CN111866481B - 投影装置的脏污检测方法、检测装置及可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种投影装置的脏污检测方法，包括以下步骤：获取第二投影装置在第一投影距离的投影图像；获取所述投影图像对应的第一脏污信息；根据预存的转换系数将所述第一脏污信息转换为第二投影距离对应的第二脏污信息，其中，所述第一投影距离小于第二投影距离；根据所述第二脏污信息进行所述第二投影装置的脏污判断。本发明还公开了一种检测装置及计算机可读存储介质，达成了降低检测成本的效果。

Description

投影装置的脏污检测方法、检测装置及可读存储介质

技术领域

本发明涉及投影检测技术领域，尤其涉及投影装置的脏污检测方法、检测装置及计算机可读存储介质。

背景技术

投影装置是一种将图像经过放大投射显示出来的设备，在投影装置的组装过程中，由于工艺环境的影响，灰尘等微小颗粒易进入到组装的投影装置中，这些灰尘易影响投影装置的投影效果，为此在投影装置组装完成后，需要对投影装置的投影画面进行检测。

现有的检测方法通过获取投影装置在预设投影距离处的投影图像，并根据投影图像获取投影装置的脏污信息。由于获取投影图像的测试环境的要求较高，为了获得更准确的检测结果，投影距离一般比较长，因此，现有的检测方法存在检测成本较大的缺点。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种投影装置的脏污检测方法、检测装置及计算机可读存储介质，旨在达成降低检测成本的效果。

为实现上述目的，本发明提供一种投影装置的脏污检测方法，所述投影装置的脏污检测方法包括以下步骤：

获取第二投影装置在第一投影距离的投影图像；

获取所述投影图像对应的第一脏污信息；

根据预存的转换系数将所述第一脏污信息转换为第二投影距离对应的第二脏污信息，其中，所述第一投影距离小于第二投影距离；

根据所述第二脏污信息进行所述第二投影装置的脏污判断。

可选地，获取第二投影装置在第一投影距离的投影图像的步骤之前，还包括：

获取第一投影装置在第一投影距离下投影得到的第一参考图像以及所述第一投影装置在第二投影距离下投影得到的第二参考图像；

获取所述第一参考图像的第三脏污信息以及所述第二参考图像的第四脏污信息；

根据所述第三脏污信息和所述第四脏污信息得到所述转换系数；

保存所述转换系数。

可选地，所述获取所述第一参考图像的第三脏污信息以及所述第二参考图像的第四脏污信息的步骤包括：

对所述第一参考图像进行二值化处理得到第一二值化图像，并对所述第二参考图像进行二值化处理得到第二二值化图像；

确定所述第一二值化图像中的灰度值为预设值的像素点的第一像素数量，所述第三脏污信息包括所述第一像素数量；

确定所述第二二值化图像中的灰度值为预设值的像素点的第二像素数量，所述第三脏污信息包括所述第二像素数量。

可选地，所述第一投影装置至少两个，所述根据所述第三脏污信息和所述第四脏污信息得到所述转换系数的步骤包括：

对所述第一投影装置对应的所述第一像素数量求和以得到第一像素数量和；

对所述第二投影装置对应的所述第二像素数量求和以得到第二像素数量和；

获取第一像素数量和以及所述第二像素数量和的比值，将所述比值作为所述转换系数。

可选地，所述第一投影装置至少两个，所述根据所述第三脏污信息和所述第四脏污信息得到所述转换系数的步骤包括：

比对所述第一投影装置对应的所述第一像素数量；

比对所述第一投影装置对应的所述第二像素数量；

获取最大第一像素数量以及最大第二像素数量的比值，将所述比值作为所述转换系数。

可选地，所述获取所述投影图像对应的第一脏污信息的步骤包括：

对所述投影图像进行二值化处理得到第三二值化图像；

确定所述第三二值化图像中灰度值为预设值的第三像素数量，所述第一脏污信息包括所述第三像素数量。

可选地，所述根据所述第二脏污信息进行所述第二投影装置的脏污判断的步骤包括：

在所述第二脏污信息小于预设阈值时，输出所述第二投影装置合格的提示信息；

在所述第二脏污信息大于或等于所述预设阈值时，输出所述第二投影装置不合格的提示信息。

此外，为实现上述目的，本发明还提出了一种检测装置，所述检测装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的投影装置的脏污检测程序，所述投影装置的脏污检测程序在被处理器执行时实现如上述的投影装置的脏污检测方法的步骤。

