CN110426570B - 一种塑封SoC器件的快速质量一致性检验方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种塑封SoC器件的快速质量一致性检验方法，主要包括三部分内容：塑封SoC器件快速质量一致性检验的基本要求，如含试验设备、检验批等；塑封SoC器件快速质量一致性检验中的样本要求、不合格品处理要求及电特性要求；塑封SoC器件快速质量一致性检验项目的分组及试验条件的制定。本发明为塑封SoC器件的快速质量一致性检验提供了新的方法，为塑封SoC器件的可靠使用与有效管理提供了新的途径。

Description

一种塑封SoC器件的快速质量一致性检验方法
技术领域
本发明涉及一种塑封SoC器件的质量一致性检验方法，特别是一种塑封SoC 器件的快速质量一致性检验方法。
背景技术
目前塑封SoC器件的质量一致性检验主要依据GJB7400执行，但限于国内包封料及封装工艺的水平，国产塑封器件几乎无法通过GJB7400所要求的试验项目；但是工程应用中，又需要对塑封器件的质量与可靠性进行控制，尤其是时间紧、任务重的工程，对于塑封器件的质量一致性提出了更高更快的要求，目前并无统一而适用的标准。
发明内容
对此，本发明提出一种塑封SoC器件的快速质量一致性检验方法，所述方法包括：首先，快速质量一致性检验包括A、B、C和D组检验；A、B组检验逐批进行，C、D组检验为周期性检验；一个检验批应由在相同条件下生产并同时提交检验的所有产品组成，该批中产品应在同一生产周期内采用相同材料和工艺生产；然后，快速质量一致性检验所需样本应为经过筛选试验且合格的产品；样本数量参照GJB7400或GJB597，样本覆盖所给出的试验分组及主要项目；不满足分组检验要求的批可重新提交一次，重新提交的批应明确标注；可加严检验判据，重新提交一次，进行该分组试验；最后，A组电特性要求包括：输出高电平电压、输出低电平电压、输入漏电流、三态漏电流、静态电源电流、输入电容、输出电容、最高工作频率及相关时钟域参数；A组检验包括的分组试验：1分组为 25℃下静态测试、2分组为最高工作温度下静态测试、3分组为最低工作温度下静态测试、7分组为25℃下功能测试、8a分组为最高工作温度下功能测试、8b 分组为最低工作温度下功能测试、9分组为25℃下开关参数测试；B组检验包括的分组试验：键合强度与芯片剪切强度或拉力、X射线与超声检查、ESD及DPA； ESD试验在初始鉴定或产品工艺、设计更改时进行；C组检验包括的分组试验：外观检查、老炼检验；D组检验包括的分组试验：温度循环、高压蒸煮、耐焊接热；塑封SoC器件所有试验样本通过所有项目且合格，表明此塑封SoC器件通过了快速质量一致性检验。
其中，所述方法包括：外观检查、老炼检验的时间为500h，含老炼后三温测试、外观检查、终点电测试。
其中，所述方法包括：D组检验包括的分组试验：温度循环，循环次数为200 个；高压蒸煮，温度121℃、压强205kPa、RH＝100％、时间为96h；耐焊接热，采用回流焊、温度选择200℃～250℃之间任一温度。
本方法结合实际应用情况，保留了主干检验项目，时间短、成本低、简便易行；实践证明，经过此方法检验的塑封SoC器件已在部分航天产品中成功应用。
具体实例方式
以下对本发明的具体实施方式作出详细说明
塑封SoC器件的快速质量一致性检验方法主要包括以下几个方面：
首先，说明塑封SoC器件快速质量一致性检验的基本要求如试验设备、检验批等。快速质量一致性检验包括A、B、C和D组检验；A、B组检验逐批进行， C、D组检验为周期性检验。试验设备主要包括：集成电路高温动态老炼系统、高低温气流装置、温度循环试验箱、声学扫描显微镜、X射线检查仪、高压蒸煮仪、金相显微镜、体视显微镜、推力与拉力试验仪等，以及配套的专用测试版、老化板及相应的超高速数字信号测试系统等。一个检验批应由在基本相同条件下生产并同时提交检验的所有产品组成，批中产品应在同一生产周期内采用相同材料和工艺生产。
然后，说明塑封SoC器件快速质量一致性检验中的样本要求、不合格品处理要求及电特性要求。快速质量一致性检验所需样本应为经过筛选试验且合格的产品；样本数量参照GJB7400或GJB597，并结合使用方与器件实际情况，进行综合权衡，但样本应基本覆盖所给出的试验分组及主要项目。不满足分组检验要求的批可重新提交一次，重新提交的批应明确标注；可加严检验判据，重新提交一次，进行该分组试验；如果一个失效批重新提交后仍不合格，则该批拒收。
最后，A组电特性要求包括：输出高电平电压、输出低电平电压、输入漏电流、三态漏电流、静态电源电流、输入电容、输出电容、最高工作频率及相关时钟域参数；塑封SoC器件快速质量一致性检验项目的分组及试验条件的制定。A 组检验是逐批进行的，A组检验应包括的分组试验：1分组进行25℃下静态测试、 2分组进行最高工作温度下静态测试、3分组进行最低工作温度下静态测试、7 分组进行25℃下功能测试、8a分组进行最高工作温度下功能测试、8b分组进行最低工作温度下功能测试、9分组进行25℃下开关参数测试。B组检验是逐批进行的，B组检验主要包括的分组试验：键合强度与芯片剪切强度或拉力试验、X 射线与超声检查、ESD及DPA；ESD试验在初始鉴定或产品工艺、设计更改时进行。C组检验是周期进行的，C组检验主要包括的分组试验：外观检查、老炼，老练时间为500h，包含老炼后三温测试、外观检查、终点电测试等。D组检验是周期进行的，D组检验主要包括的分组试验：温度循环，循环次数为200个；高压蒸煮，温度121℃、压强205kPa、RH＝100％、时间96h；耐焊接热，采用回流焊、温度选择200℃～250℃之间任一温度。
本发明时间短、成本低、简便易行，为塑封SoC器件的快速质量一致性检验提供了新的方法，为塑封SoC器件的可靠使用与有效管理提供了新的途径。

Claims (3)

1.一种塑封SoC器件的快速质量一致性检验方法，其特征在于，所述方法包括：
首先，快速质量一致性检验包括A、B、C和D组检验；A、B组检验逐批进行，C、D组检验为周期性检验；
一个检验批应由在相同条件下生产并同时提交检验的所有产品组成，该检验批中产品应在同一生产周期内采用相同材料和工艺生产；
然后，快速质量一致性检验所需样本应为经过筛选试验且合格的产品；样本数量参照GJB7400或GJB597，样本覆盖所给出的试验分组及主要项目；不满足分组检验要求的批可重新提交一次，重新提交的批应明确标注；可加严检验判据，重新提交一次，进行该分组试验；
最后，A组电特性要求包括：输出高电平电压、输出低电平电压、输入漏电流、三态漏电流、静态电源电流、输入电容、输出电容、最高工作频率及相关时钟域参数；A组检验包括的分组试验：1分组为25℃下静态测试、2分组为最高工作温度下静态测试、3分组为最低工作温度下静态测试、7分组为25℃下功能测试、8a分组为最高工作温度下功能测试、8b分组为最低工作温度下功能测试、9分组为25℃下开关参数测试；B组检验包括的分组试验：键合强度与芯片剪切强度或拉力、X射线与超声检查、ESD及DPA；ESD试验在初始鉴定或产品工艺、设计更改时进行；C组检验包括的分组试验：外观检查以及老炼检验；D组检验包括的分组试验：温度循环、高压蒸煮以及耐焊接热；
塑封SoC器件所有试验样本通过所有项目且合格，表明此塑封SoC器件通过了快速质量一致性检验。
2.根据权利要求1所述的塑封SoC器件的快速质量一致性检验方法，其特征在于，所述方法包括：
老炼检验的时间为500h，含老炼后三温测试、外观检查、终点电测试。
3.根据权利要求1所述的塑封SoC器件的快速质量一致性检验方法，其特征在于，所述方法包括：
D组检验包括的分组试验：温度循环，循环次数为200个；高压蒸煮，温度121℃、压强205kPa、RH＝100％、时间为96h；耐焊接热，采用回流焊、温度选择200℃～250℃之间任一温度。
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