CN110445558A - 性能测试方法、装置及终端设备 - Google Patents

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CN110445558A
CN110445558A CN201910745187.0A CN201910745187A CN110445558A CN 110445558 A CN110445558 A CN 110445558A CN 201910745187 A CN201910745187 A CN 201910745187A CN 110445558 A CN110445558 A CN 110445558A
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CN
China
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radio
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signal strength
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CN201910745187.0A
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陈泽锴
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TP Link Technologies Co Ltd
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TP Link Technologies Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B17/00Monitoring; Testing
    • H04B17/10Monitoring; Testing of transmitters
    • H04B17/15Performance testing
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B17/00Monitoring; Testing
    • H04B17/20Monitoring; Testing of receivers
    • H04B17/29Performance testing

Abstract

本申请适用于测试技术领域,提供了性能测试方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质,包括:接收指定样机所发送的测试数据;确定所述测试数据对应的接收信号强度;根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果。通过上述方法,能够提高射频性能测试效率。

Description

性能测试方法、装置及终端设备
技术领域
本申请属于测试技术领域,尤其涉及一种性能测试方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质。
背景技术
随着科学技术的不断发展,人们对于电子产品的品质要求越来越高,为了保证电子产品的品质,厂商会对电子产品的各项性能进行测试。
例如,对于利用了射频技术的样机,厂商会对其射频性能进行测试。目前,厂商通常对利用射频技术的样机进行吞吐量测试,从而判断样机的射频性能是否正常。然而,由于吞吐量测试具有爬坡特性,因此,吞吐量测试所需时间较长,对一台样机进行吞吐量测试所需时间大约是一分钟,测试效率较低。
发明内容
有鉴于此,本申请实施例提供了一种性能测试方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质,以解决现有技术射频性能测试效率较低的问题。
本申请实施例的第一方面提供了一种性能测试方法,包括:
接收指定样机所发送的测试数据;
确定所述测试数据对应的接收信号强度;
根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果。
本申请实施例的第二方面提供了一种性能测试装置,包括:
数据接收单元,用于接收指定样机所发送的测试数据;
强度确定单元,用于确定所述测试数据对应的接收信号强度;
测试结果生成单元,用于根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果。
本申请实施例的第三方面提供了一种终端设备,包括:存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如所述性能测试方法的步骤。
本申请实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如所述性能测试方法的步骤。
本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是:通过接收指定样机所发送的测试数据,然后确定所述测试数据对应的接收信号强度,再根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果,由于确定所述测试数据对应的接收信号强度所需的时长较短,因此,在根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果时,能够大大缩小了射频性能测试所需时间,提高了射频性能测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的第一种性能测试方法的流程示意图;