此外，为实现上述目的，本发明还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有投影装置的脏污检测程序，所述投影装置的脏污检测程序被处理器执行时实现如上所述的投影装置的脏污检测方法的步骤。

本发明实施例提出的一种投影装置的脏污检测方法、检测装置及计算机可读存储介质，通过获取投影装置在第一投影距离对应的第一脏污信息，然后根据预存的转换系数以及第一脏污信息转换出第二投影距离对应的第二脏污信息，由于第一投影距离小于第二投影距离，即可以通过较短的投影距离获取投影装置的污点检测结果，因此降低了获取投影图像的测试环境的要求，从而达成了降低检测成本的效果。

附图说明

图1是本发明实施例方案涉及的检测装置的硬件架构示意图；

图2为本发明投影装置的脏污检测方法第一实施例的流程示意图；

图3为本发明投影装置的脏污检测方法第二实施例的流程示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

现有的检测方法通过获取投影装置在预设投影距离处的投影图像，并根据投影图像获取投影装置的脏污信息。由于获取投影图像的测试环境的要求较高，为了获得更准确的检测结果，投影距离一般比较长，因此，现有的检测方法存在检测成本较大的缺点。

为解决上述缺陷，本发明实施例提出一投影装置的脏污检测方法、检测装置及计算机可读存储介质，其中，所述投影装置的脏污检测方法主要包括以下步骤：

获取第二投影装置在第一投影距离的投影图像；

获取所述投影图像对应的第一脏污信息；

根据预存的转换系数将所述第一脏污信息转换为第二投影距离对应的第二脏污信息，其中，所述第一投影距离小于第二投影距离；

根据所述第二脏污信息进行所述第二投影装置的脏污判断。

本方案通过获取投影装置在第一投影距离对应的第一脏污信息，然后根据预存的转换系数以及第一脏污信息转换出第二投影距离对应的第二脏污信息，由于第一投影距离小于第二投影距离，即可以通过较短的投影距离获取投影装置的污点检测结果，因此降低了获取投影图像的测试环境的要求，从而达成了降低检测成本的效果。

如图1所示，图1是本发明实施例方案涉及的检测装置的硬件架构示意图。

如图1所示，该检测装置可以包括：处理器1001，例如CPU，用户接口1003，网络接口1004，存储器1005，通信总线1002。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏（Display）、输入单元比如键盘等，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口（如WI-FI接口）。存储器1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器（non-volatilememory），例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。

本领域技术人员可以理解，图1中示出的检测装置的硬件架构并不构成对检测装置的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

如图1所示，作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及投影装置的脏污检测程序。

在图1所示的检测装置中，网络接口1004主要用于连接后台服务器，与后台服务器进行数据通信；处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的投影装置的脏污检测程序，并执行以下操作：

