CN110827729B - 检测结构、显示面板及制作方法、检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种检测结构、显示面板及制作方法、检测方法，涉及显示技术领域，该检测结构可以实现在绑定芯片和电路板之前，对绑定芯片输入端的引脚和绑定电路板的引脚进行检测。一种检测结构，应用于显示面板；检测结构包括：信号引脚部，包括第一数据信号引脚，第一数据信号引脚用于接入第一数据信号；连接单元，包括多个串联的连接部，各连接部的输入端包括多个电路板绑定引脚，输出端包括多个芯片输入端绑定引脚；第一数据信号引脚连接连接单元的输入端；第一数据线的第一端连接连接单元的输出端，第二端连接至少一排第一子像素。本发明适用于检测结构以及包括该检测结构的显示面板的制作。

Description

检测结构、显示面板及制作方法、检测方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种检测结构、显示面板及制作方法、检测方法。

背景技术

目前Panel(显示面板)设计的检测单元主要有AT(阵列基板检测)和ET(对盒工艺检测)两个单元。针对COP(Chip on PI，芯片封装在聚酰亚胺薄膜上)产品，AT单元设置在IC(Integrated Circuit，集成电路)下侧，可以检测IC输出Bonding Pin(绑定引脚)是否有损伤，其中，IC输出Bonding Pin用于绑定IC的输出端。但是无法检测FOP(Flexible OnPanel，柔性连接部)输入Bonding Pin以及设置在FOP上的IC输入Bonding Pin是否存在损伤。其中，FOP用于连接IC和FPC(Flexible Printed Circuit，柔性电路板)，FOP输入Bonding Pin用于绑定FPC，IC输入Bonding Pin用于绑定IC的输入端。

若因为FOP和IC输入Bonding Pin的划伤造成后续整体测试时出现问题，那就需要将FPC和IC等MDL(模组)全部替换掉。这势必造成极大的资财浪费，而这些模组的造价昂贵，无疑又增加了生产成本。因此，如何在绑定FPC和IC之前实现对FOP和IC输入Bonding Pin的检测显得迫在眉睫。

发明内容

本发明的实施例提供一种检测结构、显示面板及制作方法、检测方法，该检测结构可以实现在绑定芯片和电路板之前，对绑定芯片输入端的引脚和绑定电路板的引脚进行检测。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

第一方面，提供了一种检测结构，应用于显示面板，所述显示面板包括至少一排第一子像素、以及至少一条第一数据线；

所述检测结构包括：

信号引脚部，所述信号引脚部包括第一数据信号引脚，所述第一数据信号引脚用于接入第一数据信号；

连接单元，所述连接单元包括多个串联的连接部，各所述连接部的输入端包括多个电路板绑定引脚，输出端包括多个芯片输入端绑定引脚；

其中，所述第一数据信号引脚连接所述连接单元的输入端；所述第一数据线的第一端连接所述连接单元的输出端，第二端连接至少一排所述第一子像素。

可选的，所述信号引脚部还包括控制信号引脚，所述控制信号引脚用于接入第一控制信号；

所述检测结构还包括：第一控制部，所述第一控制部分别连接所述控制信号引脚、所述连接单元的输出端、所述第一数据线的第一端，用于在所述第一控制信号的控制下，将所述连接单元的输出端信号传输到所述第一数据线的第一端。

可选的，所述显示面板还包括至少一排第二子像素、以及至少一条第二数据线；

所述信号引脚部还包括第二数据信号引脚，所述第二数据信号引脚用于接入第二数据信号；

所述控制信号引脚还用于接入第二控制信号；

所述检测结构还包括：第二控制部，所述第二控制部分别连接所述控制信号引脚、所述第二数据信号引脚、所述第二数据线的第一端，用于在所述第二控制信号的控制下，将所述第二数据信号引脚的信号传输到所述第二数据线；

