CN110453400A - 刺绣机面线状态检测方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种刺绣机面线状态检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：磁编断检控制模块接收主控模块发送的目标花样的总理论面线数据，接收磁编断检检测模块发送的当前实际面线数据计算参数；磁编断检控制模块根据已接收到的计算参数计算总实际面线数据；并根据总理论面线数据和总实际面线数据检测面线状态。本发明通过磁编断检控制模块接收磁编断检检测模块发送的当前实际面线数据计算参数，进一步计算目标花样总实际面线数据，并与目标花样总理论面线数据进行比较，依据预设阈值检测面线状态，从而计量实际面线数据并控制刺绣速度和绣品质量。

Description

刺绣机面线状态检测方法、装置、电子设备及存储介质

技术领域

本发明涉及刺绣机技术领域，尤其涉及一种刺绣机面线状态检测方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

在刺绣行业中，刺绣机机头是刺绣机的核心部件，面线是指穿过机针孔的绣线。刺绣机的每个机头上有多个针位，用于刺绣不同颜色的图案，每个针位对应一种颜色的面线。在刺绣机的机头上，每个针位对应一个称为过线轮的装置，刺绣过程中该针位对应的面线会带动过线轮转动。刺绣过程中若无故障，面线应紧贴过线轮的边缘，带动过线轮转动。为了便于面线紧贴过线轮边缘，过线轮的边缘常设计为凹槽状，面线卡合在凹槽底部。过线轮圆心到凹槽底部的半径为r，则过线轮正向旋转一周消耗的面线量为2πr。刺绣过程中，过线轮有时候会反向转动，这不一定意味着刺绣故障。

刺绣过程中面线断线会影响刺绣速度和绣品的质量，除断线外，面线还存在一类常见的故障，称为抛线，指面线没有紧贴过线轮的边缘，与过线轮边缘存在间隙。抛线同样会影响刺绣速度和绣品质量。

现有技术中仅根据过线轮的转动信息很难直接判断面线是否存在故障，同时也无法获知实际消耗的面线数据，而面线数据和面线状态是监控刺绣作业的重要参数，对其监控可以使用户及时掌握刺绣进度以及保证刺绣品质。

发明内容

本发明实施例提供一种刺绣机面线状态检测方法、装置、电子设备及存储介质，用以解决现有刺绣行业中实际消耗的面线量无法计量的问题，并在计量面线的基础上对面线的状态进行监控和检测。

第一方面，本发明实施例提供一种刺绣机面线状态检测方法，包括：

磁编断检控制模块接收主控模块发送的目标花样的总理论面线数据；

所述磁编断检控制模块获取当前实际面线数据计算参数；

所述磁编断检控制模块根据已接收到的所述计算参数计算总实际面线数据；

所述磁编断检控制模块根据所述总理论面线数据和所述总实际面线数据检测所述面线状态。

进一步地，如上所述的方法，所述当前实际面线数据计算参数包括：过线轮对应的传感器输出的电信号的占空比；

所述磁编断检控制模块获取当前实际面线数据计算参数之后，还包括：

根据所述当前电信号的占空比计算过线轮当前转动角度和当前转动方向；

根据所述当前转动角度和所述当前转动方向计算所述当前实际面线数据。

根据所述计算参数计算所述当前实际面线数据的公式为：(2n₁π+θ₁)r-(2n₂π+θ₂)r，其中，n₁和n₂为0或正整数，θ₁、θ₂∈(0，2π)，r为过线轮半径。进一步地，如上所述的方法，所述磁编断检控制模块根据所述总理论面线数据和所述总实际面线数据检测所述面线状态，包括：