获取第二投影装置在第一投影距离的投影图像；

获取所述投影图像对应的第一脏污信息；

根据预存的转换系数将所述第一脏污信息转换为第二投影距离对应的第二脏污信息，其中，所述第一投影距离小于第二投影距离；

根据所述第二脏污信息进行所述第二投影装置的脏污判断。

进一步地，处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的投影装置的脏污检测程序，还执行以下操作：

获取第一投影装置在第一投影距离下投影得到的第一参考图像以及所述第一投影装置在第二投影距离下投影得到的第二参考图像；

获取所述第一参考图像的第三脏污信息以及所述第二参考图像的第四脏污信息；

根据所述第三脏污信息和所述第四脏污信息得到所述转换系数；

保存所述转换系数。

进一步地，处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的投影装置的脏污检测程序，还执行以下操作：

对所述第一参考图像进行二值化处理得到第一二值化图像，并对所述第二参考图像进行二值化处理得到第二二值化图像；

确定所述第一二值化图像中的灰度值为预设值的像素点的第一像素数量，所述第三脏污信息包括所述第一像素数量；

确定所述第二二值化图像中的灰度值为预设值的像素点的第二像素数量，所述第三脏污信息包括所述第二像素数量。

进一步地，处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的投影装置的脏污检测程序，还执行以下操作：

对所述第一投影装置对应的所述第一像素数量求和以得到第一像素数量和；

对所述第二投影装置对应的所述第二像素数量求和以得到第二像素数量和；

获取第一像素数量和以及所述第二像素数量和的比值，将所述比值作为所述转换系数。

进一步地，处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的投影装置的脏污检测程序，还执行以下操作：

比对所述第一投影装置对应的所述第一像素数量；

比对所述第二投影装置对应的所述第二像素数量；

获取最大第一像素数量以及最大第二像素数量的比值，将所述比值作为所述转换系数。

进一步地，处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的投影装置的脏污检测程序，还执行以下操作：

对所述投影图像进行二值化处理得到第三二值化图像；

确定所述第三二值化图像中灰度值为预设值的第三像素数量，所述第一脏污信息包括所述第三像素数量。

进一步地，处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的投影装置的脏污检测程序，还执行以下操作：

在所述第二脏污信息小于预设阈值时，输出所述第二投影装置合格的提示信息；

在所述第二脏污信息大于或等于所述预设阈值时，输出所述第二投影装置不合格的提示信息。

参照图2，在本发明投影装置的脏污检测方法的第一实施例中，所述投影装置的脏污检测方法包括以下步骤：

步骤S10、获取第二投影装置在第一投影距离的投影图像；

步骤S20、获取所述投影图像对应的第一脏污信息；

步骤S30、根据预存的转换系数将所述第一脏污信息转换为第二投影距离对应的第二脏污信息，其中，所述第一投影距离小于第二投影距离；

步骤S40、根据所述第二脏污信息进行所述第二投影装置的脏污判断。

在本实施例中，所述第二投影装置是待检测的投影装置；所述投影距离是投影装置的投影镜头与被投影的投影屏幕之间的距离，所述第一投影距离小于第二投影距离；所述投影图像是投影装置在投影屏幕的投影结果；所述脏污信息是投影图像中的脏污信息，可以包括污点像素的像素数量；所述第一脏污信息是第一投影装置在第一投影距离对应的投影图像中的脏污信息；所述第二脏污信息是第一投影装置在第二投影距离对应的投影图像中的脏污信息；所述转换系数为第一投影距离对应的投影图像中的脏污信息以及第二投影距离对应的投影图像中的脏污信息的转换系数，即可以根据第一投影距离对应的投影图像中的脏污信息以及转换系数预测第二投影距离对应的投影图像中的脏污信息，反之亦然。

处理器获取第二投影装置在第一投影距离的投影图像，示例性地，在检测装置包括摄像装置时，控制摄像装置拍摄当前投影屏幕，其中，所述投影装置已将图像投影在投影屏幕上，然后获取摄影装置拍摄到图像，并将该图像作为第二投影装置在第一投影距离的投影图像；处理器也可以直接接收第二投影装置在第一投影距离的投影图像。

处理器对获取的投影图像进行图像处理，获得处理后的投影图像，然后遍历处理后的投影图像，确定投影图像中的污点并统计污点的污点数，并将该污点数作为第一脏污信息。

示例性地，步骤S20进一步包括以下步骤：

步骤S21、对所述投影图像进行二值化处理得到第三二值化图像；

步骤S22、确定所述第三二值化图像中灰度值为预设值的第三像素数量，所述第一脏污信息包括所述第三像素数量。

所述二值化处理是对图像进行二值化处理，也就是将图像上的像素点的灰度值设置为0或255的过程；所述像素是图像的最小组成元素，是单一颜色的小方格；所述灰度值是灰度等级，其中，灰度等级的范围是0-255，255为白色，0为黑色；所述预设值为投影图像中的污点的灰度值，可以是255；

处理器遍历投影图像中的像素点，并在遍历时获取当前像素点的灰度值，在当前像素点的灰度值小于或等于128时，将当前像素点的灰度值设置为0；在当前像素点的灰度值大于128时，将当前像素点的灰度值设置为255，在遍历结束时，得到二值化处理后的第三二值化图像。在预设值为255时，处理器确定第三二值化图像中灰度值为255的像素点，并获取灰度值为255的像素点的第三像素数量，并将第三像素数量作为第一脏污信息。

处理器获取存储器中预存的转换系数，并根据转换系数以及第三像素数量计算得到预测的第四像素数量，其中，所述第四像素数量则是第二投影装置在第二投影距离的投影图像中的污点像素的像素数量；然后根据得到的第四像素数量判断第二投影装置的脏污信息是否满足产品规格。

