CN110782829A - 一种Micro-LED光场均匀性调制方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种Micro‑LED光场均匀性调制方法，包括Micro‑LED、镜头、感光元件、数据库。Micro‑LED作为光源和成像元件，其各像元发出的光，通过镜头，在感光元件上成像。通过感光元件测量Micro‑LED芯片上每一个像元的光强，并将每一个像元的光强数据存储到计算机数据库中。根据Micro‑LED上各像元的光强数据，通过对像元的电流或电压调制，提高像元光强的一致性，进而实现较高的Micro‑LED光场均匀性。Micro‑LED生产过程中各像元光强差异较大，本发明可极大的提高光场均匀性，在高精度3D打印、高分辨率、高精度曝光等光场均匀性要求高的领域具有重要的应用前景。
Description
技术领域
本发明涉及一种Micro-LED光场均匀性调制方法。
背景技术
Micro LED是一种海量的微小LED像元阵列在底层电路上，并能通过计算机控制海量的底层电路电极供电进而控制各个LED像元亮灭并形成特定图案的一种芯片或屏幕。但在生产过程中，Micro LED上各个LED像元受结构尺寸、工艺及材料缺陷和材料一致性等各种公差的影响，在通过相同电流时所发光强并不一致。
在高精度3D打印、高分辨率、高精度曝光等光场均匀性要求高的应用领域，对光场的均匀性要求非常高，一般光场均匀性都不能满足上述领域的应用要求。
发明内容
为了解决光场均匀性不能满足高精度3D打印、高分辨率、高精度曝光等应用需求的问题。
本发明采用一种Micro-LED光场均匀性调制方法，包括Micro-LED（1）、镜头（2）、感光元件（3）、数据库（4），Micro-LED（1）作为光源和成像元件，其各像元发出的光，通过镜头（2），在感光元件（3）上成像，感光元件（3）所测量的Micro-LED各像元的光强数据存储到计算机的数据库（4）中，通过数据库中Micro-LED各像元光强数据的分析，减弱光强过强的像元电流或电压，增强光强过弱的像元电流或电压，进而控制Micro-LED所有的像元光强在特定范围内，从而控制整个目标光场的均匀性。
所述Micro-LED（1）是在芯片集成高密度微小尺寸LED阵列，并保证每一个LED像素可定址，并单独驱动点亮的一种微型显示芯片及其各种封装产品。
所述Micro-LED（1）包含一种或多种不同波长的Micro-LED颗粒，Micro-LED的波长范围为340nm-800nm。
所述Micro-LED（1）中每个LED像素尺寸为：长≥0.5µm，宽≥0.5µm，LED阵列的行数M≥2，列数N≥2， Micro-LED（1）的每个像元发散角与镜头（2）的数值孔径相匹配。
所述镜头（2）是由包括偏振片、透镜或反射镜的一种或多种光学元件组成的成像系统。
所述感光元件（3）包含CCD元件或CMOS元件，用于测量像场的光强。
所述数据库（4）用于存储感光元件（3）所测量的Micro-LED各像元的光强数据，通过数据库中Micro-LED（1）各像元光强数据的分析，减弱光强过强的像元电流或电压，增强光强过弱的像元电流或电压，进而控制Micro-LED（1）所有的像元光强在特定范围内，从而控制整个目标光场的均匀性。
所述一种基于权利要求1至7中任一项所述的一种Micro-LED光场均匀性调制方法，包括以下步骤：
S1发光环节：Micro-LED（1）上某一个或多个像元在特定电流下发光；
S2感光环节：感光元件（3）上测得上述一个或多个像元的光强数据；
S3 生成数据：计算机上生成上述一个或多个像元的光强数据库（4），记录所有已测得像元的光强数据；
S4形成数据库：重复1次或多次上述S1-S3过程最终获得Micro-LED（1）上所有像元的光强数据并记入数据库（4）；
S5数据库分析：通过计算机算法对数据库（4）的各像元光强数据进行分析；
S6调制环节：对Micro-LED（1）上光强数值高的像元降低其工作电压或工作电流，进而降低光强数值高的像元的光强，对Micro-LED（1）上光强数值低的像元提高其工作电压或工作电流，进而提高光强数值低的像元的光强；
S7检测环节：重复上述S1-S5的过程，S5数据库分析结果如满足所需光场均匀性要求就退出整个光场均匀性调制工作，存储调制数据，在Micro LED（1）未来工作状态下载入调制数据，通过控制各像元电流或电压来控制整体光场均匀性；S5数据库分析结果如不满足所需光场均匀性要求，重复S6过程后，再重复S7过程进行检测，如此循环直至S5数据库分析结果满足所需光场均匀性要求退出整个光场均匀性调制工作。
本发明所提供一种Micro-LED光场均匀性调制方法的主要优点和积极效果如下：通过感光元件测量像场光强，可以辨别Micro-LED中哪些像元有坏点。通过控制Micro-LED特定像元的电压或电流，从而控制整个目标光场的均匀性，在高光场均匀性应用领域具有很好的应用前景。
附图说明
为进一步说明本发明的技术内容，以下结合实施例及附图详细说明如后，其中：
图1为本发明的结构示意图；