所述第二数据线的第二端连接至少一排所述第二子像素。

可选的，所述第一控制部包括至少一个第一薄膜晶体管，所述第二控制部包括至少一个第二薄膜晶体管；

各所述第一薄膜晶体管的栅极、各所述第二薄膜晶体管的栅极连接所述控制信号引脚；

各所述第一薄膜晶体管的源极连接所述连接单元的输出端、漏极连接不同的所述第一数据线的第一端；

各所述第二薄膜晶体管的源极连接所述第二数据信号引脚、漏极连接不同的所述第二数据线的第一端。

可选的，所述显示面板还包括至少一排第三子像素、以及至少一条第三数据线；

所述控制信号引脚还用于接入第三控制信号；

所述检测结构还包括：

面板裂纹检测单元，所述面板裂纹检测单元的输入端连接所述第一数据信号引脚；

第三控制部，所述第三控制部分别连接所述控制信号引脚、所述面板裂纹检测单元的输出端、所述第三数据线的第一端，用于在所述第三控制信号的控制下，将所述面板裂纹检测单元的输出端信号传输到所述第三数据线的第一端；

所述第三数据线的第二端连接至少一排所述第三子像素。

可选的，所述第三控制部包括至少一个第三薄膜晶体管；

各所述第三薄膜晶体管的栅极连接所述控制信号引脚、源极连接所述面板裂纹检测单元的输出端、漏极连接不同的所述第三数据线的第一端。

可选的，所述连接单元的两侧对称设置所述信号引脚部；其中，位于所述连接单元一侧的所述第一数据信号引脚连接所述连接单元的输入端，另一侧的所述第一数据信号引脚悬空。

可选的，所述信号引脚部还包括控制信号引脚和第二数据信号引脚；

位于所述连接单元两侧的所有所述控制信号引脚相连，位于所述连接单元两侧的所有所述控制信号引脚相连。

本发明的实施例提供了一种检测结构，应用于显示面板，所述显示面板包括至少一排第一子像素、以及至少一条第一数据线；所述检测结构包括：信号引脚部，所述信号引脚部包括第一数据信号引脚，所述第一数据信号引脚用于接入第一数据信号；连接单元，所述连接单元包括多个串联的连接部，各所述连接部的输入端包括多个电路板绑定引脚，输出端包括多个芯片输入端绑定引脚；其中，所述第一数据信号引脚连接所述连接单元的输入端；所述第一数据线的第一端连接所述连接单元的输出端，第二端连接所述第一子像素。该检测结构中，第一数据信号引脚、多个串联的连接部、第一数据线与第一子像素电连接在一起，这样，当第一数据信号引脚接入第一数据信号时，第一子像素可以显示相应画面。若任意一个电路板绑定引脚和或芯片输入端绑定引脚存在损伤，则向第一子像素输入的数据信号都会发生变化，在显示画面中会出现亮线。若任意一个电路板绑定引脚和或芯片输入端绑定引脚都不存在损伤，则向第一子像素输入的数据信号与第一数据信号相同，画面正常显示，不会出现亮线。该检测结构可以实现在绑定芯片和电路板之前，对绑定芯片输入端的引脚和绑定电路板的引脚进行检测，从而极大降低了成本。

第二方面，提供了一种显示面板，包括上述任一项所述的检测结构。该显示面板包括的检测结构可以实现在绑定芯片和电路板之前，对绑定芯片输入端的引脚和绑定电路板的引脚进行检测，从而极大降低了成本。

第三方面，提供了一种显示面板的制作方法，所述方法包括：

采用上述所述的检测结构进行检测；

在检测正常后，将多个串联的连接部的连接线切断，以使得多个所述连接部保持独立。

本发明的实施例提供了一种显示面板的制作方法，通过该方法，可以确保在绑定芯片和电路板之前，芯片输入端绑定引脚和电路板绑定引脚没有损伤，有利于后续芯片和电路板的绑定，同时能提高良率，降低生产成本。

