CN110673999A - 一种硬盘数据搬移测试方法、装置及电子设备和存储介质 - Google Patents

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Abstract

本申请公开了一种硬盘数据搬移测试方法、装置及一种电子设备和计算机可读存储介质，该方法包括：设置一个数据块的偏移，从第二个数据块开始进行顺序写操作，并生成待校验文件；在第一个数据块中写满第一目标值，并确保所述第一个数据块内的数据均为所述第一目标值；在所述第一个数据块写满第二目标值，并对所有数据块进行第一预设时长的顺序读操作；读取所述第一个数据块中的数据，并设置一个数据块的偏移，从所述第二个数据块开始对所述待校验文件进行读校验；若所述第一个数据块中的数据均为所述第二目标值且所述待校验文件校验通过，则判定测试通过。由此可见，本申请提供的硬盘数据搬移测试方法，可以准确的评估硬盘的后台数据搬移处理能力。

Description

一种硬盘数据搬移测试方法、装置及电子设备和存储介质
技术领域
本申请涉及硬盘技术领域，更具体地说，涉及一种硬盘数据搬移测试方法、装置及一种电子设备和一种计算机可读存储介质。
背景技术
由于Nand Flash(flash存储器的一种)的特性，SSD(中文全称：固态硬盘，英文全称：Solid State Disk)对于数据的存储具有一定的时效性。而各家SSD厂商为了保证数据的时效性能够满足客户的需求，通常都会在SSD到达一定的读写条件时，在后台对数据进行搬移和处理。
SSD后台将数据从一个数据块搬移到另一个数据块时就有可能损坏存储的数据，而现有的SSD数据校验方法无法保证测试到SSD后台数据搬移处理时是否存在数据丢失及损坏，进而无法保证SSD的后台数据搬移处理能力。
因此，如何对硬盘中的数据搬移进行测试是本领域技术人员需要解决的技术问题。
发明内容
本申请的目的在于提供一种硬盘数据搬移测试方法、装置及一种电子设备和一种计算机可读存储介质，实现了对硬盘中的数据搬移进行测试。
为实现上述目的，本申请提供了一种硬盘数据搬移测试方法，包括：
设置一个数据块的偏移，从第二个数据块开始进行顺序写操作，并生成待校验文件；
在第一个数据块中写满第一目标值，并确保所述第一个数据块内的数据均为所述第一目标值；
在所述第一个数据块写满第二目标值，并对所有数据块进行第一预设时长的顺序读操作；
读取所述第一个数据块中的数据，并设置一个数据块的偏移，从所述第二个数据块开始对所述待校验文件进行读校验；
若所述第一个数据块中的数据均为所述第二目标值且所述待校验文件校验通过，则判定测试通过。
其中，在所述判定测试通过之前，还包括：
基于磨损均衡的写入方式对目标数据块进行第二预设时长的随机写操作；
若在所述第二预设时长内未发生异常，则判定测试通过。
其中，所述基于磨损均衡的写入方式对目标数据块进行第二预设时长的随机写操作，包括：
在硬盘内构建预设容量的冷数据，对剩余容量进行所述第二预设时长的随机写操作。
其中，在所述判定测试通过之前，还包括：
将硬盘划分为多个区域，为每个所述区域设置不同的数据块大小，以构建目标数据密度；
基于所述目标数据密度对所述硬盘进行第三预设时长的随机写操作；
若在所述第三预设时长内未发生异常，则判定测试通过。
为实现上述目的，本申请提供了一种硬盘数据搬移测试装置，包括：
生成模块，用于设置一个数据块的偏移，从第二个数据块开始进行顺序写操作，并生成待校验文件；
第一写入模块，用于在第一个数据块中写满第一目标值，并确保所述第一个数据块内的数据均为所述第一目标值；
读取模块，用于在所述第一个数据块写满第二目标值，并对所有数据块进行第一预设时长的顺序读操作；
校验模块，用于读取所述第一个数据块中的数据，并设置一个数据块的偏移，从所述第二个数据块开始对所述待校验文件进行读校验；
第一判定模块，用于若所述第一个数据块中的数据均为所述第二目标值且所述待校验文件校验通过，则判定测试通过。
其中，还包括：
第二写入模块，用于基于磨损均衡的写入方式对目标数据块进行第二预设时长的随机写操作；
第二判定模块，用于若在所述第二预设时长内未发生异常，则判定测试通过。
其中，所述第二写入模块具体为在硬盘内构建预设容量的冷数据，对剩余容量进行所述第二预设时长的随机写操作的模块。
其中，还包括：
构建模块，用于将硬盘划分为多个区域，为每个所述区域设置不同的数据块大小，以构建目标数据密度；
