CN110611801B - 检测投影模组脏污的方法、装置、可读存储介质及投影仪 - Google Patents
检测投影模组脏污的方法、装置、可读存储介质及投影仪 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110611801B CN110611801B CN201910956490.5A CN201910956490A CN110611801B CN 110611801 B CN110611801 B CN 110611801B CN 201910956490 A CN201910956490 A CN 201910956490A CN 110611801 B CN110611801 B CN 110611801B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- image
- area
- white point
- white
- detected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N9/00—Details of colour television systems
- H04N9/12—Picture reproducers
- H04N9/31—Projection devices for colour picture display, e.g. using electronic spatial light modulators [ESLM]
- H04N9/3191—Testing thereof
Abstract
本发明公开了一种检测投影模组脏污的方法、装置、可读存储介质及投影仪,所述方法包括:获取所述投影模组的投影区域位置;控制所述投影模组在所述投影区域投影生成黑色图像;对所述黑色图像进行二值化处理,以将所述黑色图像转换为待测黑色白点图;依据预设白点面积,确定所述待测黑色白点图中的待测白点是否符合设定规格。本发明能够有效提高检测效率,减少不良品流出,且提高产品批次的一致性。
Description
技术领域
本发明涉及投影检测技术领域,尤其涉及检测投影模组脏污的方法、装置、可读存储介质及投影仪。
背景技术
投影模组是一种将图像经过放大投射显示出来的仪器设备,在投影模组组装生产的过程中,由于工艺环境的影响,灰尘等微小颗粒,易进入到组装的投影模组中,这些灰尘易影响投影模组的投影效果,为此在投影模组组装完成后,需要对投影模组的投影画面进行检测,而目前的检测均是通过员工肉眼检测,检测效率较低,人工检测易导致不良品流出,且很难保证产品批次的一致性。
上述内容仅用于辅助理解本申请的技术方案,并不代表承认上述内容是现有技术。
发明内容
基于此,针对目前采用人工检查投影模组中是否有影响投影画面质量的灰尘,导致检测效率较低,易导致不良品流出,且很难保证产品批次的一致性的问题,有必要提供一种检测投影模组脏污的方法、装置、可读存储介质及投影仪,能够有效提高检测效率,减少不良品流出,且提高产品批次的一致性。
为实现上述目的,本发明提供一种检测投影模组脏污的方法,所述方法包括:
获取所述投影模组的投影区域位置;
控制所述投影模组在所述投影区域投影生成黑色图像;
对所述黑色图像进行二值化处理,以将所述黑色图像转换为待测黑色白点图;
依据预设白点面积,确定所述待测黑色白点图中的待测白点是否符合设定规格。
可选地,所述获取所述投影模组的投影区域位置的步骤包括:
控制所述投影模组在幕布表面投影生成白色图像;
获取所述白色图像,确定所述白色图像的边界为投影区域位置。
可选地,所述获取所述白色图像,确定所述白色图像的边界为投影区域位置的步骤包括:
拍摄获取所述白色图像,所述白色图像为四方形;
对所述白色图像进行角点检测,获取所述白色图像的四角坐标;
依据所述四角坐标确定所述白色图像的边界为投影区域。
可选地,所述对所述黑色图像进行二值化处理,以将所述黑色图像转换为待测黑色白点图的步骤包括:
将所述黑色图像划分为分区图像,对每一分区图像分别进行二值化处理,以将每一分区图像转换为待测黑色白点分区图。
可选地,所述对所述黑色图像进行二值化处理,以将所述黑色图像转换为待测黑色白点图的步骤包括:
依据所述黑色图像,生成二值化处理阈值;
依据所述阈值,对所述黑色图像进行二值化处理,以将所述黑色图像转换为待测黑色白点图。
可选地,所述依据预设白点面积,确定所述待测黑色白点图中的待测白点是否符合设定规格的步骤包括:
计算所述待测黑色白点图中的待测白点面积;
依据预设白点面积,判断所述待测白点面积是否符合设定规格;
若所述待测白点面积小于等于所述预设白点面积,则所述待测白点符合规格;
若所述待测白点面积大于所述预设白点面积,则所述待测白点不符合规格。
此外,为了实现上述目的,本发明还提供一种检测投影模组脏污的装置,所述装置包括:
获取模块,用于获取所述投影模组的投影区域位置;
控制模块,用于控制所述投影模组在所述投影区域投影生成黑色图像;
处理模块,用于对所述黑色图像进行二值化处理,以将所述黑色图像转换为待测黑色白点图;
判断模块,用于依据预设白点面积,确定所述待测黑色白点图中的待测白点是否符合设定规格。
可选地,所述获取模块还用于控制所述投影模组在幕布表面投影生成白色图像;获取所述白色图像,确定所述白色图像的边界为投影区域位置。
此外,为了实现上述目的,本发明还提供一种投影仪,所述投影仪包括投影模组和外壳,所述投影模组的通过如上文所述检测投影模组脏污的方法检测脏污,所述投影模组设置于所述外壳内。
此外,为了实现上述目的,本发明还提供一种可读存储介质,所述可读存储介质上存储有检测投影模组脏污程序,所述检测投影模组脏污程序被处理器执行时实现如上文所述的检测投影模组脏污的方法的步骤。
本发明提出的技术方案中,确定投影模组投影区域的位置,在投影区域的位置上,控制投影模组投影生成黑色图像,在投影模组中灰尘等微小颗粒的位置投影点相对亮度更高,由此在对黑色图像进行二值化处理,黑色图像转换为待测黑色白点图,待测白点位置一般为灰尘等微小颗粒对应的位置,通过待测白点的面积和预设白点面积进行对比,判断待测白点是否符合设定规格。本发明能够有效提高检测效率,减少不良品流出,且提高产品批次的一致性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明检测投影模组脏污的方法第一实施例的流程示意图;
图2为本发明检测投影模组脏污的方法第二实施例的流程示意图;
图3为本发明检测投影模组脏污的方法第三实施例的流程示意图;
图4为本发明检测投影模组脏污的方法第四实施例的流程示意图;
图5为本发明检测投影模组脏污的方法第五实施例的流程示意图;
图6为本发明检测投影模组脏污的方法第六实施例的流程示意图;
图7为本发明检测投影模组脏污的装置的结构示意图;
图8为本发明投影模组在幕布投影白色图像示意图;
图9为本发明投影模组在幕布投影黑色图像示意图。
附图标号说明:
标号 | 名称 | 标号 | 名称 |
100 | 获取模块 | 500 | 幕布 |
200 | 控制模块 | 510 | 白色图像 |
300 | 处理模块 | 520 | 黑色图像 |
400 | 判断模块 |
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
需要说明,本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
另外,在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三个等,除非另有明确具体的限定。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,术语“连接”、“固定”等应做广义理解,例如,“固定”可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系,除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
另外,本发明各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本发明要求的保护范围之内。
参阅图1所示,本发明提出的第一实施例,本发明提供一种检测投影模组脏污的方法,所述方法包括:
步骤S10,获取投影模组的投影区域位置;
所述投影模组是一种将画面投射放大的仪器设备,例如DLP(Digital LightProcession,数字光处理)投影仪,内部包括有投影模组,通过控制投影模组在幕布上投射画面,确定得出投影模组对应的投影区域,一般来说,每次进行检测时将检测的投影模组固定在相同的位置处,例如设置有固定架,对投影模组进行检测时,将投影模组固定在固定架上,如此保证投影模组的投影区域相同,且提高检测效率。除此之外,可以在每次检测投影模组前,重新确定投影模组的投影区域,即检测前,将投影模组的投影区域记录下来。
