CN110794643B - 相位校正方法及激光投影机 - Google Patents

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Abstract

一种相位校正方法，包含下列步骤：(a)产生同步信号并传输至激光驱动器；(b)根据同步信号的时序控制激光光源的开关；(c)测量激光光源的激光依序经过荧光轮及色轮后的第一光强度；(d)改变荧光轮或是色轮的相位；(e)测量激光依序经过荧光轮及色轮后的第二光强度；(f)再次改变荧光轮或是色轮的相位；(g)测量激光依序经过荧光轮及色轮后的第三光强度；(h)当第二光强度大于第一光强度，且第三光强度大于第二光强度时，或者当第二光强度小于第一光强度，且第三光强度大于第一光强度时，重复步骤(f)及步骤(g)。

Description

相位校正方法及激光投影机
技术领域
本发明是有关于一种相位校正方法与一种激光投影机，尤其是有关于荧光轮及色轮的相位校正方法与激光投影机。
背景技术
于传统的激光投影机相位校正方法中，需在投影机前方设置光检测器，并将光检测器连接至示波器。再藉由人力逐步调整荧光轮的相位或是色轮的相位，并根据示波器的波形是否方正来找出荧光轮或是色轮的最佳相位。
因此，传统的激光投影机相位校正方法不仅需要仰赖人力，且需要花费较多的时间及设备成本。此外，由波形判断荧光轮或是色轮的最佳相位，使得相位校正精准度难以提升。
发明内容
本揭露的一技术态样为一种相位校正方法，应用于激光投影机。
根据本揭露一些实施例，一种相位校正方法包含下列步骤。首先于步骤(a)中，利用处理器产生同步信号并传输至激光驱动器。接着在步骤(b)中，激光驱动器根据同步信号的时序控制激光光源的开关。接着在步骤(c)中，利用光检测器测量激光光源的激光依序经过荧光轮及色轮后的第一光强度。接着在步骤(d)中，改变荧光轮的相位或是色轮的相位。接着在步骤(e)中，利用光检测器测量激光依序经过荧光轮及色轮后的第二光强度。接着在步骤(f)中，再次改变荧光轮的相位或是色轮的相位。接着在步骤(g)中，利用光检测器测量激光依序经过荧光轮及色轮后的第三光强度。之后在步骤(h)中，当第二光强度大于第一光强度，且第三光强度大于第二光强度时，重复步骤(f)及步骤(g)，或者当第二光强度小于第一光强度，且第三光强度大于第一光强度时，重复步骤(f)及步骤(g)。
于本揭露之一些实施例中，相位校正方法的步骤(a)还包含使同步信号的时序与色轮的时序同步。
于本揭露的一些实施例中，相位校正方法的步骤(c)、步骤(e)及步骤(g)中的第一光强度、第二光强度及第三光强度为光检测器的读值与时间的积分值。
于本揭露之一些实施例中，相位校正方法的步骤(c)、步骤(e)及步骤(g)中，光检测器将第一光强度、第二光强度及第三光强度的信息传输至激光驱动器。
于本揭露之一些实施例中，相位校正方法的步骤(c)、步骤(e)及步骤(g)中，处理器自激光驱动器读取第一光强度、第二光强度及第三光强度的信息。
于本揭露之一些实施例中，相位校正方法的步骤(d)还包含处理器控制色轮马达驱动器以改变色轮的相位，且步骤(f)还包含处理器根据第一光强度及第二光强度的信息，控制色轮马达驱动器以改变色轮的相位。
于本揭露之一些实施例中，相位校正方法的步骤(d)还包含处理器控制荧光轮马达驱动器以改变荧光轮的相位，且步骤(f)还包含处理器根据第一光强度及第二光强度的信息，控制荧光轮马达驱动器以改变荧光轮的相位。
于本揭露之一些实施例中，相位校正方法的步骤(d)还包含增加或减少色轮的相位或荧光轮的相位，且步骤(f)还包含增加或减少色轮的相位或荧光轮的相位。
于本揭露之一些实施例中，相位校正方法的步骤(d)还包含固定色轮的相位，且增加或减少荧光轮相位，步骤(f)包含固定色轮的相位，增加或减少荧光轮的相位。
于本揭露之一些实施例中，于相位校正方法的步骤(d)中，荧光轮的相位的改变无重复，且在步骤(f)中，荧光轮的相位的改变无重复。
于本揭露之一些实施例中，相位校正方法的步骤(d)还包含固定荧光轮的相位，且增加或减少色轮相位，步骤(f)包含固定荧光轮的相位，且增加或减少色轮的相位。
于本揭露之一些实施例中，于相位校正方法的步骤(d)中，色轮的相位的改变无重复，且在步骤(f)中，色轮的相位的改变无重复。
于本揭露之一些实施例中，相位校正方法的步骤(h)还包含，当第二光强度大于第一光强度，且第三光强度小于第二光强度时，改变荧光轮的相位至对应第二光强度的荧光轮的相位或者改变色轮的相位至对应第二光强度的色轮的相位。
