CN110702616A - 玉米籽粒双表面高光谱检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及高光谱无损检测技术领域,公开了一种玉米籽粒双表面高光谱检测装置,包括支撑件、外转动件、内转动件和高光谱采集单元。外转动件可转动安装于支撑件顶部,内转动件可转动安装于外转动件,内转动件与外转动件的转动轴线相重合,外转动件带动内转动件转动。本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置,外转动件的第一挡板和第二挡板不但为玉米种子籽粒提供了两个表面检测的检测位,而且形成内转动件的转动空间,既能推动内转动件转动,又对内转动件的转动形成约束,以完成玉米种子籽粒的翻面。从而能够通过高光谱采集单元获取玉米籽粒包括胚面和非胚面两个表面的高光谱信息,更加准确反映出整粒玉米种子的真实情况。
Description
技术领域
本发明涉及高光谱无损检测技术领域,特别是涉及一种玉米籽粒双表面高光谱检测装置。
背景技术
高光谱图像是一个三维数据立方体,数据融合了成像技术和光谱技术的优点,将图像信息和光谱信息合二为一,在分析时既可以对某一区域进行光谱分析,又可以获取某一特征波段下的图像信息。高光谱技术能够对样本进行快速、无损检测,是农产品安全检测领域重要的检测手段之一。
玉米作物我国三大粮食作物之一,其产量影响着我国农业的发展和社会的稳定,而玉米种子质量对实现玉米增产目标至关重要。近年来,高光谱检测技术已被应用于各类谷物种子的品质安全检测中,检测对象包括化学成分、含水率、损伤、霉变、纯度、净度、生活力、种子活力等。为了提高在线分选的效率,玉米种子多采用漫反射扫描方式获取高光谱信息,这样可以大大缩短样本采集时间。但是常规线扫描方式只能获取玉米种子单表面的高光谱图像,而玉米种子的结构特征明显,胚面和非胚面中胚乳和胚的比例差异显著,获取单表面信息有时无法准确反映出整粒玉米种子的真实情况。
发明内容
本发明实施例提供一种玉米籽粒双表面高光谱检测装置,用以解决现有的玉米籽粒高光谱检测装置只能获取玉米种子单表面的高光谱图像,而玉米种子的结构特征明显,胚面和非胚面中胚乳和胚的比例差异显著,获取单表面信息有时无法准确反映出整粒玉米种子的真实情况的问题。
本发明实施例提供一种玉米籽粒双表面高光谱检测装置,包括支撑件、外转动件、内转动件和高光谱采集单元;
所述外转动件可转动安装于所述支撑件顶部,所述内转动件与所述外转动件为转动轴线重合的转动连接,所述外转动件带动所述内转动件转动;
所述外转动件包括第一挡板和第二挡板,所述第一挡板的一端和所述第二挡板的一端相连接,所述第一挡板和所述第二挡板相连接部位的夹角形成所述内转动件的转动空间,所述第一挡板的另一端设有第一面检测位,所述第二挡板的另一端设有第二面检测位;
所述内转动件设有用于容置待检测玉米种子籽粒的夹籽槽,所述夹籽槽包括第一槽壁和第二槽壁,所述第一槽壁和所述第二槽壁之间的槽宽大于所述籽粒的厚度,且小于所述籽粒的宽度;
所述内转动件在所述转动空间贴合于所述第一挡板一侧时,所述第一槽壁与所述第一面检测位平滑连接;所述内转动件在所述转动空间贴合与所述第二挡板一侧时,所述第二槽壁与所述第二面检测位平滑连接;
所述高光谱采集单元用于检测位于所述第一面检测位的所述籽粒和位于所述第二面检测位的所述籽粒。
本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置,外转动件的第一挡板和第二挡板不但为玉米种子籽粒提供了两个表面检测的检测位,而且通过两个挡板连接夹角形成内转动件的转动空间,既能推动内转动件转动,又对内转动件的转动形成约束,以通过内转动件的转动完成玉米种子籽粒的翻面。从而能够通过高光谱采集单元获取玉米籽粒包括胚面和非胚面两个表面的高光谱信息,以更加准确反映出整粒玉米种子的真实情况。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置内转动件结构示意图;
图2为本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置外转动件结构示意图;
图3为本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置内转动件和外转动件转动连接结构示意图;
图4为本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置支撑件结构示意图;