步骤S20,控制投影模组在投影区域投影生成黑色图像;
在确定了投影区域的位置后,在控制投影模组在确定的投影区域上,投影生成黑色图像,人眼对强光的敏感程度不如弱光强烈,就是说,同样的亮点,在白色发亮的背景下,人眼很难发现,而在黑色发暗的背景下,人眼可轻易发现,或者说,亮点和黑色背景之间有明显的明暗差别,黑色图像便于区分辨识亮点。
步骤S30,对黑色图像进行二值化处理,以将黑色图像转换为待测黑色白点图;
在对黑色图像中的亮点检测时,有时还是难以区分,为此对黑色图像进行二值化处理,具体地,设定二值化处理阈值,将黑色图像中阈值以下的点转换为黑色,阈值以上的点转换为白色,由此能够更加明显的区分出黑色区域和白点,将黑色图像转换为待测黑色白点图,白点位置一般来说是灰尘等微小颗粒对应位置。
步骤S40,依据预设白点面积,确定待测黑色白点图中的待测白点是否符合设定规格。
由于灰尘等微小颗粒的大小不同,待测白点对应的面积同样也不同,一些微小颗粒直径较小,并不影响投影画面质量,为此,设定预设白点面积,该预设白点面积可以理解为参考标准,待测白点面积小于预设白点面积,则待测白点为合格点,待测白点面积大于预设白点面积,则待测白点为不合格点。
本实施技术方案中,确定投影模组投影区域的位置,在投影区域的位置上,控制投影模组投影生成黑色图像,在投影模组中灰尘等微小颗粒的位置投影点相对亮度更高,由此在对黑色图像进行二值化处理,黑色图像转换为待测黑色白点图,待测白点位置一般为灰尘等微小颗粒对应的位置,通过待测白点的面积和预设白点面积进行对比,判断待测白点是否符合设定规格。本发明能够有效提高检测效率,减少不良品流出,且提高产品批次的一致性。
参阅图2所示,本发明提出的第一实施例的基础上,提出本发明的第二实施例,获取投影模组的投影区域位置的步骤S10包括:
步骤S11,控制投影模组在幕布表面投影生成白色图像;
投影生成白色图像,由于一般幕布颜色较暗,在幕布投影生成白色图像,易于快速有效确定白色图像的边界,白色图像对应的区域为投影区域的位置,即能够快速确定投影区域的位置。
步骤S12,获取白色图像,确定白色图像的边界为投影区域位置。
例如,识别出白色图像的边界或者确定出白色图像的坐标点,坐标点连接形成白色图像的边界,白色图像对应的面积为投影区域面积,一般来说,每次进行不同投影模组的测量时,可都进行投影区域位置的确定,也可将投影模组固定位置,如此每次投影模组投影区域相同,避免重复多次确定投影区域,提高检测效率。
参阅图3所示,本发明提出的第二实施例的基础上,提出本发明的第三实施例,获取白色图像,确定白色图像的边界为投影区域位置的步骤S12包括:
步骤S121,拍摄获取白色图像,白色图像为四方形;
幕布的形状一般为四方形,通过投影模组投影生成四方形的白色图像,更加符合幕布的形状,且目前显示设备的也是四方形设计,如四方形的白色图像更加符合多数的显示设备,也更加符合用户的使用习惯。当然,白色图像的形状不限于四方形。
步骤S122,对白色图像进行角点检测,获取白色图像的四角坐标;
通过角点检测,在拍摄幕布的画面上建立平面坐标系,白色图像和幕布之间的颜色不同,通过计算得出白色图像四角坐标。
步骤S123,依据四角坐标确定白色图像的边界为投影区域。
由于白色图像的形状为四方形,通过连接计算得出的四角坐标,形成边界清晰的四方形的白色图像,四方形的白色图像所占面积为投影区域。确定得出投影区域后,便于以该投影区域位置为准,将投影模组黑色图像投影在该投影区域。
参阅图4所示,本发明提出的第一实施例的基础上,提出本发明的第四实施例,对黑色图像进行二值化处理,以将黑色图像转换为待测黑色白点图的步骤S30包括:
步骤S31,将黑色图像划分为分区图像,对每一分区图像分别进行二值化处理,以将每一分区图像转换为待测黑色白点分区图。
一般来说,黑色图像的面积较大,可以将黑色图像分成3×3的9个分区图像,而且每个分区图像的颜色互有差异,例如靠近边缘区域易受到外界环境的干扰,因此对黑色图像进行分区处理,能够避免黑色图像面积过大,导致测量不准确,通过分区图像设置,能够排出外界等环境因素干扰,保证测量准确。
参阅图5所示,本发明提出的第一实施例的基础上,提出本发明的第五实施例,对黑色图像进行二值化处理,以将黑色图像转换为待测黑色白点图的步骤S30包括:
步骤S310,依据黑色图像,生成二值化处理阈值;
