CN110646679B - 用于激光驱动的检测方法及检测系统 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种用于激光驱动的检测方法,该方法包括如下步骤:利用测试终端设定预设参数程序,控制待测电子模块输出相应的驱动;通过数字存储示波器采集所述驱动参数,得到参数数据序列并存储;将所述参数数据序列与预设规格数据序列比对并输出比较结果。本发明还提供一种用于激光驱动的检测系统。与相关技术相比,本发明的用于激光驱动的检测方法及检测系统适用检测复杂特殊波形,适用范围广且检测精度高。
Description
技术领域
本发明属于信号检测领域,涉及一种运用于投影显示装置的用于激光驱动的检测方法及检测系统。
背景技术
随着智能时代的发展,光影显示成为一种发展趋势并得到越来越多领域的运用,特别是大型展示、会议、教学等运用得较为普遍。
传统的LED驱动显示技术中,通过LED驱动电流实现驱动,而激光显示是一种技术更为先进的光影显示方式,其通过激光显示脉冲或分段电流进行驱动,与相关技术的LED驱动电流相比,增加了复杂的脉冲控制和分段控制,使得显示效果的一致性好且体验效果优。
对于驱动电流的检测,通常为采用示波器进行检测,但该检测方式只能读取最大值、最小值、均方根值等常规参数,对于特殊用途的电流波形,如激光脉冲电流或分段电流,无法精确测出,导致在相关技术的LED驱动显示在激光产品的显示效果的一致性较差。如果激光驱动的脉冲或分段电流没有严格按照所需要的方式输出,会严重影响激光显示的效果,导致颜色偏色,或出现闪烁画面等问题。
因此,实有必要提供一种新的用于激光驱动的检测方法及检测系统解决上述问题。
发明内容
针对以上现有技术的不足,本发明提出一种适用范围广且检测精度高的用于激光驱动的检测方法及检测系统。
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种用于激光驱动的检测方法,该方法包括如下步骤:
步骤S1、利用测试终端设定预设参数程序,控制待测电子模块输出相应的驱动参数;
步骤S2、通过数字存储示波器采集所述驱动参数,得到参数数据序列并存储;
步骤S3、将所述参数数据序列与预设规格数据序列比对并输出比较结果。
优选的,步骤S1具体包括:
步骤S11、实现所述测试终端的软件初始化,并配置数字存储示波器;
步骤S12、启动测试按钮,通过所述预设参数程序控制所述待测电子模块输出所述驱动参数,同时启动所述数字存储示波器。
优选的,步骤S3具体包括:
步骤S31、通过软件读取所述数字存储示波器存储的所述参数数据序列;
步骤S32、调用比对工具,所述比对工具设有所述预设规格数据序列;
步骤S33、所述比对工具将所述参数数据序列与所述预设规格数据序列进行比较判断并输出比较结果为合格或不合格。
优选的,步骤S33还包括:
若比较结果为不合格,返回至步骤S31,返回的次数为预设次数。
优选的,所述参数数据序列包括时间维度和与所述时间维度对应的实际值维度。
优选的,所述预设规格数据序列包括所述时间维度和与所述时间维度对应的测试值下限维度和测试值上限维度。
优选的,所述步骤S33具体包括如下步骤:
步骤S331、按所述时间维度,利用所述比对工具将所述参数数据序列的每组数据的实际值维度与所述预设规格数据序列的每组数据的所述测试值上限维度和所述测试值下限维度分别对应;
步骤S332、利用所述比对工具分别将同一所述时间维度的所述参数数据序列的每组数据与所述预设规格数据序列的每组数据进行比对:
若所述实际值维度超出所述测试值上限维度或所述测试值下限维度,则所述比对工具输出不合格。
优选的,比对所述参数数据序列与所述预设规格数据序列时,当满足存在一组数据的所述实际值维度超出所述测试值上限维度或所述测试值下限维度,则为不合格。
优选的,所述比对工具进行比对的方式为数据表格方式或波形图方式。
优选的,所述待测电子模块为激光驱动电源。
