CN110568332A - 一种避雷器电阻片侧面釉放电测试系统 - Google Patents

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贾磊
蔡汉生
刘刚
胡上茂
廖民传
张义
施健
屈路
胡泰山
李瑞显
梅琪
刘浩
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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
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Abstract

本发明公开了一种避雷器电阻片侧面釉放电测试系统，其包括变频电源模块、变压器、电抗器模块、分压器、峰值电压表与电阻片模块；所述变压器的低压侧与所述变频电源模块连接，所述变压器的高压侧的一端与所述电抗器模块连接，所述变压器的高压侧的另一端与所述分压器连接；所述电抗器模块包括串联电抗器；所述峰值电压表的一端连接在所述分压器的高压臂与低压臂之间，所述峰值电压表的另一端与所述变压器的高压侧的另一端相连，且所述峰值电压表的另一端接地。本发明实施例提供的避雷器电阻片侧面釉放电测试系统，其可以有效地限制短路电流，可以对不同工况的避雷器的闪络特性进行有效地测试，电路拓扑结构简单，测试结果准确且有效。

Description

一种避雷器电阻片侧面釉放电测试系统
技术领域
本发明涉及电力设备领域，尤其涉及一种避雷器电阻片侧面釉放电测试系统。
背景技术
避雷器的核心部件是氧化锌电阻片，其性能的优劣会直接影响避雷器的整体的电气性能与使用寿命。氧化锌电阻片侧面釉是影响其电气性能的一个重要因数。一般来说，釉层涂覆在电阻片的侧面，且釉的厚度及不均匀状态会对电阻片的闪络特性产生一定的影响，使其闪络电压分散性产生不同的变化。现有的电阻片侧面釉的闪络特性试验，电路结构比较复杂，且会受到短路电流的影响，而短路电流会影响电路中的电压压降，进而影响对避雷器电阻片侧面釉电压闪络特性的检测，从而导致对电阻片的电气性能的判断产生错误，无法得到其正确的闪络特性。
发明内容
针对上述问题，本发明的目的在于提供一种能够准确测试避雷器电阻片在不同条件下的闪络特性的避雷器电阻片侧面釉放电测试系统。
为了实现上述目的，本发明提供了一种避雷器电阻片侧面釉放电测试系统，其包括：变频电源模块、变压器、电抗器模块、分压器、峰值电压表与电阻片模块。
其中，所述变频电源模块包括变频电源，所述变频电源用于输出纯净的正弦波。
所述变压器的低压侧与所述变频电源模块连接，所述变压器的高压侧的一端与所述电抗器模块连接，所述变压器的高压侧的另一端与所述分压器连接。
所述电抗器模块包括串联电抗器，用于限制短路电流。
所述峰值电压表的一端连接在所述分压器的高压臂与低压臂之间，所述峰值电压表的另一端与所述变压器的高压侧的另一端相连，且所述峰值电压表的另一端接地。
所述电阻片模块，其包括至少两个串联的电阻片，且所述电阻片模块并联在所述分压器的两端。
作为上述方案的改进，所述变压器的输出电压为20～1000kV。
作为上述方案的改进，所述电阻片为GA2型电阻片。
作为上述方案的改进，所述电阻片的厚度为22mm。
作为上述方案的改进，所述电阻片的数量为6片。
作为上述方案的改进，所述电阻片的数量为12片。
作为上述方案的改进，所述电阻片的数量为30片。
作为上述方案的改进，所述电阻片的数量为45片。
本发明提供的避雷器电阻片侧面釉放电测试系统，通过结合具体的变频电源、变压器、电抗器模块、分压器、峰值电压表与电阻片模块，同时，电抗器模块选用串联电抗器，其可以有效地限制短路电流，防止短路电流影响电路中的电压压降，进而影响对避雷器电阻片侧面釉电压闪络特性的检测，使得整个避雷器电阻片侧面釉放电测试系统可以对不同工况的避雷器的闪络特性进行有效地测试，电路拓扑结构简单，测试结果准确且有效。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种避雷器电阻片侧面釉放电测试系统的结构示意图；
图2是本发明实施例提供的一种避雷器电阻片侧面釉放电测试系统的部分测试数据表。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明实施例的描述中，需要说明的是，可以在分布式计算环境中进行实践，在这些分布式计算环境中，由通过通信网络而被连接的远程处理设备来执行任务。此外，本发明可用于包括众多通用或专用的计算装置环境或配置中。例如：个人计算机、服务器计算机、手持设备或便携式设备、平板型设备、多处理器装置、包括以上任何装置或设备的分布式计算环境等等。
本发明实施例提供了一种避雷器电阻片侧面釉放电测试系统，具体的，请参见图1，为本发明实施例提供的一种避雷器电阻片侧面釉放电测试系统的结构示意图，其包括：变频电源模块、变压器、电抗器模块、分压器、峰值电压表与电阻片模块。
所述变频电源模块包括变频电源，所述变频电源用于输出纯净的正弦波。
所述变压器的低压侧与所述变频电源模块连接，所述变压器的高压侧的一端与所述电抗器模块连接，所述变压器的高压侧的另一端与所述分压器连接；所述电抗器模块包括串联电抗器，用于限制短路电流。
所述峰值电压表的一端连接在所述分压器的高压臂与低压臂之间，所述峰值电压表的另一端与所述变压器的高压侧的另一端相连，且所述峰值电压表的另一端接地。
所述电阻片模块，其包括至少两个串联的电阻片，且所述电阻片模块并联在所述分压器的两端。
本发明实施例提供的避雷器电阻片侧面釉放电测试系统，通过结合具体的变频电源、变压器、电抗器模块、分压器、峰值电压表与电阻片模块，同时，电抗器模块选用串联电抗器，其可以有效地限制短路电流，防止短路电流影响电路中的电压压降，进而影响对避雷器电阻片侧面釉电压闪络特性的检测，使得整个避雷器电阻片侧面釉放电测试系统可以对不同工况的避雷器的闪络特性进行有效地测试，电路拓扑结构简单，测试结果准确且有效。
需要说明的是，在进行放电测试时，对整个避雷器的电阻片的电阻片模块快速升至75％U(其中U为闪络电压的近似值，由实际的避雷器的工况与参数决定)，再以2％U/s的速度升高电压，直至发生侧面釉闪络现象，记录闪络时峰值电压表的试验电压值，试验次数优选为10次，也可根据实际的情况进行调整，每次间隔5min，以保证上一次放电产生的游离荷消散，使得每次放电电压更接近真实值。测量保证上一次放电产生的游离荷消散，使得每压更接近真实值。测量电阻片侧面釉的高度，使试验结果更真实可靠。
如试验过程中数据出现明显差异，则检查电阻片，如电阻片有击穿和表面闪络电弧痕迹，则更换该电阻片后继续进行测试。
优选地，在本实施例中，测试温度为14.5℃。所述变压器的输出电压为20～1000kV。
优选地，在本实施例中，所述电阻片为GA2型电阻片。需要说明的是，电阻片的型号选择由具体的实际情况而定，也可选取多组不同的电阻片进行测试。
优选地，在上述实施例中，所述GA2型电阻片的厚度为22mm。需要说明的是，电阻片的厚度由具体的实际情况而定。
优选地，在本实施例中，所述电阻片的数量为6片。需要说明的是，电阻片的数量选择由具体的实际情况而定。
优选地，在本实施例中，所述电阻片的数量为12片。
优选地，在本实施例中，所述电阻片的数量为30片。
优选地，在本实施例中，所述电阻片的数量为45片。
需要说明的是，请参见图2，为本发明实施例提供的一种避雷器电阻片侧面釉放电测试系统的部分测试数据表。在实际操作中也可设置不同的电阻片型号与厚度(在表中显示为高度)，进行多次测量与比对，以使得测试结果准确且有效。如图2所示，在表中，采用最小二乘法对均值点进行线性拟合，参照现有技术的计算方法，对不同条件下的避雷器的工频放电电压的置信区间和分散区间进行后续的计算，从而可以更加准确有效地对避雷器的相关闪络特性进行测试。
本发明实施例提供的避雷器电阻片侧面釉放电测试系统，通过结合具体的变频电源、变压器、电抗器模块、分压器、峰值电压表与电阻片模块，同时，电抗器模块选用串联电抗器，其可以有效地限制短路电流，防止短路电流影响电路中的电压压降，进而影响对避雷器电阻片侧面釉电压闪络特性的检测，使得整个避雷器电阻片侧面釉放电测试系统可以对不同工况的避雷器的闪络特性进行有效地测试，电路拓扑结构简单，测试结果准确且有效。
以上所揭露的仅为本发明一些较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分流程，并依本发明权利要求所作的等同变化，仍属于发明所涵盖的范围。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(Random AccessMemory，RAM)等。

