CN110489805B - 一种机载电子信息装备bit虚警率预计的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种机载电子信息装备BIT虚警率预计的方法，涉及电路产品测试性设计领域，包括待分析的电子信息装备及构成所述电子信息装备的元器件，该方法还包括以下步骤：获取所述电子信息装备的失效率记为λs及所述电子信息装备内BITE装置及监测电路总的失效率记为λn；获取所述电子信息装备的任务持续时间ts；计算在所述任务持续时间内发生虚警的概率PA；计算在所述任务持续时间内发生的BIT虚警率γFA；本发明提供了一种有效的方法，使电子设备在设计阶段能对产品的BIT虚警率进行量化评估，以提升电子信息装备的测试性设计水平。

Description

一种机载电子信息装备BIT虚警率预计的方法
技术领域
本发明涉及电路产品测试性设计领域，尤其涉及一种机载电子信息装备BIT虚警率预计的方法。
背景技术
国内BIT技术发展较晚，目前在各装备研制中，均已经明确提出BIT虚警率指标要求，而查阅目前可参照的HB 7503-1997《测试性预计程序》、HB/Z301-1997《航空电子系统和设备测试性设计指南》、GJB3970-2000《军用地面雷达测试性要求》、GJB4260-2001《侦察雷达测试性通用要求》等系列行业标准和国军标标准中，均未明确产品设计阶段的BIT虚警率预计方法。仅仅根据虚警率定义给出了数学模型。该数学模型为统计模型，其缺点是只适合在产品鉴定试验阶段及服役阶段通过收集足够的数据用于分析BIT虚警率，则系统的累积工作时间至少应包含可靠性和维修性试验的持续时间，且试验的工作环境应尽量接近系统实际运行条件。那么在产品设计阶段，我们无法采用该模型对系统的BIT虚警率进行分析。目前在工程实际中，产品设计工程师按照等值分配的方式将BIT虚警率指标分解到下一级产品，但是在完成设计后并未对该指标进行预计分析，系统设计后对于该指标的可达性也未可知。而电子信息装备是载机任务系统的重要组成部分，机载电子信息装备的BIT虚警率指标如果太高，则会对系统任务的完成以及可用性、维修、备件等产生不利影响，甚至影响安全。
因此，在设计阶段一定要对产品的BIT虚警率进行量化评估，结合分析数据对设计进行适应性迭代，增加必要的降虚警措施，使虚警减少到最低程度。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是：提供了一种电子信息装备的BIT虚警率预计方法，能有效的指导机载电子信息装备的BIT虚警率预计并降低产品的BIT虚警率。
本发明提供的一种机载电子信息装备BIT虚警率预计的方法，包括待分析的电子信息装备及构成所述电子信息装备的元器件，该方法还包括以下步骤：
(1)获取所述电子信息装备的失效率记为λs及所述电子信息装备内BITE装置及监测电路总的失效率记为λn；
(2)获取所述电子信息装备的任务持续时间ts；
(3)计算在所述任务持续时间内发生虚警的概率PA，其计算公式为：
Figure BDA0002138437890000021
(4)计算在所述任务持续时间内发生的BIT虚警率γFA，其计算公式为：
Figure BDA0002138437890000022
上述方法使电子设备在设计阶段就能对产品的BIT虚警率进行量化评估，从而提升电子信息装备的测试性设计水平。
更进一步的，所述电子信息装备的失效率λs通过元器件应力法获得，所述元器件应力法结合环境因子及参数得到相对准确的数据，其中环境因子包括该产品的工作温度、湿度等。
更进一步的，还包括当BIT虚警率γFA大于指标要求时，对BITE装置或监测电路进行优化，直到BIT虚警率γFA小于指标要求，所述指标要求为2％，以提升所述电子信息装备的可靠性和故障率，减少在实际使用过程中造成的损失。
更进一步的，所述优化的方法具体为用可靠性等级更高的元器件替代原来的元器件，通过用可靠性更高的元器件来替代原来的BITE装置或监测电路的元器件，以在提升所述电子信息装备整体可靠性的基础上，进一步降低其虚警率。
通过采用以上的技术方案，本发明可以有效指导设计师在设计阶段对电子信息装备的虚警率指标进行定量分析，解决采用统计分析方法带来的滞后性问题，便于设计师结合分析结果及时迭代设计，达到优化系统设计的效果。
具体实施方式
本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。
本说明书中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。
实施例1
在本实施例中具体提供了一种机载电子信息装备BIT虚警率预计的方法，基于指数分布提出了BIT虚警率预计方法及数学模型，实现了电子信息装备低BIT虚警率的要求；其包括待分析的电子信息装备及构成所述电子信息装备的元器件，该方法还包括以下步骤：
步骤一：对待分析的电子信息装备及构成所述电子信息装备的元器件的可靠性进行预计；对此，在本实施例中，选用元器件应力法结合环境因子及参数得到相对准确的数据，其中全系统总的失效率记为λs、系统内BITE装置及监测电路总的失效率记为λn，λn即为各组成单元内部BITE装置及监测电路的失效率之和；
步骤二：获取所述电子信息装备的任务持续时间ts；
步骤三：计算在所述任务持续时间内发生虚警的概率PA,其计算公式如式(4)：
Figure BDA0002138437890000041
步骤四：所述BIT虚警率为虚警发生的概率与被检测到的故障模式的故障率总数之比，由此得出系统的虚警率rFA的预计模型如式(5)：
Figure BDA0002138437890000042
在本实施例中，当预计出来的BIT虚警率劣于指标要求时，则对某部分的BITE装置进行优化设计，优选可靠性更高的元器件来降低该部分电路的失效率，然后采用新的数据代入模型重新进行预计，直到满足指标要求为止，所述指标要求一般为2％。
上述说明示出并描述了本发明的一个优选实施例，但如前所述，应当理解本发明并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述发明构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本发明的精神和范围，则都应在本发明所附权利要求的保护范围内。

Claims (5)

1.一种机载电子信息装备BIT虚警率预计的方法，包括待分析的电子信息装备及构成所述电子信息装备的元器件，其特征在于：该方法包括以下步骤：
(1)获取所述电子信息装备的失效率记为λs及所述电子信息装备内BITE装置及监测电路总的失效率记为λn；
(2)获取所述电子信息装备的任务持续时间ts；
(3)计算在所述任务持续时间内发生虚警的概率PA，其计算公式为：
Figure FDA0002138437880000011
(4)计算在所述任务持续时间内发生的BIT虚警率γFA，其计算公式为：
Figure FDA0002138437880000012
2.根据权利要求1所述的机载电子信息装备BIT虚警率预计的方法，其特征在于：所述电子信息装备的失效率λs通过元器件应力法获得。
3.根据权利要求1所述的机载电子信息装备BIT虚警率预计的方法，其特征在于，还包括当BIT虚警率γFA大于指标要求时，对BITE装置或监测电路进行优化，直到BIT虚警率γFA小于指标要求。
4.根据权利要求3所述的机载电子信息装备BIT虚警率预计的方法，其特征在于，所述指标要求为2％。
5.根据权利要求3所述的机载电子信息装备BIT虚警率预计的方法，其特征在于，所述优化的 方法具体为用可靠性等级更高的元器件替代原来的元器件。
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