CN110743816B - 一种便捷型半导体存储器检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种便捷型半导体存储器检测装置，包括机体，所述机体中设有检测腔，所述检测腔底壁设有分选腔，所述分选腔底壁设有齿轮腔，所述齿轮腔底壁左右对称设有对称腔，所述检测腔左右侧壁对称设有弹簧腔，所述检测器通过所述第一传动电线带动所述传动电机工作，从而带动所述电机轴转动，进而带动所述带轮、所述副轴转动，从而带动所述偏心轮转动，从而带动所述滑动板、所述T型块向远离所述检测腔的一侧移动，进而放开夹在两个所述检测器之间的半导体存储器，本装置大大降低了工作时间，提升了工作效率，值得推广。
Description
技术领域
本发明涉及存储器领域,具体为一种便捷型半导体存储器检测装置。
背景技术
目前，随着社会的发展，电子信息成为了新世纪最重要的科技组成基础，在大数据时代，存储器的存储量和存储器本身的质量越发重要，半导体存储器作为最为常见的存储器之一在全球具有极大的销量和市场，在半导体存储器生产成型后对存储器进行检测的过程通常是工作人员将存储器插在检测装置的检测口上，对存储器进行成批检测，但是这样的检测方式耗费时间较长，而且在检测后工作人员需要人工对存储器进行分类，效率并不是很高，因而即需发明一种便捷型半导体存储器检测装置。
发明内容
本发明的目的在于提供一种便捷型半导体存储器检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种便捷型半导体存储器检测装置,包括机体，所述机体中设有检测腔，所述检测腔底壁设有分选腔，所述分选腔底壁设有齿轮腔，所述齿轮腔底壁左右对称设有对称腔，所述检测腔左右侧壁对称设有弹簧腔，所述弹簧腔与所述分选腔之间设有对半导体存储器进行检测的检测机构；
所述检测机构包括滑动连接在所述分选腔内壁的圆板，所述圆板下侧面左右对称铰接有与所述对称腔滑动连接的铰接板，所述齿轮腔后侧固定安装有分选电机，所述分选电机左侧动力连接有与所述齿轮腔前侧壁转动连接的动力轴，所述动力轴上固设有与两个所述铰接板相啮合的齿轮，每个所述弹簧腔的一侧壁与所述检测腔的一侧壁之间滑动连接有T型块，每个所述T型块远离所述检测腔的一侧面与所述弹簧腔远离所述检测腔的一侧壁之间连接有紧压弹簧，每个所述T型块靠近所述检测腔的一侧面固设有用于对存储器进行检测的检测器，所述检测器与所述分选电机之间连接有第一传动电线；
每个所述弹簧腔远离所述检测腔的一侧左右对称设有两个侧移腔，每个所述侧移腔下侧设有锥齿轮腔，两个所述锥齿轮腔后侧壁设有连通所述锥齿轮腔的后侧腔，所述后侧腔与所述侧移腔之间设有传动机构，所述分选腔左右两侧对称设有收集腔，每个所述收集腔与所述分选腔之间连通有连通腔，每个所述收集腔前侧壁设有门板腔，每个所述收集腔底壁设有底侧腔，所述收集腔与所述门板腔之间设有收集机构。
作为优选，所述传动机构包括固定安装在所述T型块一侧面且与所述弹簧腔的一侧壁滑动连接的滑动板，所述滑动板进入所述侧移腔中且与对应的所述侧移腔的一侧壁滑动连接，每个所述滑动板上设有空腔，每个所述侧移腔上下侧壁滑动连接有可在所述空腔中滑动的侧移板，所述侧移板远离所述检测腔的一侧面与对应所述侧移腔的一侧壁之间连接有复位弹簧，所述后侧腔的后侧壁固设有传动电机，所述传动电机与所述检测器之间连接有第二传动电线，所述传动电机前侧动力连接有与左侧所述锥齿轮腔前侧壁转动连接的电机轴，所述后侧腔后侧壁与右侧所述锥齿轮腔前侧壁之间转动连接有与所述电机轴对应的副轴，所述副轴与所述电机轴在所述后侧腔内左右对称固设有带轮，两个所述带轮之间连接有皮带，所述电机轴与所述副轴前侧左右对称固设有第一锥齿轮，每个所述侧移腔上下侧壁转动连接有锥齿轮轴，每个所述锥齿轮轴向下延伸贯穿所述侧移腔的底壁进入到所述锥齿轮腔中且与所述锥齿轮腔的顶壁转动连接，每个所述锥齿轮轴下侧固设有与所述第一锥齿轮相啮合的第二锥齿轮，每个所述锥齿轮轴在所述侧移腔中固设有与所述侧移板抵接的偏心轮。
