CN110806505A - 一种信号输出控制设备 - Google Patents

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CN110806505A
CN110806505A CN201911221151.9A CN201911221151A CN110806505A CN 110806505 A CN110806505 A CN 110806505A CN 201911221151 A CN201911221151 A CN 201911221151A CN 110806505 A CN110806505 A CN 110806505A
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李鹏斐
黄昕
于树勇
陈海康
李鑫
姜军
张健
陈强
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CRSC Beijing Rail Industry Co Ltd
Rail Transit Technology Research Institute of CRSC Beijing Railway Industry Co Ltd
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Abstract

本发明提供一种信号输出控制设备,包括输入输出电路、驱动电路、检验电路和处理器。处理器分别与检验电路和驱动电路连接,输入输出电路和驱动电路连接。检验电路用于检验信号是否被干扰;处理器用于根据检验电路的检验结果,让驱动电路向输入输出电路供电或停止供电;输入输出电路包括输入接口和输出接口。本发明通过各电路的连接配合,在检验电路输出的响应信号不符合要求时,及时切断输入输出电路的输入接口和输出接口之间的连接通道,输入输出电路接收到的信号不会被输出,保证了输出信号是安全可靠的,从而保证车辆正常稳定地运行。同时上述信号输出控制设备可以应用在不同类型的信号输出控制中,具有很好的移植性、可用性与稳定性。

Description

一种信号输出控制设备
技术领域
本发明涉及信息控制技术领域,具体涉及一种信号输出控制设备。
背景技术
在车辆领域中信号的安全传输是至关重要的。如果在实际车辆运行中,传输中的信号受到干扰,导致信号的内容和/或发送时机有误,会产生难以估量的后果,轻者导致车辆停车,影响运营效率,重者发生车辆事故。因此在车辆领域的相关设备研发过程中,安全可靠是重要准则,具体到和安全相关的设备就要求一定要正常工作,在合适的时机输出正确的信号,即使设备故障也要导向安全。那么如何保证输出的信号安全可靠,就变成了一个值得研究的问题。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供一种信号输出控制设备,以实现输出信号安全可靠,从而保证车辆正常稳定运行的目的。
为实现上述目的,本发明实施例提供如下技术方案:一种信号输出控制设备,包括输入输出电路、驱动电路、检验电路和处理器;其中,所述处理器,分别与所述检验电路和所述驱动电路连接,所述输入输出电路和所述驱动电路连接;
所述检验电路,用于接收所述处理器的测试信号,输出与所述测试信号对应的响应信号;
所述处理器,用于当所述响应信号的电平随着所述测试信号的电平变化发生改变,输出供电信号至所述驱动电路;以及当所述响应信号的电平不会随着所述测试信号的电平变化发生改变,输出停止供电信号至所述驱动电路;
所述驱动电路,用于当接收到所述供电信号时,向所述输入输出电路供电;以及当接收到所述停止供电信号时,停止向所述输入输出电路供电;
所述输入输出电路包括输入接口和输出接口,在所述驱动电路向所述输入输出电路供电时,所述输入接口和所述输出接口之间的连接通道导通;以及在所述驱动电路停止向所述输入输出电路供电时,所述输入接口和输出接口之间的连接通道断开。
进一步的,所述处理器包括第一处理器和第二处理器;所述第一处理器和所述第二处理器分别与所述检验电路和所述驱动电路连接;
所述第一处理器用于向所述检验电路发送第一测试信号,并接收所述检验电路的第一响应信号;所述第二处理器用于向所述检验电路发送第二测试信号,并接收所述检验电路的第二响应信号;
所述第一处理器,还用于当所述第一响应信号的电平随着所述第一测试信号的电平的变化发生改变时,输出供电信号至所述驱动电路,以及当所述第一响应信号的电平不随着所述第一测试信号的电平的变化发生改变时,输出停止供电信号至所述驱动电路;
所述第二处理器,还用于当所述第二响应信号的电平随着所述第二测试信号的电平的变化发生改变,输出供电信号至所述驱动电路;以及所述第二响应信号的电平不随着所述第二测试信号的电平的变化发生改变,输出停止供电信号至所述驱动电路;
所述驱动电路,具体用于当接收到所述第一处理器的供电信号和所述第二处理器的供电信号时,向所述输入输出电路供电;以及当接收到所述第一处理器的停止供电信号或所述第二处理器的停止供电信号时,停止向所述输入输出电路供电。
进一步的,所述检验电路包括第一检验电路和/或第二检验电路;
所述第一检验电路包括第一输入接口、第一输出接口和第一测试接口;
所述第一输入接口接收所述第一测试信号或所述第二测试信号,所述第一测试接口连接所述输入输出电路的第一待测接口;
在所述第一测试接口接收到的电平信号为预设电平信号时,所述第一输出接口输出的响应信号的电平随着所述第一输入接口接收到的测试信号的电平变化发生变化;以及在所述第一测试接口接收到的电平信号不为预设电平信号时,第一输出接口输出的响应信号的电平不随着所述第一输入接口接收到的测试信号的电平变化发生变化;
所述第二检验电路包括第二输入接口、第二输出接口、第二测试接口和第三测试接口;
所述第二输入接口接收所述第一测试信号或所述第二测试信号,所述第二测试接口连接所述输入输出电路的第二待测接口,所述第三测试接口连接所述输入输出电路的第三待测接口;
所述第二测试接口和所述第三测试接口接收到的电平信号均为各自对应的预设电平信号时,所述第二输出接口输出的响应信号的电平会随着所述第二输入接口接收到的测试信号的电平变化发生变化;以及在所述第二测试接口和所述第三测试接口中的至少一个接口接收到的电平信号不为预设电平信号时,所述第二输出接口输出的响应信号的电平不会随着所述第二输入接口接收到的测试信号的电平变化发生变化。
进一步的,所述输入输出电路的输入接口和所述输入输出电路的输出接口之间连接有开关组件,在所述驱动电路向所述输入输出电路供电时,所述开关组件闭合;以及在所述驱动电路停止向所述输入输出电路供电时,所述开关组件断开。
进一步的,所述检验电路包括输入接口、输出接口和测试接口;所述检验电路的输入接口接收所述处理器的测试信号,所述测试接口连接所述输入输出电路的待测接口;
在所述测试接口接收到的电平信号为预设电平信号时,所述检验电路的输出接口输出的响应信号的电平会随着所述测试信号的电平变化发生变化,以及在所述测试接口接收到的电平信号不为预设电平信号时使所述检验电路的输出接口输出的响应信号的电平不会随着所述测试信号的电平变化发生变化。
进一步的,所述输入输出电路包括至少一个继电单元,所述继电单元包括一对控制接口、一对常闭接口和至少一对常开接口;其中,所述控制接口的一端与所述驱动电路连接,用于接收所述驱动电路的供电电压,所述控制接口的另一端接地;
所述常闭接口的一端作为所述输入输出电路的待测接口,所述常闭接口的另一端接地;