所述磁编断检控制模块计算所述总实际面线数据与所述总理论面线数据的比值；

根据所述比值检测所述面线状态。

进一步地，如上所述的方法，所述根据所述比值检测所述面线状态，包括：

若所述比值小于或等于所述第一预设阈值，则确定所述面线状态为断线状态；

所述第一预设阈值为0.1。

若所述比值大于或等于所述第二预设阈值，则确定所述面线状态为抛线状态；

所述第二预设阈值为2。

若所述比值大于所述第一预设阈值且小于所述第二预设阈值，则确定所述面线状态为正常工作状态。

第二方面，本发明实施例提供一种刺绣机面线状态检测装置，包括：主控模块，磁编断检控制模块；

所述主控模块，用于将目标花样的总理论面线数据发送给所述磁编断检控制模块；

所述磁编断检控制模块，用于获取当前实际面线数据计算参数；

所述磁编断检控制模块，用于根据已接收到的所述当前实际面线数据计算参数计算总实际面线数据；

所述磁编断检控制模块，还用于根据所述总理论面线数据和所述总实际面线数据检测所述面线状态。

进一步地，如上所述的装置，所述当前实际面线数据计算参数包括：过线轮对应的传感器输出的电信号的占空比；

所述磁编断检控制模块，还用于在获取当前实际面线数据计算参数之后，

根据所述当前电信号的占空比计算过线轮当前转动角度和当前转动方向；

根据所述当前转动角度和所述当前转动方向计算所述当前实际面线数据。

进一步地，根据所述计算参数计算所述当前实际面线数据的公式为：(2n₁π+θ₁)r-(2n₂π+θ₂)r，其中n₁和n₂为0或正整数，θ₁、θ₂∈(0，2π)，r为过线轮半径。

进一步地，如上所述的装置，所述磁编断检控制模块，包括：

计算子模块，用于计算所述总实际面线数据与所述总理论面线数据的比值；

检测子模块，用于根据所述比值检测所述面线状态。

进一步地，如上所述的装置，所述检测子模块，具体用于：

若所述比值小于或等于所述第一预设阈值，则确定所述面线状态为断线状态；

所述第一预设阈值为0.1。

进一步地，如上所述的装置，所述检测子模块，具体用于：

若所述比值大于或等于所述第二预设阈值，则确定所述面线状态为抛线状态；

所述第二预设阈值为2。

进一步地，如上所述的装置，所述检测子模块，具体用于：

若所述比值大于所述第一预设阈值且小于所述第二预设阈值，则确定所述面线状态为正常工作状态。

第三方面，本发明实施例提供一种电子设备，包括存储器、处理器以及计算机程序：

其中，所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述存储器中存储的计算机程序以使得所述电子设备执行第一方面中任一项所述的方法。

第四方面，本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面中任一项所述的方法。

本发明实施例提供一种刺绣机面线状态检测方法、装置、电子设备及存储介质，通过磁编断检控制模块获取当前实际面线数据计算参数，进一步计算目标花样的总实际面线数据，并与主控模块发送的目标花样的总理论面线数据进行比较，依据预设阈值对面线状态进行检测，从而能够计量实际消耗面线数据并及时监控刺绣的速度和绣品的质量。

应当理解，上述发明内容部分中所描述的内容并非旨在限定本发明的实施例的关键或重要特征，亦非用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的描述变得容易理解。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例一提供的面线状态检测方法的流程图；

图2为本发明实施例二提供的面线状态检测方法的流程图；

图3为本发明实施例三提供的面线状态检测装置的结构示意图；

图4为本发明实施例四提供的面线状态检测装置的结构示意图；

图5为本发明实施例五提供的一种电子设备的结构示意图。

通过上述附图，已示出本发明明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本公开构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本发明的概念。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本发明的实施例。虽然附图中显示了本发明的某些实施例，然而应当理解的是，本发明可以通过各种形式来实现，而且不应该被解释为限于这里阐述的实施例，相反提供这些实施例是为了更加透彻和完整地理解本发明。应当理解的是，本发明的附图及实施例仅用于示例性作用，并非用于限制本发明的保护范围。

本发明实施例的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明实施例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