第三写入模块，用于基于所述目标数据密度对所述硬盘进行第三预设时长的随机写操作；
第三判定模块，用于若在所述第三预设时长内未发生异常，则判定测试通过。
为实现上述目的，本申请提供了一种电子设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上述硬盘数据搬移测试方法的步骤。
为实现上述目的，本申请提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述硬盘数据搬移测试方法的步骤。
通过以上方案可知，本申请提供的一种硬盘数据搬移测试方法，包括：设置一个数据块的偏移，从第二个数据块开始进行顺序写操作，并生成待校验文件；在第一个数据块中写满第一目标值，并确保所述第一个数据块内的数据均为所述第一目标值；在所述第一个数据块写满第二目标值，并对所有数据块进行第一预设时长的顺序读操作；读取所述第一个数据块中的数据，并设置一个数据块的偏移，从所述第二个数据块开始对所述待校验文件进行读校验；若所述第一个数据块中的数据均为所述第二目标值且所述待校验文件校验通过，则判定测试通过。
由于数据以电荷的形式存储在数据块中，因此在对数据进行长时间读取时会触发数据搬移。本申请提供的硬盘数据搬移测试方法，在第一个数据块中进行顺序写操作，首先写完第一目标值，再修改为第二目标值，通过读取该数据块中的数据并判断其是否均为第二目标值的方式，对顺序写操作过程中的数据搬移进行测试。在其他数据块中，采用延时校验的方式，即数据写入时生成待校验文件，在对数据进行长时间读取后对待校验文件进行校验，可以对顺序读操作过程中的数据搬移进行测试。由此可见，本申请提供的硬盘数据搬移测试方法，可以准确的评估硬盘的后台数据搬移处理能力，提高了工作效率。本申请还公开了一种硬盘数据搬移测试装置及一种电子设备和一种计算机可读存储介质，同样能实现上述技术效果。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本申请。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：
图1为根据一示例性实施例示出的一种硬盘数据搬移测试方法的流程图；
图2为根据一示例性实施例示出的一种硬盘数据搬移测试装置的结构图；
图3为根据一示例性实施例示出的一种电子设备的结构图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
本申请实施例公开了一种硬盘数据搬移测试方法，实现了对硬盘中的数据搬移进行测试。
参见图1，根据一示例性实施例示出的一种硬盘数据搬移测试方法的流程图，如图1所示，包括：
S101：设置一个数据块的偏移，从第二个数据块开始进行顺序写操作，并生成待校验文件；
在具体实施中，对于SSD中除第一个数据块之外的数据块，采用延时校验的方式。基于写入命令从第二个数据块开始进行顺序写操作，直到从第二个数据块开始的数据块均被写满，并生成待校验文件。该待校验文件可以理解为从第二个数据块开始的所有数据块的备份。由于采用延时校验的方式，此时do_verify＝0。
需要说明的是，本步骤不对写入的数据块大小进行限定，例如，可以设置Blocksize＝128K，设置一个LBA(中文全称：逻辑区块地址，英文全称：Logical BlockAddress)大小的偏移，从LBA1开始，使用do_verify＝0对SSD顺序写一遍。
S102：在第一个数据块中写满第一目标值，并确保所述第一个数据块内的数据均为所述第一目标值；
在具体实施中，可以采用顺序写的方式在第一个数据块中写满第一目标值，例如在LBA0处写满数据“A”，重复本步骤999轮进行压力测试，确保LBA0处均为“A”。
S103：在所述第一个数据块写满第二目标值，并对所有数据块进行第一预设时长的顺序读操作；
在本步骤中，可以采用顺序写的方式在第一个数据块中写满第二目标值，例如在LBA0处写满数据“B”。对SSD进行长时间的顺序读操作，以触发后台数据搬移。可以理解的是，此处同样不对读取的数据块大小和第一预设时长进行限定，例如，可以设置Blocksize＝128K，对SSD全盘进行72小时的顺序读操作。
S104：读取所述第一个数据块中的数据，并设置一个数据块的偏移，从所述第二个数据块开始对所述待校验文件进行读校验；