其中,生成二值化处理阈值可以通过OpenCV(Open Source Computer VisionLibrary)开源式跨平台的计算机视觉库进行计算得到,例如计算黑色图像亮度平均值,以该平均值为二值化处理阈值,自动生成二值化处理阈值,能够更加进一步提高检测效率。除此之外,阈值也可通过用户根据需要进行设定。
步骤S320,依据阈值,对黑色图像进行二值化处理,以将黑色图像转换为待测黑色白点图。
例如,阈值为128,灰阶取值范围在0~255之间,0代表黑色,255代表白色,128以下数值点转化为黑色点,128以上数值点转化为白色点,由此将黑色图像转换为待测黑色白点图,其中待测白点图位置为灰尘等微小颗粒影响生成的亮点位置。
通过检查待测白点图,可以得出对应投影模组灰尘点位置,还可计数得出待测白点图的数量,并依据待测白点图的数量进一步确定投影模组是否合格。
参阅图6所示,本发明提出的第一实施例至第五实施例的基础上,提出本发明的第六实施例,依据预设白点面积,确定待测黑色白点图中的待测白点是否符合设定规格的步骤S40包括:
步骤S410,计算待测黑色白点图中的待测白点面积;
由于灰尘等微小颗粒的大小不同,待测白点对应的面积同样也不同,一些微小颗粒直径较小,并不影响投影画面质量,计算得出待测白点面积,便于判定该待测白点是否影响画面质量。
步骤S420,依据预设白点面积,判断待测白点面积是否符合设定规格;
该预设白点面积可以理解为参考标准,其中,预设白点面积可以通过用户自行设定,作为参考标准的预设白点面积,能够有效对待测白点进行判定。
步骤S430,若待测白点面积小于等于预设白点面积,则待测白点符合规格;
也就是说,待测白点面积小于等于预设白点面积,对应待测白点位置,人眼无法分辨,或者难以分辨,在投影模组进行投影时,不影响最终的投影画面质量。
步骤S440,若待测白点面积大于预设白点面积,则待测白点不符合规格。
由此,判定投影模组为不合格产品,当然有时单个不合格待测白点对投影质量影响较小,也可累积不合格的待测白点数量,当不合格待测白点数量累积到设定数量时,判断投影模组为不合格产品,例如,不合格待测白点数量为5个时,判断投影模组为不合格产品。
参阅图7所示,本发明还提供一种检测投影模组脏污的装置,所述装置包括:
获取模块100,用于获取所述投影模组的投影区域位置;所述投影模组是一种将画面投射放大的仪器设备,例如DLP投影仪,内部包括有投影模组,通过控制投影模组在幕布500上投射画面,确定得出投影模组对应的投影区域,一般来说,每次进行检测时将检测的投影模组固定在相同的位置处,例如设置有固定架,对投影模组进行检测时,将投影模组固定在固定架上,如此保证投影模组的投影区域相同,且提高检测效率。除此之外,可以在每次检测投影模组前,重新确定投影模组的投影区域,即检测前,将投影模组的投影区域记录下来。
参阅图9所示,控制模块200,用于控制所述投影模组在所述投影区域投影生成黑色图像520;在确定了投影区域的位置后,在控制投影模组在确定的投影区域上,投影生成黑色图像520,人眼对强光的敏感程度不如弱光强烈,就是说,同样的亮点,在白色发亮的背景下,人眼很难发现,而在黑色发暗的背景下,人眼可轻易发现,或者说,亮点和黑色背景之间有明显的明暗差别,黑色图像520便于区分辨识亮点。
处理模块300,用于对所述黑色图像520进行二值化处理,以将所述黑色图像520转换为待测黑色白点图;在对黑色图像520中的亮点检测时,有时还是难以区分,为此对黑色图像520进行二值化处理,具体地,设定二值化处理阈值,将黑色图像520中阈值以下的点转换为黑色,阈值以上的点转换为白色,由此能够更加明显的区分出黑色区域和白点,将黑色图像520转换为待测黑色白点图,白点位置一般来说是灰尘等微小颗粒对应位置。
判断模块400,用于依据预设白点面积,确定所述待测黑色白点图中的待测白点是否符合设定规格。由于灰尘等微小颗粒的大小不同,待测白点对应的面积同样也不同,一些微小颗粒直径较小,并不影响投影画面质量,为此,设定预设白点面积,该预设白点面积可以理解为参考标准,待测白点面积小于预设白点面积,则待测白点为合格点,待测白点面积大于预设白点面积,则待测白点为不合格点。
本实施技术方案中,确定投影模组投影区域的位置,在投影区域的位置上,控制投影模组投影生成黑色图像520,在投影模组中灰尘等微小颗粒的位置投影点相对亮度更高,由此在对黑色图像520进行二值化处理,黑色图像520转换为待测黑色白点图,待测白点位置一般为灰尘等微小颗粒对应的位置,通过待测白点的面积和预设白点面积进行对比,判断待测白点是否符合设定规格。本发明能够有效提高检测效率,减少不良品流出,且提高产品批次的一致性。
