CN110487405B - 一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置，包括光源系统、狭缝微动系统、准直系统和摆镜系统，其中：狭缝微动系统设于光源系统和准直系统之间，光源系统用以发出连续光至狭缝微动系统，狭缝微动系统用以调节进入准直系统的光线的入射角度，准直系统用以将经狭缝微动系统调节的光线转变为准直光线射入摆镜系统，摆镜系统用以调节进入待定标成像光谱仪的探测器的光线的入射角度。上述推扫式成像光谱仪的几何定标装置可以实现对待定标成像光谱仪单个像元的精细摆扫，从而完成对待定标成像光谱仪的几何定标，它可以解决由于配置相应设备而导致造价昂贵的问题，从而可以在一定程度上降低几何定标装置的研发成本。

Description

一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置

技术领域

本发明涉及光谱成像技术领域，特别涉及一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置。

背景技术

推扫式成像光谱仪可同时获得目标的一维光谱信息和二维图像信息，在天文、地质、化工、医疗等领域都有着广泛的应用。

成像光谱仪在应用过程中，用户希望能够得到真实的、精确的、无畸变的图像信息和光谱信息，获得目标空间位置的准确与否直接影响到信息捕获质量的好坏，尤其在军事领域对这种信息捕获的误判将导致灾难性的后果。因此，在成像光谱仪使用之前，通过对成像光谱仪的检测和评估，验证其工作性能的稳定性，就显得至关重要。几何定标的目的是建立光谱影像与地物目标间的几何位置关系，成像光谱仪几何定标的精度很大程度上依赖于光线入射角度的准确性和相邻入射角度的分辨率，目前，成像光谱仪几何定标系统基本上都是采用平行光管与高精度转台的组合，采用此类几何定标装置需要高精度、高分辨率的旋转台，造价昂贵，且对控制系统稳定性要求很高，现有的一些几何定标装置已不能满足需求。

因此，如何避免由于现有几何定标装置需要高精度转台而导致研发成本较高是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置，该几何定标装置可以实现对待定标成像光谱仪单个像元的精细摆扫，从而完成对待定标成像光谱仪的几何定标，它可以解决由于高精度、高分辨率旋转台而导致的造价昂贵的问题，从而可以降低几何定标装置的研发成本。

为实现上述目的，本发明提供一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置，包括光源系统、狭缝微动系统、准直系统和摆镜系统，其中：

所述狭缝微动系统设于所述光源系统和所述准直系统之间，所述光源系统用以发出连续光至所述狭缝微动系统，所述狭缝微动系统用以精细调节进入所述准直系统的光线的入射角度，所述准直系统用以将经所述狭缝微动系统调节的光线转变为准直光线射入所述摆镜系统，所述摆镜系统用以调节进入待定标成像光谱仪的探测器的光线的入射角度。