所述至少一对常开接口中一对常开接口的一端作为所述输入输出电路的输入接口,该对常开接口的另一端作为所述输入输出电路的输出接口。
进一步的,所述检测电路包括至少一个用于检验所述继电单元的继电检验电路,一个继电检验电路与一个继电单元相连接,所述继电检验电路的个数不多于所述继电单元个数,所述继电单元和所述继电检验电路的连接关系如下:
所述继电单元的常闭接口的一端连接至该继电单元所连接的继电检验电路的测试接口;所述继电单元的常闭接口的另一端接地;
所述继电单元的常闭接口中连接至该继电单元所连接的检验电路的测试接口的一端为所述输入输出电路的一个待测接口。
进一步的,所述至少一个继电单元包括第一继电单元、第二继电单元和第三继电单元,所述驱动电路包括用于给第一继电单元供电的第一驱动电路和用于给第三继电单元供电的第二驱动电路;其中,
所述第一继电单元的控制接口的一端连接所述第一驱动电路的供电端,所述第一继电单元的控制接口的另一端接地;
所述第一继电单元的其中一对常开接口的一端连接至用于驱动第二继电单元的电源端,所述第一继电单元的该常开接口的另一端连接至第二继电单元的控制接口的一端,所述第二继电单元的控制接口的另一端连接至所述第三继电单元的其中一对常开接口的一端,所述第三继电单元的该常开接口的另一端接地;
所述第三继电单元的控制接口的一端连接所述第二驱动电路的供电端,所述第三继电单元的控制接口的另一端接地;
所述第一继电单元、所述第二继电单元和所述第三继电单元的至少有一对常开接口串联连接,形成所述输入输出电路的输入接口和所述输入输出电路的输出接口之间的连接通道。
进一步的,所述检验电路包括回检电路,所述回检电路的测试接口包括正向测试接口和负向测试接口;
所述正向测试接口连接所述第一继电单元中连接至用于驱动第二继电单元的电源端的常开接口的一端,所述负向测试接口连接所述第三继电单元的常开接口的接地端;
所述第一继电单元的常开接口中连接至用于驱动第二继电单元的电源端的一端和所述第三继电单元的常开接口的接地端为所述输入输出电路的待测接口。
进一步的,所述检验电路包括第三光电组件、第四光电组件、第一电阻组件、第二电阻组件和第三电阻组件;所述第三光电组件包括正输入端、负输入端和两个输出端,所述第四光电组件包括正输入端、负输入端和两个输出端;
所述第三光电组件的正输入端串联第一电阻组件作为所述检验电路的正向测试接口;所述第三光电组件的负输入端连接所述第四光电组件的一个输出端,所述第四光电组件的另一输出端为所述检验电路的负向测试接口;
所述处理器的第一IO接口、所述第三光电组件的一个输出端串联第二电阻组件后连接至所述处理器的第一电源端,同时所述第三光电组件的一个输出端也作为所述检验电路的输出接口,所述第三光电组件的另一输出端接地;
所述第四光电组件的正输入端串联第三电阻组件后连接至所述处理器的第二电源端,所述第四光电组件的负输入端作为所述检验电路的输入接口,所述第一电源端和所述第二电源端的电源电压不同。
在本发明实施例中,信号输出控制设备包括输入输出电路、驱动电路、检验电路和处理器。其中,处理器,分别与检验电路和驱动电路连接,输入输出电路和驱动电路连接。检验电路用于接收处理器的测试信号,输出与测试信号对应的响应信号。处理器用于当响应信号的电平随着测试信号的电平变化发生改变,输出供电信号至驱动电路以及当响应信号的电平不会随着测试信号的电平变化发生改变,输出停止供电信号至驱动电路。驱动电路用于当接收到供电信号时,向输入输出电路供电;以及当接收到停止供电信号时,停止向输入输出电路供电。输入输出电路包括输入接口和输出接口,在驱动电路向输入输出电路供电时,输入接口和输出接口之间的连接通道导通;以及在驱动电路停止向输入输出电路供电时,输入接口和输出接口之间的连接通道断开,经过上述电路的连接配合,在检验电路输出的响应信号不符合要求时,及时切断输入输出电路的输入接口和输出接口之间的连接通道,输入输出电路接收到的信号不会被输出,如上述测试信号和输入信号等受到干扰时会使得响应信号不符合要求,此时禁止信号输出;只有在确定检验电路输出的响应信号符合要求时输出信号,保证了输出信号是安全可靠的,从而保证车辆正常稳定地运行。同时上述信号输出控制设备可以应用在不同类型的信号输出控制中,具有很好的移植性、可用性与稳定性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例一种信号输出控制设备的结构示意图;
图2为本发明又一实施例一种信号输出控制设备的结构示意图;
图3a为本发明又一实施例一种信号输出控制设备的结构示意图;
图3b为本发明又一实施例一种信号输出控制设备的结构示意图;
图3c为本发明又一实施例一种信号输出控制设备的结构示意图;
图4为本发明另一实施例一种信号输出控制设备的结构示意图;
图5a、5b和5c为图4中的输入输出电路410的不同实施方式的结构示意图;
图6为图4中的检验电路420的一种实施方式的结构示意图;
图7a和7b为图4中的驱动电路430的不同实施方式的结构示意图;
图8为本发明应用实施例一种信号输出控制设备的输入输出电路的连线示意图;
图9为本发明应用实施例一种信号输出控制设备的处理器的连线示意图;
图10a和10b为本发明应用实施例一种信号输出控制设备的驱动电路的连线示意图;
图11a和11b分别为本发明应用实施例一种信号输出控制设备的继电单元1和继电单元3的继电检验电路的连线示意图;
图12a和12b为本发明应用实施例一种信号输出控制设备的回检电路的连线示意图;
图13a-13b为本发明应用实施例一种信号输出控制设备的继电单元2的继电检验电路的连线示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本申请中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
请参阅图1,其示出了本发明实施例一种信号输出控制设备的结构示意图。设备包括输入输出电路110、检验电路120、驱动电路130和处理器140。
其中,处理器140分别与检验电路120和驱动电路130连接,输入输出电路110和驱动电路130连接。检验电路120通过接收处理器140的测试信号,输出与测试信号对应的响应信号至处理器140,检验信号是否被干扰,如检测测试信号和输入输出电路接收到的信号是否被干扰,或是输入输出电路本身受到环境或周围模块的影响,使得其接口的信号被干扰。
本实施例中检验电路120中的元器件的状态可以发生变化,如元器件的状态能够在导通和截止两个状态之间变化,通过元器件的状态的变化与否使得检验电路120输出一个响应信号,其中,测试信号和响应信号可以是逻辑不变的电平信号,如测试信号和响应信号可能都是一个低电平信号,或是一系列逻辑变化的电平信号。检验电路120可以有多种实现方式:一种实现方式,检验电路120可以是由逻辑元件组成的电路,接收处理器140发送的测试信号,通过检验电路120内的逻辑元件作用,输出与测试信号电平相对应的响应信号。另一种实现方式中,检验电路120可以由光电继电器组成的电路,处理器140发送的测试信号输入光电继电器的输入回路,光电继电器的输出回路输出与测试信号相对应的响应信号。检验电路120还可以采用其他的可以实现检验功能方式,在此不做具体的限定。
检验电路120还可以连接至输入输出电路110,检验作为信号输出通道的输入输出电路110是否存在异常;检验电路120还可以连接至信号输出控制设备中其他能影响信号输出的模块或电路,检验该模块或电路是否异常影响信号输出。