本发明还提供一种用于激光驱动的检测系统,包括:测试终端,用于设定预设参数程序以驱动待测电子模块输出相应的驱动参数;数字存储示波器,用于采集所述驱动参数以得到参数数据序列并存储;所述测试终端还包括内部设有预设规格数据序列的比对工具,所述比对工具用于读取所述参数数据序列并将所述参数数据序列与所述预设规格数据序列进行比对,输出比对结果。
优选的,所述测试终端还包括显示单元,所述比对结果通过所述显示单元显示。
优选的,所述测试终端为电脑,所述显示单元为显示屏,所述比对工具为Excel软件或WPS软件。
与相关技术相比,本发明的用于激光驱动的检测方法及检测系统通过预设参数程序以待测电子模块输出相应参数,并由所述数字存储示波器采集与时间对应的参数数据序列,通过读取所述数字存储示波器采集所述驱动参数所对应的参数数据序列,并通过软件调取所述参数数据序列并与所述预设规格数据序列进行比对,从而得出比对结果是否合格,通过该方法可灵活的监测各种波形,避免了受特殊复杂波形的限制,如激光脉冲电流波形或分段电流波形,且其测试精度高,检测合格的数据驱动激光产品时的显示效果的一致性较好。
附图说明
下面结合附图详细说明本发明。通过结合以下附图所作的详细描述,本发明的上述或其他方面的内容将变得更清楚和更容易理解。附图中:
图1为本发明用于激光驱动的检测系统的结构示意图。
图2为本发明用于激光驱动的检测方法的流程框图;
图3为图2对应的流程示意图;
图4为本发明步骤S1的子流程框图;
图5为本发明步骤S3的子流程框图;
图6为本发明步骤S33的了流程框图;
图7为本发明实施例中的比对方式一的测试数据图;
图8为本发明实施例中的比对方式二的测试数据图。
具体实施方式
下面结合附图详细说明本发明的具体实施方式。
在此记载的具体实施方式/实施例为本发明的特定的具体实施方式,用于说明本发明的构思,均是解释性和示例性的,不应解释为对本发明实施方式及本发明范围的限制。除在此记载的实施例外,本领域技术人员还能够基于本申请权利要求书和说明书所公开的内容采用显而易见的其它技术方案,这些技术方案包括采用对在此记载的实施例的做出任何显而易见的替换和修改的技术方案,都在本发明的保护范围之内。
请参图1所示,本发明提供一种用于激光驱动的检测系统100,包括测试终端1和数字存储示波器2。
所述数字存储示波器2通过匹配治具4与待测电子模块3连接形成通讯,所述数字存储示波器2与测试终端1形成电连接。
所述测试终端1用于设定预设参数程序以驱动所述待测电子模块3输出相应的驱动参数。比如通过其内设自动测试程序实现。所述数字存储示波器2用于采集所述驱动参数以得到参数数据序列并存储。
具体的,所述测试终端1包括显示单元11和内部设有预设规格数据序列的比对工具12。所述比对工具12用于读取所述参数数据序列并将其与所述预设规格数据序列进行比对,输出比对结果。
本实施方式中,所述测试终端1为电脑,也可为类似的终端设备,其包括显示单元11,所述显示单元11为显示屏,所述比对工具12为Excel软件或WPS软件。而所述参数即为驱动参数,比如为:电流、电压、温度、湿度或压力等,本实施方式中,所述驱动参数以电流为例进行说明。
所述测试终端1通过GPIB接口与所述数字存储示波器2实现实时连接。
所述测试终端1通过内置的自动测试软件读取所述数字存储示波器2的所述电流数据序列至所述比对工具12中,所述比对工具12通过判断后返还比对结果给所述自动测试软件,同时通过所述显示单元11显示出来。比如,所述自动测试软件安装于所述测试终端(电脑),通过电脑运行该自动测试软件后,所述自动测试软件读取连接于电脑的数字存储示波器2的驱动参数数据序列(比如电流数据序列),并将该驱动参数数据序列输入至所述比对工具12中进行比对判断,其可测试的驱动参数数据序列包括电压、电流、温度、湿度及压力等各驱动参数。
更优的,所述自动测试软件还可以实现将所述驱动参数数据序列、对比结果等进行存储,产生报表等功能。通过该检测系统及上述原理,从而实现实时自动测试各种电压、电流、温度、湿度及压力等各驱动参数。
请结合参图2-3,本发明还提供了一种用于激光驱动的检测方法,为方便说明,以本发明提供的上述用于激光驱动的检测系统100为例进行说明,该方法包括如下步骤:
步骤S1、利用测试终端1设定预设电流程序,控制待测电子模块3输出相应的驱动参数。
该检测方法中,所述参数可为电流、电压、温度、湿度或压力等,本实施方式中,以下,以所述参数为电流为例进行说明。
本实施方式中,具体的,所述电流数据序列包括时间维度和与所述时间维度对应的实际值维度。
所述预设规格数据序列包括所述时间维度和与所述时间维度对应的测试值下限维度和测试值上限维度。
请结合图4所示,本步骤具体包括如下:
步骤S11、实现终端的软件初始化,并配置所述数字存储示波器2。
步骤S12、启动测试按钮,通过所述预设参数程序控制所述待测电子模块3输出所述驱动参数(驱动电流),同时启动所述数字存储示波器2。
本步骤中所述的测试按钮并非限于实际的启动按钮,仅为测试启动的一个触发,虚拟按钮或实际按钮都可行。而所述预设参数程序
步骤S2、通过所述数字存储示波器2采集所述驱动电流,得到电流数据序列并存储。
步骤S3、将所述电流数据序列与预设规格数据序列比对并输出比较结果。
请结合图5所示,具体包括如下:
步骤S31、通过软件,如自动测试程序,读取所述数字存储示波器2存储的所述电流数据序列。
步骤S32、调用所述比对工具12,所述比对工具12设有所述预设规格数据序列。比如,所述比对工具12为Excel或WPS。
步骤S33、所述比对工具12将所述电流数据序列与所述预设规格数据序列进行比较判断并输出比较结果为合格或不合格。
更优的,为了验证所述待测电子模块3的准确性,若比较结果为不合格,返回至步骤S31,返回的次数为预设次数,比如预设次数为3次或其它次数。
通过多次测试确认的步骤提高所述用于激光驱动的检测方法和检测系统的准确性。当设定的检测次数到上限时,给予检测不合格,并刷新最新测试状态。
具体的,请结合图6所示,所述步骤S33具体还包括:
步骤S331、按所述时间维度,利用所述比对工具12将所述电流数据序列的每组数据的实际值维度与所述预设规格数据序列的每组数据的所述测试值上限维度和所述测试值下限维度分别对应。
步骤S332、利用所述比对工具12分别将同一所述时间维度的所述电流数据序列的每组数据与所述预设规格数据序列的每组数据进行比对:
若所述实际值维度超出所述测试值上限维度或所述测试值下限维度,则所述比对工具12输出不合格的结果。
具体的比对规则可进行设定,比如,比对所述电流数据序列与所述预设规格数据序列时,当满足存在一组数据的所述实际值维度超出所述测试值上限维度或所述测试值下限维度,则为不合格。当然,在数据序列的多组数据中,可以设定存在两组或三组数据甚至更多超出所述预设规格数据序列对应的数据时,判断为不合格,这也是可行的。
请结合图7-8所示,本实施方式中,所述比对工具12进行比对的方式为数据表格方式或波形图方式。
图7中所述比对工具12比对的方式为数据表格方式,在X轴时间上相同的数据中,所述电流数据序列中,对于每组数据,Y轴实际测试的值在所述预设规格数据序列对应的数据的上限维度和下限维度之间时,则该组数据比对结果为合格;否则该组数据比对结果为不合格。
图8中所述比对工具12比对的方式为波形图方式。该波形图方式方便直观判断。即将所述电流数据序列中的每组数据与所述预设规格数据序列中的每组数据按时间维度在同一坐标系中通过波形表示,其中,所述电流数据序列为波形a,预设规格数据序列中的上限维度为波形b,预设规格数据序列中的下限维度为波形c。波形a对应的点在波形b和c之间即比较结果合格;波形a对应的点超出波形b和c之间范围,即波形a出现过冲现象,则比较结果不合格。
与相关技术相比,本发明的用于激光驱动的检测方法及检测系统通过预设电流程序以待测电子模块输出相应电流,并由所述数字存储示波器采集与时间对应的电流数据序列,通过读取所述数字存储示波器采集所述驱动电流所对应的电流数据序列,并通过软件调取所述电流数据序列并与所述预设规格数据序列进行比对,从而得出比对结果是否合格,通过该方法可灵活的监测各种波形,避免了受特殊复杂波形的限制,如激光脉冲电流波形或分段电流波形,且其测试精度高,检测合格的数据驱动激光产品时的显示效果的一致性较好。
需要说明的是,以上参照附图所描述的各个实施例仅用以说明本发明而非限制本发明的范围,本领域的普通技术人员应当理解,在不脱离本发明的精神和范围的前提下对本发明进行的修改或者等同替换,均应涵盖在本发明的范围之内。此外,除上下文另有所指外,以单数形式出现的词包括复数形式,反之亦然。另外,除非特别说明,那么任何实施例的全部或一部分可结合任何其它实施例的全部或一部分来使用。
Claims (8)
1.一种用于激光驱动电源的检测方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:
步骤S1、利用测试终端设定预设参数程序,控制激光驱动电源输出相应的驱动参数,其中,所述预设参数程序对应预设规格数据序列,所述预设规格数据序列包括时间维度和与所述时间维度对应的测试值下限维度和测试值上限维度;
步骤S2、通过数字存储示波器采集所述驱动参数,得到参数数据序列并存储,其中,所述参数数据序列包括时间维度和与所述时间维度对应的实际值维度;
步骤S3、将所述参数数据序列与所述预设规格数据序列比对并输出比较结果;
步骤S3具体包括:
步骤S31、通过软件读取所述数字存储示波器存储的所述参数数据序列;
步骤S32、调用比对工具,所述比对工具设有所述预设规格数据序列;
步骤S33、所述比对工具将所述参数数据序列与所述预设规格数据序列进行比较判断并输出比较结果为合格或不合格;
若比较结果为不合格,返回至步骤S31,返回的次数为预设次数。
2.根据权利要求1所述的用于激光驱动电源的检测方法,其特征在于,步骤S1具体包括:
步骤S11、实现所述测试终端的软件初始化,并配置数字存储示波器;
步骤S12、启动测试按钮,通过所述预设参数程序控制所述激光驱动电源输出所述驱动参数,同时启动所述数字存储示波器。
3.根据权利要求1所述的用于激光驱动电源的检测方法,其特征在于,所述步骤S33具体包括如下步骤:
步骤S331、按所述时间维度,利用所述比对工具将所述参数数据序列的每组数据的实际值维度与所述预设规格数据序列的每组数据的所述测试值上限维度和所述测试值下限维度分别对应;
步骤S332、利用所述比对工具分别将同一所述时间维度的所述参数数据序列的每组数据与所述预设规格数据序列的每组数据进行比对:
若所述实际值维度超出所述测试值上限维度或所述测试值下限维度,则所述比对工具输出不合格。
4.根据权利要求3所述的用于激光驱动电源的检测方法,其特征在于,比对所述参数数据序列与所述预设规格数据序列时,当满足存在一组数据的所述实际值维度超出所述测试值上限维度或所述测试值下限维度,则为不合格。
5.根据权利要求3所述的用于激光驱动电源的检测方法,其特征在于,所述比对工具进行比对的方式为数据表格方式或波形图方式。
6.一种用于激光驱动电源的检测系统,其特征在于,包括:
测试终端,用于设定预设参数程序以驱动激光驱动电源输出相应的驱动参数;其中,所述预设参数程序对应预设规格数据序列,所述预设规格数据序列包括时间维度和与所述时间维度对应的测试值下限维度和测试值上限维度;及
数字存储示波器,用于采集所述驱动参数以得到参数数据序列并存储;其中,所述参数数据序列包括时间维度和与所述时间维度对应的实际值维度;
所述测试终端还包括内部设有预设规格数据序列的比对工具,所述比对工具用于读取所述参数数据序列并将所述参数数据序列与所述预设规格数据序列进行比对,输出比对结果;
所述测试终端还包括通过软件读取所述数字存储示波器存储的所述参数数据序列;
调用所述比对工具,所述比对工具设有所述预设规格数据序列;
所述比对工具将所述参数数据序列与所述预设规格数据序列进行比较判断并输出比较结果为合格或不合格;
若比较结果为不合格,返回至通过软件读取所述数字存储示波器存储的所述参数数据序列,返回的次数为预设次数。
7.根据权利要求6所述的用于激光驱动电源的检测系统,其特征在于,所述测试终端还包括显示单元,所述比对结果通过所述显示单元显示。
8.根据权利要求7所述的用于激光驱动电源的检测系统,其特征在于,所述测试终端为电脑,所述显示单元为显示屏,所述比对工具为Excel软件或WPS软件。