图2为本发明Micro-LED光场均匀性调制方法的流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明进一步详细说明。
请参阅图1和图2所示，本发明提供一种Micro-LED光场均匀性调制方法，包括：
—Micro-LED（1）是在芯片集成高密度微小尺寸LED阵列，并保证每一个LED像素可定址，并单独驱动点亮的一种微型显示芯片及其各种封装产品。
—Micro-LED（1）包含一种或多种不同波长的Micro-LED颗粒，Micro-LED的波长范围为340nm-800nm。
—Micro-LED（1）中每个LED像素尺寸为：长≥0.5µm，宽≥0.5µm，LED阵列的行数M≥2，列数N≥2， Micro-LED（1）的每个像元发散角与镜头（2）的数值孔径相匹配。
—镜头（2）是由包括偏振片、透镜或反射镜的一种或多种光学元件组成的成像系统。
—感光元件（3）包含CCD元件或CMOS元件，用于测量像场的光强。
—数据库（4）用于存储感光元件（3）所测量的Micro-LED各像元的光强数据，通过数据库中Micro-LED（1）各像元光强数据的分析，减弱光强过强的像元电流或电压，增强光强过弱的像元电流或电压，进而控制Micro-LED（1）所有的像元光强在特定范围内，从而控制整个目标光场的均匀性。
—基于权利要求1至7中任一项所述的一种Micro-LED光场均匀性调制方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1发光环节：Micro-LED（1）上某一个或多个像元在特定电流下发光；
S2感光环节：感光元件（3）上测得上述一个或多个像元的光强数据；
S3 生成数据：计算机上生成上述一个或多个像元的光强数据库（4），记录所有已测得像元的光强数据；
S4形成数据库：重复1次或多次上述S1-S3过程最终获得Micro-LED（1）上所有像元的光强数据并记入数据库（4）；
S5数据库分析：通过计算机算法对数据库（4）的各像元光强数据进行分析；
S6调制环节：对Micro-LED（1）上光强数值高的像元降低其工作电压或工作电流，进而降低光强数值高的像元的光强，对Micro-LED（1）上光强数值低的像元提高其工作电压或工作电流，进而提高光强数值低的像元的光强；
S7检测环节：重复上述S1-S5的过程，S5数据库分析结果如满足所需光场均匀性要求就退出整个光场均匀性调制工作，存储调制数据，在Micro LED（1）未来工作状态下载入调制数据，通过控制各像元电流或电压来控制整体光场均匀性；S5数据库分析结果如不满足所需光场均匀性要求，重复S6过程后，再重复S7过程进行检测，如此循环直至S5数据库分析结果满足所需光场均匀性要求退出整个光场均匀性调制工作。
以上所述的具体实施例，对于本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不局限于本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种Micro-LED光场均匀性调制方法，其特征在于，包括Micro-LED（1）、镜头（2）、感光元件（3）、数据库（4），Micro-LED（1）作为光源和成像元件，其各像元发出的光，通过镜头（2），在感光元件（3）上成像，感光元件（3）所测量的Micro-LED各像元的光强数据存储到计算机的数据库（4）中，通过数据库中Micro-LED各像元光强数据的分析，减弱光强过强的像元电流或电压，增强光强过弱的像元电流或电压，进而控制Micro-LED所有的像元光强在特定范围内，从而控制整个目标光场的均匀性。
2.如权利要求1所述的一种Micro-LED光场均匀性调制方法，其特征在于，所述Micro-LED（1）是在芯片集成高密度微小尺寸LED阵列，并保证每一个LED像素可定址，并单独驱动点亮的一种微型显示芯片及其各种封装产品。
3.如权利要求1所述的一种Micro-LED光场均匀性调制方法，其特征在于，所述Micro-LED（1）包含一种或多种不同波长的Micro-LED颗粒，Micro-LED的波长范围为340nm-800nm。
4. 如权利要求1所述的一种Micro-LED光场均匀性调制方法，其特征在于，所述Micro-LED（1）中每个LED像素尺寸为：长≥0.5µm，宽≥0.5µm，LED阵列的行数M≥2，列数N≥2，Micro-LED（1）的每个像元发散角与镜头（2）的数值孔径相匹配。
5.如权利要求1所述的一种Micro-LED光场均匀性调制方法，其特征在于，所述镜头（2）是由包括偏振片、透镜或反射镜的一种或多种光学元件组成的成像系统。
6.如权利要求1所述的一种Micro-LED光场均匀性调制方法，其特征在于，所述感光元件（3）包含CCD元件或CMOS元件，用于测量像场的光强。