Claims (8)

1.一种避雷器电阻片侧面釉放电测试系统，其特征在于，包括：变频电源模块、变压器、电抗器模块、分压器、峰值电压表与电阻片模块；
所述变频电源模块包括变频电源，所述变频电源用于输出纯净的正弦波；
所述变压器的低压侧与所述变频电源模块连接，所述变压器的高压侧的一端与所述电抗器模块连接，所述变压器的高压侧的另一端与所述分压器连接；
所述电抗器模块包括串联电抗器，用于限制短路电流；
所述峰值电压表的一端连接在所述分压器的高压臂与低压臂之间，所述峰值电压表的另一端与所述变压器的高压侧的另一端相连，且所述峰值电压表的另一端接地；
所述电阻片模块，其包括至少两个串联的电阻片，且所述电阻片模块并联在所述分压器的两端。
2.根据权利要求1所述的避雷器电阻片侧面釉放电测试系统，其特征在于，所述变压器的输出电压为20～1000kV。
3.根据权利要求1所述的避雷器电阻片侧面釉放电测试系统，其特征在于，所述电阻片为GA2型电阻片。
4.根据权利要求3所述的避雷器电阻片侧面釉放电测试系统，其特征在于，所述GA2型电阻片的厚度为22mm。
5.根据权利要求1所述的避雷器电阻片侧面釉放电测试系统，其特征在于，所述电阻片的数量为6片。
6.根据权利要求1所述的避雷器电阻片侧面釉放电测试系统，其特征在于，所述电阻片的数量为12片。
7.根据权利要求1所述的避雷器电阻片侧面釉放电测试系统，其特征在于，所述电阻片的数量为30片。
8.根据权利要求1所述的避雷器电阻片侧面釉放电测试系统，其特征在于，所述电阻片的数量为45片。
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