图2是本申请实施例提供的第二种性能测试方法的流程示意图;
图3是本申请实施例提供的一种测试数据传输的示意图;
图4是本申请实施例提供的一种指定样机的示意图;
图5是本申请实施例提供的一种性能测试装置的结构示意图;
图6是本申请实施例提供的终端设备的示意图。
具体实施方式
以下描述中,为了说明而不是为了限定,提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节,以便透彻理解本申请实施例。然而,本领域的技术人员应当清楚,在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中,省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明,以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
为了说明本申请所述的技术方案,下面通过具体实施例来进行说明。应当理解,当在本说明书和所附权利要求书中使用时,术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在,但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解,在此本申请说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本申请。如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样,除非上下文清楚地指明其它情况,否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
还应当进一步理解,在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合,并且包括这些组合。
如在本说明书和所附权利要求书中所使用的那样,术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地,短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
具体实现中,本申请实施例中描述的终端设备包括但不限于诸如具有触摸敏感表面(例如,触摸屏显示器和/或触摸板)的移动电话、膝上型计算机或平板计算机之类的其它便携式设备。还应当理解的是,在某些实施例中,上述设备并非便携式通信设备,而是具有触摸敏感表面(例如,触摸屏显示器和/或触摸板)的台式计算机。
在接下来的讨论中,描述了包括显示器和触摸敏感表面的终端设备。然而,应当理解的是,终端设备可以包括诸如物理键盘、鼠标和/或控制杆的一个或多个其它物理用户接口设备。
终端设备支持各种应用程序,例如以下中的一个或多个:绘图应用程序、演示应用程序、文字处理应用程序、网站创建应用程序、盘刻录应用程序、电子表格应用程序、游戏应用程序、电话应用程序、视频会议应用程序、电子邮件应用程序、即时消息收发应用程序、锻炼支持应用程序、照片管理应用程序、数码相机应用程序、数字摄影机应用程序、web浏览应用程序、数字音乐播放器应用程序和/或数字视频播放器应用程序。
可以在终端设备上执行的各种应用程序可以使用诸如触摸敏感表面的至少一个公共物理用户接口设备。可以在应用程序之间和/或相应应用程序内调整和/或改变触摸敏感表面的一个或多个功能以及终端上显示的相应信息。这样,终端的公共物理架构(例如,触摸敏感表面)可以支持具有对用户而言直观且透明的用户界面的各种应用程序。
实施例一:
图1示出了本申请实施例提供的一种性能测试方法的流程示意图,详述如下:
步骤S101,接收指定样机所发送的测试数据。
具体地,通过信号接收电路接收指定样机所发送的测试数据,其中,所述信号接收电路包括指定天线和指定硬件,所述指定天线用于接收指定样机所发送的测试数据,所述指定天线与所述指定样机之间没有电路连接关系,所述指定样机可为无线网络摄像机等具有无线通讯功能的设备,所述指定硬件用于:在执行本申请所述性能测试方法的装置(或终端设备)和所述指定天线之间传输通讯信号,且所述指定硬件能接收无线网络信号。
作为示例而非限定的是:所述指定硬件为网卡或路由器。
可选地,为了减少外界环境的无线干扰对后续步骤中生成的射频性能测试结果的负面影响,因此,所述指定天线与所述指定样机被放置在屏蔽箱中,且由于指定天线与指定样机之间的实际相对空间位置关系、指定天线的实际摆放角度、指定样机的实际摆放角度等物理量会影响后续步骤中生成的射频性能测试结果的准确度,因此,为了避免所述物理量对后续步骤中生成的射频性能测试结果的准确度造成负面影响,且为了便于工作人员管理指定天线和指定样机,通过本申请实施例提供的所述性能测试方法,进行射频性能测试的每台指定样机的实际摆放角度应相同,每个指定天线的实际摆放角度应相同,指定天线与指定样机之间的实际相对空间位置关系也应相同。
步骤S102,确定所述测试数据对应的接收信号强度。
具体地,计算预设时长内的测试数据的接收信号强度平均值,将所述接收信号强度平均值确定为所述测试数据对应的接收信号强度。
例如,假设预设时长为一秒钟,计算一秒钟内的测试数据的接收信号强度平均值,将所述接收信号强度平均值确定为所述测试数据对应的接收信号强度。
步骤S103,根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果。
具体地,根据所述接收信号强度和所述指定样机的发射功率生成所述指定样机对应的射频性能测试结果,所述射频性能测试结果包括表明所述指定样机的射频性能异常的射频性能测试结果或表明所述指定样机的射频性能正常的射频性能测试结果。