参阅图8所示,进一步地,所述获取模块100还用于控制所述投影模组在幕布500表面投影生成白色图像510;投影生成白色图像510,由于一般幕布500颜色较暗,在幕布500投影生成白色图像510,易于快速有效确定白色图像510的边界,白色图像510对应的区域为投影区域的位置,即能够快速确定投影区域的位置。获取所述白色图像510,确定所述白色图像510的边界为投影区域位置。例如,识别出白色图像510的边界或者确定出白色图像510的坐标点,坐标点连接形成白色图像510的边界,白色图像510对应的面积为投影区域面积,一般来说,每次进行不同投影模组的测量时,可都进行投影区域位置的确定,也可将投影模组固定位置,如此每次投影模组投影区域相同,避免重复多次确定投影区域,提高检测效率。
进一步地,所述获取模块100还用于拍摄获取白色图像510,白色图像510为四方形;幕布500的形状一般为四方形,通过投影模组投影生成四方形的白色图像510,更加符合幕布500的形状,且目前显示设备的也是四方形设计,如四方形的白色图像510更加符合多数的显示设备,也更加符合用户的使用习惯。当然,白色图像510的形状不限于四方形。获取模块100还用于对白色图像510进行角点检测,获取白色图像510的四角坐标;通过角点检测,在拍摄幕布500的画面上建立平面坐标系,白色图像510和幕布500之间的颜色不同,通过计算得出白色图像510四角坐标。获取模块100还用于依据四角坐标确定白色图像510的边界为投影区域。由于白色图像510的形状为四方形,通过连接计算得出的四角坐标,形成边界清晰的四方形的白色图像510,四方形的白色图像510所占面积为投影区域。确定得出投影区域后,便于以该投影区域位置为准,将投影模组黑色图像520投影在该投影区域。
进一步地,处理模块300用于将黑色图像520划分为分区图像,对每一分区图像分别进行二值化处理,以将每一分区图像转换为待测黑色白点分区图。一般来说,黑色图像520的面积较大,可以将黑色图像520分成3×3的9个分区图像,而且每个分区图像的颜色互有差异,例如靠近边缘区域易受到外界环境的干扰,因此对黑色图像520进行分区处理,能够避免黑色图像520面积过大,导致测量不准确,通过分区图像设置,能够排出外界等环境因素干扰,保证测量准确。
进一步地,处理模块300还用于依据黑色图像520,生成二值化处理阈值;其中,生成二值化处理阈值可以通过OpenCV开源式跨平台的计算机视觉库进行计算得到,例如计算黑色图像520亮度平均值,以该平均值为二值化处理阈值,自动生成二值化处理阈值,能够更加进一步提高检测效率。除此之外,阈值也可通过用户根据需要进行设定。处理模块300还用于对黑色图像520进行二值化处理,以将黑色图像520转换为待测黑色白点图。例如,阈值为128,灰阶取值范围在0~255之间,0代表黑色,255代表白色,128以下数值点转化为黑色点,128以上数值点转化为白色点,由此将黑色图像520转换为待测黑色白点图,其中待测白点图位置为灰尘等微小颗粒影响生成的亮点位置。通过检查待测白点图,可以得出对应投影模组灰尘点位置,还可计数得出待测白点图的数量,并依据待测白点图的数量进一步确定投影模组是否合格。
进一步地,判断模块400还用于计算待测黑色白点图中的待测白点面积;由于灰尘等微小颗粒的大小不同,待测白点对应的面积同样也不同,一些微小颗粒直径较小,并不影响投影画面质量,计算得出待测白点面积,便于判定该待测白点是否影响画面质量。判断模块400还用于依据预设白点面积,判断待测白点面积是否符合设定规格;该预设白点面积可以理解为参考标准,其中,预设白点面积可以通过用户自行设定,作为参考标准的预设白点面积,能够有效对待测白点进行判定。判断模块400还用于若待测白点面积小于等于预设白点面积,则待测白点符合规格;也就是说,待测白点面积小于等于预设白点面积,对应待测白点位置,人眼无法分辨,或者难以分辨,在投影模组进行投影时,不影响最终的投影画面质量。判断模块400还用于若待测白点面积大于预设白点面积,则待测白点不符合规格。由此,判定投影模组为不合格产品,当然有时单个不合格待测白点对投影质量影响较小,也可累积不合格的待测白点数量,当不合格待测白点数量累积到设定数量时,判断投影模组为不合格产品,例如,不合格待测白点数量为5个时,判断投影模组为不合格产品
本发明还提供一种投影仪,所述投影仪包括投影模组和外壳,所述投影模组的通过如上文所述检测投影模组脏污的方法检测脏污,所述投影模组设置于所述外壳内。