作为优选，所述收集机构包括滑动连接在所述底侧腔中且与所述收集腔内壁滑动连接的收集板，每个所述收集板地面与所述底侧腔底壁之间连接有支撑弹簧，每个所述收集板下侧固设有电源器，每个所述底侧腔一侧壁固设有与所述电源器相对应的鸣笛器，每个所述收集板上侧固设有滚轮腔，每个滚轮腔左右侧壁转动连接有滚轮轴，每个所述滚轮轴上固设有滚轮，所述滚轮上侧放置有用于收集存储器的收集箱，所述门板腔前后侧壁转动连接有门板轴，所述门板轴上固设有门板。
作为优选，将半导体放置在两个所述检测器之间后，所述T型块、所述滑动板的位移距离不会影响所述侧移板，所述偏心轮推动所述侧移板的位移距离较大。
综上所述，本发明有益效果是：本装置通过检测装置对半导体存储器进行检测，颠覆了传统的插入检测器进行检测的方式，降低了工作强度，相对于传统的对半导体检测后人工取下分类的方式，本装置在对半导体存储器进行检测后直接对半导体存储器进行分类，分类后在收集到一定数量后自动提示工作人员进行更换收集箱，大大降低了工作时间，提升了工作效率，值得推广。
附图说明
为了更清楚地说明发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明一种便捷型半导体存储器检测装置整体全剖的主视结构示意图；
图2为本发明图1中电机轴后侧部分剖视图；
图3为本发明图1中A处的放大图；
图4为本发明图1中B-B方向的剖视图；
图5为本发明图1中C-C方向的剖视图；
图6为本发明图2中D-D方向的剖视图；
图7为本发明图1中偏心轮的主视图。
具体实施方式
本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥的特征和步骤以外，均可以以任何方式组合。
本说明书（包括任何附加权利要求、摘要和附图）中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。
下面结合图1-7对本发明进行详细说明，为叙述方便，现对下文所说的方位规定如下：下文所说的上下左右前后方向与图1本身投影关系的上下左右前后方向一致。
请参阅图1-7，本发明提供的一种实施例：一种便捷型半导体存储器检测装置,包括机体20，所述机体20中设有检测腔36，所述检测腔36底壁设有分选腔54，所述分选腔54底壁设有齿轮腔53，所述齿轮腔53底壁左右对称设有对称腔49，所述检测腔36左右侧壁对称设有弹簧腔33，所述弹簧腔33与所述分选腔54之间设有对半导体存储器进行检测的检测机构101，所述检测机构101包括滑动连接在所述分选腔54内壁的圆板55，所述圆板55下侧面左右对称铰接有与所述对称腔49滑动连接的铰接板50，所述齿轮腔53后侧固定安装有分选电机62，所述分选电机62左侧动力连接有与所述齿轮腔53前侧壁转动连接的动力轴51，所述动力轴51上固设有与两个所述铰接板50相啮合的齿轮52，每个所述弹簧腔33的一侧壁与所述检测腔36的一侧壁之间滑动连接有T型块34，每个所述T型块34远离所述检测腔36的一侧面与所述弹簧腔33远离所述检测腔36的一侧壁之间连接有紧压弹簧32，每个所述T型块34靠近所述检测腔36的一侧面固设有用于对存储器进行检测的检测器37，所述检测器37与所述分选电机62之间连接有第一传动电线38，每个所述弹簧腔33远离所述检测腔36的一侧左右对称设有两个侧移腔26，每个所述侧移腔26下侧设有锥齿轮腔21，两个所述锥齿轮腔21后侧壁设有连通所述锥齿轮腔21的后侧腔58，所述后侧腔58与所述侧移腔26之间设有传动机构102，所述分选腔54左右两侧对称设有收集腔40，每个所述收集腔40与所述分选腔54之间连通有连通腔48，每个所述收集腔40前侧壁设有门板腔63，每个所述收集腔40底壁设有底侧腔45，所述收集腔40与所述门板腔63之间设有收集机构103。
