CN110806507A - 集束射频电缆与lrm模块化接口原位自动测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法，利用到的设备包括待测设备机箱、矢量网络分析仪、第一微波开关阵列、第二微波开关阵列以及工业控制计算机。采用矢量网络分析仪、微波开关阵列、SMA型转N型转接电缆、LRM接口测试转接板及测试控制工控机来完成集束射频电缆与LRM模块化接口驻波比、射频通道损耗和相位一致性的原位自动测试并对测试通道进行参数补偿，提高了测试结果可靠性及测试效率，解决了LRM接口引出难题，降低了射频通道原位测试难度。

Description

集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法
技术领域
本发明涉及自动测试领域，具体的说，是集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法。
背景技术
集束射频电缆与LRM模块化接口射频设备中已得到一定范围的应用，集束射频电缆以其相对灵活的柔韧性、体积小、便于集成等优点应用于空间狭小、电缆数量众多、射频线缆电性能参数要求高且射频电缆集中的设备中。LRM模块化射频、低频混合接口以其接口标准化、高度集成、小型化、直接接插、快捷锁定与多重定位等优点，成为了集束射频电缆的配套使用标准接口。
但是，集束射频电缆的弯折余度过大、高密度集中、LRM模块化接口处于设备机箱底层的模板之上、反复接插磨损等因素，导致集束射频电缆与LRM模块化接口容易出现差损超标、信号相位变异、驻波比变化等射频通道问题，使设备功能不能达到预期效果。
目前，一般采用设备装配之前的射频电缆与LRM模块化接口单独测试的方法来避免装配以后的射频通道问题。装配后也可采用射频电缆与LRM模块化接口分离手动测试的方法来初步确定问题。测试结果可靠性差，测试效率低。
发明内容
本发明的目的在于提供集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法，采用矢量网络分析仪、微波开关阵列、SMA型转N型转接射频电缆、LRM接口测试转接板及测试控制工控机来完成集束射频电缆与LRM模块化接口驻波比、射频通道损耗和相位一致性的原位自动测试。
本发明通过下述技术方案实现：集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法，利用到的设备包括待测设备机箱、矢量网络分析仪、第一微波开关阵列、第二微波开关阵列以及工业控制计算机；所述待测设备机箱、矢量网络分析仪、第一微波开关阵列、第二微波开关阵列依次连接，所述第二微波开关阵列还与待测设备机箱连接；所述工业控制计算机分别与矢量网络分析仪、第一微波开关阵列、第二微波开关阵列连接；
所述待测设备机箱包括设置在待测设备机箱上的集束射频电缆和设置在待测设备机箱内部的LRM接口型功能模块；所述工业控制计算机设置有LXI仪器控制接口；所述第一微波开关阵列和第二微波开关阵列均包括输入N型接口、N型输出接口。
其工作原理：工业控制计算机通过LXI仪器控制接口与矢量网络分析仪及微波阵列开关相连，控制微波阵列开关的通道转换及矢量网络分析仪的测试控制以完成集束射频电缆与LRM模块化接口驻波比、射频通道损耗和相位一致性的原位自动测试。
为了更好的实现本发明，进一步地，所述待测设备机箱、矢量网络分析仪、第一微波开关阵列、第二微波开关阵列以及工业控制计算机的连接方法包括以下步骤：
步骤S1：采用SMA型转N型转接射频电缆将待测设备机箱上的集束射频电缆引出并转接至第一微波开关阵列的输入N型接口；
步骤S2：第一微波开关阵列的输出N型接口通过射频电缆与矢量网络分析仪的N型输入接口连接；
步骤S3：矢量网络分析仪的N型输出接口通过射频电缆与第二微波开关阵列输入N型口连接；
步骤S4：第二微波开关阵列输处N型接口与待测设备机箱内部的LRM接口型功能模块连接；
步骤S5：工业控制计算机的LXI仪器控制接口通过测控总线与矢量网络分析仪、第一微波阵列开关以及第二微波阵列开关相连。通过采用矢量网络分析仪、微波开关阵列、SMA型转N型转接电缆、LRM接口测试转接板及测试控制工控机来完成：集束射频电缆与LRM模块化接口驻波比、射频通道损耗和相位一致性的原位自动测试，采用上述连接方式以极其简单的连接线路，保证其测试工作的稳定性，简化了连接工序，提高了测试效率。
为了更好的实现本发明，进一步地，所述步骤S4中待测设备机箱内部的LRM接口型功能模块更换为LRM接口测试转接板。通过LRM接口测试转接板替换为待测设备机箱内部的LRM接口型功能模块，解决了LRM接口引出难题，降低了射频通道原位测试难度。
