CN110404825A - 光学模组ai检测设备中的筛选方法及装置 - Google Patents

光学模组ai检测设备中的筛选方法及装置 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种光学模组AI检测设备中的筛选方法及装置，包括机架主体和设置于机架主体上的检测机构，检测机构环绕设置有上下料机械手，检测机构包括分别安装于安装基座两侧的光源组件和相机组件，光源组件包括光源安装板；安装于光源安装板一端的环光光源；安装于环光光源与光源安装板另一端之间的辅助光源，相机组件包括相机安装座和安装于相机安装座上的相机，光源组件上的各光源与相机中心点位于同一直线轴心上。本发明解决了现有技术中通过人工筛选的方式使检测结果易受到主观情绪影响，导致检测误差加大，且检测效率低下的问题。

Description

光学模组AI检测设备中的筛选方法及装置
技术领域
本发明涉及加工检测领域，特别涉及一种光学模组AI检测设备中的筛选方法及装置。
背景技术
在加工制造业中，检测和筛选工序是非常重要的环节，对各道工序加工的产品及影响产品质量的主要工序要素所进行的检验。其作用是根据检测结果对产品做出判定，即产品质量是否符合规格标准的要求；根据检测结果对工序做出判定，即工序要素是否处于正常的稳定状态，从而决定该工序是否能继续进行生。
现有技术中通常由人工进行检测和筛选，但人工检测容易受到各因素的影响，如在高速检测高速运动的物体时，由于人眼检测速度有限，往往容易漏检和错检，且受到操作者的疲劳度、责任心和经验等因素的影响，传统人工检测有一个很大的缺陷，就是情绪带来的主观性，检测结果会受到检测人员情绪波动的影响而产生变化。
发明内容
本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的主要目的在于提供一种光学模组AI检测设备中的筛选方法及装置，旨在解决现有技术中通过人工筛选的方式使检测结果易受到主观情绪影响，导致检测误差加大，且检测效率低下的问题。
为实现上述目的，本发明提供一种光学模组AI检测设备中的筛选方法及装置，包括机架主体和设置于机架主体上的检测机构，检测机构环绕设置有上下料机械手，检测机构包括分别安装于安装基座两侧的光源组件和相机组件，光源组件包括光源安装板；安装于光源安装板一端的环光光源；安装于环光光源与光源安装板另一端之间的辅助光源，其中，相机组件包括相机安装座和安装于相机安装座上的相机，光源组件上的各光源与相机中心点位于同一直线轴心上。
在其中一个实施例中，检测机构附近设置的上下料机械手数量至少为4个，且每个上下料机械手间隔相等。
在其中一个实施例中，的检测机构位于机架主体上的数量至少为12个，且呈依次排列顺序。
在其中一个实施例中，辅助光源与环光光源分别为漫射环形光源与无影环光光源。
一种光学模组AI检测设备中的筛选装置，筛选方法如下：
S1、数据预处理步骤：通过数据处理后台接收工作人员根据不同物料预先录入的物料各方位图片，将图片信息转化为数据串，并对每个不同的数据串进行编号；
S2、数据匹配步骤：上下料机械手待检测物料送往检测带，通过检测机构内的相机拍摄到目前正在进行检测的物料表面，将拍摄到的物料表面图像经过数据处理成数据串，再数据串与上述S1中预先录入的数据串进行对比，当无法进行匹配或匹配成功时，发送记录信息至上下料机械手主控后台，主控后台将记录此匹配信息，以便进行下一步操作；
S3、数据处理步骤：主控后台接收到匹配信息，并形成信息列队，列队顺序即为物料检测顺序，上下料机械手将匹配错误的信息与物料进行配对，将错误匹配的物料移送至NG料盘，将正确匹配的物料移送至成品料盘。
在其中一个实施例中，信息列队为检测时间、检测结果、物料行列坐标和物料名称组成的列队信息，如112013AC1EB，其中“112013”表示检测时间为上午11点20分13秒，“A”表示检测结果(可设置A为成功，B为失败，可自由进行设定)，“C1”表示行列坐标信息(可分为ABC三排，C则表示第三排，1表示第一个)，“EB”则表示物料名称代号。
在其中一个实施例中，图片信息包括物料表面情况，如有无划伤，有无杂质附着，各部件有无对齐及物料颜色和整体外观。
在其中一个实施例中，经过数据处理步骤得到的NG物料还可进行整体重复的检测，检测次数根据物理性质设置，如有些物料需几次检测才能得出精确地检测结果。
在其中一个实施例中，数据匹配步骤可进行重复匹配，如在S1步骤中，工作人员将某一物料检测设为重复两次进行检测，则即使在数据匹配步骤中第一次检测该物料匹配失败时，还继续对该物料进行重复检测。
在其中一个实施例中，当检测新物料时，可以跳过数据预处理步骤与数据匹配步骤直接进行数据处理步骤，再根据检测情况记录成符合数据预处理步骤数据的数据串，并录入数据处理后台。
本发明的有益效果如下：
通过本发明的数据预处理步骤、数据匹配步骤和数据处理步骤结合机械手与检测机构，可使避免人工筛选导致的各种问题，且可以长时间运转，步骤可根据物料特性自由变更，执行简单，装卸维修不复杂，所有操作均有数据可查，溯源准确快捷。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明中的机架主体、检测机构与上下料机械手整体结构示意图。
图2为本发明中的检测机构整体结构示意图。
图3为本发明中的辅助光源与环光光源示意图。
图4为本发明的运行步骤示意图。
【主要部件/组件附图标记说明】
标号 名称 标号 名称
1 机架主体 21 相机组件
2 检测机构 210 相机安装座
20 光源组件 211 滑槽
201 辅助光源 213 相机
202 环光光源 22 安装基座
203 光源安装板 3 上下料机械手
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。
基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。
在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
另外，本发明各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
实施例1：
参照图1～图4，一种光学模组AI检测设备中的筛选方法及装置，包括机架主体1和设置于机架主体1上的检测机构2，检测机构2环绕设置有上下料机械手3，检测机构2包括分别安装于安装基座22两侧的光源组件20和相机组件21，光源组件20包括光源安装板203；安装于光源安装板203一端的环光光源202；安装于环光光源202与光源安装板203另一端之间的辅助光源201，其中，相机组件21包括相机安装座210和安装于相机安装座210上的相机213，光源组件20上的各光源与相机213中心点位于同一直线轴心上。
参照图1，优选地，检测机构2附近设置的上下料机械手3数量至少为4个，且每个上下料机械手3间隔相等。
参照图1，优选地，的检测机构2位于机架主体1上的数量至少为12个，且呈依次排列顺序。
参照图2，优选地，辅助光源201与环光光源202分别为漫射环形光源与无影环光光源202。
参照图1～图4，一种光学模组AI检测设备中的筛选装置，筛选方法如下：
S1、数据预处理步骤：通过数据处理后台接收工作人员根据不同物料预先录入的物料各方位图片，将图片信息转化为数据串，并对每个不同的数据串进行编号；
S2、数据匹配步骤：上下料机械手3待检测物料送往检测带，通过检测机构2内的相机213拍摄到目前正在进行检测的物料表面，将拍摄到的物料表面图像经过数据处理成数据串，再数据串与上述S1中预先录入的数据串进行对比，当无法进行匹配或匹配成功时，发送记录信息至上下料机械手3主控后台，主控后台将记录此匹配信息，以便进行下一步操作；
S3、数据处理步骤：主控后台接收到匹配信息，并形成信息列队，列队顺序即为物料检测顺序，上下料机械手3将匹配错误的信息与物料进行配对，将错误匹配的物料移送至NG料盘，将正确匹配的物料移送至成品料盘。
实施例2：
参照图4，优选地，信息列队为检测时间、检测结果、物料行列坐标和物料名称组成的列队信息，如112013AC1EB，其中“112013”表示检测时间为上午11点20分13秒，“A”表示检测结果(可设置A为成功，B为失败，可自由进行设定)，“C1”表示行列坐标信息(可分为ABC三排，C则表示第三排，1表示第一个)，“EB”则表示物料名称代号。
实施例3：
参照图4，优选地，图片信息包括物料表面情况，如有无划伤，有无杂质附着，各部件有无对齐及物料颜色和整体外观。