示例性地，所述步骤S40进一步包括以下步骤：

步骤S41、在所述第二脏污信息小于预设阈值时，输出所述第二投影装置合格的提示信息；

步骤S42、在所述第二脏污信息大于或等于所述预设阈值时，输出所述第二投影装置不合格的提示信息。

所述预设阈值是判定投影装置的镜头是否合格的临界值；所述第二脏污信息包括第四像素数量，所述第四像素数量用于表示第二投影装置的镜头中的污点数。

处理器比对第四像素数量以及预设阈值，然后在第四像素数量小于预设阈值时，判定第四像素数量对应的第二投影装置满足产品规格，并输出第二投影装置合格的提示信息；在第四像素数量大于或等于预设阈值时，判定第四像素数量对应的第二投影装置不满足产品规格，并输出第二投影装置不合格的提示信息。

在本实施例公开的技术方案中，通过获取第二投影装置在第一投影距离对应的第一脏污信息，然后根据预存的转换系数以及第一脏污信息转换出第二投影距离对应的第二脏污信息，由于第一投影距离小于第二投影距离，即可以通过较短的投影距离获取第二投影装置的污点检测结果，因此降低了获取投影图像的测试环境的要求，从而达成了降低检测成本的效果。

可选地，基于第一实施例，在本发明投影装置的脏污检测方法的第二实施例中，所述步骤S10之前还包括以下步骤：

步骤S50、获取第一投影装置在第一投影距离下投影得到的第一参考图像以及所述第一投影装置在第二投影距离下投影得到的第二参考图像；步骤S60、获取所述第一参考图像的第三脏污信息以及所述第二参考图像的第四脏污信息；

步骤S70、根据所述第三脏污信息和所述第四脏污信息得到所述转换系数；

步骤S80、保存所述转换系数。

在本实施例中，所述第一投影装置是投影装置样品；所述第一参考图像是第一投影装置在第一投影距离下的投影图像；所述第二参考图像是第一投影装置在第二投影距离下的投影图像。

处理器获取第一投影装置在第一投影距离下投影得到的第一参考图像，并获取第一投影装置在第二投影距离下投影得到的第二参考图像。

示例性地，检测装置包括摄像装置，处理器在接收到拍摄指令时，控制摄像装置拍摄当前投影屏幕，并获取摄影装置拍摄到的图像。处理器接收第一投影装置当前的投影距离，并将当前的投影距离与获取的图像关联。在处理器获取到两个图像以及对应的投影距离时，比对这两个图像的投影距离，并将距离较小投影距离的作为第一投影距离，并将该投影距离对应的图像作为第一参考图像；然后将距离较大的投影距离作为第二投影距离，并将该投影距离对应的图像作为第二参考图像。处理器也可以直接接收第一投影装置在第一投影距离下的第一参考图像，以及第二投影距离下的第二参考图像。

处理器还可以获取第一参考图像中实际的第一投影画面，以及第二参考图像中实际的第二投影画面，并根据第二投影画面对第一投影画面进行图像校验。

示例性地，在预设值为255时，投影装置所投影的图像可以是颜色较深的纯色图像，即对应灰度值小于128的纯色图像。处理器识别第一参考图像中的投影画面的边界，并截取投影画面的边界内的图像作为第一投影画面；同样地，处理器还可以识别第二参考图像中投影画面的边界，并截取投影画面的边界内的图像作为第二投影画面。比对第一投影画面以及第二投影画面，在第一投影画面与第二投影画面的边界不一致时，根据第二投影画面的边界信息以及预设参数计算第一投影画面的边界信息，并根据计算得到的边界信息以及实际的边界信息生成校验边界信息，并根据校验边界信息对第一投影画面做图像填充或者图像裁剪的操作，以保证第一投影画面以及第二投影画面在投影路线上平行，然后将第一参考图像替换为处理后的第一投影画面，将第二参考图像替换为第二投影画面；同样地，也可以用第一投影画面校验第二投影画面，执行如上述的操作，并将第二参考图像替换为处理后的第二投影画面，将第一参考图像替换为第一投影画面。