首先对本发明实施例所涉及的名词进行解释：

花样：花样是刺绣机的控制系统可以识别的具有特定格式的数据文件，控制系统读取花样中的数据，根据这些数据控制机头进行刺绣作业，利用不同颜色的绣线生成绣品。

理论面线数据：根据花样中针点的坐标信息、针点对应的刺绣操作信息以及待刺绣面料的厚度等参数，可以计算出花样在刺绣过程中消耗的面线数据。

实际面线数据：刺绣作业过程中基于过线轮转动信息获得的面线消耗数据。

图1为本发明方法实施例一提供的面线状态检测方法的流程图，如图1所示，则本实施例提供的面线状态检测方法包括以下几个步骤。

步骤101，磁编断检控制模块接收主控模块发送的目标花样的总理论面线数据。

其中，一个主控模块(即刺绣机的控制系统)控制至少一个刺绣机机头，一个刺绣机机头配置一个磁编断检控制模块。

具体地，用户通过主控模块的交互界面，选择所要刺绣的目标花样。该目标花样事先已经存储在主控模块中，且与主控模块的特定格式的数据文件存在映射关系。

主控模块获取目标花样的数据文件，并从目标花样的数据文件获取该目标花样对应的总理论面线数据。

步骤102，磁编断检控制模块获取当前实际面线数据计算参数。

可选地，获取方式可以是磁编断检控制模块接收磁编断检检测模块发送的当前实际面线数据计算参数。

其中，磁编断检检测模块上配置有传感器，该传感器为磁编码传感器，用于检测机头过线轮的转动角度和方向。

具体地，磁铁固定安装在过线轮的后端，磁铁转动的方向、角度与过线轮转动的方向、角度一致，且磁铁数量与过线轮数量相同。

可选地，磁编码传感器与磁铁一一对应地安装在过线轮后方区域，过线轮转动时会带动磁铁转动，磁铁旋转导致磁场变化，会使磁编码传感器产生相应的电信号，解析电信号可以获得过线轮转动的角度和方向。

步骤103，磁编断检控制模块根据已接收到的所述计算参数计算总实际面线数据。具体地，所述计算参数可以是过线轮对应的传感器输出的电信号的占空比。磁编断检检测模块上的传感器可以按照预先设定的频率采集并输出信号，磁编断检控制模块接收到上述信号后即可根据计算参数进行计算。磁编断检检测模块上的传感器不断地输出信号，相应的，磁编断检控制模块不断地进行计算。磁编断检控制模块可以保存依照各计算参数计算获得的计算结果并对计算结果进行累加等必要的处理。

根据所述计算参数计算所述当前实际面线数据的公式为：(2n₁π+θ₁)r-(2n₂π+θ₂)r，其中，n₁和n₂为0或正整数，θ₁、θ₂∈(0，2π)，r为过线轮半径，角度单位采用弧度，(2n₁π+θ₁)表示在某一时刻过线轮正向转动的角度总和，(2n₂π+θ₂)表示过线轮反向转动的角度总和。

步骤104，磁编断检控制模块根据总理论面线数据和总实际面线数据检测所述面线状态。

其中，总理论面线数据为步骤101中获取，总实际面线数据为步骤103中计算所得。

作为一种可选实施方式，本实施例中，磁编断检控制模块可计算总实际面线数据与总理论面线数据的比值，并依据预设阈值检测面线状态。

其中，面线状态可以包括：断线状态，抛线状态，正常工作状态。

作为另一种可选实施方式，本实施例中，根据目标花样的历史总理论面线数据和对应的历史总实际面线数据对预设分类模型进行训练，得到已训练至收敛的分类模型。将本次需要检测的该目标花样的总理论面线数据和总实际面线数据输入到已训练至收敛的分类模型中，输出面线状态。

可以理解的是，磁编断检控制模块根据所述总理论面线数据和所述总实际面线数据检测所述面线状态的方式还可以为其他方式，本实施例中对此不作限定。

进一步地，磁编断检控制模块将总实际面线数据通过CAN总线反馈给主控模块。

本实施例提供的面线状态检测方法，通过磁编断检控制模块接收磁编断检检测模块发送的当前实际面线数据计算参数，进一步计算目标花样的总实际面线数据，并与主控模块发送的目标花样的总理论面线数据进行比较，依据预设阈值对面线状态进行检测，从而能够计量实际消耗面线数据并及时监控刺绣的速度和绣品的质量。

图2为本发明方法实施例二提供的面线状态检测方法的流程图，如图2所示，本实施例提供的面线状态检测方法，是在本发明面线状态检测方法实施例一的基础上，在步骤104后还包括了对检测异常结果进行报警，提醒用户及时处理报警信息的步骤，并且对步骤101-步骤104进行了进一步的细化。则本实施例提供的面线状态检测方法包括以下步骤。

步骤201，所述主控模块接收用户通过操作界面选择的目标花样。

其中，主控模块包括一个与用户交互的操作软件，通过该交互软件的操作界面用户可以选择需要刺绣的目标花样。

步骤202，所述主控模块获取所述目标花样对应的总理论面线数据。

具体地，主控模块中存储有多种刺绣花样，且上述花样与主控模块的特定格式的数据文件存在映射关系。所述目标花样即为上述刺绣花样中的一种。当用户选定目标花样后，主控模块可以获取该目标花样总理论面线数据。

