CN110716830B - 一种压测机选择方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种压测机选择方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：针对每台未被占用的压测机，根据基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定的第一线程并发影响因子，及该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数；根据所述线程并发影响系数、所述基准压测机对应所述基准业务的基准线程并发数及所述服务端对应的响应时间，确定该压测机对应的吞吐量；根据对所述服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合。用以提供一种能保证对服务端的测试需求的压测机选择方案。

Description

一种压测机选择方法、装置、电子设备及存储介质
技术领域
本发明涉及数据处理技术领域，尤其涉及一种压测机选择方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
随着互联网的蓬勃发展，网络用户的数量呈现指数增长，为用户提供数据服务的服务端，也称服务器端，面临着越来越大的负载压力，过大的负载压力可能会导致服务端出现响应迟缓、宕机等情况，严重影响用户的体验。因此对服务端的性能进行测试，确定服务端所能承载的最大负荷，定位服务端的性能瓶颈，以保证每个用户的用户体验，成为一个重要的问题。
现有技术在对服务端进行测试时，通常采用性能下降曲线分析法，通过识别性能拐点，为服务端性能瓶颈的确定和调优提供依据。然而现有技术在选择对服务端进行测试的压测机时，通常是根据经验选择一台或多台压测机模拟用户并发对服务端进行测试，很容易出现选择的压测机的性能不能满足对服务端进行测试的需求的情况，因此急需一种压测机选择方案，用以保证选择的压测机能够满足对服务端进行测试的需求。
发明内容
本发明提供一种压测机选择方法、装置、电子设备及存储介质，用以解决现有技术中存在选择的压测机的性能不能满足对服务端进行测试的需求的问题。
第一方面，本发明公开了一种压测机选择方法，所述方法包括：
根据基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定第一线程并发影响因子；
针对每台未被占用的压测机，根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子；根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数；根据所述线程并发影响系数及所述基准压测机对应所述基准业务的基准线程并发数，确定该压测机对应所述被测业务的线程并发数，并根据所述线程并发数与所述服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量；
根据对所述服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，并选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合，其中每个所述压测机候选组合中包括至少一台未被占用的压测机。
采用本发明的压测机选择方法，充分的考虑到服务端被测业务复杂度与压测机硬件性能对压测机吞吐量的影响，并根据对服务端测试需求的目标吞吐量，确定满足目标吞吐量的压测机候选组合，保证了选取的压测机满足对服务端的测试需求，进而保证了对服务端测试的效果。
可选的，所述选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合包括：
选取对应总吞吐量最小的压测机候选组合作为选定的压测机组合。
通过该可选方式，能够避免选择的压测机性能过剩，造成压测机的资源浪费，提高压测机资源的利用率。
可选的，所述根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子包括：
根据该压测机的CPU的第一子硬件性能值与所述基准压测机的CPU的第一子硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第一子线程并发影响因子；根据该压测机的内存的第二子硬件性能值与所述基准压测机的内存的第二子硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二子线程并发影响因子；
根据所述第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子。
可选的，所述根据所述第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子包括：
根据所述第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，及预先设定的第一子线程并发影响因子权重系数和第二子线程并发影响因子权重系数，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子。
可选的，所述根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数包括：
根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，及预先设定的第一线程并发影响因子权重系数和第二线程并发影响因子权重系数，确定该压测机对应的线程并发影响系数。
通过上述可选方式，能够进一步保证对压测机选择的准确性。
可选的，所述确定所有满足所述目标吞吐量的压测机候选组合之后，选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合之前，所述方法还包括：
判断满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量是否不小于1个；
如果是，进行后续步骤。
可选的，如果满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量小于1个，所述方法还包括：
等待被占用的压测机被释放，并在存在被占用的压测机被释放时，确定被释放的压测机对应的吞吐量，并重新确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，直至满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量不小于1个时，进行后续选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合的步骤。
可选的，所述方法还包括：
选择任意一台未处于所述选定的压测机组合中的未被占用的压测机，作为代理机对所述选定的压测机组合中的压测机的测试结果进行汇总计算。