处理器140,用于当响应信号的电平随着测试信号的电平变化发生改变,输出供电信号至驱动电路130;以及当响应信号的电平不会随着测试信号的电平变化发生改变,输出停止供电信号至驱动电路130。
其中响应信号的电平随着测试信号的电平变化发生变化表示:测试信号的电平从一个电平值到另一个电平值的过程中,响应信号的电平也发生同测试信号相同的变化,如测试信号从高电平到低电平,则响应信号也从高电平到低电平,这一变化是通过检验电路120中的元器件的状态是否变化而决定的。例如测试信号和响应信号的初始电平都是高电平,测试信号的电平从高电平变化到低电平时,检验电路120中的元器件的状态从截止状态变为导通状态,使得检验电路120的响应信号也从高电平到低电平;如果测试信号的电平维持高电平,检验电路120中的元器件的状态维持截止状态,使得检验电路120的响应信号也维持在高电平,不发生变化。
需要说明的是,当响应信号的电平随着测试信号的电平变化发生改变,输出供电信号;以及当响应信号的电平不会随着测试信号的电平变化发生改变,输出停止供电信号,只是用于区分在两种不同的情况下,处理器140会产生两种不同的结果;或者也可以理解为:当响应信号和测试信号符合预设要求(如可以是但不限于是响应信号和测试信号都为低电平信号)时,处理器140会输出供电信号,而当响应信号和测试信号不符合预设要求时,处理器140会输出停止供电信号;此处不做具体限制,但均在本申请的保护范围内。其中,处理器140包括至少一个处理器,每个处理器输出的供电信号可以设置为相同电平信号、也可以设置为不同电平信号,在此不做具体限定。
驱动电路130,用于当接收到供电信号时,向输入输出电路110供电;以及当接收到停止供电信号时,停止向输入输出电路110供电。
具体的,在供电信号的作用下,驱动电路130向输入输出电路110施加可以驱动输入输出电路110工作的电压,使得输入输出电路110得电工作;以及在停止供电信号的作用下,驱动电路130停止向输入输出电路110施加该电压,使得输入输出电路110断电不工作。
同样的驱动电路130存在多种实施方式,可以由可控制的开关组件和驱动电压生成组件组成的电路,供电信号可以使得开关组件导通驱动电压的输出通道;而停止供电信号的作用下,开关组件会切断驱动电压的输出通道。开关组件可以是各类继电器、例如光电继电器等。
输入输出电路110包括输入接口和输出接口,在驱动电路130向输入输出电路110供电时,输入接口和输出接口之间的连接通道导通,这样输入接口接收到的信号能够从输出接口输出;以及在驱动电路130停止向输入输出电路110供电时,输入接口和输出接口之间的连接通道断开,输入接口接收到的信号无法从输出接口输出。
输入输出电路101的输入接口和输入输出电路101的输出接口之间的连接通道设置有开关组件,在驱动电路130向输入输出电路110供电时,输入输出电路110得电工作,该开关组件闭合,输入接口接收到的信号通过输入输出电路110的输出接口输出;以及在驱动电路130停止向输入输出电路110供电时,输入输出电路101断电不工作,开关组件断开,输入接口接收到的信号无法输出。
在本实施例中,经过上述电路的连接配合,在检验电路输出的响应信号不符合要求时,及时切断输入输出电路的输入接口和输出接口之间的连接通道,输入输出电路接收到的信号不会被输出,如上述测试信号和输入信号等受到干扰时会使得响应信号不符合要求,此时禁止信号输出;只有在确定检验电路输出的响应信号符合要求时输出信号,保证了输出信号是安全可靠的,从而保证车辆正常稳定地运行。同时上述信号输出控制设备可以应用在不同类型的信号输出控制中,具有很好的移植性、可用性与稳定性。
下面实施例介绍设置了双处理器的信号输出控制设备,请参见图2,其示出本发明又一实施例一种信号输出控制设备的结构示意图。信号输出控制设备包括输入输出电路110、检验电路120、驱动电路130和处理器140。
相比于图1,本实施例提供的信号输出控制设备中,处理器140包括第一处理器141和第二处理器142,第一处理器141和第二处理器142分别与检验电路120和驱动电路130连接。
第一处理器141向检验电路120发送第一测试信号,并接收检验电路120的第一响应信号;第二处理器142向检验电路120发送第二测试信号,并接收检验电路120的第二响应信号。其中,第一测试信号、第一响应信号、第二测试信号和第二响应信号的说明如上所述,可以都为电平信号。
第一处理器141,还用于当第一响应信号的电平随着第一测试信号的电平的变化发生改变时,输出供电信号至驱动电路130,以及当第一响应信号的电平不随着第一测试信号的电平的变化发生改变时,输出停止供电信号至驱动电路130。
第二处理器142,还用于当第二响应信号的电平随着第二测试信号的电平的变化发生改变,输出供电信号至驱动电路130;以及第二响应信号的电平不随着第二测试信号的电平的变化发生改变,输出停止供电信号至驱动电路130。关于第一处理器141的供电/停止供电信号和第二处理器142的供电/停止供电信号与上一实施例中处理器140的供电/停止供电信号类似,请参见上一实施例的解释说明,在此不再赘述。
在本实施例中,驱动电路130当接收到第一处理器141的供电信号和第二处理器142的供电信号时,向输入输出电路110供电。驱动电路130当接收到第一处理器141的停止供电信号或第二处理器142的停止供电信号时,停止向输入输出电路110供电。
输入输出电路110、检验电路120和驱动电路130的功能和结构说明请参见上一实施例,在此不再赘述。
也就是说,只有在第一处理器141和第二处理器142均认为检验电路120的检验结果满足要求(第一响应信号和第二响应信号均符合要求)的情况下,驱动电路130才会向输入输出电路110供电,使得信号可以输出;如果第一处理器141和第二处理器142中的任一个发现检验电路120的检验结果异常(第一响应信号和第二响应信号任一个不符合要求),驱动电路130就停止向输入输出电路110供电,使得信号无法输出,进一步提高了设备输出信号的可靠性。
下面介绍上述实施例中的检验电路,检验电路包括第一检验电路和/或第二检验电路,检验电路可以由多种实施方式,其可选的结构可以参见图3a、图3b和图3c中的检验电路。
图3a中的信号输出控制设备包括输入输出电路110、第一检验电路121、第二检验电路122、驱动电路130、第一处理器141和第二处理器142。
其中,第一检验电路121和第一处理器141连接,第二检验电路122与第二处理器142连接。第一检验电路121包括第一输入接口b1、第一输出接口b2和第一测试接口b3;第二检验电路122包括第二输入接口b4、第二输出接口b5、第二测试接口b6和第三测试接口b7。
第一检验电路121的第一输入接口b1接收第一处理器141的d1接口发送的第一测试信号,第一测试接口b3连接输入输出电路110的第一待测接口a2。在第一测试接口b3接收到的输入输出电路110的第一待测接口a2的电平信号为预设电平信号时,第一输出接口b2输出的第一响应信号的电平随着第一测试信号的电平变化发生变化;以及在第一测试接口b3接收到的输入输出电路110的第一待测接口a2的电平信号不为预设电平信号时,第一输出接口b2输出的第一响应信号的电平不随着第一测试信号的电平变化发生变化。第一响应信号发送至第一处理器141的一个输入接口d2。