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Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111090099B (zh) * | 2020-01-08 | 2024-01-16 | 深圳市轴心自控技术有限公司 | 电子产品装配的激光测距传感器检测模块及检测方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1479109A (zh) * | 2002-08-30 | 2004-03-03 | 威盛电子股份有限公司 | 以波形判断连接失效发生位置的方法 |
CN201489085U (zh) * | 2009-06-05 | 2010-05-26 | 贝莱胜电子(厦门)有限公司 | 一种电路板自动化测试装置 |
CN202033454U (zh) * | 2011-04-07 | 2011-11-09 | 柒拾陆 | 一种电路板自动化测试系统 |
CN103389453A (zh) * | 2012-05-10 | 2013-11-13 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 光电转换芯片测试装置及其测试方法 |
CN105891694A (zh) * | 2016-05-04 | 2016-08-24 | 中国工程物理研究院电子工程研究所 | 硅基半导体晶体管的激光模拟辐射剂量率效应试验方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8654045B2 (en) * | 2006-07-31 | 2014-02-18 | Sony Corporation | Display and method for manufacturing display |
CN101435839B (zh) * | 2008-12-09 | 2011-09-14 | 中国西电电气股份有限公司 | 一种电力电子装置光触发脉冲的监测方法 |
CN106791742B (zh) * | 2016-12-08 | 2019-02-12 | 海信集团有限公司 | 投影光源亮度输出方法与投影图像显示方法 |
-
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- 2019-03-01 WO PCT/CN2019/076640 patent/WO2020001053A1/zh active Application Filing
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1479109A (zh) * | 2002-08-30 | 2004-03-03 | 威盛电子股份有限公司 | 以波形判断连接失效发生位置的方法 |
CN201489085U (zh) * | 2009-06-05 | 2010-05-26 | 贝莱胜电子(厦门)有限公司 | 一种电路板自动化测试装置 |
CN202033454U (zh) * | 2011-04-07 | 2011-11-09 | 柒拾陆 | 一种电路板自动化测试系统 |
CN103389453A (zh) * | 2012-05-10 | 2013-11-13 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 光电转换芯片测试装置及其测试方法 |
CN105891694A (zh) * | 2016-05-04 | 2016-08-24 | 中国工程物理研究院电子工程研究所 | 硅基半导体晶体管的激光模拟辐射剂量率效应试验方法 |
Also Published As
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