步骤203，磁编断检控制模块接收主控模块发送的目标花样的总理论面线数据。

其中，一个主控模块控制至少一个刺绣机机头，一个刺绣机机头配置一个磁编断检控制模块。

具体地，用户通过主控模块的交互界面，选择所要刺绣的目标花样。主控模块获取目标花样的数据文件，并根据目标花样的数据文件获取该目标花样对应的总理论面线数据。

步骤204，磁编断检控制模块接收磁编断检检测模块发送的当前实际面线数据计算参数。

其中，当前实际面线数据计算参数包括：过线轮对应的传感器输出的电信号的占空比。

其中，磁编断检检测模块上配置有传感器，该传感器为磁编码传感器，用于检测机头过线轮的转动角度和方向。

具体地，磁铁固定安装在过线轮的后端，磁铁转动的方向、角度与过线轮转动的方向、角度一致，且磁铁数量与过线轮数量相同。磁编码传感器与磁铁一一对应地安装在过线轮后方区域，过线轮转动时会带动磁铁转动，磁铁旋转导致磁场变化，会使磁编码传感器产生相应的电信号，解析电信号可以获得过线轮转动的角度和方向。

可选地，本实施例中磁编码传感器优选可以采用商品化的芯片产品，该芯片将输出的1KHZ(千赫兹)且占空比不同的电信号传输给磁编断检控制模块，磁编断检控制模块通过接收并解析该电信号的占空比可以计算出过线轮的转动角度和方向。

例如：在t1时刻，磁编断检控制模块接收的芯片输出电信号占空比为A1,在t2时刻，磁编断检控制模块接收的芯片输出电信号占空比为A2,则

转动角度：θ＝(A2-A1)*2π

如果θ为正值，则在(t2-t1)时间段内，过线轮正转，且转动角度为θ；

如果θ为负值，则在(t2-t1)时间段内，过线轮反转，且转动角度为θ。

其中，t1和t2要根据过线轮的转速进行设置，保证t1到t2时间内过线轮的转动角度不超过2π。

步骤205，磁编断检控制模块根据已接收到的所述计算参数计算总实际面线数据。

进一步地，根据已接收到的所述计算参数计算总实际面线数据，包括：

首先，根据所述当前电信号的占空比计算过线轮当前转动角度和当前转动方向；

其次，根据所述当前转动角度和所述当前转动方向计算所述转动角度累加和。

最后，根据已计算出的转动角度累加和计算总实际面线数据。

具体地，在用户指定查看面线数据的时刻，根据所述计算参数计算总实际面线数据的公式为：(2N₁π+θ₁)r-(2N₂π+θ₂)r，其中，N₁和N₂为0或正整数，θ₁、θ₂∈(0，2π)，r为过线轮半径，(2N₁π+θ₁)表示过线轮正向转动的角度累加总和，(2N₂π+θ₂)表示过线轮反向转动的角度累加总和。

步骤206，磁编断检控制模块计算所述总实际面线数据与所述总理论面线数据的比值。

其中，总理论面线数据为步骤202中获取，总实际面线数据为步骤205中计算所得。

步骤207，根据所述比值检测所述面线状态。

步骤208，若所述比值小于或等于所述第一预设阈值，则确定所述面线状态为断线状态。

其中，所述第一预设阈值为0.1。

步骤209，若所述比值大于或等于所述第二预设阈值，则确定所述面线状态为抛线状态；

其中，所述第二预设阈值为2。

步骤210，若所述比值大于所述第一预设阈值且小于所述第二预设阈值，则确定所述面线状态为正常工作状态。

具体地，若上述比值小于或等于0.1，执行步骤211；若上述比值大于或等于2，执行步骤212；否则面线处于正常工作状态，执行步骤202。

步骤211，磁编断检控制模块将总实际面线数据以及面线断线报警信息通过CAN总线反馈给主控模块。

步骤212，磁编断检控制模块将总实际面线数据以及面线抛线报警信息通过CAN总线反馈给主控模块。

步骤213，主控模块启动待机命令，并显示报警信息“XX机头断线”。

步骤214，主控模块启动待机命令，并显示报警信息“XX机头抛线”。

本实施例提供的面线状态检测方法，通过过线轮对应的磁编码传感芯片输出的电信号计算过线轮的转动角度和方向，进一步计算目标花样的总实际面线数据，并与目标花样的总理论面线数据进行比较，依据预设阈值对面线状态进行检测，从而能够计量实际面线数据并及时监控刺绣的速度和绣品的质量，遇到面线断线或抛线的异常情况及时向用户报警。