需要说明的是,输入输出电路110的第一待测接口a2的电平信号为预设电平信号的预设电平信号可以为高电平或低电平中的一种,在此不做限定。可以理解的是当输入输出电路110的第一待测接口a2的电平信号为预设电平信号时,第一检验电路121认为输入输出电路110处于正常工作状态,并通过第一响应信号将检验结果发送给第一处理器141,即第一响应信号能够表明第一检验电路121对输入输出电路110的检验结果,如输入输出电路110处于正常工作状态。当输入输出电路110的第一待测接口a2的电平信号不为预设电平信号时,第一检验电路121认为输入输出电路110处于异常工作状态,并通过第一响应信号将检验结果发送给第一处理器141,此时第一响应信号表明输入输出电路110处于异常工作状态。
第二检验电路122的第二输入接口b4接收第二处理器142的d4接口发送的第二测试信号,第二测试接口b6连接输入输出电路110的第二待测接口a3,第三测试接口b7连接输入输出电路110的第三待测接口a4。第二测试接口b6和第三测试接口b7接收到的电平信号均为各自对应的预设电平信号时,第二输出接口b5输出的第二响应信号的电平会随着第二测试信号的电平变化发生变化;以及在第二测试接口b6和第三测试接口b7中的至少一个接口接收到的电平信号不为预设电平信号时,第二输出接口b5输出的第二响应信号的电平不会随着第二测试信号的电平变化发生变化。第二响应信号发送至第二处理器142的一个输入接口d5。
需要说明的是,输入输出电路110的第二待测接口a3和第三待测接口a4的电平信号为预设电平信号的预设电平信号可以为高电平或低电平,在此不做限定。可以理解的是当输入输出电路110的第二待测接口a3或第三待测接口a4的电平信号均满足各自的预设电平信号时,第二检验电路122认为输入输出电路110处于正常工作状态,并通过第二响应信号将检验结果发送给第二处理器142,即第二响应信号也能够第二检验电路122对输入输出电路110的检验结果,如输入输出电路110处于正常工作状态。当输入输出电路110的第二待测接口a3或第三待测接口a4的电平信号不为预设电平信号时,第二检验电路122认为输入输出电路110处于异常工作状态,并通过第二应信号将检验结果发送给第二处理器142,此时第二响应信号表明输入输出电路110处于异常工作状态。
第一检验电路121和第二检验电路122可以有多种实现方式:一种实现方式,第一检验电路121和第二检验电路122可以是由逻辑元件组成的电路,接收的测试信号,通过检验电路内的逻辑元件作用,输出与测试信号电平相对应的响应信号。另一种实现方式中,第一检验电路121和第二检验电路122可以由光电继电器组成的电路,接收的测试信号输入光电继电器的输入回路,光电继电器的输输出回路输出与测试信号相对应的响应信号。第一检验电路121和第二检验电路122还可以采用其他的可以实现检验功能方式,在此不做具体的限定。
输入输出电路110包括输入接口a1和输出接口A1,需要说明的是,在其他实施方式中可以根据通过输入输出电路110输出的信号的数量设置不同数量对的输入接口和输出接口,在此不做限定。
输入输出电路110还包括接口a5,第一处理器141通过输出接口d3输出供电信号或停止供电信号至驱动电路130的输入接口c3;以及第二处理器142通过输出接口d6输出供电信号或停止供电信号至驱动电路130的输入接口c2。
当输入接口c2和输入接口c3同时收到供电信号时,驱动电路130才通过输出接口c1向输入输出电路110的接口a5输出驱动电压,使得输入输出电路110得电工作,输入接口a1至输出接口A1之间的连接通路打开,输入接口a1接收到的信号从输入输出电路110的输出接口A1输出。若输入接口c2和输入接口c3中的一个接口接收到停止供电信号时,驱动电路130无法通过输出接口c1向输入输出电路110的接口a5输出驱动电压,使得输入输出电路110断电不工作,输入接口a1至输出接口A1之间的连接通路断开,输入接口a1接收到的信号无法从输入输出电路110的输出接口A1输出。关于供电信号和停止供电信号的解释说明请参见上述实施例,在此不再赘述。
图3b中的信号输出控制设备,相比于图3a中的设备,检验电路结构不同,包括两个第一检验电路121,两个第一检验电路121分别和第一处理器141和第二处理器142连接。各电路的接口连接如图3b所示,电路间的信号传递方式请参见对图3a中的描述,在此不再赘述。
图3c中的信号输出控制设备,相比于图3a中的设备,检验电路结构不同,包括两个第二检验电路122,两个第二检验电路122分别和第一处理器141和第二处理器142连接。各电路的接口连接如图3c所示,电路间的信号传递方式请参见对图3a中的描述,在此不再赘述。
需要说明的是,检验电路的实施方式除了图3a、图3b和图3c中所示外,在其他实施方式中,可以根据输入输出电路110的具体结构和不同接口的检验需要,设置不同数量的第一检验电路和第二检验电路。输入输出电路110中的每一个待测接口可以连接至少一种检验电路(第一检验电路121和/或第二检验电路122)。在另一方面,也可以将两个处理器的控制模式,更换为一个处理器;或者为进一步增强可靠性,输入输出电路110的每个待测接口的检测结果均通过检验电路传递至第一处理器141和第二处理器142。
本实施例中设备的检验电路可以根据检验需要灵活配置,因此本实施例的信号输出控制设备可以方便的移用至不同结构的设备中或者采用不同的检验电路,以满足对不同类型信号的控制输出,具有很好的移植性和可用性。
请参见图4,其示出本发明另一实施例一种信号输出控制设备的结构示意图,包括输入输出电路410、检验电路420、驱动电路430和处理器440。
在图1所示的信号输出控制设备的基础上,图4中的检验电路420与输入输出电路410连接,检验电路420用于检验输入输出电路410的工作状态是否正常。检验电路420包括输入接口b10、输出接口b20和测试接口b30。输入输出电路410包括输入接口a10、输出接口A10、待测接口a20和控制接口a30。驱动电路430包括输入接口c10和输出接口c20。处理器440包括与接口d20、接口d20和接口d30,各电路的接口的连线方式如图4所示。
检验电路420的输入接口b10接收处理器440接口d10的测试信号,测试接口b30连接输入输出电路410的待测接口a20,接收待测接口a20的电平信号。
在检验电路420测试接口b30接收到的电平信号为预设电平信号时,输出接口b20输出的响应信号的电平会随着测试信号的电平变化发生变化,以及在测试接口b30接收到的电平信号不为预设电平信号时,检验电路420的输出接口b20输出的响应信号的电平不会随着测试信号的电平变化发生变化。
处理器440,用于当接口d20接收到的响应信号的电平随着接口d10发送的测试信号的电平变化发生改变时,通过接口d30输出供电信号至驱动电路430的接口c10;以及当接口d20接收到的响应信号的电平不会随着接口d10发送的测试信号的电平变化发生改变,通过接口d30输出停止供电信号至驱动电路430的接口c10。
其中关于预设电平信号、供电信号和停止供电信号的解释请参见前述实施例,在此不再赘述。
驱动电路430,用于当接口c10接收到供电信号时,接口c20向输入输出电路410施加可以驱动输入输出电路410工作的电压,使得输入输出电路110得电工作。以及当接口c10接收到停止供电信号时,接口c20停止向输入输出电路410施加可以驱动输入输出电路110工作的电压,停止向输入输出电路410供电,使得输入输出电路410断电不工作。