可选地,所述步骤S103包括:
A1、根据所述接收信号强度和所述指定样机的发射功率计算所述指定样机对应的功率损耗数值。
A2、根据所述指定样机对应的功率损耗数值生成所述指定样机的射频性能测试结果。
可选地,所述步骤A1包括:根据所述接收信号强度、所述指定样机的发射功率以及预设功率计算公式计算所述指定样机对应的功率损耗数值,其中,所述预设功率计算公式为:指定样机对应的功率损耗数值=指定样机的发射功率-接收信号强度-信号接收电路对应的功率损耗数值。
由于所述空气对应的功率损耗数值难以计量,因此,在所述预设功率计算公式中,所述指定样机对应的功率损耗数值为所述指定样机的内部天线对应的功率损耗数值和空气对应的功率损耗数值之和,如此,通过所述指定样机的内部天线对应的功率损耗数值和空气对应的功率损耗数值之和生成所述指定样机的射频性能测试结果,即能简化计算过程,降低计算难度,又能提高射频性能测试结果的准确度。
可选地,为了提高生成射频性能测试结果的速度,因此,所述步骤A2包括:判断所述指定样机对应的功率损耗数值是否在预设损耗范围内;若所述指定样机对应的功率损耗数值不在预设损耗范围内,则生成表明所述指定样机的射频性能异常的射频性能测试结果。
可选地,为了能够使工作人员了解指定样机射频性能异常的原因,因此,所述生成表明所述指定样机的射频性能异常的射频性能测试结果包括:确定所述指定样机的异常原因,根据所述异常原因生成表明所述指定样机的射频性能异常的射频性能测试结果。
可选地,本申请实施例还包括:若所述指定样机对应的功率损耗数值在预设损耗范围内,则生成表明所述指定样机的射频性能正常的射频性能测试结果。
具体地,若所述指定样机对应的功率损耗数值在预设损耗范围内,则根据所述指定样机的身份标识信息生成表明所述指定样机的射频性能正常的射频性能测试结果。
实践证明,通过本申请实施例提供的所述性能测试方法,对一台样机进行射频性能测试所需时间大约是2秒钟。
本申请实施例中,通过接收指定样机所发送的测试数据,然后确定所述测试数据对应的接收信号强度,再根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果,由于确定所述测试数据对应的接收信号强度所需的时长较短,因此,在根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果时,能够大大缩小了射频性能测试所需时间,提高了射频性能测试效率。
实施例二:
图2示出了本申请实施例提供的第二种性能测试方法的流程示意图,本实施例的步骤S203与实施例一的步骤S102相同,此处不再赘述:
步骤S201,确定衰减器对应的衰减值。
具体地,根据预设电路连接关系确定衰减器对应的衰减值,其中,所述预设电路连接关系为指定硬件与衰减器连接,且所述衰减器与指定天线连接。
可选地,所述步骤S201包括:将满足预设条件的衰减值确定为衰减器对应的衰减值,所述预设条件为第一接收信号强度与第二接收信号强度的差值大于预设数值,所述第一接收信号强度为射频性能正常的样机所发送的测试数据对应的接收信号强度,所述第二接收信号强度为射频性能异常的样机所发送的测试数据对应的接收信号强度。
具体地,遍历预设梯度值,所述预设梯度值可为0dB、10dB、20dB、30dB、40dB以及50dB,以0dB为例,将衰减器的衰减值设置为0dB,先依次通过指定天线、衰减器以及指定硬件接收射频性能正常的样机所发送的测试数据,确定第一接收信号强度,然后在射频性能正常的样机被替换为射频性能异常的样机的情况下,再确定第二接收信号强度(或者先依次通过指定天线、衰减器以及指定硬件接收射频性能异常的样机所发送的测试数据,确定第二接收信号强度,然后在射频性能异常的样机被替换为射频性能正常的样机的情况下,再确定第一接收信号强度),判断所述第一接收信号强度与所述第二接收信号强度的差值是否大于预设数值,所述预设数值可为20dB,若所述第一接收信号强度与所述第二接收信号强度的差值大于预设数值,则将0dB确定为衰减器对应的衰减值,用于本申请实施例中后续对指定样机的性能测试过程。若所述第一接收信号强度与所述第二接收信号强度的差值等于或者小于预设数值,则将衰减器的衰减值设置为10dB,依次通过指定天线、衰减器、指定硬件接收射频性能正常的样机所发送的测试数据……以此类推,直至第一接收信号强度与第二接收信号强度的差值大于预设数值的情况成立,从而确定出衰减器对应的衰减值。若所确定出的衰减器对应的衰减值越小,则在本申请实施例中后续对指定样机的性能测试过程中,通过衰减器接收到指定样机所发送的测试数据,该测试数据对应的接收信号强度越大,指定样机对应的射频性能测试结果的准确度越高。由于能根据预设梯度值从小到大的顺序确定出衰减器对应的衰减值,因此,所确定出的衰减器对应的衰减值为:满足所述第一接收信号强度与所述第二接收信号强度的差值大于预设数值的最小衰减值,因此,大大提高了指定样机对应的射频性能测试结果的准确度。
为了提高确定出的衰减值的准确度,因此,在确定衰减器对应的衰减值的整个过程中,所述指定天线的实际摆放角度应保持不变,所述射频性能正常的样机的实际摆放角度和所述射频性能异常的样机的实际摆放角度应保持相同、所述射频性能正常的样机的实际摆放位置和所述射频性能异常的样机的实际摆放位置应保持相同。
可选地,由于在实际测试场所中,不同时间段的外界环境的干扰情况可能会不相同,为了使确定出的衰减值在预设时间段内都具有有效性,所述将满足预设条件的衰减值确定为衰减器对应的衰减值包括:将在预设时间段内满足任一样机的内部天线对应的功率损耗数值和空气对应的功率损耗数值之和的波动值小于预设波动阈值、且满足预设条件的衰减值确定为衰减器对应的衰减值。