图3为本发明装置实施例一面线检测装置的结构示意图，如图3所示，本实施例提供的装置包括：

主控模块31，磁编断检控制模块32。

可选地，还包括磁编断检检测模块33。

其中，磁编断检控制模块32分别与所述主控模块31，所述磁编断检检测模块33连接；

进一步地，主控模块31，用于将目标花样的总理论面线数据发送给磁编断检控制模块。

进一步地，磁编断检检测模块33，用于将当前实际面线数据计算参数发送给磁编断检控制模块。

进一步地，磁编断检控制模块32，用于磁编断检控制模块根据已接收到的计算参数计算总实际面线数据。还用于根据目标花样的总理论面线数据和计算所得的总实际面线数据检测所述面线状态。

本实施例提供的面线检测装置可以执行图1所示方法实施例的技术方案，其实现原理和技术效果类似，此处不再赘述。

图4为本发明装置实施例二面线检测装置的结构示意图，如图4所示，本实施例提供的装置在本发明装置实施例一的基础上，进一步地，对主控模块41，磁编断检控制模块42及磁编断检检测模块43进行进一步细化。

优选地，本实施例中，主控模块41还与报警模块连接，用于当面线检测结果异常时，主控模块41及时通过报警模块向用户发出报警信息。

进一步地，主控模块41，具体用于接收用户通过操作界面选择的目标花样，以及用于获取所述目标花样对应的总理论面线数据。

进一步地，主控模块41，还用于将目标花样的总理论面线数据发送给所述磁编断检控制模块。

进一步地，磁编断检控制模块42，具体用于磁编断检控制模块根据已接收到的计算参数计算总实际面线数据。

进一步地，所述当前实际面线数据计算参数包括：过线轮对应的传感器输出的电信号的占空比；

进一步地，磁编断检控制模块42，具体用于在接收所述磁编断检检测模块发送的当前实际面线数据计算参数之后，根据所述当前电信号的占空比计算过线轮当前转动角度和当前转动方向；根据所述当前转动角度和所述当前转动方向计算所述当前实际面线数据。

进一步地，磁编断检控制模块42，还用于根据目标花样的总理论面线数据和计算所得的总实际面线数据检测所述面线状态。

进一步地，本实施例中，磁编断检控制模块42，还包括：计算子模块42a和检测子模块42b。

其中，计算子模块42a，用于计算所述总实际面线数据与所述总理论面线数据的比值；检测子模块42b，用于根据所述比值检测所述面线状态。

进一步地，检测子模块42b，具体用于：若所述比值小于或等于所述第一预设阈值，则确定所述面线状态为断线状态；所述第一预设阈值为0.1。

进一步地，检测子模块42b，具体用于：若所述比值大于或等于所述第二预设阈值，则确定所述面线状态为抛线状态；所述第二预设阈值为2。

进一步地，检测子模块42b，具体用于：若所述比值大于所述第一预设阈值且小于所述第二预设阈值，则确定所述面线状态为正常工作状态。

进一步地，磁编断检检测模块43，具体用于将当前实际面线数据计算参数发送给所述磁编断检控制模块。进一步地，计算子模块42b分别与主控模块41、磁编断检检测模块43以及检测子模块42a连接。

本实施例提供的面线检测装置可以执行图2所示方法实施例的技术方案，其实现原理和技术效果类似，此处不再赘述。

图5为本发明一个实施例提供的电子设备结构示意图，如图5所示，本发明实施例提供的电子设备50，包括：至少一个处理器51和存储器52。可选的，该电子设备50还包括总线43，处理器51和存储器52通过总线53连接。

在电子设备50的运行过程中，存储器52存储有计算机程序，至少一个处理器51执行所述存储器52存储的计算机程序，以使得电子设备50执行如图1至图2所对应的实施例中任一实施例提供的面线状态检测方法。