输入输出电路410包括至少一个继电单元,每一个继电单元包括一对控制接口、一对常闭接口和至少一对常开接口。其中控制接口的一端(即控制接口a30)与驱动电路430的接口c20连接,用于接收驱动电路430的供电电压,控制接口的另一端接地(未在图4中画出)。常闭接口的一端作为输入输出电路410的待测接口a20,常闭接口的另一端接地(未在图4中画出)。至少一对常开接口中一对常开接口的一端作为输入输出电路410的输入接口a10,该对常开接口的另一端作为输入输出电路410的输出接口A10。
当驱动电路430的接口c20向输入输出电路410的控制接口a30施加供电电压时,输入输出电路410得电工作,其常开接口闭合,使得输入接口a10和输出接口A10的连接通道闭合,信号从输入输出电路410的输出接口A10输出。当驱动电路430接口c20停止向输入输出电路410的控制接口a30施加供电电压时,输入输出电路410断电不工作,其常开接口恢复打开状态,输入接口a10和输出接口A10的连接通道断开,使得信号无法从输入输出电路410的输出接口A10输出。
下面以图5a、图5b和图5c为例介绍输入输出电路的具体电路结构。在实际应用中,输入输出电路410还可以采用其他实施方式,本实施例不一一说明。
请参见图5a,其示出了输入输出电路410包括一个继电单元时的结构示意图,输入输出电路410包括继电单元1,继电单元1包括一对控制接口(1,1’)、一对常闭接口(2,2’)和两对常开接口(3,3’)和(4,4’)。
继电单元1的接口4和接口3分别作为输入输出电路410的输入接口a10和a11,接口4’和接口3’分别作为输入输出电路410的输出接口A10和A11;常开接口(3,3’)之间的开关为输入接口a11和输出接口A11之间的可控制的连接通道;常开接口(4,4’)之间的开关为输入接口a10和输出接口A10之间的可控制的连接通道。接口2作为输入输出电路410的待测接口a30;接口1作为控制接口a20与驱动电路430的接口c20连接,接口1’和接口2’接地。
需要说明的是,在其他实施方式中,继电单元1可以根据信号的需要设置合适数量对的输入接口和输出接口,图5a中仅示出其中一种实施方式,在此不做具体的限定,以及继电单元1中的常开接口和常闭接口的数量也可以根据使用场景进行更改,在此也不做具体限定。还有继电单元1中待测接口的数量也可以根据场景的安全性考虑设置多个,在此也不做具体限定。
请参见图5b,其示出了输入输出电路410包括两个继电单元时的结构示意图,输入输出电路410包括继电单元1和继电单元2。继电单元1包括一对控制接口(1,1’)、一对常闭接口(2,2’)和两对常开接口(3,3’)和(4,4’);继电单元2包括一对控制接口(11,11’)、一对常闭接口(22,22’)和两对常开接口(33,33’)和(44,44’)。
继电单元1的接口4和接口3分别作为输入输出电路410的输入接口a10和a11,接口4’和接口3’分别连接继电单元2的接口44和接口33,而继电单元2的接口44’和接口33’分别作为输入输出电路410的输出接口A10和A11;常开接口(3,33’)之间串联的开关为输入接口a11和输出接口A11之间的可控制的连接通道;常开接口(4,44’)之间串联的开关为输入接口a10和输出接口A10之间的可控制的连接通道。继电单元1的接口2作为输入输出电路410的待测接口a30;继电单元2的接口22作为输入输出电路410的待测接口a31;接口1和接口11作为控制接口a20和a21与驱动电路430连接,接口1’、接口2’、接口11’和接口22’接地。
需要说明的是,在图5b的实施方式中,输入输出电路410通过常开接口串联了两个继电单元,在其他实施方式中,输入输出电路410也通过常开接口串联多个继电单元实现,每个继电单元接口的连接方式与图5b类似,在此不对串联的继电单元数量做具体的限定。
请参见图5c,其示出了输入输出电路410包括两个继电单元时的结构示意图,输入输出电路410包括继电单元1、继电单元2和继电单元3。继电单元1包括一对控制接口(1,1’)、一对常闭接口(2,2’)和三对常开接口(3,3’)、(4,4’)和(5,5’);继电单元2包括一对控制接口(11,11’)、一对常闭接口(22,22’)和两对常开接口(33,33’)和(44,44’);继电单元3包括一对控制接口(111,111’)、一对常闭接口(222,222’)和三对常开接口(333,333’)、(444,444’)和(555,555’)。
继电单元1的接口4和接口3分别作为输入输出电路410的输入接口a10和a11,继电单元1的接口4’和接口3’分别连接继电单元2的接口44和接口33,继电单元2的接口44’和接口43’分别连接继电单元3的接口444和接口433,而继电单元3的接口444’和接口333’分别作为输入输出电路410的输出接口A10和A11;常开接口(3,333’)之间串联的开关为输入接口a11和输出接口A11之间的可控制的连接通道;常开接口(4,444’)之间串联的开关为输入接口a10和输出接口A10之间的可控制的连接通道。继电单元1的接口2作为输入输出电路410的待测接口a30;继电单元3的接口222作为输入输出电路410的待测接口a31;继电单元2的接口22作为输入输出电路410的待测接口a32。接口1和接口11作为输入输出电路410的控制接口a20和a21与驱动电路430连接,接口1’、接口2’、接口11’和接口22’接地。继电单元1的接口5连接用于给继电单元2供电的电源,继电单元1的接口5’连接至继电单元2的接口11,继电单元2的接口11’连接至继电单元3的接口555’,继电单元3的接口555接地。当继电单元1和继电单元3同时工作时,接口5上的电源会通过继电单元1和继电单元3闭合的常开开关施加到继电单元2的控制接口两端(11,11’),这时继电单元2也开始工作,输入接口和输出接口之间的开关全都闭合,使得输出信号输出。当三个继电单元的其中一个不工作,输入接口和输出接口之间的连接通道就是断开的,输出信号无法输出。
需要说明的是,接口5和接口555连接的信号可以是由处理器440作用产生的信号,或是直流电源输出的信号,在此不做具体限定。
本实施方式不同于图5b中的简单串联,输入输出电路410通过离输入接口和输出接口进的继电单元控制中间的继电单元工作,使得输出信号更可靠。对于上述图5a至图5c所示的输入输出电路410,每个继电单元能够分别结合上述图2至图4任一附图所示的信号输出控制设备中的各个电路,或者对于包括上述图5c所示的输入输出电路410的信号输出控制设备,信号输出控制设备可以采用上述双处理器的控制方法,继电单元1和继电单元3分别连接上述图3a中的第一检验电路121,继电单元2连接上述图3a中的第二检验电路122。
图4所示信号输出控制设备中的检验电路420可以有多种实施方式,下面结合图6为例介绍使用光电组件和电阻组件实现的检验电路。在实际应用中,检验电路420还可以采用其他实施方式,本实施例不一一说明。
检测电路420包括至少一个图6所示的检验电路,包括第三光电组件601、第四光电组件602、第一电阻组件603、第二电阻组件604、第三电阻组件605和第四电阻组件606。检验电路420的测试接口b30包括正向测试接口b30+和负向测试接口b30-。