7.如权利要求1所述的一种Micro-LED光场均匀性调制方法，其特征在于，所述数据库（4）用于存储感光元件（3）所测量的Micro-LED各像元的光强数据，通过数据库中Micro-LED（1）各像元光强数据的分析，减弱光强过强的像元电流或电压，增强光强过弱的像元电流或电压，进而控制Micro-LED（1）所有的像元光强在特定范围内，从而控制整个目标光场的均匀性。
8.一种基于权利要求1至7中任一项所述的一种Micro-LED光场均匀性调制方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1发光环节：Micro-LED（1）上某一个或多个像元在特定电流下发光；
S2感光环节：感光元件（3）上测得上述一个或多个像元的光强数据；
S3 生成数据：计算机上生成上述一个或多个像元的光强数据库（4），记录所有已测得像元的光强数据；
S4形成数据库：重复1次或多次上述S1-S3过程最终获得Micro-LED（1）上所有像元的光强数据并记入数据库（4）；
S5数据库分析：通过计算机算法对数据库（4）的各像元光强数据进行分析；
S6调制环节：对Micro-LED（1）上光强数值高的像元降低其工作电压或工作电流，进而降低光强数值高的像元的光强，对Micro-LED（1）上光强数值低的像元提高其工作电压或工作电流，进而提高光强数值低的像元的光强；
S7检测环节：重复上述S1-S5的过程，S5数据库分析结果如满足所需光场均匀性要求就退出整个光场均匀性调制工作，存储调制数据，在Micro LED（1）未来工作状态下载入调制数据，通过控制各像元电流或电压来控制整体光场均匀性；S5数据库分析结果如不满足所需光场均匀性要求，重复S6过程后，再重复S7过程进行检测，如此循环直至S5数据库分析结果满足所需光场均匀性要求退出整个光场均匀性调制工作。
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| CN (1) | CN110782829A (zh) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20130107060A1 (en) * | 2011-11-02 | 2013-05-02 | Stmicroelectronics, Inc. | System and method for light compensation in a video panel display |
| CN104160439A (zh) * | 2012-03-01 | 2014-11-19 | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 | 显示设备的显示不均匀检测方法以及其装置 |
| CN107507571A (zh) * | 2017-08-28 | 2017-12-22 | 哈尔滨工业大学深圳研究生院 | 一种对amoled进行外部光学补偿的方法及装置 |
| CN207290925U (zh) * | 2017-04-21 | 2018-05-01 | 北京德瑞工贸有限公司 | 一种基于Micro LED技术的光固化3D打印设备 |
| CN207301622U (zh) * | 2017-09-18 | 2018-05-01 | 北京德瑞工贸有限公司 | 一种基于Micro-LED无掩模投影扫描式紫外曝光机 |
-
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- 2018-07-30 CN CN201810851892.4A patent/CN110782829A/zh active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20130107060A1 (en) * | 2011-11-02 | 2013-05-02 | Stmicroelectronics, Inc. | System and method for light compensation in a video panel display |
| CN104160439A (zh) * | 2012-03-01 | 2014-11-19 | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 | 显示设备的显示不均匀检测方法以及其装置 |
| CN207290925U (zh) * | 2017-04-21 | 2018-05-01 | 北京德瑞工贸有限公司 | 一种基于Micro LED技术的光固化3D打印设备 |
| CN107507571A (zh) * | 2017-08-28 | 2017-12-22 | 哈尔滨工业大学深圳研究生院 | 一种对amoled进行外部光学补偿的方法及装置 |
| CN207301622U (zh) * | 2017-09-18 | 2018-05-01 | 北京德瑞工贸有限公司 | 一种基于Micro-LED无掩模投影扫描式紫外曝光机 |
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