相关说明可以对应参见图1至图2的步骤所对应的相关描述和效果进行理解，此处不做过多赘述。

本实施例中，应理解，处理器可以是中央处理单元(英文：Central ProcessingUnit，简称：CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(英文：Digital SignalProcessor，简称：DSP)、专用集成电路(英文：Application Specific IntegratedCircuit，简称：ASIC)等。通用处理器可以是微处理器或者其他常规的处理器。执行存储器52存储的计算机程序，可以直接由硬件处理器执行完成，或者由处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。

存储器可能包括高速随机存取存储器，也可能还包括非易失性存储，例如至少一个磁盘存储器。

总线可以是工业标准体系结构(Industry Standard Architecture，ISA)总线、外部设备互连(Peripheral Component，PCI)总线或扩展工业标准体系结构(ExtendedIndustry Standard Architecture，EISA)总线等。总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图5中的总线并不限定仅为一根总线或一种类型的总线。

本发明一个实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行以实现本发明图1-图2所对应的实施例中任一实施例提供的面线状态检测方法。

其中，计算机可读存储介质可以是只读存储器(ROM)、随机存取存储器(RAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM)、磁带、软盘和光数据存储设备等。可读存储介质可以是通用或专用的计算机或类似电子设备能够存取的任何可用介质。

在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能模块的形式实现。

用于实施本发明的方法的程序代码可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些程序代码可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器或控制器，使得程序代码当由处理器或控制器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。程序代码可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行，作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。

此外，虽然采用特定次序描绘了各操作，但是这应当理解为要求这样操作以所示出的特定次序或以顺序次序执行，或者要求所有图示的操作应被执行以取得期望的结果。在一定环境下，多任务和并行处理可能是有利的。同样地，虽然在上面论述中包含了若干具体实现细节，但是这些不应当被解释为对本公开的范围的限制。在单独的实施例的上下文中描述的某些特征还可以组合地实现在单个实现中。相反地，在单个实现的上下文中描述的各种特征也可以单独地或以任何合适的子组合的方式实现在多个实现中。

尽管已经采用特定于结构特征和/或方法逻辑动作的语言描述了本主题，但是应当理解所附权利要求书中所限定的主题未必局限于上面描述的特定特征或动作。相反，上面所描述的特定特征和动作仅仅是实现权利要求书的示例形式。

Claims (10)

1.一种刺绣机面线状态检测方法，其特征在于，包括：

获取目标花样的总理论面线数据；

获取当前实际面线数据计算参数；

根据已获取的所述计算参数计算总实际面线数据；

根据所述总理论面线数据和所述总实际面线数据检测所述面线状态。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当前实际面线数据计算参数包括：过线轮对应的传感器输出的电信号的占空比；

接收所述当前实际面线数据计算参数之后，还包括：

根据所述当前电信号的占空比计算过线轮当前转动角度和当前转动方向；

根据所述当前转动角度和所述当前转动方向计算所述当前实际面线数据。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述计算参数计算所述当前实际面线数据的公式为：(2n₁π+θ₁)r-(2n₂π+θ₂)r，其中，n₁和n₂为0或正整数，θ₁、θ₂∈(0，2π)，r为过线轮半径。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述总理论面线数据和所述总实际面线数据检测所述面线状态，包括：

计算所述总实际面线数据与所述总理论面线数据的比值；

根据所述比值检测所述面线状态。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述比值检测所述面线状态，包括：

若所述比值小于或等于所述第一预设阈值，则确定所述面线状态为断线状态；

所述第一预设阈值为0.1。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述比值检测所述面线状态，包括：

若所述比值大于或等于所述第二预设阈值，则确定所述面线状态为抛线状态；

所述第二预设阈值为2。

7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述比值检测所述面线状态，包括：

若所述比值大于所述第一预设阈值且小于所述第二预设阈值，则确定所述面线状态为正常工作状态。

8.一种刺绣机面线状态检测装置，其特征在于，包括：主控模块，磁编断检控制模块；

所述主控模块，用于将目标花样的总理论面线数据发送给所述磁编断检控制模块；

所述磁编断检控制模块，用于获取当前实际面线数据计算参数，根据已获取的所述计算参数计算总实际面线数据；

所述磁编断检控制模块，还用于根据所述总理论面线数据和所述总实际面线数据检测所述面线状态。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括处理器和存储器以及计算机程序，所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述存储器中存储的计算机程序以使得所述电子设备执行权利要求1-7中任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的方法。