为了更好的实现本发明，进一步地，在设备连接完成之后，正式测试之前，将连接中除集束射频电缆与LRM模块化接口以外的测试系统射频通道驻波参数、插入损耗、相位等参数进行测试，并将所测参数预置入工业控制计算机测试系统中，供后续测试结果的修正与补偿。通过对测试通道进行参数补偿，提高了测试结果可靠性及测试效率。
本发明与现有技术相比，具有以下优点及有益效果：
本发明采用矢量网络分析仪、微波开关阵列、SMA型转N型转接电缆、LRM接口测试转接板及测试控制工控机来完成集束射频电缆与LRM模块化接口驻波比、射频通道损耗和相位一致性的原位自动测试并对测试通道进行参数补偿，提高了测试结果可靠性及测试效率，解决了LRM接口引出难题，降低了射频通道原位测试难度。
附图说明
图1为本发明的结构示意图；
图2为本发明中LRM接口测试转接板示意图。
其中，1、待测设备机箱；2、LRM接口型功能模块；3、LRM接口测试转接板；4、集束射频电缆；5、SMA型转N型转接射频电缆；6、微波开关阵列；7、工业控制计算机；8、测控总线；9、矢量网络分析仪；10、射频电缆。
具体实施方式
实施例1：
本实施例的集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法，一种补偿式集束射频电缆4与LRM模块化接口原位自动测试方法，如图1所示：利用到的设备包括待测设备机箱1、矢量网络分析仪9、第一微波开关阵列6、第二微波开关阵列以及工业控制计算机7；所述待测设备机箱1、矢量网络分析仪9、第一微波开关阵列6、第二微波开关阵列依次连接，所述第二微波开关阵列还与待测设备机箱1连接；所述工业控制计算机7分别与矢量网络分析仪9、第一微波开关阵列6、第二微波开关阵列连接；
所述待测设备机箱1包括设置在待测设备机箱1上的集束射频电缆4和设置在待测设备机箱1内部的LRM接口型功能模块2；所述工业控制计算机7设置有LXI仪器控制接口；所述第一微波开关阵列6和第二微波开关阵列均包括输入N型接口、N型输出接口。
其工作原理：工业控制计算机7通过LXI仪器控制接口与矢量网络分析仪9及微波阵列开关相连，控制微波阵列开关的通道转换及矢量网络分析仪9的测试控制以完成集束射频电缆4与LRM模块化接口驻波比、射频通道损耗和相位一致性的原位自动测试。
所述待测设备机箱1、矢量网络分析仪9、第一微波开关阵列6、第二微波开关阵列以及工业控制计算机7的连接方法包括以下步骤：
步骤S1：采用SMA型转N型转接射频电缆10将待测设备机箱1上的集束射频电缆4引出并转接至第一微波开关阵列6的输入N型接口；
步骤S2：第一微波开关阵列6的输出N型接口通过射频电缆10与矢量网络分析仪9的N型输入接口连接；
步骤S3：矢量网络分析仪9的N型输出接口通过射频电缆10与第二微波开关阵列输入N型口连接；
步骤S4：第二微波开关阵列输处N型接口与待测设备机箱1内部的LRM接口型功能模块22连接；
步骤S5：工业控制计算机7的LXI仪器控制接口通过测控总线8与矢量网络分析仪9、第一微波阵列开关以及第二微波阵列开关相连。通过采用矢量网络分析仪9、微波开关阵列6、SMA型转N型转接电缆、LRM接口测试转接板3及测试控制工控机来完成：集束射频电缆4与LRM模块化接口驻波比、射频通道损耗和相位一致性的原位自动测试，采用上述连接方式以极其简单的连接线路，保证其测试工作的稳定性，简化了连接工序，提高了测试效率。
实施例2：
本实施例在实施例1的基础上做进一步优化，所述步骤S4中待测设备机箱1内部的LRM接口型功能模块2更换为LRM接口测试转接板3。通过LRM接口测试转接板3替换为待测设备机箱1内部的LRM接口型功能模块2，解决了LRM接口引出难题，降低了射频通道原位测试难度。如图2所示：LRM接口测试转接板3的两边包括了多个对应不同参数的接口，适用于不同测试设备。
在设备连接完成之后，正式测试之前，将连接中除集束射频电缆4与LRM模块化接口以外的测试系统射频通道驻波参数、插入损耗、相位等参数进行测试，并将所测参数预置入工业控制计算机7测试系统中，供后续测试结果的修正与补偿。通过对测试通道进行参数补偿，提高了测试结果可靠性及测试效率。
本实施例的其他部分与实施例1相同，故不再赘述。
实施例3：
本实施例中的集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法，补偿式集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法实施所需要的设备如图1所示，包含LRM接口测试转接板3、SMA型转N型转接射频电缆5、微波开关阵列6、工业控制计算机7、测控总线8、矢量网络分析仪9、N型转接射频电缆10。