图5为本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置内转动件、外转动件和支撑件连接结构示意图;
图6为本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置结构示意图;
图7为本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置单籽粒进料单元出料状态示意图;
图8为本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置第一高光谱采集器检测状态示意图;
图9为本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置第二高光谱采集器检测状态示意图;
图10为本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置第一侧板和第二侧板左右等高状态示意图;
图11为本发明另一实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置第一侧板和第二侧板左右等高状态示意图;
图12为本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置分选卸料单元卸料状态示意图;
图13为本发明另一实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置分选卸料单元卸料状态示意图;
图14为本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置分选卸料单元非卸料状态示意图;
图15为本发明另一实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置分选卸料单元非卸料状态示意图;
图中:1、支撑件;2、外转动件;3、内转动件;4、第一挡板;5、第二挡板;6、转动空间;7、第一面检测位;8、第二面检测位;9、夹籽槽;10、第一槽壁;11、第二槽壁;12、第一侧板;13、第二侧板;14、第一高光谱采集器;15、第二高光谱采集器;16、单籽粒进料单元;17、卸料挡板;18、落粒箱。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明,但不用来限制本发明的范围。
在本发明的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以视具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
此外,在本发明的描述中,除非另有说明,“多个”、“多根”、“多组”的含义是两个或两个以上。
如图1-图5所示,本发明实施例提供了一种玉米籽粒双表面高光谱检测装置,包括支撑件1、外转动件2、内转动件3和高光谱采集单元。外转动件2可转动安装于支撑件1顶部,内转动件3可转动安装于外转动件2,内转动件3与外转动件2的转动轴线相重合,外转动件2带动内转动件3转动。
外转动件2包括第一挡板4和第二挡板5,第一挡板4的一端和第二挡板5的一端相连接,第一挡板4和第二挡板5相连接部位的夹角形成内转动件3的转动空间6,第一挡板4的另一端设有第一面检测位7,第二挡板5的另一端设有第二面检测位8;外转动件2的第一挡板4和第二挡板5不但为玉米种子籽粒提供了两个表面检测的检测位,而且通过夹角形成内转动件3的转动空间6,既能推动内转动件3转动,又对内转动件3的转动形成约束,以通过内转动件3的转动完成玉米种子籽粒的翻面。
具体来说,内转动件3设有用于容置待检测玉米种子籽粒的夹籽槽9,夹籽槽9包括第一槽壁10和第二槽壁11,第一槽壁10和第二槽壁11之间的槽宽大于玉米籽粒平躺时的厚度,且小于玉米籽粒的宽度,玉米种子籽粒在夹籽槽9内,一面朝向第一槽壁10,另一面朝向第二槽壁11,夹籽槽9对玉米种子籽粒形成夹置定位,确保籽粒在夹籽槽9内部不会翻转,并随着内转动件3的转动而转动。
玉米籽粒检测时,初始平躺于第一面检测位7,玉米籽粒的第一籽面贴合于第一面检测位7的支撑面,玉米籽粒的第二籽面朝外,高光谱采集单元可以完成对朝外的第二籽面的高光谱检测。此时,内转动件3在转动空间6内处于贴合于第一挡板4一侧,第一槽壁10与第一面检测位7平滑连接,外转动件2的转动能够使处于第一面检测位7的玉米籽粒能够平顺滑入内转动件3的夹籽槽9内。外转动件2通过第一挡板4推动内转动件3转动,当超过竖直平面位置后,内转动件3将相对于外转动件2发生转动,从转动空间6内第一挡板4一侧转向第二挡板5一侧。内转动件3在转动空间6贴合与第二挡板5一侧时,第二槽壁11与第二面检测位8平滑连接,外转动件2的继续转动能够使玉米籽粒从内转动件3的夹籽槽9内平顺滑出至第二挡板5的第二面检测位8。在第二面检测位8,玉米籽粒的第二籽面贴合于第二面检测位8的支撑面,玉米籽粒的第一籽面朝外,高光谱采集单元可以完成对朝外的第一籽面的高光谱检测。高光谱采集单元用于检测位于第一面检测位7的籽粒,获取朝外的第二籽面的高光谱信息;并检测位于第二面检测位8的籽粒,获取朝外的第一籽面高光谱信息,从而完成玉米籽粒的双表面高光谱检测。
因此,本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置,外转动件2的第一挡板4和第二挡板5不但为玉米种子籽粒提供了两个表面检测的检测位,而且通过两个挡板连接夹角形成内转动件3的转动空间6,既能推动内转动件3转动,又对内转动件3的转动形成约束,以通过内转动件3的转动完成玉米种子籽粒的翻面。从而能够通过高光谱采集单元获取玉米籽粒包括胚面和非胚面两个表面的高光谱信息,以更加准确反映出整粒玉米种子的真实情况。
本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置,如图6所示,还可以包括传送带。支撑件1、外转动件2和内转动件3构成翻面单元,将支撑件1安装于传送带上,并使内转动件3和外转动件2相重合的转动轴线平行于传送带的传送方向设置。传送带上可以每隔一定距离设置一个翻面单元,间距可以由传送速度、高光谱采集单元检测速度等因素决定。在传送带两侧设有侧边挡板,第一挡板4和第二挡板5相背离的外侧面分别与侧边挡板的顶边滑动连接,从而可以通过侧边挡板的顶边高度的变化带动外转动件2转动,进而通过传送带的传送完成对玉米籽粒的翻面和双面检测。
进一步地,本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置,侧边挡板可以包括设于传送带一侧的第一侧板12和设于传送带另一侧的第二侧板13,第一侧板12的顶边与第一挡板4滑动连接,第二侧板13的顶边与第二挡板5滑动连接。高光谱采集单元可以包括沿传送带传送方向间隔设置的第一高光谱采集器14和第二高光谱采集器15,第一高光谱采集器14设于传送带的第一侧板12一侧,第二高光谱采集器15设于传送带的第二侧板13一侧。在第一高光谱采集器14处,第一侧板12顶边的高度低于第二侧板13顶边的高度,使籽粒处于第一面检测位7;在第二高光谱检测器处,第二侧板13顶边的高度低于第一侧板12顶边的高度,使籽粒处于第二面检测位8。
具体来说,如图7-图11所示,第一侧板12和第二侧板13的相对高度可以具有三种状态:左低右高、左右等高和右低左高(以第一侧板12所在侧边方位为左,以第二侧板13所在侧边方位为右)。
左低右高状态时,第一侧板12顶边的高度低于第二侧板13顶板的高度,从而使外转动件2向第一侧板12侧倾斜,待观测的玉米籽粒平躺与第一面检测位7,玉米籽粒的第一籽面贴合于第一面检测位7的支撑面,玉米籽粒的第二籽面朝外,第一高光谱采集器14朝向第二籽面并可以完成对玉米籽粒第二籽面的高光谱检测。左低右高状态向右低左高状态过渡时,第一侧板12顶边高度相对第二侧板13顶边高度的升高将推动外转动件2转向第二侧板13侧转动,位于第一面检测位7的玉米籽粒将平顺滑入内转动件3的夹籽槽9。外转动件2通过第一挡板4推动内转动件3转动,当超过竖直平面位置后,内转动件3将相对于外转动件2发生转动,从转动空间6内第一挡板4侧转向第二挡板5侧。第一侧板12顶边和第二侧板13顶边高度的变化推动外转动件2继续转动,使玉米籽粒从内转动件3的夹籽槽9内平顺滑出至第二挡板5的第二面检测位8。右低左高状态时,第二侧板13顶边的高度低于第一侧板12顶板的高度,外转动件2向第二侧板13侧倾斜,待观测的玉米籽粒平躺与第二面检测位8,玉米籽粒的第二籽面贴合于第二面检测位8的支撑面,玉米籽粒的第一籽面朝外,第二高光谱采集器15朝向第一籽面并可以完成对玉米籽粒第一籽面的高光谱检测。左右等高时,第一侧板12顶边和第二侧板13顶边高度相同,外转动件2第一挡板4和第二挡板5夹角的开口方向向上,玉米籽粒位于内转动件3的夹籽槽9中。