可选地，所述光源系统包括：

光源；

用以放置所述光源的光源座；

还包括：第一平面镜、第一球面镜和出射狭缝，其中：

所述第一平面镜用以将所述光源发出的连续光反射至所述第一球面镜；

所述第一球面镜用以将经所述第一平面镜反射的光线会聚并转射至所述出射狭缝；

所述出射狭缝用以将经所述第一球面镜会聚的光线射出至所述狭缝微动系统。

可选地，所述狭缝微动系统包括：

与所述出射狭缝垂直设置的微动狭缝，所述微动狭缝竖直设置；

用以固定安装所述微动狭缝并能够带动所述微动狭缝以预设方向运动的挡板；

设有转轴的第一电机；

与所述转轴配合连接并能够推动所述挡板沿垂直于所述转轴的轴向运动的楔形滑块；

所述第一电机用以驱动所述转轴、以供所述楔形滑块沿所述转轴的轴向运动。

可选地，所述准直系统包括第二球面镜和第二平面镜；

所述第二球面镜用以会聚从所述微动狭缝中射出的光线并将其转射至所述第二平面镜；

所述第二平面镜用以反射来自所述第二球面镜的光线、以供光线沿竖向射入所述摆镜系统。

可选地，所述楔形滑块与所述转轴通过螺纹配合连接。

可选地，所述摆镜系统包括：

第三平面镜，所述第三平面镜用以将经所述第二平面镜反射的准直光线反射至待定标成像光谱仪的探测器上；

角度位移机构，所述角度位移机构用以固定安装所述第三平面镜并能够带动所述第三平面镜摆动；

直线位移机构，所述直线位移机构用以固定所述角度位移机构并能够带动所述角度位移机构沿直线方向移动。

可选地，所述角度位移机构包括：

用以带动所述第三平面镜以预设方向摆动的角度位移台；

与所述角度位移台连接、用以驱动所述角度位移台运转的第二电机；

所述第三平面镜通过转接台固接于所述角度位移台上。

可选地，所述直线位移机构包括：

设有滑块的直线导轨，所述角度位移台通过转接板固定连接于所述滑块上，所述滑块能够带动所述角度位移台沿所述直线导轨运行；

与所述滑块相连、用以驱动所述滑块沿所述直线导轨运行的第三电机。

可选地，还包括用以控制所述狭缝微动系统和所述摆镜系统运行的控制系统。

可选地，所述控制系统具体为计算机，所述计算机包括：

控制模块，所述控制模块用以控制所述狭缝微动系统和所述摆镜系统运行；

获取模块，所述获取模块用以获取由所述摆镜系统反射出的反射光在待定标成像光谱仪的探测器上的响应值；

运算模块，所述运算模块用以将所述响应值的数据拟合并得到反射光在待定标成像光谱仪的探测器上的响应位置。

相对于上述背景技术，本发明针对光谱成像精度的不同要求，设计了一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置，具体来说，上述推扫式成像光谱仪的几何定标装置包括光源系统、狭缝微动系统、准直系统和摆镜系统，其中：狭缝微动系统设于光源系统和准直系统之间，光源系统用于发出连续光至狭缝微动系统，狭缝微动系统用于调节进入准直系统的光线的入射角度，即通过狭缝微动系统的微动来实现入射至准直系统的光线的入射角度的精细调整，从而可以使入射至待定标光谱仪的光线角度做出微小的调节；准直系统用于将经狭缝微动系统调节的光线转变为准直光线射入摆镜系统，摆镜系统用于调节进入待定标成像光谱仪的探测器的光线的入射角度，相对狭缝微动系统的调节，摆镜系统对进入待定标成像光谱仪的探测器的光线的入射角度的调节范围更大。

也就是说，上述推扫式成像光谱仪的几何定标装置通过光源系统发出光线，然后通过狭缝微动系统可以为待定标成像光谱仪提供小角度变化的入射光线，经狭缝微动系统小范围调节后的光线进入准直系统并转变为准直光线，准直光线再由摆镜系统反射至待定标成像光谱仪的探测器上，摆镜系统可以为待定标成像光谱仪提供大角度变化的入射光线。这样一来，相对传统几何定标装置采用平行光管与高精度转台的组合，需要高精度、高分辨率的旋转台，且对控制系统的稳定性要求很高，本申请所提供的推扫式成像光谱仪的几何定标装置通过狭缝微动系统和摆镜系统的配合，可以满足推扫式成像光谱仪几何定标的需要，上述推扫式成像光谱仪的几何定标装置可以实现对待定标成像光谱仪单个像元的精细摆扫，从而完成对待定标成像光谱仪的几何定标，它可以解决由于为了达到几何定标的目的而配置相应设备以致造价昂贵的问题，从而可以在一定程度上降低几何定标装置的研发成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例公开的一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置的工作原理示意图；

图2为图1中狭缝微动系统的结构示意图；

图3为图1中摆镜系统的结构示意图。

其中：

1-光源系统、11-光源座、12-第一平面镜、13-第一球面镜、2-狭缝微动系统、21-第一电机、22-楔形滑块、23-转轴、24-挡板、25-微动狭缝、3-准直系统、31-第二平面镜、32-第二球面镜、4-摆镜系统、41-第三电机、42-第三平面镜、43-角度位移台、44-转接板、45-转接台、46-直线导轨。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明的核心是提供一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置，该几何定标装置可以实现对待定标成像光谱仪单个像元的精细摆扫，从而完成对待定标成像光谱仪的几何定标，它可以解决由于高精度、高分辨率旋转台而导致的造价昂贵的问题，从而可以降低几何定标装置的研发成本。

为了使本技术领域的技术人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。

需要说明的是，下文所述的“上端、下端、左侧、右侧”等方位词都是基于说明书附图所定义的。

请参考图1、图2和图3，图1为本发明实施例公开的一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置的工作原理示意图；图2为图1中狭缝微动系统的结构示意图；图3为图1中摆镜系统的结构示意图。

本发明实施例所提供的推扫式成像光谱仪的几何定标装置，可适用于可见光及红外波段的推扫式成像光谱仪的几何定标，该推扫式成像光谱仪的几何定标装置包括光源系统1、狭缝微动系统2、准直系统3和摆镜系统4。

其中，狭缝微动系统2设于光源系统1和准直系统3之间，具体地，狭缝微动系统2应当放置于光源系统1和准直系统3光源系统1的衔接处；光源系统1用于发出连续光并通过出射狭缝将光线发射至狭缝微动系统2，狭缝微动系统2用于调节进入准直系统3的光线的入射角度，即通过狭缝微动系统2的微动来实现入射至准直系统3的光线的入射角度的精细调整，从而可以使入射至待定标光谱仪的光线角度得到微小的调节；准直系统3用于将经狭缝微动系统2调节的光线转变为准直光线射入摆镜系统4，摆镜系统4用于调节进入待定标成像光谱仪的探测器的光线的入射角度，相对狭缝微动系统2的调节，摆镜系统4对进入待定标成像光谱仪的探测器的光线的入射角度的调节范围更大。

也就是说，上述推扫式成像光谱仪的几何定标装置通过光源系统1发出光线，然后通过狭缝微动系统2为待定标成像光谱仪提供小角度变化的入射光线，经狭缝微动系统2小范围调节后的光线进入准直系统3并转变为准直光线，准直光线再由摆镜系统4反射至待定标成像光谱仪的探测器上，摆镜系统4可以为待定标成像光谱仪提供大角度变化的入射光线。

相对传统几何定标装置采用平行光管与高精度转台的组合，其需要高精度、高分辨率的旋转台，且对控制系统的稳定性要求很高，本申请所提供的推扫式成像光谱仪的几何定标装置通过狭缝微动系统2和摆镜系统4的配合，可以满足推扫式成像光谱仪几何定标的需要，上述推扫式成像光谱仪的几何定标装置可以实现对待定标成像光谱仪单个像元的精细摆扫，从而完成对待定标成像光谱仪的几何定标，它可以解决由于为了达到几何定标的目的而配置相应设备以致造价昂贵的问题，从而可以在一定程度上降低几何定标装置的研发成本。

上述推扫式成像光谱仪的几何定标装置在几何定标过程中，首先使摆镜系统4中的摆镜转至某一特定角度，并记录下该角度，光源系统1中的连续光源发出的光经过准直系统3后，再经过摆镜系统4中摆镜的反射，入射到待定标成像光谱仪的探测器中，由于色散作用，待定标成像光谱仪的探测器在该列上被照亮，此时，可以通过控制系统控制狭缝微动系统2运行，从而带动狭缝微动系统2中的微动狭缝25以待定标成像光谱仪的探测器像元大小的步长进行运动，像元即为组成数字化影像的最小单元，由于准直系统3和待定标成像光谱仪的焦距存在倍数关系，因此，狭缝微动系统2中的微动狭缝25的运动的步长是待定标成像光谱仪上所成像运动距离的同样倍数。

这样一来，上述设置方式即可对带动微动狭缝25运动的驱动机构的精密度要求降低很多，同时又能够保证高精度的几何定标过程，在微动狭缝25的微动过程中，需要通过控制系统记录下待定标成像光谱仪的探测器的响应值，经过计算拟合后，即可获得探测器像元与光线入射角度之间的关系，同理，对待定标成像光谱仪的其他空间维的像元进行相同操作，即可完成待定标成像光谱仪的几何定标。

上述定标过程使用连续光源，并利用准直系统3与待定标成像光谱仪的焦距成倍数关系，同时通过狭缝微动系统2的微动与摆镜系统4的转动相结合，实现对待定标成像光谱仪单个像元的精细摆扫，从而完成对待定标成像光谱仪的几何定标。

进一步地，上述光源系统1具体可以设置为包括光源、光源座11、第一平面镜12、第一球面镜13和出射狭缝；其中，光源放置在光源座11上，点亮光源可以发出连续光线，当然，光源具体可以设置为卤钨灯，光经第一平面镜12、第一球面镜13和出射狭缝后，入射至狭缝微动系统2的微动狭缝25中；第一平面镜12用于将光源发出的光反射至第一球面镜13，第一球面镜13用于将经第一平面镜12反射的光会聚并转射至出射狭缝，出射狭缝用于将经第一球面镜13会聚的光射出至狭缝微动系统2。

狭缝微动系统2具体可以设置为包括微动狭缝25、挡板24、第一电机21和楔形滑块22；作为优选地，微动狭缝25与出射狭缝垂直设置，微动狭缝25竖直设置，微动狭缝25固定安装在挡板24上，挡板24能够带动微动狭缝25以预设方向运动；第一电机21设有转轴23，楔形滑块22与转轴23配合连接并能够推动挡板24沿垂直于转轴23的轴向运动，第一电机21用于驱动转轴23，从而可以使楔形滑块22相对转轴23、且沿转轴23的轴向运动。

具体地，第一电机21转动后，可以通过转轴23带动楔形滑块22上下移动，楔形滑块22与转轴23可以通过螺纹配合连接，即通过二者的螺纹连接，可以在转轴23转动时使楔形滑块22沿转轴23的轴向移动，当然，楔形滑块22与转轴23也可以设置为类似丝杠传动的机构，即可以将转轴23的转动运动转换为楔形滑块22的直线运动；挡板24可以设置在楔形滑块22的左侧位置，并与楔形滑块22接触连接，这样可以推动挡板24左右移动，如图2所示。

由于微动狭缝25固定安装在挡板24上，这样一来，微动狭缝25可以随着第一电机21的转动而运动，狭缝微动系统2使入射到待测成像光谱仪的光线角度做微小的改变，从而实现对待定标成像光谱仪的探测器的某一像元进行精细扫描。当然，上述狭缝微动系统2也可以有其他不同的设置方式，前提是能够满足小范围调节入射光线的入射角度的功能。

准直系统3具体可以设置为包括第二球面镜32和第二平面镜31；第二球面镜32用于会聚从微动狭缝25中射出的光并将其转射至第二平面镜31，第二平面镜31用于反射来自第二球面镜32的光、以供光沿竖向射入摆镜系统4，即准直系统3能够将由狭缝微动系统2出射的光变为准直光入射到摆镜系统4上。

更加具体地说，上述摆镜系统4具体可以设置为包括第三平面镜42、角度位移机构和直线位移机构，其中，第三平面镜42用于将经第二平面镜31反射的准直光反射至待定标成像光谱仪的探测器上；角度位移机构用于固定安装第三平面镜42并能够带动第三平面镜42摆动；直线位移机构用于固定角度位移机构并能够带动角度位移机构沿直线方向移动。这样一来，通过直线位移机构和角度位移机构分别带动第三平面镜42以预设方向移动和以预设方向摆动，从而可以达到光线入射角度在大范围内调节，从而实现对待定标成像光谱仪空间维像元的几何定标，如图3所示。