第四方面，提供了一种显示面板，采用上述的显示面板的制作方法形成。该显示面板可以确保在绑定芯片和电路板之前，芯片输入端绑定引脚和电路板绑定引脚没有损伤，具有良率高，生产成本低的特点。

第五方面，提供了一种包括上述检测结构的显示面板的检测方法，所述方法包括：

向第一数据信号引脚输入第一数据信号；

检测显示画面是否存在亮线；

若是，则判定电路板绑定引脚和芯片输入端绑定引脚损伤；若否，则判定电路板绑定引脚和芯片输入端绑定引脚正常。

本发明的实施例提供了一种显示面板的检测方法，通过上述方法可以检测电路板绑定引脚和芯片输入端绑定引脚是否存在损伤，方法简单易实现，同时能极大降低成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种检测结构的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的另一种检测结构的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的一种检测画面的示意图；

图4为本发明实施例提供的另一种检测画面的示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为了便于清楚描述本发明实施例的技术方案，在本发明的实施例中，采用了“第一”、“第二”、“第三”等字样对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分，本领域技术人员可以理解“第一”、“第二”、“第三”等字样并不对数量和执行次序进行限定。

实施例一

本发明实施例提供了一种检测结构，应用于显示面板，显示面板包括至少一排第一子像素、以及至少一条第一数据线。

这里对于显示面板的类型不做限定，其可以是LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)，还可以是OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)。上述显示面板可以是柔性显示面板(又称柔性屏)，也可以是刚性显示面板(即不能折弯的显示面板)，这里也不做限定。

参考图1所示，该检测结构包括：

信号引脚部1，信号引脚部包括第一数据信号引脚11，第一数据信号引脚用于接入第一数据信号。

连接单元2，连接单元2包括多个串联的连接部21，各连接部的输入端包括多个电路板绑定引脚(图1未示出)，输出端包括多个芯片输入端绑定引脚211。

其中，第一数据信号引脚11连接连接单元2的输入端；第一数据线3的第一端连接连接单元2的输出端，第二端连接至少一排第一子像素4。

这里对于第一数据信号引脚的数量、大小和类型不做限定，具体根据实际情况而定。考虑到节约成本和减小所占空间，信号引脚部包括一个第一数据信号引脚即可。图1以信号引脚部包括一个第一数据信号引脚为例进行说明。

上述多个串联的连接部是指，当前连接部的输出端连接紧邻的连接部的输入端，依次类推，形成的电路连接关系。这里对于连接部的数量、各连接部的输入端包括的电路板绑定引脚的数量、各连接部的输出端包括的芯片输入端绑定引脚的数量均不做限定，具体可以根据绑定的芯片和电路板的引脚数来确定。图1以各连接部的输出端包括两个芯片输入端绑定引脚为例进行绘示。上述连接部可以是FOP，用于绑定柔性电路板等；也可以用于绑定刚性电路板，这里不做限定，具体根据实际要求而定。

上述电路板绑定引脚用于绑定电路板，上述芯片输入端绑定引脚用于绑定芯片的输入端。

上述第一数据线的数量不做限定，同时对于驱动方式也不做限定，其可以是采用一条第一数据线向一排子像素提供信号，也可以采用一条第一数据线向多排(两排及以上)子像素提供信号，这里不做限定，图1以一条第一数据线3向一排子像素4提供信号为例进行绘示。考虑到机器对于亮线的检测精度，可以采用三条第一数据线分别与三排第一子像素连接。上述第一子像素可以是R子像素(红色子像素)、G子像素(绿色子像素)、B子像素(蓝色子像素)、Y子像素(黄色子像素)等，这里不做限定。考虑到绿色的识别度较高，该第一子像素可以是G子像素。