通过上述可选方式，能够进一步提高对压测机选择的成功率。
第二方面，本发明公开了一种压测机选择装置，所述装置包括：
第一确定模块，用于根据基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定第一线程并发影响因子；
第二确定模块，用于针对每台未被占用的压测机，根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子；根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数；根据所述线程并发影响系数及所述基准压测机对应所述基准业务的基准线程并发数，确定该压测机对应所述被测业务的线程并发数，并根据所述线程并发数与所述服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量；
第一选择模块，用于根据对所述服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，并选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合，其中每个所述压测机候选组合中包括至少一台未被占用的压测机。
第三方面，本发明公开了一种电子设备，包括：存储器和处理器；
所述处理器，用于读取存储器中的程序，执行下列过程：根据基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定第一线程并发影响因子；针对每台未被占用的压测机，根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子；根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数；根据所述线程并发影响系数及所述基准压测机对应所述基准业务的基准线程并发数，确定该压测机对应所述被测业务的线程并发数，并根据所述线程并发数与所述服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量；根据对所述服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，并选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合，其中每个所述压测机候选组合中包括至少一台未被占用的压测机。
可选的，所述处理器，具体用于选取对应总吞吐量最小的压测机候选组合作为选定的压测机组合。
可选的，所述处理器，具体用于根据该压测机的CPU的第一子硬件性能值与所述基准压测机的CPU的第一子硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第一子线程并发影响因子；根据该压测机的内存的第二子硬件性能值与所述基准压测机的内存的第二子硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二子线程并发影响因子；根据所述第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子。
可选的，所述处理器，具体用于根据所述第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，及预先设定的第一子线程并发影响因子权重系数和第二子线程并发影响因子权重系数，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子。
可选的，所述处理器，具体用于根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，及预先设定的第一线程并发影响因子权重系数和第二线程并发影响因子权重系数，确定该压测机对应的线程并发影响系数。
可选的，所述处理器，还用于判断满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量是否不小于1个；如果判断结果为是，进行选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合的步骤。
可选的，所述处理器，还用于如果满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量小于1个，等待被占用的压测机被释放，并在存在被占用的压测机被释放时，确定被释放的压测机对应的吞吐量，并重新确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，直至满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量不小于1个时，进行后续选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合的步骤。
可选的，所述处理器，还用于选择任意一台未处于所述选定的压测机组合中的未被占用的压测机，作为代理机对所述选定的压测机组合中的压测机的测试结果进行汇总计算。
第四方面，本发明公开了一种电子设备，包括：处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；
所述存储器中存储有计算机程序，当所述程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行上述任一项所述方法的步骤。
第五方面，本发明公开了一种计算机可读存储介质，其存储有可由电子设备执行的计算机程序，当所述程序在所述电子设备上运行时，使得所述电子设备执行上述任一项所述方法的步骤。
本发明公开了一种压测机选择方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：根据基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定第一线程并发影响因子；针对每台未被占用的压测机，根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子；根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数；根据所述线程并发影响系数及所述基准压测机对应所述基准业务的基准线程并发数，确定该压测机对应所述被测业务的线程并发数，并根据所述线程并发数与所述服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量；根据对所述服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，并选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合，其中每个所述压测机候选组合中包括至少一台未被占用的压测机。