第三光电组件601包括正输入端1、负输入端2和两个输出端3、4,第四光电组件602包括正输入端1、负输入端2和两个输出端3、4。当这两个光电组件的正输入端1为高电平信号,负输入端2为低电平信号,输出端4和3导通使得输出端3和输出端4的电平信号一致;当输入端不满足正输入端1为高电平信号,负输入端2为低电平信号的要求时,输出端4和3不导通。需要说明的是,光电组件可以替换为其他有两个输入控制端和两个被控制的输出端的组件或电路替代,例如具有四个端口的继电器等,在此不做具体限定。
第三光电组件601的正输入端1串联第一电阻组件603作为检验电路420的正向测试接口b30+,正向测试接口b30+通过第四电阻组件606连接至继电单元电源端(可驱动输入输出电路410的电源端,如上述图4中的a30);第三光电组件601的负输入端2连接第四光电组件602的输出端4,第四光电组件602的输出端3为检验电路420的负向测试接口b30-。
第三光电组件601的输出端4串联第二电阻组件604后连接至处理器第一电源端,同时第三光电组件601的输出端4也作为检验电路420的输出接口b20,输出接口b20连接至处理器440的接口d20;第三光电组件601的输出端3接地。
第四光电组件602的正输入端1串联第三电阻组件605后连接至处理器第二电源端,第四光电组件602的负输入端2作为检验电路420的输入接口b10,连接至处理器440的接口d10;处理器第一电源端和处理器第二电源端是处理器提供的两个电源电压,且这两个电源电压不同。
当图6中的检验电路的负测试接口b30-接地时,图6的检验电路为用于检验输入输出电路410中的继电单元的继电检验电路,一个继电检验电路与一个继电单元相连接,继电检验电路的个数不多于继电单元个数,图3a、图3b和图3c中的第一检验电路121可以使用图6所示的继电检验电路实现。继电检验电路的工作原理如下:当正测试接口b30+为高电平时,继电检验电路的输出接口b20的电平与输入接口b10的电平一致,如果输入接口b10的电平发生变化,输出接口b20的电平也发生变化;当正测试接口b30+为低电平时,无论输入接口b10为高电平还是低电平,第三光电组件601的输出端4和3均不会导通,使得输出接口b20保持为高电平。
继电检验电路与继电单元的连接关系如下:继电单元的其中一个常闭接口的一端连接至继电检验电路的正向测试接口b30+;继电单元的该常闭接口的另一端接地。继电单元的常闭接口中连接至正向测试接口b30+的一端为输入输出电路410的一个待测接口a20。
具体的,如果继电单元处于供电工作状态,常闭接口打开,使得正向测试接口b30+为高电平,同时负向测试接口b30-接地为低电平。此时第三光电组件601的正输入端1和负输入端2能否导通取决于第四光电组件602的输出端4和输出端3是否导通。当继电检验电路的输入接口b10接收的测试信号为低电平时,第四光电组件602的正输入端1和负输入端2导通,使得第四光电组件602的输出端4和3也导通;第四光电组件602的输出端4和3也导通使得第三光电组件601的负输入端2接地,让第三光电组件601的输出端4和3也导通,继电检验电路的输出接口b20通过第三光电组件601的输出端4和3接地,使输出接口b20输出的响应信号为低电平。同理可推得,如果继电单元处于供电工作状态,继电检验电路的输入接口b10接收的测试信号为高电平时,使得继电检验电路的输出接口b20的响应信号也为低电平。
如果继电单元处于断电不工作状态,常闭接口闭合,使得正向测试接口b30+为低电平,同时负向测试接口b30-接地为低电平。此时无论继电检验电路的输入接口b10接收的测试信号是高电平还是低电平,第三光电组件601的正输入端1和负输入端2均处于低电平无法导通,使得继电检验电路的输出接口b20的响应信号保持高电平。
当图6中的检验电路的正测试接口b30+和负测试接口b30-分别连接至输入输出电路410的不同测试接口时,图6的检验电路为回检电路,图3a、图3b和图3c中的第二检验电路122可以使用该回检电路实现。与回检电路连接的输入输出电路410的不同测试接口可以是不同的继电单元上的接口。回检电路的工作原理如下:当正测试接口b30+为高电平且负测试接口b30-为低电平时,回检电路的输出接口b20的电平与输入接口b10的电平一致,当输入接口b10的电平发生变化,输出接口b20的电平也发生变化;当正测试接口b30+为低电平或负测试接口b30-为高电平时,无论输入接口b10为高电平还是低电平,第三光电组件601的输出端4和3均不会导通,使得输出接口b20保持为高电平,基于此回检电路可以用于检验输入输出电路中电平相反的两个待测接口。
假设输入输出电路410的结构如图5c所示,回检电路与输入输出电路410的连接关系如下:正向测试接口b30+连接继电单元1中连接至用于驱动第二继电单元的电源端的常开接口5,负向测试接口b30-连接继电单元3的常开接口555,常开接口555接地。继电单元1的常开接口5和继电单元3的常开接口555为输入输出电路430的待测接口。
需要说明的是,检验电路420中可以包括多个继电检验电路和/或多个回检电路。不同检验电路的输入接口、输出接口可以连接至不同处理器的不同接口,或者同一个处理器的不同接口,在此不做具体限定。
图4所示信号输出控制设备中的驱动电路430可以有多种实施方式,下面结合图7a和图7b为例进行介绍使通过光电组件和电阻组件实现的驱动电路。驱动电路的输入接口c10包括接口c11和接口c12,接口c11和接口c12分别与处理器的接口d31和接口d32相连。接口d31和接口d32中的一个接口对应于图4中处理器440的接口d30,另一个接口对应图4中处理器440的另一接口,或者接口d31和接口d32对应不同处理器440的接口d30。在实际应用中,检验电路420还可以采用其他实施方式,本实施例不一一说明。
请参见图7a,其示出驱动电路430的一种可选的结构示意图,包括第一光电组件701、第二光电组件702和第五电阻组件703和第六电阻组件704。
第一光电组件701包括正输入端1、负输入端2和两个输出端4和3,第二光电组件702包括正输入端1、负输入端2和两个输出端4和3。下面结合图7a和图7b分别介绍驱动电路430的其中两种连接方式:
如图7a所示,第一光电组件701的正输入端1连接处理器第一电源端,第一光电组件701的负输入端2连接第五电阻组件703的一端,第五电阻组件703的另一端作为驱动电路430的一个输入接口c11连接至处理器的接口d31,第一光电组件701的输出端4连接可驱动输入输出电路410的电源端(也即继电单元电源端),第一光电组件701的输出端3连接至第二光电组件702的输出端4。第二光电组件702的正输入端1连接第六电阻组件704的一端,第六电阻组件704的另一端作为驱动电路430的一个输入接口c12连接至处理器的接口d32,第二光电组件702的负输入端2接地,第二光电组件702的输出端3作为驱动电路430的输出接口c20连接至输入输出电路410的控制接口a30,以通过输出接口c20向输入输出电路410供电。
具体的,驱动电路430的输入接口c11和c12接收接口d31和接口d32各自发送的信号,当输入接口c11接收到低电平信号且输入接口c12接收到高电平信号时,第一光电组件701的输出端4和3导通以及第二光电组件702的输出端4和3导通,使得继电单元电源端的电压通过输出接口c20给输入输出电路410供电,因此本实施方式中接口d31发送低电平信号且接口d32发送高电平信号时驱动电路向输入输出电路供电,由此处理器的供电信号为:接口d31发送低电平信号且接口d32发送高电平信号,反之处理器的停止供电信号为:接口d31发送高电平信号或接口d32发送低电平信号。