处理器获取第一参考图像中的第三脏污信息，并获取第二参考图像中的第四脏污信息。

示例性地，所述步骤S60进一步包括以下步骤：

步骤S61、对所述第一参考图像进行二值化处理得到第一二值化图像，并对所述第二参考图像进行二值化处理得到第二二值化图像；

步骤S62、确定所述第一二值化图像中的灰度值为预设值的像素点的第一像素数量，所述第三脏污信息包括所述第一像素数量；

步骤S63、确定所述第二二值化图像中的灰度值为预设值的像素点的第二像素数量，所述第三脏污信息包括所述第二像素数量。

处理器遍历第一参考图像中的像素点，并在遍历时获取当前像素点的灰度值，在当前像素点的灰度值小于或等于128时，将当前像素点的灰度值设置为0；在当前像素点的灰度值大于128时，将当前像素点的灰度值设置为255，在遍历结束时，得到二值化处理后的第一二值化图像。同样地，处理器也可以遍历第二参考图像中的像素点，并在遍历时执行如上述的操作，在遍历结束时，得到二值化处理后的第二二值化图像。

在预设值为255时，处理器确定第一二值化图像中灰度值为255的像素点，并获取灰度值为255的像素点的第一像素数量，并将第一像素数量作为第三脏污信息。处理器还可以确定第二二值化图像中灰度值为255的像素点，并获取灰度值为255的像素点的第二像素数量，并将第二像素数量作为第四脏污信息。

处理器获取第一像素数量以及第二像素数量的比值，并将该比值作为转换参数，然后该转换参数保存在存储器中。

在本实施例公开的技术方案中，通过获取投影装置样品第一投影距离对应的第三脏污信息，以及第二投影距离对应的第四脏污信息，并根据第三脏污信息以及第四脏污信息生成转换系数，使得检测装置可以根据待检测投影装置第一投影距离对应的第一脏污信息预测第二投影距离对应的第二脏污信息，由于第一投影距离小于第二投影距离，因此缩短了投影装置的投影距离，降低了检测环境中杂质对检测结果的影响，从而提高了检测结果的准确度。

可选地，基于第二实施例，在本发明投影装置的脏污检测方法的第三实施例中，所述步骤S70进一步包括以下步骤：

步骤S71、对所述第一投影装置对应的所述第一像素数量求和以得到第一像素数量和；

步骤S72、对所述第二投影装置对应的所述第二像素数量求和以得到第二像素数量和；

步骤S73、获取第一像素数量和以及所述第二像素数量和的比值，将所述比值作为所述转换系数。

在本实施例中，所述第一投影装置至少两个；所述第一像素数量为第一投影装置在第一投影距离下投影得出的第一参考图像中的污点数；所述第二像素数量为第一投影装置在第二投影距离下投影得出的第二参考图像中的污点数；所述第一像素数量和是所有第一像素数量的总和；所述第二像素数量和的所有第二像素数量的总和。

处理器在获取到第一投影装置的第一像素数量以及第二像素数量后，将第一像素数量以及第二像素数量保存在存储器中；接收获取转换系数的控制指令，然后获取存储器中所有的第一像素数量，并对每个第一像素数量进行累加以得到第一像素数量和；获取存储器中所有的第二像素数量，并对每个第二像素数量进行累加得到第二像素数量和；然后获取第一像素数量和以及第二像素数量和的比值，并将该比值作为转换系数保存在存储器中。

在本实施例公开的技术方案中，通过获取多个第一像素数量以及第二像素数量，并分别对第一像素数量以及第二像素数量求和，然后将第一像素数量和以及第二像素数量和的比值作为转换系数，提高了转换系数的准确度，提高了预测的第二脏污信息的准确度，从而达成了提高脏污判断结果的准确率的效果。

可选地，基于第二实施例，在本发明投影装置的脏污检测方法的第四实施例中，所述步骤S70进一步包括以下步骤：

步骤S74、比对所述第一投影装置对应的所述第一像素数量；

步骤S75、比对所述第一投影装置对应的所述第二像素数量；

步骤S76、获取最大第一像素数量以及最大第二像素数量的比值，将所述比值作为所述转换系数。

在本实施例中，所述第一投影装置至少两个；所述第一像素数量为第一投影装置在第一投影距离下投影得出的第一参考图像中的污点数；所述第二像素数量为第一投影装置在第二投影距离下投影得出的第二参考图像中的污点数。

处理器在获取到第一投影装置的第一像素数量以及第二像素数量后，将第一像素数量以及第二像素数量保存在存储器中；接收获取转换系数的控制指令，然后获取存储器中所有的第一像素数量，并比对所有的第一像素数量，以确定第一像素数量中的最大值；同样地，处理器获取存储器中所有的第二像素数量，并比对所有的第二像素数量，以确定第二像素数量中的最大值。处理器获取最大第一像素数量以及最大第二像素数量的比值，并将该比值作为转换系数，然后将该转换系数保存在存储器中。