进一步地,本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置,外转动件2的第一挡板4和第二挡板5可以是端部垂直连接的,从而为内转动件3的提供一个九十度角的转动空间6;外转动件2的转动幅度可以是180°,在左右等高状态时,外转动件2的第一挡板4和第二挡板5夹角的中线为竖直方向,夹角向上;在左低右高状态时,第一高光谱采集器14朝向第二籽面并可以完成对玉米籽粒第二籽面的高光谱检测,外转动件2的第一挡板4和第二挡板5夹角的中线为水平方向,夹角朝向第一侧板12侧;在右低左高状态时,第二高光谱采集器15朝向第一籽面并可以完成对玉米籽粒第一籽面的高光谱检测,外转动件2的第一挡板4和第二挡板5夹角的中线也为水平方向,夹角朝向第二侧板13侧。
本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置,如图12-图15所示,还可以包括单籽粒进料单元16,单籽粒进料单元16沿传送带传送方向设于第一高光谱采集器14前方。单籽粒进料单元16的出料口可以设置有出料挡板,通过控制出料挡板的开关实现单籽粒样本出料,开关频率可以根据传送带速度等因素确定。单籽粒进料单元16的出料口,单籽粒进料单元16的出料口可以是与第一面检测位7或第二面检测位8对应设置,使玉米籽粒落至第一面检测位7或第二面检测位8。比如,单籽粒进料单元16的出料口与第一面检测位7对应设置,在出料口处,第一侧板12和第二侧板13的相对高度可以是左低右高的状态,使玉米籽粒从出料口出料后即平稳处于第一面检测位7;随着传送带的传送,第一面检测位7到达第一高光谱采集器14检测位置时,无需调整即可对置于第一面检测位7的玉米籽粒进行检测。需要指出,从单籽粒进料单元16的出料口出料的玉米籽粒无需保持胚面和非胚面的一致,后续的第一高光谱采集器14和第二高光谱采集器15将以此完成不同两面的高光谱采集,并最终获取单籽粒样本的双表面高光谱数据。
本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置,还可以包括有分选卸料单元。分选卸料单元沿传送带传送方向设于第二高光谱采集器15后方,分选卸料单元包括卸料挡板17和落粒箱18;卸料挡板17与第一面检测位7匹配设置,用于将位于第一面检测位7的籽粒推挡落入落粒箱18,待卸料的玉米籽粒处于第一面检测位7,当传送带带动玉米籽粒通过分选卸料单元时,卸料挡板17将对玉米籽粒产生阻挡,使玉米籽粒滑落入落粒箱18;或者,卸料挡板17与第二面检测位8匹配设置,用于将位于第二面检测位8的籽粒推挡落入落粒箱18,待卸料的玉米籽粒处于第二面检测位8,当传送带带动玉米籽粒通过分选卸料单元时,卸料挡板17将对玉米籽粒产生阻挡,使玉米籽粒滑落入落粒箱18。
进一步地,在卸料挡板17处,第一侧板12的顶边和/或第二侧板13的顶边可以是可升降的结构,可以使第一侧板12顶边的高度低于第二侧板13顶边的高度,籽粒处于第一面检测位7;或者,也可以使第一侧板12顶边的高度低于第二侧板13顶边的高度,籽粒处于第二面检测位8。与第一面检测位7对应设置的卸料挡板17仅能对位于第一面检测位7的籽粒进行卸料,而与第二面检测位8对应设置的卸料挡板17又仅能对位于第二面检测位8的籽粒进行卸料,从而在玉米籽粒在通过分选卸料单元时,可以通过对第一侧板12的顶边和/或第二侧板13的顶边可升降结构的控制来控制玉米籽粒是否落入落粒箱18。若分选卸料单元有多个,多个分选卸料单元沿传送带间隔设置,就可以通过对多个卸料挡板17处第一侧板12的顶边和/或第二侧板13的顶边可升降结构的控制来控制玉米籽粒落入预设的落粒箱18,从而完成对玉米籽粒的分选。
为了更好地对玉米籽粒进行分选,本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置,还可以包括检测分选控制单元。检测分选控制单元控制整套装置的运行,主要功能包括传送带装置的启动、高光谱数据的采集和处理、顶边可升降结构的高低设置等。检测分选控制单元能够根据高光谱采集单元所获取的籽粒的高光谱信息控制第一侧板12的顶边和/或第二侧板13的顶边的升降,使籽粒被卸料挡板17推挡落入相应的落粒箱18以完成对玉米籽粒的分选。