另外，在一个实施例中，所述传动机构102包括固定安装在所述T型块34一侧面且与所述弹簧腔33的一侧壁滑动连接的滑动板30，所述滑动板30进入所述侧移腔26中且与对应的所述侧移腔26的一侧壁滑动连接，每个所述滑动板30上设有空腔29，每个所述侧移腔26上下侧壁滑动连接有可在所述空腔29中滑动的侧移板27，所述侧移板27远离所述检测腔36的一侧面与对应所述侧移腔26的一侧壁之间连接有复位弹簧25，所述后侧腔58的后侧壁固设有传动电机56，所述传动电机56与所述检测器37之间连接有第二传动电线35，所述传动电机56前侧动力连接有与左侧所述锥齿轮腔21前侧壁转动连接的电机轴23，所述后侧腔58后侧壁与右侧所述锥齿轮腔21前侧壁之间转动连接有与所述电机轴23对应的副轴39，所述副轴39与所述电机轴23在所述后侧腔58内左右对称固设有带轮66，两个所述带轮66之间连接有皮带57，所述电机轴23与所述副轴39前侧左右对称固设有第一锥齿轮22，每个所述侧移腔26上下侧壁转动连接有锥齿轮轴31，每个所述锥齿轮轴31向下延伸贯穿所述侧移腔26的底壁进入到所述锥齿轮腔21中且与所述锥齿轮腔21的顶壁转动连接，每个所述锥齿轮轴31下侧固设有与所述第一锥齿轮22相啮合的第二锥齿轮24，每个所述锥齿轮轴31在所述侧移腔26中固设有与所述侧移板27抵接的偏心轮28，在检测结束后，所述检测器37通过所述第二传动电线35带动所述传动电机56工作，从而带动所述电机轴23转动，进而带动所述带轮66、所述副轴39转动，接着带动所述第一锥齿轮22、所述第二锥齿轮24转动，从而带动所述偏心轮28转动，进而推动所述侧移板27向远离所述检测腔36的一侧移动，从而带动所述滑动板30、所述T型块34向远离所述检测腔36的一侧移动，进而放开夹在两个所述检测器37之间的半导体存储器，从而掉到所述圆板55上进行区分。
另外，在一个实施例中，所述收集机构103包括滑动连接在所述底侧腔45中且与所述收集腔40内壁滑动连接的收集板47，每个所述收集板47地面与所述底侧腔45底壁之间连接有支撑弹簧46，每个所述收集板47下侧固设有电源器43，每个所述底侧腔45一侧壁固设有与所述电源器43相对应的鸣笛器44，每个所述收集板47上侧固设有滚轮腔59，每个滚轮腔59左右侧壁转动连接有滚轮轴60，每个所述滚轮轴60上固设有滚轮61，所述滚轮61上侧放置有用于收集存储器的收集箱41，所述门板腔63前后侧壁转动连接有门板轴64，所述门板轴64上固设有门板65，在对半导体存储器进行收集过程中，存储器自身的重力将所述收集箱41、所述收集板47下压，从而所述电源器43与所述鸣笛器44重合从而为所述鸣笛器44供电，接着所述鸣笛器44鸣笛提醒工作人员进行更换所述收集箱41，接着工作人员打开所述门板65，将所述滚轮61上的收集箱41取出。
另外，在一个实施例中，将半导体放置在两个所述检测器37之间后，所述T型块34、所述滑动板30的位移距离不会影响所述侧移板27，所述偏心轮28推动所述侧移板27的位移距离较大，从而能够带动所述滑动板30移动。
当需要对半导体存储器进行质量检测时，工作人员将半导体存储器夹在两个检测器37之间，检测器37对其进行检测，检测结束后，检测器37通过第二传动电线35带动传动电机56工作，从而带动电机轴23转动，进而带动带轮66、副轴39转动，接着带动第一锥齿轮22、第二锥齿轮24转动，从而带动偏心轮28转动，进而推动侧移板27向远离检测腔36的一侧移动，从而带动滑动板30、T型块34向远离检测腔36的一侧移动，进而放开夹在两个检测器37之间的半导体存储器，从而掉到圆板55上进行区分；
如若半导体存储器合格，检测器37通过第一传动电线38控制分选电机62正转，从而带动动力轴51顺时针转动，由此带动右侧铰接板50下滑，左侧铰接板50上移，从而带动圆板55右侧变低而将圆板55上的存储器滑落到右侧收集箱41中，如若半导体存储器不合格，检测器37通过第一传动电线38控制分选电机62反转，从而带动动力轴51逆时针转动，由此带动左侧铰接板50下滑，右侧铰接板50上移，从而带动圆板55左侧变低而将圆板55上的存储器滑落到左侧收集箱41中，在对半导体存储器进行收集过程中，存储器自身的重力将收集箱41、收集板47下压，从而电源器43与鸣笛器44重合从而为鸣笛器44供电，接着鸣笛器44鸣笛提醒工作人员进行更换收集箱41，接着工作人员打开门板65，将滚轮61上的收集箱41取出。