作为示例而非限定的是,所述预设波动阈值为用户预先设置的波动阈值,所述预设波动阈值为10dB。实验证明,若将在预设时间段内满足任一样机的内部天线对应的功率损耗数值和空气对应的功率损耗数值之和的波动值小于10dB、且满足预设条件的衰减值确定为衰减器对应的衰减值,则确定出的衰减值在预设时间段内都具有有效性。
步骤S202,通过衰减器接收指定样机所发送的测试数据。
具体地,所述信号接收电路还包括衰减器,所述衰减器的衰减值为所述步骤S201确定出的衰减值,如图3所示,依次通过所述指定天线、所述衰减器以及所述指定硬件接收指定样机所发送的测试数据。
步骤S203,确定所述测试数据对应的接收信号强度。
步骤S204,根据所述衰减值、所述接收信号强度和所述指定样机的发射功率生成所述指定样机对应的射频性能测试结果。
具体地,根据所述接收信号强度、所述指定样机的发射功率、确定出的衰减值以及预设功率计算公式计算所述指定样机对应的功率损耗数值,其中,所述预设功率计算公式中的信号接收电路对应的功率损耗数值具体为确定出的衰减值,判断所述指定样机对应的功率损耗数值是否在预设损耗范围内,若所述指定样机对应的功率损耗数值在预设损耗范围内,则生成表明所述指定样机的射频性能正常的射频性能测试结果;若所述指定样机对应的功率损耗数值不在预设损耗范围内,则判断所述指定样机对应的功率损耗数值是否大于预设损耗范围的上限值,若所述指定样机对应的功率损耗数值大于预设损耗范围的上限值,则根据第一异常原因生成表明所述指定样机的射频性能异常的射频性能测试结果;若所述指定样机对应的功率损耗数值不大于预设损耗范围的上限值,即相当于所述指定样机对应的功率损耗数值小于预设损耗范围的下限值,则根据第二异常原因生成表明所述指定样机的射频性能异常的射频性能测试结果。
作为示例而非限定的是,所述第一异常原因为指定样机(如图4所示)内部的射频链路结构异常,所述指定样机内部的射频链路结构异常为:指定样机内部的无线网(Wi-Fi)芯片和内部天线之间的匹配网络中的元器件丢失,所述元器件包括电感或/和电容,所述第二异常原因为衰减器对应的衰减值设置错误。
本申请实施例中,由于指定天线和指定样机的之间距离可能会非常小,因此导致射频性能异常的样机与射频性能正常的样机对应的接收信号强度相近甚至相同,从而难以根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的正确的射频性能测试结果。然而,通过确定衰减器对应的衰减值,然后通过衰减器接收指定样机所发送的测试数据,确定所述测试数据对应的接收信号强度,再根据所述衰减值和所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果,由于在通过衰减器接收指定样机所发送的测试数据的情况下,射频性能异常的样机与射频性能正常的样机对应的接收信号强度明显不同,因此能够准确地区分出所述指定样机的射频性能是否正常,即提高了所述指定样机对应的射频性能测试结果的准确度。
实施例三:
与上述实施例一、实施例二对应,图5示出了本申请实施例提供的一种性能测试装置的结构示意图,为了便于说明,仅示出了与本申请实施例相关的部分。
该性能测试装置包括:数据接收单元501、强度确定单元502以及测试结果生成单元503。
所述数据接收单元501,用于接收指定样机所发送的测试数据。
所述数据接收单元501,具体用于:通过信号接收电路接收指定样机所发送的测试数据,其中,所述信号接收电路包括指定天线和指定硬件,所述指定天线用于接收指定样机所发送的测试数据,所述指定天线与所述指定样机之间没有电路连接关系,所述指定样机可为无线网络摄像机等具有无线通讯功能的设备。
可选地,所述数据接收单元501在执行所述接收指定样机所发送的测试数据时,具体用于:通过衰减器接收指定样机所发送的测试数据。
所述强度确定单元502,用于确定所述测试数据对应的接收信号强度。
所述强度确定单元502,具体用于:计算预设时长内的测试数据的接收信号强度平均值,将所述接收信号强度平均值确定为所述测试数据对应的接收信号强度。
所述测试结果生成单元503,用于根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果。
所述测试结果生成单元503,具体用于:根据所述接收信号强度和所述指定样机的发射功率生成所述指定样机对应的射频性能测试结果,所述射频性能测试结果包括表明所述指定样机的射频性能异常的射频性能测试结果或表明所述指定样机的射频性能正常的射频性能测试结果。
可选地,所述测试结果生成单元503具体用于:根据所述接收信号强度和所述指定样机的发射功率计算所述指定样机对应的功率损耗数值;根据所述指定样机对应的功率损耗数值生成所述指定样机的射频性能测试结果。
可选地,所述测试结果生成单元503在执行所述根据所述接收信号强度和所述指定样机的发射功率计算所述指定样机对应的功率损耗数值时,具体用于:根据所述接收信号强度、所述指定样机的发射功率以及预设功率计算公式计算所述指定样机对应的功率损耗数值,其中,所述预设功率计算公式为:指定样机对应的功率损耗数值=指定样机的发射功率-接收信号强度-信号接收电路对应的功率损耗数值。
由于所述空气对应的功率损耗数值难以计量,因此,在所述预设功率计算公式中,所述指定样机对应的功率损耗数值为所述指定样机的内部天线对应的功率损耗数值和空气对应的功率损耗数值之和,如此,通过所述指定样机的内部天线对应的功率损耗数值和空气对应的功率损耗数值之和生成所述指定样机的射频性能测试结果,即能简化计算过程,降低计算难度,又能提高射频性能测试结果的准确度。