由以上实施例可以看出,本发明提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置,外转动件2的第一挡板4和第二挡板5不但为玉米种子籽粒提供了两个表面检测的检测位,而且通过两个挡板连接夹角形成内转动件3的转动空间6,既能推动内转动件3转动,又对内转动件3的转动形成约束,从而通过内转动件3的转动简单且准确的实现在线单籽粒玉米种子的翻面,有助于快速获取单籽粒玉米种子包括胚面和非胚面的双表面高光谱图像,以更加准确反映出整粒玉米种子的真实情况,提高分类检测的准确性,为单籽粒玉米种子在线分选提供技术支持,有助于实现玉米种子播种前的优质选种,以及种子制作饲料时的精准分级,对我国玉米产业的高速发展具有重大意义。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种玉米籽粒双表面高光谱检测装置,其特征在于,包括支撑件、外转动件、内转动件和高光谱采集单元;
所述外转动件可转动安装于所述支撑件顶部,所述内转动件与所述外转动件为转动轴线重合的转动连接,所述外转动件带动所述内转动件转动;
所述外转动件包括第一挡板和第二挡板,所述第一挡板的一端和所述第二挡板的一端相连接,所述第一挡板和所述第二挡板相连接部位的夹角形成所述内转动件的转动空间,所述第一挡板的另一端设有第一面检测位,所述第二挡板的另一端设有第二面检测位;
所述内转动件设有用于容置待检测玉米种子籽粒的夹籽槽,所述夹籽槽包括第一槽壁和第二槽壁,所述第一槽壁和所述第二槽壁之间的槽宽大于所述籽粒的厚度,且小于所述籽粒的宽度;
所述内转动件在所述转动空间贴合于所述第一挡板一侧时,所述第一槽壁与所述第一面检测位平滑连接;所述内转动件在所述转动空间贴合与所述第二挡板一侧时,所述第二槽壁与所述第二面检测位平滑连接;
所述高光谱采集单元用于检测位于所述第一面检测位的所述籽粒和位于所述第二面检测位的所述籽粒。
2.根据权利要求1所述的玉米籽粒双表面高光谱检测装置,其特征在于,还包括传送带,所述支撑件安装于所述传送带上,所述内转动件和所述外转动件的转动轴线平行于所述传送带的传送方向,所述传送带两侧设有侧边挡板,所述第一挡板和所述第二挡板相背离的外侧面分别与所述侧边挡板的顶边滑动连接,所述侧边挡板的顶边通过高度变化带动所述外转动件转动。
3.根据权利要求2所述的玉米籽粒双表面高光谱检测装置,其特征在于,所述侧边挡板包括设于所述传送带一侧的第一侧板和设于所述传送带另一侧的第二侧板,所述第一侧板的顶边与所述第一挡板滑动连接,所述第二侧板的顶边与所述第二挡板滑动连接。
4.根据权利要求3所述的玉米籽粒双表面高光谱检测装置,其特征在于,所述高光谱采集单元包括沿所述传送带传送方向间隔设置的第一高光谱采集器和第二高光谱采集器,所述第一高光谱采集器设于所述传送带的所述第一侧板一侧,所述第二高光谱采集器设于所述传送带的所述第二侧板一侧;
在所述第一高光谱采集器处,所述第一侧板顶边的高度低于所述第二侧板顶边的高度,使所述籽粒处于所述第一面检测位;在所述第二高光谱检测器处,所述第二侧板顶边的高度低于所述第一侧板顶边的高度,使所述籽粒处于所述第二面检测位。
5.根据权利要求4所述的玉米籽粒双表面高光谱检测装置,其特征在于,还包括单籽粒进料单元,所述单籽粒进料单元沿所述传送带传送方向设于所述第一高光谱采集器前方,所述单籽粒进料单元的出料口与所述第一面检测位或所述第二面检测位对应设置。
6.根据权利要求4所述的玉米籽粒双表面高光谱检测装置,其特征在于,还包括分选卸料单元,所述分选卸料单元沿所述传送带传送方向设于所述第二高光谱采集器后方,所述分选卸料单元包括卸料挡板和落粒箱;
所述卸料挡板与所述第一面检测位匹配设置,用于将位于所述第一面检测位的所述籽粒推挡落入所述落粒箱;或者,所述卸料挡板与所述第二面检测位匹配设置,用于将位于所述第二面检测位的所述籽粒推挡落入所述落粒箱。
7.根据权利要求6所述的玉米籽粒双表面高光谱检测装置,其特征在于,在所述卸料挡板处,所述第一侧板的顶边和/或所述第二侧板的顶边可升降,
使所述第一侧板顶边的高度低于所述第二侧板顶边的高度,所述籽粒处于所述第一面检测位;或者,使所述第二侧板顶边的高度低于所述第一侧板顶边的高度,所述籽粒处于所述第二面检测位。
8.根据权利要求7所述的玉米籽粒双表面高光谱检测装置,其特征在于,所述分选卸料单元有多个,多个所述分选卸料单元沿所述传送带间隔设置。
9.根据权利要求8所述的玉米籽粒双表面高光谱检测装置,其特征在于,还包括检测分选控制单元,所述检测分选控制单元根据所述高光谱采集单元所获取的所述籽粒的高光谱信息控制所述第一侧板的顶边和/或所述第二侧板的顶边的升降,使所述籽粒被所述卸料挡板推挡落入所述落粒箱。
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