图7b示出驱动电路430的另一种可选的结构,其中第一光电组件701的正输入端1作为驱动电路430的输入接口c11连接至处理器的接口d31,第一光电组件701的负输入端2通过第五电阻组件703接地,第一光电组件701的输出端4连接可驱动输入输出电路410的电源端(也即继电单元电源端),第一光电组件701的输出端3连接至第二光电组件702的输出端4。第二光电组件702的正输入端1通过第六电阻组件704连接至处理器第一电源端,第二光电组件702的负输入端2作为驱动电路430的输入接口c12连接至处理器的接口d32,第二光电组件702的输出端3作为驱动电路430的输出接口c20连接至输入输出电路410的控制接口a30,以通过输出接口c20向输入输出电路410供电。
具体的,驱动电路430的输入接口c11和c12接收接口d31和接口d32各自发送的信号,当输入接口c11接收到高电平信号,且输入接口c12接收到低电平信号时,第一光电组件701的输出端4和3导通,以及第二光电组件702的输出端4和3导通,使得继电单元电源端的电压通过输出接口c20给输入输出电路410供电,因此本实施方式中,接口d31发送高电平信号且接口d32发送低电平信号时向输入输出电路供电,由此处理器的供电信号为:接口d31发送高电平信号且接口d32发送低电平信号;反之处理器的停止供电信号为:接口d31发送低电平信号或接口d32发送高电平信号。
为方便进一步理解本发明提供的信号输出控制设备的工作过程,下面结合具体应用实施例说明信号输出控制设备的工作过程。
请参见图8-9、图10a-10b、图11a-11b、图12a-12b和图13a-13b,其示出了一种信号输出控制设备的实现方式,示出了设备的各个电路的具体结构和各个电路间连线示意图。信号输出控制设备包括输入输出电路、处理器、驱动电路和检验电路。
请参阅图8,其示出了本实施例输入输出电路的结构示意图,输入输出电路包括继电单元1、继电单元2和继电单元3。每个继电单元均包括一对控制接口、一对常闭接口和3对常开接口,其中接口对(1,1’)、(11,11’)和(111,111’)为控制接口对;接口对(2,2’)、(22,22’)和(222,222’)为常闭接口对;(3,3’)、(4,4’)、(5,5’)、(33,33’)、(44,44’)、(55,55’)、(333,333’)、(444,444’)和(555,555’)为常开接口对。
本实施例提供的信号输出控制设备的处理器采用双CPU控制模式,如图9所示,处理器包括CPU1和CPU2,其中每个CPU分别包括8个IO接口(IO1-IO8)、两个供电电源接口(如3.3V和5V,5V可以视为是处理器第一电源端,3.3V可以视为是处理器第二电源端)和一个接地接口。需要说明的是,图9中只标出了在此处信号输出中使用到的接口,CPU1和CPU2可能还有很多未画出的接口。
本实施例的驱动电路如图10a和10b所示,图10a中的是继电单元1的驱动电路,图10b是继电单元3的驱动电路。本实施例的检验电路包括继电单元1的继电检验电路(如图11a)、继电单元3的继电检验电路(如图11b)、继电单元1和继电单元3的回检电路(如图12a和图12b)、继电单元2的继电检验电路(如图13a和13b)。本实施例的输入输出电路的待测接口包括继电单元1的接口2、继电单元1的接口5、继电单元2的接口22、继电单元3的接口222和继电单元3的接口555。
正常情况下,继电单元1、继电单元2和继电单元3都处于得电工作的状态,输入输出电路的输出接口A’和B’输出从输入接口A和B输入的信号。此时继电单元1的接口2为高电平,继电单元1的接口5为高电平,继电单元2的接口22为高电平,继电单元3的接口222为高电平,继电单元3的接口555为低电平。在未受到干扰的情况下,输入输出电路的待测接口的电平信号会保持不变。
若信号输出控制设备所在的系统受到外界环境的影响导致部分电路的接口产生信号扰动(比如雷雨天气下,雷击可能会对系统产生电磁扰动;或是系统负载的突然变化会导致部分电路接口电压跳变等的影响),会引起输入输出电路中的一个或多个待测接口的电平信号发生变化,那么其输出接口A’和B’的电平信号很有可能也被干扰了,为防止传递可能错误的信号,应该立马停止输出信号。
当发现干扰后,信号输出控制设备的工作过程如下:假设仅是继电单元1的接口2的电平发生变化,高电平变为低电平。那么继电单元1的检验电路(图11a)输出到CPU1的IO4接口的响应信号变为高电平,响应信号不会再随着CPU1的IO3接口输出的测试信号的电平变化发生变化。CPU1接收到恒定为高电平的响应信号后,CPU1的IO1接口从低电平信号变为高电平信号,使得继电单元1的驱动电路(图10a)不再给继电单元1的接口1供电,继电单元1停电;和/或,CPU1的IO2接口从高电平信号变为低电平信号,使得继电单元3的驱动电路(图10b)不再给继电单元3的接口111供电,继电单元3停电。继电单元1和/或继电单元3的停电使得继电单元2也停电,最终导致输入输出电路的输入接口和输出接口之间的连接通路断开,也就是输入接口A和B与输出接口A’和B’之间的常开开关全打开。
在本实施例中,经过上述电路的连接配合,在检验电路输出的响应信号不符合要求时,及时切断输入输出电路的输入接口和输出接口之间的连接通道,输入输出电路接收到的信号不会被输出,如上述测试信号和输入信号等受到干扰时会使得响应信号不符合要求,此时禁止信号输出;只有在确定检验电路输出的响应信号符合要求时输出信号,保证了输出信号是安全可靠的,从而保证车辆正常稳定地运行。同时上述信号输出控制设备可以应用在不同类型的信号输出控制中,具有很好的移植性、可用性与稳定性。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于系统或系统实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述得比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的系统及系统实施例仅仅是示意性的,其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部电路来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下,即可以理解并实施。
专业人员还可以进一步意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现,为了清楚地说明硬件和软件的可互换性,在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种信号输出控制设备,其特征在于,包括输入输出电路、驱动电路、检验电路和处理器;其中,所述处理器,分别与所述检验电路和所述驱动电路连接,所述输入输出电路和所述驱动电路连接;
所述检验电路,用于接收所述处理器的测试信号,输出与所述测试信号对应的响应信号;
所述处理器,用于当所述响应信号的电平随着所述测试信号的电平变化发生改变,输出供电信号至所述驱动电路;以及当所述响应信号的电平不会随着所述测试信号的电平变化发生改变,输出停止供电信号至所述驱动电路;
所述驱动电路,用于当接收到所述供电信号时,向所述输入输出电路供电;以及当接收到所述停止供电信号时,停止向所述输入输出电路供电;