当然，根据实际需要，上述角度位移机构具体可以设置为包括角度位移台43、转接台45和第二电机，其中，角度位移台43用于带动第三平面镜42以预设方向摆动，且角度位移台43能够保证第三平面镜42的回转中心不变，如图3所示，第三平面镜42可以沿着角度位移台43上的弧线方向摆动；第二电机与角度位移台43连接并用于驱动角度位移台43运转；第三平面镜42通过转接台45固接于角度位移台43上。

此外，直线位移机构具体可以设置为包括直线导轨46和第三电机41，其中，直线导轨46上设有滑块，角度位移台43通过转接板44固定连接于滑块上，滑块能够带动角度位移台43沿直线导轨46运行；第三电机41与滑块相连并能够驱动滑块沿直线导轨46运行。当然，上述摆镜系统4也可以有其他不同的设置方式，前提是满足能够大范围调节入射光线的入射角度的功能。

为了优化上述实施例，上述推扫式成像光谱仪的几何定标装置还包括用于控制狭缝微动系统2和摆镜系统4运行的控制系统。控制系统具体可以设置为计算机，具体地，该计算机可以与上述狭缝微动系统2中的第一电机21、摆镜系统4中的第二电机和第三电机41相连，即通过计算机控制第一电机21、第二电机和第三电机41的启闭。

当然，根据实际需要，上述计算机具体可以设置为包括控制模块、获取模块和运算模块，控制模块用于控制狭缝微动系统2和摆镜系统4运行；获取模块用于获取由摆镜系统4反射出的反射光在待定标成像光谱仪的探测器响应的响应值；运算模块用于将响应值数据拟合并得到反射光在待定标成像光谱仪的探测器上的响应位置。

综上，上述几何定标装置的定标过程具体可以为：先将光源放置在光源座11上，点亮光源，光源发出的光经第一平面镜12和第一球面镜13后，经过光源系统1的出射狭缝以及狭缝微动系统2的微动狭缝25后(相互垂直放置)，经准直系统3的第二球面镜32和第二平面镜31的折转和准直，同时利用第三平面镜42的摆动，使光入射到待定标成像光谱仪的空间维中间像元上，并以此为基准转动第三平面镜42至某一特定角度，记录下该角度，该角度即为光的入射角度；此时，保持第三平面镜42不动，通过计算机的控制模块控制狭缝微动系统2进行运动，其运动步长为待定标成像光谱仪的一个像元大小，由于微动狭缝25的微动，光在待定标成像光谱仪探测器上的位置也是不断变化的，再由计算机的获取模块实时获得入射光在待定标成像光谱仪的探测器响应的响应值，该响应值与光线的入射角度一一对应，即光线的一个入射角度对应一个响应值；最后再由计算机的运算模块经过数据拟合后，可以获得入射光在待定标成像光谱仪的响应位置。

这样一来，即可获得光线入射角度与待定标成像光谱仪像元之间的关系，该像元扫描完成后，由计算机的控制模块控制摆镜系统4的第三电机41和第二电机，从而控制滑块带动角度位移台43水平移动，同时角度位移台43转动，从而带动第三平面镜42转动，以使光线入射到待定标成像光谱仪空间维的另一像元处，重复上述步骤即可完成对成像光谱仪的几何定标。

需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将一个实体与另外几个实体区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体之间存在任何这种实际的关系或者顺序。

以上对本发明所提供的推扫式成像光谱仪的几何定标装置进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置，其特征在于，包括光源系统(1)、狭缝微动系统(2)、准直系统(3)和摆镜系统(4)，其中：