本发明的有益效果是：本装置通过检测装置对半导体存储器进行检测，颠覆了传统的插入检测器进行检测的方式，降低了工作强度，相对于传统的对半导体检测后人工取下分类的方式，本装置在对半导体存储器进行检测后直接对半导体存储器进行分类，分类后在收集到一定数量后自动提示工作人员进行更换收集箱，大大降低了工作时间，提升了工作效率，值得推广。
以上所述，仅为发明的具体实施方式，但发明的保护范围并不局限于此，任何不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在发明的保护范围之内。因此，发明的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。
Claims (4)
1.一种便捷型半导体存储器检测装置，包括机体,其特征在于：所述机体中设有检测腔，所述检测腔底壁设有分选腔，所述分选腔底壁设有齿轮腔，所述齿轮腔底壁左右对称设有对称腔，所述检测腔左右侧壁对称设有弹簧腔，所述弹簧腔与所述分选腔之间设有对半导体存储器进行检测的检测机构；所述检测机构包括滑动连接在所述分选腔内壁的圆板，所述圆板下侧面左右对称铰接有与所述对称腔滑动连接的铰接板，所述齿轮腔后侧固定安装有分选电机，所述分选电机左侧动力连接有与所述齿轮腔前侧壁转动连接的动力轴，所述动力轴上固设有与两个所述铰接板相啮合的齿轮，每个所述弹簧腔的一侧壁与所述检测腔的一侧壁之间滑动连接有T型块，每个所述T型块远离所述检测腔的一侧面与所述弹簧腔远离所述检测腔的一侧壁之间连接有紧压弹簧，每个所述T型块靠近所述检测腔的一侧面固设有用于对存储器进行检测的检测器，所述检测器与所述分选电机之间连接有第一传动电线；每个所述弹簧腔远离所述检测腔的一侧左右对称设有两个侧移腔，每个所述侧移腔下侧设有锥齿轮腔，两个所述锥齿轮腔后侧壁设有连通所述锥齿轮腔的后侧腔，所述后侧腔与所述侧移腔之间设有传动机构，所述分选腔左右两侧对称设有收集腔，每个所述收集腔与所述分选腔之间连通有连通腔，每个所述收集腔前侧壁设有门板腔，每个所述收集腔底壁设有底侧腔，所述收集腔与所述门板腔之间设有收集机构。
2.根据权利要求1所述的一种便捷型半导体存储器检测装置，其特征在于：所述传动机构包括固定安装在所述T型块一侧面且与所述弹簧腔的一侧壁滑动连接的滑动板，所述滑动板进入所述侧移腔中且与对应的所述侧移腔的一侧壁滑动连接，每个所述滑动板上设有空腔，每个所述侧移腔上下侧壁滑动连接有可在所述空腔中滑动的侧移板，所述侧移板远离所述检测腔的一侧面与对应所述侧移腔的一侧壁之间连接有复位弹簧，所述后侧腔的后侧壁固设有传动电机，所述传动电机与所述检测器之间连接有第二传动电线，所述传动电机前侧动力连接有与左侧所述锥齿轮腔前侧壁转动连接的电机轴，所述后侧腔后侧壁与右侧所述锥齿轮腔前侧壁之间转动连接有与所述电机轴对应的副轴，所述副轴与所述电机轴在所述后侧腔内左右对称固设有带轮，两个所述带轮之间连接有皮带，所述电机轴与所述副轴前侧左右对称固设有第一锥齿轮，每个所述侧移腔上下侧壁转动连接有锥齿轮轴，每个所述锥齿轮轴向下延伸贯穿所述侧移腔的底壁进入到所述锥齿轮腔中且与所述锥齿轮腔的顶壁转动连接，每个所述锥齿轮轴下侧固设有与所述第一锥齿轮相啮合的第二锥齿轮，每个所述锥齿轮轴在所述侧移腔中固设有与所述侧移板抵接的偏心轮。
3.根据权利要求1所述的一种便捷型半导体存储器检测装置，其特征在于：所述收集机构包括滑动连接在所述底侧腔中且与所述收集腔内壁滑动连接的收集板，每个所述收集板地面与所述底侧腔底壁之间连接有支撑弹簧，每个所述收集板下侧固设有电源器，每个所述底侧腔一侧壁固设有与所述电源器相对应的鸣笛器，每个所述收集板上侧固设有滚轮腔，每个滚轮腔左右侧壁转动连接有滚轮轴，每个所述滚轮轴上固设有滚轮，所述滚轮上侧放置有用于收集存储器的收集箱，所述门板腔前后侧壁转动连接有门板轴，所述门板轴上固设有门板。
4.根据权利要求2所述的一种便捷型半导体存储器检测装置，其特征在于：将半导体放置在两个所述检测器之间后，所述T型块、所述滑动板的位移距离不会影响所述侧移板，所述偏心轮推动所述侧移板的位移距离较大。
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