在本步骤中，读取第一个数据块中的数据，以便后续步骤对顺序写操作中的后台数据搬移进行测试。对步骤S101中生成的待校验文件进行校验，即从第二个数据块开始进行顺序读操作，判断读取的数据与待校验文件是否一致，以便对顺序写操作的后台数据搬移进行测试。例如，设置Blocksize＝128K，设置一个LBA大小的偏移，从LBA1开始，使用do_verify＝1对之前写入的数据进行读校验。
S105：若所述第一个数据块中的数据均为所述第二目标值且所述待校验文件校验通过，则判定测试通过。
在本步骤中，若第一个数据块中的数据均为第二目标值，说明顺序写操作的后台数据搬移测试通过。若待校验文件与读取的数据一致，说明顺序读操作的后台数据搬移测试通过。
由于数据以电荷的形式存储在数据块中，因此在对数据进行长时间读取时会触发数据搬移。本申请实施例提供的硬盘数据搬移测试方法，在第一个数据块中进行顺序写操作，首先写完第一目标值，再修改为第二目标值，通过读取该数据块中的数据并判断其是否均为第二目标值的方式，对顺序写操作过程中的数据搬移进行测试。在其他数据块中，采用延时校验的方式，即数据写入时生成待校验文件，在对数据进行长时间读取后对待校验文件进行校验，可以对顺序读操作过程中的数据搬移进行测试。由此可见，本申请实施例提供的硬盘数据搬移测试方法，可以准确的评估硬盘的后台数据搬移处理能力，提高了工作效率。
在上述实施例的基础上，作为一种优选实施方式，还包括：基于磨损均衡的写入方式对目标数据块进行第二预设时长的随机写操作；若在所述第二预设时长内未发生异常，则判定测试通过。
在具体实施中，还可以对随机写操作中的后台数据搬移进行测试，此处构建一种磨损均衡的写入方式，据此进行随机写操作，若未发生异常，则说明磨损均衡的随机写入方式的后台数据搬移测试通过。
此处不对具体的磨损均衡写入方式进行限定，优选的，所述基于磨损均衡的写入方式对目标数据块进行第二预设时长的随机写操作的步骤包括：在硬盘内构建预设容量的冷数据，对剩余容量进行所述第二预设时长的随机写操作。例如，可以设置Blocksize＝4k，对SSD构建80％容量的冷数据，然后对剩余20％容量进行48小时的Randwrite。
在上述实施例的基础上，作为一种优选实施方式，还包括：还包括：将硬盘划分为多个区域，为每个所述区域设置不同的数据块大小，以构建目标数据密度；基于所述目标数据密度对所述硬盘进行第三预设时长的随机写操作；若在所述第三预设时长内未发生异常，则判定测试通过。
本步骤对另一种随机写方式进行测试，具体的，将硬盘划分为多个区域，为每个所述区域设置不同的数据块大小，以构建复杂的数据密度，对基于复杂数据密度的随机写入方式进行数据搬移测试。例如，Bssplit＝512/4:1k/1:1536/1:2048/1:2560/1:3072/1:3584/1:4096/67:8192/10:16384/7:32768/3:65536/3，设置队列深度Iodepth＝32，对SSD全盘100％容量持续进行48小时的随机写操作，即SSD全盘划分为12个区域，设置4％容量的数据块大小为512，设置1％容量的数据块大小为1k等。若未发生异常，则说明复杂数据密度的随机写入方式的后台数据搬移测试通过。
由此可见，上述两种实施方式定义了随机写操作的写入方式、测试时间和测试通过条件，丰富了硬盘数据搬移的测试范围，提高了测试准确性。
下面对本申请实施例提供的一种硬盘数据搬移测试装置进行介绍，下文描述的一种硬盘数据搬移测试装置与上文描述的一种硬盘数据搬移测试方法可以相互参照。
参见图2，根据一示例性实施例示出的一种硬盘数据搬移测试装置的结构图，如图2所示，包括：
生成模块201，用于设置一个数据块的偏移，从第二个数据块开始进行顺序写操作，并生成待校验文件；
第一写入模块202，用于在第一个数据块中写满第一目标值，并确保所述第一个数据块内的数据均为所述第一目标值；
读取模块203，用于在所述第一个数据块写满第二目标值，并对所有数据块进行第一预设时长的顺序读操作；
校验模块204，用于读取所述第一个数据块中的数据，并设置一个数据块的偏移，从所述第二个数据块开始对所述待校验文件进行读校验；
第一判定模块205，用于若所述第一个数据块中的数据均为所述第二目标值且所述待校验文件校验通过，则判定测试通过。