在本实施例公开的技术方案中，通过获取最大的第一像素值以及最大的第二像素值的比值，并将该比值作为转换系数，则在获取第二脏污信息时，可以根据转换系数预测到最大的第二像素信息，即预测最差的脏污结果，在进行脏污判断时可以降低不合格投影装置的误判率，从而达成了提高脏污判断结果的精确率的效果。

此外，本发明实施例还提出一种检测装置，所述检测装置包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的投影装置的脏污检测程序，所述投影装置的脏污检测程序被所述处理器执行时实现如上各个实施例所述的投影装置的脏污检测方法的步骤。

此外，本发明实施例还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有投影装置的脏污检测程序，所述投影装置的脏污检测程序被处理器执行时实现如上各个实施例所述的投影装置的脏污检测方法的步骤。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台检测装置(可以是PC机等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种投影装置的脏污检测方法，其特征在于，所述投影装置的脏污检测方法包括以下步骤：

获取第二投影装置在第一投影距离的投影图像；

获取所述投影图像对应的第一脏污信息；

根据预存的转换系数将所述第一脏污信息转换为第二投影距离对应的第二脏污信息，其中，所述第一投影距离小于第二投影距离；

根据所述第二脏污信息进行所述第二投影装置的脏污判断。

2.如权利要求1所述的投影装置的脏污检测方法，其特征在于，所述获取第二投影装置在第一投影距离的投影图像的步骤之前，还包括：

获取第一投影装置在第一投影距离下投影得到的第一参考图像以及所述第一投影装置在第二投影距离下投影得到的第二参考图像；

获取所述第一参考图像的第三脏污信息以及所述第二参考图像的第四脏污信息；

根据所述第三脏污信息和所述第四脏污信息得到所述转换系数；

保存所述转换系数。

3.如权利要求2所述的投影装置的脏污检测方法，其特征在于，所述获取所述第一参考图像的第三脏污信息以及所述第二参考图像的第四脏污信息的步骤包括：

对所述第一参考图像进行二值化处理得到第一二值化图像，并对所述第二参考图像进行二值化处理得到第二二值化图像；

确定所述第一二值化图像中的灰度值为预设值的像素点的第一像素数量，所述第三脏污信息包括所述第一像素数量；

确定所述第二二值化图像中的灰度值为预设值的像素点的第二像素数量，所述第四脏污信息包括所述第二像素数量。

4.如权利要求3所述的投影装置的脏污检测方法，其特征在于，所述第一投影装置至少两个，所述根据所述第三脏污信息和所述第四脏污信息得到所述转换系数的步骤包括：

对所述第一投影装置对应的所述第一像素数量求和以得到第一像素数量和；

对所述第二投影装置对应的所述第二像素数量求和以得到第二像素数量和；

获取第一像素数量和以及所述第二像素数量和的比值，将所述比值作为所述转换系数。

5.如权利要求3所述的投影装置的脏污检测方法，其特征在于，所述第一投影装置至少两个，所述根据所述第三脏污信息和所述第四脏污信息得到所述转换系数的步骤包括：

比对所述第一投影装置对应的所述第一像素数量；

比对所述第一投影装置对应的所述第二像素数量；

获取最大第一像素数量以及最大第二像素数量的比值，将所述比值作为所述转换系数。

6.如权利要求1所述的投影装置的脏污检测方法，其特征在于，所述获取所述投影图像对应的第一脏污信息的步骤包括：

对所述投影图像进行二值化处理得到第三二值化图像；

确定所述第三二值化图像中灰度值为预设值的第三像素数量，所述第一脏污信息包括所述第三像素数量。

7.如权利要求1所述的投影装置的脏污检测方法，其特征在于，所述根据所述第二脏污信息进行所述第二投影装置的脏污判断的步骤包括：

在所述第二脏污信息小于预设阈值时，输出所述第二投影装置合格的提示信息；

在所述第二脏污信息大于或等于所述预设阈值时，输出所述第二投影装置不合格的提示信息。

8.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的投影装置的脏污检测程序，所述投影装置的脏污检测程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的投影装置的脏污检测方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有投影装置的脏污检测程序，所述投影装置的脏污检测程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的投影装置的脏污检测方法的步骤。

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