于本揭露之一些实施例中，相位校正方法的步骤(h)还包含，当第二光强度小于第一光强度，且第三光强度小于第一光强度时，改变荧光轮的相位至对应第一光强度的荧光轮的相位或者改变色轮的相位至对应第一光强度的色轮的相位。
本揭露的另一技术态样为一种激光投影机。
根据本揭露一些实施例，一种激光投影机包含激光光源模块、处理器、荧光轮、色轮及光检测器。激光光源模块具有激光驱动器，激光光源模块设置以产生激光。处理器与激光驱动器电性连接，设置以产生同步信号并传输至激光驱动器。荧光轮与处理器电性连接。色轮与处理器电性连接，其中荧光轮位于激光光源模块与色轮之间。光检测器与激光驱动器电性连接，其中色轮位于荧光轮与光检测器之间，光检测器设置以检测来自激光光源模块并依序经过荧光轮及色轮的激光的强度。
于本揭露之一些实施例中，激光投影机还包含反射镜，其中反射镜位于色轮与光检测器之间，且光检测器位于反射镜背对色轮的一侧。
于本揭露之一些实施例中，激光投影机还包含壳体，其中光检测器位于壳体内。
于本揭露之一些实施例中，激光投影机还包含荧光轮马达驱动器，其中荧光轮经由荧光轮马达驱动器电性连接处理器，且处理器设置以控制荧光轮马达驱动器以改变荧光轮的相位。激光投影机还包含色轮马达驱动器，其中色轮经由色轮马达驱动器电性连接处理器，且处理器设置以控制色轮马达驱动器以改变色轮的相位。
于本揭露的上述实施例中，由于本揭露的相位校正方法与激光投影机可使激光根据同步信号的时序产生，由光检测器测量光强度，再经由处理器重复改变相位与测量光强度的操作步骤，直到找出光强度积分值的相对最大值。因此，本揭露的相位校正方法与激光投影机不必在投影机外部设置额外的光强度检测器，也无须藉由示波器所显示的波形，人工判定荧光轮及色轮是否位于最佳相位。如此一来，可大幅降低人力与时间的消耗及降低生产成本，改善了以往需要仰赖人力逐步改变相位及执行光强度测量的不便。
附图说明
图1为根据本揭露一实施例的激光投影机的方块图。
图2为根据本揭露一实施例的相位校正方法的流程图。
图3A为根据本揭露一实施例的激光经过荧光轮与色轮的示意图。
图3B为图3A中的色光强度与时序的关系图。
图3C为根据本揭露另一实施例的激光经过荧光轮与色轮的示意图。
图3D为图3C中的色光强度与时序的关系图。
图3E为根据本揭露又一实施例的激光经过荧光轮与色轮的示意图。
图3F为图3E中的色光强度与时序的关系图。
图4A为根据本揭露一实施例的激光经过荧光轮与色轮的示意图。
图4B为图4A中的色光强度与时序的关系图。
图4C为根据本揭露另一实施例的激光经过荧光轮与色轮的示意图。
图4D为图4C中的色光强度与时序的关系图。
图5为根据本揭露一实施例的荧光轮相位校正方法流程图。
图6为根据本揭露一实施例的色轮相位校正方法流程图。
其中附图标记为：
100：激光投影机
101：壳体
102：积分柱
103：中继透镜
104：反射镜
105：数字微型反射镜组件
106：投影透镜
110：激光光源模块
112：激光驱动器
114：激光光源
120：处理器
122：同步信号
130、130’：荧光轮
132：荧光轮马达驱动器
140、140’：色轮
140R：红色滤镜
140G：绿色滤镜
140B：蓝色滤镜
142：色轮马达驱动器
150：光检测器
160：激光
1611、1612、1613、1614、1615、1621、1622、1623、1624、1625：色光
I1621、I1622、I1623：蓝光光强度
I1624、I1625：红光光强度
161B、162B：蓝光
161Y：黄光
162R：红光
162G：绿光
I1：第一光强度
I2：第二光强度
I3：第三光强度
B1、B2、B3、B3’：蓝光强度
R1、R2、R3、R3’：红光强度
IB：初始蓝光强度
CB：当前蓝光强度
IR：初始红光强度
CR：当前红光强度
(a)～(h)：步骤
S11～S20、S17’～S20’、S21～S30、S27’～S30’：步骤
具体实施方式
以下将以图式揭露本发明的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本发明。也就是说，在本发明部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化图式起见，一些现有惯用的结构与组件在图式中将以简单示意的方式绘示之。
图1为根据本揭露一实施例的激光投影机100的方块图。于本实施例中，激光投影机100为单片式激光投影机。激光投影机100包含激光光源模块110、处理器120、荧光轮130、色轮140以及光检测器150。