本发明投影仪具体实施方式可以参照上述检测投影模组脏污的方法各实施例,在此不再赘述。
本发明还提供一种可读存储介质,所述可读存储介质上存储有检测投影模组脏污程序,所述检测投影模组脏污程序被处理器执行时实现如上文所述的检测投影模组脏污的方法的步骤。
本发明可读存储介质具体实施方式可以参照上述检测投影模组脏污的方法各实施例,在此不再赘述。
需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中,包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机,计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
以上仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是在本发明的发明构思下,利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (9)
1.一种检测投影模组脏污的方法,其特征在于,所述方法包括:
获取所述投影模组的投影区域位置;
控制所述投影模组在所述投影区域投影生成黑色图像;
对所述黑色图像进行二值化处理,以将所述黑色图像转换为待测黑色白点图;
计算所述待测黑色白点图中的待测白点面积;
依据预设白点面积,判断所述待测白点面积是否符合设定规格;
若所述待测白点面积小于等于所述预设白点面积,则所述待测白点符合规格;
若所述待测白点面积大于所述预设白点面积,则所述待测白点不符合规格。
2.如权利要求1所述的检测投影模组脏污的方法,其特征在于,所述获取所述投影模组的投影区域位置的步骤包括:
控制所述投影模组在幕布表面投影生成白色图像;
获取所述白色图像,确定所述白色图像的边界为投影区域位置。
3.如权利要求2所述的检测投影模组脏污的方法,其特征在于,所述获取所述白色图像,确定所述白色图像的边界为投影区域位置的步骤包括:
拍摄获取所述白色图像,所述白色图像为四方形;
对所述白色图像进行角点检测,获取所述白色图像的四角坐标;
依据所述四角坐标确定所述白色图像的边界为投影区域。
4.如权利要求1所述的检测投影模组脏污的方法,其特征在于,所述对所述黑色图像进行二值化处理,以将所述黑色图像转换为待测黑色白点图的步骤包括:
将所述黑色图像划分为分区图像,对每一分区图像分别进行二值化处理,以将每一分区图像转换为待测黑色白点分区图。
5.如权利要求1所述的检测投影模组脏污的方法,其特征在于,所述对所述黑色图像进行二值化处理,以将所述黑色图像转换为待测黑色白点图的步骤包括:
依据所述黑色图像,生成二值化处理阈值;
依据所述阈值,对所述黑色图像进行二值化处理,以将所述黑色图像转换为待测黑色白点图。
6.一种检测投影模组脏污的装置,其特征在于,所述装置包括:
获取模块,用于获取所述投影模组的投影区域位置;
控制模块,用于控制所述投影模组在所述投影区域投影生成黑色图像;
处理模块,用于对所述黑色图像进行二值化处理,以将所述黑色图像转换为待测黑色白点图;
判断模块,用于计算所述待测黑色白点图中的待测白点面积;依据预设白点面积,判断所述待测白点面积是否符合设定规格;若所述待测白点面积小于等于所述预设白点面积,则所述待测白点符合规格;若所述待测白点面积大于所述预设白点面积,则所述待测白点不符合规格。
7.如权利要求6所述的检测投影模组脏污的装置,其特征在于,所述获取模块还用于控制所述投影模组在幕布表面投影生成白色图像;获取所述白色图像,确定所述白色图像的边界为投影区域位置。
8.一种投影仪,其特征在于,所述投影仪包括投影模组和外壳,所述投影模组的通过如权利要求1至5任一项所述检测投影模组脏污的方法检测脏污,所述投影模组设置于所述外壳内。
9.一种可读存储介质,其特征在于,所述可读存储介质上存储有检测投影模组脏污程序,所述检测投影模组脏污程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的检测投影模组脏污的方法的步骤。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910956490.5A CN110611801B (zh) | 2019-10-08 | 2019-10-08 | 检测投影模组脏污的方法、装置、可读存储介质及投影仪 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910956490.5A CN110611801B (zh) | 2019-10-08 | 2019-10-08 | 检测投影模组脏污的方法、装置、可读存储介质及投影仪 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN110611801A CN110611801A (zh) | 2019-12-24 |