由于数据以电荷的形式存储在数据块中，因此在对数据进行长时间读取时会触发数据搬移。本申请实施例提供的硬盘数据搬移测试装置，在第一个数据块中进行顺序写操作，首先写完第一目标值，再修改为第二目标值，通过读取该数据块中的数据并判断其是否均为第二目标值的方式，对顺序写操作过程中的数据搬移进行测试。在其他数据块中，采用延时校验的方式，即数据写入时生成待校验文件，在对数据进行长时间读取后对待校验文件进行校验，可以对顺序读操作过程中的数据搬移进行测试。由此可见，本申请实施例提供的硬盘数据搬移测试装置，可以准确的评估硬盘的后台数据搬移处理能力，提高了工作效率。
在上述实施例的基础上，作为一种优选实施方式，还包括：
第二写入模块，用于基于磨损均衡的写入方式对目标数据块进行第二预设时长的随机写操作；
第二判定模块，用于若在所述第二预设时长内未发生异常，则判定测试通过。
在上述实施例的基础上，作为一种优选实施方式，所述第二写入模块具体为在硬盘内构建预设容量的冷数据，对剩余容量进行所述第二预设时长的随机写操作的模块。
在上述实施例的基础上，作为一种优选实施方式，还包括：
构建模块，用于将硬盘划分为多个区域，为每个所述区域设置不同的数据块大小，以构建目标数据密度；
第三写入模块，用于基于所述目标数据密度对所述硬盘进行第三预设时长的随机写操作；
第三判定模块，用于若在所述第三预设时长内未发生异常，则判定测试通过。
关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。
本申请还提供了一种电子设备，参见图3，本申请实施例提供的一种电子设备300的结构图，如图3所示，可以包括处理器11和存储器12。该电子设备300还可以包括多媒体组件13，输入/输出(I/O)接口14，以及通信组件15中的一者或多者。
其中，处理器11用于控制该电子设备300的整体操作，以完成上述的硬盘数据搬移测试方法中的全部或部分步骤。存储器12用于存储各种类型的数据以支持在该电子设备300的操作，这些数据例如可以包括用于在该电子设备300上操作的任何应用程序或方法的指令，以及应用程序相关的数据，例如联系人数据、收发的消息、图片、音频、视频等等。该存储器12可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，例如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，简称SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory，简称EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(Erasable Programmable Read-Only Memory，简称EPROM)，可编程只读存储器(Programmable Read-Only Memory，简称PROM)，只读存储器(Read-Only Memory，简称ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。多媒体组件13可以包括屏幕和音频组件。其中屏幕例如可以是触摸屏，音频组件用于输出和/或输入音频信号。例如，音频组件可以包括一个麦克风，麦克风用于接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器12或通过通信组件15发送。音频组件还包括至少一个扬声器，用于输出音频信号。I/O接口14为处理器11和其他接口模块之间提供接口，上述其他接口模块可以是键盘，鼠标，按钮等。这些按钮可以是虚拟按钮或者实体按钮。通信组件15用于该电子设备300与其他设备之间进行有线或无线通信。无线通信，例如Wi-Fi，蓝牙，近场通信(Near FieldCommunication，简称NFC)，2G、3G或4G，或它们中的一种或几种的组合，因此相应的该通信组件15可以包括：Wi-Fi模块，蓝牙模块，NFC模块。
在一示例性实施例中，电子设备300可以被一个或多个应用专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，简称ASIC)、数字信号处理器(DigitalSignal Processor，简称DSP)、数字信号处理设备(Digital Signal Processing Device，简称DSPD)、可编程逻辑器件(Programmable Logic Device，简称PLD)、现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，简称FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述的硬盘数据搬移测试方法。