激光光源模块110具有激光驱动器112及激光光源114，且处理器120与激光驱动器112电性连接。处理器120设置以产生同步信号122并传输至激光驱动器112。荧光轮130与处理器120电性连接。色轮140与处理器120电性连接。荧光轮130位于激光光源模块110与色轮140之间。光检测器150与激光驱动器112电性连接。色轮140位于荧光轮130与光检测器150之间。光检测器150设置以检测激光160在依序经过荧光轮130及色轮140之后所产生的各种色光强度并将个别的强度信息传输至激光驱动器112。
激光投影机100还包含壳体101、积分柱102、中继透镜103、反射镜104、数字微型反射镜组件105(Digital micromirror device,DMD)以及投影透镜106。光检测器150是位于壳体101内部。积分柱102及中继透镜103位于荧光轮130及色轮140之间。反射镜104位于色轮140与光检测器150之间。光检测器150位于反射镜104背对色轮140的一侧。于本实施例中，激光光源模块110、荧光轮130、色轮140、光检测器150大致位于同一直在线。反射镜104可将大部分的激光160反射，并使其余的激光160透射。因此，光检测器150可测量通过荧光轮130及色轮140后自反射镜104透射的激光160。
此外，激光投影机100还包含荧光轮马达驱动器132以及色轮马达驱动器142。荧光轮130经由荧光轮马达驱动器132电性连接处理器120，处理器120设置以控制荧光轮马达驱动器132以改变荧光轮130的相位。色轮140经由色轮马达驱动器142电性连接处理器120，处理器120设置以控制色轮马达驱动器142以改变色轮140的相位。
于本实施例中，激光投影机100于使用状态时，激光驱动器112使激光光源114开启并产生激光160。根据荧光轮130的相位，激光160在经过荧光轮130的玻璃部分后产生蓝光161B，并在经过荧光轮130的荧光粉部分后产生黄光161Y。于本实施例中，色轮140包含红色滤镜140R、绿色滤镜140G以及蓝色滤镜140B。根据色轮140的相位，黄光161Y在经过红色滤镜140R后产生红光162R，并在经过绿色滤镜140G后产生绿光162G。蓝光161B在经过蓝色滤镜140B后产生蓝光162B。于其他实施例中，色轮140可包含三种以上的颜色的滤镜，并不用以限制本揭露。
于本实施例中，激光投影机100于校正状态时，可利用光检测器150分别测量到的红光162R、绿光162G及蓝光162B的光强度，找出荧光轮130的最佳相位及色轮140的最佳相位。
图2为根据本揭露一实施例的相位校正方法的流程图。相位校正方法包含下列步骤。首先于步骤(a)中，利用处理器产生同步信号并传输至激光驱动器。接着在步骤(b)中，激光驱动器根据同步信号的时序控制激光光源的开关。接着在步骤(c)中，利用光检测器测量激光光源的激光依序经过荧光轮及色轮后的第一光强度。接着在步骤(d)中，改变荧光轮的相位或是色轮的相位。接着在步骤(e)中，利用光检测器测量激光依序经过荧光轮及色轮后的第二光强度。接着在步骤(f)中，再次改变荧光轮的相位或是色轮的相位。接着在步骤(g)中，利用光检测器测量激光依序经过荧光轮及色轮后的第三光强度。之后在步骤(h)中，当第二光强度大于第一光强度，且第三光强度大于第二光强度时，重复步骤(f)及步骤(g)，或者当第二光强度小于第一光强度，且第三光强度大于第一光强度时，重复步骤(f)及步骤(g)。在以下叙述中，将说明上述各步骤。
请同时参阅图1及图2。在步骤(a)中，处理器120产生同步信号122并传输至激光驱动器112，且同步信号122的时序与色轮140的时序同步。接着在步骤(b)中，激光驱动器112会根据同步信号122的时序控制激光光源114的开关。举例来说，当校正程序需要测量蓝光时，激光驱动器112根据同步信号122的时序使激光光源114在蓝光时序内开启，并使激光光源114在红光及绿光时序内关闭。当校正程序需要测量绿光时，激光驱动器112根据同步信号122的时序使激光光源114在绿光时序内开启，并使激光光源114在蓝光及红光时序内关闭。
在步骤(c)中，光检测器150测量激光160依序经过荧光轮130及色轮140后的第一光强度I1。光检测器150将所测量到的第一光强度I1的信息传输至激光驱动器112，而处理器120会自激光驱动器112读取第一光强度I1的信息。第一光强度I1是在所要测量的色光的时段内通过荧光轮130及色轮140的光强度与时间的积分值。荧光轮130及色轮140的相位对第一光强度I1的影响将于后续段落及图式中说明。