实施例4：
参照图4，优选地，经过数据处理步骤得到的NG物料还可进行整体重复的检测，检测次数根据物理性质设置，如有些物料需几次检测才能得出精确地检测结果。
实施例5：
参照图4，优选地，数据匹配步骤可进行重复匹配，如在S1步骤中，工作人员将某一物料检测设为重复两次进行检测，则即使在数据匹配步骤中第一次检测该物料匹配失败时，还继续对该物料进行重复检测。
实施例6：
参照图4，优选地，当检测新物料时，可以跳过数据预处理步骤与数据匹配步骤直接进行数据处理步骤，再根据检测情况记录成符合数据预处理步骤数据的数据串，并录入数据处理后台。
以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种光学模组AI检测设备中的筛选装置，其特征在于，包括机架主体和设置于所述机架主体上的检测机构，所述检测机构环绕设置有上下料机械手，所述检测机构包括分别安装于安装基座两侧的光源组件和相机组件，所述光源组件包括光源安装板；安装于所述光源安装板一端的环光光源；安装于所述环光光源与所述光源安装板另一端之间的辅助光源，
其中，所述相机组件包括相机安装座和安装于所述相机安装座上的相机，所述光源组件上的各光源与所述相机中心点位于同一直线轴心上。
2.根据权利要求1所述的光学模组AI检测设备中的筛选装置，其特征在于，所述检测机构附近设置的上下料机械手数量至少为4个，且每个所述上下料机械手间隔相等。
3.根据权利要求1所述的光学模组AI检测设备中的筛选装置，其特征在于，所述的检测机构位于所述机架主体上的数量至少为12个，且呈依次排列顺序。
4.根据权利要求1所述的光学模组AI检测设备中的筛选装置，其特征在于，所述的辅助光源与所述环光光源分别为漫射环形光源与无影环光光源。
5.根据权利要求1-4任一项所述的光学模组AI检测设备中的筛选装置，其特征在于，筛选方法如下：
S1、数据预处理步骤：通过数据处理后台接收工作人员根据不同物料预先录入的物料各方位图片，将图片信息转化为数据串，并对每个不同的数据串进行编号；
S2、数据匹配步骤：上下料机械手待检测物料送往检测带，通过检测机构内的相机拍摄到目前正在进行检测的物料表面，将拍摄到的物料表面图像经过数据处理成数据串，再数据串与上述S1中预先录入的数据串进行对比，当无法进行匹配或匹配成功时，发送记录信息至上下料机械手主控后台，主控后台将记录此匹配信息，以便进行下一步操作；
S3、数据处理步骤：主控后台接收到匹配信息，并形成信息列队，列队顺序即为物料检测顺序，上下料机械手将匹配错误的信息与物料进行配对，将错误匹配的物料移送至NG料盘，将正确匹配的物料移送至成品料盘。
6.根据权利要求5所述的光学模组AI检测设备中的筛选方法，其特征在于，所述的信息列队为检测时间、检测结果、物料行列坐标和物料名称组成的列队信息，如112013AC1EB，其中“112013”表示检测时间为上午11点20分13秒，“A”表示检测结果(可设置A为成功，B为失败，可自由进行设定)，“C1”表示行列坐标信息(可分为ABC三排，C则表示第三排，1表示第一个)，“EB”则表示物料名称代号。
7.根据权利要求5所述的光学模组AI检测设备中的筛选方法，其特征在于，所述图片信息包括物料表面情况，如有无划伤，有无杂质附着，各部件有无对齐及物料颜色和整体外观。
8.根据权利要求5所述的光学模组AI检测设备中的筛选方法，其特征在于，经过所述数据处理步骤得到的NG物料还可进行整体重复的检测，检测次数根据物理性质设置，如有些物料需几次检测才能得出精确地检测结果。
9.根据权利要求5所述的光学模组AI检测设备中的筛选方法，其特征在于，所述数据匹配步骤可进行重复匹配，如在S1步骤中，工作人员将某一物料检测设为重复两次进行检测，则即使在数据匹配步骤中第一次检测该物料匹配失败时，还继续对该物料进行重复检测。
10.根据权利要求5所述的光学模组AI检测设备中的筛选方法，其特征在于，当检测新物料时，可以跳过所述数据预处理步骤与数据匹配步骤直接进行数据处理步骤，再根据检测情况记录成符合数据预处理步骤数据的数据串，并录入数据处理后台。
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