所述狭缝微动系统(2)设于所述光源系统(1)和所述准直系统(3)之间，所述光源系统(1)用以发出连续光至所述狭缝微动系统(2)，所述狭缝微动系统(2)用以调节进入所述准直系统(3)的光线的入射角度，所述准直系统(3)用以将经所述狭缝微动系统(2)调节的光线转变为准直光线射入所述摆镜系统(4)，所述摆镜系统(4)用以调节进入待定标成像光谱仪的探测器的光线的入射角度。

2.根据权利要求1所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置，其特征在于，所述光源系统(1)包括：

光源；

用以放置所述光源的光源座(11)；

还包括：第一平面镜(12)、第一球面镜(13)和出射狭缝，其中：

所述第一平面镜(12)用以将所述光源发出的连续光反射至所述第一球面镜(13)；

所述第一球面镜(13)用以将经所述第一平面镜(12)反射的光线会聚并转射至所述出射狭缝；

所述出射狭缝用以将经所述第一球面镜(13)会聚的光线射出至所述狭缝微动系统(2)。

3.根据权利要求2所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置，其特征在于，所述狭缝微动系统(2)包括：

与所述出射狭缝垂直设置的微动狭缝(25)，所述微动狭缝(25)竖直设置；

用以固定安装所述微动狭缝(25)并能够带动所述微动狭缝(25)以预设方向运动的挡板(24)；

设有转轴(23)的第一电机(21)；

与所述转轴(23)配合连接并能够推动所述挡板(24)沿垂直于所述转轴(23)的轴向运动的楔形滑块(22)；

所述第一电机(21)用以驱动所述转轴(23)、以供所述楔形滑块(22)沿所述转轴(23)的轴向运动。

4.根据权利要求3所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置，其特征在于，所述准直系统(3)包括第二球面镜(32)和第二平面镜(31)；

所述第二球面镜(32)用以会聚从所述微动狭缝(25)中射出的光线并将其转射至所述第二平面镜(31)；

所述第二平面镜(31)用以反射来自所述第二球面镜(32)的光线、以供光线沿竖向射入所述摆镜系统(4)。

5.根据权利要求3所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置，其特征在于，所述楔形滑块(22)与所述转轴(23)通过螺纹配合连接。

6.根据权利要求4所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置，其特征在于，所述摆镜系统(4)包括：

第三平面镜(42)，所述第三平面镜(42)用以将经所述第二平面镜(31)反射的准直光线反射至待定标成像光谱仪的探测器上；

角度位移机构，所述角度位移机构用以固定安装所述第三平面镜(42)并能够带动所述第三平面镜(42)摆动；

直线位移机构，所述直线位移机构用以固定所述角度位移机构并能够带动所述角度位移机构沿直线方向移动。

7.根据权利要求6所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置，其特征在于，所述角度位移机构包括：

用以带动所述第三平面镜(42)以预设方向摆动的角度位移台(43)；

与所述角度位移台(43)连接、用以驱动所述角度位移台(43)运转的第二电机；

所述第三平面镜(42)通过转接台(45)固接于所述角度位移台(43)上。

8.根据权利要求7所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置，其特征在于，所述直线位移机构包括：

设有滑块的直线导轨(46)，所述角度位移台(43)通过转接板(44)固定连接于所述滑块上，所述滑块能够带动所述角度位移台(43)沿所述直线导轨(46)运行；

与所述滑块相连、用以驱动所述滑块沿所述直线导轨(46)运行的第三电机(41)。

9.根据权利要求1至8任一项所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置，其特征在于，还包括用以控制所述狭缝微动系统(2)和所述摆镜系统(4)运行的控制系统。

10.根据权利要求9所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置，其特征在于，所述控制系统具体为计算机，所述计算机包括：

控制模块，所述控制模块用以控制所述狭缝微动系统(2)和所述摆镜系统(4)运行；

获取模块，所述获取模块用以获取由所述摆镜系统(4)反射出的反射光在待定标成像光谱仪的探测器上的响应值；

运算模块，所述运算模块用以将所述响应值的数据拟合并得到反射光在待定标成像光谱仪的探测器上的响应位置。

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