图3A为根据本揭露一实施例的激光160经过荧光轮130与色轮140的示意图。图3B为图3A中的色光强度与时序的关系图。请同时参阅图3A与图3B，于本实施例中，光检测器150测量蓝光以执行荧光轮130或色轮140的相位校正。激光驱动器112根据同步信号122的时序，使激光光源114只有在蓝光时序内开启并产生激光160。于本实施例中，荧光轮130无相位差，且色轮140无相位差。
于图3A的实施例中，激光160通过荧光轮130后产生色光1611，色光1611通过色轮140后产生色光1621。如色光1611所示，激光160完全通过荧光轮130的玻璃部分产生蓝光161B。如色光1621所示，蓝光161B完全通过蓝色滤镜140B后产生蓝光162B。如图3B所示，光检测器150测量到蓝光162B的强度与时间积分值为蓝光光强度I1621。
图3C为根据本揭露另一实施例的激光160经过荧光轮130’与色轮140的示意图。图3D为图3C中的色光强度与时序关系图。请同时参阅图3C与图3D，于本实施例中，光检测器150测量蓝光以执行荧光轮130’或色轮140的相位校正。激光驱动器112根据同步信号122的时序，使激光光源114只有在蓝光时序内开启并产生激光160。于本实施例中，荧光轮130’具有相位差，而色轮140无相位差。
于图3C的实施例中，激光160通过荧光轮130’后产生色光1612，色光1612通过色轮140后产生色光1622。如色光1612所示，一部分的激光160通过荧光轮130’的玻璃部分产生蓝光161B，另一部分的激光160通过荧光轮130’的荧光粉部分产生黄光161Y。如色光1622所示，蓝光161B完全通过蓝色滤镜140B后产生蓝光162B，黄光161Y被蓝色滤镜140B过滤。如图3D所示，光检测器150测量到蓝光162B的强度与时间积分值为蓝光光强度I1622。
由图3B与图3D的蓝光光强度I1621、I1622可看出，荧光轮130’的相位差使得色光1612中的蓝光161B的总量减少，因此蓝光光强度I1622会小于蓝光光强度I1621。
由此可知，由于激光160只有在蓝光时序内产生，当荧光轮130无相位差时，激光160完全通过荧光轮130的玻璃部分，光检测器150测量到的蓝光强度积分值会是相对的最大值。因此，可藉由找出在不同荧光轮130相位时测量到的光强度与时间积分值的相对最大值来得知荧光轮130的最佳相位。
图3E为根据本揭露又一实施例的激光160经过荧光轮130’与色轮140’的示意图。图3F为图3E中的色光强度与时序的关系图。请同时参照图3E与图3F，于本实施例中，光检测器150测量蓝光以执行荧光轮130’或色轮140’的相位校正。激光驱动器112根据同步信号122的时序，使激光光源114只有在蓝光时序内开启并产生激光160。于本实施例中，荧光轮130’与图3C中的荧光轮130’具有相同的相位差，且色轮140’具有相位差。
于图3E的实施例中，激光160通过荧光轮130’后产生色光1613，色光1613通过色轮140’后产生色光1623。如色光1613所示，一部分的激光160通过荧光轮130’的玻璃部分产生蓝光161B，另一部分的激光160通过荧光轮130’的荧光粉部分产生黄光161Y。如色光1623所示，一部分的蓝光161B通过蓝色滤镜140B’后产生蓝光162B，另一部分的蓝光161B被红色滤镜140R’过滤，而黄光161Y被蓝色滤镜140B’过滤。如图3F所示，光检测器150测量到蓝光162B的强度与时间积分值为蓝光光强度I1623。
由图3D与图3F的蓝光光强度I1622、I1623可看出，色轮140’的相位差使得色光1623中的蓝光162B的总量减少，因此蓝光光强度I1623会小于蓝光光强度I1622。
由此可知，由于激光160只有在蓝光时序内产生，当色轮140无相位差时，激光160通过荧光轮130后产生的蓝光161B会完全通过蓝色滤镜140B，光检测器150测量到的蓝光强度积分值会是相对的最大值。因此，可藉由找出在不同色轮140相位时测量到的光强度与时间积分值的相对最大值来得知色轮140的最佳相位。
除此之外，由图3D与图3F的比对可知，荧光轮130’的相位差并不影响利用蓝光强度积分值得知色轮140的最佳相位的结果。因此，于荧光轮130或色轮140执行相位校正的先后顺序可以自由选择。