所述输入输出电路包括输入接口和输出接口,在所述驱动电路向所述输入输出电路供电时,所述输入接口和所述输出接口之间的连接通道导通;以及在所述驱动电路停止向所述输入输出电路供电时,所述输入接口和输出接口之间的连接通道断开。
2.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述处理器包括第一处理器和第二处理器;所述第一处理器和所述第二处理器分别与所述检验电路和所述驱动电路连接;
所述第一处理器用于向所述检验电路发送第一测试信号,并接收所述检验电路的第一响应信号;所述第二处理器用于向所述检验电路发送第二测试信号,并接收所述检验电路的第二响应信号;
所述第一处理器,还用于当所述第一响应信号的电平随着所述第一测试信号的电平的变化发生改变时,输出供电信号至所述驱动电路,以及当所述第一响应信号的电平不随着所述第一测试信号的电平的变化发生改变时,输出停止供电信号至所述驱动电路;
所述第二处理器,还用于当所述第二响应信号的电平随着所述第二测试信号的电平的变化发生改变,输出供电信号至所述驱动电路;以及所述第二响应信号的电平不随着所述第二测试信号的电平的变化发生改变,输出停止供电信号至所述驱动电路;
所述驱动电路,具体用于当接收到所述第一处理器的供电信号和所述第二处理器的供电信号时,向所述输入输出电路供电;以及当接收到所述第一处理器的停止供电信号或所述第二处理器的停止供电信号时,停止向所述输入输出电路供电。
3.如权利要求2所述的设备,其特征在于,所述检验电路包括第一检验电路和/或第二检验电路;
所述第一检验电路包括第一输入接口、第一输出接口和第一测试接口;
所述第一输入接口接收所述第一测试信号或所述第二测试信号,所述第一测试接口连接所述输入输出电路的第一待测接口;
在所述第一测试接口接收到的电平信号为预设电平信号时,所述第一输出接口输出的响应信号的电平随着所述第一输入接口接收到的测试信号的电平变化发生变化;以及在所述第一测试接口接收到的电平信号不为预设电平信号时,第一输出接口输出的响应信号的电平不随着所述第一输入接口接收到的测试信号的电平变化发生变化;
所述第二检验电路包括第二输入接口、第二输出接口、第二测试接口和第三测试接口;
所述第二输入接口接收所述第一测试信号或所述第二测试信号,所述第二测试接口连接所述输入输出电路的第二待测接口,所述第三测试接口连接所述输入输出电路的第三待测接口;
所述第二测试接口和所述第三测试接口接收到的电平信号均为各自对应的预设电平信号时,所述第二输出接口输出的响应信号的电平会随着所述第二输入接口接收到的测试信号的电平变化发生变化;以及在所述第二测试接口和所述第三测试接口中的至少一个接口接收到的电平信号不为预设电平信号时,所述第二输出接口输出的响应信号的电平不会随着所述第二输入接口接收到的测试信号的电平变化发生变化。
4.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述输入输出电路的输入接口和所述输入输出电路的输出接口之间连接有开关组件,在所述驱动电路向所述输入输出电路供电时,所述开关组件闭合;以及在所述驱动电路停止向所述输入输出电路供电时,所述开关组件断开。
5.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述检验电路包括输入接口、输出接口和测试接口;所述检验电路的输入接口接收所述处理器的测试信号,所述测试接口连接所述输入输出电路的待测接口;
在所述测试接口接收到的电平信号为预设电平信号时,所述检验电路的输出接口输出的响应信号的电平会随着所述测试信号的电平变化发生变化,以及在所述测试接口接收到的电平信号不为预设电平信号时使所述检验电路的输出接口输出的响应信号的电平不会随着所述测试信号的电平变化发生变化。
6.如权利要求4或5所述的设备,其特征在于,所述输入输出电路包括至少一个继电单元,所述继电单元包括一对控制接口、一对常闭接口和至少一对常开接口;其中,
所述控制接口的一端与所述驱动电路连接,用于接收所述驱动电路的供电电压,所述控制接口的另一端接地;
所述常闭接口的一端作为所述输入输出电路的待测接口,所述常闭接口的另一端接地;
所述至少一对常开接口中一对常开接口的一端作为所述输入输出电路的输入接口,该对常开接口的另一端作为所述输入输出电路的输出接口。
7.如权利要求6所述的设备,其特征在于,所述检测电路包括至少一个用于检验所述继电单元的继电检验电路,一个继电检验电路与一个继电单元相连接,所述继电检验电路的个数不多于所述继电单元个数,所述继电单元和所述继电检验电路的连接关系如下:
所述继电单元的常闭接口的一端连接至该继电单元所连接的继电检验电路的测试接口;所述继电单元的常闭接口的另一端接地;
所述继电单元的常闭接口中连接至该继电单元所连接的检验电路的测试接口的一端为所述输入输出电路的一个待测接口。
8.如权利要求6所述的设备,其特征在于,所述至少一个继电单元包括第一继电单元、第二继电单元和第三继电单元,所述驱动电路包括用于给第一继电单元供电的第一驱动电路和用于给第三继电单元供电的第二驱动电路;其中,
所述第一继电单元的控制接口的一端连接所述第一驱动电路的供电端,所述第一继电单元的控制接口的另一端接地;
所述第一继电单元的其中一对常开接口的一端连接至用于驱动第二继电单元的电源端,所述第一继电单元的该常开接口的另一端连接至第二继电单元的控制接口的一端,所述第二继电单元的控制接口的另一端连接至所述第三继电单元的其中一对常开接口的一端,所述第三继电单元的该常开接口的另一端接地;
所述第三继电单元的控制接口的一端连接所述第二驱动电路的供电端,所述第三继电单元的控制接口的另一端接地;
所述第一继电单元、所述第二继电单元和所述第三继电单元的至少有一对常开接口串联连接,形成所述输入输出电路的输入接口和所述输入输出电路的输出接口之间的连接通道。
9.如权利要求8所述的设备,其特征在于,所述检验电路包括回检电路,所述回检电路的测试接口包括正向测试接口和负向测试接口;
所述正向测试接口连接所述第一继电单元中连接至用于驱动第二继电单元的电源端的常开接口的一端,所述负向测试接口连接所述第三继电单元的常开接口的接地端;
所述第一继电单元的常开接口中连接至用于驱动第二继电单元的电源端的一端和所述第三继电单元的常开接口的接地端为所述输入输出电路的待测接口。
10.如权利要求1至4中任意一项所述的设备,其特征在于,所述检验电路包括第三光电组件、第四光电组件、第一电阻组件、第二电阻组件和第三电阻组件;所述第三光电组件包括正输入端、负输入端和两个输出端,所述第四光电组件包括正输入端、负输入端和两个输出端;
所述第三光电组件的正输入端串联第一电阻组件作为所述检验电路的正向测试接口;所述第三光电组件的负输入端连接所述第四光电组件的一个输出端,所述第四光电组件的另一输出端为所述检验电路的负向测试接口;
所述处理器的第一IO接口、所述第三光电组件的一个输出端串联第二电阻组件后连接至所述处理器的第一电源端,同时所述第三光电组件的一个输出端也作为所述检验电路的输出接口,所述第三光电组件的另一输出端接地;
所述第四光电组件的正输入端串联第三电阻组件后连接至所述处理器的第二电源端,所述第四光电组件的负输入端作为所述检验电路的输入接口,所述第一电源端和所述第二电源端的电源电压不同。
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