由于在本发明实施例中，针对每台未被占用的压测机，根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定的该压测机对应的第二压测影响因子、基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定的第一线程并发影响因子、及基准压测机对应基准业务的基准线程并发数，确定该压测机对应被测业务的线程并发数，并根据线程并发数与服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量，进而根据服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定所有满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，并选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合，充分的考虑到了服务端被测业务复杂度和压测机的硬件性能对压测机对应的吞吐量的影响，并根据服务端测试需求的目标吞吐量进行压测机组合的选择，保证了选择的压测机能满足服务端的测试的需求，进而保证了对服务端测试的效果。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种压测机选择过程示意图；
图2为本发明实施例提供的一种压测机选择过程示意图；
图3为本发明实施例提供的一种压测机选择装置结构示意图；
图4为本发明实施例提供的一种电子设备示意图；
图5为本发明实施例提供的一种电子设备示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图本发明作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例1：
图1为本发明实施例提供的一种压测机选择过程示意图，该过程包括：
S101：根据基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定第一线程并发影响因子。
本发明实施例提供的压测机选择方法应用于电子设备，该电子设备可以是平板电脑、个人电脑等设备，也可以是服务器等设备。
在本发明实施例中，预先设置有基准业务和基准压测机，其中，基准业务可以是单接口、无复杂的控制器及监听器、业务简单无加解密等复杂逻辑的测试业务，基准压测机可以是一台CPU为4核、主频为2.3GHz、内存为8G的压测机，并且在电子设备中预先保存有基准业务复杂度和基准压测机的硬件的参数，较佳的，在电子设备中也可以直接保存有基准压测机的硬件性能值。
具体的，在进行压测机选择时，用户将服务端被测业务复杂度输入至电子设备，电子设备根据基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定第一线程并发影响因子，例如：基准业务复杂度为1、服务端被测业务复杂度为2，确定第一线程并发影响因子为0.5。
S102：针对每台未被占用的压测机，根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子；根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数。
在本发明实施例中，每台压测机的硬件性能值可以是用户预先根据压测机CPU、内存等硬件的参数确定并保存在电子设备中的，也可以是电子设备根据压测机的CPU、内存等硬件的参数，利用硬件性能评分软件确定的，如：根据压测机的CPU的核心数目、线程数、主频等参数、内存的容量大小等参数，及压测机其它硬件的参数，采用鲁大师等硬件性能评分软件，确定压测机的硬件性能值，不再进行赘述。
电子设备确定每台未被占用的压测机对应的第二线程并发影响因子后，针对每台未被占用的压测机，根据第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数。具体的，电子设备可以将第一线程并发影响因子与该压测机对应的第二线程并发影响因子的积，作为该压测机对应的线程并发影响系数，也可以将第一线程并发影响因子与该压测机对应的第二线程并发影响因子的平均数，作为该压测机对应的线程并发影响系数。
较佳的，为了保证确定的每台压测机对应的线程并发影响系数的准确性，所述根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数包括：
根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，及预先设定的第一线程并发影响因子权重系数和第二线程并发影响因子权重系数，确定该压测机对应的线程并发影响系数。
具体的，在本发明实施例中，针对第一线程并发影响因子和压测机对应的第二线程并发影响因子，还可以预先设定有第一线程并发影响因子权重系数和第二线程并发影响因子权重系数，在确定压测机对应的线程并发影响系数时，具体根据第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，及预先设定的第一线程并发影响因子权重系数和第二线程并发影响因子权重系数，确定该压测机对应的线程并发影响系数。例如：第一线程并发影响因子为0.5，压测机M1对应的第二线程并发影响因子为1，预先设定的第一线程并发影响因子权重系数为0.3，第二线程并发影响因子权重系数为0.7，确定压测机M1对应的线程并发影响系数为0.85。
S103：针对每台未被占用的压测机，根据该压测机对应的线程并发影响系数及所述基准压测机对应所述基准业务的基准线程并发数，确定该压测机对应所述被测业务的线程并发数，并根据所述线程并发数与所述服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量。
在电子设备中还预先保存有基准压测机对应基准业务的基准线程并发数，及服务端对应的响应时间，其中所述响应时间为服务端对用户发出的请求进行响应所需的时间。例如：服务端对应的响应时间Ts，1个线程在1s内能发出的请求数为1/T，压测机中1个线程对应的吞吐量为1/T。
因压测机的线程并发数，受被测业务的复杂度和压测机硬件性能的影响，在本发明实施例中，电子设备确定每台未被占用的压测机对应的线程并发影响系数后，根据该线程并发影响系数和基准压测机对应基准业务的基准线程并发数的积，确定该压测机对应被测业务的线程并发数，并根据该线程并发数与服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量。
S104：根据对所述服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，并选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合，其中每个所述压测机候选组合中包括至少一台未被占用的压测机。
较佳的，为了防止选择的压测机性能过剩，造成对压测机的资源浪费，较佳的，所述选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合包括：
选取对应总吞吐量最小的压测机候选组合作为选定的压测机组合。
具体的，各未被占用的压测机对应的吞吐量是已知的，服务端测试需求的目标吞吐量也是已知的，其中，服务端测试需求的目标吞吐量可以预先由用户输入至电子设备，因此在确定压测机候选组合时，可以根据构成压测机候选组合的未被占用的压测机对应的吞吐量之和是否大于或等于对服务端测试需求的目标吞吐量，选取满足目标吞吐量的压测机候选组合，并选取对应总吞吐量最小的压测机候选组合作为选定的压测机组合用于对服务端的性能进行测试。
另外，因压测机候选组合中包括的未被占用的压测机可以是一台，也可以是多台，在选定压测机组合时，电子设备还可以将未被占用的每台压测机，按照对应的吞吐量从大到小排序，根据对服务端测试需求的目标吞吐量，确定是否存在满足对服务端测试需求的目标吞吐量的单台压测机，并在不存在满足对服务端测试需求的目标吞吐量的单台压测机时，再确定是否存在两台及两台以上的未被占用的压测机组合满足对服务端测试需求的目标吞吐量。
例如：未被占用的压测机对应的吞吐量从小到大排序后依次为O1、O2…Op，对应的未被占用的压测机依次为M1、M2…Mp，根据公式Om＜TH＜＝Om+1(0＜＝m＜P-1)，其中当m为0时，Om为0，确定是否存在满足对服务端测试需求的目标吞吐量的单台压测机Mm+1、Mm+2…Mp，较佳的，在存在满足对服务端测试需求的目标吞吐量的单台压测机时，选择压测机Mm+1用于对服务端的性能进行测试，以避免对压测机资源的浪费。
此外，在确定选定的压测机组合后，电子设备将选择的压测机组合中的每台压测机标记为已被占用。
由于在本发明实施例中，针对每台未被占用的压测机，根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定的该压测机对应的第二压测影响因子、基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定的第一线程并发影响因子、及基准压测机对应基准业务的基准线程并发数，确定该压测机对应被测业务的线程并发数，并根据线程并发数与服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量，进而根据服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定所有满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，并选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合，充分的考虑到了服务端被测业务复杂度和压测机的硬件性能对压测机对应的吞吐量的影响，并根据服务端测试需求的目标吞吐量进行压测机组合的选择，保证了选择的压测机能满足服务端的测试的需求，进而保证了对服务端测试的效果。
实施例2：
因硬件性能中CPU的性能和内存的性能对线程并发数的影响较大，在上述各实施例的基础上，在本发明实施例中，为了保证对压测机选择的准确性，所述根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子包括：
根据该压测机的CPU的第一子硬件性能值与所述基准压测机的CPU的第一子硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第一子线程并发影响因子；根据该压测机的内存的第二子硬件性能值与所述基准压测机的内存的第二子硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二子线程并发影响因子；
根据所述第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子。
在本发明实施例中，每台压测机的CPU的第一子硬件性能值和内存的第二子硬件性能值可以是用户预先根据压测机CPU、内存等硬件的参数确定并保存在电子设备中的，也可以是电子设备根据压测机的CPU、内存等硬件的参数，利用硬件性能评分软件确定的，如：根据压测机的CPU的核心数目、线程数、主频等参数采用鲁大师等硬件性能评分软件，确定压测机的CPU的第一子硬件性能值。
具体的，电子设备可以将压测机对应的第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子的积，作为该压测机对应的第二线程并发影响因子；也可以将第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子的平均数，作为该压测机对应的第二线程并发影响因子。
较佳的，为了保证确定的每台压测机对应的第二线程并发影响因子的准确性，所述根据所述第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子包括：
根据所述第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，及预先设定的第一子线程并发影响因子权重系数和第二子线程并发影响因子权重系数，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子。
具体的，在本发明实施例中，针对第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，还可以预先设定有第一子线程并发影响因子权重系数和第二子线程并发影响因子权重系数，在确定压测机对应的第二线程并发影响因子时，具体根据第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，及预先设定的第一子线程并发影响因子权重系数和第二子线程并发影响因子权重系数，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子。例如：可以预先设定第一子线程并发影响因子权重系数为0.5、第二子线程并发影响因子权重系数为0.5；也可以预先设定第一子线程并发影响因子权重系数为0.6、第二子线程并发影响因子权重系数为0.4，具体的，第一子线程并发影响因子权重系数和第二子线程并发影响因子权重系数，可以根据压测机CPU和内存对压测机线程并发数的影响来进行确定或调整。
实施例3：
为了保证选定的压测机能够满足对服务端测试的需求，在上述各实施例的基础上，在本发明实施例中，所述确定所有满足所述目标吞吐量的压测机候选组合之后，选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合之前，所述方法还包括：
判断满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量是否不小于1个；
如果是，进行后续步骤。
如果满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量小于1个，所述方法还包括：
等待被占用的压测机被释放，并在存在被占用的压测机被释放时，确定被释放的压测机对应的吞吐量，并重新确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，直至满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量不小于1个时，进行后续选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合的步骤。
具体的，在确定所有满足目标吞吐量的压测机候选组合之后，电子设备判断满足目标吞吐量的压测机候选组合的数量是否不小于1个，如果是，则说明当前存在能满足对服务端测试的需求的压测机组合，电子设备选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合，如果否，则说明当前不存在能满足对服务端测试的需求的压测机组合，电子设备等待被占用的压测机被释放，并在存在被占用的压测机被释放时，确定被释放的压测机对应的吞吐量，并重新确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，直至满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量不小于1个时，选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合。较佳的，选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合为选取对应总吞吐量最小的压测机候选组合作为选定的压测机组合。
此外，如果选定的压测机组合中包含两台及两台以上的压测机对服务端进行分布式测试，为了便于对服务端测试结果的获知，所述方法还包括：
选择任意一台未处于所述选定的压测机组合中的未被占用的压测机，作为代理机对所述选定的压测机组合中的压测机的测试结果进行汇总计算。
图2为本发明实施例提供的一种压测机选择过程示意图，该过程包括：
S201：根据基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定第一线程并发影响因子。
S202：针对每台未被占用的压测机，根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子；根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数。
S203：针对每台未被占用的压测机，根据该压测机对应的线程并发影响系数及所述基准压测机对应所述基准业务的基准线程并发数，确定该压测机对应所述被测业务的线程并发数，并根据所述线程并发数与所述服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量。
S204：根据对所述服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合。
S205：判断满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量是否不小于1个，如果是，进行S207，如果否，进行S206。
S206：等待被占用的压测机被释放，并在存在被占用的压测机被释放时，确定被释放的压测机对应的吞吐量，并重新确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，直至满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量不小于1个。
S207：选取对应总吞吐量最小的压测机候选组合作为选定的压测机组合。
实施例4：
图3为本发明实施例提供的一种压测机选择装置结构示意图，该装置包括：
第一确定模块31，用于根据基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定第一线程并发影响因子；
第二确定模块32，用于针对每台未被占用的压测机，根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子；根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数；根据所述线程并发影响系数及所述基准压测机对应所述基准业务的基准线程并发数，确定该压测机对应所述被测业务的线程并发数，并根据所述线程并发数与所述服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量；
第一选择模块33，用于根据对所述服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，并选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合，其中每个所述压测机候选组合中包括至少一台未被占用的压测机。
所述第一选择模块33，具体用于选取对应总吞吐量最小的压测机候选组合作为选定的压测机组合。
所述第二确定模块32，具体用于根据该压测机的CPU的第一子硬件性能值与所述基准压测机的CPU的第一子硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第一子线程并发影响因子；根据该压测机的内存的第二子硬件性能值与所述基准压测机的内存的第二子硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二子线程并发影响因子；根据所述第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子。
所述第二确定模块32，具体用于根据所述第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，及预先设定的第一子线程并发影响因子权重系数和第二子线程并发影响因子权重系数，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子。
所述第二确定模块32，具体用于根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，及预先设定的第一线程并发影响因子权重系数和第二线程并发影响因子权重系数，确定该压测机对应的线程并发影响系数。
所述装置还包括：
判断模块34，用于判断满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量是否不小于1个；如果判断结果为是，进行选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合的步骤；如果判断结果为否，触发更新模块35。
更新模块35，用于等待被占用的压测机被释放，并在存在被占用的压测机被释放时，确定被释放的压测机对应的吞吐量，并重新确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，直至满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量不小于1个时，进行后续选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合的步骤。
所述装置还包括：
第二选择模块36，用于选择任意一台未处于所述选定的压测机组合中的未被占用的压测机，作为代理机对所述选定的压测机组合中的压测机的测试结果进行汇总计算。
实施例5：
基于同一发明构思，本发明实施例中还提供了一种电子设备，由于上述电子设备解决问题的原理与压测机选择方法相似，因此上述电子设备的实施可以参见方法的实施，重复之处不再赘述。
如图4所示，其为本发明实施例提供的电子设备的结构示意图，其中在图4中，总线架构可以包括任意数量的互联的总线和桥，具体有处理器41代表的一个或多个处理器41和存储器42代表的存储器42的各种电路链接在一起。总线架构还可以将诸如外围设备、稳压器和功率管理电路等之类的各种其他电路链接在一起，这些都是本领域所公知的，因此，本文不再对其进行进一步描述。总线接口提供接口。处理器41负责管理总线架构和通常的处理，存储器42可以存储处理器41在执行操作时所使用的数据。
在本发明实施例提供的电子设备中：
所述处理器41，用于读取存储器42中的程序，执行下列过程：根据基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定第一线程并发影响因子；针对每台未被占用的压测机，根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子；根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数；根据所述线程并发影响系数及所述基准压测机对应所述基准业务的基准线程并发数，确定该压测机对应所述被测业务的线程并发数，并根据所述线程并发数与所述服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量；根据对所述服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，并选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合，其中每个所述压测机候选组合中包括至少一台未被占用的压测机。
优选地，所述处理器41，具体用于选取对应总吞吐量最小的压测机候选组合作为选定的压测机组合。
优选地，所述处理器41，具体用于根据该压测机的CPU的第一子硬件性能值与所述基准压测机的CPU的第一子硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第一子线程并发影响因子；根据该压测机的内存的第二子硬件性能值与所述基准压测机的内存的第二子硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二子线程并发影响因子；根据所述第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子。
优选地，所述处理器41，具体用于根据所述第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，及预先设定的第一子线程并发影响因子权重系数和第二子线程并发影响因子权重系数，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子。
优选地，所述处理器41，具体用于根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，及预先设定的第一线程并发影响因子权重系数和第二线程并发影响因子权重系数，确定该压测机对应的线程并发影响系数。
优选地，所述处理器41，还用于判断满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量是否不小于1个；如果判断结果为是，进行选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合的步骤。
优选地，所述处理器41，还用于如果满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量小于1个，等待被占用的压测机被释放，并在存在被占用的压测机被释放时，确定被释放的压测机对应的吞吐量，并重新确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，直至满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量不小于1个时，进行后续选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合的步骤。
优选地，所述处理器41，还用于选择任意一台未处于所述选定的压测机组合中的未被占用的压测机，作为代理机对所述选定的压测机组合中的压测机的测试结果进行汇总计算。
实施例6：
在上述各实施例的基础上，本发明实施例还提供了一种电子设备，如图5所示，包括：处理器51、通信接口52、存储器53和通信总线54，其中，处理器51，通信接口52，存储器53通过通信总线54完成相互间的通信；
所述存储器53中存储有计算机程序，当所述程序被所述处理器51执行时，使得所述处理器51执行以下步骤：
根据基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定第一线程并发影响因子；
针对每台未被占用的压测机，根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子；根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数；根据所述线程并发影响系数及所述基准压测机对应所述基准业务的基准线程并发数，确定该压测机对应所述被测业务的线程并发数，并根据所述线程并发数与所述服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量；
根据对所述服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，并选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合，其中每个所述压测机候选组合中包括至少一台未被占用的压测机。
实施例7：
在上述各实施例的基础上，本发明实施例还提供了一种计算机存储可读存储介质，所述计算机可读存储介质内存储有可由电子设备执行的计算机程序，当所述程序在所述电子设备上运行时，使得所述电子设备执行时实现如下步骤：
根据基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定第一线程并发影响因子；
针对每台未被占用的压测机，根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子；根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数；根据所述线程并发影响系数及所述基准压测机对应所述基准业务的基准线程并发数，确定该压测机对应所述被测业务的线程并发数，并根据所述线程并发数与所述服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量；
根据对所述服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，并选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合，其中每个所述压测机候选组合中包括至少一台未被占用的压测机。
本发明公开了一种压测机选择方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：根据基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定第一线程并发影响因子；针对每台未被占用的压测机，根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子；根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数；根据所述线程并发影响系数及所述基准压测机对应所述基准业务的基准线程并发数，确定该压测机对应所述被测业务的线程并发数，并根据所述线程并发数与所述服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量；根据对所述服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，并选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合，其中每个所述压测机候选组合中包括至少一台未被占用的压测机。由于在本发明实施例中，针对每台未被占用的压测机，根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定的该压测机对应的第二压测影响因子、基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定的第一线程并发影响因子、及基准压测机对应基准业务的基准线程并发数，确定该压测机对应被测业务的线程并发数，并根据线程并发数与服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量，进而根据服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定所有满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，并选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合，充分的考虑到了服务端被测业务复杂度和压测机的硬件性能对压测机对应的吞吐量的影响，并根据服务端测试需求的目标吞吐量进行压测机组合的选择，保证了选择的压测机能满足服务端的测试的需求，进而保证了对服务端测试的效果。
对于系统/装置实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本申请的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (17)

1.一种压测机选择方法，其特征在于，所述方法包括：
根据基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定第一线程并发影响因子；
针对每台未被占用的压测机，根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子；根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数；根据所述线程并发影响系数及所述基准压测机对应所述基准业务的基准线程并发数，确定该压测机对应所述被测业务的线程并发数，并根据所述线程并发数与所述服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量；
根据对所述服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，并选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合，其中每个所述压测机候选组合中包括至少一台未被占用的压测机；
其中，所述根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子包括：
根据该压测机的CPU的第一子硬件性能值与所述基准压测机的CPU的第一子硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第一子线程并发影响因子；根据该压测机的内存的第二子硬件性能值与所述基准压测机的内存的第二子硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二子线程并发影响因子；
根据所述第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合包括：
选取对应总吞吐量最小的压测机候选组合作为选定的压测机组合。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子包括：
根据所述第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，及预先设定的第一子线程并发影响因子权重系数和第二子线程并发影响因子权重系数，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数包括：
根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，及预先设定的第一线程并发影响因子权重系数和第二线程并发影响因子权重系数，确定该压测机对应的线程并发影响系数。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所有满足所述目标吞吐量的压测机候选组合之后，选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合之前，所述方法还包括：
判断满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量是否不小于1个；
如果是，进行后续步骤。
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，如果满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量小于1个，所述方法还包括：
等待被占用的压测机被释放，并在存在被占用的压测机被释放时，确定被释放的压测机对应的吞吐量，并重新确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，直至满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量不小于1个时，进行后续选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合的步骤。
7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
选择任意一台未处于所述选定的压测机组合中的未被占用的压测机，作为代理机对所述选定的压测机组合中的压测机的测试结果进行汇总计算。
8.一种压测机选择装置，其特征在于，所述装置包括：
第一确定模块，用于根据基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定第一线程并发影响因子；
第二确定模块，用于针对每台未被占用的压测机，根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子；根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数；根据所述线程并发影响系数及所述基准压测机对应所述基准业务的基准线程并发数，确定该压测机对应所述被测业务的线程并发数，并根据所述线程并发数与所述服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量；
第一选择模块，用于根据对所述服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，并选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合，其中每个所述压测机候选组合中包括至少一台未被占用的压测机；
其中，所述第二确定模块，具体用于根据该压测机的CPU的第一子硬件性能值与所述基准压测机的CPU的第一子硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第一子线程并发影响因子；根据该压测机的内存的第二子硬件性能值与所述基准压测机的内存的第二子硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二子线程并发影响因子；根据所述第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器和处理器；
所述处理器，用于读取存储器中的程序，执行下列过程：根据基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定第一线程并发影响因子；针对每台未被占用的压测机，根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子；根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数；根据所述线程并发影响系数及所述基准压测机对应所述基准业务的基准线程并发数，确定该压测机对应所述被测业务的线程并发数，并根据所述线程并发数与所述服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量；根据对所述服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，并选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合，其中每个所述压测机候选组合中包括至少一台未被占用的压测机；
其中，所述处理器，具体用于根据该压测机的CPU的第一子硬件性能值与所述基准压测机的CPU的第一子硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第一子线程并发影响因子；根据该压测机的内存的第二子硬件性能值与所述基准压测机的内存的第二子硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二子线程并发影响因子；根据所述第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子。
10.如权利要求9所述的电子设备，其特征在于，所述处理器，具体用于选取对应总吞吐量最小的压测机候选组合作为选定的压测机组合。
11.如权利要求9所述的电子设备，其特征在于，所述处理器，具体用于根据所述第一子线程并发影响因子和第二子线程并发影响因子，及预先设定的第一子线程并发影响因子权重系数和第二子线程并发影响因子权重系数，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子。
12.如权利要求9所述的电子设备，其特征在于，所述处理器，具体用于根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，及预先设定的第一线程并发影响因子权重系数和第二线程并发影响因子权重系数，确定该压测机对应的线程并发影响系数。
13.如权利要求9所述的电子设备，其特征在于，所述处理器，还用于判断满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量是否不小于1个；如果判断结果为是，进行选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合的步骤。
14.如权利要求13所述的电子设备，其特征在于，所述处理器，还用于如果满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量小于1个，等待被占用的压测机被释放，并在存在被占用的压测机被释放时，确定被释放的压测机对应的吞吐量，并重新确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，直至满足所述目标吞吐量的压测机候选组合的数量不小于1个时，进行后续选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合的步骤。
15.如权利要求9所述的电子设备，其特征在于，所述处理器，还用于选择任意一台未处于所述选定的压测机组合中的未被占用的压测机，作为代理机对所述选定的压测机组合中的压测机的测试结果进行汇总计算。
16.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；
所述存储器中存储有计算机程序，当所述程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行权利要求1-7任一项所述方法的步骤。
17.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其存储有可由电子设备执行的计算机程序，当所述程序在所述电子设备上运行时，使得所述电子设备执行权利要求1-7任一项所述方法的步骤。
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