图4A为根据本揭露一实施例的激光160经过荧光轮130与色轮140的示意图。图4B为图4A中的色光强度与时序的关系图。请同时参照图4A与图4B。于本实施例中，光检测器150测量红光162R以执行荧光轮130或色轮140的相位校正。激光驱动器112根据同步信号122的时序，使激光光源114只有在红光时序内开启并产生激光160。于本实施例中，荧光轮130无相位差，且色轮140无相位差。
于图4A的实施例中，激光160通过荧光轮130后产生色光1614，色光1614通过色轮140后产生色光1624。如色光1614所示，激光160完全通过荧光轮130的荧光粉部分产生黄光161Y。如色光1624所示，黄光161Y完全通过红色滤镜140R后产生红光162R。如图4B所示，光检测器150测量到红光162R的强度与时间积分值为红光光强度I1624。
图4C为根据本揭露另一实施例的激光160经过荧光轮130与色轮140’的示意图。图4D为图4C中的色光强度与时序的关系图。请同时参照图4C与图4D。于本实施例中，光检测器150测量红光162R以执行荧光轮130或色轮140’的相位校正。激光驱动器112根据同步信号122的时序，使激光光源114只有在红光时序内开启并产生激光160。于本实施例中，荧光轮130无相位差，而色轮140’具有相位差。
于图4C的实施例中，激光160通过荧光轮130后产生色光1615，色光1615通过色轮140后产生色光1625。如色光1615所示，激光160完全通过荧光轮130的荧光粉部分产生黄光161Y。如色光1625所示，一部分的黄光161Y通过红色滤镜140R’后产生红光162R，另一部分的黄光161Y被蓝色滤镜140B’过滤。如图4D所示，光检测器150测量到红光162R的强度与时间积分值为红光光强度I1625。
由图4B与图4D的红光光强度I1624、I1625可看出，色轮140’的相位差使色光1625中的红光162R的总量减少，因此红光光强度I1625会小于红光光强度I1624。
由上述分别测量蓝光(见图3C至图3F)及红光(见图4A至图4D)的实施例可知，由于激光160可依据同步信号122的时序产生，而同步信号122与色轮140的时序同步，且光检测器150可测量不同色光，因此可藉由找出不同色光的光强度与时间积分值的相对最大值来得知色轮140的最佳相位。也就是说，使用者可任意选择色轮140具有的滤镜颜色来执行色轮140的相位校正。
此外，由于相位校正方法是藉由比较光强度积分值的相对大小而执行，即使荧光轮130或色轮140的相位差使得其他色光于所测量的色光的时序内产生，色光频谱重叠部分所贡献的光强度(举例来说，绿光频谱中会有一小部分的波段与红光频谱重叠)并不影响光强度积分值间的相对大小，因此也不影响本揭露的相位校正方法找到的荧光轮130的最佳相位或色轮140的最佳相位。
进一步来说，以激光作为光源的投影机需要设置光检测器提供反馈信息以调控激光光源的出光功率，而相位校正方法是将光检测器所测量的信息做进一步的应用。如此一来，可不必在投影机外设置额外的光强度检测器，也无须藉由示波器所显示的波形，人工判定荧光轮及色轮是否位于最佳相位。因此，本揭露的相位校正方法可大幅降低人力与时间的消耗及降低生产成本。
请同时参阅图1及图2。相位校正方法的步骤(d)中，当要校正荧光轮130时，激光投影机100的处理器120控制一荧光轮马达驱动器132以增加或减少荧光轮130的相位。当要校正色轮140时，激光投影机100的处理器120控制一色轮马达驱动器142以增加或减少色轮140的相位。于后续段落中，改变相位可泛指上述的动作。
请同时参阅图1及图2。相位校正方法的步骤(e)中，光检测器150测量激光160依序经过荧光轮130及色轮140后的第二光强度I2。光检测器150将所测量到的第二光强度I2的信息传输至激光驱动器112，而处理器120会自激光驱动器112读取第二光强度I2的信息，
请同时参阅图1及图2。相位校正方法的步骤(f)中，再次改变相位。于步骤(f)中，激光投影机100的处理器120会根据第一光强度I1及第二光强度I2的相对大小，决定改变相位的方式。具体来说，当第一光强度I1大于第二光强度I2时，若步骤(d)中是增加相位，则于步骤(f)中减少相位，而若步骤(d)中是减少相位，则于步骤(f)中增加相位。当第一光强度I1小于第二光强度I2时，若步骤(d)中是增加相位，则于步骤(f)中增加相位，而若于步骤(d)中是减少相位，则于步骤(f)中减少相位。也就是说，若第一光强度I1大于第二光强度I2，代表相位于步骤(d)中的改变方向会使得相位差变得更大，因此于步骤(f)中将相位往相反方向改变。
请同时参阅图1及图2。相位校正方法的步骤(g)中，光检测器150测量激光160依序经过荧光轮130及色轮140后的第三光强度I3。光检测器150将所测量到的第三光强度I3的信息传输至激光驱动器112，而处理器120会自激光驱动器112读取第三光强度I3的信息。
请同时参阅图1及图2。相位校正方法的步骤(h)中，当第二光强度I2大于第一光强度I1，且第三光强度I3大于第二光强度I2时，重复步骤(f)及步骤(g)，或者当第二光强度I2小于第一光强度I1，且第三光强度I3大于第一光强度I1时，重复步骤(f)及步骤(g)。也就是说，当第三光强度I3大于第一光强度I1及第二光强度I2，代表步骤(f)中的相位改变方向可让相位差变小。因此，维持步骤(f)中的相位改变方向，直到相位差再度开始变大时，即可得知荧光轮130或色轮140的最佳相位。
请同时参阅图1及图2。相位校正方法的步骤(h)中，当第二光强度I2大于第一光强度I1，且第三光强度I3小于第二光强度I2时，代表第二光强度I2为荧光轮130或色轮140位于最佳相位时，光检测器150所测量到的光强度积分值。处理器120改变荧光轮130或色轮140的相位至对应第二光强度I2的荧光轮130或色轮140的相位。此外，当第二光强度I2小于第一光强度I1，且第三光强度I3小于第一光强度I1时，代表第一光强度I1为荧光轮130或色轮140位于最佳相位时，光检测器150所测量到的光强度积分值。处理器120改变荧光轮130或色轮140的相位至对应第一光强度I1的荧光轮130或色轮140的相位。
由上述步骤可知，相位校正方法可藉由光检测器150测量不同色光的光强度积分值，再经由处理器120自动比较光强度积分值的相对大小以找出使相位差减少的相位改变方向，并重复改变相位与测量光强度的操作步骤，直到找出最大的光强度积分值及其所对应的荧光轮130或色轮140的最佳相位。因此，本揭露的相位校正方法可大幅降低人力与时间的消耗，改善了以往需要仰赖人力逐步改变相位及执行光强度测量的不便。
图5为根据本揭露一实施例的荧光轮130相位校正方法流程图。请同时参阅图1及图5。于本实施例中，光检测器150测量蓝光162B以校正荧光轮130的相位。
步骤S11中，处理器120产生同步信号122并传输至激光驱动器112。激光驱动器112使激光光源114在蓝光时序内开启并产生激光160，并使激光光源114在红光或绿光时序内关闭。步骤S12中，光检测器150测量蓝光强度B1，处理器120将测得的蓝光强度B1储存为初始蓝光强度IB。于步骤S13中，荧光轮马达驱动器132使荧光轮130的相位增加0.5度。于其他实施例中，荧光轮马达驱动器132也可使荧光轮130的相位增加或减少不同的度数。步骤S14中，光检测器150测量蓝光强度B2，处理器120将测得的蓝光强度B2储存为当前蓝光强度CB。步骤S15中，处理器120判断当前蓝光强度CB是否大于初始蓝光强度IB，若当前蓝光强度CB大于初始蓝光强度IB，代表目前的相位改变方向可使荧光轮130的相位差变小，因此接着执行步骤S16。若当前蓝光强度CB不大于初始蓝光强度IB，则执行步骤S17’。
步骤S16中，处理器120将当前蓝光强度CB作为初始蓝光强度IB。步骤S17中，荧光轮马达驱动器132再使荧光轮130的相位增加0.5度。步骤S18中，光检测器150测量蓝光强度B3，处理器120将测得的蓝光强度B3储存为当前蓝光强度CB。步骤S19中，处理器120判断当前蓝光强度CB是否大于初始蓝光强度IB，若当前蓝光强度CB大于初始蓝光强度IB，代表荧光轮130的相位差仍在变小，则再次回到步骤S16。若当前蓝光强度CB不大于初始蓝光强度IB，则代表荧光轮130的相位差变得比步骤S13中的荧光轮130的相位差来得大(此指无重复过步骤S16至步骤S18时)，或是比前一次执行步骤S17时的相位差来得大，因此接着执行步骤S20。步骤S20中，荧光轮马达驱动器132使荧光轮130的相位减少0.5度，此时的荧光轮130相位即为荧光轮130的最佳相位。
当第一次执行步骤S17’时，荧光轮马达驱动器132使荧光轮130的相位减少1度，避免回到与步骤S12中相同的相位而产生光强度大小相等的情形，并于后续重复步骤S17’时，由荧光轮马达驱动器132使荧光轮130的相位减少0.5度。步骤S18’中，光检测器150测量蓝光强度B3’，处理器120将测得的蓝光强度B3’储存为当前蓝光强度CB。步骤S19’中，处理器120判断当前蓝光强度CB是否大于初始蓝光强度IB，若当前蓝光强度CB大于初始蓝光强度IB，代表荧光轮130的相位差仍在变小，则再次回到步骤S17’。若当前蓝光强度CB不大于初始蓝光强度IB，则代表荧光轮130的相位差比步骤S12中的荧光轮130的相位差来得大(此指无重复过步骤S17’至步骤S18’时)，或是比前一次执行步骤S17’时的相位差来得大，因此接着执行步骤S20’，荧光轮马达驱动器132使荧光轮130的相位增加0.5度，此时的荧光轮130相位即为荧光轮130的最佳相位。
图6为根据本揭露一实施例的色轮140相位校正方法流程图。请同时参阅图1及图6。于本实施例中，光检测器150测量红光162R以校正色轮140的相位。于其他实施例中，光检测器150可根据色轮140的颜色选择测量不同色光来执行相位校正。
步骤S21中，处理器120产生同步信号122并传输至激光驱动器112。激光驱动器112使激光光源114在红光时序内开启并产生激光160，并使激光光源114在蓝光或绿光时序内关闭。步骤S22中，光检测器150测量红光强度R1，处理器120将测得的红光强度R1储存为初始红光强度IR。于步骤S23中，色轮马达驱动器142使色轮140的相位增加0.5度。于其他实施例中，色轮马达驱动器142也可使色轮140的相位增加或减少不同的度数。步骤S24中，光检测器150测量红光强度R2，处理器120将测得的红光强度R2储存为当前红光强度CR。步骤S25中，处理器120判断当前红光强度CR是否大于初始红光强度IR，若当前红光强度CR大于初始红光强度IR，代表目前的相位改变方向可使色轮140的相位差变小，因此接着执行步骤S26。若当前红光强度CR不大于初始红光强度IR，则执行步骤S27’。
步骤S26中，处理器120将当前红光强度CR储存为初始红光强度IR。步骤S27中，色轮马达驱动器142再使色轮140的相位增加0.5度。步骤S28中，光检测器150测量红光强度R3，处理器120将测得的红光强度R3储存为当前红光强度CR。步骤S29中，处理器120判断当前红光强度CR是否大于初始红光强度IR，若当前红光强度CR大于初始红光强度IR，代表色轮140的相位差仍在变小，则再次回到步骤S26。若当前红光强度CR不大于初始红光强度IR，则代表色轮140的相位差变得比步骤S24中的色轮140的相位差来得大(此指无重复过步骤S26至步骤S28时)，或是比前一次执行步骤S27时的相位差来得大，因此接着执行步骤S30。步骤S30中，色轮马达驱动器142使色轮140的相位减少0.5度，此时的色轮140相位即为色轮140的最佳相位。
当第一次执行步骤S27’时，色轮马达驱动器142使色轮140的相位减少1度，避免回到与步骤S22中相同的相位而产生光强度大小相等的情形，并于后续重复步骤S27’时，由色轮马达驱动器142使色轮140的相位减少0.5度。步骤S28’中，光检测器150测量红光强度R3’，处理器120将测得的红光强度R3’储存为当前红光强度CR。步骤S29’中，处理器120判断当前红光强度CR是否大于初始红光强度IR，若当前红光强度CR大于初始红光强度IR，代表色轮140的相位差仍在变小，则再次回到步骤S27’。若当前红光强度CR不大于初始红光强度IR，则代表色轮140的相位差比步骤S22中的色轮140的相位差来得大(此指无重复过步骤S27’至步骤S28’时)，或是比前一次执行步骤S27’时的相位差来得大，因此接着执行步骤S30’，色轮马达驱动器142使荧光轮130的相位增加0.5度，此时的色轮140相位即为色轮140的最佳相位。
虽然本发明已以实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视后附的申请专利范围所界定者为准。

Claims (17)

1.一种相位校正方法，应用于一激光投影机，其特征在于，该相位校正方法包含下列步骤：
(a)利用一处理器产生一同步信号并传输至一激光驱动器；
(b)该激光驱动器根据该同步信号的一时序控制一激光光源的开关；
(c)利用一光检测器测量该激光光源的一激光依序经过一荧光轮及一色轮后的一第一光强度；
(d)增加或减少该荧光轮的相位或是该色轮的相位；
(e)利用该光检测器测量该激光依序经过该荧光轮及该色轮后的一第二光强度；
(f)当该第一光强度大于该第二光强度，且该荧光轮的相位或是该色轮的相位于步骤(d)中增加时，减少该荧光轮的相位或是该色轮的相位，或是当该第一光强度大于该第二光强度，且该荧光轮的相位或是该色轮的相位于步骤(d)中减少时，增加该荧光轮的相位或是该色轮的相位，或是当该第一光强度小于该第二光强度，且该荧光轮的相位或是该色轮的相位于步骤(d)中增加时，增加该荧光轮的相位或是该色轮的相位，或是当该第一光强度小于该第二光强度，且该荧光轮的相位或是该色轮的相位于步骤(d)中减少时，减少该荧光轮的相位或是该色轮的相位；