可选地,为了提高生成射频性能测试结果的速度,因此,所述测试结果生成单元503在执行所述根据所述指定样机对应的功率损耗数值生成所述指定样机的射频性能测试结果时,具体用于:判断所述指定样机对应的功率损耗数值是否在预设损耗范围内;若所述指定样机对应的功率损耗数值不在预设损耗范围内,则生成表明所述指定样机的射频性能异常的射频性能测试结果。
可选地,为了能够使工作人员了解指定样机射频性能异常的原因,因此,所述测试结果生成单元503在执行所述生成表明所述指定样机的射频性能异常的射频性能测试结果时,具体用于:确定所述指定样机的异常原因,根据所述异常原因生成表明所述指定样机的射频性能异常的射频性能测试结果。
可选地,所述测试结果生成单元503在执行所述根据所述指定样机对应的功率损耗数值生成所述指定样机的射频性能测试结果时,还用于:若所述指定样机对应的功率损耗数值在预设损耗范围内,则生成表明所述指定样机的射频性能正常的射频性能测试结果。
可选地,该性能测试装置还包括:衰减值确定单元。
所述衰减值确定单元用于:在所述数据接收单元501在执行所述通过衰减器接收指定样机所发送的测试数据之前,确定衰减器对应的衰减值;对应地,所述测试结果生成单元503在执行所述根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果时,具体用于:根据所述衰减值、所述接收信号强度和所述指定样机的发射功率生成所述指定样机对应的射频性能测试结果。
可选地,所述衰减值确定单元在执行所述确定衰减器对应的衰减值时,具体用于:将满足预设条件的衰减值确定为衰减器对应的衰减值,所述预设条件为第一接收信号强度与第二接收信号强度的差值大于预设数值,所述第一接收信号强度为射频性能正常的样机所发送的测试数据对应的接收信号强度,所述第二接收信号强度为射频性能异常的样机所发送的测试数据对应的接收信号强度。
为了提高确定出的衰减值的准确度,因此,在所述衰减值确定单元执行所述确定衰减器对应的衰减值的整个过程中,所述指定天线的实际摆放角度应保持不变,所述射频性能正常的样机的实际摆放角度和所述射频性能异常的样机的实际摆放角度应保持相同、所述射频性能正常的样机的实际摆放位置和所述射频性能异常的样机的实际摆放位置应保持相同。
可选地,由于在实际测试场所中,不同时间段的外界环境的干扰情况可能会不相同,为了使确定出的衰减值在预设时间段内都具有有效性,所述衰减值确定单元在执行所述将满足预设条件的衰减值确定为衰减器对应的衰减值时,具体用于:将在预设时间段内满足任一样机的内部天线对应的功率损耗数值和空气对应的功率损耗数值之和的波动值小于预设波动阈值、且满足预设条件的衰减值确定为衰减器对应的衰减值,所述预设波动阈值可为10dB。
本申请实施例中,通过接收指定样机所发送的测试数据,然后确定所述测试数据对应的接收信号强度,再根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果,由于确定所述测试数据对应的接收信号强度所需的时长较短,因此,在根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果时,能够大大缩小了射频性能测试所需时间,提高了射频性能测试效率。
应理解,上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
实施例四:
图6是本申请实施例提供的终端设备的示意图。如图6所示,该实施例的终端设备6包括:处理器60、存储器61以及存储在所述存储器61中并可在所述处理器60上运行的计算机程序62。所述处理器60执行所述计算机程序62时实现上述各个性能测试方法实施例中的步骤,例如图1所示的步骤S101至S103。或者,所述处理器60执行所述计算机程序62时实现上述各装置实施例中各单元的功能,例如图5所示单元501至503的功能。
示例性的,所述计算机程序62可以被分割成一个或多个模块/单元,所述一个或者多个模块/单元被存储在所述存储器61中,并由所述处理器60执行,以完成本申请。所述一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段,该指令段用于描述所述计算机程序62在所述终端设备6中的执行过程。例如,所述计算机程序62可以被分割成数据接收单元、强度确定单元以及测试结果生成单元,各单元具体功能如下:
数据接收单元,用于接收指定样机所发送的测试数据。
强度确定单元,用于确定所述测试数据对应的接收信号强度。
测试结果生成单元,用于根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果。
所述终端设备6可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。所述终端设备可包括,但不仅限于,处理器60、存储器61。本领域技术人员可以理解,图6仅仅是终端设备6的示例,并不构成对终端设备6的限定,可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件,例如所述终端设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
