，所述有效采样数组内采样数值的平均值为有效电平。
9.根据权利要求8所述的保护装置出口矩阵校验方法，其特征在于，所有处理器将一组检测生成的多个有效电平存入所述校验矩阵的同一行，并将已存入有效电平的校验矩阵的行进行标记；当处理器向所述校验矩阵存入有效电平时，将所述有效电平存入所述校验矩阵中未被标记的行。
10.根据权利要求6所述的保护装置出口矩阵校验方法，其特征在于，当保护装置试验仪向保护装置输入故障量时，所述保护装置试验仪向所述保护装置出口矩阵校验仪发出触发信号；所述处理器接收到触发信号时启动计时器，且当保护装置动作时所述计时器结束并将计时时间作为保护装置动作时间。
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