补偿式集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法采用SMA型转N型转接射频电缆5将待测设备机箱1上的集束射频电缆4引出，转接至微波开关阵列6的N型接口，微波开关阵列6的另一个N型接口通过射频电缆与矢量网络分析仪9的N型输入接口连接，矢量网络分析仪的N型输出接口通过N型转接射频电缆与另一个微波开关阵列输入N型口连接，该微波开关这列的输出接口通过SMA型转N型转接射频电缆5与LRM接口测试转接板3的SMA接口连接，使用LRM接口测试转接板3代替设备内部原LRM接口型功能模块将设备内母板上的LRM模块化射频接口进行测试。
工业控制计算机7通过LXI仪器控制接口与矢量网络分析仪9及微波阵列开关控制接口相连，控制微波阵列开关的通道转换及矢量网络分析仪的测试，完成集束射频电缆与LRM模块化接口射频通道驻波比、损耗和相位一致性的原位自动测试。测试之前，可以将上述连接中除集束射频电缆与LRM模块化接口以外的测试系统射频通道驻波参数、插入损耗、相位等参数进行测试，并将所测参数预置入工业控制计算机测试系统中，供后续测试结果的修正与补偿，最终获得集束射频电缆与LRM模块化接口组合射频通道驻波比、损耗以及相位一致性测试结果。
该补偿式集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法，采用了程控射频通道自动转换、LRM接口测试转接技术、集束射频电缆转接技术实现了组合式射频通道的性能参数原位测试。
该补偿式集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法采用测试控制工控机来完成集束射频电缆与LRM模块化接口组合射频通道驻波比、射频通道损耗和相位一致性的原位自动，并通过测试系统的自我校正功能对测试通道引入误差进行补偿，提高了测试结果可靠性及测试效率，解决了LRM接口引出难题，降低了射频通道原位测试难度。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例，并非对本发明做任何形式上的限制，凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化，均落入本发明的保护范围之内。

Claims (4)

1.集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法，其特征在于：利用到的设备包括待测设备机箱（1）、矢量网络分析仪（9）、第一微波开关阵列（6）、第二微波开关阵列以及工业控制计算机（7）；所述待测设备机箱（1）、矢量网络分析仪（9）、第一微波开关阵列（6）、第二微波开关阵列依次连接，所述第二微波开关阵列还与待测设备机箱（1）连接；所述工业控制计算机（7）分别与矢量网络分析仪（9）、第一微波开关阵列（6）、第二微波开关阵列连接；
所述待测设备机箱（1）包括设置在待测设备机箱（1）上的集束射频电缆（4）和设置在待测设备机箱（1）内部的LRM接口型功能模块（2）；所述工业控制计算机（7）设置有LXI仪器控制接口；所述第一微波开关阵列（6）和第二微波开关阵列均包括输入N型接口、N型输出接口。
2.根据权利要求1所述的集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法，其特征在于：所述待测设备机箱（1）、矢量网络分析仪（9）、第一微波开关阵列（6）、第二微波开关阵列以及工业控制计算机（7）的连接方法包括以下步骤：
步骤S1：采用SMA型转N型转接射频电缆（5）将待测设备机箱（1）上的集束射频电缆（4）引出并转接至第一微波开关阵列（6）的输入N型接口；
步骤S2：第一微波开关阵列（6）的输出N型接口通过射频电缆（10）与矢量网络分析仪（9）的N型输入接口连接；
步骤S3：矢量网络分析仪（9）的N型输出接口通过射频电缆（10）与第二微波开关阵列输入N型口连接；
步骤S4：第二微波开关阵列输处N型接口与待测设备机箱（1）内部的LRM接口型功能模块（2）连接；
步骤S5：工业控制计算机（7）的LXI仪器控制接口通过测控总线（8）与矢量网络分析仪（9）、第一微波阵列开关以及第二微波阵列开关相连。
3.根据权利要求2所述的集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法，其特征在于：所述步骤S4中待测设备机箱（1）内部的LRM接口型功能模块（2）更换为LRM接口测试转接板（3）。
4.根据权利要求1或2所述的集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法，其特征在于：在设备连接完成之后，正式测试之前，将连接中除集束射频电缆（4）与LRM模块化接口以外的测试系统射频通道驻波参数、插入损耗、相位等参数进行测试，并将所测参数预置入工业控制计算机（7）测试系统中，供后续测试结果的修正与补偿。
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