在另一示例性实施例中，还提供了一种包括程序指令的计算机可读存储介质，该程序指令被处理器执行时实现上述硬盘数据搬移测试方法的步骤。例如，该计算机可读存储介质可以为上述包括程序指令的存储器12，上述程序指令可由电子设备300的处理器11执行以完成上述的硬盘数据搬移测试方法。
说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以对本申请进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。
还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

Claims (10)

1.一种硬盘数据搬移测试方法，其特征在于，包括：
设置一个数据块的偏移，从第二个数据块开始进行顺序写操作，并生成待校验文件；
在第一个数据块中写满第一目标值，并确保所述第一个数据块内的数据均为所述第一目标值；
在所述第一个数据块写满第二目标值，并对所有数据块进行第一预设时长的顺序读操作；
读取所述第一个数据块中的数据，并设置一个数据块的偏移，从所述第二个数据块开始对所述待校验文件进行读校验；
若所述第一个数据块中的数据均为所述第二目标值且所述待校验文件校验通过，则判定测试通过。
2.根据权利要求1所述硬盘数据搬移测试方法，其特征在于，在所述判定测试通过之前，还包括：
基于磨损均衡的写入方式对目标数据块进行第二预设时长的随机写操作；
若在所述第二预设时长内未发生异常，则判定测试通过。
3.根据权利要求2所述硬盘数据搬移测试方法，其特征在于，所述基于磨损均衡的写入方式对目标数据块进行第二预设时长的随机写操作，包括：
在硬盘内构建预设容量的冷数据，对剩余容量进行所述第二预设时长的随机写操作。
4.根据权利要求1所述硬盘数据搬移测试方法，其特征在于，在所述判定测试通过之前，还包括：
将硬盘划分为多个区域，为每个所述区域设置不同的数据块大小，以构建目标数据密度；
基于所述目标数据密度对所述硬盘进行第三预设时长的随机写操作；
若在所述第三预设时长内未发生异常，则判定测试通过。
5.一种硬盘数据搬移测试装置，其特征在于，包括：
生成模块，用于设置一个数据块的偏移，从第二个数据块开始进行顺序写操作，并生成待校验文件；
第一写入模块，用于在第一个数据块中写满第一目标值，并确保所述第一个数据块内的数据均为所述第一目标值；
读取模块，用于在所述第一个数据块写满第二目标值，并对所有数据块进行第一预设时长的顺序读操作；
校验模块，用于读取所述第一个数据块中的数据，并设置一个数据块的偏移，从所述第二个数据块开始对所述待校验文件进行读校验；
第一判定模块，用于若所述第一个数据块中的数据均为所述第二目标值且所述待校验文件校验通过，则判定测试通过。
6.根据权利要求5所述硬盘数据搬移测试装置，其特征在于，还包括：
第二写入模块，用于基于磨损均衡的写入方式对目标数据块进行第二预设时长的随机写操作；
第二判定模块，用于若在所述第二预设时长内未发生异常，则判定测试通过。
7.根据权利要求6所述硬盘数据搬移测试装置，其特征在于，所述第二写入模块具体为在硬盘内构建预设容量的冷数据，对剩余容量进行所述第二预设时长的随机写操作的模块。
8.根据权利要求5所述硬盘数据搬移测试装置，其特征在于，还包括：
构建模块，用于将硬盘划分为多个区域，为每个所述区域设置不同的数据块大小，以构建目标数据密度；
第三写入模块，用于基于所述目标数据密度对所述硬盘进行第三预设时长的随机写操作；
第三判定模块，用于若在所述第三预设时长内未发生异常，则判定测试通过。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任一项所述硬盘数据搬移测试方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述硬盘数据搬移测试方法的步骤。
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