所称处理器60可以是中央处理单元(Central Processing Unit,CPU),还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器61可以是所述终端设备6的内部存储单元,例如终端设备6的硬盘或内存。所述存储器61也可以是所述终端设备6的外部存储设备,例如所述终端设备6上配备的插接式硬盘,智能存储卡(Smart Media Card,SMC),安全数字(Secure Digital,SD)卡,闪存卡(Flash Card)等。进一步地,所述存储器61还可以既包括所述终端设备6的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器61用于存储所述计算机程序以及所述终端设备所需的其他程序和数据。所述存储器61还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为了描述的方便和简洁,仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成,即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中,上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。另外,各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分,并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述或记载的部分,可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
在本申请所提供的实施例中,应该理解到,所揭露的装置/终端设备和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置/终端设备实施例仅仅是示意性的,例如,所述模块或单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通讯连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本申请实现上述实施例方法中的全部或部分流程,也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中,该计算机程序在被处理器执行时,可实现上述各个方法实施例的步骤。其中,所述计算机程序包括计算机程序代码,所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括:能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是,所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减,例如在某些司法管辖区,根据立法和专利实践,计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。
以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围,均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种性能测试方法,其特征在于,包括:
接收指定样机所发送的测试数据;
确定所述测试数据对应的接收信号强度;
根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果。
2.如权利要求1所述的性能测试方法,其特征在于,所述根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果,包括:
根据所述接收信号强度和所述指定样机的发射功率计算所述指定样机对应的功率损耗数值;
根据所述指定样机对应的功率损耗数值生成所述指定样机的射频性能测试结果。
3.如权利要求2所述的性能测试方法,其特征在于,所述根据所述指定样机对应的功率损耗数值生成所述指定样机的射频性能测试结果,包括:
判断所述指定样机对应的功率损耗数值是否在预设损耗范围内;
若所述指定样机对应的功率损耗数值不在预设损耗范围内,则生成表明所述指定样机的射频性能异常的射频性能测试结果。
4.如权利要求3所述的性能测试方法,其特征在于,还包括:
若所述指定样机对应的功率损耗数值在预设损耗范围内,则生成表明所述指定样机的射频性能正常的射频性能测试结果。
5.如权利要求1所述的性能测试方法,其特征在于,所述接收指定样机所发送的测试数据,包括:
通过衰减器接收指定样机所发送的测试数据。
6.如权利要求5所述的性能测试方法,其特征在于,在所述通过衰减器接收指定样机所发送的测试数据之前,包括:
确定衰减器对应的衰减值;
对应地,所述根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果,包括:根据所述衰减值、所述接收信号强度和所述指定样机的发射功率生成所述指定样机对应的射频性能测试结果。
7.如权利要求6所述的性能测试方法,其特征在于,所述确定衰减器对应的衰减值,包括:
将满足预设条件的衰减值确定为衰减器对应的衰减值,所述预设条件为第一接收信号强度与第二接收信号强度的差值大于预设数值,所述第一接收信号强度为射频性能正常的样机所发送的测试数据对应的接收信号强度,所述第二接收信号强度为射频性能异常的样机所发送的测试数据对应的接收信号强度。
8.一种性能测试装置,其特征在于,包括:
数据接收单元,用于接收指定样机所发送的测试数据;
强度确定单元,用于确定所述测试数据对应的接收信号强度;
测试结果生成单元,用于根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果。
9.一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述方法的步骤。
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