CN110611801B true CN110611801B (zh) | 2021-08-20 |
Family
ID=68894289
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201910956490.5A Active CN110611801B (zh) | 2019-10-08 | 2019-10-08 | 检测投影模组脏污的方法、装置、可读存储介质及投影仪 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN110611801B (zh) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111866481B (zh) * | 2020-09-22 | 2020-12-08 | 歌尔股份有限公司 | 投影装置的脏污检测方法、检测装置及可读存储介质 |
CN113596420B (zh) * | 2021-07-28 | 2022-12-09 | 歌尔科技有限公司 | 投影仪镜片的检测方法、装置、投影仪及可读存储介质 |
CN115361542B (zh) * | 2022-10-24 | 2023-02-28 | 潍坊歌尔电子有限公司 | 投影机清洁度自检方法、装置、设备及存储介质 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104093016A (zh) * | 2014-06-12 | 2014-10-08 | 华南理工大学 | 一种摄像头模组脏污检测方法及系统 |
WO2016110094A1 (zh) * | 2015-01-08 | 2016-07-14 | 中兴通讯股份有限公司 | 投影控制方法、装置及投影设备 |
CN108288264A (zh) * | 2017-12-26 | 2018-07-17 | 横店集团东磁有限公司 | 一种广角摄像头模组脏污测试方法 |
CN209167792U (zh) * | 2018-09-13 | 2019-07-26 | 深圳阜时科技有限公司 | 一种光学投影模组 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7551341B1 (en) * | 2008-01-28 | 2009-06-23 | Dolby Laboratories Licensing Corporation | Serial modulation display having binary light modulation stage |
-
2019
- 2019-10-08 CN CN201910956490.5A patent/CN110611801B/zh active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104093016A (zh) * | 2014-06-12 | 2014-10-08 | 华南理工大学 | 一种摄像头模组脏污检测方法及系统 |
WO2016110094A1 (zh) * | 2015-01-08 | 2016-07-14 | 中兴通讯股份有限公司 | 投影控制方法、装置及投影设备 |
CN108288264A (zh) * | 2017-12-26 | 2018-07-17 | 横店集团东磁有限公司 | 一种广角摄像头模组脏污测试方法 |
CN209167792U (zh) * | 2018-09-13 | 2019-07-26 | 深圳阜时科技有限公司 | 一种光学投影模组 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN110611801A (zh) | 2019-12-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN110611801B (zh) | 检测投影模组脏污的方法、装置、可读存储介质及投影仪 | |