上述检测结构主要应用在采用COP封装的显示面板中，当然也可以应用在其它需要检测电路板绑定引脚和芯片输入端绑定引脚的显示面板中，这里不做限定。

上述显示面板一般划分为显示区和包围显示区的非显示区。显示区为实现显示的区域，设置有矩阵排布的子像素、栅线、数据线等。非显示区一般包括引线区(Fanout区)、端子区(Pad区)等，引线区用于归集显示区的金属线，端子区用于实现引线区和驱动芯片等电路结构的电连接。上述检测结构可以设置在非显示区的端子区。

本发明的实施例提供了一种检测结构，应用于显示面板，所述显示面板包括至少一排第一子像素、以及至少一条第一数据线；所述检测结构包括：信号引脚部，所述信号引脚部包括第一数据信号引脚，所述第一数据信号引脚用于接入第一数据信号；连接单元，所述连接单元包括多个串联的连接部，各所述连接部的输入端包括多个电路板绑定引脚，输出端包括多个芯片输入端绑定引脚；其中，所述第一数据信号引脚连接所述连接单元的输入端；所述第一数据线的第一端连接所述连接单元的输出端，第二端连接所述第一子像素。该检测结构中，第一数据信号引脚、多个串联的连接部、第一数据线与第一子像素电连接在一起，这样，当第一数据信号引脚接入第一数据信号时，第一子像素可以显示相应画面。若任意一个电路板绑定引脚和或芯片输入端绑定引脚存在损伤，则向第一子像素输入的数据信号都会发生变化，在显示画面中会出现亮线。若任意一个电路板绑定引脚和或芯片输入端绑定引脚都不存在损伤，则向第一子像素输入的数据信号与第一数据信号相同，画面正常显示，不会出现亮线。该检测结构可以实现在绑定芯片和电路板之前，对绑定芯片输入端的引脚和绑定电路板的引脚进行检测，从而极大降低了成本，提高了良率，节约了生产时间。

可选的，为了便于控制，参考图2所示，信号引脚部1还包括控制信号引脚12，控制信号引脚用于接入第一控制信号。

检测结构还包括：第一控制部5，第一控制部5分别连接控制信号引脚12、连接单元2的输出端、第一数据线3的第一端，用于在第一控制信号的控制下，将连接单元的输出端信号传输到第一数据线的第一端。

可选的，上述显示面板还可以包括至少一排第二子像素8、以及至少一条第二数据线7。

参考图2所示，信号引脚部1还包括第二数据信号引脚13，第二数据信号引脚用于接入第二数据信号。

控制信号引脚还用于接入第二控制信号。

检测结构还包括：第二控制部6，第二控制部分别连接控制信号引脚12、第二数据信号引脚13、第二数据线7的第一端，用于在第二控制信号的控制下，将第二数据信号引脚的信号传输到第二数据线。

第二数据线7的第二端连接至少一排第二子像素8。

上述第二数据信号和第一数据信号可以是相同的数据信号，也可以是不同的数据信号。考虑到降低实现难度和降低比对难度，选择前者。上述第二控制信号和第一控制信号可以是相同的控制信号，也可以是不同的控制信号。考虑到降低实现难度和节约成本，选择前者。

上述第二数据线的数量不做限定，同时对于驱动方式也不做限定，其可以是采用一条第二数据线向一排第二子像素提供信号，也可以采用一条第二数据线向多排(两排及以上)第二子像素提供信号，这里不做限定，图2以一条第二数据线7向一排第二子像素8提供信号为例进行绘示。

这样，当第二数据信号引脚接入第二数据信号时，第二子像素可以显示相应画面，从而完成相应ET检测。即上述检测结构可以在实现ET检测的同时，完成对绑定芯片输入端的引脚和绑定电路板的引脚的检测

可选的，为了降低制作难度，第一控制部5包括至少一个第一薄膜晶体管51，第二控制部6包括至少一个第二薄膜晶体管61。

各第一薄膜晶体管51的栅极(G)、各第二薄膜晶体管61的栅极(G)连接控制信号引脚。

各第一薄膜晶体管51的源极(S)连接连接单元2的输出端、漏极(D)连接不同的第一数据线3的第一端。

各第二薄膜晶体管61的源极(S)连接第二数据信号引脚13、漏极(D)连接不同的第二数据线7的第一端。

上述第一控制部包括的第一薄膜晶体管的数量需要根据第一数据线的数量和控制方式确定，本发明实施例以及附图均以一个第一薄膜晶体管控制一条第一数据线为例进行说明。

上述第二控制部包括的第二薄膜晶体管的数量需要根据第二数据线的数量和控制方式确定，本发明实施例以及附图均以一个第二薄膜晶体管控制一条第二数据线为例进行说明。

这里需要说明的是，薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)是一种场效应管，包括栅极、源极和漏极，可作为一种控制开关(SW)使用。以第一薄膜晶体管为例说明控制原理，当控制信号引脚输出打开信号、连接单元的输出端输出数据信号后，第一薄膜晶体管的栅极打开，源极和漏极导通，漏极向第二数据线输出数据信号。当控制信号引脚输出关闭信号，第一薄膜晶体管的栅极闭合，源极和漏极不导通，漏极没有数据信号输出。这里对于薄膜晶体管的类型不做限定，其可以是N型薄膜晶体管，也可以是P型薄膜晶体管。

需要说明的是，上述检测结构还可以包括图2所示的多个芯片输出端引脚9，各芯片输出端引脚9分别连接一条数据线，用于在绑定芯片后，向各排子像素输入信号。

可选的，显示面板还包括至少一排第三子像素、以及至少一条第三数据线。

控制信号引脚还用于接入第三控制信号。

检测结构还包括：

面板裂纹检测单元，面板裂纹检测单元的输入端连接第一数据信号引脚。

第三控制部，第三控制部分别连接控制信号引脚、面板裂纹检测单元的输出端、第三数据线的第一端，用于在第三控制信号的控制下，将面板裂纹检测单元的输出端信号传输到第三数据线的第一端。

第三数据线的第二端连接至少一排第三子像素。

上述第三控制信号和第一控制信号可以是相同的数据信号，也可以是不同的数据信号。考虑到降低实现难度，选择前者。

上述面板裂纹检测(Panel Crack Detect，PCD)单元的具体结构不做限定，本领域技术人员可以根据现有技术获得。面板裂纹检测单元的输出端需要连接至第三数据线，当出现裂纹时，输入第三数据线的信号发生变化，从而导致第三数据线向第三子像素输入的数据信号发生变化，进而显示画面出现不亮线。

上述面板裂纹检测单元的输入端连接第一数据信号引脚，其与连接单元可以共用第一数据信号，这样可以使用一个检测画面(patten)同时检测电路板绑定引脚和芯片输入端绑定引脚、以及面板裂纹，一方面扩展了上述检测结构的应用范围，另一方面能够有效降低成本，并节省空间。

可选的，为了降低制作难度，第三控制部包括至少一个第三薄膜晶体管。

各第三薄膜晶体管的栅极连接控制信号引脚、源极连接面板裂纹检测单元的输出端、漏极连接不同的第三数据线的第一端。

上述第三控制部包括的第三薄膜晶体管的数量需要根据第三数据线的数量和控制方式确定。本发明实施例以一个第三薄膜晶体管控制一条第三数据线为例进行说明。其第三薄膜晶体管的控制原理与上述第一薄膜晶体管的控制原理相同，此处不再赘述。

可选的，参考图2所示，连接单元2的两侧对称设置信号引脚部1；其中，位于连接单元一侧(图2中所示的连接单元的左侧)的第一数据信号引脚11连接连接单元2的输入端，另一侧(图2中所示的连接单元的右侧)的第一数据信号引脚11悬空。这样可以避免因连接单元的两侧电路设置不对称对后续的点灯测试造成影响。

可选的，参考图2所示，信号引脚部1还包括控制信号引脚12和第二数据信号引脚13。位于连接单元2两侧的所有控制信号引脚12相连，位于连接单元2两侧的所有第二数据信号引脚13相连。这样可以避免因连接单元的两侧电路设置不对称对后续的点灯测试造成影响，同时能提高数据写入子像素的速度。

实施例二

本发明实施例提供了一种显示面板，包括实施例一提供的任一项的检测结构。该显示面板包括的检测结构可以实现在绑定芯片和电路板之前，对绑定芯片输入端的引脚和绑定电路板的引脚进行检测，从而极大降低了成本。

实施例三

本发明实施例提供了一种显示面板的制作方法，该方法包括：

S01、采用实施例一提供的检测结构进行检测。

S02、在检测正常后，将多个串联的连接部的连接线切断，以使得多个连接部保持独立。参考图2所示，可以沿着切割线B1B2进行精确切割(精切)，这样能去除多个连接部之间的连接线，以利于后续电路板(例如：FPC电路板)和芯片的绑定。

本发明的实施例提供了一种显示面板的制作方法，通过该方法，可以确保在绑定芯片和电路板之前，芯片输入端绑定引脚和电路板绑定引脚没有损伤，有利于后续芯片和电路板的绑定，同时能提高良率，降低生产成本。

实际生产中，在玻璃基板上一次形成多个包括检测结构的显示面板，然后通过EAC切割，形成尺寸不同的多个显示面板。为了上述显示面板免受磨损和划伤，在S01、采用实施例一提供的检测结构进行检测之前，上述方法还包括:

S03、在预设切割线以外对显示面板进行宽切。

在该步骤中，需要保证多个串联的连接部之间的连接线不被切断。宽切是指在切割线以外的切割区域中切割，切割线以内区域是保留区域。参考图2所示，预设切割线为B1B2，实际可以沿A1A2线对显示面板进行切割，从而可以保证多个串联的连接部之间的连接线不被切断。这样在进行后续检测工艺之前，由于多个连接部外侧留有一定空间，从而可以避免在移动过程中多个串联的连接部之间的连接线受到磨损，进而保证后续测试正常进行。

实施例四

本发明实施例提供了一种显示面板，采用实施例三提供的制作方法形成。

该显示面板可以确保在绑定芯片和电路板之前，芯片输入端绑定引脚和电路板绑定引脚没有损伤，具有良率高，生产成本低的特点。

实施例五

本发明实施例提供了一种包括实施例一提供的检测结构的显示面板的检测方法，方法包括：

S101、向第一数据信号引脚输入第一数据信号。

S102、检测显示画面是否存在亮线。

S103、若是，则判定电路板绑定引脚和芯片输入端绑定引脚损伤，参考图3所示，画面不存在亮线，显示正常，该画面为OK画面；若否，则判定电路板绑定引脚和芯片输入端绑定引脚正常，参考图4所示，画面存在亮线，显示不良，该画面为NG画面。

本发明的实施例提供了一种显示面板的检测方法，通过上述方法可以检测电路板绑定引脚和芯片输入端绑定引脚是否存在损伤，方法简单易实现，同时能极大降低成本。

以上，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (12)

1.一种检测结构，应用于显示面板，所述显示面板包括至少一排第一子像素、以及至少一条第一数据线；其特征在于，

所述检测结构包括：

信号引脚部，所述信号引脚部包括第一数据信号引脚，所述第一数据信号引脚用于接入第一数据信号；

连接单元，所述连接单元包括多个串联的连接部，各所述连接部的输入端包括多个电路板绑定引脚，输出端包括多个芯片输入端绑定引脚；

其中，所述第一数据信号引脚连接所述连接单元的输入端；所述第一数据线的第一端连接所述连接单元的输出端，第二端连接至少一排所述第一子像素。

2.根据权利要求1所述的检测结构，其特征在于，

所述信号引脚部还包括控制信号引脚，所述控制信号引脚用于接入第一控制信号；

所述检测结构还包括：第一控制部，所述第一控制部分别连接所述控制信号引脚、所述连接单元的输出端、所述第一数据线的第一端，用于在所述第一控制信号的控制下，将所述连接单元的输出端信号传输到所述第一数据线的第一端。

3.根据权利要求2所述的检测结构，其特征在于，

所述显示面板还包括至少一排第二子像素、以及至少一条第二数据线；

所述信号引脚部还包括第二数据信号引脚，所述第二数据信号引脚用于接入第二数据信号；

所述控制信号引脚还用于接入第二控制信号；

所述检测结构还包括：第二控制部，所述第二控制部分别连接所述控制信号引脚、所述第二数据信号引脚、所述第二数据线的第一端，用于在所述第二控制信号的控制下，将所述第二数据信号引脚的信号传输到所述第二数据线；

所述第二数据线的第二端连接至少一排所述第二子像素。

4.根据权利要求3所述的检测结构，其特征在于，所述第一控制部包括至少一个第一薄膜晶体管，所述第二控制部包括至少一个第二薄膜晶体管；

各所述第一薄膜晶体管的栅极、各所述第二薄膜晶体管的栅极连接所述控制信号引脚；

各所述第一薄膜晶体管的源极连接所述连接单元的输出端、漏极连接不同的所述第一数据线的第一端；

各所述第二薄膜晶体管的源极连接所述第二数据信号引脚、漏极连接不同的所述第二数据线的第一端。

5.根据权利要求4所述的检测结构，其特征在于，

所述显示面板还包括至少一排第三子像素、以及至少一条第三数据线；

所述控制信号引脚还用于接入第三控制信号；

所述检测结构还包括：

面板裂纹检测单元，所述面板裂纹检测单元的输入端连接所述第一数据信号引脚；

第三控制部，所述第三控制部分别连接所述控制信号引脚、所述面板裂纹检测单元的输出端、所述第三数据线的第一端，用于在所述第三控制信号的控制下，将所述面板裂纹检测单元的输出端信号传输到所述第三数据线的第一端；

所述第三数据线的第二端连接至少一排所述第三子像素。

6.根据权利要求5所述的检测结构，其特征在于，所述第三控制部包括至少一个第三薄膜晶体管；

各所述第三薄膜晶体管的栅极连接所述控制信号引脚、源极连接所述面板裂纹检测单元的输出端、漏极连接不同的所述第三数据线的第一端。

7.根据权利要求1-6任一项所述的检测结构，其特征在于，

所述连接单元的两侧对称设置所述信号引脚部；其中，位于所述连接单元一侧的所述第一数据信号引脚连接所述连接单元的输入端，另一侧的所述第一数据信号引脚悬空。

8.根据权利要求7所述的检测结构，其特征在于，所述信号引脚部还包括控制信号引脚和第二数据信号引脚；

位于所述连接单元两侧的所有所述控制信号引脚相连，位于所述连接单元两侧的所有所述第二数据信号引脚相连。

9.一种显示面板，包括权利要求1-8任一项所述的检测结构。

10.一种显示面板的制作方法，其特征在于，所述方法包括：

采用权利要求1-8任一项所述的检测结构进行检测；

在检测正常后，将多个串联的连接部的连接线切断，以使得多个所述连接部保持独立。

11.一种显示面板，其特征在于，采用权利要求10所述的制作方法形成。

12.一种包括权利要求1-8任一项所述的检测结构的显示面板的检测方法，其特征在于，所述方法包括：

向第一数据信号引脚输入第一数据信号；

检测显示画面是否存在亮线；

若是，则判定电路板绑定引脚和芯片输入端绑定引脚损伤；若否，则判定电路板绑定引脚和芯片输入端绑定引脚正常。

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