(g)利用该光检测器测量该激光依序经过该荧光轮及该色轮后的一第三光强度；以及
(h)当该第二光强度大于该第一光强度，且该第三光强度大于该第二光强度时，重复该步骤(f)及该步骤(g)，或者当该第二光强度小于该第一光强度，且该第三光强度大于该第一光强度时，重复该步骤(f)及该步骤(g)。
2.如权利要求1所述的相位校正方法，其特征在于，该步骤(a)更包含：
同步该同步信号的该时序与该色轮的一时序。
3.如权利要求1所述的相位校正方法，其特征在于，该步骤(c)、该步骤(e)及该步骤(g)中的该第一光强度、该第二光强度及该第三光强度为该光检测器的读值与时间的积分值。
4.如权利要求1所述的相位校正方法，其特征在于，更包含：
于该步骤(c)、该步骤(e)及该步骤(g)后，该光检测器将该第一光强度、该第二光强度及该第三光强度的信息传输至该激光驱动器。
5.如权利要求4所述的相位校正方法，其特征在于，更包含：
于该步骤(c)、该步骤(e)及该步骤(g)后，该处理器自该激光驱动器读取该第一光强度、该第二光强度及该第三光强度的信息。
6.如权利要求1所述的相位校正方法，其特征在于，该步骤(d)包含该处理器控制一色轮马达驱动器以改变该色轮的相位，且该步骤(f)包含该处理器根据该第一光强度及该第二光强度的信息，控制该色轮马达驱动器以改变该色轮的相位。
7.如权利要求1所述的相位校正方法，其特征在于，该步骤(d)包含该处理器控制一荧光轮马达驱动器以改变该荧光轮的相位，且该步骤(f)包含该处理器根据该第一光强度及该第二光强度的信息，控制该荧光轮马达驱动器以改变该荧光轮的相位。
8.如权利要求1所述的相位校正方法，其特征在于，在该步骤(d)包含固定该色轮的相位且增加或减少该荧光轮的相位，该步骤(f)包含固定该色轮的相位且增加或减少该荧光轮的相位。
9.如权利要求1所述的相位校正方法，其特征在于，在该步骤(d)中，该荧光轮的相位的改变无重复，且在该步骤(f)中，该荧光轮的相位的改变无重复。
10.如权利要求1所述的相位校正方法，其特征在于，在该步骤(d)包含固定该荧光轮的相位且增加或减少该色轮的相位，该步骤(f)包含固定该荧光轮的相位且增加或减少该色轮的相位。
11.如权利要求1所述的相位校正方法，其特征在于，在该步骤(d)中，该色轮的相位的改变无重复，且在该步骤(f)中，该色轮的相位的改变无重复。
12.如权利要求1所述的相位校正方法，其特征在于，该步骤(h)更包含：
当该第二光强度大于该第一光强度，且该第三光强度小于该第二光强度时，改变该荧光轮的相位至对应该第二光强度的该荧光轮的相位或是改变该色轮的相位至对应该第二光强度的该色轮的相位。
13.如权利要求1所述的相位校正方法，其特征在于，该步骤(h)更包含：
当该第二光强度小于该第一光强度，且该第三光强度小于该第一光强度时，改变该荧光轮的相位至对应该第一光强度的该荧光轮的相位或是改变该色轮的相位至对应该第二光强度的该色轮的相位。
14.一种激光投影机，其特征在于，包含：
一激光光源模块，具有一激光驱动器，该激光光源模块设置以产生一激光；
一处理器，与该激光驱动器电性连接，设置以产生一同步信号并传输至该激光驱动器；
一荧光轮，与该处理器电性连接，
一色轮，与该处理器电性连接，其中该荧光轮位于该激光光源模块与该色轮之间；以及
一光检测器，与该激光驱动器电性连接，其中该色轮位于该荧光轮与该光检测器之间，该光检测器设置以检测来自该激光光源模块并依序经过该荧光轮及该色轮的该激光的强度。
15.如权利要求14所述的激光投影机，其特征在于，更包含：
一反射镜，其中该反射镜位于该色轮与该光检测器之间，且该光检测器位于该反射镜背对该色轮的一侧。
16.如权利要求14所述的激光投影机，其特征在于，具有一壳体，其中该光检测器位于该壳体内。
17.如权利要求14所述的激光投影机，其特征在于，更包含：
一荧光轮马达驱动器，其中该荧光轮经由该荧光轮马达驱动器电性连接该处理器，且该处理器设置以控制该荧光轮马达驱动器以改变该荧光轮的相位；以及
一色轮马达驱动器，其中该色轮经由该色轮马达驱动器电性连接该处理器，且该处理器设置以控制该色轮马达驱动器以改变该色轮的相位。
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