CN111246204B (zh) | 一种基于相对亮度偏差的脏污检测方法和装置 | |
US10041786B2 (en) | System and method for efficient surface measurement using a laser displacement sensor | |
CN110476056B (zh) | 一种视觉检测方法、检测设备以及机器人 | |
JP6115214B2 (ja) | パターン処理装置、パターン処理方法、パターン処理プログラム | |
CN115908269B (zh) | 视觉缺陷检测方法、装置、存储介质和计算机设备 | |
CN109919933B (zh) | Vr设备及其画面检测方法、装置、计算机可读存储介质 | |
CN109002823B (zh) | 一种感兴趣区域确定方法、装置、设备及可读存储介质 | |
CN110736610B (zh) | 测量光学中心偏移的方法、装置、存储介质及深度相机 | |
CN112334761B (zh) | 缺陷判别方法、缺陷判别装置及记录介质 | |
CN111726612A (zh) | 镜头模组脏污检测方法、系统、设备及计算机存储介质 | |
CN112347292A (zh) | 缺陷标注方法和装置 | |
CN110595738B (zh) | 激光器检测方法、装置、设备及深度相机 | |
CN108629813B (zh) | 一种投影设备高度信息的获取方法、装置 | |
CN111369513B (zh) | 一种异常检测方法、装置、终端设备及存储介质 | |
US10970592B2 (en) | Adhering substance detection apparatus and adhering substance detection method | |
US11039096B2 (en) | Image processing device, image processing method and storage medium | |
CN117218062A (zh) | 一种缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 | |
CN116908185A (zh) | 物品的外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 | |
CN117372321A (zh) | 缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 | |
CN114841943A (zh) | 一种零件检测方法、装置、设备及存储介质 | |
CN113570578A (zh) | 一种镜片鬼影现象检测方法、装置 | |
CN113160259A (zh) | 边缘检测方法、装置、计算机设备及存储介质 | |
JPH08159712A (ja) | パターン認識方法 | |
CN109827759B (zh) | 应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
TA01 | Transfer of patent application right | ||
TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20201012 Address after: 261031, north of Jade East Street, Dongming Road, Weifang hi tech Zone, Shandong province (GoerTek electronic office building, Room 502) Applicant after: GoerTek Optical Technology Co.,Ltd. Address before: 261031 Dongfang Road, Weifang high tech Industrial Development Zone, Shandong, China, No. 268 Applicant before: GOERTEK Inc. |
|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |